JP2003288853A - X線装置 - Google Patents
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Links
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 15
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 14
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 13
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 10
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 9
- 239000002717 carbon nanostructure Substances 0.000 claims description 7
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 6
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 20
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 11
- 230000001954 sterilising effect Effects 0.000 description 7
- 238000004659 sterilization and disinfection Methods 0.000 description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- 230000005461 Bremsstrahlung Effects 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 2
- XMWRBQBLMFGWIX-UHFFFAOYSA-N C60 fullerene Chemical class C12=C3C(C4=C56)=C7C8=C5C5=C9C%10=C6C6=C4C1=C1C4=C6C6=C%10C%10=C9C9=C%11C5=C8C5=C8C7=C3C3=C7C2=C1C1=C2C4=C6C4=C%10C6=C9C9=C%11C5=C5C8=C3C3=C7C1=C1C2=C4C6=C2C9=C5C3=C12 XMWRBQBLMFGWIX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 description 1
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003575 carbonaceous material Substances 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910003472 fullerene Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002784 hot electron Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
小型で、さらに高速パルス動作および大線量化が可能な
X線装置を提供することを目的とする。 【解決手段】平面から一様に電子を放出する陰極1と、
この陰極1に対向して配置され前記電子が衝突して平面
から一様にX線を放出する陽極2と、前記X線の取り出
し窓4を有し前記陰極1および前記陽極2を収容する真
空容器3とを備えた構成とする。
Description
査等に使用されるX線装置に関する。
ィラメント)から放出される電子を電界で加速して陽極
(ターゲット)に衝突させ、その制動放射によって発生
したX線を取り出し窓から出射して利用する構成を採っ
ている。
いて説明する。図14(a)に示すように、従来のX線管
に代表される産業用X線発生装置は、主に熱陰極31、陽
極32、取り出し窓33、などから構成されており、フィラ
メント状の熱陰極31に電流を流して加熱することにより
熱電子を放出させ、印加された電界によって加速し、陽
極32に当てて発生する制動X線を取り出し窓33を通して
外部に出射させる(参考文献 X線回折・散乱技術 上
菊田著 東京大学出版会)。
を構成するタングステン・フィラメントに電流を流して
2000℃以上に加熱する必要があるため、その消費電力が
