JPH1127136A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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JPH1127136A
JPH1127136A JP9196471A JP19647197A JPH1127136A JP H1127136 A JPH1127136 A JP H1127136A JP 9196471 A JP9196471 A JP 9196471A JP 19647197 A JP19647197 A JP 19647197A JP H1127136 A JPH1127136 A JP H1127136A
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JP
Japan
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input
mosfet
integrated circuit
circuit
circuit device
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JP9196471A
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Inventor
Masatoshi Sakamoto
将俊 坂本
Shinobu Yabuki
忍 矢吹
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 小振幅の入力信号に対応でき、かつ定常的な
動作電流を必要としない多数のCMOS入力回路を備え
る論理集積回路装置等の低消費電力化を図る。 【解決手段】 入力回路INC1を、小振幅の入力信号
Vin1を共通に受ける入力MOSFETP1及びN1
と、これらのソース側に設けられる論理スレッシホルド
制御MOSFETP6とを含む入力インバータV1をも
とに構成するとともに、これと同一構成で、入力端子に
リファレンス電圧VREFを受ける制御インバータV4
と、一方の入力端子に制御インバータの出力信号を受
け、他方の入力端子に所定の中間電圧VHを受ける差動
回路DCとを含む論理スレッシホルド制御回路VLTC
を複数の入力回路に共通に設け、差動回路の実質的な非
反転又は反転出力信号たる制御電圧VCを、入力回路及
び論理スレッシホルド制御回路のMOSFETP6及び
P7のゲートに供給する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は半導体集積回路装
置に関し、例えば、CMOS(相補MOS)型の多数の
入力回路(入力バッファ)を備える論理集積回路装置な
らびにその低消費電力化に利用して特に有効な技術に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】Pチャンネル及びNチャンネルMOSF
ET(金属酸化物半導体型電界効果トランジスタ。この
明細書では、MOSFETをして絶縁ゲート型電界効果
トランジスタの総称とする)が組み合わされてなり、そ
の振幅が例えば1.2V(ボルト)のように比較的小さ
な入力信号を受けてCMOSレベルの内部入力信号に変
換するいわゆるCMOS型の入力回路があり、このよう
な入力回路を多数備える論理集積回路装置等の半導体集
積回路装置がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】論理集積回路装置等に
搭載されるCMOS型の入力回路は、例えば図9に示さ
れるように、差動形態のPチャンネルMOSFETPB
及びPCを含む差動回路をその基本構成要素とする。こ
の差動回路の一方の入力端子となる入力MOSFETP
Bのゲートには、所定の外部端子を介して小振幅の入力
信号Vinが供給され、その他方の入力端子となるMO
SFETPCのゲートには、所定のリファレンス電圧V
REFが供給される。差動MOSFETPB及びPCの
ドレイン側には、NチャンネルMOSFETND及びN
Eからなるカレントミラー型のアクティブ負荷が設けら
れ、入力MOSFETPBのドレインにおける電位は、
インバータV9及びVAを経た後、内部入力信号ISと
なる。
【0004】これにより、MOSFETPB及びPCを
中心とする差動回路は、リファレンス電圧VREFをそ
の論理スレッシホルドレベルとするレベル判定回路とし
て作用し、入力信号Vinのレベルがリファレンス電圧
VREFより高いときは、内部入力信号ISを接地電位
VSSのようなCMOSレベルのロウレベルとし、入力
信号Vinのレベルがリファレンス電圧VREFより低
いときには、電源電圧VDDのようなCMOSレベルの
ハイレベルとする。
【0005】ところが、論理集積回路装置の大規模化が
進みその入力回路の所要数が増えるにしたがって、上記
