JPH11300580A - 主軸又はアタッチメント補正値の自動決定方法 - Google Patents

主軸又はアタッチメント補正値の自動決定方法

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JPH11300580A
JPH11300580A JP12182398A JP12182398A JPH11300580A JP H11300580 A JPH11300580 A JP H11300580A JP 12182398 A JP12182398 A JP 12182398A JP 12182398 A JP12182398 A JP 12182398A JP H11300580 A JPH11300580 A JP H11300580A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 多主軸工作機械に装備する2以上の旋回機能
を有するアタッチメントの複数の旋回軸の原点補正値を
自動決定する方法の提供。 【解決手段】 タッチプローブを基準主軸と旋回機能を
有するアタッチメント軸に順次装着変えを指令して、定
置した基準ブロック上の計測面に当接して基準主軸から
の偏りを自動計測することができる自動計測サイクルを
形成し多主軸・多旋回機能のアタッチメントの軸補正値
を自動決定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はアタッチメントを有
する多面加工マシニングセンタにおいて、基準主軸の原
点とアタッチメントの旋回工具主軸の偏差分又はアタッ
チメントの工具主軸の偏差分を共に自動計測し、偏差分
をアタッチメント補正値としてNC装置に入力する主軸
又はアタッチメント補正値の自動決定方法に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】多種のアタッチメントを有し一つ又は複
数の主軸を有する多面加工マシニングセンタにおいて
は、基準となる基準立軸アタッチメントと付加され得る
多種のアタッチメント、例えば工具位置を標準位置より
軸方向に伸長した位置に設け、深い窪みを加工するエク
ステンションアタッチメント、30°,45°,60
°,90°のアンギュラアタッチメント,ユニバーサル
インデックスアタッチメント等との主軸中心や主軸先端
の差分あるいは旋回軸との偏差分をアタッチメント補正
値として予め操作盤上で指令して測定し、NC装置のメ
モリにマニュアルで記憶させている。
【0003】従来の計測方法では、アタッチメント毎に
立軸の標準アタッチメントとの偏差分を予め求める方法
として機内に、ダイヤルゲージ又はミリメスを複数個補
正すべき面に対応させて配置した補正用段取をテーブル
上に設けて、基準軸又は補正すべき主軸又はアタッチメ
ントの工具軸に基準工具を装着させ、手動で主軸を計測
の初期位置迄操作し続いてパルスハンドルを操作してダ
イヤルゲージ等と基準工具との当接を確認して位置の計
測をしている。
【0004】前記方法での位置計測は人手を介して行う
ものであり、一つのアタッチメントについて補正しよう
とする面が複数存在するので多主軸になると前記補正面
の計測プロセスを人手により行う場合は所要工数は増加
する。
【0005】従来技術の計測による補正値の決定方法を
図9のフローチャートで説明する。従来技術では基準と
する主軸や補正しようとする旋回機能を有するアタッチ
メント軸への基準工具の装着についてのすべての準備工
程をNC装置のパネル又は操作パネル上で順次個別にマ
ニュアルで行う必要がある。
【0006】続いてステップS101,S111におい
て、機内に設けた測定段取りの指示器近傍まで主軸を迅
速に移動させることを操作パネル上で操作する。ステッ
プS102,112において、本機に設置した測定段取
の指示計器に基準工具が当接するようペンダントの操作
パネル上のパルスハンドルを操作し補正する旋回軸の
X,Y,Z軸について計測位置への移動を指令する。
