JPH11248893A - 電子線照射装置 - Google Patents

電子線照射装置

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JPH11248893A
JPH11248893A JP10069475A JP6947598A JPH11248893A JP H11248893 A JPH11248893 A JP H11248893A JP 10069475 A JP10069475 A JP 10069475A JP 6947598 A JP6947598 A JP 6947598A JP H11248893 A JPH11248893 A JP H11248893A
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JP
Japan
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electron beam
collector electrode
irradiation
window
dose distribution
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Application number
JP10069475A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiro Nishikimi
敏朗 錦見
Shuichi Taniguchi
周一 谷口
Kenichi Mizusawa
健一 水澤
Takashi Suzuki
隆 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin High Voltage Co Ltd
Original Assignee
Nissin High Voltage Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子線加速器から射出する電子線の線量分布
を簡単にかつ短時間で測定することができる電子線照射
装置を提供する。 【解決手段】 この電子線照射装置は、電子線加速器2
の照射窓4の外部に設けられていて照射窓4の短辺4b
に沿う棒状のコレクタ電極12と、コレクタ電極12を
電子線6の照射領域において照射窓4の長辺4aに沿う
方向Wに平行移動させる駆動機構14と、コレクタ電極
12に流れる電流Iを計測する電流計測器32とを備え
ている。コレクタ電極12は、その両端部に設けた絶縁
物18によってアースから電気的に絶縁している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、被照射物の架
橋、改質、硬化、殺菌、その他の表面処理に用いられる
電子線照射装置に関し、より具体的には、その電子線加
速器から射出する電子線の線量分布を簡単にかつ短時間
で測定する手段に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の電子線照射装置の従来例を図2
に示す。この電子線照射装置は、電子線加速器2から所
望のエネルギー(例えば30keV〜500keV程
度)に加速して外部に射出した電子線6を、例えば帯状
の被照射物8に照射して処理を施す構成をしている。
【0003】電子線加速器2は、その内部の真空雰囲気
と外部の照射雰囲気(例えば大気中)とを分離するため
に、窓箔5を有する長方形の照射窓4を備えており、電
子線6はこの照射窓4を透過させて外部に射出される。
この照射窓4の長辺4aに沿う方向Wは照射幅方向と呼
ばれ、上記被照射物8はこの照射幅方向Wに直交する方
向Aに搬送される。
【0004】この電子線加速器2から射出する電子線6
の照射幅方向Wにおける線量分布を知ることは、被照射
物8に対して均一な電子線照射を行う上で重要である。
【0005】この線量分布を測定するために従来は次の
ようにしていた。即ち、図2に示すように、照射幅方向
Wに細長いフィルム線量計10を被照射物8の表面に貼
り、被照射物8を搬送してフィルム線量計10に電子線
6を照射した後、このフィルム線量計10を剥がして測
定器にかけ、このフィルム線量計10における吸光度値
の変化(これは照射電子線量に比例している)の分布を
測定していた。これによって、例えば図3に示すよう
な、照射幅方向Wにおける電子線6の線量分布を測定す
ることができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
な測定方法では、フィルム線量計10を貼りかつ剥がす
と共に、それを測定器にかけなければならず、しかも測
定の際に被照射物8を搬送しなければならないので、線
量分布の測定に多くの時間と手間とがかかっていた。
【0007】また、被照射物8の搬送機がない場合は、
フィルム線量計10を搬送できないので、線量分布の測
定を行うことができなかった。
