JPH11232867A - レジスタ装置 - Google Patents

レジスタ装置

Info

Publication number
JPH11232867A
JPH11232867A JP10046216A JP4621698A JPH11232867A JP H11232867 A JPH11232867 A JP H11232867A JP 10046216 A JP10046216 A JP 10046216A JP 4621698 A JP4621698 A JP 4621698A JP H11232867 A JPH11232867 A JP H11232867A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
register
sub
signal
register device
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP10046216A
Other languages
English (en)
Inventor
Shunichi Sakata
俊一 坂田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Oki Micro Design Miyazaki Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Oki Micro Design Miyazaki Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd, Oki Micro Design Miyazaki Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP10046216A priority Critical patent/JPH11232867A/ja
Priority to US09/123,433 priority patent/US6108395A/en
Publication of JPH11232867A publication Critical patent/JPH11232867A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C19/00Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
    • G11C19/28Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using semiconductor elements
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C19/00Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C19/00Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
    • G11C19/28Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using semiconductor elements
    • G11C19/287Organisation of a multiplicity of shift registers

Landscapes

  • Shift Register Type Memory (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ライトレジスタ部に格納されているデータを
リードレジスタ部に対して正確かつ効率的に転送するレ
ジスタ装置を提供する。 【解決手段】 レジスタ装置1は,複数のサブレジスタ
装置SRを備えている。複数のサブレジスタ装置SR
は,3つのサブレジスタ装置群G1,G2,G3にグル
ープ化されており,サブレジスタ装置群G1とサブレジ
スタ装置群G2の間には,インバータ11,13,およ
び容量素子15から構成される信号処理部10が備えら
れ,サブレジスタ装置群G2とサブレジスタ装置群G3
の間には,インバータ21,23,および容量素子25
から構成される信号処理部20が備えられている。転送
信号生成部191から出力される転送信号STは,信号
処理部10,20において増幅される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は,FIFOメモリ等
の半導体記憶装置に用いられ,データを一時的に格納す
るレジスタ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】フィールドメモリを構成するFIFOメ
モリは,画像データを扱うため高速に動作し,かつ大容
量であることが要求されている。したがって,かかるF
IFOメモリは,高集積化が可能なダイナミックメモリ