【0007】ステップS103,113において、計測
値の読み取りを行い、ステップS104において基準主
軸の計測結果により基準軸の原点位置を決定し、ステッ
プS114において補正値の偏差分のデータを記憶す
る。ステップS105でアタッチメントの旋回軸ごとの
補正値(基準軸原点からの偏差分)を決定する。
【0008】ステップS106でNC装置のパネル上か
ら旋回軸ごとの補正値を記憶させる。以上の各ステップ
の行為及び各ステップの操作は自動的に次のステップの
操作に移行するものでなくすべて個別にマニュアル操作
によりパネル上で操作されている。従ってアタッチメン
トの旋回軸数が多いほどアタッチメントの種類が多いほ
ど計測所要時間は多くなる。
【0009】次に従来技術の実施例について、次に説明
する。図10(a)は機内に定置する旋回補正用段取の
正面図、(b)は同段取の上面図である。段取は5面計
測可能に5個の指示計器を装備している。機内にダイヤ
ルゲージ等の指示計測器を設ける。NC装置に原点設定
し、手動運転モードで基準工具の外周にミリメス1を当
接させる。当接の方法は基準工具を早送りでミリメスに
近づける。近づいたらパルスハンドルに切り換えて当接
するまで移動を続ける。基準工具は常に同一計測面に対
しては同一方向から接近させるようにし、基準工具の径
方向の計測点として選定した外周の頂点の位置で、主軸
を最低回転数で回転中に指示計器の指針の振れの中心を
「0」に合わせる。
【0010】図10(b)でミリメス5は基準工具の端
面で工具中心に近い位置に当接させて他のミリメスと同
様主軸回転中に指針の振れの中心を「0」に合わせる。
パルスハンドルを操作し基準工具をミリメスから離して
工具交換モードに切り換えて基準工具をマガジンに収納
し、続いて補正しようとする主軸又はアタッチメントを
装備した主軸の一つに基準工具を装着して前記と同じ手
動の操作手順により指針の振れの中心を読み取ることに
より偏差分が計測できることになる。
【0011】従来はATC操作,アタッチメント旋回,
各軸の移動,主軸の割出しを含めて前述の計測に要する
時間は1本のアタッチメントでおよそ数十分乃至1時間
半くらいを要している。但し、NC装置内に基準主軸と
他の主軸等との偏差分を予めマニュアルで記憶させた後
は、実加工時のプログラム上でアタッチメントの種類を
指示すればアタッチメントの旋回角度からの補正値はN
C装置で自動演算され、標準アタッチメントの主軸中心
及び主軸先端の高さの差分を補正された値によりワーク
座標系は駆動され切削が実行される。従ってプログラマ
ーは、基準となる標準立軸アタッチメントと他のアタッ
チメントとの偏差分の補正値のNC装置への書込みが終
了していれば標準立軸アタッチメントと同様に他のアタ
ッチメントによる加工プログラムの作成も容易となる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】従来技術で説明したア
タッチメントの補正値の計測及び決定方法においては基
準工具を基準の主軸に装着して定置された計測段取の位
置に移動し計測する操作を手動で行っている。そのため
アタッチメントの種類が多いほど補正値を決定するに要
する時間は多くなり、所要時間の総量が多くなるだけで
なく、計測が長時間に渉ると室温変化等の影響を受けて
機械本体、測定器が熱変形するために測定精度の信頼度
の低下を招来することもある。又アタッチメント等をテ
ーブルに定置した測定段取に接近させて測定することか
ら人手による誤操作による衝突の危険性も潜在する。又
人手による計測による一般的な計測ミスや目視確認によ
る過誤は避けられない。更に指示計器を読み取った後の
補正値のNC装置への入力ミスが発生するという問題を
有していた。本発明は従来技術の有するこのような問題
に鑑みなされたものであり、その目的とするところは多
軸加工機による多面加工において基準主軸と他の補正し
ようとするアタッチメント旋回主軸又は他のアタッチメ
ント主軸間の偏差分を自動計測し偏差分を補正値として
NC装置に自動記憶させる方法を提供しようとするもの
