JPH1126670A - 半導体装置およびその製造方法並びにそれに使用されるリードフレーム - Google Patents

半導体装置およびその製造方法並びにそれに使用されるリードフレーム

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JPH1126670A
JPH1126670A JP9189274A JP18927497A JPH1126670A JP H1126670 A JPH1126670 A JP H1126670A JP 9189274 A JP9189274 A JP 9189274A JP 18927497 A JP18927497 A JP 18927497A JP H1126670 A JPH1126670 A JP H1126670A
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JP
Japan
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tie
bar cutting
lead
semiconductor device
leads
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Yukihiro Sato
幸弘 佐藤
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Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
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Hitachi Ltd
Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ZIP・ICの蟹足を防止する。 【解決手段】 ZIP・IC32の製造方法において、
アウタリード20L、20S群に複数段のタイバーを互
いに平行に架設しておき、アウタリード20L、20S
の屈曲成形に際し、各タイバーを隣合うアウタリード間
で切断し、各タイバー切断痕15A、16A、17Aに
て屈曲させる。アウタリード20L、20Sは両脇のタ
イバーを対称形に均等に切断されるため、アウタリード
のタイバーの両脇の切断痕15A、16A、17Aは対
称形に形成された状態になる。アウタリードがタイバー
切断痕15A、16A、17Aにて屈曲されると、アウ
タリードはそれ自体の中心線に沿って適正に屈曲された
状態になる。その結果、アウタリード群が蟹足状態に成
形されるのを防止できる。 【効果】 蟹足の防止でZIP・ICをプリント配線基
板に適正に実装できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置の製造
技術、特に、リード成形技術に関し、例えば、ジグザグ
・インライン・パッケージ(zigzag in−li
ne package。以下、ZIPという。)を備え
ている半導体集積回路装置(以下、ICという。)に利
用して有効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】高い放熱性を確保するパワーICとし
て、フィン付きシングル・インライン・プラスチック・
パッケージを備えているパワーIC(以下、フィン付き
パワーICという。)がある。一般に、フィン付きパワ
ーICは半導体ペレット(以下、ペレットという。)が
放熱体にボンディングされており、このペレットに電気
的に接続されているインナリード群が放熱体に若干の間
隙をもって対向するように配置されており、ペレットお
よびインナリード群が樹脂封止体によって樹脂封止され
ている。このようなフィン付きパワーICにおいてはピ
ン数(アウタリード数)が増加すると、実装密度を高め
るために、ZIPの採用が必要になる。
【0003】なお、フィン付きパワーICを述べてある
例としては、特開平6−45475号公報、がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記し
たフィン付きパワーICにおいてZIPを採用した場合
には、アウタリードのジグザグ成形時に捩れ現象が発生
するため、アウタリードが不適性に成形されて所謂蟹足
と称される状態に不良成形されてしまうという問題点が
あることが、本発明者によって明らかにされた。
【0005】本発明の目的は、蟹足状態等の不良成形を
防止することができる半導体装置およびその製造技術を
提供することにある。
【0006】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0007】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、次の通り
