JPH11295394A - アナログ／ディジタル変換装置の試験装置 - Google Patents
アナログ／ディジタル変換装置の試験装置Info
- Publication number
- JPH11295394A JPH11295394A JP10110088A JP11008898A JPH11295394A JP H11295394 A JPH11295394 A JP H11295394A JP 10110088 A JP10110088 A JP 10110088A JP 11008898 A JP11008898 A JP 11008898A JP H11295394 A JPH11295394 A JP H11295394A
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- Japan
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- arithmetic processing
- voltage
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- Pending
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】Ａ／Ｄ変換装置９のアナログ入力電圧ＥA に対
する出力ディジタル値ＥD 特性を測定する試験装置の出
力供給電圧ＥA の精度を維持, 向上し、かつ、コスト低
減を図る。 【解決手段】増幅器４から出力されるアナログ供給電圧
ＥA をディジタル値に変換して演算処理部２にフィード
バックするＡ／Ｄ変換器５を設ける。演算処理部２はフ
ィードバックされたディジタル値と、入力部１から指定
されたディジタル値とを比較してその差が０になるよう
にＤ／Ａ変換器３への出力を補正する。増幅器４の部品
が汎用級でよいので安価になる。
する出力ディジタル値ＥD 特性を測定する試験装置の出
力供給電圧ＥA の精度を維持, 向上し、かつ、コスト低
減を図る。 【解決手段】増幅器４から出力されるアナログ供給電圧
ＥA をディジタル値に変換して演算処理部２にフィード
バックするＡ／Ｄ変換器５を設ける。演算処理部２はフ
ィードバックされたディジタル値と、入力部１から指定
されたディジタル値とを比較してその差が０になるよう
にＤ／Ａ変換器３への出力を補正する。増幅器４の部品
が汎用級でよいので安価になる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はアナログ／ディジタ
ル変換装置の試験装置に関するものである。
ル変換装置の試験装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】例えば、フライトデータレコーダには、
航空機の機体の各部に取り付けられた各種の多数のセン
サーから入力されるアナログデータをディジタルデータ
に変換してメモリに記憶させるためのアナログ／ディジ
タル変換装置が装備されている。このような多入力アナ
ログ／ディジタル変換装置は、フライト前あるいは定期
的に試験して性能を確認する必要があり保守用としてそ
の試験装置が配備されている。
航空機の機体の各部に取り付けられた各種の多数のセン
サーから入力されるアナログデータをディジタルデータ
に変換してメモリに記憶させるためのアナログ／ディジ
タル変換装置が装備されている。このような多入力アナ
ログ／ディジタル変換装置は、フライト前あるいは定期
的に試験して性能を確認する必要があり保守用としてそ
の試験装置が配備されている。
【０００３】図２は従来の試験装置２０のブロック図で
あり、１は入力部、２はマイクロプロセッサなどの演算
処理部、３はディジタル／アナログ（Ｄ／Ａ）変換器、
１４は演算増幅（オペアンプ）と複数の抵抗器とから構
成されている増幅器、６はアナログ供給電圧ＥA の出力
端子、７はディジタル電圧ＥD の入力端子、８は表示
部、９は試験対象のＡ／Ｄ変換装置である。
あり、１は入力部、２はマイクロプロセッサなどの演算
処理部、３はディジタル／アナログ（Ｄ／Ａ）変換器、
１４は演算増幅（オペアンプ）と複数の抵抗器とから構
成されている増幅器、６はアナログ供給電圧ＥA の出力
端子、７はディジタル電圧ＥD の入力端子、８は表示
部、９は試験対象のＡ／Ｄ変換装置である。
【０００４】出力端子６と、試験対象のＡ／Ｄ変換装置
９のアナログ電圧入力端子とを接続し、予め定めたイン
ピーダンス条件と電圧範囲などの試験条件を入力部１か
ら指定することにより、その試験条件に従って演算処理
部２から出力されるディジタル信号は、Ｄ／Ａ変換器３
でアナログ変換され、増幅器１４で増幅されて出力端子
６から供給電圧ＥA として出力される。Ａ／Ｄ変換装置
９は、入力されるアナログ供給電圧ＥA を順次ディジタ
ル変換してディジタル出力ＥD を出力する。このディジ
タル出力ＥD は入力端子７を介して演算処理部２に入力
