JPH11296026A - 感光体評価装置 - Google Patents
感光体評価装置Info
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- JPH11296026A JPH11296026A JP10111565A JP11156598A JPH11296026A JP H11296026 A JPH11296026 A JP H11296026A JP 10111565 A JP10111565 A JP 10111565A JP 11156598 A JP11156598 A JP 11156598A JP H11296026 A JPH11296026 A JP H11296026A
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- semiconductor laser
- laser array
- pulse
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 電子写真感光体の特性値（感度測定）を調べ
る装置を提供する。 【解決手段】 電子写真感光体に帯電、露光を施し感度
測定を表面電位計プローブで行なう感光体評価装置であ
って、露光光源に半導体レーザーアレイを用い、パルス
発光により露光を行なう。
る装置を提供する。 【解決手段】 電子写真感光体に帯電、露光を施し感度
測定を表面電位計プローブで行なう感光体評価装置であ
って、露光光源に半導体レーザーアレイを用い、パルス
発光により露光を行なう。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子写真感光体の
評価装置に関し、詳しくは、単色光の高強度、短時間パ
ルス光による光感度特性を評価することが可能な、特に
デジタル系電子写真感光体に適した感光体評価装置に関
する。
評価装置に関し、詳しくは、単色光の高強度、短時間パ
ルス光による光感度特性を評価することが可能な、特に
デジタル系電子写真感光体に適した感光体評価装置に関
する。
【０００２】
【従来の技術】カールソンプロセスやその他種々の変形
プロセスを用いた電子写真方法は、複写機やプリンタな
どに広く使用されている。なかでも、レーザやＬＥＤを
書き込み光源とするデジタル系エンジンを搭載するもの
が近年主流となってきている。感光体における静電潜像
形成のメカニズムは、感光体を帯電したのち光照射する
と、光は電荷発生材料により吸収され、光を吸収した電
荷発生材料は電荷担持を発生し、この電荷担持は電荷材
料に注入され、帯電によって生じている電界にしたがっ
て電荷輸送層（ないしは感光層）中を移動し、感光体表
面の電荷を中和することにより静電潜像を形成するもの
である。
プロセスを用いた電子写真方法は、複写機やプリンタな
どに広く使用されている。なかでも、レーザやＬＥＤを
書き込み光源とするデジタル系エンジンを搭載するもの
が近年主流となってきている。感光体における静電潜像
形成のメカニズムは、感光体を帯電したのち光照射する
と、光は電荷発生材料により吸収され、光を吸収した電
荷発生材料は電荷担持を発生し、この電荷担持は電荷材
料に注入され、帯電によって生じている電界にしたがっ
て電荷輸送層（ないしは感光層）中を移動し、感光体表
面の電荷を中和することにより静電潜像を形成するもの
である。
【０００３】このような電子写真感光体において、感光
体の帯電性能や光感度等の特性値は、複写機やプリンタ
を設計する上で非常に重要な情報であり、実使用状況に
対応する特性値が要求される。この特性値は多くの場合
感光体の光感度によって表示され、そして、この感光体
の感度測定は所定の表面電位から所定の表面電位まで光
減衰させるのに要した露光量ｌｘ・ｓ（露光照度×時
間）で表わす場合と、単位露光量当りの光減衰した電位
Ｖで表わす場合が多い。また、電光時間は数秒の時間で
行なわれることが多い。
体の帯電性能や光感度等の特性値は、複写機やプリンタ