セル,および,ライトデータレジスタとリードデータレ
ジスタとから構成され,所定のデータを一時的に格納す
るレジスタ装置を有している。
【0003】従来のFIFOメモリ101を図8に示
す。このFIFOメモリ101は,例えば,n個のシリ
アルデータをそれぞれ入力するn個のデータ入力端子D
in−1〜Din−nを有し,それらがn個のデータ入
力バッファ111−1〜111−nへ接続されている。
各データ入力バッファ111−1〜111−nは,ライ
トイネーブル端子WEに対してHレベルの信号を入力す
ることによって,アクティブとされ,データ入力端子D
in−1〜Din−nからのシリアルデータをそれぞれ
入力する回路である。そして,データ入力バッファ11
1−1〜111−nの各出力端子は,ライトデータバス
WDBを介してレジスタ装置121に接続されている。
【0004】レジスタ装置121は,ライトデータバス
WDBからのデータを一時的に格納する機能を有してお
り,n個のライトレジスタ部123−1〜123−n,
およびn個のリードレジスタ部125−1〜125−n
で構成されている。そして,リードレジスタ部125−
1〜125−nは,リードデータバスRDBに接続され
ている。
【0005】レジスタ装置121の出力端子は,n個の
データレジスタ131−1〜131−nに接続されてい
る。各データレジスタ131−1〜131−nは,ライ
トイネーブル端子WEに対してHレベルの信号を入力す
ることによってアクティブとされ,レジスタ装置121
からのデータを格納し,かかるデータをn個のメモリセ
ルアレイ141−1〜141−nへ出力する回路であ
る。各メモリセルアレイ141−1〜141−nは,複
数のワード線(図示せず。)およびビット線(図示せ
ず。)を有し,これらの交差箇所にはデータ格納用のメ
モリセルが配列されている。なお,ワード線は,Xデコ
ーダ142によって選択されるようになっている。
【0006】各メモリセルアレイ141−1〜141−
nには,n個のデータレジスタ151−1〜151−n
が接続されている。各データレジスタ151−1〜15
1−nは,リードイネーブル端子REに対してHレベル
の信号を入力することによってアクティブとされ,各メ
モリセルアレイ141−1〜141−nから読み出され
たデータを格納する機能を有している。そして,各デー
タレジスタ151−1〜151−nの出力端子には,n
個のデータ出力バッファ161−1〜161−nが接続
されている。また,出力バッファ161−1〜161−
nには,リードデータバスRDBも接続されている。そ
して,各データ出力バッファ161−1〜161−n
は,リードイネーブル端子REに対してHレベルの信号
を入力することによってアクティブとされ,各データレ
ジスタ151−1〜151−n,またはリードデータバ
スRDBからのデータを入力し,各データ出力端子Do
ut−1〜Dout−nへ出力する機能を有する。
【0007】さらにFIFOメモリ101には,シリア
ルライトクロック端子SWCKから入力されるクロック
信号に基づいてデータのライト動作を制御するシリアル
ライトタイミング制御回路171が設けられ,その出力
端子は,ライトリセット制御回路173およびデータレ
ジスタ131−1〜131−nに接続されている。ライ
トリセット制御回路173は,リセットライト端子RS
TWから入力されるリセット信号に基づいてデータのラ
イト動作をリセットするための回路であり,その出力端
子は,データレジスタ131−1〜131−nに接続さ
れている。
【0008】また,上記のシリアルライトタイミング制
御回路171およびライトリセット制御回路173に対
応してシリアルリードタイミング制御回路175および
リードリセット制御回路177が設けられている。シリ
アルリードタイミング制御回路175は,シリアルリー
ドクロック端子SRCKから入力されるクロック信号に
基づいてデータのリード動作を制御するための回路であ
り,その出力端子は,リードリセット制御回路177お
よびデータレジスタ151−1〜151−nに接続され
ている。リードリセット制御回路177は,リセットリ
ード端子RSTRから入力されるリセット信号に基づい
てデータのリード動作をリセットするための回路であ
り,その出力端子は,データレジスタ151−1〜15
1−nに接続されている。
【0009】そして,FIFOメモリ101には,クロ
ック信号を発生するクロック発振器181が設けられ,
その出力端子は,リード/ライト/リフレッシュ制御回
路183に接続されている。リード/ライト/リフレッ
シュ制御回路183は,クロック発振器181およびデ
ータレジスタ131−1〜131−n,151−1〜1
51−nの出力に基づき,Xデコーダ142に対してリ
ード/ライトの制御とリフレッシュ制御を行う回路であ
る。
【0010】次に,上述のFIFOメモリ101に備え
られたレジスタ装置121について図9を参照しながら
説明する。
【0011】レジスタ装置121は,略同一の機能・構
成を有するn個のサブレジスタ装置SR−1〜SR−n
