JPH11298313A - トライステ―トバッファ回路 - Google Patents

トライステ―トバッファ回路

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JPH11298313A
JPH11298313A JP11060663A JP6066399A JPH11298313A JP H11298313 A JPH11298313 A JP H11298313A JP 11060663 A JP11060663 A JP 11060663A JP 6066399 A JP6066399 A JP 6066399A JP H11298313 A JPH11298313 A JP H11298313A
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buffer circuit
tri
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signal
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JP11060663A
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David R Hanson
アール ハンソン デヴィッド
Gerhard Mueller
ミュラー ゲルハルト
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Siemens AG
International Business Machines Corp
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Siemens AG
International Business Machines Corp
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    • B24GRINDING; POLISHING
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    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/04Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B9/00Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor
    • B24B9/02Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground
    • B24B9/06Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
    • B24B9/065Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of thin, brittle parts, e.g. semiconductors, wafers
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 低減された電圧で信号を形成できるトライス
テートバッファ回路を提供し、さらにこの所望のトライ
ステートバッファ回路の形成方法を提供する。 【解決手段】 バッファイネーブル信号が許可されてい
る場合に、入力段により入力信号が受け取られ、レベル
シフト段により一連のレベルシフト段制御信号が入力信
号に応答して送出され、その際にこの信号の電圧範囲は
入力信号の電圧範囲よりも高くされ、出力段により出力
信号がレベルシフト段制御信号に応答してバッファ回路
の出力側ノードに送出され、その際にこの出力信号の電
圧範囲はレベルシフト段制御信号の電圧範囲よりも低く
され、バッファイネーブル信号が禁止されている場合に
バッファ回路の出力側ノードが入力段およびレベルシフ
ト段から分離される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、バッファ回路、特
に入力信号がバッファ回路の入力側ノードで受け取ら
れ、バッファイネーブル信号に応答して出力信号がバッ
ファ回路の出力側ノードへ送信される、トライステート
バッファ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】回路または集積回路ではバッファ回路が
使用されることがあり、このバッファ回路は入力信号を
受け取って充分な電流をソースまたはシンクし、入力信
号に応じて出力側の導体(例えばバス線路)または他の
回路の入力側ゲートを駆動する。よく知られたタイプの
バッファ回路はトライステートバッファ回路である。ト
ライステートバッファ回路はトライステート、ハイ、ロ
ーの状態となる出力端子を有している。トライステート
バッファ回路は特に有利には次のように利用される。す
なわち、複数のバッファ回路が同じ抵抗に接続され、バ
ス駆動中に不活性状態にあるバッファ回路をそのバスか
ら分離することにより、バス上の信号の混在を回避する
のである。
【0003】理解を容易にするために、図1には従来技
術による反転トライステートバッファ回路100が概略
的に示されている。このバッファ回路は直列に4つのト
ランジスタ102、104、106、108を有してい
る。p型電界効果トランジスタ(pFET)102がV
DDのレールに接続されており、イネーブル信号がハイで
ある場合のみ導通する。特に指定しない限り、ここでは
全てのトランジスタが電界効果トランジスタ(FET)
である。n型トランジスタ108はグラウンドに接続さ
れており、同様にイネーブル信号がハイの場合のみ導通
する(つまりENABLEN信号がローの場合である)。イネ
ーブル信号がローである場合、2つのトランジスタ10
2、108はオフとなり、これにより出力側にトライス
テートの状態が生じる。