である。
【0008】すなわち、半導体装置の製造方法は、アウ
タリード群に複数段のタイバーを互いに平行に架設して
おき、アウタリードの屈曲成形に際して、前記各タイバ
ーを隣合うアウタリード間でそれぞれ切断するととも
に、各切断箇所でそれぞれ屈曲させることを特徴とす
る。
【0009】前記した手段において、アウタリードは両
脇のタイバーを対称形に均等に切断されるため、アウタ
リードのタイバーの両脇の切断痕は対称形にそれぞれ形
成された状態になる。そして、アウタリードがタイバー
切断痕において屈曲されると、アウタリードはそのアウ
タリード自体の中心線に沿って適正に屈曲された状態に
なる。その結果、アウタリード群が蟹足状に成形される
のを防止することができる。
【0010】
【発明の実施の形態】図1は本発明の一実施形態である
フィン付きパワーICを示しており、(a)は一部切断
正面図、(b)は(a)のb−b線に沿う側面断面図で
ある。図2以降はその製造方法を説明するための各説明
図である。
【0011】本実施形態において、本発明に係る半導体
装置は、ZIPを備えているフィン付きパワーIC(以
下、ZIP・ICという。)として構成されている。Z
IP・IC32は、高出力の集積回路が作り込まれてい
る半導体ペレット(以下、ペレットという。)26と、
ペレット26がボンディングされている放熱体22と、
ペレット26に電気的に接続されているインナリード1
9群と、各インナリード19にそれぞれ一体的に連結さ
れているアウタリード20群と、樹脂封止体30とを備
えており、放熱体22の一部であるヘッダ部23が樹脂
封止体30の側面から露出されている。アウタリード2
0群は第1段タイバー切断痕15A、第2段タイバー切
断痕16A、第3段タイバー切断痕17Aにおいてそれ
ぞれ略クランク形状に屈曲されて、ジグザグ形状に配列
されている。
【0012】ZIP・ICは以下に説明される製造方法
によって製造されている。以下、本発明の一実施形態で
あるZIP・ICの製造方法を説明する。この説明によ
り、前記ZIP・ICの構成の詳細が明らかにされる。
【0013】本実施形態において、ZIP・ICの製造
方法には、図2に示されている多連リードフレーム11
が使用される。多連リードフレーム11は銅系材料や鉄
系材料等の導電性を有する板材が使用されて、プレス加
工やエッチング加工によって略長方形の板形状に一体成
形されている。多連リードフレーム11は実質的に同一
のパターンに形成された単位リードフレーム12が複数
個、一方向に繰り返すように隣り合わせに並べられて連
設されている。但し、以下の説明並びに図面において
は、繰り返しが理解される一単位のみが示されている。
これは他の構成についても同様である。
【0014】単位リードフレーム12は細長い板形状に
形成された外枠13を備えており、外枠13の両端部に
は一対のセクション枠14、14が直角に突設されてい
る。両セクション枠14、14間には第1段タイバー1
5、第2段タイバー16および第3段タイバー17が外
枠13と平行にそれぞれ架設されている。外枠13から
最も離れた位置の第1段タイバー15の外枠13と反対
側の端辺にはインナリード19が複数本、長手方向に等
間隔に配置されて直角にそれぞれ突設されており、各イ
ンナリード19の先端部はペレット配置空所18を取り
囲むようにそれぞれ配線されている。
【0015】第1段タイバー15の外枠13側の端辺に
はアウタリード20がインナリード19と同数本、各イ
ンナリード19とそれぞれ連続するように配置されて直
角に突設されており、各アウタリード20の先端部は外
枠13にそれぞれ連結されている。第1段タイバー15
における隣合うアウタリード20、20間の部分によっ
てダム15aがそれぞれ構成されている。第2段タイバ
ー16および第3段タイバー17は各アウタリード20
に両脇から直角に一体的にそれぞれ接続した状態になっ
ている。両セクション枠14、14には放熱体22を連
結するための放熱体連結部21がそれぞれ突設されてい
る。
【0016】放熱体22は放熱体成形工程において、銅
等の熱伝導性の良好な導電材料が用いられてプレス加工
により一体成形される。図3に示されているように、放
熱体22はヘッダ部23と搭載部24とから構成されて
いる。ヘッダ部23は略長方形の板形状に形成されてお
り、ヘッダ部23の両端部には取付孔23aが、ZIP
・IC32を電気機器等に実装する際にねじ部材等を挿
通し得るようにそれぞれ開設されている。搭載部24は
略長方形の板形状に形成されている。搭載部24の一主
面(以下、上面とする。)にはペレット26が略中央部
に配されて、半田材料による接着等の適当な手段で形成
されたボンディング層25によってボンディングされて
いる。ヘッダ部23の両端部にはリードフレームと連結