から構成されており,各サブレジスタ装置SR−1〜S
R−nは,前出のライトレジスタ部123−1〜123
−n,リードレジスタ部125−1〜125−nを備え
るものである。なお,ここではサブレジスタ装置SR−
1を代表的に説明することとする。
【0012】サブレジスタ装置SR−1は,図9に示す
ようにライトデータバスWDBに接続されているライト
レジスタ部123−1とリードデータバスRDBに接続
されているリードレジスタ部125−1を備えている。
また,ライトレジスタ部123−1とリードレジスタ部
125−1は,2つのNチャネル形トランジスタからな
るデータ転送ゲートTGによって接続されている。
【0013】そして,ライトレジスタ部123−1は,
ライトデータバスWDBからのデータを格納するライト
レジスタWR,および,このライトレジスタWRをライ
トデータバスWDBに接続するためのライトポインタW
Pから構成されている。なお,ライトレジスタWRは,
2つのインバータから成るいわゆるインバータラッチで
構成されている。また,ライトポインタWPは,2つの
Nチャネル形トランジスタから構成されている。そし
て,各サブレジスタ装置SR−1〜SR−nに備えられ
たライトポインタWPは,例えばシフトレジスタ等のシ
フト手段(図示せず。)によって順次オン状態とされ,
各サブレジスタ装置SR−1〜SR−nに備えられたラ
イトレジスタWRとライトデータバスWDBとを接続す
る。その結果,各ライトレジスタWRには所定のデータ
が順次書き込まれることとなる。
【0014】一方,リードレジスタ部125−1は,ラ
イトレジスタ123−1から転送されたデータを格納す
るリードレジスタRR,および,このリードレジスタR
RをリードデータバスRDBに接続するためのリードポ
インタRPから構成されている。なお,リードレジスタ
RRは,ライトレジスタWRと同様に2つのインバータ
から成るいわゆるインバータラッチで構成されている。
また,ライトポインタWPは,リードポインタRPと同
様に2つのNチャネル形トランジスタから構成されてい
る。そして,各サブレジスタ装置SR−1〜SR−nに
備えられたリードポインタRPは,例えばシフトレジス
タ等のシフト手段(図示せず。)によって順次オン状態
とされ,各サブレジスタ装置SR−1〜SR−nに備え
られたリードレジスタRRとリードデータバスRDBと
を接続する。その結果,各リードレジスタRRに格納さ
れている所定のデータは,順次リードデータバスRDB
に出力されることとなる。
【0015】そして,ライトレジスタ部123−1とリ
ードレジスタ部125−1とを接続するデータ転送ゲー
トTGは,転送信号生成部191からの転送信号STに
よってオン/オフ動作する。転送信号発生回路191
は,例えば,全てのリードレジスタ部123−1〜12
3−nがリード動作を終了し,かつ,ライトレジスタ部
125−1〜125−nがライト動作を終了した時点
で,Hレベルの転送信号STを出力し,全てのサブレジ
スタ装置SR−1〜SR−n備えられたデータ転送ゲー
トTGをオン状態とする。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】ところで,FIFOメ
モリ101が大容量のデータ処理に用いられる場合,図
9に示すレジスタ装置121におけるサブレジスタ装置
SR−1〜SR−nの個数は,例えば70〜100程度
となる。このように,サブレジスタ装置SR−1〜SR
−nを多数備えた従来のレジスタ装置121によれば,
サブレジスタ装置SR−1〜SR−nにおけるデータ転
送ゲートTGの容量成分等の影響によって,図10に示
すように,転送信号生成部191から出力された転送信
号STが,転送信号生成部191の最も近くに位置する
サブレジスタ装置SR−nから最も遠くに位置するサブ
レジスタ装置SR−1に至るまでに減衰してしまう場合
があった。このような転送信号STの減衰は,データ転
送ゲートTGの動作不良につながり,ライトレジスタ部
123−1のデータをリードレジスタ部125−1に対
して正確に転送できなくなるおそれがあった。
【0017】さらに,ライトレジスタ部123−1〜1
23−nに格納されているデータと,これらに対応する
リードレジスタ部125−1〜125−nに格納されて
いるデータが異なる場合には,各リードレジスタRRを
構成するインバータが反転動作を一斉に行うため,図1
0に示すように電源電位Vccの低下や接地電位Gnd
の上昇が発生する場合があった。電源電位Vccと接地
電位Gndの大幅な変動は,データ転送ゲートTGの動
作不良を誘発するのみならず,レジスタ装置121以外
の回路にも悪影響を及ぼすこととなる。
【0018】本発明は,従来のレジスタ装置が有する上
記のような問題点に鑑みてなされたものであり,本発明
の目的は,サブレジスタ装置を多数備えた場合であって
も,ライトレジスタ部に格納されているデータをリード
レジスタ部に対して正確かつ効率的に転送することが可
能であって,さらに,かかるデータ転送時において電源