【0004】入力信号がハイであり、かつイネーブル信
号もハイである場合、nFET106、108は導通し
て出力側をグラウンドに引き込む。同時にpFET10
4はオフとなり、出力側をVDDから分離させる。これに
対して入力信号がローであり、かつイネーブル信号がハ
イである場合、pFET102、104は出力側をVDD
に導通させる。同時にnFET106はオフとなり、出
力側をグラウンドから分離させる。ここで、反転トライ
ステートバッファ回路100の出力は入力値の反転とな
ることがわかる。
【0005】図1のバッファ回路は従来使用されてきた
ものであるが、欠点も存在する。例えばトライステート
バッファ回路100は入力を反転させるので、非反転の
トライステートバッファ回路を構成するにはカスケード
接続が必要となる。カスケードのために反転トライステ
ートバッファ回路100の出力側は他の反転トライステ
ートバッファ回路100の入力側へカスケード接続され
る。これにより非反転のトライステートバッファ回路が
構成される。
【0006】さらに出力段で4つのトランジスタを直列
に(例えば102、104、106、108を直列に)
使用することにより、サイズの点で大きな問題が生じ
る。これはプルアップ路またはプルダウン路における各
デバイスをかなり大きくしないと、これらの線路で直列
接続されたデバイスをトラバースするのに充分な電流を
流せないからである。デバイスが小さい場合、バッファ
回路から出力される電流量はきわめて小さくなり、出力
側の負荷を所望の電圧レベルに駆動する際に許容できな
い遅延を生じることがある。
【0007】しかも大きなデバイスを使用することによ
り、出力側導体での容量負荷が増大され、さらに多量の
電力が出力側の負荷を適切に駆動するために駆動バッフ
ァ回路側に必要となる。なぜなら駆動バッファ回路では
出力側導体のキャパシタンスおよび他のトライステート
バッファ回路のキャパシタンスの2つが負荷に接続され
ていると見なされるからである。
【0008】図1の構成の他の欠点は、反転トライステ
ートバッファ回路100は一般的には低減された入出力
電圧のトライステートバッファ回路として動作しない点
に関連している。低減された入力電圧とは、チップに供
給される完全なVDDよりも低い入力電圧である。低減さ
れた入力電圧はトランジスタの閾値電圧(典型的には
0.7V程度)に達するほど低くなってしまうことがあ
る(例えば1V)。同様に低減された出力電圧とは、チ
ップに供給される完全なVDDよりも低い出力電圧であ
る。低減された電圧信号(すなわち振幅が低減された電
圧範囲の内部にある電圧信号)は回路の電力消費を低減
する点で有利なので、反転トライステートバッファ回路
100を低減された入出力電圧のトライステートバッフ
ァ回路として使用できないという欠点は重大である。
【0009】低減された電圧信号をバッファリングする
際の問題点を理解するために、反転トライステートバッ
ファ回路100の入力が論理的にはハイであるが、低減
された電圧信号(例えば1V程度)である条件を考察す
る。この場合、nFET106が予期されるように導通
するだけでなく、pFET104も同様にソフト的にオ
ンとなり、リーク電流がpFET104に(VDDからp
FET102を通って)トラバースする。リーク電流の
発生によりバッファ回路の出力側の信号は低減される
(および/または電力消費が著しく増加する)。
【0010】図2には従来技術による別の非反転形のト
ライステートバッファ回路が示されている。ただし非反
転トライステートバッファ回路150も低減された入出
力電圧のトライステートバッファ回路としては動作でき
ないことがわかっている。非反転トライステートバッフ
ァ回路150の動作と欠点を理解するために、ここでは
入力信号が完全な電圧の範囲(すなわちグラウンドから
VDDまで)を有している条件を考察する。線路152上
でイネーブル信号ENpがローである場合、pFET1
30はオンとなりノード154をVDDに引き込み、pF
ET156の出力側をターンオフする。さらにノード1
58はインバータ160の作動によりハイとなる。ハイ
となったノード158はnFET162をターンオンし
てノード164をローに引き込み、これによりnFET
166の出力側がターンオフされる。したがって出力側
168はイネーブル信号ENがローである場合、バッフ
ァ回路の残りの部分から分離される。このように、ロー
のイネーブル信号ENによりバッファ回路150にトラ
イステート状態が生じる。
【0011】イネーブル信号ENpがハイとなり、かつ
入力170もハイである(例えばVDDである)場合、ハ
イとなった入力側170によりnFET172が導通す
る。その結果ノード164はグラウンドに引き込まれ、
これによりnFET166の出力側はターンオフされ、
出力側168はグラウンドから分離される。同時にハイ
となったイネーブル信号ENによりnFET174も同
様に導通する。このためノード154はローに引き込ま
れる。pFET176は入力側170がハイである場合
にオフとなり、これによりノード154がVDDから分離
される。ローとなったノード154はpFET156の
出力側をターンオンして、出力側168をVDDに引き込
む。このように、ハイの入力170およびハイのイネー
ブル信号ENにより出力側168がハイすなわちVDDに
なる。
【0012】これに対して、イネーブル信号ENpがハ
イとなり、かつ入力170がローである(例えばほぼグ
ラウンドである)場合、ローの入力170によりnFE
T172がターンオフされ、ノード164はグラウンド
から分離される。ローの入力170によりpFET17
6はターンオンされる。pFET176がターンオンさ
れると、ノード154はハイとなり、nFET156の
出力側はターンオフされ、これにより出力側168はV
DDから分離される。ハイのイネーブル信号ENによりn
FET174はすでにオンとなっているので、ノード1
64はpFET176が導通するとハイになり、nFE
T166がターンオンされて、出力側168がグラウン
ドに引き込まれる。このように、ローの入力170およ