を設計する上で非常に重要な情報であり、実使用状況に
対応する特性値が要求される。この特性値は多くの場合
感光体の光感度によって表示され、そして、この感光体
の感度測定は所定の表面電位から所定の表面電位まで光
減衰させるのに要した露光量ｌｘ・ｓ（露光照度×時
間）で表わす場合と、単位露光量当りの光減衰した電位
Ｖで表わす場合が多い。また、電光時間は数秒の時間で
行なわれることが多い。
【０００４】感光体の特性評価は、これまで主流であっ
たアナログ複写機に対応した評価が行われてきており、
通常スタティック法やダイナミック法により帯電特性や
光感度が測定される。近年主流となってきたデジタル系
複写機、プリンタはレーザ等により走査露光するために
感光体に光が照射される時間がアナログ系に比べて非常
に短く、短い露光時間に対応した光感度評価への要求が
大きくなっている。
たアナログ複写機に対応した評価が行われてきており、
通常スタティック法やダイナミック法により帯電特性や
光感度が測定される。近年主流となってきたデジタル系
複写機、プリンタはレーザ等により走査露光するために
感光体に光が照射される時間がアナログ系に比べて非常
に短く、短い露光時間に対応した光感度評価への要求が
大きくなっている。
【０００５】従来の感光体評価装置において感光体への
露光は、放電灯や白熱灯を使用し、露光時間の制御はメ
カニカルシャッタにより行われてきたため、その最短発
光時間はメカニカルシャッタの能力により数十ミリ秒が
限界であった。一方、さらに露光時間を短くした例とし
て、電子写真学会誌第２１巻、第３号、Ｐ．１８３に記
載されているように、レーザ光を走査する方法が試みら
れているが、レーザ光の整形や走査光学系等、構成が非
常に複雑であるという問題点を有していた。また、同じ
く電子写真学会誌３２巻、第１号、Ｐ．７に記載されて
いるように、キセノンフラッシュランプを用いる方法も
あるが、単色光を得るためのフィルタによる光量の減衰
が大きく所望の露光量を得るためには大容量のランプシ
ステムが必要になるという問題点を有していた。
露光は、放電灯や白熱灯を使用し、露光時間の制御はメ
カニカルシャッタにより行われてきたため、その最短発
光時間はメカニカルシャッタの能力により数十ミリ秒が
限界であった。一方、さらに露光時間を短くした例とし
て、電子写真学会誌第２１巻、第３号、Ｐ．１８３に記
載されているように、レーザ光を走査する方法が試みら
れているが、レーザ光の整形や走査光学系等、構成が非
常に複雑であるという問題点を有していた。また、同じ
く電子写真学会誌３２巻、第１号、Ｐ．７に記載されて
いるように、キセノンフラッシュランプを用いる方法も
あるが、単色光を得るためのフィルタによる光量の減衰
が大きく所望の露光量を得るためには大容量のランプシ
ステムが必要になるという問題点を有していた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、近年
主流となっているデジタル系複写機、プリンタに掲載さ
れる感光体に適した特性値評価を可能とする電子写真感
光体評価装置を提供することである。本発明の他の目的
は、構成が複雑にならない感光体評価装置を提供するこ
とである。
主流となっているデジタル系複写機、プリンタに掲載さ
れる感光体に適した特性値評価を可能とする電子写真感
光体評価装置を提供することである。本発明の他の目的
は、構成が複雑にならない感光体評価装置を提供するこ
とである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明者らは上記課題を
達成するべく検討を重ねた結果、半導体レーザーアレイ
を露光光源として用い、高速動作が可能な液晶シャッタ
と短時間パルス発光が可能な半導体レーザーアレイ用駆
動電源を具備することにより、高強度及び短時間パルス
を含む広範囲なパルス発光時間調節が可能な露光光源を
得ることが出来、しかもその構成が複雑になることがな