CMOS型の入力回路には次のような問題点が生じた。
すなわち、上記CMOS入力回路INCでは、差動回路
の負荷となるMOSFETND及びNEを介して定常的
に所定の動作電流が流される。この動作電流は、論理集
積回路装置の大規模化が進みその入力回路の所要数が増
えるに従って大きくなり、これによって論理集積回路装
置の低消費電力化が阻害される。
【0006】この発明の目的は、小振幅の入力信号に対
応できかつ定常的な動作電流を必要としないCMOS型
の入力回路を実現することにある。この発明の他の目的
は、多数のCMOS入力回路を備える論理集積回路装置
等の定常的な動作電流を削減し、その低消費電力化を図
ることにある。
【0007】この発明の前記ならびにその他の目的と新
規な特徴は、この明細書の記述及び添付図面から明らか
になるであろう。
【0008】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次
の通りである。すなわち、論理集積回路装置等に搭載さ
れるCMOS型の入力回路を、そのゲートに小振幅の入
力信号を共通に受けるPチャンネル型及びNチャンネル
型の入力MOSFETと、これらの入力MOSFETの
ソース側に設けられるPチャンネル型又はNチャンネル
型の論理スレッシホルド制御MOSFETとを含む入力
インバータをもとに構成するとともに、入力インバータ
と同一構成とされその入力端子に所定のリファレンス電
圧を受ける制御インバータと、その一方の入力端子に制
御インバータの実質的な出力信号を受けその他方の入力
端子に所定の中間電圧を受ける差動回路とを含む論理ス
レッシホルド制御回路を複数の入力回路に共通に設け、
差動回路の実質的な非反転又は反転出力信号を、入力回
路の入力インバータ及び論理スレッシホルド制御回路の
制御インバータを構成する論理スレッシホルド制御MO
SFETのゲートに供給する。
【0009】上記した手段によれば、定常的な動作電流
を流すことなく、論理集積回路装置等に搭載される入力
回路の入力インバータの論理スレッシホルドレベルをリ
ファレンス電圧に設定することができるため、小振幅の
入力信号に対応できかつ定常的な動作電流を必要としな
いCMOS型の入力回路を実現することができる。この
結果、多数のCMOS入力回路を備える論理集積回路装
置等の定常的な動作電流を削減し、その低消費電力化を
図ることができる。
【0010】
【発明の実施の形態】図1には、この発明が適用された
論理集積回路装置LLSIの一実施例のブロック図が示
されている。また、図2には、図1の論理集積回路装置
LLSIに含まれる入力回路INC1の一実施例の回路
図が示され、図3には論理スレッシホルド制御回路VL
TCの一実施例の回路図が示されている。さらに、図4
には、図2の入力回路INC1の一実施例の動作特性図
が示され、図5には、図3の論理スレッシホルド制御回
路VLTCの一実施例の動作特性図が示されている。こ
れらの図をもとに、この実施例の論理集積回路装置LL
SI及び入力回路INC1の構成及び動作ならびにその
特徴について説明する。なお、図1の各ブロックを構成
する回路素子は、公知のCMOS集積回路の製造技術に
より、単結晶シリコンのような1個の半導体基板上に形
成される。また、以下の回路図において、そのチャンネ
ル(バックゲート)部に矢印が付されるMOSFETは
Pチャンネル型(第1導電型)であって、矢印の付され
ないNチャンネル型(第2導電型)MOSFETと区別
して示される。さらに、入力回路INC1〜INCmに
関する以下の説明は、図2の入力回路INC1を例に進
めるが、他の入力回路INC2〜INCmについては同
一構成とされるため、類推されたい。
【0011】図1において、この実施例の論理集積回路
装置LLSIは、特に制限されないが、多数の論理ゲー
トが組み合わされてなる論理部LCをその中心的構成要
素とする。論理集積回路装置LLSIは、さらに、m個
の入力回路INC1〜INCmと、これらの入力回路に
共通に設けられるそれぞれ1個の論理スレッシホルド制
御回路VLTC及び中間電圧発生回路VHGとを備え
る。
【0012】入力回路INC1〜INCmには、外部端
子Vin1〜Vinmを介して入力信号Vin1〜Vi
nmがそれぞれ供給され、その出力信号は内部入力信号
IS1〜ISmとして論理部LCに供給される。入力回
路INC1〜INCmには、さらに、論理スレッシホル
ド制御回路VLTCから所定の制御電圧VCが共通に供
給される。論理スレッシホルド制御回路VLTCには、
外部端子VREFを介して所定のリファレンス電圧VR
EFが供給され、中間電圧発生回路VHGから所定の中
間電圧VHが供給される。また、中間電圧発生回路VH
Gには、外部端子VDDを介して高電位側電源電圧つま
り電源電圧VDDが供給され、外部端子VSSを介して
低電位側電源電圧つまり接地電位VSSが供給される。
中間電圧発生回路VHGは、電源電圧VDD及び接地電