するためのリードフレーム連結部27、27が突設され
ており、各リードフレーム連結部27の上面は搭載部2
4の上面から若干隆起されている。
【0017】以上のように構成されている放熱体22
は、前記構成に係る単位リードフレーム12に図4に示
されているように組み付けられる。すなわち、放熱体2
2の上には単位リードフレーム12が、放熱体22のペ
レット26に単位リードフレーム12のペレット配置空
所18が一致された状態で重ねられるとともに、放熱体
22の両リードフレーム連結部27、27と単位リード
フレーム12の両放熱体連結部21、21とがそれぞれ
整合され、スポット溶接やかしめ加工等の適当な手段で
固着される。この状態において、放熱体22の搭載部2
4と単位リードフレーム12のインナリード19群と
は、リードフレーム連結部27が規定する間隙を置いて
対向した状態になる。また、インナリード19群の先端
部はペレット26の三辺を取り囲んだ状態になる。
【0018】以上のように放熱体22が単位リードフレ
ーム12に組み付けられた後に、図4に示されているよ
うに、各インナリード19の先端部とペレット26の各
電極パッド26aとの間にはワイヤ28が、両端部をワ
イヤボンディングされてそれぞれ橋絡される。これによ
り、ペレット26に作り込まれた集積回路は各電極パッ
ド26a、ワイヤ28およびインナリード19を通じて
アウタリード20に電気的に引き出された状態になる。
【0019】ワイヤボンディングされた多連リードフレ
ーム11および放熱体22の組立体29は、トランスフ
ァ成形装置(図示せず)により図5に示されているよう
に樹脂封止体30を成形される。
【0020】樹脂封止体30が図5に示されているよう
に成形されると、ペレット26、インナリード19群、
ワイヤ28および放熱体22の搭載部24は樹脂封止体
30によって樹脂封止される。この状態において、アウ
タリード20群は樹脂封止体30の一側面から1列に整
列された状態で突出された状態になっている。ペレット
26の集積回路はワイヤ28群、インナリード19群お
よびアウタリード20群を通じて樹脂封止体30の外部
に引き出された状態になっている。放熱体22のヘッダ
部23はアウタリード20群と反対側の側面において樹
脂封止体30から突出した状態になっており、搭載部2
4の裏面は樹脂封止体30の裏面において露出した状態
になっている。
【0021】その後、図5に示されている成形品31は
リード成形工程に送られて、リード成形工程において、
多連リードフレーム11の外枠13、セクション枠1
4、第1段タイバー15、第2段タイバー16および第
3段タイバー17が切り落とされるとともに、アウタリ
ード20群がジグザグ形状に成形される。以下、リード
成形工程を説明する。
【0022】まず、図6に示されているように、単位リ
ードフレーム12における第1段タイバー15、第2段
タイバー16および第3段タイバー17が隣合うアウタ
リード20、20の間でそれぞれ切断されるとともに、
アウタリード20群が1本置きにそれぞれ短くそれぞれ
切断されて長いアウタリード20Lと短いアウタリード
20Sとが交互に成形される。なお、アウタリード20
群の切断は、第1段タイバー15、第2段タイバー16
および第3段タイバー17の切断と同時に実行してもよ
いし、第1段タイバー15、第2段タイバー16および
第3段タイバー17の切断後に実行してもよい。切断後
にアウタリード20群が切断される場合には、図6に示
されているように、短いアウタリード20Sに差し込み
口部を容易かつ精密に形成することができる。
【0023】ちなみに、図6に示されているように、長
いアウタリード20Lが外枠13に連結されていると、
多連リードフレーム11の状態で半田めっき処理を一括
して実行することができるため、半田めっき処理の作業
効率を高めることができる。なお、短いアウタリード2
0Sの切断と同時に長いアウタリード20Lも外枠13
から切り離す場合には、以降の処理は一個毎に実行され
ることになる。
【0024】その後、図7に示されているリード成形型
40が使用されて、長いアウタリード20Lは第1段タ
イバー切断痕15Aおよび第3段タイバー切断痕17A
において、また、短いアウタリード20Sは第1段タイ
バー切断痕15Aおよび第2段タイバー切断痕16Aに
おいて図7に示されているようにそれぞれ屈曲される。
リード成形型40は上型41および下型42を備えてい
る。上型41および下型42の第1段タイバー切断痕1
5Aに対向する各位置には、上型第1段屈曲部43aお
よび下型第1段屈曲部43bがそれぞれ形成されてい
る。上型41および下型42の第2段タイバー切断痕1
6Aに対向する各位置には、上型第2段屈曲部44aお
よび下型第2段屈曲部44bがそれぞれ形成されてい
る。上型41および下型42の第3段タイバー切断痕1
