JPH11316959A - 光ディスク装置及びフォーカスバイアスの設定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、光ディスク装置及びフォーカスバ
イアスの設定方法に関し、例えば相変化型光ディスク又
は光磁気ディスクをアクセスする光ディスク装置に適用
して、所望のデータを確実に高密度記録できるようにす
る。 【解決手段】プリフォーマットされたアドレスに対して
デフォーカスを許容し得る範囲と、データに対してデフ
ォーカスを許容し得る範囲との重なり合う範囲のほぼ中
心値を検出し、この中心値のフォーカスバイアスにより
光ディスクをアクセスする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置及
びフォーカスバイアスの設定方法に関し、例えば相変化
型光ディスク又は光磁気ディスクをアクセスする光ディ
スク装置に適用することができる。本発明は、プリフォ
ーマットされたアドレスに対してデフォーカスを許容し
得る範囲と、データに対してデフォーカスを許容し得る
範囲との重なり合う範囲のほぼ中心値を検出し、この中
心値のフォーカスバイアスにより光ディスクをアクセス
することにより、所望のデータを確実に高密度記録でき
るようにする。

【０００２】

【従来の技術】従来、相変化型光ディスクにおいては、
レーザービームのガイド溝を担うグルーブが蛇行して形
成され、このグルーブの蛇行によりアドレスデータが記
録されるようになされている。

【０００３】これに対応して光ディスク装置は、レーザ
ービームを照射して得られる戻り光の受光結果より、こ
のグルーブを基準にして光ピックアップをトラッキング
制御する。さらに光ディスク装置は、戻り光の受光結果
よりグルーブの蛇行に応じて信号レベルが変化するウォ
ウブル信号を生成し、このウォウブル信号を復調回路で
処理することにより、レーザービーム照射位置の位置情
報であるアドレスを検出する。さらに光ディスク装置
は、このアドレスを基準にしてレーザービームの光量を
間欠的に立ち上げ、これにより所望のデータを記録し、
また一定光量によりレーザービームを照射して得られる
戻り光の光量変化より記録したデータを再生する。

【０００４】またこのようなアドレスの再生、データの
記録再生を確実に実行できるように、光ディスク装置
は、工場における調整時、調整用のディスクを用いてフ
ォーカスバイアスが設定され、このフォーカスバイアス
を基準にしてフォーカス制御するようになされている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで図５に示すよ
うに、この種の光ディスクにおいては、データの記録再
生においてエラーレートが最も小さくなる最適なフォー
カスバイアスと、グルーブの変位によるアドレス再生に
おいてエラーレートが最も小さくなる最適なフォーカス
バイアスとが異なる欠点がある。またこれらの最適なフ
ォーカスバイアスが光ディスクによっても変化し、さら
には光ピックアップの経時変化、温度変化によっても変
化する特徴がある。なお図５において、符号ＥＡによる
特性曲線は、アドレス再生におけるエラーレートを示
し、符号ＥＤによる特性曲線は、データ再生におけるエ
ラーレートを示す。

【０００６】これにより工場における調整によりフォー
カスバイアスを調整しても、光ディスクによってはエラ
ーレートが著しく低下する問題があり、また経時変化、
温度変化によってもエラーレートが著しく低下する問題
があった。

【０００７】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、光ディスクの固体差、経時変化等によるエラーレー
トの劣化を低減して、所望のデータを確実に高密度記録
することができる光ディスク装置及びフォーカスバイア
スの設定方法を提案しようとするものである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、光ディスク装置において、フォー
カスバイアスの最適化処理により設定した最適フォーカ
スバイアスを基準にして、レーザービームをフォーカス
制御して所望のデータを記録再生するようにし、このフ
ォーカスバイアスの最適化処理において、アドレスの再
生におけるレーザービームのデフォーカスを許容し得る
範囲と、データの再生におけるレーザービームのデフォ
ーカスを許容し得る範囲との重なり合う範囲のほぼ中心
値を検出し、この中心値のフォーカスバイアスを最適フ
ォーカスバイアスに設定する。