びハイのイネーブル信号ENにより出力側168はロー
になる。
【0013】しかし非反転トライステートバッファ回路
150は、低減された入力信号を出力側へ導通させるこ
とが必要な場合には動作できない。この従来技術による
バッファ回路の欠点は部分的には、入力信号が1つまた
は複数のトランジスタのゲートをコントロールするため
に使用される点に基づいている。このような手法では、
入力信号の低減された電圧範囲により、信号が論理的に
ハイである場合にも幾つかのpFETがソフト的にオン
されてしまう。例えばハイの論理状態が低減された電圧
信号で表される場合(例えば2.5V以上のフルスウィ
ングVDDに対して1V)、ハイの論理入力は、例えば入
力側170での低減された1Vの電圧を有することによ
り表される。
【0014】入力側170に1Vが印加された場合、n
FET172はオンになるがpFETもソフト的にオン
となってしまう。これは2.5VのVDDがpFET17
6のソースに印加されており、このpFETの閾値電圧
が0.7Vである場合に、pFET176のゲートに1
Vの電圧が生じてトランジスタがソフト的にオンされる
からである。換言すれば、オフでなければならないpF
ET176を通してリーク電流が発生していることにな
る。これらの2つのトランジスタが導通されると、電力
消費は許容不能に増大する。2つのトランジスタ17
2、176がオンとなる場合、ノード154、164で
の電圧が不安定となるか、および/または充分な電圧が
得られなくなる。充分な電圧が得られないとpFET1
56をターンオンし、nFET166をターンオフして
出力側168に所望のハイの論理値を生じさせることが
できなくなる。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、低減
された電圧で信号を形成できるトライステートバッファ
回路を提供し、さらにこの所望のトライステートバッフ
ァ回路の形成方法を提供することである。
【0016】
【課題を解決するための手段】この課題は本発明で、バ
ッファ回路の入力側ノードに接続された入力段と、入力
段に接続されたレベルシフト段と、レベルシフト段に接
続された出力段とを有しており、入力段はバッファイネ
ーブル信号が許可されている場合に入力信号を受け取る
ように構成されており、レベルシフト段は、バッファイ
ネーブル信号が許可されている場合に、一連のレベルシ
フト段制御信号を入力信号に応答して送出し、その際に
レベルシフト段制御信号の電圧範囲は入力信号の電圧範
囲よりも高くするように構成されており、出力段は、バ
ッファイネーブル信号が許可されている場合に、出力信
号をレベルシフト段制御信号に応答してバッファ回路の
出力側ノードに送出し、その際に出力信号の電圧範囲は
レベルシフト段制御信号の電圧範囲よりも低くするよう
に構成されており、出力段はまた、バッファイネーブル
信号が禁止されている場合にバッファ回路の出力側ノー
ドを入力段およびレベルシフト段から分離するように構
成されていることにより解決される。課題はまた、バッ
ファ回路の入力段を用いて入力信号を受け取るステップ
と、バッファ回路のレベルシフト段を用いて入力信号に
応答して、電圧範囲が入力信号の電圧範囲よりも高い一
連の制御信号を形成するステップと、バッファ回路の出
力段を用いて一連の制御信号に応答して、電圧範囲が制
御信号の電圧範囲よりも低い出力信号を出力するステッ
プとを有する方法により解決される。
【0017】
【発明の実施の形態】本発明を以下に幾つかの実施例に
関連して図に則して詳細に説明する。図中では同様の構
成素子には同様の参照番号が付されている。以下の説明
では、本発明の完全な理解のために種々の特徴が説明さ
れる。当業者には本発明のこれらの種々の特徴の一部ま
たはすべてが実施可能である。また、本発明を不明瞭に
するおそれのある周知の構成および/またはプロセスス
テップは詳細には説明しない。
【0018】本発明の1つの実施形態は、低減された入
出力電圧で動作する充分に効率的なトライステートバッ
ファ回路を使用して、低減された電圧範囲を有する入力
信号に応答して低減された電圧範囲を有する出力信号を
形成することに関する。別の実施形態では、低減された
入出力電圧を使用するトライステートバッファ回路は、
低減された入力信号を受け取る入力段と、受け取られた
低減された入力信号を内部のレベルシフト段制御信号に
変換するレベルシフト段とを有する。ここでの制御信号
はトライステートバッファ回路の出力段をコントロール
するための高い電圧範囲を有する。
【0019】トライステートバッファ回路がバッファイ
ネーブル信号の禁止によりトライステート状態を生じる
場合、バッファ回路を負荷から分離しなければならな
い。トライステート状態を生じない場合には、出力段は
内部のレベルシフト段制御信号に応答して低減された電
圧範囲での論理ハイの出力信号または論理ローの出力信
号を出力する。
【0020】入力段のトランジスタのゲートをコントロ
ールするために、低減された電圧範囲を有する入力信号
を使用しなくてもよいようにバッファ回路が構成されて
いる場合もある。これは図1、図2の従来技術、すなわ
ち入力信号が直接にトランジスタのゲートコントロール
に使用される状態とは対照的である。出力段をコントロ
ールするために、入力信号は有利にはレベルシフト段を
用いてより高い電圧レベルへブーストされる。したがっ
て、入力信号は実質的にはトランジスタの閾値電圧より
も大きい電圧範囲を有さなくてもよいことによりバッフ
ァ回路のパフォーマンスが低下しない。
【0021】
【実施例】本発明の特徴および利点を図を用いて以下に
説明する。図3には本発明の実施例によるトライステー
トバッファ回路200の概略図が示されており、このバ
ッファ回路は入力段202、レベルシフト段204、出
力段206を有している。図示されているように、バッ
ファイネーブル信号はトランジスタをコントロールする
ために入力段202に印加され、これにより端子208
の低減された電圧による入力信号がレベルシフト段20
4へ送出される。後に図示されるように、バッファイネ