位VSSをもとに、その中間電位とされる中間電圧VH
を形成して、論理スレッシホルド制御回路VLTCに供
給する。電源電圧VDD及び接地電位VSSは、その動
作電源として、論理集積回路装置LLSIの他のすべて
のブロックにも供給される。
【0013】この実施例において、電源電圧VDDは、
特に制限されないが、+3.3Vとされ、入力信号Vi
n1〜Vinmは、例えばそのハイレベルを+1.2V
としそのロウレベルを0Vつまり接地電位VSSとする
小振幅のデジタル信号とされる。また、リファレンス電
圧VREFは、入力信号Vin1〜Vinmのハイレベ
ル及びロウレベルの中間電位つまり+0.6Vとされ、
中間電圧VHは、電源電圧VDD及び接地電位VSSの
中間電位つまり+1.65Vとされる。後の説明から明
らかなように、リファレンス電圧VREFは、入力回路
INC1〜INCmの論理スレッシホルドレベルVLT
を設定するための基準電圧として用いられ、中間電圧V
Hは、論理スレッシホルド制御回路VLTCを構成する
インバータV6つまりは入力回路INC1〜INCmを
構成するインバータV3の出力反転電位を識別するため
の基準電圧として用いられる。
【0014】ここで、入力回路INC1〜INCmは、
図2の入力回路INC1に代表されるように、入力イン
バータV1を含み、入力インバータV1は、そのゲート
に入力信号Vin1を共通に受けるPチャンネル型の入
力MOSFETP1(第1のMOSFET)及びNチャ
ンネル型の入力MOSFETN1(第2のMOSFE
T)を含む。入力MOSFETP1のソースは電源電圧
VDDに結合され、入力MOSFETN1のソースは、
Nチャンネル型の論理スレッシホルド制御MOSFET
N2(第4のMOSFET)を介して接地電位VSSに
結合される。論理スレッシホルド制御MOSFETN2
のゲートには、論理スレッシホルド制御回路VLTCか
ら制御電圧VC(第2の制御電圧)が供給される。ま
た、入力MOSFETP1及びN1の共通結合されたド
レインにおける電位は、2個のインバータV2及びV3
を経た後、入力回路INC1の出力信号つまり内部入力
信号IS1として論理集積回路装置LLSIの論理部L
Cに供給される。
【0015】この実施例において、入力インバータV1
は、上記のようにそのゲートに制御電圧VCを受ける論
理スレッシホルド制御MOSFETN2を含むため、そ
の論理スレッシホルドレベルVLTは、制御電圧VCが
高くされることにより所定の傾斜をもって低くされ、制
御電圧VCが低くされることによって高くされる。一
方、制御電圧VCの電位は、後述する論理スレッシホル
ド制御回路VLTCの制御インバータV4の論理スレッ
シホルドレベルVLTがリファレンス電圧VREFとな
るべく制御され、これによって入力インバータV1の論
理スレッシホルドレベルVLTも自動的にリファレンス
電圧VREFに設定される。
【0016】図4の点Aに例示されるように、入力信号
Vin1が小振幅のロウレベルつまり例えば接地電位V
SSとされ入力インバータV1の論理スレッシホルドレ
ベルVLTつまりリファレンス電圧VREFより低いと
き、入力インバータV1では入力MOSFETP1がオ
ン状態となり、入力MOSFETN1はオフ状態とな
る。このため、入力インバータV1の出力信号は、イン
バータV2の論理スレッシホルドレベルたる中間電圧V
Hを超えて高くなり、インバータV2の出力信号は接地
電位VSSのようなCMOSレベルのロウレベルとな
る。このため、インバータV3つまり入力回路INC1
の出力信号すなわち内部入力信号IS1は、電源電圧V
DDのようなCMOSレベルのハイレベルとなる。
【0017】一方、図4の点Cに例示されるように、入
力信号Vin1が小振幅のハイレベルつまり例えば+
1.2Vとされリファレンス電圧VREFより高いと
き、入力インバータV1では、入力MOSFETP1が
オフ状態となり、代わって入力MOSFETN1がオン
状態となる。このため、入力インバータV1の出力信号
が中間電圧VHより低くなり、インバータV2の出力信
号は、電源電圧VDDのようなCMOSレベルのハイレ
ベルとなって、内部入力信号IS1は、接地電位VSS
のようなCMOSレベルのロウレベルとなる。
【0018】次に、論理スレッシホルド制御回路VLT
Cは、図3に示されるように、制御インバータV4及び
差動回路DCと、バッファ回路として制御インバータV
4の出力信号を差動回路DCの一方の入力端子に伝達す
る2個のインバータV5及びV6を含む。このうち、制
御インバータV4は、そのゲートにリファレンス電圧V
REF(第1の基準電圧)を共通に受けるPチャンネル
MOSFETP2(第5のMOSFET)及びNチャン
ネルMOSFETN3(第6のMOSFET)を含み、
差動回路DCは、差動形態とされる一対のPチャンネル
MOSFETP4及びP5を含む。制御インバータV4
を構成するMOSFETP2のソースは電源電圧VDD