【０００９】またフォーカスバイアスの設定方法におい
て、フォーカスバイアスの最適化処理により、アドレス
の再生におけるレーザービームのデフォーカスを許容し
得る範囲と、データの再生におけるレーザービームのデ
フォーカスを許容し得る範囲との重なり合う範囲のほぼ
中心値を検出し、この中心値のフォーカスバイアスをレ
ーザービームをフォーカス制御するフォーカスバイアス
に設定する。

【００１０】フォーカスバイアスの最適化処理により設
定した最適フォーカスバイアスを基準にして、レーザー
ビームをフォーカス制御して所望のデータを記録再生す
るようにし、このフォーカスバイアスの最適化処理にお
いて、アドレスの再生におけるレーザービームのデフォ
ーカスを許容し得る範囲と、データの再生におけるレー
ザービームのデフォーカスを許容し得る範囲との重なり
合う範囲のほぼ中心値を検出し、この中心値のフォーカ
スバイアスを最適フォーカスバイアスに設定すれば、ア
ドレスの再生における最適なフォーカスバイアスと、デ
ータの処理における最適なフォーカスバイアスとが光デ
ィスク等により異なる場合でも、デフォーカスを許容し
得る範囲に対して余裕を有してなるフォーカスバイアス
を最適なフォーカスバイアスに設定することができる。
これにより光ディスクの固体差、経時変化等によるエラ
ーレートの劣化を低減することができ、その分所望のデ
ータを確実に高密度記録することができる。

【００１１】またフォーカスバイアスの設定方法におい
て、同様にしてフォーカスバイアスを設定して、最も許
容し得る範囲に対して余裕を有してなるフォーカスバイ
アスを最適なフォーカスバイアスに設定することがで
き、これにより光ディスクの固体差、経時変化等による
エラーレートの劣化を有効に回避して所望のデータを確
実に高密度記録することができる。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、適宜図面を参照しながら本
発明の実施の形態を詳述する。

【００１３】図２は、本発明の実施の形態に係る光ディ
スク装置を示すブロック図である。この光ディスク装置
１において、光ディスク２は、相変化型の光ディスクで
あり、情報記録面にレーザービームのガイド溝でなるグ
ルーブが形成される。さらに光ディスク２は、一定の周
期より変位してこのグルーブが蛇行するように形成さ
れ、この一定の周期を基準にしたスピンドルモータの制
御によりＺＣＡＶ（ZoneConstant Angular Verocity)
の手法により回転駆動できるようになされ、またこの一
定の周期からの変位によりアドレスを検出できるように
なされている。また光ディスク２は、最内周の領域がい
わゆる試し書き領域が割り当てられ、この試し書き領域
によりレーザービームの光量を調整できるようになされ
ている。

【００１４】光ディスク装置１において、スピンドルモ
ータ３は、このグルーブの蛇行を基準にしたサーボ回路
４の制御により、ＺＣＡＶの条件により光ディスク２を
回転駆動する。

【００１５】光ピックアップ５は、内蔵の対物レンズを
介してレーザービームを光ディスク２に照射し、その戻
り光を受光することにより、トラッキングエラー量に応
じて信号レベルが変化するトラッキングエラー信号Ｔ
Ｅ、フォーカスエラー量に応じて信号レベルが変化する
フォーカスエラー信号ＦＥ、グルーブの蛇行に応じて信
号レベルが変化するウォウブル信号ＷＢ、戻り光の光量
に応じて信号レベルが変化する再生信号ＲＦを出力す
る。

【００１６】さらに光ピックアップ５は、記録時、デー
タ処理回路６により駆動されて、再生時の光量より書き
込み時の光量に間欠的にレーザービームの光量を立ち上
げ、これにより光ディスク２における情報記録面の構造
を局所的に変化させ、所望のデータを光ディスク２に記
録する。

【００１７】このようにして光ディスク２にレーザービ
ームを照射する光ピックアップ５は、図示しないスレッ
ド機構により光ディスク２の半径方向に移動し得るよう
に構成され、これにより光ディスク２を種々にアクセス
できるようになされ、また必要に応じて光ディスク２の
試し書き領域をアクセスできるようになされている。