ーブル信号は別の実施例では、レベルシフト段204内
の信号の導通制御および/または出力段206の制御に
も用いられる。
【0022】レベルシフト段204内ではトランジスタ
は受け取られた入力信号をより高い電圧範囲へシフトし
て、出力段206内のトランジスタのゲートをコントロ
ールする。より高い電圧を有する制御信号により、出力
段206内のトランジスタは高いオーバドライブ電圧で
制御され、より多量の電流をソース/シンクすることが
できるようになる。このためこのバッファ回路の出力側
に接続された負荷をより迅速に所望の低減された電圧レ
ベルへ駆動することができる。
【0023】図4にはさらに詳細に本発明の実施例によ
るトライステートバッファ回路300が示されている。
このバッファ回路は非反転トライステートバッファ回路
であり、低減された入力電圧を受け取って低減された出
力電圧で負荷を駆動することができる。バッファ回路3
00は入力段302、レベルシフト段304、出力段3
06を有している。入力段302は2つの電界効果トラ
ンジスタ(FET)308、310を有しており、これ
らのトランジスタのゲートは導体312のバッファイネ
ーブル信号ENpによって制御される。低減された電圧
による入力信号はバッファ回路の入力側ノード314で
受け取られ、FET308、310を通って、バッファ
イネーブル信号が許可されている場合(すなわち信号E
Npがハイである場合)にノード316、318へ送出
される。
【0024】FET308、310は図示の例では低い
閾値電圧を有するnFETである(低い閾値電圧特性は
トランジスタの記号を囲む円で示されている)が、この
ことは入力側トランジスタの閾値電圧が入力電圧範囲よ
りも低いかぎり必要条件ではないことに留意すべきであ
る。ただし低い閾値電圧を有するトランジスタはこの場
合(必須ではないが)有利である。一般的に低い閾値電
圧を有するFET(約0.4Vから約0.5V)は典型的
なFET(約0.6Vから約0.7V)より低い閾値電圧
を有する。
【0025】レベルシフト段304は入力段302から
信号を受け取り、受け取った信号をより高い電圧範囲へ
シフトして、出力段306のFET320、322のゲ
ートをコントロールする。入力側ノード314での低減
された電圧による入力信号の値に依存して、出力段30
6は論理ローVSSを出力するか、または論理ハイすなわ
ち低減された電圧範囲でのハイレベル値またはVREDUCE
Dを出力する。このようにして低減された入出力電圧の
バッファ回路が形成される。
【0026】トランジスタ310、318と同様に、出
力トランジスタ320、322は図では低い閾値電圧を
有するnFETとして表されている(低い閾値電圧特性
はトランジスタの記号を囲む円で示されている)。低い
閾値電圧を有するトランジスタは最適な動作のためにこ
こでの出力側トランジスタとして有利であるが、典型的
なより高い閾値電圧を有するトランジスタを使用しても
よい。
【0027】より良く理解するために、トライステート
バッファ回路300の動作を詳細に説明する。バッファ
イネーブル信号が禁止されており、トライステートバッ
ファ回路がトライステートモードに入る条件を考える。
図4の回路では、導体312の信号ENpがローである
場合にトライステートモードに入る。信号ENpがロー
である場合、n形FET308、310がオフになり、
入力側ノード314の信号のレベルシフト段304への
送出が阻止される。
【0028】インバータ324は信号ENc(これは信
号ENpの反転信号である)を導体326上でハイに
し、これによりトライステートインバータ328が高い
インピーダンス状態におかれ、このインバータの出力側
が入力側から分離される。またハイの信号ENcはnF
ET330をターンオンしてノード332をローに引き
込み、これによりn型FET320がターンオフされ
る。このためバッファ回路の出力側334は電圧源VRE
DUCED336から分離される。
【0029】導体312上のローの信号ENpはp型F
ET338をターンオンし、これによりノード318が
ハイとなってnFET340がターンオンされる。FE
T340が導通すると、ノード342がVSSに引き込ま
れ、これによりレベルシフト段304のpFET344
がターンオンされる。FET344が導通するとノード
316がVDD(電圧源346のVDD)に引き込まれ、p
FET348がターンオフされる。これによりノード3
42がVDDの電圧源350から分離され、FET340
が導通していることによりノード342がVSSレベルに
維持される。
【0030】ノード342がローであるため、FET3
22はオフである、これによりバッファ回路の出力側3
34がVSSから分離される。FET320、322がオ
フされると、バッファ回路の出力側334はバッファ回
路の残りの部分VREDUCED、VSSから分離される。換言
すれば、バッファ回路300はトライステート状態を生
じさせ、負荷から分離される。
【0031】バッファイネーブル信号が許可されている
場合(すなわち図4の信号ENpがハイである場合)、
バッファ回路300はトライステートモードを脱する。
これによりバッファ回路の出力側334の電圧値は、入
力側ノード314の電圧値に相応して範囲0〜VREDUCE
Dの間で変化する。
【0032】信号ENpがハイであり、電圧レベルVSS
が入力側ノード314に印加される条件を考察する。ハ
イの信号ENpによりFET308、310がターンオ
ンされ、電圧レベルVSSがノード318、316にそれ
ぞれ送出される。FET310が導通されるので、ノー
ド316はローとなりFET348をターンオンし、こ
れによりノード342をVDD(電圧源350のVDD)に
引き込む。信号ENpがハイであり、その反転された信
号ENcがローであるので、トライステートインバータ
328はノード342の値をノード332に導通させ、
ノード332をローにする(トライステートインバータ
328は入力に対して出力を反転させるからである)。
ローの信号ENcはFET330をターンオフし、ノー