に結合され、MOSFETN3のソースは、Nチャンネ
ル型の論理スレッシホルド制御MOSFETN4(第8
のMOSFET)を介して接地電位VSSに結合され
る。なお、制御インバータV4を構成するMOSFET
P2ならびにN3及びN4は、入力回路INC1の入力
インバータV1を構成するMOSFETP1ならびにN
1及びN2とそれぞれ同一サイズで形成され、インバー
タV5及びV6はインバータV2及びV3と同一サイズ
とされる。
【0019】差動回路DCを構成する差動MOSFET
P4及びP5の共通結合されたソースは、そのゲートに
接地電位VSSを受けるPチャンネルMOSFETP3
を介して電源電圧VDDに結合される。また、差動MO
SFETP4及びP5のドレインは、ミラー形態とされ
アクティブ負荷として作用する一対のNチャンネルMO
SFETN5及びN6を介して、接地電位VSSに結合
される。差動回路DCの一方の入力端子つまり内部ノー
ドn1すなわち差動MOSFETP4のゲートには、イ
ンバータV5及びV6を介して制御インバータV4の出
力信号が供給され、その他方の入力端子つまり差動MO
SFETP5のゲートには中間電圧VH(第2の基準電
圧)が供給される。差動回路DCの反転出力信号つまり
差動MOSFETP4のドレイン電位は、インバータV
7を経た後、制御電圧VCとして入力回路INC1〜I
NCmに供給されるとともに、制御インバータV4の論
理スレッシホルド制御MOSFETN4のゲートにも供
給される。
【0020】前述のように、リファレンス電圧VREF
は、入力信号Vin1のハイレベル及びロウレベルの中
間電位つまり例えば+0.6Vとされ、中間電圧VH
は、電源電圧VDD及び接地電位VSS間の中間電位つ
まり例えば+1.65Vとされる。図5の点Dに例示さ
れるように、論理スレッシホルド制御回路VLTCを構
成する制御インバータV4の論理スレッシホルドレベル
VLTがリファレンス電圧VREFより高いとき、その
出力信号つまりMOSFETP2及びN3の共通結合さ
れたドレインにおける電位は、インバータV5の論理ス
レッシホルドレベルを超えて高くなる。このため、イン
バータV5の出力信号が中間電圧VHより低くなり、こ
れを受けるインバータV6の出力信号つまり内部ノード
n1における電位は中間電圧VHより高くなる。これに
より、差動MOSFETP4のコンダクタンスが小さく
なってそのドレイン電位が低くなり、インバータV7の
出力信号つまり制御電圧VCの電位が高くなる。この結
果、論理スレッシホルド制御MOSFETN4のコンダ
クタンスが大きくなり、これによって制御インバータV
4の論理スレッシホルドレベルVLTが図の矢印に沿っ
て低くされる。
【0021】一方、図5の点Fに例示されるように、論
理スレッシホルド制御回路VLTCを構成する制御イン
バータV4の論理スレッシホルドレベルVLTがリファ
レンス電圧VREFより低いとき、その出力信号つまり
MOSFETP2及びN3の共通結合されたドレインに
おける電位は、インバータV5の論理スレッシホルドレ
ベルより低くなる。このため、インバータV5の出力信
号が中間電圧VHより高くなり、これを受けるインバー
タV6の出力信号つまり内部ノードn1における電位は
中間電圧VHより低くなる。これにより、差動MOSF
ETP4のコンダクタンスが大きくなってそのドレイン
電位が上昇し、インバータV7の出力信号つまり制御電
圧VCの電位が低くなる。この結果、論理スレッシホル
ド制御MOSFETN4のコンダクタンスが小さくな
り、これによって制御インバータV4の論理スレッシホ
ルドレベルVLTが図の矢印に沿って高くされる。
【0022】このように、この実施例の論理スレッシホ
ルド制御回路VLTCを構成する制御インバータV4の
論理スレッシホルドレベルVLTは、差動回路DCを介
する帰還経路の作用によって自動的に図5の点Eつまり
リファレンス電圧VREFに収束すべく制御される訳で
あって、そのゲートに制御電圧VCを受ける論理スレッ
シホルド制御MOSFETN1を含み、同一サイズで形
成される入力回路INC1の入力インバータV1の論理
スレッシホルドレベルVLTも自ずとリファレンス電圧
VREFに設定される。このことは、入力回路INC1
と同一構成とされる他の入力回路INC2〜INCmに
おいても同様である。
【0023】図2から明らかなように、入力回路INC
1〜INCmは、ミラー形態の負荷手段を含まず、また
入力MOSFETP1及びN1が互いに相補的にオン状
態とされることもあって定常的な動作電流を流さない。
言い換えるならば、この実施例では、定常的な動作電流
を流すことなく、入力回路INC1〜INCmの論理ス
レッシホルドレベルVLTをリファレンス電圧VREF
に設定できる訳であって、小振幅の入力信号Vin1〜
Vinmに対応できかつ定常的な動作電流を必要としな
いCMOS型入力回路を実現できるものとなる。この結
果、CMOS入力回路INC1〜INCmを備える論理