い優れた電子写真感光体評価装置を構成できる本発明を
完成するに至った。
達成するべく検討を重ねた結果、半導体レーザーアレイ
を露光光源として用い、高速動作が可能な液晶シャッタ
と短時間パルス発光が可能な半導体レーザーアレイ用駆
動電源を具備することにより、高強度及び短時間パルス
を含む広範囲なパルス発光時間調節が可能な露光光源を
得ることが出来、しかもその構成が複雑になることがな
い優れた電子写真感光体評価装置を構成できる本発明を
完成するに至った。
【０００８】すなわち本発明によれば、（１）電子写真
感光体の帯電及び露光により、その感光体の感度測定を
表面電位計プローブで行なって感光体の特性を評価する
評価装置において、露光光源が半導体レーザアレイで構
成され、かつパルス発光により露光を行うことを特徴と
する感光体評価装置、（２）上記（１）の評価装置にお
いて、パルス発光時間を半導体レーザーアレイと感光体
試料間に配置したシャッタで調節することを特徴とする
感光体評価装置、（３）上記（１）又は（２）の評価装
置において、半導体レーザアレイと感光体試料間に配置
したシャッタが、強誘電性液晶シャッタであることを特
徴とする感光体評価装置、（４）上記（１）（２）又は
（３）の評価装置において、パルス発光時間を半導体レ
ーザーアレイに印加する駆動電流で調節することを特徴
とする感光体評価装置、（５）上記（１）（２）（３）
又は（４）の評価装置において、露光量の調節を半導体
レーザーアレイのパルス発光時間及び駆動電流値、半導
体レーザーアレイと感光体試料間に設けたフィルタまた
は絞りにより行なうことを特徴とする感光体評価装置、
が提供される。
感光体の帯電及び露光により、その感光体の感度測定を
表面電位計プローブで行なって感光体の特性を評価する
評価装置において、露光光源が半導体レーザアレイで構
成され、かつパルス発光により露光を行うことを特徴と
する感光体評価装置、（２）上記（１）の評価装置にお
いて、パルス発光時間を半導体レーザーアレイと感光体
試料間に配置したシャッタで調節することを特徴とする
感光体評価装置、（３）上記（１）又は（２）の評価装
置において、半導体レーザアレイと感光体試料間に配置
したシャッタが、強誘電性液晶シャッタであることを特
徴とする感光体評価装置、（４）上記（１）（２）又は
（３）の評価装置において、パルス発光時間を半導体レ
ーザーアレイに印加する駆動電流で調節することを特徴
とする感光体評価装置、（５）上記（１）（２）（３）
又は（４）の評価装置において、露光量の調節を半導体
レーザーアレイのパルス発光時間及び駆動電流値、半導
体レーザーアレイと感光体試料間に設けたフィルタまた
は絞りにより行なうことを特徴とする感光体評価装置、
が提供される。
【０００９】本発明は、半導体レーザーアレイを用いた
露光光源とし、高速動作が可能な液晶シャッタと短時間
パルス発光が可能な半導体レーザーアレイ用駆動電源を
具備することにより、高強度及び短時間パルスを含む広
範囲なパルス発光時間調節が可能な露光光源を得ること
が出来、しかもその構成が複雑になることがない優れた
電子写真感光体評価装置を提供するものである。
露光光源とし、高速動作が可能な液晶シャッタと短時間
パルス発光が可能な半導体レーザーアレイ用駆動電源を
具備することにより、高強度及び短時間パルスを含む広
範囲なパルス発光時間調節が可能な露光光源を得ること
が出来、しかもその構成が複雑になることがない優れた
電子写真感光体評価装置を提供するものである。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下に本発明をさらに詳しく説明
する。図１は、本発明の感光体評価装置の一例を示す概
略図であり、半導体レーザーアレイ１とこれを駆動させ
るための電源７、発光ビームを制御するレンズ２、フィ
ルタ３、シャッタ４、試料の表面電位を測定するプロー
ブ５と表面電位計６、及び帯電器８より構成されてお
り、９は移動機構により移動される試料である。