ド332をVSSから分離する。ノード332がVSSに置
かれるのでFET320はターンオフされ、バッファ回
路の出力側334は電圧源336のVREDUCEDから分離
される。
【0033】ローのノード318により(pFET33
8はハイの信号ENpによりターンオフされ、ノード3
18がローにとどまることが保証される)、FET34
0がターンオフされ、ノード342がVSSから分離さ
れ、 FET348が導通していることによりノード3
42がレベルVDDにとどまることが保証される。ノード
342がハイのレベルVDDにある場合、完全なVDD電圧
がFET322の出力側のゲートに印加される。これに
よりFET320がバッファ回路の出力側334を介し
て電流を負荷にソースすることができ、このバッファ回
路の出力側334を電圧レベルVSSに迅速に引き込むこ
とができる。このようにレベルシフト段302を設ける
ことにより、トランジスタ320、322のゲートが完
全な電圧範囲VSS〜 VDDを有する制御信号によって制
御される。このようにして、バッファ回路300がトラ
イステート状態を生じない場合に、入力側ノード314
のVSSの入力信号によりVSSの出力信号を出力側ノード
334に生じさせることができる。
【0034】信号ENpがハイであり(すなわちバッフ
ァ回路300はトライステート状態を生じていない)、
電圧レベルVREDUCEDが入力側ノード314に印加され
る条件を考察する。ハイの信号ENpによりFET30
8、310がターンオンされ、電圧レベルVREDUCEDが
ノード318、316にそれぞれ送出される。FET3
08が導通されるので、電圧レベルVREDUCEDはノード
318へ導通され、FET340がターンオンされ、ノ
ード342をVSSに引き込む。ノード342がVSSに引
き込まれると、pFET344は完全にオンとなりノー
ド316をVDD(電圧源346のVDD)に引き込む。ノ
ード316はVDDに置かれるがFET310が導通して
いるので、入力側314からノード316へはVREDUCE
Dしか導通されない。
【0035】ノード316がVDDに置かれ、この完全な
VDD電圧はpFET348のゲートに印加されて完全に
このFET348をターンオフさせるので、これにより
ノード342が電圧源350のVDDから分離され、ノー
ド342がVSSレベルにとどまることが保証される。注
目すべき点は、レベルシフト段304がノード342で
の電圧をVSSの値に安定化させるように動作し、これに
よってFET322が完全にオフとなりバッファ回路の
出力側334がVSSから分離されることが保証されるこ
とである。そうでない場合にはVREDUCEDがFET31
0を通ってノード316へ導通される際にFET348
がソフト的にオンされる。ここでノード342での電圧
は所望のVSSの値の上方へ引き上げられ、パフォーマン
スが低下するか、および/またはバッファ回路の誤動作
および/または許容不能な量の電力消費を発生させる。
【0036】信号ENpがハイであり、反転された信号
ENcがローである場合、ノード342のVSSの値によ
りノード332がVDDとなる(これはトライステートイ
ンバータ328は入力に対して出力を反転させるからで
ある)。ローの信号ENcはFET330をターンオフ
し、ノード332をVSSから分離する。ノード332が
ハイレベルのVDDにあるので、この完全なVDD電圧は出
力側FET320のゲートに印加される。これによりF
ET320は電流をバッファ回路の出力側334を介し
て負荷へソースし、このバッファ回路の出力側334を
電圧レベルVREDUCED(電圧源336のVREDUCED)に迅
速に引き込む。このように、レベルシフト段304を設
けることにより、トランジスタのゲート320、322
が完全な電圧範囲VSS〜VDDを有する制御信号によって
制御される。このようにして、バッファ回路300がト
ライステート状態を生じない場合に、入力側ノード31
4のVREDUCEDの入力信号からVREDUCEDの出力信号を出
力側ノード334に生じさせることができる。
【0037】バッファ回路300は非反転形のトライス
テートバッファ回路として構成されているが、このこと
は必要条件ではない。つまり、本発明は低減された入出
力電圧のトライステートバッファ回路に関するものであ
って、その反転または非反転の特徴に限定されない。
【0038】電圧のフルスウィングVSS〜VDDを有する
制御信号を使用して出力側FET320、322のゲー
トを制御することにより、より高いオーバドライブ電圧
が得られ、これらのFETをターンオフおよびターンオ
フできるようになる。低減された電圧VREDUCEDを使用
してこれらの出力側FET320、322のゲートを制
御する場合、同じ量の電流を同じ時間だけソースまたは
シンクするためにはFETを大きくしなければならな
い。本発明では電圧のフルスウィングVSS〜VDDを有す
る制御信号を使用して出力側FET320、322のゲ
ートを制御するので、これらのFETは比較的小さく構
成すればよく、これによりチップで使用されるスペース
が低減される。
【0039】出力側FETのサイズを低減することによ
り、バッファ回路が接続される容量負荷も低減される。
このことは複数のバッファ回路が共通のバス線路の信号
を使用するような適用分野、特に複数のバッファ回路の
出力段が同じ共通のバスに接続される場合に有利であ
る。サイズおよびキャパシタンスをそれぞれのバッファ
回路の出力段の出力側FETについて低減することによ
り、その時点で実際にバス線路を駆動しているバッファ
回路に作用する負荷キャパシタンスが小さくなる。負荷
キャパシタンスが低減されると、待ち時間および電力消
費が著しく低減される。
【0040】図5から図12には種々の変形実施例が示
されており、それぞれ種々の手段で入力段、レベルシフ
ト段および/または出力段が設けられている。各図にお
いて、レベルシフト段は低減された電圧による入力信号
をより大きな電圧範囲を有する制御信号へブーストし
て、出力段の出力側トランジスタをコントロールするた