【００１８】サーボ回路４は、光ピックアップ５より出
力されるウォウブル信号ＷＢの中心周波数が所定周波数
になるように、スピンドルモータ３を駆動することによ
り、光ディスク２をＺＣＡＶの条件により回転駆動す
る。さらにサーボ回路４は、システム制御回路７の制御
により、光ピックアップ５をシークさせる。

【００１９】さらにサーボ回路４は、光ピックアップ５
より出力されるトラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカ
スエラー信号ＦＥに基づいて光ピックアップ５の対物レ
ンズを光ディスク２の半径方向、レーザービームの光軸
に沿った方向に可動し、これにより光ピックアップ５を
トラッキング制御、フォーカス制御する。このときサー
ボ回路４は、フォーカス制御については、システム制御
回路７より指示されるフォーカスバイアスＦＢだけフォ
ーカスエラー信号ＦＥをバイアスし、このバイアスした
フォーカスエラー信号ＦＥの信号レベルが所定のレベル
になるように光ピックアップ５をフォーカス制御する。

【００２０】データ処理回路６は、例えば外部に接続さ
れたコンピュータより記録に供する一連のデータＤ１を
受け、この一連のデータＤ１を所定のブロック単位でブ
ロック化する。さらにデータ処理回路６は、これら各ブ
ロックのデータＤ１に誤り訂正符号を付加した後、イン
ターリーブ処理、ＥＦＭ（eight to fourteen ）変調す
る。データ処理回路６は、このようにして生成した変調
データに同期パターンのデータ等を付加してシリアルデ
ータを生成し、このシリアルデータに応じて光ピックア
ップ５より出射されるレーザービームの光量を再生時の
光量より書き込み時の光量に立ち上げる。これにより光
ディスク装置１は、外部機器より入力したデータを光デ
ィスク２に記録するようになされている。

【００２１】さらにデータ処理回路６は、光ピックアッ
プ５が光ディスク２の試し書き領域にアクセスした際
に、システム制御回路７の制御により、所定の試し書き
データによりレーザービームの光量を間欠的に立ち上
げ、これによりこの試し書き領域に試し書きデータを記
録する。このときデータ処理回路６は、記録時の光量を
順次段階的に切り換えて繰り返し試し書きデータを記録
した後、この試し書きによってシステム制御回路７より
指定される基準光量で繰り返し試し書きデータを記録す
る。

【００２２】アドレス復号回路８は、ウォウブル信号Ｗ
Ｂよりアドレスデータを復号して出力する。すなわちア
ドレス復号回路８は、周波数復調回路にウォウブル信号
ＷＢを入力して処理し、この周波数復調回路の出力信号
を２値化回路により２値化して２値化信号を生成する。
さらにアドレス復号回路８は、ウォウブル信号ＷＢを基
準にして生成されたクロックによりこの２値化信号を順
次ラッチし、これによりウォウブル信号ＷＢの再生デー
タを生成する。アドレス復号回路８は、このウォウブル
信号ＷＢの再生データに付加された誤り訂正符号により
この再生データを誤り訂正し、これによりアドレスデー
タＡＤを再生する。

【００２３】さらにアドレス復号回路８は、試し書き領
域における再生時、システム制御回路７の制御により、
このようにして生成した２値化信号のエッジのタイミン
グをクロックを基準にして時間計測することにより、ウ
ォウブル信号ＷＢについてのジッタ量ＪＷＢを検出して
出力する。

【００２４】２値化回路９は、光ピックアップ５より出
力される再生信号ＲＦを２値化することにより２値化信
号Ｓ２を生成して出力する。再生データ処理回路１０
は、クロックを基準にしてこの２値化信号を順次ラッチ
することにより、再生信号ＲＦの再生データを生成す
る。さらに再生データ処理回路１０は、この再生データ
をＥＦＭ復調した後、デインターリーブ処理、誤り訂正
処理し、これにより光ディスク２に記録されたデータＤ
１を再生して出力する。

【００２５】さらに再生データ処理回路１０は、試し書
き領域における再生時、システム制御回路７の制御によ
り、このようにして生成した２値化信号Ｓ２のエッジの
タイミングをクロックを基準にして時間計測することに
より、光ディスクに記録されたデータ再生についてジッ
タ量ＪＲＦを検出して出力する。