集積回路装置LLSIの定常的な動作電流を削減し、そ
の低消費電力化を図ることができるものである。
【0024】図6には、この発明が適用された論理集積
回路装置LLSIに含まれる入力回路INC1及び論理
スレッシホルド制御回路VLTCの第2の実施例の回路
図が示され、図7には、その第3の実施例の回路図が示
されている。なお、これらの実施例は、前記図2ないし
図5の実施例を基本的に踏襲するものであるため、これ
と異なる部分についてのみ説明を追加する。
【0025】図6において、入力回路INC1は入力イ
ンバータV1を含み、この入力インバータV1は、その
ゲートに入力信号Vin1を共通に受けるPチャンネル
型の入力MOSFETP1及びNチャンネル型の入力M
OSFETN1と、入力MOSFETP1のソース側に
設けられたPチャンネル型の論理スレッシホルド制御M
OSFETP6(第3のMOSFET)とを含む。この
論理スレッシホルド制御MOSFETP6のゲートに
は、論理スレッシホルド制御回路VLTCから制御電圧
VC(第1の制御電圧)が供給される。
【0026】次に、論理スレッシホルド制御回路VLT
Cは、制御インバータV4及び差動回路DCと、バッフ
ァ回路となる2個のインバータV5及びV6を含む。こ
のうち、制御インバータV4は、そのゲートにリファレ
ンス電圧VREFを共通に受けるPチャンネルMOSF
ETP2及びNチャンネルMOSFETN3を含み、差
動回路DCは、差動形態とされる一対のNチャンネルM
OSFETN7及びN8を含む。制御インバータV4を
構成するMOSFETN2のソースは、Pチャンネル型
の論理スレッシホルド制御MOSFETP7(第7のM
OSFET)を介して電源電圧VDDに結合され、MO
SFETN3のソースは接地電位VSSに結合される。
なお、制御インバータV4を構成するMOSFETP2
及びP7ならびにN3は、入力回路INC1の入力イン
バータV1を構成するMOSFETP1及びP6ならび
にN1とそれぞれ同一サイズで形成される。
【0027】差動回路DCを構成する差動MOSFET
N7及びN8の共通結合されたソースは、そのゲートに
電源電圧VDDを受けるNチャンネルMOSFETN9
を介して接地電位VSSに結合される。また、差動MO
SFETN7及びN8のドレインは、ミラー結合される
ことでアクティブ負荷として作用する一対のPチャンネ
ルMOSFETP8及びP9を介して電源電圧VDDに
結合される。差動回路DCの一方の入力端子つまり内部
ノードn2すなわち差動MOSFETN7のゲートに
は、インバータV5及びV6を介して制御インバータV
4の出力信号が供給され、その他方の入力端子つまり差
動MOSFETN8のゲートには中間電圧VH(第2の
基準電圧)が供給される。差動回路DCの反転出力信号
つまり差動MOSFETN7のドレイン電位は、インバ
ータV8を経た後、制御電圧VCとして入力回路INC
1〜INCmに供給されるとともに、制御インバータV
4の論理スレッシホルド制御MOSFETP7のゲート
に供給される。
【0028】論理スレッシホルド制御回路VLTCの制
御インバータV4の論理スレッシホルドレベルVLTが
リファレンス電圧VREFより高いとき、その出力信号
つまりMOSFETP2及びN3の共通結合されたドレ
イン電位はインバータV5の論理スレッシホルドレベル
を超えて高くなる。このため、インバータV5の出力信
号が中間電圧VHより低くなり、これを受けるインバー
タV6の出力信号つまり内部ノードn2の電位は中間電
圧VHより高くなる。これにより、差動MOSFETN
7のコンダクタンスが大きくなってそのドレイン電位が
低くなり、インバータV8の出力信号つまり制御電圧V
Cの電位が高くなる。この結果、論理スレッシホルド制
御MOSFETP7のコンダクタンスが小さくなり、制
御インバータV4の論理スレッシホルドレベルVLTが
低くされる。
【0029】一方、論理スレッシホルド制御回路VLT
Cを構成する制御インバータV4の論理スレッシホルド
レベルVLTがリファレンス電圧VREFより低いと
き、その出力信号つまりMOSFETP2及びN3の共
通結合されたドレインにおける電位は、インバータV5
の論理スレッシホルドレベルより低くなる。このため、
インバータV5の出力信号が中間電圧VHより高くな
り、これを受けるインバータV6の出力信号つまり内部
ノードn2の電位は中間電圧VHより低くなる。これに
より、差動MOSFETN7のコンダクタンスが小さく
なってそのドレイン電位が上昇し、制御電圧VCの電位
が低くなる。この結果、論理スレッシホルド制御MOS
FETP7のコンダクタンスが大きくなり、これによっ
て制御インバータV4の論理スレッシホルドレベルVL
Tが高くされる。
【0030】このように、この実施例の論理スレッシホ
ルド制御回路VLTCを構成する制御インバータV4の
論理スレッシホルドレベルVLTは、差動回路DCを介
する帰還経路の作用によって自動的にリファレンス電圧