めに使用されている。各出力側トランジスタは直列にV
REDUCEDとVSSの間に接続されており、低減された電圧
範囲で信号を出力する。出力側トランジスタがレベルシ
フト段からのより高い電圧を有する制御信号によってタ
ーンオンおよびターンオフされると、これらのトランジ
スタは有利には比較的大きな量の電流をソースまたはシ
ンクして、待ち時間を低減して負荷を駆動することがで
きる。
【0041】図5では、図4のトライステートインバー
タに代えて、レベルシフト段にNORゲート392が設
けられている。図6では、レベルシフト段にトランスミ
ッションゲート402が使用されている。トランスミッ
ションゲート402は2つのノード間、例えばノード4
04とノード406の間で制御信号408、410に応
答して電圧を送出する機能を有している。またレベルシ
フト段にトランスミッションゲート402、トランジス
タ412、414、416が設けられていることによ
り、低減された電圧(例えば1V)を有する論理ハイの
信号がバッファ回路の入力側に印加される場合にもノー
ド404がローにとどまることが保証される。図6のバ
ッファ回路の残りの部分の機能は図4のバッファ回路に
類似しており、この図6のバッファ回路の動作は当業者
には容易に理解される。
【0042】図7では、レベルシフト段にインバータ5
02が設けられており、VSSとVDDとの間の電圧範囲を
有する制御信号を出力側トランジスタに送出する。2つ
のインバータがトランジスタ504のゲートに接続され
ていることが示されており、トランジスタ504を適切
にコントロールするのに充分な電流をソースできる。た
だしバッファイネーブル信号がこのトランジスタ504
を充分にコントロールできる場合には、これらのインバ
ータは省略してもよい。3つのトランジスタが出力段に
設けられており、このうちトランジスタ504は、信号
ENpがローである場合に迅速に電圧源VREDUCEDを出
力側から分離させる。しかしトレードオフとして各出力
側トランジスタ504、506には電圧源VREDUCEDと
出力側との間の直列の抵抗を低減するために比較的大き
なサイズが必要とされる。大きなトランジスタ506は
特に複数のトライステートバッファ回路が同じ出力側に
接続されている場合に比較的大きな容量負荷を生じさせ
る。図8では出力側トランジスタ602が加えられてお
り、信号ENpがローである場合にVSSが出力側から迅
速に分離されることが保証される。ここでもトレードオ
フとして各出力側トランジスタ602、604には直列
抵抗を克服するために比較的大きなサイズが必要とされ
る。図7、図8のバッファ回路の残りの部分の機能は図
4のバッファ回路の機能に類似しており、これらの図の
バッファ回路の動作は当業者には容易に理解される。
【0043】図9ではトライステートインバータ702
がレベルシフト段に設けられている。トライステートイ
ンバータ702は図4のトライステートインバータ72
8と同様に動作する。図10ではトランジスタ802、
804が出力段に設けられており、これらのトランジス
タにレベルシフト段のインバータ806、807で形成
された信号ENpxが印加され、出力側を迅速に2つの
電圧VSS、VREDUCEDから分離させる。しかし4つのト
ランジスタを直列に出力段に設けることにより、直列抵
抗を克服するために比較的大きなサイズのデバイスが必
要となる。図11には、出力側のVSSからの分離が図4
のバッファ回路の場合と同様に行われることが示されて
いる。出力側のVREDUCEDからの分離はトランジスタ9
02によって行われるが、引き替えに比較的大きなサイ
ズのデバイスがトランジスタ902、904に必要とな
る。図12には出力側のVREDUCEDからの分離が図4の
バッファ回路の場合と同様に行われることが示されてい
る。出力側のVSSからの分離はトランジスタ1002に
よって行われるが、引き替えに比較的大きなサイズのデ
バイスがトランジスタ1002、1004に必要とな
る。図9から図12に示されているバッファ回路の残り
の部分の機能は図4のバッファ回路の機能に類似してお
り、これらの図のバッファ回路の動作は当業者には容易
に理解される。
【0044】本発明を幾つかの図示の実施例に関連して
説明したが、これらの実施例の変更形態、置換形態、等
価形態は本発明の範囲に含まれる。本発明の方法および
装置を実施するための種々の変更も可能であることにも
注意が必要である。したがって請求項に記載された本発
明の変更形態、置換形態、等価形態も本発明の範囲に含
まれる。
【図面の簡単な説明】
【図1】理解を容易にするための、従来技術による反転
トライステートバッファ回路の概略図である。
【図2】図1の回路と同様に低減された入出力電圧を有
する回路としては使用できない、従来技術による他のト
ライステートバッファ回路の概略図である。
【図3】低減された電圧信号の使用に適したトライステ
ートバッファ回路の本発明の1つの実施例を示す概略図
である。
【図4】低減された電圧信号の使用に適したトライステ
ートバッファ回路の本発明の1つの実施例を詳細に示す
図である。
【図5】低減された電圧信号の使用に適したトライステ
ートバッファ回路の本発明の別つの実施例を示す図であ
る。
【図6】低減された電圧信号の使用に適したトライステ
ートバッファ回路の本発明の別つの実施例を示す図であ
る。
【図7】低減された電圧信号の使用に適したトライステ
ートバッファ回路の本発明の別つの実施例を示す図であ
る。
【図8】低減された電圧信号の使用に適したトライステ
ートバッファ回路の本発明の別つの実施例を示す図であ
る。
【図9】低減された電圧信号の使用に適したトライステ
ートバッファ回路の本発明の別つの実施例を示す図であ
る。
【図10】低減された電圧信号の使用に適したトライス
テートバッファ回路の本発明の別つの実施例を示す図で
ある。
【図11】低減された電圧信号の使用に適したトライス
テートバッファ回路の本発明の別つの実施例を示す図で
ある。
【図12】低減された電圧信号の使用に適したトライス
テートバッファ回路の本発明の別つの実施例を示す図で
ある。
【符号の説明】