【００２６】システム制御回路７は、この光ディスク装
置１全体の動作を制御するコンピュータにより構成さ
れ、光ディスク２が装填されると、また一定の時間間隔
で、さらに温度センサにより光ディスク２の近傍におい
て機器内の温度が所定温度以上変化すると、サーボ回路
４の動作を制御し、光ピックアップ５を光ディスク２の
試し書き領域にシークさせる。さらにシステム制御回路
７は、データ処理回路６の動作を制御することにより、
この試し書き領域において書き込み時の光量を順次段階
的に切り換えて試し書きデータを記録した後、記録した
試し書きデータを再生し、再生データ処理回路１０より
得られるジッタ量ＪＲＦより最もジッタ量ＪＲＦの少な
い書き込み光量を最適な書き込み光量としてデータ処理
回路６に設定する。

【００２７】さらにシステム制御回路７は、続いて図１
に示す処理手順を実行し、これにより最適な光量により
試し書き領域に試し書きデータを記録し、この再生結果
と、アドレス復号回路８より得られる再生結果より最適
なフォーカスバイアスＦＢを検出し、このフォーカスバ
イアスＦＢをサーボ回路４にセットする。

【００２８】すなわちシステム制御回路７は、ステップ
ＳＰ１からステップＳＰ２に移り、試し書き領域に基準
データを記録した後、再生する。このときシステム制御
回路７は、試し書き領域において検出した最適な書き込
みの光量により、またフォーカスバイアスＦＢを順次段
階的に切り換えて基準データを記録する。さらにシステ
ム制御回路７は、この記録した基準データをそれぞれ書
き込み時のフォーカスバイアスＦＢにより順次再生し、
図３に示すように、再生データ処理回路１０より得られ
るジッタ量ＪＲＦより横軸をフォーカスバイアス、縦軸
をジッタ量ＪＲＦに設定してなるフォーカスバイアスＦ
Ｂと再生信号ＲＦにおけるジッタ量ＪＲＦとの特性曲線
Ｊ−ＲＦを検出する。

【００２９】続いてシステム制御回路７は、ステップＳ
Ｐ３に移り、ここでこの試し書き領域においてアドレス
復号回路８より得られるウォウブル信号ＷＢのジッタ量
ＪＷＢを検出する。このときシステム制御回路７は、順
次段階的にフォーカスバイアスＦＢを切り換え、これに
より図３に示すように、横軸をフォーカスバイアス量、
縦軸をジッタ量ＪＷＢに設定してなるフォーカスバイア
スＦＢとウォウブル信号ＷＢにおけるジッタ量ＪＷＢと
の特性曲線Ｊ−ＷＢを検出する。

【００３０】続いてシステム制御回路７は、ステップＳ
Ｐ４に移り、これらの検出結果より最適なフォーカスバ
イアスＦＣを検出し、この最適なフォーカスバイアスを
サーボ回路４にセットする。すなわちシステム制御回路
７は、このようにして検出した特性曲線Ｊ−ＷＢ、Ｊ−
ＲＦが所定のしきい値ＪＴＨを横切るフォーカスバイア
スを検出する。これにより特性曲線Ｊ−ＷＢについて
は、しきい値ＪＴＨによる上限値及び下限値を検出し、
この上限値及び下限値により、ウォウブル信号の処理に
許容されるデフォーカスの範囲を検出する。また特性曲
線Ｊ−ＲＦについても、しきい値ＪＴＨによる上限値及
び下限値により、データ再生に許容されるデフォーカス
の範囲を検出する。なおここでしきい値ＪＴＨは、アド
レス及びデータについて許容し得るジッタ量を直接示す
値ではなく、システム制御回路７の演算処理のための便
宜的に設定した値である。

【００３１】さらにシステム制御回路７は、このように
して検出した２つの範囲の重なり合う範囲について上限
値Ｆ２及び下限値Ｆ１を検出し、これら上限値Ｆ２及び
下限値Ｆ１の中間値を最適なフォーカスバイアスＦＣに
設定する。システム制御回路７は、このフォーカスバイ
アスＦＣをサーボ回路４にセットした後、ステップＳＰ
５に移ってこの処理手順を終了する。