VREFに収束すべく制御される訳であって、そのゲー
トに制御電圧VCを受ける論理スレッシホルド制御MO
SFETP6を含み、同一サイズで形成される入力回路
INC1の入力インバータV1の論理スレッシホルドレ
ベルVLTも自ずとリファレンス電圧VREFに設定さ
れる。また、入力回路INC1〜INCmは、前記図2
ないし図5の実施例の場合と同様に定常的な動作電流を
流さず、これによってCMOS入力回路INC1〜IN
Cmを搭載する論理集積回路装置LLSIの定常的な動
作電流を削減し、その低消費電力化を図ることができる
ものである。
【0031】なお、図7に示した第3の実施例は、図2
及び図6の実施例を組み合わせて、入力インバータV1
を構成する両方の入力MOSFETP1及びN1のソー
ス側にそれぞれPチャンネル型及びNチャンネル型の論
理スレッシホルド制御MOSFETP6及びN2を設け
たものであって、入力インバータV1の論理スレッシホ
ルドレベルVLTを比較的速やかにリファレンス電圧V
REFに設定できるとともに、図2及び図6の実施例と
同様な効果を得ることができる。
【0032】図8には、この発明が適用された論理集積
回路装置LLSIに含まれる入力回路INC1の第4の
実施例の回路図が示されている。なお、この実施例は、
前記図2ないし図5の実施例を基本的に踏襲するもので
あるため、これと異なる部分についてのみ説明を追加す
る。
【0033】図8において、入力回路INC1は、特に
制限されないが、入力インバータV1を構成する入力M
OSFETN1のソースと接地電位VSSとの間に並列
形態に設けられるNチャンネル型の3個の論理スレッシ
ホルド制御MOSFETNA〜NCを含む。これらの論
理スレッシホルド制御MOSFETのゲートには、論理
集積回路装置LLSIの図示されない論理スレッシホル
ド制御回路VLTCから制御電圧VCD0〜VCD2が
それぞれ供給される。
【0034】この実施例において、制御電圧VCD0〜
VCD2は、3ビット構成のデジタル信号であって、論
理スレッシホルド制御MOSFETNA〜NCのオン状
態時のコンダクタンスは、順次例えば2のべき乗倍で大
きくされる。このため、例えば制御電圧VCD0がハイ
レベルとされ制御電圧VCD1及びVCD2がロウレベ
ルとされるときには、論理スレッシホルド制御MOSF
ETNAのみがオン状態となって、入力インバータV1
の論理スレッシホルドレベルVLTは最も高くなる。ま
た、例えば制御電圧VCD0〜VCD2がすべてハイレ
ベルとされるときには、論理スレッシホルド制御MOS
FETNA〜NCが一斉にオン状態となり、入力インバ
ータV1の論理スレッシホルドレベルVLTは最も低く
なる。論理スレッシホルド制御回路VLTCは、入力イ
ンバータV1と同一サイズの制御インバータを含み、制
御電圧VCD0〜VCD2は、この制御インバータの論
理スレッシホルドレベルがリファレンス電圧VREFと
なるべく選択的に形成される。この結果、入力インバー
タV1の論理スレッシホルドレベルVLTを自動的にリ
ファレンス電圧VREFに設定することができ、これに
よって前記図2ないし図7の実施例と同様な効果を得る
ことができるものとなる。
【0035】以上の実施例から得られる作用効果は、下
記の通りである。すなわち、 (1)論理集積回路装置等に搭載されるCMOS型の入
力回路を、そのゲートに小振幅の入力信号を共通に受け
るPチャンネル型及びNチャンネル型の入力MOSFE
Tと、これらの入力MOSFETのソース側に設けられ
るPチャンネル型又はNチャンネル型の論理スレッシホ
ルド制御MOSFETとを含む入力インバータをもとに
構成するとともに、入力インバータと同一構成とされそ
の入力端子に所定のリファレンス電圧を受ける制御イン
バータと、その一方の入力端子に制御インバータの実質
的な出力信号を受けその他方の入力端子に所定の中間電
圧を受ける差動回路とを含む論理スレッシホルド制御回
路を複数の入力回路に共通に設け、差動回路の実質的な
非反転又は反転出力信号を、入力回路の入力インバータ
及び論理スレッシホルド制御回路の制御インバータを構
成する論理スレッシホルド制御MOSFETのゲートに
供給することで、定常的な動作電流を流すことなく、入
力回路の入力インバータの論理スレッシホルドレベルを
制御し、リファレンス電圧に設定することができるとい
う効果が得られる。
【0036】(2)上記(1)項において、入力回路を
構成する入力MOSFETのソース側に、複数の論理ス
レッシホルド制御MOSFETを並列形態に設け、その
ゲートにデジタル化された制御電圧の対応するビットを
供給することで、入力回路の入力インバータの論理スレ
ッシホルドレベルをデジタル的に制御し、リファレンス
電圧に設定することができるという効果が得られる。
【0037】(3)上記(1)項又は(2)項により、
小振幅の入力信号に対応できかつ定常的な動作電流を必
要としないCMOS型の入力回路を実現することができ