100、150、300 トライステートバッファ回路 102、104、130、156、176 p型トラン
ジスタ 106、108、162、166、174 n型トラン
ジスタ 152 バッファイネーブル信号 170 入力側 200 トライステートバッファ回路 202、302 入力段 204、304 レベルシフト段 206、306 出力段 208 入力側 210 出力側 308、310、320、322 n型トランジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 デヴィッド アール ハンソン アメリカ合衆国 ニューヨーク ブルース ター ハーヴェスト ドライヴ 15 (72)発明者 ゲルハルト ミュラー アメリカ合衆国 ニューヨーク ワッピン ガーズ フォールズ タウン ビュー ド ライヴ 168

Claims (23)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力信号がバッファ回路の入力側ノード
    で受け取られ、バッファイネーブル信号に応答して出力
    信号がバッファ回路の出力側ノードへ送信される、トラ
    イステートバッファ回路において、 前記バッファ回路の入力側ノードに接続された入力段
    と、該入力段に接続されたレベルシフト段と、該レベル
    シフト段に接続された出力段とを有しており、 前記入力段は、バッファイネーブル信号が許可されてい
    る場合に前記入力信号を受け取るように構成されてお
    り、 前記レベルシフト段は、バッファイネーブル信号が許可
    されている場合に、一連のレベルシフト段制御信号を前
    記入力信号に応答して送出し、その際に該レベルシフト
    段制御信号の電圧範囲は入力信号の電圧範囲よりも高く
    するように構成されており、 前記出力段は、バッファイネーブル信号が許可されてい
    る場合に、出力信号を前記レベルシフト段制御信号に応
    答してバッファ回路の出力側ノードに送出し、その際に
    該出力信号の電圧範囲は前記レベルシフト段制御信号の
    電圧範囲よりも低くするように構成されており、 前記出力段はまた、バッファイネーブル信号が禁止され
    ている場合にバッファ回路の出力側ノードを前記入力段
    およびレベルシフト段から分離するように構成されてい
    る、ことを特徴とするトライステートバッファ回路。
  2. 【請求項2】 前記出力段が第1の電圧源に接続されて
    おり、前記レベルシフト段が第2の電圧源に接続されて
    おり、該第2の電圧源は第1の電圧源から給電される電
    圧レベルよりも高いレベルの電圧を給電する、請求項1
    記載のトライステートバッファ回路。
  3. 【請求項3】 前記入力段は第1の電界効果トランジス
    タおよび第2の電界効果トランジスタを有しており、該
    第1の電界効果トランジスタおよび第2の電界効果トラ
    ンジスタのゲートは前記バッファイネーブル信号により
    制御され、該第1の電界効果トランジスタおよび第2の
    電界効果トランジスタの第1の端子で前記入力信号が受
    け取られる、請求項2記載のトライステートバッファ回
    路。
  4. 【請求項4】 前記第1の電界効果トランジスタおよび
    第2の電界効果トランジスタの第2の端子はそれぞれ、
    前記レベルシフト段の第1の入力側ノードおよび第2の
    入力側ノードに接続されている、請求項3記載のトライ
    ステートバッファ回路。
  5. 【請求項5】 前記レベルシフト段は第3の電界効果ト
    ランジスタ、第4の電界効果トランジスタおよび第5の
    電界効果トランジスタを有しており、第3の電界効果ト
    ランジスタのゲートはレベルシフト段の第1の入力側ノ
    ードと第4の電界効果トランジスタの第1の端子とに接
    続されており、第4の電界効果トランジスタのゲートは
    第3の電界効果トランジスタの第1の端子に接続されて
    おり、第5の電界効果トランジスタのゲートは前記入力
    側ノードに接続されており、該第5の電界効果トランジ
    スタの第1の端子はVSSに接続されている、請求項4記
    載のトライステートバッファ回路。
  6. 【請求項6】 前記第3の電界効果トランジスタおよび
    第4の電界効果トランジスタはp型電界効果トランジス
    タであり、前記第1の電解効果トランジスタ、第2の電
    解効果トランジスタおよび第5の電解効果トランジスタ
    はn型電界効果トランジスタである、請求項5記載のト
    ライステートバッファ回路。
  7. 【請求項7】 トライステートインバータ回路を有して
    おり、該トライステートインバータ回路の第1の端子は
    前記第3の電界効果トランジスタの第1の端子と前記第
    5の電界効果トランジスタの第2の端子に接続されてお
    り、トライステートインバータ回路の第2の端子は前記
    出力段の入力側ノードに接続されており、トライステー
    トインバータ回路の第3の端子にバッファイネーブル信
    号が印加される、請求項5記載のトライステートバッフ
    ァ回路。
  8. 【請求項8】 インバータ入力側およびインバータ出力
    側を有するインバータをさらに有しており、該インバー
    タ入力側にバッファイネーブル信号が印加され、該イン
    バータ出力側は前記トライステートインバータ回路の第
    4の端子に接続されている、請求項7記載のトライステ
    ートバッファ回路。
  9. 【請求項9】 前記出力段は少なくとも2つの出力側電
    界効果トランジスタから成り、該出力側電界効果トラン
    ジスタは第1の電圧源とVSSとの間に直列に接続されて
    いる、請求項2記載のトライステートバッファ回路。
  10. 【請求項10】 前記2つの出力側電界効果トランジス
    タはn型電界効果トランジスタである、請求項9記載の
    トライステートバッファ回路。