である。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明のアタッチメント旋回補正値の自動測定及び設
定の方法は、一つ又は複数の主軸をもつ工作機械であっ
て、テーブル上に基準ブロック又はタッチセンサのいず
れかを定置し、基準とする主軸にタッチプローブ又は基
準工具のいずれかを装着し、前記基準ブロック又はタッ
チセンサの上面及び4側面に当接させてX・Y・Z軸の
基準位置を計測し、つづいて補正しようとする主軸又は
アタッチメント主軸に前記タッチプローブ又は基準工具
を装着して前記基準ブロック又はタッチセンサに当接さ
せて補正しようとする各軸の現在値を計測して、基準と
する主軸に対する別主軸又はアタッチメント主軸のX・
Y・Z軸の偏差分を補正しようとする主軸又はアタッチ
メント主軸の補正値として決定するようにしたものであ
る。
【0014】従来の補正値の決定に対し、段取りの設
定、指示計器の読み取り等における作業者の熟練が不要
となり測定結果に対する信頼性が高まるとともに所要時
間が大幅に短縮される。特にアタッチメントの数が多く
て、アタッチメントが旋回機能を有している場合などに
特に有効である。計測時間が短いので、熱による機械の
変形の影響の少ない時間内に計測が終了できる。
【0015】また、求めた基準とする主軸に対する別主
軸又はアタッチメント主軸のX・Y・Z軸の偏差分が既
に記憶されている先回の偏差分と比較して許容値内に含
まれるかを判定し、許容値内であれば前記求めた偏差分
を補正しようとする主軸又はアタッチメント主軸の補正
値として決定するようにしたものである。
【0016】過去に自動計測して得て記憶されている対
比する主軸間の偏差分と当該計測に係る同一の対比する
主軸間の偏差分とを比較し所定の限度内に含まれる場合
は当該計測の偏差分を新しい補正値とするもので工具摩
耗や欠損等のトラブルを未然に防止できる。
【0017】また、請求項2の偏差分の比較において、
許容値外であれば所定回数計測を繰り返し、所定回数に
達しても許容値外のときはアタラーム停止し、所定回数
に達する前に許容値内になった時はその偏差分を補正値
として決定するようにしたものである。偏差分の比較の
結果について計測を繰り返し採用する補正値に対する信
頼性を高めかつ補正する値が前回より大きくなる場合は
その原因を除去するよう計測を中断させるようにしてい
る。
【0018】
【発明の実施の形態】アタッチメントの補正値を自動的
に測定する方法は、機内定位置に基準ブロック又はタッ
チセンサーを設け、基準主軸又はアタッチメントが装備
された各種のアタッチメント軸に基準工具を装着して前
記基準ブロック等に接触させることにより得た基準工具
の位置テータを比較して基準主軸に対する補正値を求め
ることによって行われる。基準工具は予め設定した計測
待機点に位置決めしてから次の計測作業のため移動させ
る。計測待機点は計測時の干渉をさけるため各アタッチ
メントの補正軸ごとに定められている。
【0019】この場合検出側を基準ブロック側又は主軸
側のいずれに選んでも計測可能である。自動計測を指令
する場合の基本動作について図1,図2,図3,図4に
基づいて説明する。図1(a)に示すタッチセンサーユ
ニットにより、基準工具を装着した基準主軸についてワ
ーク座標系の原点を計測する。タッチセンサーユニット
の測定面に対する原点の設定は次のように行われる。基
準工具は予め記憶した計測待機点に位置決めしてから次
の計測作業のため移動させる。計測待機点は計測的の干
渉をさけるため各アタッチメントの補正値ごとに定めら
れている。
【0020】最初の計測手順は操作パネル上でマニュア
ル操作により実行する計測作業であるが二度目からはマ
ニュアル操作の必要はない。基準ブロック上の定点5点
の各X,Y,Z座標値計測値を加工物の座標系の原点と
して設定する。次回基準主軸によるワーク座標系の原点
計測はプログラム上で計測位置を指定し計測して新しい
原点をNC装置に記憶させるだけで良い。