るという効果が得られる。 (4)上記(2)項ないし(3)項により、多数のCM
OS入力回路を備える論理集積回路装置等の定常的な動
作電流を削減し、その低消費電力化を図ることができる
という効果が得られる。
【0038】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、この発明は、上記実
施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない
範囲で種々変更可能であることは言うまでもない。例え
ば、図1において、論理スレッシホルド制御回路VLT
C及び中間電圧発生回路VHGは、入力回路INC1〜
INCmの所定数ごとに1個ずつ、複数個設けてもよ
い。また、論理集積回路装置LLSIは、例えばRAM
(ランダムアクセスメモリ)等の各種マクロセルを含む
ことができるし、そのブロック構成は種々の実施形態を
採りうる。
【0039】図8において、入力回路INC1は、入力
MOSFETP1のソース側に並列形態に設けられたP
チャンネル型の複数の論理スレッシホルド制御MOSF
ETを含むことができる。図2ないし図8において、入
力回路INC1〜INCmならびに論理スレッシホルド
制御回路VLTCのバッファ回路となるインバータの段
数は任意に設定できるし、バッファ回路となる論理ゲー
トの種類も任意に選定できる。また、各入力回路の入力
MOSFETは、所定の条件でPチャンネル又はNチャ
ンネルMOSFETのみとしてもよいし、各論理スレッ
シホルド制御MOSFETの導電型とそのゲートに供給
される差動回路DCの反転又は非反転出力信号との組み
合わせも任意に設定できる。さらに、入力回路INC1
〜INCmならびに論理スレッシホルド制御回路VLT
Cの具体的構成は、種々の実施形態を採りうるし、電源
電圧の極性及び絶対値ならびに入力信号Vin1〜Vi
nmの具体的レベル等も、種々の実施形態を採りうる。
【0040】以上の説明では、主として本発明者によっ
てなされた発明をその背景となった利用分野である論理
集積回路装置に適用した場合について説明したが、それ
に限定されるものではなく、例えば、スタティック型R
AM等の各種メモリ集積回路やゲートアレイ集積回路等
にも適用できる。この発明は、少なくともCMOS型の
複数の入力回路を含む半導体集積回路装置ならびにこの
ような半導体集積回路装置を含む装置又はシステムに広
く適用できる。
【0041】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記の通りである。すなわち、論理集積回路装置等に搭載
されるCMOS型の入力回路を、そのゲートに小振幅の
入力信号を共通に受けるPチャンネル型及びNチャンネ
ル型の入力MOSFETと、これらの入力MOSFET
のソース側に設けられるPチャンネル型又はNチャンネ
ル型の論理スレッシホルド制御MOSFETとを含む入
力インバータをもとに構成するとともに、入力インバー
タと同一構成とされその入力端子に所定のリファレンス
電圧を受ける制御インバータと、その一方の入力端子に
制御インバータの実質的な出力信号を受けその他方の入
力端子に所定の中間電圧を受ける差動回路とを含む論理
スレッシホルド制御回路を複数の入力回路に共通に設
け、その差動回路の実質的な非反転又は反転出力信号
を、入力回路の入力インバータ及び論理スレッシホルド
制御回路の制御インバータを構成する論理スレッシホル
ド制御MOSFETのゲートに供給することで、定常的
な動作電流を流すことなく、論理集積回路装置等に搭載
される入力回路の入力インバータの論理スレッシホルド
レベルをリファレンス電圧に設定することができる。こ
の結果、小振幅の入力信号に対応できかつ定常的な動作
電流を必要としないCMOS型の入力回路を実現するこ
とができ、これによって多数のCMOS入力回路を備え
る論理集積回路装置等の定常的な動作電流を削減し、そ
の低消費電力化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明が適用された論理集積回路装置の一実
施例を示すブロック図である。
【図2】図1の論理集積回路装置に含まれる入力回路の
一実施例を示す回路図である。
【図3】図1の論理集積回路装置に含まれる論理スレッ
シホルド制御回路の一実施例を示す回路図である。
【図4】図2の入力回路の一実施例を示す動作特性図で
ある。
【図5】図3の論理スレッシホルド制御回路の一実施例
を示す動作特性図である。
【図6】この発明が適用された論理集積回路装置に含ま
れる入力回路及び論理スレッシホルド制御回路の第2の
実施例を示す回路図である。
【図7】この発明が適用された論理集積回路装置に含ま
れる入力回路及び論理スレッシホルド制御回路の第3の
実施例を示す回路図である。
【図8】この発明が適用された論理集積回路装置に含ま
れる入力回路の第4の実施例を示す回路図である。