【0008】そこでこの発明は、電子線加速器から射出
する電子線の線量分布を簡単にかつ短時間で測定するこ
とができる電子線照射装置を提供することを主たる目的
とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】この発明の電子線照射装
置は、前記照射窓の外部に設けられていて当該照射窓の
短辺に沿う棒状のものであってアースから電気的に絶縁
されたコレクタ電極と、このコレクタ電極を前記電子線
の照射領域において前記照射窓の長辺に沿う方向に平行
移動させる駆動機構と、前記コレクタ電極に流れる電流
を計測する電流計測器とを備えることを特徴としてい
る。
【0010】上記構成によれば、電子線の線量分布を測
定するときは、駆動機構によってコレクタ電極を電子線
の照射領域において照射窓の長辺に沿う方向、即ち照射
幅方向に平行移動させれば良い。これによって、当該コ
レクタ電極に、電子線加速器から射出された電子線が入
射して電流が流れ、この電流を電流計測器によって計測
することができる。しかもこの電流は、コレクタ電極の
各位置における電子線の線量に比例するので、コレクタ
電極を上記のように移動させることによって、電子線加
速器から射出する電子線の線量分布を測定することがで
きる。
【0011】線量分布を測定しないときは、コレクタ電
極を電子線が入射しない位置に移動させておけば良い。
【0012】
【発明の実施の形態】図1は、この発明に係る電子線照
射装置の一例を照射窓側から見て示す斜視図であり、被
照射物の図示は省略している。図2の従来例と同一また
は相当する部分には同一符号を付し、以下においては当
該従来例との相違点を主に説明する。
【0013】この電子線照射装置は、前述したような電
子線加速器2の照射窓4の外部付近に設けられていて、
当該照射窓4の短辺4bに平行に沿うように配置された
棒状のコレクタ電極12を備えている。このコレクタ電
極12の長さは、この例では照射窓4の短辺4bの長さ
と同程度以上にしている。このコレクタ電極12の両端
部は支持金具16に取り付けられている。この支持金具
16と、後述するナット部20およびスライダー26と
は絶縁物18によって電気的に絶縁されており、この絶
縁物18によってコレクタ電極12をアースから電気的
に絶縁している。
【0014】この電子線照射装置は、更に、上記コレク
タ電極12を、電子線6の照射領域において照射窓4の
長辺4aに平行に沿う方向に、即ち前述した照射幅方向
Wに往復平行移動させる駆動機構14を備えている。こ
の駆動機構14は、この例では、コレクタ電極12の一
端側の絶縁物18に取り付けられたナット部(例えばボ
ールナット部)20と、照射幅方向Wに平行に配置され
ていてナット部20に螺合するねじ棒(例えばボールね
じ)22と、このねじ棒22を矢印Bに示すように往復
回転させる可逆転式のモータ24と、コレクタ電極12
の他端側の絶縁物18に取り付けられたスライダー26
と、照射幅方向Wに平行に配置されていてスライダー2
6を貫通するガイドレール28とを備えている。
【0015】モータ24を正転または逆転させると、そ
れに応じてねじ棒22が回転し、それに螺合するナット
部20が照射幅方向Wに移動するので、それに絶縁物1
8および支持金具16を介して取り付けられたコレクタ
電極12も照射幅方向Wに平行移動する。このとき、コ
レクタ電極12の他端はガイドレール28によってガイ
ドされる。
【0016】上記コレクタ電極12には、この例では上
記支持金具16およびそれに接続されていて螺旋状(コ
イル状)に巻かれたリード線30を経由して、電流計測
器32が接続されている。この電流計測器32は、コレ
クタ電極12に電子線6が入射することによって当該コ
レクタ電極12とアース間に流れる電流Iを計測する。
この電流計測器32は、単なる電流計でも良いが、計測
電流の大きさの時間的変化を記録できる記録計式のもの
(例えばペンレコーダ等)が好ましい。リード線30を
螺旋状にしているのは、コレクタ電極12および支持金
具16等の移動に対応できるようにするためである。
【0017】なお、電子線加速器2は、この例では電子
線6を走査しない非走査型と呼ばれるものであり、円筒
状の真空容器36内に半円筒状のシールド電極38を設
け、このシールド電極38内に複数本(例えば30本程
度)の棒状のフィラメント40を照射幅方向Wに並設
し、このフィラメント40から引出し電極42を通し
て、かつ前述した照射窓4を透過させて、電子線6を外
部に射出する構造をしている。
【0018】前述した被照射物8が帯状の場合は、その
搬送方向Aは、図1中に示すように、照射幅方向Wと直
交する方向、即ちコレクタ電極12と平行な方向とな
る。
【0019】この電子線照射装置において、電子線加速
器2から射出する電子線6の線量分布を測定するとき
は、駆動機構14によってコレクタ電極12を、電子線
6の照射領域の端から端まで照射幅方向Wに平行移動さ
せれば良い。この移動は、少なくとも、1回の片道移動