  11. 【請求項11】 前記出力段は複数の出力側電界効果ト
    ランジスタを有しており、該複数の出力側電界効果トラ
    ンジスタは第1の電圧源とVSSとの間に直列に接続され
    ている、請求項2記載のトライステートバッファ回路。
  12. 【請求項12】 バッファ回路の入力段を用いて入力信
    号を受け取るステップと、 バッファ回路のレベルシフト段を用いて前記入力信号に
    応答して、電圧範囲が入力信号の電圧範囲よりも高い一
    連の制御信号を形成するステップと、 バッファ回路の出力段を用いて前記一連の制御信号に応
    答して、電圧範囲が該制御信号の電圧範囲よりも低い出
    力信号を出力するステップとを有する、ことを特徴とす
    る入力信号に応答して出力信号を形成する方法。
  13. 【請求項13】 前記出力ステップがさらに、第1の電
    圧源とグラウンドとの間に直列接続された出力段の第1
    の電界効果トランジスタおよび第2の電界効果トランジ
    スタのゲートに前記一連の制御信号を供給するステップ
    を有しており、その際に第1の電圧源およびグラウンド
    はバッファ回路の出力側で出力信号の電圧範囲を形成す
    る、請求項12記載の方法。
  14. 【請求項14】 バッファイネーブル信号を形成するス
    テップを有しており、該バッファイネーブル信号を、該
    信号が禁止されている場合にバッファ回路に負荷が接続
    されている状態からバッファ回路がトライステート状態
    となるように構成する、請求項12記載の方法。
  15. 【請求項15】 入力信号がバッファ回路の入力側ノー
    ドで受け取られ、バッファイネーブル信号に応答して出
    力信号がバッファ回路の出力側ノードに出力される、ト
    ライステートバッファ回路において、 バッファ回路の入力側ノードに接続された入力手段と、
    該入力手段に接続されたレベルシフト手段と、該レベル
    シフト手段に接続された出力手段とを有しており、 前記入力手段はバッファイネーブル信号が許可されてい
    る場合に前記入力信号を受け取るように構成されてお
    り、 前記レベルシフト手段はバッファイネーブル信号が許可
    されている場合に、前記入力信号に応答して一連の制御
    信号を送出し、その際に該制御信号の電圧範囲は入力信
    号の電圧範囲よりも高くするように構成されており、 前記出力手段はバッファイネーブル信号が許可されてい
    る場合に、出力信号を前記制御信号に応答してバッファ
    回路の出力側ノードに送出し、その際に該出力信号の電
    圧範囲は前記制御信号の電圧範囲よりも低くするように
    構成されており、 前記出力手段はバッファイネーブル信号が禁止されてい
    る場合にバッファ回路の出力側ノードを前記入力手段お
    よびレベルシフト手段から分離するように構成されてい
    る、ことを特徴とするトライステートバッファ回路。
  16. 【請求項16】 前記出力手段が第1の電圧源に接続さ
    れており、前記レベルシフト段が第2の電圧源に接続さ
    れており、該第2の電圧源は第1の電圧源から給電され
    る電圧レベルよりも高いレベルの電圧を給電する、請求
    項15記載のトライステートバッファ回路。
  17. 【請求項17】 前記入力手段は第1の電界効果トラン
    ジスタおよび第2の電界効果トランジスタを有してお
    り、該第1の電界効果トランジスタおよび第2の電界効
    果トランジスタのゲートは前記バッファイネーブル信号
    により制御され、該第1の電界効果トランジスタおよび
    第2の電界効果トランジスタの第1の端子で前記入力信
    号が受け取られる、請求項16記載のトライステートバ
    ッファ回路。
  18. 【請求項18】 前記第1の電界効果トランジスタおよ
    び第2の電界効果トランジスタの第2の端子はそれぞれ
    前記レベルシフト手段の第1の入力側ノードおよび第2
    の入力側ノードに接続されている、請求項17記載のト
    ライステートバッファ回路。
  19. 【請求項19】 前記レベルシフト手段は第3の電界効
    果トランジスタ、第4の電界効果トランジスタおよび第
    5の電界効果トランジスタを有しており、第3の電界効
    果トランジスタのゲートはレベルシフト手段の第1の入
    力側ノードと第4の電界効果トランジスタの第1の端子
    とに接続されており、第4の電界効果トランジスタのゲ
    ートは第3の電界効果トランジスタの第1の端子に接続
    されており、第5の電界効果トランジスタのゲートは前
    記入力側ノードに接続されており、該第5の電界効果ト
    ランジスタの第1の端子はVSSに接続されている、請求
    項18記載のトライステートバッファ回路。
  20. 【請求項20】 前記出力手段は少なくとも2つの出力
    側電界効果トランジスタから成る直列接続部を有してお
    り、該直列接続部は第1の電圧源とVSSとの間に接続さ
    れている、請求項16記載のトライステートバッファ回
    路。
  21. 【請求項21】 前記出力手段は2つの出力側電界効果
    トランジスタを有する直列接続部を有しており、該直列
    接続部は第1の電圧源とVSSとの間に接続されている、
    請求項16記載のトライステートバッファ回路。
  22. 【請求項22】 前記2つの出力側電界効果トランジス
    タはn型電界効果トランジスタである、請求項21記載
    のトライステートバッファ回路。
  23. 【請求項23】 前記出力手段は少なくとも3つの出力
    側電界効果トランジスタを有しており、該出力側電界効
    果トランジスタは第1の電圧源とVSSとの間に直列に接
    続されている、請求項16記載のトライステートバッフ
    ァ回路。
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