【図9】この発明に先立って本願発明者等が開発した論
理集積回路装置に含まれる入力回路の一例を示す回路図
である。
【符号の説明】
LLSI……論理集積回路装置、LC……論理部、IN
C1〜INCm……入力回路、VLTC……論理スレッ
シホルド制御回路、VHG……中間電圧発生回路、Vi
n1〜Vinm,Vin……入力信号又はその入力端
子、VREF……リファレンス電圧又はその入力端子、
VDD……電源電圧又はその入力端子、VSS……接地
電位又はその入力端子、IS1〜ISm,IS……内部
入力信号、VC……制御電圧、VH……中間電圧。V1
〜VA……インバータ、DC……差動回路、P1〜PC
……PチャンネルMOSFET、N1〜NE……Nチャ
ンネルMOSFET、n1〜n2……内部ノード。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 そのゲートに入力信号を受ける入力MO
    SFETと、 上記入力MOSFETのソース側に設けられそのゲート
    に所定の制御電圧を受ける論理スレッシホルド制御MO
    SFETとを含む入力回路を具備することを特徴とする
    半導体集積回路装置。
  2. 【請求項2】 請求項1において、 上記入力MOSFETは、そのドレインが実質共通結合
    されそのゲートに上記入力信号を共通に受ける第1導電
    型の第1のMOSFET及び第2導電型の第2のMOS
    FETからなるものであって、 上記論理スレッシホルド制御MOSFETは、上記第1
    又は第2のMOSFETのソース側にそれぞれ設けられ
    そのゲートに第1又は第2の制御電圧をそれぞれ受ける
    第1導電型の第3のMOSFET又は第2導電型の第4
    のMOSFETからなるものであることを特徴とする半
    導体集積回路装置。
  3. 【請求項3】 請求項1又は請求項2において、 上記半導体集積回路装置は、 そのドレインが実質共通結合されそのゲートに第1の基
    準電圧を共通に受ける第1導電型の第5のMOSFET
    及び第2導電型の第6のMOSFETと、 その入力端子に上記第5及び第6のMOSFETの共通
    結合されたドレインにおける電位を受けるバッファ回路
    と、 その一方の入力端子に上記バッファ回路の出力信号を受
    けその他方の入力端子に第2の基準電圧を受ける差動回
    路と、 上記第5又は第6のMOSFETのソース側にそれぞれ
    設けられそのゲートに上記差動回路の反転又は非反転出
    力信号をそれぞれ受ける第1導電型の第7のMOSFE
    T又は第2導電型の第8のMOSFETとを含む論理ス
    レッシホルド制御回路を備えるものであって、 上記第1及び第2の制御電圧は、上記第7又は第8のM
    OSFETのゲート電圧として得られるものであること
    を特徴とする半導体集積回路装置。
  4. 【請求項4】 請求項3において、 上記第1の基準電圧は、上記入力信号のロウレベル及び
    ハイレベルの中間電位とされるものであって、 上記第2の基準電圧は、上記半導体集積回路装置の高電
    位側及び低電位側電源電圧の中間電位とされるものであ
    ることを特徴とする半導体集積回路装置。
  5. 【請求項5】 請求項3又は請求項4において、 上記論理スレッシホルド制御回路は、複数の上記入力回
    路に共通に設けられるものであることを特徴とする半導
    体集積回路装置。
  6. 【請求項6】 請求項1又は請求項2において、 上記第3及び第4のMOSFETは、それぞれ並列形態
    に設けられる複数のMOSFETからなるものであっ
    て、 上記第1及び第2の制御電圧は、それぞれ複数ビットの
    デジタル信号からなるものであることを特徴とする半導
    体集積回路装置。
  7. 【請求項7】 請求項1,請求項2,請求項3,請求項
    4,請求項5又は請求項6において、 上記半導体集積回路装置は、CMOS回路を基本素子と
    する論理集積回路装置であって、 上記入力信号は、高電位側及び低電位側電源電圧間の電
    位差に比較して充分に小さな振幅とされるものであるこ
    とを特徴とする半導体集積回路装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001111407A (ja) * 1999-09-15 2001-04-20 Infineon Technologies Ag 集積半導体回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2001111407A (ja) * 1999-09-15 2001-04-20 Infineon Technologies Ag 集積半導体回路

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