される。演算処理部２は、その値、または自動的に許容
範囲内か否かを判定した結果を表示部８に表示する。
９のアナログ電圧入力端子とを接続し、予め定めたイン
ピーダンス条件と電圧範囲などの試験条件を入力部１か
ら指定することにより、その試験条件に従って演算処理
部２から出力されるディジタル信号は、Ｄ／Ａ変換器３
でアナログ変換され、増幅器１４で増幅されて出力端子
６から供給電圧ＥA として出力される。Ａ／Ｄ変換装置
９は、入力されるアナログ供給電圧ＥA を順次ディジタ
ル変換してディジタル出力ＥD を出力する。このディジ
タル出力ＥD は入力端子７を介して演算処理部２に入力
される。演算処理部２は、その値、または自動的に許容
範囲内か否かを判定した結果を表示部８に表示する。
【０００５】この場合、供給電圧ＥA の変化範囲を０〜
１ＶＤＣとしたときの誤差は、その最大値の±１％、従
って、１Ｖ±０．０１Ｖ，０．５Ｖ±０．０１Ｖ，０Ｖ
±０．０１Ｖである。そのために、試験対象のＡ／Ｄ変
換器９の供給電圧を供給したい電圧値の±１％以内にし
ようとする場合、各部品における許容誤差は次の表１の
ような割り振りになる。
１ＶＤＣとしたときの誤差は、その最大値の±１％、従
って、１Ｖ±０．０１Ｖ，０．５Ｖ±０．０１Ｖ，０Ｖ
±０．０１Ｖである。そのために、試験対象のＡ／Ｄ変
換器９の供給電圧を供給したい電圧値の±１％以内にし
ようとする場合、各部品における許容誤差は次の表１の
ような割り振りになる。
【０００６】
【表１】
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の構成では、増幅器１４のオペアンプと抵抗器の使用
数が９個のときは、供給電圧ＥA の誤差は最大±０．９
５％とる。よって、上記表１の部品数で回路が構成でき
ず、使用数がそれ以上になる場合、さらに精度の高い部
品が必要となりコストが高くなるという欠点がある。さ
らに、経年変化による劣化を補正できない欠点がある。
また、多入力の被試験装置９に対応してＤ／Ａ変換器３
と増幅器１４の系統を複数にすると、コストは更に高く
なるという欠点がある。
来の構成では、増幅器１４のオペアンプと抵抗器の使用
数が９個のときは、供給電圧ＥA の誤差は最大±０．９
５％とる。よって、上記表１の部品数で回路が構成でき
ず、使用数がそれ以上になる場合、さらに精度の高い部
品が必要となりコストが高くなるという欠点がある。さ
らに、経年変化による劣化を補正できない欠点がある。
また、多入力の被試験装置９に対応してＤ／Ａ変換器３
と増幅器１４の系統を複数にすると、コストは更に高く
なるという欠点がある。
【０００８】本発明の目的は、高精度を得るため部品の
コストが高くなり、経年変化による劣化の補正ができな
い等の問題点を解決し、安価で高精度の電圧供給を行う
ことのできる試験装置を提供することにある。
コストが高くなり、経年変化による劣化の補正ができな
い等の問題点を解決し、安価で高精度の電圧供給を行う
ことのできる試験装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明のアナログ／ディ
ジタル変換装置の試験装置は、演算処理部と、該演算処
理部に試験条件を入力する入力部と、前記演算処理部の
演算処理の結果を表示する表示部と、前記演算処理部か
ら出力される試験用のディジタル信号をアナログ信号に
変換するＤ／Ａ変換器と、該Ｄ／Ａ変換器の出力を増幅
し電圧供給端子に試験電圧を出力する増幅器と、外部か
ら入力されるディジタル電圧を前記演算処理部に導入す
るための入力端子とが備えられ、試験対象のアナログ／
ディジタル変換装置が前記電圧供給端子と前記入力端子
との間に接続され、前記入力部から試験条件が指定入力
されて該試験対象のアナログ／ディジタル変換装置にア
ナログ試験電圧が供給されたとき、該供給電圧に応じて
出力されるディジタル電圧が前記入力端子を介して前記
演算処理部に入力され前記表示部に試験結果が表示され
るように構成された試験装置において、前記増幅器から
前記電圧供給端子への出力電圧をディジタル値に変換し
て前記演算処理部に入力するＡ／Ｄ変換器を設け、前記
演算処理部は、該Ａ／Ｄ変換器からのディジタル値と指
定された試験条件によるディジタル値とを比較しその差
が０になるように前記Ｄ／Ａ変換器に与える試験用のデ
ィジタル信号の値を補正するように構成されたことを特
徴とするものである。
ジタル変換装置の試験装置は、演算処理部と、該演算処
理部に試験条件を入力する入力部と、前記演算処理部の
演算処理の結果を表示する表示部と、前記演算処理部か
ら出力される試験用のディジタル信号をアナログ信号に
変換するＤ／Ａ変換器と、該Ｄ／Ａ変換器の出力を増幅
し電圧供給端子に試験電圧を出力する増幅器と、外部か
ら入力されるディジタル電圧を前記演算処理部に導入す
るための入力端子とが備えられ、試験対象のアナログ／
ディジタル変換装置が前記電圧供給端子と前記入力端子