で良いが、勿論、往復移動または複数回移動させても良
い。
【0020】この移動によって、コレクタ電極12に電
子線6が入射して当該コレクタ電極12に電流Iが流れ
るので、この電流Iを電流計測器32によって計測する
ことができる。しかもこの電流Iは、コレクタ電極12
の各位置における電子線6の線量に比例するので、コレ
クタ電極12を上記のように移動させることによって、
電子線加速器2から射出する電子線6の線量分布を測定
することができる。より具体的には、コレクタ電極12
を上記のように連続的に移動させることによって、線量
分布を連続的に測定することができる。これによって、
例えば、図3に示したのと同様の線量分布を測定するこ
とができる。
【0021】線量分布を測定しないときは、駆動機構1
4によってコレクタ電極12を、照射窓4の端部または
それより外側の、電子線6が入射しない位置に移動させ
ておけば良い。それによって、コレクタ電極12が被照
射物への電子線照射の邪魔になるのを防止することがで
きる。
【0022】以上のようにこの電子線照射装置によれ
ば、駆動機構14によってコレクタ電極12を移動させ
てそのときにコレクタ電極12に流れる電流Iを電流計
測器32で計測するだけで電子線6の線量分布を測定す
ることができるので、電子線加速器2から射出する電子
線6の線量分布を非常に簡単にかつ短時間で測定するこ
とができる。
【0023】その結果例えば、電子線6の線量分布を被
照射物の処理前と処理後とに測定して、両測定結果を比
較することにより、被照射物の処理中に線量分布の変化
が生じたか否かを推定する、といった測定も可能にな
る。
【0024】なお、コレクタ電極12は、電子線6の入
射によって表面状態が変化(例えば酸化)しないよう
に、プラチナ等の酸素と反応しない安定な金属で構成す
るのが好ましい。そのようにすれば、電子線6のコレク
タ電極12への入射状態が変化しないので、電子線6の
線量分布をより安定して正確に測定することができる。
【0025】また、コレクタ電極12は、電子線6の入
射によって加熱されるので、熱伝導率の高い材料で構成
して、その熱を支持金具16等へ効率良く伝達するのが
好ましい。これと上述した表面状態の変化防止の両方を
実現するために、例えば、コレクタ電極12を、銅の表
面にプラチナを被覆した構造にしても良い。
【0026】また、上記絶縁物18を設けずに支持金具
16をナット部20およびスライダー26に直接取り付
けると共に、ねじ棒22の両端部およびガイドレール2
8の両端部を接地電位部から電気的に絶縁して、コレク
タ電極12に流れる電流Iを例えばガイドレール28を
経由して電流計測器32に導くようにしても良い。その
ようにすれば、螺旋状のリード線30を用いずに済む。
【0027】また、図1中に破線で示すように、電流計
測器32に直列に接続されていてコレクタ電極12に正
のバイアス電圧を印加する直流電源34を設けても良
い。このバイアス電圧は、例えば+10V〜+100V
程度で良い。このようにすれば、電子線6を正バイアス
電圧によってコレクタ電極12に引き込みやすくなると
共に、たとえコレクタ電極12から二次電子が放出され
てもそれをコレクタ電極12に引き戻すことができるの
で、電子線6の線量分布をより正確に測定することがで
きる。
【0028】
【発明の効果】この発明は、上記のとおり構成されてい
るので、次のような効果を奏する。
【0029】請求項1記載の発明によれば、駆動機構に
よってコレクタ電極を移動させてそのときに当該コレク
タ電極に流れる電流を電流計測器で計測するだけで電子
線の線量分布を測定することができるので、電子線加速
器から射出する電子線の線量分布を非常に簡単にかつ短
時間で測定することができる。
【0030】請求項2記載の発明によれば、電子線を正
バイアス電圧によってコレクタ電極に引き込みやすくな
ると共に、たとえコレクタ電極から二次電子が放出され
てもそれをコレクタ電極に引き戻すことができるので、
電子線の線量分布をより正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係る電子線照射装置の一例を照射窓
側から見て示す斜視図であり、被照射物の図示は省略し
ている。
【図2】従来の電子線照射装置の一例を示す斜視図であ
る。
【図3】電子線加速器から射出する電子線の線量分布の
一例を示す図である。
【符号の説明】
2 電子線加速器 4 照射窓 6 電子線 12 コレクタ電極 14 駆動機構 32 電流計測器 34 直流電源
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 隆 京都府京都市右京区梅津高畝町47番地 日 新ハイボルテージ株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子線を、窓箔を有する長方形の照射窓
    を透過させて外部へ射出する電子線加速器を備える電子