【0021】又図2(a)においてはテーブル上に基準
ブロックを固定し基準主軸に装着したプローブ先端をブ
ロックのXY軸平面上のほぼ中央でZ面上約10mm手
前にパルスハンドルで位置決めし加工物の座標系の原点
として記憶させNC指令の座標系番号を付与する方法も
ある。番号は任意であるが例えばH16の記号でーワク
座標軸選択指令することによりプログラム上で一定の計
測原点を指令できることとなる。計測原点H16は前記
計測待機点に相当する。
【0022】次に基準ブロック上面をZ=10の位置か
らX+,X−,Y+,Y−の順にZ=−10の位置に移
動して順次計測を行うが、その計測原点をそれぞれH1
7,H18,H19,H20と定める。各面のXY位置
が0となるように原点設定して終了しタッチプローブは
ATCマガジンに格納される。以上はワーク座標系の原
点を自動計測する手順であり次に補正すべきアタッチメ
ントの自動計測指令について説明する。
【0023】エクステンションアタッチメントを計測す
る場合先ずアタッチメントをラムに取り付けてATCマ
ガジンからタッチプローブを主軸に装着するよう指令
し、前記ワーク座標値でH16の指令によりタッチプロ
ーブは図2においてX軸・Y軸の現在値が0となるよう
に基準ブロック中央に位置決め後、Z端面を測定し、続
いてH17指令が選択されX端面を測定し、次いでH1
9指令によりY端面測定を行って、計測を完了してタチ
プローブはATCマガジンに返却される。
【0024】90°アンギュラアタッチメントの測定サ
イクルの場合は、まずATCマガジンよりタッチプロー
ブを主軸に装着させる。このアタッチメントの場合は工
具軸の方向について「前向き」「後ろ向き」「右向き」
「左向き」の4通りについて計測することとなる。図4
(a)においてプローブが「前向き」のときプローブ先
端が基準ブロックの中央になるようにX軸・Y軸の位置
決めした後、基準ブロック上面30mmの位置にZ軸を
位置決め後、Z軸端面測定後元のZ=30の位置に戻
る。
【0025】図4(a)においてX軸+端面位置より2
0mm離れた位置に位置決め後、基準ブロック上面より
10mm下方にZ軸位置決めし、X端面を測定後Z軸は
元のZ=30mmの位置に戻る。図4(b)においてX
軸は基準ブロックの中央位置としY軸は+端面位置より
20mm離れた位置に位置決め後基準ブロック上面から
10mm下に位置決めしY端面を計測完了後Z軸はZ=
30に戻る。プローブをZ軸+極限に上昇させプローブ
を「左向き」に旋回させる。前記と同様な計測をZ軸端
面、X軸端面、Y軸端面の順に測定を同様に90°アン
ギュラアタッチメントを旋回させて「後ろ向き」「右向
き」についても自動計測を続行する。全測定完了後、タ
ッチプローブをZ軸+極限まで上昇させ「前向き」に旋
回させ、タッチプローブをATCマガジンに格納する。
【0026】次にB/C軸アタッチメントの測定サイク
ルの場合を図4(a)(b)(c)について説明する。
先ずATCマガジンよりタッチプローブを主軸に取り付
ける。図5(a)においてワーク座標系をH16を選択
指令しX軸・Y軸の現在値が「0」となるように基準ブ
ロック中央に位置決め後Z端面を測定する。次にH17
を選択してX端面を測定する。続いてH19を選択して
Y端面測定が行われる。その後でタッチプローブはZ軸
の+極限まで上昇しアタッチメントを「左向き」に旋回
して前記と同様な計測が実行される。
【0027】アタッチメントを「後ろ向き」「右向き」
についても同様な計測が行われる。前記「右向き」測定
終了後タッチプローブはZ軸の+極限まで上昇し、続い
てY軸が+方向に450mm移動しB軸が90°旋回す
る。タッチプローブの先端がブロックの中央になるよう
にX軸Y軸の位置決めした後、基準ブロックの上面30
mmの位置にZ軸方向の位置決めした後H16座標系ま
でZ端面測定を行い元の上面30mm位置に復帰する。
【0028】次にX面測定はH17座標系で先ずX軸+
端面位置より約20mm離れた位置に位置決め後、基準
ブロック上面より10mm下にZ位置を定めて行う。計