大きく、小型化に限界がある。
ト型の熱陰極31を利用しているため、陽極32表面での電
子の照射形状は線状となるので、そこから放出されるX
線34は取り出し方向によって点状、または線状の焦点形
状を持つことになる。また、放出するX線34は、その出
射方向によっては陽極32の一部を透過して出てくる成分
も含まれるため、X線34のビーム断面での空間強度分布
は不均一なものとなる。さらに、取り出せるX線量は、
電子衝突によって加熱される陽極32の熱負荷許容量によ
って制限されるため、この従来のX線管では、大線量の
X線34を取り出すのには制約がある。
X線装置においては、熱陰極を用いているために消費電
力が大きく、小型化に限界があり、さらに、高速パルス
動作の点でも不利である。また、陽極表面での電子の照
射形状が線状となるので、陽極の熱負荷許容量によりX
線の大線量化にも制約がある。
X線を発生し、高効率、小型で、さらに高速パルス動作
および大線量化が可能なX線装置を提供することを目的
とする。
め、請求項1の発明のX線装置は、平面から一様に電子
を放出する陰極と、この陰極に対向して配置され前記電
子が衝突して平面から一様にX線を放出する陽極と、前
記X線の取り出し窓を有し前記陰極および前記陽極を収
容する真空容器とを備えた構成とする。
電子放出面にカーボンナノ構造体を備えている構成とす
る。請求項3の発明のX線装置は、前記陰極の電子放出
面と前記陽極の電子衝突面は平行に設けられ、前記陽極
を透過したX線が前記取り出し窓から取り出される構成
とする。
前記取り出し窓を兼ねる構成とする。請求項5の発明の
X線装置は、前記陽極は、陰極陽極間の電界と同方向ま
たは斜め方向に軸をもつ細管の集合体である構成とす
る。
の電子流に磁界を印加する磁界印加装置を備えている構
成とする。請求項7の発明のX線装置は、前記陽極は、
X線透過特性の良い材料からなる母材と、この母材の電
子が衝突する面に設けられた高い原子番号の金属の層と
を備えている構成とする。
傍に電子放出を制御するグリッド電極を備えている構成
とする。請求項9の発明のX線装置は、前記真空容器
は、陰極陽極間の電界と直交する方向によって絶縁距離
を確保する構造である構成とする。
出し窓の外または内に、X線の発散を抑制する発散抑制
装置を備えている構成とする。請求項11の発明のX線装
置は、前記発散抑制装置の前方にX線検出器を備え、こ
のX線検出器と前記発散抑制装置の間に置かれた被検体
内部の透過検査を行うようにした構成とする。
装置を被検体を中心とする円周上に配置し、前記被検体
のCT画像データを得るようにした構成とする。請求項
13の発明のX線装置は、前記発散抑制装置の前方に照射
対象物を設置し、この照射対象物の内外部の滅菌あるい
は殺菌を行うようにした構成とする。
装置を図1を参照して説明する。すなわち、図1(a)
に示すように、本実施の形態のX線装置は、平面状陰極
1とターゲットである平面状陽極2が真空容器3内に収
容されて構成されている。真空容器3は取り出し窓4を
備えている。
装置においては、図1(b)に示すように、平面状陰極
1から放出された平面状で一様な電子線5が平面状陽極
2により加速され、平面状陽極2に衝突する。これによ
り、平面状陽極2から制動放射による平面状で一様なX
線6が発生する。この平面状で一様なX線6は取り出し
窓4を通して真空容器3の外部に取り出される。
状陽極2表面での電子線5の照射形状が平面状となり、
大面積から平面状で一様なX線6が発生するので、X線
6の大線量化および大面積照射利用が可能となる。
置を図2を用いて説明する。すなわち、本実施の形態の
X線装置は、平面状陰極1と平面状陰極1の電子放出面
に設けられた平面状のカーボンナノ構造体7と、ターゲ
ットである平面状陽極2と、取り出し窓4を備え前記陰
極1等を収容する真空容器3とから構成されている。
ンナノチューブ、フラーレン等に代表されるナノスケー
ルのカーボン系材料である(参考文献 日経メカニカル
2001.12 No.567 pp.37)。また、特に、このカーボン
ナノ構造体は、電界放出特性に優れており、電気的特
性、機械的強度および化学的安定性等の点からも微小電
子放出源として有効な材料である。
装置においては、平面状陰極1と平面状陽極2による電
界によりカーボンナノ構造体7から平面状で一様な電子
線5が電界放出により効率良く発生する。したがって、
X線装置の消費電力低減と小型化、および高速パルス動
作が可能となる。
置を図3を用いて説明する。すなわち、図3(a)に示
すように、本実施の形態のX線装置は、平面状陰極1
と、電子線5の衝突を受ける面が平面状陰極1の電子発