【００３２】以上の構成において、光ディスク装置１
は、光ディスク２が装填されると、光ピックアップ５が
光ディスク２の試し書き領域にシークし、この試し書き
領域における光量を順次切り換えて記録した基準データ
の再生結果に基づいて、最適な書き込み光量が検出され
る。

【００３３】さらに光ディスク装置１は、続いてこの最
適な書き込み光量により、フォーカスバイアスを順次段
階的に切り換えて試し書きデータが記録された後、記録
時のフォーカスバイアスによりこの試し書きデータが再
生される。このとき再生信号ＲＦのジッタ量ＪＲＦが再
生データ処理回路１０において順次検出され、これによ
り再生信号ＲＦのジッタ量ＪＲＦとフォーカスバイアス
ＦＢとの関係が検出される。

【００３４】また試し書き領域において、フォーカスバ
イアスを順次段階的に切り換えてウォウブル信号ＷＢの
ジッタ量ＪＷＢが検出され、これによりウォウブル信号
ＷＢのジッタ量ＪＷＢとフォーカスバイアスＦＢとの関
係が検出される。

【００３５】光ディスク装置１は、この検出した関係よ
り、ウォウブル信号ＷＢにおけるジッタ量の特性曲線Ｊ
−ＷＢと、再生信号ＲＦにおけるジッタ量の特性曲線Ｊ
−ＲＦとについて、所定のしきい値ＪＴＨ以下にジッタ
量が低下する範囲が検出される。ここでこのようにして
検出される範囲は、それぞれウォウブル信号ＷＢの処理
に最適なフォーカスバイアスと、データの再生に最適な
フォーカスバイアスとを中心にした範囲でなることによ
り、上限値及び下限値によりそれぞれウォウブル信号Ｗ
Ｂの処理及びデータ再生に許容し得るデフォーカスの範
囲の中心値を示すことになり、これにより間接的にそれ
ぞれウォウブル信号ＷＢの処理に許容し得るデフォーカ
スの範囲とデータ再生に許容し得るデフォーカスの範囲
とを示すことになる。

【００３６】光ディスク装置１では、この２つの許容し
得る範囲の重なり合う範囲について、上限値Ｆ２及び下
限値Ｆ１が検出され、この上限値Ｆ２及び下限値Ｆ１の
中心値ＦＣが最適なフォーカスバイアスＦＢとしてサー
ボ回路４にセットされ、このセットされたフォーカスバ
イアスによりフォーカスエラー信号ＦＥをオフセットし
てなる信号レベルが所定の信号レベルになるように、フ
ォーカス制御されて所望のデータが記録再生される。

【００３７】これらにより光ディスク装置１では、最適
なフォーカスバイアスが２つの許容し得る範囲の重なり
合う領域の中心に設定され、アドレスの許容範囲がデー
タ再生の許容範囲より広い場合、アドレスの許容範囲の
中心に最適なフォーカスバイアスが設定され、これとは
逆にアドレスの許容範囲がデータ再生の許容範囲より狭
い場合、データ再生の許容範囲の中心に最適なフォーカ
スバイアスが設定されることになる。

【００３８】これによりアドレスの再生における最適な
フォーカスバイアスと、データの処理における最適なフ
ォーカスバイアスとが光ディスクにより異なる場合で
も、デフォーカスを許容し得る範囲に対して最も余裕を
有してなるフォーカスバイアスを最適なフォーカスバイ
アスに設定することができ、光ディスクの固体差による
エラーレートの劣化が低減され、所望のデータを高密度
記録することが可能となる。

【００３９】またアドレスの再生における最適なフォー
カスバイアスと、データの処理における最適なフォーカ
スバイアスとが光ピックアップ等の経時変化により変化
した場合でも、これらの変化に対応してデフォーカスを
許容し得る範囲に対して最も余裕を有してなるフォーカ
スバイアスを最適なフォーカスバイアスに設定すること
ができ、これにより経時変化によるエラーレートの劣化
が低減され、所望のデータを高密度記録することが可能
となる。

