JPH11260692A - 電子線描画装置 - Google Patents

電子線描画装置

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JPH11260692A
JPH11260692A JP10060843A JP6084398A JPH11260692A JP H11260692 A JPH11260692 A JP H11260692A JP 10060843 A JP10060843 A JP 10060843A JP 6084398 A JP6084398 A JP 6084398A JP H11260692 A JPH11260692 A JP H11260692A
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JP
Japan
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time
deflection
electron beam
converter
biasing
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Withdrawn
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JP10060843A
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English (en)
Inventor
Osamu Wakimoto
治 脇本
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Jeol Ltd
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Jeol Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は電子線描画装置に関し、偏向時間を
決める際に、偏向する距離だけではなく、そのデータの
変化からD/A変換器のグリッチが収まる時間を考慮す
ることにより、D/A変換器と偏向アンプの特性を最大
限に利用することが可能となり、描画速度の向上が図れ
る電子線描画装置を提供することを目的としている。 【解決手段】 ベクタスキャン方式により電子線描画を
行なう電子線描画装置において、描画位置を記憶する2
つのレジスタと、該2つのレジスタの値を受けてD/A
変換器に入力されるデータの変化量と変化したビットの
位置を判定する判定回路と、少なくとも変化したビット
の距離から偏向時間を決定する偏向時間テーブルメモリ
と、全体の動作を制御する制御部とを具備し、前記偏向
時間テーブルメモリの出力に基づいて偏向時間データか
ら実際の時間に変換して偏向時間を制御するように構成
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電子線描画装置に関
し、更に詳しくは偏向時間を制御する電子線描画装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】電子線描画装置では、ベクタスキャン方
式(描画したい領域のみ描画する方式)を採用してい
る。この方式では、電子線を偏向した後、電子線を所定
の時間照射するという手順の繰り返しにより目的のパタ
ーンを材料上に描画していく。このため、実際の照射が
目的の時間であるとすると、偏向する時間はそのための
準備時間であり、生産用装置が高いスループットを求め
られる点から考えると、偏向に要する時間はできるかぎ
り短い必要がある。
【0003】静電偏向器を採用した場合の偏向に要する
時間は、主に静電偏向器を駆動するためのアンプと、偏
向位置に応じた電圧を作り出すD/A変換器の速度によ
って決まる。
【0004】ここで、偏向時間をできるだけ高速化する
ため、アンプやD/A変換器を高速化するのは当然であ
るが、従来は、アンプの特性をフルに活用するため、偏
向位置の変化量に応じて偏向時間を調節するようにして
いた。具体的には、アンプの出力電圧を最大限変化させ
た時に電圧が制定するまでに要する時間に比べ、小さな
変化の場合には必要な時間は少なくてすむ。アンプの電
圧の変化量は入力したデータの変化量と比例するため、
入力したデータの変化量を計算し、変化量に応じて偏向
時間を決定していた。
【0005】図5は電子線描画装置の要部を示す構成図
である。描画データはD/A変換器1に入り、アナログ