との間に接続され、前記入力部から試験条件が指定入力
されて該試験対象のアナログ／ディジタル変換装置にア
ナログ試験電圧が供給されたとき、該供給電圧に応じて
出力されるディジタル電圧が前記入力端子を介して前記
演算処理部に入力され前記表示部に試験結果が表示され
るように構成された試験装置において、前記増幅器から
前記電圧供給端子への出力電圧をディジタル値に変換し
て前記演算処理部に入力するＡ／Ｄ変換器を設け、前記
演算処理部は、該Ａ／Ｄ変換器からのディジタル値と指
定された試験条件によるディジタル値とを比較しその差
が０になるように前記Ｄ／Ａ変換器に与える試験用のデ
ィジタル信号の値を補正するように構成されたことを特
徴とするものである。
【００１０】
【発明の実施の形態】図１は本発明の実施例を示すブロ
ック図であり、４は安価な一般の汎用オペアンプと抵抗
器とからなる増幅器であり、５は増幅器４のアナログ出
力電圧ＥA をディジタル変換して演算処理部２に与える
Ａ／Ｄ変換器である。他の部分は従来と同じである。
ック図であり、４は安価な一般の汎用オペアンプと抵抗
器とからなる増幅器であり、５は増幅器４のアナログ出
力電圧ＥA をディジタル変換して演算処理部２に与える
Ａ／Ｄ変換器である。他の部分は従来と同じである。
【００１１】演算処理部２は、入力部１によって指定さ
れた供給電圧ＥA と、Ａ／Ｄ変換器５から入力される実
際に供給されている電圧との差を検出し、その差が０に
なるような電圧をＤ／Ａ変換器３に出力して再設定を行
う。この動作を繰り返すことにより供給電圧ＥA の精度
を高く維持することができる。
れた供給電圧ＥA と、Ａ／Ｄ変換器５から入力される実
際に供給されている電圧との差を検出し、その差が０に
なるような電圧をＤ／Ａ変換器３に出力して再設定を行
う。この動作を繰り返すことにより供給電圧ＥA の精度
を高く維持することができる。
【００１２】すなわち、最大１ＶＤＣの供給電圧ＥA を
±１％の誤差内にするためには、０．００１Ｖきざみで
出力できるＤ／Ａ変換器３と、０．００１Ｖきざみで出
力できるＡ／Ｄ変換器５を用いれば、精度の低いオペア
ンプと抵抗器による増幅器４を使用してもよいことにな
る。
±１％の誤差内にするためには、０．００１Ｖきざみで
出力できるＤ／Ａ変換器３と、０．００１Ｖきざみで出
力できるＡ／Ｄ変換器５を用いれば、精度の低いオペア
ンプと抵抗器による増幅器４を使用してもよいことにな
る。
【００１３】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明を実
施することにより、増幅器は精度の低い部品で構成すれ
ばよいのでコストが安い。特に、供給電圧系統を複数に
する場合は効果が大きい。さらに、精度を上げたいとき
は、Ｄ／Ａ変換器とＡ／Ｄ変換器のみを変更すればよ
い。また、フィードバックによる自動補正のため経年変
化に対する補正が自動的に行われるという効果もある。
施することにより、増幅器は精度の低い部品で構成すれ
ばよいのでコストが安い。特に、供給電圧系統を複数に
する場合は効果が大きい。さらに、精度を上げたいとき
は、Ｄ／Ａ変換器とＡ／Ｄ変換器のみを変更すればよ
い。また、フィードバックによる自動補正のため経年変
化に対する補正が自動的に行われるという効果もある。
【図１】本発明の実施例を示すブロック図である。
【図２】従来の装置のブロック図である。
１ 入力部 ２ 演算処理部 ３ Ｄ／Ａ変換器 ４ 増幅器 ５ Ａ／Ｄ変換器 ６ 出力端子 ７ 入力端子 ８ 表示部 ９ Ａ／Ｄ変換装置 １０，２０ 試験装置 １４ 増幅器
Claims (1)
- 【請求項１】 演算処理部と、該演算処理部に試験条件
を入力する入力部と、前記演算処理部の演算処理の結果
を表示する表示部と、前記演算処理部から出力される試
験用のディジタル信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ
変換器と、該Ｄ／Ａ変換器の出力を増幅し電圧供給端子
に試験電圧を出力する増幅器と、外部から入力されるデ
ィジタル電圧を前記演算処理部に導入するための入力端
子とが備えられ、 試験対象のアナログ／ディジタル変換装置が前記電圧供
給端子と前記入力端子との間に接続され、前記入力部か
ら試験条件が指定入力されて該試験対象のアナログ／デ
ィジタル変換装置にアナログ試験電圧が供給されたと
き、該供給電圧に応じて出力されるディジタル電圧が前
記入力端子を介して前記演算処理部に入力され前記表示
部に試験結果が表示されるように構成された試験装置に
おいて、 前記増幅器から前記電圧供給端子への出力電圧をディジ
タル値に変換して前記演算処理部に入力するＡ／Ｄ変換
器を設け、 前記演算処理部は、該Ａ／Ｄ変換器からのディジタル値
と指定された試験条件によるディジタル値とを比較しそ
の差が０になるように前記Ｄ／Ａ変換器に与える試験用
のディジタル信号の値を補正するように構成されたこと