電位および接地電位に対する影響を最小限に止めること
が可能な新規かつ改良されたレジスタ装置を提供するこ
とにある。
【0019】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に,請求項1によれば,第1のレジスタ部,第2のレジ
スタ部,および前記第1のレジスタ部に保持されている
データを前記第2のレジスタ部に転送することが可能な
データ転送部から成る複数のサブレジスタ装置と,前記
複数のサブレジスタ装置におけるデータ転送部を制御す
るための転送信号を生成する転送信号生成部とを備えた
レジスタ装置が提供される。そして,このレジスタ装置
は,前記転送信号を前記各サブレジスタ装置に伝送する
ための伝送経路における1または2以上の箇所に前記転
送信号を増幅する機能を有する信号処理部を備えたこと
を特徴とする。
【0020】かかる構成によれば,サブレジスタ装置の
数が増加し,これに伴って伝送経路長が延長された場合
であっても,転送信号は,伝送経路の所定の箇所に配置
された信号処理部によって増幅されるために,最遠端に
位置するサブレジスタ装置まで安定した転送信号を伝送
することが可能となる。したがって,全てのサブレジス
タ装置における第1のレジスタ部から第2のレジスタ部
へのデータ転送は,誤動作なく正確に行われることとな
る。
【0021】さらに,請求項2に記載のように,前記信
号処理部には,入力された信号を所定の時間遅延させて
出力することが可能な信号遅延手段を備えるようにして
もよい。かかる構成によれば,各サブレジスタ装置にお
ける第1のレジスタ部から第2のレジスタ部へのデータ
転送を時間的にずらして実行することが可能となる。し
たがって,データ転送時に発生する瞬間的な電力消費を
低減させることが可能となる。
【0022】またさらに,請求項3に記載のように,前
記信号処理部には,入力された信号に基づいて所定の時
間幅のパルス信号を生成することが可能なパルス信号生
成手段を備えるようにしてもよい。かかる構成によれ
ば,各サブレジスタ装置における第1のレジスタ部から
第2のレジスタ部へのデータ転送に必要な時間だけデー
タ転送部をアクティブとすることが可能となるため,デ
ータ転送部の動作にかかる消費電力が削減される。
【0023】そして,上記請求項1,2,または3に記
載のレジスタ装置において,請求項4によれば,前記複
数のサブレジスタ装置を複数のサブレジスタ装置群にグ
ループ化し,前記伝送経路を前記転送信号が前記各サブ
レジスタ装置群毎に順次伝送されるように形成すること
ができる。かかる構成によれば,複数のサブレジスタ装
置を効率よく動作させることが可能となる。しかも,請
求項5に記載のように,各サブレジスタ装置群を,相隣
接するサブレジスタ装置群に対して前記転送信号が連続
して伝送されないように配置すれば,相隣接するサブレ
ジスタ装置群それぞれのサブレジスタ装置の動作開始タ
イミングがずれることとなる。したがって,一のサブレ
ジスタ装置群の動作開始時に電源電圧変動が発生した場
合であっも,それに隣接するサブレジスタ装置の動作に
対する影響を緩和することが可能となる。
【0024】
【発明の実施の形態】以下に添付図面を参照しながら,
本発明にかかるレジスタ装置の好適な実施の形態につい
て詳細に説明する。なお,以下の説明において,略同一
の機能および構成を有する構成要素については,同一符
号を付することにより,重複説明を省略することにす
る。
【0025】(第1の実施の形態)第1の実施の形態に
かかるレジスタ装置1の構成を図1に示す。このレジス
タ装置1は,前記従来のレジスタ装置121におけるサ
ブレジスタ装置SR−1〜SR−nと略同一の構成・機
能を有する複数のサブレジスタ装置SRを備えている。
複数のサブレジスタ装置SRは,例えば3つのサブレジ
スタ装置群G1,G2,G3にグループ化されており,
サブレジスタ装置群G1とサブレジスタ装置群G2の間
には,インバータ11,13,および信号遅延手段とし
ての容量素子15から構成される信号処理部10が備え
られ,サブレジスタ装置群G2とサブレジスタ装置群G
3の間には,インバータ21,23,および信号遅延素
子としての容量素子25から構成される信号処理部20
が備えられている。
【0026】そして,信号処理部10において,インバ
ータ11の出力は,インバータ13の入力,および容量
素子15の一端に共通接続されており,容量素子15の
他端は接地されている。また,信号処理部20も同様
に,インバータ21の出力は,インバータ23の入力,
および容量素子25の一端に共通接続されており,容量
素子25の他端は接地されている。
【0027】次に,第1の実施の形態にかかるレジスタ
装置1の動作について図2を参照しつつ説明する。
【0028】転送信号生成部191から出力される転送
信号STがLレベルである場合は,各サブレジスタ装置
SRに備えられたデータ転送部としてのデータ転送ゲー
トTGはオフ状態であり,ライトレジスタ部に格納され
ているデータは,リードレジスタ部へ転送されず保持さ