信号に変換され、続く偏向アンプ2で増幅された後、静
電偏向器5に印加される。電子銃3より出射されて電子
ビーム(電子線)6はブランキング電極4により必要に
応じてブランキング制御されながら、材料7上に所定の
描画を行なう。
【0006】図6はブランキングと静電偏向電圧の関係
を示す図である。(a)はブランキングで、“H”が電
子ビームオフ(ブランキングオン)、“L”が電子ビー
ムオン(ブランキングオフ)である。(b)は静電偏向
器5の電圧である。図に示すように、偏向時間は電圧の
変化量に応じて調節される。つまり、電圧の変化量が大
きい程、電子ビームオフ時の偏向時間も長くなる。図に
おいて、Tは電子ビームが照射される時間である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ここで、問題となるの
が、入力データ(描画データ)と偏向アンプ2の中間に
あるD/A変換器1の特性である。D/A変換器1は、
アンプの特性の他にグリッチを発生するという特性を持
っている。ここで、グリッチとは、電圧の変化時と同期
して電圧波形が大きく変化することをいう。このグリッ
チは、ビットの変化が1ビットの場合でも大きくなるこ
とがありうる。例えば、4ビットデータ“0111”か
ら“1000”に1ビット変化するような場合、D/A
変換器1の出力は大きく変化し、グリッチが発生する。
4ビットデータ“0010”から“0011”の変化の
ように同じ1ビットの変化の場合には、グリッチは発生
しない。
【0008】グリッチが大きく発生する場合には、グリ
ッチが収まる時間を偏向時間としなければならないが、
グリッチの大小は電圧の変化の大小とは関係がない。こ
のため、入力データの変化量から偏向時間を決定する前
述の方式では、変化量の小さい部分での偏向時間はグリ
ッチの収まる時間で制限されてしまい、アンプの性能を
フルに発揮することができなかった。
【0009】図7はグリッチ発生の様子を示すタイミン
グチャートである。(a)がブランキング、(b)が静
電偏向器の電圧、(c)がD/A変換器の出力である。
グリッチが発生するため、偏向電圧の変化が小さい場合
でも、偏向時間を短くできないという問題があった。
【0010】本発明はこのような課題に鑑みてなされた
ものであって、偏向時間を決める際に、偏向する距離だ
けではなく、そのデータの変化からD/A変換器のグリ
ッチが収まる時間を考慮することにより、D/A変換器
と偏向アンプの特性を最大限に利用することが可能とな
り、描画速度の向上が図れる電子線描画装置を提供する
ことを目的としている。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記した課題を解決する
本発明は、ベクタスキャン方式により電子線描画を行な
う電子線描画装置において、描画位置を記憶する2つの
レジスタと、該2つのレジスタの値を受けてD/A変換
器に入力されるデータの変化量と変化したビットの位置
を判定する判定回路と、少なくとも変化したビットの距
離から偏向時間を決定する偏向時間テーブルメモリと、
全体の動作を制御する制御部とを具備し、前記偏向時間
テーブルメモリの出力に基づいて偏向時間データから実
際の時間に変換して偏向時間を制御するように構成した
ことを特徴としている。
【0012】この発明の構成によれば、変化するビット
の数や位置を判定して、これに応じた偏向時間テーブル
を用意しておき、偏向時間テーブルの出力に基づいて偏
向時間データから実際の時間に変換して偏向時間を制御
することにより、D/A変換器のグリッチが収まる時間
を考慮することにより、D/A変換器と偏向アンプの特
性を最大限に利用することが可能となり、描画速度の向
上が図れる電子線描画装置を提供することが可能とな
る。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態例を詳細に説明する。グリッチは、その発生要
因から、D/A変換器に設定されているデータと、次に
設定するデータの間で、変化するビットの個数とビット
位置によってその大きさが異なる。一般的には、変化す
るビットの個数が多く、より上位のビットが変化する時
に大きなグリッチが発生する。よって、変化するビット
の数や位置を判定して、これに応じて偏向時間を調節す
る。この調節を行なうことにより、グリッチの発生が小
さいと判断される変化については偏向時間を小さくする
ことが可能となり、一層の高速化が可能となる。
【0014】図1は本発明の一実施の形態例を示すブロ