する。図１は、本発明の感光体評価装置の一例を示す概
略図であり、半導体レーザーアレイ１とこれを駆動させ
るための電源７、発光ビームを制御するレンズ２、フィ
ルタ３、シャッタ４、試料の表面電位を測定するプロー
ブ５と表面電位計６、及び帯電器８より構成されてお
り、９は移動機構により移動される試料である。
【００１１】本発明で露光光源として好ましく用いられ
る半導体レーザーアレイ１は、高強度・高輝度の単色光
が得られるものであり、光出力が数Ｗ〜数十Ｗのものを
用いることができる。このような半導体レーザーアレイ
は近年、医療用、加工用、固体レーザ励起用として産業
あるいは衛星に広く利用されつつある。また、これらの
半導体レーザーアレイは発振波長６８０〜９８０ｎｍの
ものがあり、感光体の分光感度に合わせて選択される。
さらにこれらの半導体レーザーアレイの発振半値幅は、
３〜５ｎｍであり、必要に応じてフィルタ等の公知の方
法により調整することもできる。本発明に用いられるよ
うな高出力の半導体レーザーアレイを駆動する場合、そ
の発熱によるダメージを受けないために、水冷あるいは
空冷等により放熱する機構を設けることが望ましい。
る半導体レーザーアレイ１は、高強度・高輝度の単色光
が得られるものであり、光出力が数Ｗ〜数十Ｗのものを
用いることができる。このような半導体レーザーアレイ
は近年、医療用、加工用、固体レーザ励起用として産業
あるいは衛星に広く利用されつつある。また、これらの
半導体レーザーアレイは発振波長６８０〜９８０ｎｍの
ものがあり、感光体の分光感度に合わせて選択される。
さらにこれらの半導体レーザーアレイの発振半値幅は、
３〜５ｎｍであり、必要に応じてフィルタ等の公知の方
法により調整することもできる。本発明に用いられるよ
うな高出力の半導体レーザーアレイを駆動する場合、そ
の発熱によるダメージを受けないために、水冷あるいは
空冷等により放熱する機構を設けることが望ましい。
【００１２】本発明のパルス発光時間の調節に用いられ
るシャッタ４としては、ネマチック液晶シャッタ、強誘
電性液晶シャッタなどがあげられるが、強誘電性液晶シ
ャッタを用いることで、その高速応答性を利用し１００
マイクロ秒程度までの発光時間の調節が可能となる。強
誘電性液晶シャッタには、たとえば特開平７−２５３５
８０号に開示されているような構成のものを用いること
ができる。シャッタによりパルス発光時間を調節する場
合には、半導体レーザアレイの駆動電源７は充分な容量
を有する定電流電源を使用すればよい。
るシャッタ４としては、ネマチック液晶シャッタ、強誘
電性液晶シャッタなどがあげられるが、強誘電性液晶シ
ャッタを用いることで、その高速応答性を利用し１００
マイクロ秒程度までの発光時間の調節が可能となる。強
誘電性液晶シャッタには、たとえば特開平７−２５３５
８０号に開示されているような構成のものを用いること
ができる。シャッタによりパルス発光時間を調節する場
合には、半導体レーザアレイの駆動電源７は充分な容量
を有する定電流電源を使用すればよい。
【００１３】また、駆動電源で電流パルスのパルス幅を
調節することで発光時間を変化させることができる。本
発明に用いられるような高出力の半導体レーザーアレイ
は、数十Ａの電流をスイッチングする必要があり、たと
えば３０Ａのパルス電流を発生させる時のパルス発光時
間は５マイクロ秒程度まで可能である。しかし、このよ
うなパルス電流源は、構成上広範囲のパルス幅を設定を
得ることは困難であり、複数の装置構成で対応すること
で、コスト面で有利である。
調節することで発光時間を変化させることができる。本
発明に用いられるような高出力の半導体レーザーアレイ
は、数十Ａの電流をスイッチングする必要があり、たと
えば３０Ａのパルス電流を発生させる時のパルス発光時
間は５マイクロ秒程度まで可能である。しかし、このよ
うなパルス電流源は、構成上広範囲のパルス幅を設定を
得ることは困難であり、複数の装置構成で対応すること
で、コスト面で有利である。