    線照射装置において、前記照射窓の外部に設けられてい
    て当該照射窓の短辺に沿う棒状のものであってアースか
    ら電気的に絶縁されたコレクタ電極と、このコレクタ電
    極を前記電子線の照射領域において前記照射窓の長辺に
    沿う方向に平行移動させる駆動機構と、前記コレクタ電
    極に流れる電流を計測する電流計測器とを備えることを
    特徴とする電子線照射装置。
  2. 【請求項2】 前記電流計測器に直列に接続されていて
    前記コレクタ電極に正のバイアス電圧を印加する直流電
    源を更に備える請求項1記載の電子線照射装置。
JP10069475A 1998-03-03 1998-03-03 電子線照射装置 Pending JPH11248893A (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1104002A1 (en) * 1999-11-29 2001-05-30 Ushiodenki Kabushiki Kaisha Electron beam measurement method and electron beam irradiation processing device
JP2002250799A (ja) * 2001-02-23 2002-09-06 Ushio Inc 電子ビーム処理装置
WO2007145560A1 (en) * 2006-06-14 2007-12-21 Tetra Laval Holdings & Finance S.A. Sensor and system for sensing an electron beam
EP2316495A1 (en) 2009-10-29 2011-05-04 Shibuya Kogyo Co., Ltd Electron beam sterilizer
EP2462953A1 (en) * 2010-12-10 2012-06-13 Shibuya Kogyo Co., Ltd. Electron beam sterilizer
CN112327345A (zh) * 2020-10-15 2021-02-05 中国人民解放军国防科技大学 一种测量径向发射电子束均匀性的装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1104002A1 (en) * 1999-11-29 2001-05-30 Ushiodenki Kabushiki Kaisha Electron beam measurement method and electron beam irradiation processing device
US6657212B2 (en) 1999-11-29 2003-12-02 Ushiodenki Kabushiki Kaisha Electron beam measurement method and electron beam irradiation processing device
JP2002250799A (ja) * 2001-02-23 2002-09-06 Ushio Inc 電子ビーム処理装置
WO2007145560A1 (en) * 2006-06-14 2007-12-21 Tetra Laval Holdings & Finance S.A. Sensor and system for sensing an electron beam
US7592613B2 (en) 2006-06-14 2009-09-22 Tetra Laval Holdings & Finance S.A. Sensor and system for sensing an electron beam
EP2316495A1 (en) 2009-10-29 2011-05-04 Shibuya Kogyo Co., Ltd Electron beam sterilizer
KR20110047142A (ko) 2009-10-29 2011-05-06 시부야 코교 가부시키가이샤 전자선 살균 장치
EP2462953A1 (en) * 2010-12-10 2012-06-13 Shibuya Kogyo Co., Ltd. Electron beam sterilizer
US8461550B2 (en) 2010-12-10 2013-06-11 Shibuya Kogyo Co., Ltd. Electron beam sterilizer
CN112327345A (zh) * 2020-10-15 2021-02-05 中国人民解放军国防科技大学 一种测量径向发射电子束均匀性的装置
CN112327345B (zh) * 2020-10-15 2022-06-28 中国人民解放军国防科技大学 一种测量径向发射电子束均匀性的装置

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