ック図である。図5と同一のものは、同一の符号を付し
て示す。図において、1は描画データを受けるD/A変
換器、2は該D/A変換器1の出力を受ける偏向アン
プ、5は該偏向アンプにより駆動される静電偏向器であ
る。
【0015】10は全体の動作を制御する制御回路、1
1は描画データを保持する第1のレジスタ(レジスタ
1)、12は描画データを保持する第2のレジスタ(レ
ジスタ2)、13は変化した距離と変化したビットを判
定する判定回路、14は該判定回路によりアクセスされ
る偏向時間を記憶する偏向時間テーブルメモリである。
【0016】該偏向時間テーブルメモリ14には、変化
するビットの数や位置に応じて最適な偏向時間が記憶さ
れている。15は該偏向時間テーブルメモリ14の出力
を保持する第3のレジスタ(レジスタ3)、16は該レ
ジスタ3の出力を受けてブランキング信号を発生するブ
ランキング信号発生回路、8は該ブランキング信号発生
回路16の出力を受けるブランキングアンプ、4は該ブ
ランキングアンプ8により駆動されるブランキング電極
である。ブランキング信号発生回路16には照射時間が
入力され、電子ビームオン/オフのタイミングをとって
いる。つまり、照射時間T(図6参照)の間、ブランキ
ングはオフになる。このように構成された装置の動作を
説明すれば、以下の通りである。
【0017】先ず、描画に先立ち、レジスタ1とレジス
タ2をクリアする。また、偏向時間テーブルメモリ14
には予め、D/A変換器1や偏向アンプ2の特性から決
定した最適な偏向時間が記録されている。そして、最初
の描画位置が制御回路10により計算されると、その値
がレジスタ1に設定される。
【0018】判定回路13は、レジスタ1と2の出力を
受けて、変化した距離と変化したビットを偏向時間テー
ブルメモリ14にアドレスとして与える。偏向時間テー
ブルメモリ14からは、変化した距離と変化したビット
に応じた最適な偏向時間が出力される。偏向時間の読み
出しが終わると、偏向時間の値はレジスタ3に記憶され
る。
【0019】同時に、レジスタ1の値はレジスタ2に設
定され(移され)、D/A変換器1に送られる。その
後、すぐにブランキング信号発生回路16は、偏向時間
だけのタイミングをとる。偏向時間経過後、照射時間T
だけビームがオンになるようにブランキングアンプ8に
信号を送る。
【0020】次に、2つめの描画位置が送られてくる
と、レジスタ1に2つめの描画データが設定される。以
降は同様に描画動作が行なわれる。前述の動作で説明し
た変化した距離とビット位置を判定する判定回路13の
構成には幾つかの方式が考えられる。図2は変化した距
離と変化したビットを判定する回路の一実施の形態例を
示すブロック図である。この実施の形態例は比較的簡単
な回路であり、演算器13aでレジスタ1と2の差分の
絶対値をとり、変化した距離を求める。
【0021】次に、レジスタ1と2の対応するビットは
排他的論理和をとるためEORゲート13bに入力され
る。そして、各EORゲート13bの出力はそれぞれ加
算器13cに入り、EORゲートの出力(入力が異なれ
ば1)を加算により求める。そして、最終段の加算器1
3dから変化したビットの個数が出力される。判定回路
13の出力(変化した距離と変化したビットの個数)
は、偏向時間テーブルメモリ14に与えられ、最適な偏
向時間データが出力されることになる。
【0022】図3は変化した距離と変化したビットの最
上位の位置と変化したビットの個数を判定する回路の一
実施の形態例を示すブロック図である。図2と同一のも
のは、同一の符号を付して示す。この実施の形態例で
は、変化した距離の算出と、変化したビットの個数の算
出処理は、図2に示す回路と同じである。異なるのは、
それぞれのEORゲート13bの各出力を受けるプライ
オリティエンコーダ13eを設けた点である。各ビット
を受けるEORゲート13bの出力が全てプライオリテ
ィエンコーダ13eに入り、該プライオリティエンコー
ダ13eは、変化したビットの最上位の位置を出力す
る。
【0023】そして、これら変化した距離と、変化した
ビットの最上位の位置と、変化したビットの個数を偏向
時間テーブルメモリ14に入力することにより、これら
パラメータに対して最適な偏向時間データを得ることが
できる。
【0024】図4は変化した距離と変化したビットのパ
ターンを判定する一実施の形態例を示すブロック図であ
る。図2と同一のものは、同一の符号を付して示す。こ
の実施の形態例では、どのような位置のビットが変化し
たかを全て判定するものである。この実施の形態例で
は、演算器13aがレジスタ1と2の差分の絶対値を求
めて変化した距離として出力する。
【0025】一方、レジスタ1と2の対応するビットを
受けるEORゲート13bの出力は全て出力される。従
って、変化したパターンの位置と個数が全て分かる。そ
して、これら変化した距離と変化したビットとその位置
とを偏向時間テーブルメモリ14に与えることにより、
これらパラメータに対して最適な偏向時間データを得る
ことができる。
【0026】図2から図4になるにつれて偏向時間テー
ブルメモリ14の入力を細かく設定することができる
が、細かく設定する程、偏向時間データを格納するテー
ブルのメモリ容量が大きくなる。
【0027】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、ベクタスキャン方式により電子線描画を行なう
電子線描画装置において、描画位置を記憶する2つのレ
ジスタと、該2つのレジスタの値を受けてD/A変換器
に入力されるデータの変化量と変化したビットの位置を
判定する判定回路と、少なくとも変化したビットの距離
から偏向時間を決定する偏向時間テーブルメモリと、全
体の動作を制御する制御部とを具備し、前記偏向時間テ
ーブルメモリの出力に基づいて偏向時間データから実際
の時間に変換して偏向時間を制御することにより、変化
するビットの数や位置を判定して、これに応じた偏向時
間テーブルを用意しておき、偏向時間テーブルの出力に
基づいて偏向時間データから実際の時間に変換して偏向
時間を制御し、D/A変換器のグリッチが収まる時間を
考慮し、D/A変換器と偏向アンプの特性を最大限に利
用することが可能となり、描画速度の向上が図れる電子
線描画装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態例を示すブロック図であ
る。
【図2】変化した距離と変化したビットを判定する回路
の一実施の形態例を示すブロック図である。
【図3】変化した距離と変化したビットの最上位の位置
と変化したビットの個数を判定する回路の一実施の形態
例を示すブロック図である。
【図4】変化した距離と変化したビットのパターンを判
定する一実施の形態例を示すブロック図である。
【図5】電子線描画装置の要部を示す構成図である。
【図6】ブランキングと静電偏向電圧の関係を示す図で
ある。
【図7】グリッチ発生の様子を示すタイミングチャート
である。
【符号の説明】
1 D/A変換器 2 偏向アンプ 4 ブランキング電極 5 静電偏向器 8 ブランキングアンプ 10 制御回路 11 レジスタ1 12 レジスタ2 13 判定回路 14 偏向時間テーブルメモリ 15 レジスタ3 16 ブランキング信号発生回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ベクタスキャン方式により電子線描画を
    行なう電子線描画装置において、 描画位置を記憶する2つのレジスタと、 該2つのレジスタの値を受けてD/A変換器に入力され
    るデータの変化量と変化したビットの位置を判定する判
    定回路と、 少なくとも変化したビットの距離から偏向時間を決定す
    る偏向時間テーブルメモリと、 全体の動作を制御する制御部とを具備し、 前記偏向時間テーブルメモリの出力に基づいて偏向時間
    データから実際の時間に変換して偏向時間を制御するよ
    うに構成したことを特徴とする電子線描画装置。
JP10060843A 1998-03-12 1998-03-12 電子線描画装置 Withdrawn JPH11260692A (ja)

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JP10060843A JPH11260692A (ja) 1998-03-12 1998-03-12 電子線描画装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006261484A (ja) * 2005-03-18 2006-09-28 Jeol Ltd ステージ位置制御方法及び装置
WO2008111365A1 (ja) * 2007-03-13 2008-09-18 Advantest Corporation 測長機能を備えた走査型電子顕微鏡及び試料寸法測長方法

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