【００４０】またこのようにしてフォーカスバイアスを
設定して所定時間経過すると、また光ディスク２の周辺
温度が所定温度以上変化すると、光ディスク２の装填時
と同様にして最適なフォーカスバイアスが検出され、こ
の検出したフォーカスバイアスがサーボ回路４にセット
される。これによりアドレスの再生における最適なフォ
ーカスバイアスと、データの処理における最適なフォー
カスバイアスとが温度変化により変化した場合でも、こ
れらの変化に対応してデフォーカスを許容し得る範囲に
対して最も余裕を有してなるフォーカスバイアスを最適
なフォーカスバイアスに設定することができ、これによ
り温度変化によるエラーレートの劣化が低減される。

【００４１】以上の構成によれば、光ディスクの装填
時、順次フォーカスバイアスを切り換えて得られるデー
タの記録再生におけるフォーカスバイアスＦＢとジッタ
量ＪＲＦとの関係、同様にしたアドレス再生におけるフ
ォーカスバイアスＦＢとジッタ量ＪＷＢとの関係より、
所定のしきい値ＪＴＨ以下にジッタ量ＪＲＦ、ＪＷＢが
低下する範囲の重なり合う部分の中心値ＦＣを検出し、
この中心値ＦＣのフォーカスバイアスを最適なフォーカ
スバイアスＦＢとしてサーボ回路４に設定することによ
り、データの記録再生における最適なフォーカスバイア
スと、ウォウブル信号ＷＢのアドレス再生に最適なフォ
ーカスバイアスとが光ディスクにより種々に異なる場合
でも、またこれら最適なフォーカスバイアスが経時変化
した場合でも、各光ディスク２毎に最適なフォーカスバ
イアスＦＢを設定することができる。これにより充分な
マージンによりアドレスを再生し、また所望のデータを
記録再生することができ、所望のデータを確実に高密度
記録することができる光ディスク装置１を得ることがで
きる。

【００４２】また一定の時間間隔、所定値以上の温度変
化により、同様の処理を実行して最適なフォーカスバイ
アスＦＢをサーボ回路４に設定することにより、データ
の記録再生における最適なフォーカスバイアスと、ウォ
ウブル信号ＷＢのアドレス再生に最適なフォーカスバイ
アスとが温度変化により種々に変化する場合でも、これ
らの変化に対応して最適なフォーカスバイアスＦＢを設
定することができ、これによっても充分なマージンによ
りアドレスを再生し、また所望のデータを記録再生し
て、所望のデータを確実に高密度記録することができ
る。

【００４３】なお上述の実施の形態においては、ジッタ
量を基準にして最適なフォーカスバイアスを設定する場
合について述べたが、本発明はこれに限らず、図４に示
すように、フォーカスバイアスとジッタ量の関係に代え
て、フォーカスバイアスとアドレスのエラーレートＥ−
ＷＢ、フォーカスバイアスと再生データのエラーレート
Ｅ−ＲＦとの関係を検出し、この関係より同様にして最
適なフォーカスバイアスを検出してもよい。またジッタ
量は位相余裕を表していることにより、フォーカスバイ
アスと振幅余裕の関係を検出し、これにより最適なフォ
ーカスバイアスを検出してもよい。

【００４４】また上述の実施の形態においては、フォー
カスバイアスの最適化処理を試し書きによる最適光量の
設定処理と同時に実行する場合について述べたが、本発
明はこれに限らず、試し書きによる最適光量の設定処理
とは別に実行してもよい。

【００４５】また上述の実施の形態においては、試し書
き領域において、フォーカスバイアスを段階的に切り換
えて試し書きデータを記録した後、記録時のフォーカス
バイアスにより順次再生してデフォーカスを許容し得る
範囲を検出する場合について述べたが、本発明はこれに
限らず、各フォーカスバイアスにより記録した試し書き
データを順次フォーカスバイアスを切り換えて再生する
ことにより、書き込み時のフォーカスバイアスと再生時
のフォーカスバイアスとのマトリックス状の組み合わせ
により許容し得る範囲を検出し、この範囲より最適なフ
ォーカスバイアスを検出してもよい。

【００４６】また上述の実施の形態においては、光ディ
スクの最内周に形成された試し書き領域において最適な
フォーカスバイアスを検出する場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、例えば最内周と最外周とでそれ
ぞれ最適なフォーカスバイアスを検出し、この検出した
フォーカスバイアスの補間演算により各領域の最適なフ
ォーカスバイアスを検出してもよく、さらには各ゾーン
毎に最適なフォーカスバイアスを検出してもよい。