生面と平行なターゲットである平面状陽極2および、取
り出し窓4を備え前記陰極1等を収容する真空容器3か
ら構成されている。
装置においては、図3(b)に示すように、平面状陰極
1から放出された平面状で一様な電子線5が平面状陽極
2により加速され、平面状陽極2に衝突する。これによ
り、平面状陽極2から制動放射による平面状で一様なX
線6が発生する。本実施の形態では、特に、この平面状
で一様なX線6を平面状陽極2を透過させ、平面状陽極
2の後方から取り出し窓4を通して真空容器3の外部に
取り出す。
に示したような電子線5の進行方向に対して傾斜のある
陽極2から発生したX線6を利用するのではなく、電子
線5の衝突を受ける面が平面状陰極1の電子発生面と平
行な平面状陽極2の後方に透過してくるX線6を利用す
るので、より一様性の高いX線6を得ることができる。
また、平面状陰極1と平面状陽極2の電極間距離を短縮
することができる。
陰極1と平面状陽極2の電極間距離が短縮し、かつ、大
面積から一様なX線が発生するので、X線装置の小型
化、X線6の大線量化および大面積照射利用が可能とな
る。
置を図4を用いて説明する。すなわち、本実施の形態の
X線装置は、平面状陰極1と、電子線5の衝突を受ける
面が平面状陰極1の電子発生面と平行なターゲットであ
る平面状陽極2と、真空容器3とから構成され、平面状
陽極2はX線6の取り出し窓を兼ねる構造となってい
る。
装置においては、平面状陽極2で発生した平面状で一様
なX線6が平面状陽極2のみを透過して真空容器3の外
部に取り出される。
状陽極2がX線6の取り出し窓を兼ねる構造を有してお
り、発生したX線6は真空容器3の外部に取り出される
際、図3に示されるように平面状陽極2と取り出し窓4
の2つの物質を透過する必要がなく、図4に示されるよ
うに平面状陽極2のみを透過すればよいので、透過の際
の減衰が低減され効率良くX線6を取り出すことができ
る。
置を図5を用いて説明する。すなわち、図5(a)に示
すように、本実施の形態のX線装置は、平面状陰極1、
細管集合体によるターゲットである平面状陽極8、およ
び取り出し窓4を備えた真空容器3から構成されてい
る。
は、図5(b)に示すように、印加電界と同方向(電子
線5の進行方向)に長さ方向の軸を持つ細管9の集合体
により構成されたものである。
装置においては、図5(c)に示すように、細管壁10で
発生したX線6を細管集合体による平面状陽極8の後方
から取り出す際、X線6は細管9の空洞部分を主に通る
こととなる。
は細管9の空洞部分を主に通り、細管集合体による平面
状陽極8の後方に進行することとなるので、金属等を透
過する際に受ける減衰が低減され効率良くX線6を取り
出すことができる。
る細管9の長さ方向の軸を、印加電界の方向(電子線の
進行方向)に対して斜めの方向にとったものであるが、
このように構成された細管集合体による平面状陽極8で
は電子線5が細管壁10に衝突しやすくなるので、X線6
の発生効率が高くなる。
置を図6を用いて説明する。すなわち、図6(a)に示
すように、本実施の形態のX線装置は、平面状陰極1
と、細管集合体による平面状陽極8と、取り出し窓4を
有する真空容器3と、真空容器3の外部に設けられた磁
界印加装置11とから構成されている。
状陰極1と細管集合体による平面状陽極8により発生す
る電界と磁界印加装置11により発生する磁界の方向が同
方向である場合を例としたものである。磁界印加装置11
として、図6(a)は電磁石を、図6(b)は永久磁石
を各々想定している。
装置においては、図6(c)に示すように、電子線5が
磁界12に拘束されてらせん運動するため、電子線5と細
管壁10との衝突頻度が高くなる。その結果、X線6の発
生効率が高くなる。
と細管集合体による平面状陽極8により発生する電界と
磁界印加装置11により発生する磁界の方向が直交する方
向である場合を例としたものである。磁界印加装置11と
して、図6(d)は電磁石を、図6(e)は永久磁石を
各々想定している。
装置においては、図6(f)に示すように、電子線5が
磁界12により力13を受けて曲るため、電子線5と細管壁
10との衝突頻度が高くなり、X線6の発生効率が高くな
る。
置を図7を用いて説明する。図7に示すように、本実施
の形態のX線装置は、平面状陰極1と、電子線5の衝突
を受ける面が平面状陰極1の電子発生面と平行な平面状
陽極(ターゲット)2と、取り出し窓4を備えた真空容
器3とから構成されている。平面状陽極2は、低い原子
番号の金属などのX線透過性の高い材質でつくられた陽
極母材14と、この陽極母材14の電子が衝突する表面に設
けられた高い原子番号の金属よるコーティング15により
構成されている。
装置においては、平面状陰極1で発生した電子線5が平
面状陽極2の表面の金属コーティング15に衝突してX線
6を発生する。そして、発生したX線6は陽極母材14を
透過して平面状陽極2の後方に取り出される。このと
き、電子線5が衝突する金属コーティング15は高い原子
番号の金属によるものであるため、X線発生効率が高
い。また、陽極母材14はX線透過性の高い材質でつくら
れているため、陽極母材14を透過する際にX線6が受け
る減衰の影響が少ない。
状陽極2でのX線発生効率が高く、かつ、平面状陽極2
をX線6が透過する際に受ける減衰の影響が少ないで、
電子線5の発生量に対して効率良くX線6を取り出すこ
とができる。
置を図8を用いて説明する。図8に示すように、本実施
の形態のX線装置は、平面状陰極1と、平面状陽極(タ
ーゲット)2と、取り出し窓4を備えた真空容器3と、
平面状陰極1の前面に設けられたグリッド電極16とから
構成されている。
装置においては、平面状陰極1が熱電子放出源の場合
は、グリッド電極16に印加した電圧に依存して、熱電子
放出された電子を平面状陽極2方向に引き出すことがで
きる。また、平面状陰極1が電界電子放出源の場合は、
グリッド電極16に印加した電圧に依存して平面状陰極1
から電界放出により電子が発生する。
ッド電極16に印加した電圧で、電子の引き出しおよび発
生が行われるので、グリッド電極16により電子線5およ
びX線6の発生量および発生タイミングを制御すること
ができる。また、特に、平面状陰極1が電界電子放出源
である場合は、電子線5およびX線6の高速パルス制御
(動作)が可能となる。
置を図9を用いて説明する。図9に示すように、本実施
の形態のX線装置は、平面状陰極1と、平面状陽極(タ
ーゲット)2と、取り出し窓4を備えた真空容器3とか
ら構成されている。ここで、真空容器3は絶縁体で構成
されており、平面状陰極1と平面状陽極2のあいだの特
に沿面の絶縁を保つ役割を担っている。また、真空容器
3とは別に、内部に、平面状陰極1と平面状陽極2のあ
いだの特に沿面の絶縁を保つ役割を担う絶縁構造物を用
いる場合もある。本実施の形態では、この絶縁体である
真空容器3あるいは真空容器3とは別の絶縁構造物の絶
縁距離を確保する方向17が、平面状陰極1と平面状陽極
2に対して印加した電界と直交する方向であることが特
徴である。
装置においては、ハウジング構造が電界方向に対して薄
型の構造となる。その結果、狭い場所にも設置取り付け
が可能となる。
置を図10を用いて説明する。図10に示すように、本実施
の形態のX線装置は、平面状陰極1と、平面状陽極(タ
ーゲット)2と、取り出し窓4を備えた真空容器3と、
取り出し窓4の外に設けたコリメータ18から構成されて
いる。ここで、コリメータ18は導波管19に置き換えても
よい。また、図10では、電子線5の衝突を受ける面が平
面状陰極1の電子発生面と平行な平面状陽極2を備え、
この平面状陽極2の後方にX線6を取り出す場合を例と
しているが、図1に示したような斜交するX線発生面を
有する平面状陽極(ターゲット)2を用い、コリメータ
18あるいは導波管19は横方向にX線6を取り出すように
してもよい。
装置においては、発生した平面状X線6がコリメータ18
あるいは導波管19により発散が制御される。また、X線
出射形状が点状、線状であるX線装置に比べて、コリメ
ータ18あるいは導波管19を通過するX線の利用効率が高
くなる。したがって、コリメータ18あるいは導波管19の
出射面から大面積で、かつ、発散角の小さい一様な準平
行X線20を効率良く得ることができる。
置を図11を用いて説明する。図11に示すように、本実施
の形態のX線装置は、平面型X線源21と、マルチ導波管
コリメータ22と、被検体23の後方に設けられた撮影器24
と、遮蔽容器25とから構成されている。
装置においては、平面型X線源21で発生した一様な平面
状X線がマルチ導波管コリメータ22により制御され、大
面積で、かつ、発散角の小さい一様な準平行X線20が得
られる。この準平行X線20を被検体23に照射し、被検体
23を透過した準平行X線20を撮影器24で検出する。撮影
器24では被検体23の内部透過像が検出されるので、被検
体23内部の透過検査を行うことができる。このとき、被
検体23の大きさ、量などに応じて平面型X線源21は、列
状あるいはマトリクス状に配置される。また、遮蔽容器
25は平面型X線源21、マルチ導波管コリメータ22、被検
体23および撮影器24を覆っており、これらの外部にX線
が漏れるのを防止している。
被検体23の透過像を得る場合は、X線(ビーム)断面積
が被検体23の大きさと同等以上になるまで、X線源と被
検体23の間に距離を設けてX線を拡大する必要がある
が、本実施の形態のX線装置によれば、平面状の一様な
準平行X線20により被検体23内部の透過像が検出される
ので、従来の点状あるいは線状のX線源の場合と比較し
て、X線源(平面型X線源21、マルチ導波管コリメータ
22)と被検体23の間の距離が短縮される。
容器25も小さくなるので安全性も高まる。さらに、得ら
れる透過像の解像度が高くなる。また、被検体23の大き
さなどに応じて平面型X線源21、マルチ導波管コリメー
タ22を列状あるいはマトリクス状に配置することができ
るので、大面積照射によるX線検査が可能となる。
置を図12を用いて説明する。図12に示すように、本実施
の形態のX線装置は、被検体23に対して準平行X線20を
照射するX線発生ユニット28と、X線検出器29と、被検
体搬送機30とから構成されている。X線発生ユニット28
は、前述の平面型X線源21とマルチ導波管コリメータ22
で構成されている。
を用いて構成される一般的なX線CT(コンピュータト
モグラフィ)装置に対して、X線源21とマルチ導波管22
からなるX線発生ユニット28をCTのリング支持体の全
周に配置し、X線検出器29も同様の配置をとっているこ
とが特徴である。
装置においては、まず、一つのX線発生ユニット28から
発生した一様で平面状の準平行X線20が被検体23を透過
し、X線検出器29により被検体23の内部CT画像の一部
がデータとして取得される。次に、CTのリング支持体
の全周に配置された各X線発生ユニット28を電気的に順
次駆動し、各X線検出器29で被検体23内部CT画像の一
部のデータを順次取得する。こうして全体のCT画像デ
ータを採取することができる。ここで、被検体23は被検
体搬送機30上に乗り、CT装置内外を移動することとな
る。
X線源21とマルチ導波管コリメータ22からなる各X線発
生ユニット28を電気的に順次駆動し、各X線検出器29で
検出してCT画像データを採取することができるので、
X線発生ユニット28およびX線検出器29を回転等させる
ための機械的な構成を必要とせず、さらに、高速度でC
T画像データを得ることができる。
たX線発生ユニット28およびX線検出器29を順次駆動す
る態様を説明したが、全てのX線発生ユニット28および
X線検出器29を同時に駆動する構成も可能であり、その
ようにすると、さらに高速度でCT画像データを得るこ
とができる。
置を図13を用いて説明する。図13に示すように、本実施
の形態のX線装置は、平面型X線源21と、遮蔽容器25
と、照射対象物26を輸送する対象物輸送機27とから構成
されている。
装置においては、平面型X線源21で発生した一様な平面
状X線6が照射対象物26に照射され、照射対象物26の内
外部の一様な滅菌および殺菌が行われる。このとき、照
射対象物26は対象物輸送機27の上に乗せられ、移動しな
がら順次、X線6による照射を受ける。また、平面型X
線源21、照射対象物26および対象物輸送機27の一部は遮
蔽容器25に覆われており、外部にX線が漏れることが防
止される。なお、照射対象物26の大きさ、量などに応じ
て平面型X線源21は、図13に示すように、列状あるいは
マトリクス状に配置される。
照射対象物26の内外部の滅菌および殺菌を行う場合は、
X線(ビーム)断面積が照射対象物26の大きさと同等以
上になるまで、X線源と照射対象物26の間に距離を設け
てX線を拡大する必要があるが、本実施の形態のX線装
置によれば、平面状の一様なX線6により照射対象物26
の内外部の一様な滅菌および殺菌が行われるので、従来
の点状あるいは線状のX線源の場合と比較して、平面型
X線源21と照射対象物26の間の距離が短縮される。
容器25も小さくなるので安全性も高まる。また、照射対
象物26の大きさ、量などに応じて平面型X線源21を列状
あるいはマトリクス状に配置することができるので、大
面積照射によるX線滅菌および殺菌が可能となる。
発生し、高効率、小型で、さらに高速パルス動作および
大線量化が可能なX線装置を提供することができる。
(a)は構成を示す断面図、(b)は作用を説明する
図。
示す断面図。
(a)は構成を示す断面図、(b)は作用を説明する
図。
示す断面図。
(a)は構成を示す断面図、(b)は平面状陽極の斜視
図、(c)は作用を説明する図、(d)は平面状陽極の
他の配置例を示す斜視図。
(a),(b),(d),(e)はそれぞれ異なる構成
例を示す断面図、(c)は(a),(b)の場合の作用
を説明する図、(f)は(d),(e)の場合の作用を
説明する図。
示す断面図。