を特徴とするアナログ／ディジタル変換装置の試験装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10110088A JPH11295394A (ja) | 1998-04-07 | 1998-04-07 | アナログ／ディジタル変換装置の試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10110088A JPH11295394A (ja) | 1998-04-07 | 1998-04-07 | アナログ／ディジタル変換装置の試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11295394A true JPH11295394A (ja) | 1999-10-29 |
Family
ID=14526729
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10110088A Pending JPH11295394A (ja) | 1998-04-07 | 1998-04-07 | アナログ／ディジタル変換装置の試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11295394A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10341836A1 (de) * | 2003-09-09 | 2005-04-28 | Infineon Technologies Ag | Elektrische Schaltung sowie Verfahren zum Testen von integrierten Schaltungen |
| CN102944774A (zh) * | 2012-10-30 | 2013-02-27 | 上海晟东电力科技有限公司 | 配电终端模拟量精度自动校验装置及其校验方法 |
| KR20150004761A (ko) * | 2013-07-03 | 2015-01-13 | 인피니언 테크놀로지스 아게 | 아날로그-디지털 컨버터를 위한 내장형 자체 테스트 |
| CN111693857A (zh) * | 2020-05-15 | 2020-09-22 | 珠海南方集成电路设计服务中心 | Adc芯片测试方法 |
-
1998
- 1998-04-07 JP JP10110088A patent/JPH11295394A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10341836A1 (de) * | 2003-09-09 | 2005-04-28 | Infineon Technologies Ag | Elektrische Schaltung sowie Verfahren zum Testen von integrierten Schaltungen |
| US7256602B2 (en) | 2003-09-09 | 2007-08-14 | Infineon Technologies Ag | Electrical circuit and method for testing integrated circuits |
| DE10341836B4 (de) * | 2003-09-09 | 2013-05-29 | Infineon Technologies Ag | Testvorrichtung zum Testen von elektrischen Schaltungen sowie Verfahren zum parallelen Testen von elektrischen Schaltungen |
| CN102944774A (zh) * | 2012-10-30 | 2013-02-27 | 上海晟东电力科技有限公司 | 配电终端模拟量精度自动校验装置及其校验方法 |
| KR20150004761A (ko) * | 2013-07-03 | 2015-01-13 | 인피니언 테크놀로지스 아게 | 아날로그-디지털 컨버터를 위한 내장형 자체 테스트 |
| DE102014009823B4 (de) * | 2013-07-03 | 2020-11-05 | Infineon Technologies Ag | Integrierter Selbsttest für einen Analog-Digital-Wandler |
| CN111693857A (zh) * | 2020-05-15 | 2020-09-22 | 珠海南方集成电路设计服务中心 | Adc芯片测试方法 |
| CN111693857B (zh) * | 2020-05-15 | 2022-09-23 | 珠海南方集成电路设计服务中心 | Adc芯片测试方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |