JP2002350476A - 電圧検出回路 - Google Patents

電圧検出回路

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JP2002350476A
JP2002350476A JP2001153273A JP2001153273A JP2002350476A JP 2002350476 A JP2002350476 A JP 2002350476A JP 2001153273 A JP2001153273 A JP 2001153273A JP 2001153273 A JP2001153273 A JP 2001153273A JP 2002350476 A JP2002350476 A JP 2002350476A
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Tomohiro Inoue
知広 井上
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Nagano Japan Radio Co Ltd
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Japan Radio Co Ltd
Nagano Japan Radio Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 多数の被測定物の電圧をデジタルデータ化し
て検出し、電圧検出部を構成する構成素子の特性のばら
つきを補正することができ、製造コストを低減すること
ができる電圧検出回路を提供する。 【解決手段】 電圧変換手段141に所定電圧を付与して
得られる第1のデジタルデータと、電圧変換手段141お
よびアナログ・デジタル変換手段AD1に対する入力デー
タと出力データとの関係式より得られる理想的な第2の
デジタルデータと、の差異に基づいて求めた誤差データ
を記憶しておく記憶手段13と、アナログ・デジタル変換
手段AD1から出力される被測定物B1のデジタルデータ
を、記憶手段13から読み出した前記誤差データにより補
正して、被測定物B1の補正電圧値を求める演算手段12
と、を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電圧検出回路に関
し、特に、複数の被測定物(例えば、蓄電素子)の電圧
を検出するための電圧検出回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、被測定物の電圧を検出するための
回路としては、例えば、蓄電素子等の電圧を監視し、電
圧異常が発生したことを知らせるための電圧検出回路が
ある。このような電圧検出回路は、アナログ回路で構成
されており、被測定物の電圧が規定の値からずれた場合
に、電圧検出信号を出力して外部に知らせるものであ
る。以下、従来の電圧検出回路の一例を図を用いて説明
する。図4は、従来の電圧検出回路の構成を示す図であ
る。
【0003】図4に示す被測定物41(例えば、蓄電素
子)の正極側と負極側には、電圧検出回路40が接続さ
れ、この電圧検出回路40の出力は、検出端子49,5
0に接続するように結線されている。電圧検出回路は、
抵抗42,44,45、定電圧ダイオード43、電圧コ
ンパレータ46、抵抗47、フォトカプラ48で構成さ
れている。この電圧コンパレータ46は、被測定物41
の端子間電圧を分圧する抵抗44と抵抗45とによって
分圧された電圧と、抵抗42と定電圧ダイオード43と
によって分圧された電圧とを比較するように接続されて
いる。
【0004】以下、従来の電圧検出回路の動作について
説明する。被測定物41の端子間電圧が(抵抗42,4
4,45、定電圧ダイオード43の各抵抗値によって予
め設定した)規定の電圧に達すると、コンパレータ46
の出力が“H”レベルとなり、フォトカプラ48の発光
素子に電流が流れて発光することにより、フォトカプラ
48の受光素子に電流が流れて検出端子49,50間に
電圧検出信号が出力される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
電圧検出回路は、被測定物41の電圧が変動したとき、
被測定物の電圧が規定の値からずれた場合にのみ、電圧
検出信号を出力して外部に知らせるものであるため、出
力された電圧検出信号は、規定の電圧値からずれたと云
う情報しか持たず、検出した電圧の数値情報を出力する
ことができなかった。
【0006】この問題点を解消するために、被測定物の
電圧値を検出し、さらにA/D(アナログ・デジタル)
変換してデジタルデータ化する電圧検出回路が考えられ
る。
【0007】しかし、検出データをデジタルデータ化す
る電圧検出回路において、被測定物の電圧を検出する電
圧検出部を構成する構成素子(特に、抵抗素子)に、特
性のばらつきがあると正確な数値が検出できない。さら
に、多数の被測定物の電圧を検出する構成とした場合に
は、各被測定物の電圧検出部を構成する構成素子が膨大
な数となる。このため、特性が揃った多数の構成素子を
用意する必要があり、構成素子の選別作業時間が長くな
り、製造コストが高くなる等の不具合が生ずる。
【0008】本発明は、前述した問題点や不具合に鑑み
てなされたものであり、その目的は多数の被測定物の電
圧をデジタルデータ化して検出し、被測定物の電圧を検
出する電圧検出部を構成する構成素子の特性のばらつき
を補正することができ、製造コストを低減することがで
きる電圧検出回路を提供することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ために、本発明に係る電圧検出回路は、請求項1に記載
したように、被測定物の電圧を変換してアナログの電圧
値を出力する電圧変換手段と、前記電圧変換手段により
変換されたアナログの電圧値を入力し、デジタルデータ
に変換して出力するアナログ・デジタル変換手段とを備
えた電圧検出回路において、前記電圧変換手段に所定電
圧を付与して得られる第1のデジタルデータと、前記電
圧変換手段および前記アナログ・デジタル変換手段に対
する入力データと出力データとの関係式より得られる理
想的な第2のデジタルデータと、の差異に基づいて求め
た誤差データを記憶しておく記憶手段と、前記アナログ
・デジタル変換手段から出力される前記被測定物のデジ
タルデータを、前記記憶手段から読み出した前記誤差デ
ータにより補正して、前記被測定物の補正電圧値を求め
る演算手段と、を有すること特徴とする。これにより、
被測定物の電圧をデジタルデータ化して検出し、電圧変
換手段を構成する構成素子の特性のばらつきを誤差デー
タにより補正することができ、製造コストを低減するこ
とができる。
【0010】本発明に係る電圧検出回路は、請求項2に
記載したように、前記電圧変換手段と前記アナログ・デ
ジタル変換手段とを複数具備し、複数の前記アナログ・
デジタル変換手段から出力されたデジタルデータが入力
され、選択したデジタルデータを前記演算手段に出力す
る選択回路を有することを特徴とする。これにより、複
数の被測定物の電圧を変換する電圧変換手段を構成する
多数の構成素子として、特性が揃った素子を用意する必
要がなく、構成素子の選別作業時間を短縮できる。
【0011】本発明に係る電圧検出回路は、請求項3に
記載したように、前記電圧変換手段は、被測定物の正極
端子電圧から負極端子電圧を減算する減算回路により、
被測定物の電圧を変換することを特徴とする。これによ
り、被測定物の正極端子電圧から負極端子電圧を減算し
て、被測定物の電圧を変換することができる。
【0012】本発明に係る電圧検出回路は、請求項4に
記載したように、前記誤差データは、電圧値が既知の複
数の電圧源の電圧値を検出して得られたデータに基づい
て算出されたことを特徴とする。これにより、既知の電
圧値を持つ複数の電圧源の電圧値を予め検出するので、
補正のための計算式を確定でき、より正確な誤差データ
を得ることができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る実施の形態を
図面に基づいて詳細に説明する。図1は、本発明に係る
実施の形態の電圧検出回路の構成を示す図である。図2
は、電圧検出回路における1つの蓄電素子の電圧検出に
対応するチャンネルの入力電圧と出力されたデジタルデ
ータとを示すグラフである。図1に示すように、本実施
の形態の電圧検出回路10は、直列に接続されたn個の
蓄電素子(被測定物)B1,B2,・・・・,Bnに対
し、各蓄電素子の正極端子と負極端子との端子間の電圧
値をそれぞれ検出し、出力するように構成されている。
【0014】電圧検出回路10は、チャンネルCH1,
CH2,・・・・,CHn(1つの蓄電素子の電圧検出
に対応する部分を“チャンネル”と記す)、選択回路1
1、CPU(演算手段)12、EEPROM(記憶装
置)13を有する。各チャンネルCH1,CH2,・・
・・,CHnは、それぞれ減算回路(電圧変換手段)1
41,142,・・・・,14nと、A/D変換回路
(アナログ・デジタル変換手段)AD1,AD2,・・
・・,ADnとによって構成されている。CH1の減算
回路141は、抵抗R11,R21,R31,R41と
オペアンプOP1とによって構成されている。同様に、
CH2の減算回路142は、抵抗R12,R22,R3
2,R42とオペアンプOP2とによって構成され、減
算回路14nは、抵抗R1n,R2n,R3n,R4n
とオペアンプOPnとによって構成されている。
【0015】電圧検出回路10の被測定物である蓄電素
子B1の正極端子と負極端子との端子間に、チャンネル
CH1を構成する減算回路141が接続され、蓄電素子
B1の正極端子電圧から負極端子電圧を減算する。その
結果の出力電圧は、A/D変換回路AD1に入力され、
デジタルの電圧値に変換して出力する。このA/D変換
回路AD1の出力は、チャンネルCH1の出力データと
して、選択回路11に入力される。
【0016】同様にして、蓄電素子B2,・・・,Bn
に対応するチャンネルCH2,・・・・,CHnの出力
データが、選択回路11に入力される。
【0017】選択回路11は、上記のチャンネルCH
1,CH2,・・・・,CHnから入力されたデータの
いずれかを選択して出力する。この出力されたデータ
は、CPU12に入力される。また、EEPROM13
から出力された誤差データが、CPU12に入力され
て、この誤差データを用いて選択回路11から出力され
たデータがCPU12内で補正演算によって補正され
る。
【0018】次に、上記誤差データ算出および補正演算
について説明する。理想的には、任意のチャンネルの入
力端子間に任意の入力電圧を与えて、この電圧値を検出
した場合、任意のチャンネルの入力電圧Eと出力された
デジタルデータ(理想的な第2のデジタルデータ)Xと
の関係は、図2の(a)に示すグラフに示すの直線で
あらわすことができる。この関係は、以下の式(1)で
あらわされる。 X=(2n/Emax)×E ・・・・・・・・・・・・・・(1) ここで、EmaxはA/D変換回路に入力できる最大電圧
であり、2nはA/D変換回路の分解能である(nはデ
ジタルのビット数)。
【0019】ところが、実際に検出した場合は、減算回
路の各素子の特性(抵抗値やオペアンプ特性等)のばら
つきにより、任意のチャンネルの入力電圧Eと出力され
たデジタルデータ(第1のデジタルデータ)Xdとの関
係は図2の(a)に示すグラフに示すの直線となり、
以下の式(2)であらわされる。 Xd=a×(2n/Emax)×E+b ・・・・・・・・・・・(2) この式(2)の補正係数a,bによって、補正すること
により、Xが次の補正の式(3)によって求められる。 X=(Xd−b)/a ・・・・・・・・・・・(3)
【0020】上記の補正係数a,bは、電圧値が既知の
電圧源などを複数(少なくとも2つ)検出することによ
って、求めることができる。また、検出した電圧値の直
線は、図2の(b)に示すグラフのように、理想特性
の直線の上にほぼ並行となる場合などもある。
【0021】なお、微視的に見た場合は、図2の
(a),(b)の直線,はA/D変換回路の分解能
n(n=8の場合は256)段の階段状であるが、上
記のように直線に近似しても精度上、ほとんど問題は無
い。
【0022】次に、補正係数a,bの算出の一例を説明
する。最大電圧Emaxが5V、A/D変換回路の分解能
が28=256(n=8ビット)の場合について、例え
ば、電圧値が4Vの既知の電圧源と、2Vの既知の電圧
源との電圧値を検出し、それぞれ検出した電圧値が3.
8Vと2.2Vとであったとする。
【0023】この場合、チャンネルのA/D変換回路か
ら出力されたデジタルデータXdが195(3.8V相
当),113(2.2V相当)となり、これらの数値を
(2)式に代入すると、以下の式(4)、式(5)とな
る。 195=4×(256/5)×a+b ・・・・・・・・・・・(4) 113=2×(256/5)×a+b ・・・・・・・・・・・(5) 式(4)、式(5)を連立方程式として補正係数a,b
を求めると、a=0.8、b=31が得られる。この補
正係数a,bをEEPROM13に格納する。
【0024】このように、予め各チャンネルごとに上述
の既知の電圧源の電圧検出を行う。チャンネルごとに検
出された電圧値によって、上述のようにして算出された
補正係数a,bは、誤差データとして、それぞれEEP
ROM13に格納される。
【0025】次に、実際に蓄電素子等の測定物の電圧値
を検出するときに、各チャンネルのA/D変換回路から
出力されたデジタルデータXdと、予めEEPROM1
3に格納された誤差データ(各チャンネルの補正係数
a,b)を、CPU12に出力する。CPU12は入力
された各データを、その内部の演算処理(前記(3)式
に代入する)によって、補正されたデジタルデータXを
算出し、正確な電圧値を検出することができる。
【0026】なお、上記の例ではA/D変換回路の分解
能が8ビットのものを用いたが、分解能が異なるもので
も良く、例えば、より分解能が高い分解能が10ビット
のA/D変換回路を用いればより精度の高い電圧値を得
ることができる。
【0027】このようにして、誤差データ(各チャンネ
ルの補正係数a,b)をEEPROM13に予め格納し
ておき、検出時にCPU12によって補正演算処理され
ることにより、全てのチャンネルにおいて正確な電圧値
を検出することができる。
【0028】次に、本実施の形態を適用した応用例につ
いて、図を用いて説明する。図3は、本発明に係る実施
の形態の電圧検出回路の一適用例の構成を示す図であ
る。図3に示すように、電圧検出回路10は、直列に接
続されたn個の蓄電素子(被測定物)B1,B2,・・
・・,Bnに対し、各蓄電素子の正極端子と負極端子と
の端子間の電圧値をそれぞれ検出し、出力するように構
成されている。さらに、電圧検出回路10のCPUから
出力されたデータは、フォトカプラ等のアイソレータ2
1を介して外部に設けられたホスト側の制御装置22に
入力される。このように、電圧検出回路10とホスト側
の制御装置22とは、アイソレータ21によって電気的
に絶縁されている。
【0029】図3に示した適用例において、外部に設け
られたホスト側の制御装置22は、チャンネルを指定す
る信号を電圧検出回路10に送信し、電圧検出回路10
は、この信号に基づいて指定されたチャンネルの補正演
算処理されたデータを送信するものである。
【0030】なお、補正係数a,bの算出は、電圧検出
回路を製品として出荷する前に、例えば、工場における
出荷検査の際に行っておけば、予め、誤差データをEE
PROMに書き込んでから、出荷することができる。
【0031】なお、記憶装置としては、EEPROMの
他に、PROM,マスクROM,フラッシュメモリやそ
の他の不揮発性の半導体メモリ等を用いても良い。
【0032】
【発明の効果】本発明によれば、請求項1に記載したよ
うに、被測定物の電圧を変換してアナログの電圧値を出
力する電圧変換手段と、前記電圧変換手段により変換さ
れたアナログの電圧値を入力し、デジタルデータに変換
して出力するアナログ・デジタル変換手段とを備えた電
圧検出回路において、前記電圧変換手段に所定電圧を付
与して得られる第1のデジタルデータと、前記電圧変換
手段および前記アナログ・デジタル変換手段に対する入
力データと出力データとの関係式より得られる理想的な
第2のデジタルデータと、の差異に基づいて求めた誤差
データを記憶しておく記憶手段と、前記アナログ・デジ
タル変換手段から出力される前記被測定物のデジタルデ
ータを、前記記憶手段から読み出した前記誤差データに
より補正して、前記被測定物の補正電圧値を求める演算
手段と、を有するので、被測定物の電圧をデジタルデー
タ化して検出し、電圧変換手段を構成する構成素子の特
性のばらつきを誤差データにより補正することができ、
製造コストを低減することが可能な電圧検出回路を提供
できる。
【0033】本発明によれば、請求項2に記載したよう
に、電圧変換手段とアナログ・デジタル変換手段とを複
数具備し、複数のアナログ・デジタル変換手段から出力
されたデジタルデータが入力され、選択したデジタルデ
ータを演算手段に出力する選択回路を有するので、特性
が揃った素子を用意する必要がなく、構成素子の選別作
業時間を短縮可能な電圧検出回路を提供できる。
【0034】本発明によれば、請求項3に記載したよう
に、電圧変換手段が、被測定物の正極端子電圧から負極
端子電圧を減算する減算回路により、被測定物の電圧を
変換するので、被測定物の正極端子電圧から負極端子電
圧を減算して、被測定物の電圧を変換する比較的簡易な
回路構成で正確な電圧値を検出可能な電圧検出回路を提
供できる。
【0035】本発明に係る電圧検出回路は、請求項4に
記載したように、誤差データが、電圧値が既知の複数の
電圧源の電圧値を検出して得られたデータに基づいて算
出されたので、補正のための計算式を確定でき、より正
確な誤差データを得ることが可能な電圧検出回路を提供
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る実施の形態の電圧検出回路の構成
を示す図である。
【図2】本発明に係る実施の形態の電圧検出回路におけ
るチャンネルの入力電圧と出力されたデジタルデータと
の関係を示すグラフである。
【図3】本発明に係る実施の形態の電圧検出回路の一適
用例の構成を示す図である。
【図4】従来の電圧検出回路の構成を示す図である。
【符号の説明】
10 電圧検出回路 11 選択回路 12 CPU(演算手段) 13 EEPROM(記憶手段) 141,142,14n 減算回路 AD1,AD2,ADn A/D変換回路 B1,B2,Bn 蓄電素子(被測定物) CH1,CH2,CHn チャンネル OP1,OP2,OPn オペアンプ R11,R21,R31,R41 抵抗 R12,R22,R32,R42 抵抗 R1n,R2n,R3n,R4n 抵抗

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定物の電圧を変換してアナログの電
    圧値を出力する電圧変換手段と、前記電圧変換手段によ
    り変換されたアナログの電圧値を入力し、デジタルデー
    タに変換して出力するアナログ・デジタル変換手段とを
    備えた電圧検出回路において、 前記電圧変換手段に所定電圧を付与して得られる第1の
    デジタルデータと、前記電圧変換手段および前記アナロ
    グ・デジタル変換手段に対する入力データと出力データ
    との関係式より得られる理想的な第2のデジタルデータ
    と、の差異に基づいて求めた誤差データを記憶しておく
    記憶手段と、 前記アナログ・デジタル変換手段から出力される前記被
    測定物のデジタルデータを、前記記憶手段から読み出し
    た前記誤差データにより補正して、前記被測定物の補正
    電圧値を求める演算手段と、 を有することを特徴とする電圧検出回路。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の電圧検出回路であっ
    て、 前記電圧変換手段と前記アナログ・デジタル変換手段と
    を複数具備し、 複数の前記アナログ・デジタル変換手段から出力された
    デジタルデータが入力され、選択したデジタルデータを
    前記演算手段に出力する選択回路を有することを特徴と
    する電圧検出回路。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載の電圧検出回路
    であって、 前記電圧変換手段は、被測定物の正極端子電圧から負極
    端子電圧を減算する減算回路により、被測定物の電圧を
    変換することを特徴とする電圧検出回路。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3のいずれか1項に記載の電
    圧検出回路であって、 前記誤差データは、電圧値が既知の複数の電圧源の電圧
    値を検出して得られたデータに基づいて算出されたこと
    を特徴とする電圧検出回路。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004245804A (ja) * 2003-02-17 2004-09-02 Matsushita Electric Works Ltd 電気量検出センサ
JP2012220448A (ja) * 2011-04-13 2012-11-12 Dendo Sharyo Gijutsu Kaihatsu Kk 電圧測定装置、バランス補正装置、蓄電システムおよび電圧測定方法
CN106662619A (zh) * 2014-06-26 2017-05-10 雷诺有限合伙公司 具有更可靠的电压测量的蓄电池组系统
JP2022511279A (ja) * 2018-09-14 2022-01-31 グリー エレクトリック アプライアンス、インコーポレイテッド オブ チューハイ 充電装置及び充電システム

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004245804A (ja) * 2003-02-17 2004-09-02 Matsushita Electric Works Ltd 電気量検出センサ
JP2012220448A (ja) * 2011-04-13 2012-11-12 Dendo Sharyo Gijutsu Kaihatsu Kk 電圧測定装置、バランス補正装置、蓄電システムおよび電圧測定方法
CN106662619A (zh) * 2014-06-26 2017-05-10 雷诺有限合伙公司 具有更可靠的电压测量的蓄电池组系统
JP2017526903A (ja) * 2014-06-26 2017-09-14 ルノー エス.ア.エス. より信頼できる電圧測定値を用いる蓄電池システム
JP2022511279A (ja) * 2018-09-14 2022-01-31 グリー エレクトリック アプライアンス、インコーポレイテッド オブ チューハイ 充電装置及び充電システム

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