7Aに対向する各位置には、上型第3段屈曲部45aお
よび下型第3段屈曲部45bがそれぞれ形成されてい
る。
【0025】図6に示されている成形品31におけるア
ウタリード20群の領域が、図7に示されているリード
成形型40の上型41と下型42との合わせ面間に挟み
込まれると、上型第1段屈曲部43aと下型第1段屈曲
部43b、上型第2段屈曲部44aと下型第2段屈曲部
44bおよび上型第3段屈曲部45aと下型第3段屈曲
部45bによって、長いアウタリード20Lは第1段タ
イバー切断痕15Aおよび第3段タイバー切断痕17A
において、また、短いアウタリード20Sは第1段タイ
バー切断痕15Aおよび第2段タイバー切断痕16Aに
おいて図7に示されているようにそれぞれ大略クランク
形状に屈曲される。
【0026】次いで、図8に示されている立ち上げ成形
装置50が使用されて、長いアウタリード20Lおよび
短いアウタリード20Sが略直角に立ち上げられ、アウ
タリード20群がジグザグ形状に整形される。立ち上げ
成形装置50は上側押さえ型51と、下側押さえ型52
と、立ち上げロールユニット53とを備えている。上側
押さえ型51と下側押さえ型52とはアウタリード20
群の根元を挟んで押さえる。この状態で、立ち上げロー
ルユニット53は長いアウタリード20Lおよび短いア
ウタリード20Sを第1段タイバー切断痕15Aの屈曲
部を起点にして所定の角度だけ屈曲させて立ち上げる。
【0027】その後、切断装置(図示せず)によって、
外枠13が長いアウタリード20L群から切り離される
とともに、各長いアウタリード20L群の先端部に差し
込み口部が適宜に形成される。以上のようにして、図1
に示されているZIP・IC32が製造されたことにな
る。
【0028】ところで、例えば、エッチング加工によっ
て成形されたアウタリード20の断面形状が図9(a)
に示されているように平行四辺形に歪んでいる場合にお
いて、厚さ方向に屈曲されたアウタリード20は図9
(b)に示されているように中心に対して傾いた状態に
なってしまう。このようにアウタリード20が中心線に
対して傾いた状態に屈曲されると、例えば、図9(c)
に示されているように、短いアウタリード20Sは蟹足
状態になってしまう。ZIP・ICにおいて、アウタリ
ードが蟹足状態に成形されてしまうと、プリント配線基
板のスルーホールに挿入することができなくなるため、
実装することができない。
【0029】本実施形態においては、エッチング加工に
よって成形されたアウタリード20の断面形状が平行四
辺形に歪んでいる場合において、図9(d)に示されて
いるように、例えば、第2段タイバー16がアウタリー
ド20の両脇に一体的にそれぞれ連設されて、第2段タ
イバー16が図9(e)に示されているように左右対称
形に切断されるため、厚さ方向に屈曲されたアウタリー
ド20は図9(e)に示されているように中心線が揃っ
た状態になる。すなわち、アウタリード20の屈曲部で
ある第2段タイバー切断痕16Aが左右対称形である
と、アウタリード20を屈曲させようとする応力が中心
線と一致して作用するため、屈曲後のアウタリード20
はそれ自体の中心線に揃うように適正に屈曲されること
になる。したがって、ジグザグ形状に配列されたアウタ
リード群が蟹足状態に成形されるのを防止することがで
きるため、ZIP・ICをプリント配線基板に適正に実
装することができる。
【0030】前記実施形態によれば次の効果が得られ
る。 アウタリード群に第1段タイバー、第2段タイバー
および第3段タイバーを互いに平行に架設しておき、ア
ウタリードの屈曲成形に際して、第1段タイバー、第2
段タイバーおよび第3段タイバーを隣合うアウタリード
間でそれぞれ切断するとともに、各切断箇所でそれぞれ
屈曲することにより、アウタリードの各タイバー切断痕
を対称形にそれぞれ形成させることによってアウタリー
ドを各アウタリード自体の中心線に沿って適正に屈曲さ
せることができるため、ジグザグ形状に配列されたアウ
タリード群が蟹足状態に成形されるのを防止することが
できる。
【0031】 ジグザグ形状に配列されたアウタリー
ド群が蟹足状態に成形されるのを防止することができる
ため、ZIP・ICをプリント配線基板に適正に実装す
ることができる。
【0032】以上本発明者によってなされた発明を実施
形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施形
態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範
囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【0033】例えば、アウタリードの屈曲手段として
は、前記実施形態に係るリード成形型および立ち上げ成
形装置を使用するに限らない。
【0034】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるZIP
を備えているフィン付きパワーICに適用した場合につ
いて説明したが、それに限定されるものではなく、通常
のZIP・ICやガルウイングリードを備えているI
C、Jリードを備えているIC等の屈曲部位が複数段設
定されたアウタリードを備えている半導体装置全般に適
用することができる。
【0035】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、次
の通りである。
【0036】アウタリード群に複数段のタイバーを互い
に平行に架設しておき、アウタリードの屈曲成形に際し
て、各段のタイバーを隣合うアウタリード間でそれぞれ
切断するとともに、各切断箇所でそれぞれ屈曲すること
により、アウタリードの各タイバー切断痕を対称形にそ
れぞれ形成させることによってアウタリードを各アウタ
リード自体の中心線に沿って適正に屈曲させることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態であるZIP・ICを示し
ており、(a)は一部切断正面図、(b)は(a)のb
−b線に沿う側面断面図である。
【図2】本発明の一実施形態であるZIP・ICの製造
方法に使用される多連リードフレームを示す平面図であ
る。
【図3】同じく放熱体を示しており、(a)は正面図、
(b)は側面図、(c)は底面図である。
【図4】リードフレームと放熱体の組立体を示してお
り、(a)は一部省略正面図、(b)は側面図である。
【図5】樹脂封止体成形工程後を示しており、(a)は
一部省略正面断面図、(b)は側面断面図である。
【図6】リード成形工程における切断ステップを示して
おり、(a)は一部省略正面図、(b)は(a)のb−
b線に沿う側面断面図である。
【図7】同じく屈曲ステップを示す一部省略分解斜視図
である。
【図8】同じく立ち上げステップを示しており、(a)
は立ち上げ前の一部省略側面図、(b)は立ち上げ後の
一部省略側面図である。
【図9】作用を説明する説明図であり、(a)〜(c)
は比較例を示しており、(a)はアウタリードの拡大断
面図、(b)はアウタリードの屈曲後の状態を示す正面
図、(c)は蟹足状態を示す部分斜視図、(d)は本発
明の一実施形態を示すアウタリード部分の拡大断面図、
(e)はアウタリードの屈曲後の状態を示す正面図であ
る。
【符号の説明】
11…多連リードフレーム、12…単位リードフレー
ム、13…外枠、14…セクション枠、15…第1段タ
イバー、15A…第1段タイバー切断痕、16…第2段
タイバー、16A…第2段タイバー切断痕、17…第3
段タイバー、17A…第3段タイバー切断痕、18…ペ
レット配置空所、19…インナリード、20…アウタリ
ード、20L…長いアウタリード、20S…短いアウタ
リード、21…放熱体連結部、22…放熱体、23…ヘ
ッダ部、23a…取付孔、24…搭載部、25…ボンデ
ィング層、26…ペレット(半導体ペレット)、26a
…電極パッド、27…リードフレーム連結部、28…ワ
イヤ、29…リードフレームと放熱体の組立体、30…
樹脂封止体、31…成形品、32…ZIP・IC(半導
体装置)、40…リード成形型、41…上型、42…下
型、43a…上型第1段屈曲部、43b…下型第1段屈
曲部、44a…上型第2段屈曲部、44b…下型第2段
屈曲部、45a…上型第3段屈曲部、45b…下型第3
段屈曲部、50…立ち上げ成形装置、51…上側押さえ
型、52…下側押さえ型、53…立ち上げロールユニッ
ト。

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子回路が作り込まれた半導体ペレット
    に電気的に接続されている複数本のインナリードと、各
    インナリードにそれぞれ連結されているアウタリード群
    と、前記半導体ペレットおよびインナリード群を樹脂封
    止した樹脂封止体とを備えている半導体装置において、 前記各アウタリードの複数段の屈曲部が複数段のタイバ
    ー切断痕にそれぞれ設定されていることを特徴とする半
    導体装置。
  2. 【請求項2】 前記アウタリード群が長いアウタリード
    と短いアウタリードとが交互に配置されているとともに
    ジグザグ形状に配列されており、前記長いアウタリード
    群および短いアウタリード群における前記樹脂封止体付
    近に第1段タイバー切断痕が一列に配列され、前記短い
    アウタリード群における前記樹脂封止体から前記第1タ
    イバー切断痕よりも離れた位置に第2段タイバー切断痕
    が一列に配列され、前記長いアウタリード群における前
    記樹脂封止体から前記第2タイバー切断痕よりも離れた