【００４７】さらに上述の実施の形態においては、所定
の試し書きデータを記録して再生することにより最適な
フォーカスバイアスを検出する場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、例えば光ディスクに記録済のデ
ータを再生してジッタ量、エラーレート等を検出するこ
とにより最適なフォーカスバイアスを検出してもよい。

【００４８】また上述の実施の形態においては、グルー
ブの蛇行により記録されたアドレスを再生する場合につ
いて述べたが、本発明はこれに限らず、プリフォーマッ
トされたピットにより記録されたアドレスを再生する場
合にも広く適用することができる。

【００４９】また上述の実施の形態においては、グルー
ブにより所望のデータを記録する場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、ランドグルーブ記録にも広
く適用することができる。なおこの場合、ランド及びグ
ルーブ毎に最適なフォーカスバイアスを検出することに
より従来に比して格段的に所望のデータを高密度記録す
ることができる。

【００５０】さらに上述の実施の形態においては、相変
化型の光ディスクに所望のデータを記録する光ディスク
装置に本発明を適用する場合について述べたが、本発明
はこれに限らず、光磁気ディスク装置等にも広く適用す
ることができる。

【００５１】

【発明の効果】上述のように本発明によれば、プリフォ
ーマットされたアドレスに対してデフォーカスを許容し
得る範囲と、データに対してデフォーカスを許容し得る
範囲との重なり合う範囲のほぼ中心値を検出し、この中
心値のフォーカスバイアスにより光ディスクをアクセス
することにより、光ディスクの固体差、経時変化等によ
るエラーレートの劣化を低減することができ、その分所
望のデータを確実に高密度記録することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態に係る光ディスク装置のシ
ステム制御回路の動作の説明に供するフローチャートで
ある。

【図２】図１の光ディスク装置を示すブロック図であ
る。

【図３】図１の処理手順の説明に供する特性曲線図であ
る。

【図４】他の実施の形態におけるフォーカスバイアスの
設定の説明に供する特性曲線図である。

【図５】アドレスの再生における最適なフォーカスバイ
アスと、データの再生における最適なフォーカスバイア
スとの関係を示す特性曲線図である。

【符号の説明】

１……光ディスク装置、２……光ディスク、３……スピ
ンドルモータ、４……サーボ回路、６……データ処理回
路、７……システム制御回路、８……アドレス復号回
路、１０……再生データ処理回路