【００１４】本発明では、露光時間の調節に液晶シャッ
タとパルス電流源を組み合わせて用いることで短時間か
ら長時間までの広範囲な露光時間を達成可能としてい
る。
タとパルス電流源を組み合わせて用いることで短時間か
ら長時間までの広範囲な露光時間を達成可能としてい
る。
【００１５】露光強度の制御は、半導体レーザーアレイ
１と試料９との間に設置したフィルタ３またはシャッタ
４の絞りにより調節するか、半導体レーザーアレイの駆
動電流値を調節することによって行う。フィルタ３は必
要に応じて適当なものを使用できるが、ニュートラルデ
ンシティフィルタを用いるのが良く、強度を連続的に変
化させることが可能なフィルタを用いても良い。絞りを
用いる場合には虹彩絞りあるいは可変スリットを用いる
ことができる。
１と試料９との間に設置したフィルタ３またはシャッタ
４の絞りにより調節するか、半導体レーザーアレイの駆
動電流値を調節することによって行う。フィルタ３は必
要に応じて適当なものを使用できるが、ニュートラルデ
ンシティフィルタを用いるのが良く、強度を連続的に変
化させることが可能なフィルタを用いても良い。絞りを
用いる場合には虹彩絞りあるいは可変スリットを用いる
ことができる。
【００１６】本発明は半導体レーザーアレイにより、高
強度・高輝度のパルス光を得ることが可能となるもので
あり、液晶シャッタを組み合わせることで従来の感光体
評価装置では発光時間の制御にメカニカルシャッタを用
いていたために数十ミリ秒が限界であった発光時間の制
御を、１０マイクロ秒以下の発光パルス幅まで可能と
し、広範囲な露光パルス幅を得ることができ、レーザビ
ームの走査露光のように精密なビーム整形や複雑な走査
光学系を必要としないという利点がある。
強度・高輝度のパルス光を得ることが可能となるもので
あり、液晶シャッタを組み合わせることで従来の感光体
評価装置では発光時間の制御にメカニカルシャッタを用
いていたために数十ミリ秒が限界であった発光時間の制
御を、１０マイクロ秒以下の発光パルス幅まで可能と
し、広範囲な露光パルス幅を得ることができ、レーザビ
ームの走査露光のように精密なビーム整形や複雑な走査
光学系を必要としないという利点がある。
【００１７】
【実施例】次に実施例を示すが、本発明はこれら実施例
によって制約されるものではない。
によって制約されるものではない。
【００１８】実施例１ 本発明の評価装置に搭載する半導体レーザーアレイとし
て、ＳＤＬ社製のファイバー付リニアアレイ（半導体レ
ーザー、ＳＤＬ−７４７０−Ｐ５）を用いた。この半導
体レーザーアレイは発振ピーク波長６８０ｎｍ、スペク
トル半値幅３ｎｍである。この半導体レーザーアレイ
は、ファイバーよりレーザー光が出射されるので、レー
ザー光の出射部を図１に示したところに配置して感光体
評価装置を構成した。フィルタを使用しない状態で試料
面上での光強度を測定したところ、１２Ａの定格駆動、
連続発振で光強度２．２Ｗの単色光を得ることができ
た。
て、ＳＤＬ社製のファイバー付リニアアレイ（半導体レ
ーザー、ＳＤＬ−７４７０−Ｐ５）を用いた。この半導
体レーザーアレイは発振ピーク波長６８０ｎｍ、スペク
トル半値幅３ｎｍである。この半導体レーザーアレイ
は、ファイバーよりレーザー光が出射されるので、レー
ザー光の出射部を図１に示したところに配置して感光体
評価装置を構成した。フィルタを使用しない状態で試料
面上での光強度を測定したところ、１２Ａの定格駆動、
連続発振で光強度２．２Ｗの単色光を得ることができ
た。
【００１９】実施例２ 使用する半導体レーザーアレイとして、ＳＤＬ社製のフ
ァイバー付リニアアレイ（半導体レーザー、ＳＤＬ−３
４５０−Ｐ５）を用いた。この半導体レーザーアレイは
発振ピーク波長８０５ｎｍ、スペクトル半値幅３ｎｍで
ある。この半導体レーザーアレイを実施例１と同様に露
光光源部に組み込み感光体評価装置を構成した。フィル
タを使用しない状態で試料面上での光強度を測定したと
ころ、２８Ａの定格駆動、連続発振で光強度８．５Ｗの
単色光を得ることができた。
ァイバー付リニアアレイ（半導体レーザー、ＳＤＬ−３
４５０−Ｐ５）を用いた。この半導体レーザーアレイは
発振ピーク波長８０５ｎｍ、スペクトル半値幅３ｎｍで
ある。この半導体レーザーアレイを実施例１と同様に露
光光源部に組み込み感光体評価装置を構成した。フィル
タを使用しない状態で試料面上での光強度を測定したと
ころ、２８Ａの定格駆動、連続発振で光強度８．５Ｗの
単色光を得ることができた。
【００２０】実施例３ 実施例２で作製した感光体評価装置に、以下に述べる液
晶シャッタを装備してパルス光の露光を行った。発光パ
ルスの確認は浜松ホトニクス社製の光電子増倍管Ｒ３７
４を使用した。液晶シャッタは、チッソ社製の強誘電性
液晶を封入した液晶セルを使用した。液晶シャッタの開
放時間を２００マイクロ秒として駆動したところ、試料
部で同じく２００マイクロ秒のパルス光が確認された。
また光強度は１．６Ｗであった。
晶シャッタを装備してパルス光の露光を行った。発光パ
ルスの確認は浜松ホトニクス社製の光電子増倍管Ｒ３７
４を使用した。液晶シャッタは、チッソ社製の強誘電性
液晶を封入した液晶セルを使用した。液晶シャッタの開
放時間を２００マイクロ秒として駆動したところ、試料
部で同じく２００マイクロ秒のパルス光が確認された。
また光強度は１．６Ｗであった。
【００２１】実施例４ 実施例２で作製した感光体評価装置の半導体レーザーア
レイをパルス電流源で駆動してパルス光の露光を行っ
た。発光パルスの確認は浜松ホトニクス製の光電子増倍
管Ｒ３７４を使用した。パルス電流源はナムテック社製
のものを用いた。駆動パルス幅を１０マイクロ秒として
駆動したところ、試料部で同じく１０マイクロ秒のパル
ス光が確認された。また光強度は８．３Ｗであった。
レイをパルス電流源で駆動してパルス光の露光を行っ
た。発光パルスの確認は浜松ホトニクス製の光電子増倍
管Ｒ３７４を使用した。パルス電流源はナムテック社製
のものを用いた。駆動パルス幅を１０マイクロ秒として
駆動したところ、試料部で同じく１０マイクロ秒のパル
ス光が確認された。また光強度は８．３Ｗであった。
【００２２】実施例５ 実施例３、４で作製した感光体評価装置で感光体の評価
を行った。評価試料は、リコー社製レーザプリンタ（Ｓ
Ｐ−９）に搭載されている感光体を取り出して試料とし
た。表面電位計としてトレック社製の高速表面電位計
（Ｍｏｄｅｌ−３６２Ａ）を用い、各機器のタイミング
をとって測定を行った。試料に対して、まず帯電器でコ
ロナ放電電圧−６．０ｋＶで帯電し、つづいて露光部に
移動して感光体の光パルス照射に対する応答を測定し
た。露光パルス幅が２００マイクロ秒より長い領域で
は、レーザーは連続発振としパルス光の制御に液晶シャ
ッタを使用し、２００マイクロ秒より短い領域ではパル
ス光の制御にパルス電流源によりレーザー光を直接制御
した。この評価装置では、露光パルス幅が１０マイクロ
秒から１００ミリ秒の範囲で１マイクロジュール／平方
センチメートルの露光を与えることが可能であった。
を行った。評価試料は、リコー社製レーザプリンタ（Ｓ
Ｐ−９）に搭載されている感光体を取り出して試料とし
た。表面電位計としてトレック社製の高速表面電位計
（Ｍｏｄｅｌ−３６２Ａ）を用い、各機器のタイミング
をとって測定を行った。試料に対して、まず帯電器でコ
ロナ放電電圧−６．０ｋＶで帯電し、つづいて露光部に
移動して感光体の光パルス照射に対する応答を測定し
た。露光パルス幅が２００マイクロ秒より長い領域で
は、レーザーは連続発振としパルス光の制御に液晶シャ
ッタを使用し、２００マイクロ秒より短い領域ではパル
ス光の制御にパルス電流源によりレーザー光を直接制御
した。この評価装置では、露光パルス幅が１０マイクロ
秒から１００ミリ秒の範囲で１マイクロジュール／平方
センチメートルの露光を与えることが可能であった。
【００２３】
【発明の効果】本発明によれば、近年主流となっている
デジタル系複写機、プリンタに搭載される感光体に適し