    位置に第3段タイバー切断痕が一列に配列されているこ
    とを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
  3. 【請求項3】 前記半導体ペレットが放熱体にボンディ
    ングされており、前記アウタリード群が前記樹脂封止体
    の一側面に配列されていることを特徴とする請求項1ま
    たは2に記載の半導体装置。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載の半導体装置の製造方法
    であって、 アウタリード群に複数段のタイバーが互いに平行に架設
    されているリードフレームが製造されるリードフレーム
    製造工程と、 前記リードフレームの各インナリードに半導体ペレット
    が電気的に接続される接続工程と、 前記リードフレームに前記インナリードおよび前記半導
    体ペレットを樹脂封止する樹脂封止体が成形される樹脂
    封止体成形工程と、 前記各タイバーが隣合う前記アウタリード間でそれぞれ
    切断されるとともに各切断箇所でそれぞれ屈曲されるリ
    ード成形工程と、 を備えていることを特徴とする半導体装置の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記リードフレーム製造工程においては
    前記アウタリード群に3段のタイバーが架設されている
    リードフレームが製造され、 前記リード成形工程において、前記3段のタイバーが隣
    合う前記アウタリード間でそれぞれ切断され、前記アウ
    タリード群が1本置きにそれぞれ短くそれぞれ切断され
    て長いアウタリードと短いアウタリードとが交互に成形
    され、次いで、前記長いアウタリード群および前記短い
    アウタリード群における前記樹脂封止体付近に配置され
    た第1段タイバー切断痕、前記短いアウタリード群にお
    ける前記樹脂封止体から前記第1タイバー切断痕よりも
    離れた位置に配置された第2段タイバー切断痕、前記長
    いアウタリード群における前記樹脂封止体から前記第2
    タイバー切断痕よりも離れた位置に配置された第3段切
    断痕がそれぞれ屈曲され、前記長いアウタリードと前記
    短いアウタリードとがジグザグ形状に成形されることを
    特徴とする請求項4に記載の半導体装置の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記複数段のタイバー切断痕が同時に屈
    曲されることを特徴とする請求項4または5に記載の半
    導体装置の製造方法。
  7. 【請求項7】 前記複数段のタイバー切断痕が屈曲され
    た後に、前記樹脂封止体付近に配置された第1段タイバ
    ー切断痕がさらに深く屈曲されることを特徴とする請求
    項4、5または6に記載の半導体装置の製造方法。
  8. 【請求項8】 前記半導体ペレットが放熱体にボンディ
    ングされ、放熱体が前記リードフレームに隙間を取って
    重ねられて結合されることを特徴とする請求項4、5、
    6または7に記載の半導体装置の製造方法。
  9. 【請求項9】 請求項4に記載の半導体装置の製造方法
    に使用されるリードフレームであって、 アウタリード群に複数段のタイバーが互いに平行に架設
    されていることを特徴とするリードフレーム。
  10. 【請求項10】 前記アウタリード群に3段のタイバー
    が架設されていることを特徴とする請求項9に記載のリ
    ードフレーム。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104641466A (zh) * 2012-11-19 2015-05-20 富士电机株式会社 半导体装置
CN107275308A (zh) * 2017-06-30 2017-10-20 深圳赛意法微电子有限公司 半导体封装装置、半导体引线框架及其切筋方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104641466A (zh) * 2012-11-19 2015-05-20 富士电机株式会社 半导体装置
US9728475B2 (en) 2012-11-19 2017-08-08 Fuji Electric Co., Ltd. Lead portion of semiconductor device
CN107275308A (zh) * 2017-06-30 2017-10-20 深圳赛意法微电子有限公司 半导体封装装置、半导体引线框架及其切筋方法

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