測後Z軸上面30mmの位置に戻る。Y端面計測は、H
19座標系でX軸は基準ブロック中央位置、Y軸は+端
面位置より約20mm離れた位置に位置決め後基準ブロ
ック上面より10mm下にZ軸上位置決めしてから計測
する。
【0029】その後タッチプローブは元のZ=30の位
置に復帰する。更にZ軸は+極限まで上昇して「前向
き」に旋回する。同様にしてZ軸端面、X軸端面、Y軸
端面の順に測定を行います。「左向き」「後ろ向き」も
同様にして測定が行われ、測定後タッチプローブはZ軸
上の+極限まで上昇し「前向き」に旋回後Y軸が450
mm移動され、更にB軸を「0」に復帰旋回後タックプ
ローブをマガジンに格納する。
【0030】以上基準主軸と各種アタッチメントについ
て、基準ブロック上でタッチプローブに自動計測を指令
して計測する指令の手順について説明した。特に旋回機
能を有するアタッチメントの場合は主軸の旋回ごとの軸
の原点を確認の必要がありマニュアル計測では長時間を
要する。次にこれらの自動計測手法を基本としアタッチ
メント補正値を自動的にNC装置に記憶させて、プログ
ラム上で指定されたアタッチメントがラムに装着された
とき、NCデータを補正された加工データに演算して出
力することが可能となる。多主軸を備えた多面複合加工
機においては軸間の原点補正は短時間内に把握する必要
があり補正値の計測・演算・記憶までの全プロセスを全
自動化することは必須である。
【0031】次にアタッチメントの自動計測の実施例を
図7で説明する。計測関連部材の配置を示す図6におい
て図示しない基準工具(又はタッチプローブ)1を図示
しない基準主軸2に装着指令する。指令によりテーブル
3に定置した五面タッチセンサー(又は基準ブロック)
4に当接させて基準軸の原点データ6をNC装置5に記
憶させておき、次に補正しようとするアタッチメント6
をラム軸2に装着してアタッチメント6の旋回ごとに基
準工具1を五面タッチセンサー4に接触させその位置を
計測し前記基準主軸の記憶データとその都度比較し補正
値を演算してNC装置5にアッタチメントの種類を旋回
条件(角度)と共にNC装置に記憶してプログラムされ
たNCデータを補正演算して加工データとして自動的に
加工機に出力するものである。
【0032】更に図7に示すブロック線図により自動計
測プログラムの詳細を説明する。ATC8に格納された
計測に使用する基準工具又はタッチプローブを基準主軸
に装着することをNC装置により指令し実行されて後、
実体的な計測プログラムに移行する。NC装置5内の計
測実行プログラム記憶部11には計測に必要な手順を実
行するためのプログラムがすべて記憶されており、基準
軸に装着された基準工具又はタッチプローブを予め定め
た計測待機点に移動させる制御部に出力する。
【0033】計測待機点は後述の各種旋回アタッチメン
トと工作機械の構造体又は計測段取りとの干渉をさけ、
できるだけ迅速に計測段取りに接近させた位置であって
補正軸に係る計測点への当接を効率的に行える位置が選
択されている。基準工具又はタッチプローブが計測待機
点に到着後基準軸の五面計測プログラム13により五面
計測14が実行されそれぞれの計測値が得られる。これ
らの計測値は計測データ記憶部15に記憶される。
【0034】次に計測実行プログラム11の指令により
アタッチメント又は旋回軸を有するアタッチメントの軸
について前記12,13,14,15と同じく各アタッ
チメント旋回軸について定められた待機点に移動させる
制御部16・20、アタッチメントについて補正しよう
とする軸の計測プログラム部17・21、補正値に対す
る計測を実行する制御部18・19・22・23により
得た計測値及び残りのアタッチメントについて同様にし
て得た計測値は共に計測データ記憶部15に入力され
る。
【0035】先に記憶させた基準軸に関する五面の基準
点計測データとアタッチメントについて計測して得た補
正軸に関する補正面の計測データをデータ比較部24で
比較し差分を求め、先回データ有無判定部25で従来の