Claims (18)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクにレーザービームを照射して
   得られる戻り光より、プリフォーマットにより前記光デ
   ィスクに記録されたアドレスを検出し、前記アドレスを
   基準にして前記光ディスクに所望のデータを記録再生す
   る光ディスク装置において、 フォーカスバイアスの最適化処理により設定した最適フ
   ォーカスバイアスを基準にして、前記レーザービームを
   フォーカス制御して前記所望のデータを記録再生し、 前記フォーカスバイアスの最適化処理において、 前記アドレスの再生における前記レーザービームのデフ
   ォーカスを許容し得る範囲と、前記データの再生におけ
   る前記レーザービームのデフォーカスを許容し得る範囲
   との重なり合う範囲のほぼ中心値を検出し、前記中心値
   のフォーカスバイアスを前記最適フォーカスバイアスに
   設定することを特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 前記フォーカスバイアスの最適化処理に
   おいて、 前記アドレスの再生におけるジッタ量又はエラーレート
   が所定値以下に減少する範囲を検出することにより、直
   接に又は間接的に、前記アドレスの再生における前記レ
   ーザービームのデフォーカスを許容し得る範囲を検出す
   ることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】 前記フォーカスバイアスの最適化処理に
   おいて、 前記データの再生におけるジッタ量又はエラーレートが
   所定値以下に減少する範囲を検出することにより、直接
   に又は間接的に、前記データの再生における前記レーザ
   ービームのデフォーカスを許容し得る範囲を検出するこ
   とを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
4. 【請求項４】 前記フォーカスバイアスの最適化処理
   を、前記光ディスクの装填時に実行することを特徴とす
   る請求項１に記載の光ディスク装置。
5. 【請求項５】 前記フォーカスバイアスの最適化処理
   を、一定の時間間隔により実行することを特徴とする請
   求項１に記載の光ディスク装置。
6. 【請求項６】 前記フォーカスバイアスの最適化処理
   を、一定以上の温度変化があった場合に実行することを
   特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
7. 【請求項７】 前記フォーカスバイアスの最適化処理
   は、 前記フォーカスバイアスを順次切り換えて、前記アドレ
   スの再生におけるジッタ量又はエラーレートと、前記デ
   ータの再生におけるジッタ量又はエラーレートとを検出
   して実行されることを特徴とする請求項１に記載の光デ
   ィスク装置。
8. 【請求項８】 前記アドレスは、 前記光ディスクに形成された前記レーザービームのガイ
   ド溝の蛇行により記録されたことを特徴とする請求項１
   に記載の光ディスク装置。
9. 【請求項９】 前記アドレスは、 前記光ディスクに形成されたピットにより記録されたこ
   とを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
10. 【請求項１０】 光ディスクにレーザービームを照射し
    て得られる戻り光より、プリフォーマットにより前記光
    ディスクに記録されたアドレスを検出し、前記アドレス
    を基準にして前記光ディスクに所望のデータを記録再生
    する光ディスク装置におけるフォーカスバイアスの設定
    方法において、 フォーカスバイアスの最適化処理により、 前記アドレスの再生における前記レーザービームのデフ
    ォーカスを許容し得る範囲と、前記データの再生におけ
    る前記レーザービームのデフォーカスを許容し得る範囲
    との重なり合う範囲のほぼ中心値を検出し、前記中心値
    のフォーカスバイアスを前記レーザービームをフォーカ
    ス制御するフォーカスバイアスに設定することを特徴と
    するフォーカスバイアスの設定方法。
11. 【請求項１１】 前記フォーカスバイアスの最適化処理
    において、 前記アドレスの再生におけるジッタ量又はエラーレート
    が所定値以下に減少する範囲を検出することにより、直
    接に又は間接的に、前記アドレスの再生における前記レ
    ーザービームのデフォーカスを許容し得る範囲を検出す
    ることを特徴とする請求項１０に記載のフォーカスバイ
    アスの設定方法。
12. 【請求項１２】 前記フォーカスバイアスの最適化処理
    において、 前記データの再生におけるジッタ量又はエラーレートが
    所定値以下に減少する範囲を検出することにより、直接
    に又は間接的に、前記データの再生における前記レーザ
    ービームのデフォーカスを許容し得る範囲を検出するこ
    とを特徴とする請求項１０に記載のフォーカスバイアス
    の設定方法。
13. 【請求項１３】 前記フォーカスバイアスの最適化処理
    を、前記光ディスクの装填時に実行することを特徴とす
    る請求項１０に記載のフォーカスバイアスの設定方法。
14. 【請求項１４】 前記フォーカスバイアスの最適化処理
    を、一定の時間間隔により実行することを特徴とする請
    求項１０に記載のフォーカスバイアスの設定方法。
15. 【請求項１５】 前記フォーカスバイアスの最適化処理
    を、一定以上の温度変化があった場合に実行することを
    特徴とする請求項１０に記載のフォーカスバイアスの設
    定方法。
16. 【請求項１６】 前記フォーカスバイアスの最適化処理
    は、 前記フォーカスバイアスを順次切り換えて、前記アドレ
    スの再生におけるジッタ量又はエラーレートと、前記デ
    ータの再生におけるジッタ量又はエラーレートとを検出
    して実行されることを特徴とする請求項１０に記載のフ
    ォーカスバイアスの設定方法。
17. 【請求項１７】 前記アドレスは、 前記光ディスクに形成された前記レーザービームのガイ
    ド溝の蛇行により記録されたことを特徴とする請求項１
    ０に記載のフォーカスバイアスの設定方法。
18. 【請求項１８】 前記アドレスは、 前記光ディスクに形成されたピットにより記録されたこ
    とを特徴とする請求項１０に記載のフォーカスバイアス
    の設定方法。