示す断面図。
示す断面図。
を示す断面図。
を示す断面図。
し、(a)は全体図、(b)は(a)のb−b線に沿う
断面図。
を示す断面図。
す断面図、(b)は作用を説明する図。
取り出し窓、5…電子線、6…X線、7…カーボンナノ
構造体、8…細管集合体による平面状陽極、9…細管、
10…細管壁、11…磁界印加装置、12…磁界、13…力、14
…陽極母材、15…金属コーティング、16…グリッド電
極、17…絶縁距離を確保する方向、18…コリメータ、19
…導波管、20…準平行X線、21…平面型X線源、22…マ
ルチ導波管コリメータ、23…被検体、24…撮影器、25…
遮蔽容器、26…照射対象物、27…対象物輸送機、28…X
線発生ユニット、29…X線検出器、30…被検体搬送機、
31…熱陰極、32…陽極、33…取り出し窓、34…X線。
Claims (13)
- 【請求項1】 平面から一様に電子を放出する陰極と、
この陰極に対向して配置され前記電子が衝突して平面か
ら一様にX線を放出する陽極と、前記X線の取り出し窓
を有し前記陰極および前記陽極を収容する真空容器とを
備えたことを特徴とするX線装置。 - 【請求項2】 前記陰極の電子放出面にカーボンナノ構
造体を備えていることを特徴とする請求項1記載のX線
装置。 - 【請求項3】 前記陰極の電子放出面と前記陽極の電子
衝突面は平行に設けられ、前記陽極を透過したX線が前
記取り出し窓から取り出されることを特徴とする請求項
1記載のX線装置。 - 【請求項4】 前記陽極が前記取り出し窓を兼ねること
を特徴とする請求項1記載のX線装置。 - 【請求項5】 前記陽極は、陰極陽極間の電界と同方向
または斜め方向に軸をもつ細管の集合体であることを特
徴とする請求項3記載のX線装置。 - 【請求項6】 陰極陽極間の電子流に磁界を印加する磁
界印加装置を備えていることを特徴とする請求項5記載
のX線装置。 - 【請求項7】 前記陽極は、X線透過特性の良い材料か
らなる母材と、この母材の電子が衝突する面に設けられ
た高い原子番号の金属の層とを備えていることを特徴と
する請求項4記載のX線装置。 - 【請求項8】 前記陰極近傍に電子放出を制御するグリ
ッド電極を備えていることを特徴とする請求項1記載の
X線装置。 - 【請求項9】 前記真空容器は、陰極陽極間の電界と直
交する方向によって絶縁距離を確保する構造であること
を特徴とする請求項1記載のX線装置。 - 【請求項10】 X線の取り出し窓の外または内に、X
線の発散を抑制する発散抑制装置を備えていることを特
徴とする請求項1記載のX線装置。 - 【請求項11】 前記発散抑制装置の前方にX線検出器
を備え、このX線検出器と前記発散抑制装置の間に置か
れた被検体内部の透過検査を行うようにしたことを特徴
とする請求項10記載のX線装置。 - 【請求項12】 請求項11記載のX線装置を被検体を中
心とする円周上に複数配置し、前記被検体のCT画像デ
ータを得るようにしたことを特徴とするX線装置。 - 【請求項13】 前記発散抑制装置の前方に照射対象物
を設置し、この照射対象物の内外部の滅菌あるいは殺菌
を行うようにしたことを特徴とする請求項10記載のX線
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002088943A JP2003288853A (ja) | 2002-03-27 | 2002-03-27 | X線装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2002088943A JP2003288853A (ja) | 2002-03-27 | 2002-03-27 | X線装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003288853A true JP2003288853A (ja) | 2003-10-10 |
Family
ID=29234664
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002088943A Pending JP2003288853A (ja) | 2002-03-27 | 2002-03-27 | X線装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2003288853A (ja) |
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|
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