既に記憶されている差分があればこれと比較する比較判
定部26により許容値にあることを判定して後計測で得
られた差分をアタッチメントの補正しようとする軸の補
正値としてNC装置の補正値記憶部27に記憶させるよ
うにしたものである。但し、初めて測定する場合は従来
の差分データがないので比較判定せずに1回目のデータ
がそのまま記憶される。基準工具又はタッチプローブは
ATC8に格納され基準主軸やアタッチメントへの着脱
や格納は全自動計測サイクルに組み込まれ自動的に実行
される。
【0036】実施例の作用を図8のフローチャートに従
って説明する。ステップS11において、基準主軸に基
準工具の装着が指令され、次のステップS12では、基
準主軸を計測の初期位置(待機位置)へ移動指令され
る。ステップS13では初期位置でNC装置の加工物座
標系の原点が登録される。ステップS14では基準ブロ
ック5面の計測サイクル指令により計測が順次実行され
る。計測が初回であるか否かをステップS15で判定し
初回でなければステップS16に移行する。ステップS
16では5面の測定値が許容値内かどうかを判定する。
許容値内であればステップS17において測定値はNC
装置に基準データとして記憶され基準主軸の計測を完了
し基準工具をATCへ格納するよう指令する。ステップ
S15で計測が初回であると判断した場合もステップS
17に移行する。
【0037】次に旋回機能を有するアタッチメントに関
する計測について説明する。ステップS21において、
補正しようとするアタッチメントの軸に基準主軸に装着
したと同一の基準工具を装着する。ステップS22にお
いて前記装着した基準工具付アタッチメントを予め定め
た計測の初期位置(待機位置)に移動を指令する。ステ
ップS23において計測原点を確認する。ステップS2
4において補正しようとするアタッチメントの旋回軸の
一つについて計測を指令する。ステップS25において
偏差分を算出する。
【0038】ステップS26において計測が初回でなけ
ればステップS27に移行し、初回であればステップS
28に移行する。ステップS27において計測して得た
偏差分をステップS17で記憶した基準データと比較し
許容値内かどうか判定する。許容値内であればステップ
S28においてNC装置にアタッチメントの旋回軸の一
つについて前記偏差分を補正値として記憶する。
【0039】許容値外であればステップS24から再度
の計測を行う。アタッチメントの旋回軸の一つについて
の補正値の書込みが終了すると次のステップS29にお
いて当該アタッチメントの他の面について計測完了して
いるか、否かを判断し未完了であればステップS30で
旋回指令後、ステップS22に戻ってアタッチメントを
計測の初期位置(待機位置)に移動指令してステップS
23乃至S27迄の計測サイクルを繰り返して実行す
る。
【0040】続いて一つのアタッチメントのすべての旋
回軸についての計測が完了しているかをステップS31
で判断し、未完了であれば当該計測完了のアタッチメン
トを他の補正すべきアタッチメントに交換するか又は他
の主軸に装備したアタッチメントとを交換するようステ
ップS32で指令し新たに補正しようとするアタッチメ
ント軸に前記と同一の基準工具を装着して計測サイクル
を始めるためにステップS21に戻る。補正すべきすべ
てのアタッチメントの計測が完了し補正値がNC装置に
記憶されるとステップS32において基準工具格納を指
令し全補正値の自動決定プロセスは完了する。尚、基準
位置をX・Y・Z軸の3軸とも求めるようにしている
が、必ずしもその必要はなく、補正を行う軸のみについ
て基準位置を測定するようにしても良い。
【0041】
【発明の効果】本発明は上述の通り構成されているので
次に記載する効果を奏する。請求項1は、多主軸工作機
械において装着するアタッチメントの種類が多い場合や
アタッチメントが何種類かの旋回機能を有して工具軸が
実質上増加する場合にはアタッチメント旋回補正値の計
測・演算・記憶までの一連の計測サイクルを本発明によ
る自動決定方法に基づいて実行すれば所要時間は従来に