た、特性値評価を可能とする電子写真感光体評価装置を
提供することが可能となり、さらにその評価装置の構成
が複雑にならないという効果を有する。
デジタル系複写機、プリンタに搭載される感光体に適し
た、特性値評価を可能とする電子写真感光体評価装置を
提供することが可能となり、さらにその評価装置の構成
が複雑にならないという効果を有する。
【図１】本発明の感光体評価装置の一例を示す概略図で
ある。
ある。
１ 半導体レーザーアレイ ２ レンズ ３ フィルタ ４ シャッタ ５ 表面電位計プローブ ６ 表面電位計 ７ 電源 ８ 帯電器 ９ 試料
フロントページの続き (72)発明者 小島 成人 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内 (72)発明者 鈴木 哲郎 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内 (72)発明者 生野 弘 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内 (72)発明者 栗本 鋭司 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内 (72)発明者 紙 英利 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内
Claims (5)
- 【請求項１】 電子写真感光体の帯電及び露光により、
その感光体の感度測定を表面電位計プローブで行なって
感光体の特性を評価する評価装置において、露光光源が
半導体レーザーアレイで構成され、かつパルス発光によ
り露光を行うことを特徴とする感光体評価装置。 - 【請求項２】 パルス発光時間を半導体レーザーアレイ
と感光体試料間に配置したシャッタで調節する請求項１
記載のことを特徴とする感光体評価装置。 - 【請求項３】 半導体レーザーアレイと感光体試料との
間に配置したシャッタが、強誘電性液晶シャッタである
ことを特徴とする請求項１又は２記載の感光体評価装
置。 - 【請求項４】 パルス発光時間を半導体レーザーアレイ
に印加する駆動電流で調節することを特徴とする請求項
１、２又は３記載の感光体評価装置。 - 【請求項５】 露光量の調節を半導体レーザーアレイの
パルス発光時間及び駆動電流値、半導体レーザーアレイ
と感光体試料間に設けたフィルタまたは絞りにより行な
うことを特徴とする請求項１、２、３又は４記載の感光
体評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10111565A JPH11296026A (ja) | 1998-04-07 | 1998-04-07 | 感光体評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10111565A JPH11296026A (ja) | 1998-04-07 | 1998-04-07 | 感光体評価装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11296026A true JPH11296026A (ja) | 1999-10-29 |
Family
ID=14564609
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10111565A Pending JPH11296026A (ja) | 1998-04-07 | 1998-04-07 | 感光体評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11296026A (ja) |
-
1998
- 1998-04-07 JP JP10111565A patent/JPH11296026A/ja active Pending
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