比べ1/10以下となり測定結果に対する信頼性が極め
て大きくなる。また計測所要時間が短いので熱変形によ
る測定誤差が入る余地も少ない。計測サイクルは殆ど無
人化されるので人為ミスもなく得られた補正値のNC装
置への書込みまで自動化されるのでデータ処理上のミス
も生じないという効果を有している。
【0042】請求項2は、工具摩耗や欠損等のトラブル
を未然に検知し対処することが可能である。請求項3
は、請求項2の信頼性を一層向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】テーブル上に設けて使用するタッチセンサ
(a)と、基準ブロック(b)の斜視図である。
【図2】基準主軸を計測する場合のタッチプローブと基
準ブロックの関係図で、(a)はZ面計測の初期位置、
(b)はX+,X−,Y+,Y−面計測の初期位置を示
す図である。
【図3】エクステンションアタッチメントのZ端面,X
端面,Y端面の計測指令を示す図である。
【図4】(a)は90°アンギュラアタッチメント測定
サイクルを「前向き」位置で指令し、Z端面,X端面,
Y端面の計測指令を示す図で、(b)は測定サイクルを
「左向き」又は「右向き」位置で計測を指令する図であ
る。
【図5】B/C軸アタッチメント測定サイクルにおける
指令を示す図である。(a)は計測面と座標系を示す
図、(b)はB軸0°位置でのZ端面,X端面,Y端面
の計測指令、(c)はB軸90°旋回後Z端面,X端
面,Y端面計測、(d)は測定サイクルを「左向き」又
は「右向き」の位置で計測指令。
【図6】計測関連部材の配置図である。
【図7】自動計測プログラムのブロック線図である。
【図8】基準主軸とアタッチメント旋回軸を自動計測し
てアタッチメントの旋回補正値を自動決定するフローチ
ャートである。
【図9】従来の操作パネル上での単位操作による補正値
決定のフローチャートである。
【図10】従来の目視計測に使用される五面検出計測段
取り図である。
【符号の説明】
1 基準工具 2 ラム 3 テーブル 4 五面タッチセンサ 5 NC装置 6 旋回軸付アタッチメント 7 ATC

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一つ又は複数の主軸をもつ工作機械であ
    って、テーブル上に基準ブロック又はタッチセンサのい
    ずれかを定置し、基準とする主軸にタッチプローブ又は
    基準工具のいずれかを装着し、前記基準ブロック又はタ
    ッチセンサの上面及び4側面に当接させてX・Y・Z軸
    の基準位置を計測し、つづいて補正しようとする主軸又
    はアタッチメント主軸に前記タッチプローブ又は基準工
    具を装着して前記基準ブロック又はタッチセンサに当接
    させて補正しようとする各軸の現在値を計測して、基準
    とする主軸に対する別主軸又はアタッチメント主軸のX
    ・Y・Z軸の偏差分を補正しようとする主軸又はアタッ
    チメント主軸の補正値として決定することを特徴とする
    主軸又はアタッチメント補正値の自動決定方法。
  2. 【請求項2】 求めた基準とする主軸に対する別主軸又
    はアタッチメント主軸のX・Y・Z軸の偏差分が既に記
    憶されている先回の偏差分と比較して許容値内に含まれ
    るかを判定し、許容値内であれば前記求めた偏差分を補
    正しようとする主軸又はアタッチメント主軸の補正値と
    して決定することを特徴とする請求項1に記載の主軸又
    はアタッチメント補正値の自動決定方法。
  3. 【請求項3】 許容値外であれば所定回数計測を繰り返
    し、所定回数に達しても許容値外のときはアラーム停止
    し、所定回数に達する前に許容値内になった時はその偏
    差分を補正値として決定する請求項2記載の主軸又はア
    タッチメント補正値の自動決定の方法。
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