れる。
【0029】ここで,転送信号STがHレベルとなり,
ノードNAを経由して転送信号生成部191に最も近く
に配置されているサブレジスタ装置群G1に入力され
る。これによってサブレジスタ装置群G1を構成するサ
ブレジスタ装置SRのデータ転送ゲートTGはオン状態
となり,ライトレジスタ部からリードレジスタ部への所
定のデータの転送が行われる。
【0030】次に,このHレベルの転送信号STは,信
号処理部10に伝達される。かかる信号処理部10に
は,容量素子15が備えられており,入力された転送信
号STは,容量素子15によって所定の時間遅延されて
ノードNBに伝達される。ノードNBにおける転送信号
STは,さらにサブレジスタ装置群G2に入力される。
そして,サブレジスタ装置群G2を構成するサブレジス
タ装置SRのデータ転送ゲートTGがオンし,ライトレ
ジスタ部からリードレジスタ部への所定のデータの転送
が行われる。
【0031】そして,サブレジスタ装置群G2に伝達さ
れた転送信号STは,次に信号処理部20に入力され
る。ここで,転送信号STは,上述の信号処理部10と
同様に所定の時間遅延されてノードNCに伝達されるこ
ととなる。またさらに,ノードNCにおける転送信号S
Tは,サブレジスタ装置群G3に入力され,以降同様
に,最終段に位置するサブレジスタ装置SRまで転送信
号STは,伝達されることとなる。
【0032】以上のように,第1の実施の形態にかかる
レジスタ装置1によれば,各サブレジスタ装置群G1,
G2,G3の間に転送信号STを遅延させる機能を有す
る信号処理部10,20が設けられているために,ライ
トレジスタ部からリードレジスタ部へのデータの転送動
作を同時に行うサブレジスタ装置SRは減少する。した
がって,図2に示すように,電源電位Vccおよび接地
電位Gndの変動を最小限に抑えることが可能となり,
レジスタ装置1のみならず周辺回路の動作の安定化が図
れる。
【0033】また,信号処理部10,20は,それぞれ
の出力部にインバータ13,23を備えており,これに
よって転送信号STを増幅させることが可能化されてい
る。これにより,サブレジスタ装置SRの数が増加した
場合でも,転送信号生成部191から発せられた転送信
号STを減衰させることなく再遠端に位置するサブレジ
スタ装置SRにまで伝達させることが可能である。した
がって,第1の実施の形態にかかるレジスタ装置1によ
れば,取り扱うデータの増加に伴うサブレジスタ装置S
Rの増設を容易に実施することが可能となる。
【0034】第1の実施の形態にかかるレジスタ装置1
は,半導体基板に対して図3に示すようにレイアウトさ
れる。すなわち,サブレジスタ装置群G1に対して,そ
の次に転送信号STが伝達されるサブレジスタ装置群G
2は,サブレジスタ装置群G3およびその他のサブレジ
スタ装置群を挟んで配置されている。そして,この場合
のレジスタ装置1の回路ブロックを図4に示す。このレ
イアウトによれば,サブレジスタ装置群G1におけるラ
イトレジスタ部からリードレジスタ部へのデータ転送動
作と,サブレジスタ装置群G2におけるライトレジスタ
部からリードレジスタ部へのデータ転送動作とが時間的
にオーバラップする場合であっても相互間の電気的な影
響を低減させることが可能となる。例えば,サブレジス
タ装置群G1におけるデータ転送動作中に,この動作に
起因する電源電圧変動が発生した場合でも,サブレジス
タ装置群G3およびその他のサブレジスタ装置群の存在
によって,サブレジスタ装置群G2に対する電源電圧変
動の影響は緩和されることとなる。したがって,サブレ
ジスタ装置群G2は,安定してデータ転送動作を行うこ
とが可能となる。
【0035】(第2の実施の形態)第2の実施の形態に
かかるレジスタ装置31の構成を図5に示す。このレジ
スタ装置31は,前記第1の実施に形態にかかるレジス
タ装置1に対して,パルス信号生成手段40,50を追
加したものである。
【0036】第2の実施の形態においてパルス信号生成
手段40,50は,略同一の回路構成を有するものとす
る。すなわち,パルス信号生成手段40,50は,図6
に示すように4つのインバータ41,42,43,44
およびNANDゲート45とを備えている。インバータ
41の出力は,インバータ42の入力に接続され,イン
バータ42の出力は,インバータ43の入力に接続され
ている。NANDゲート45の一の入力はインバータ4
3の出力と接続され,他の入力はインバータ41の入力
に接続されている。そして,NANDゲート45の出力
はインバータ44の入力に接続されている。
【0037】次に,第2の実施の形態にかかるレジスタ
装置31の動作について図7を参照しつつ説明する。
【0038】転送信号生成部191から出力される転送
信号STがLレベルである場合は,各サブレジスタ装置
SRに備えられたデータ転送ゲートTGはオフ状態であ
り,ライトレジスタ部に格納されているデータは,リー
ドレジスタ部へ転送されず保持される。
【0039】ここで,転送信号STがHレベルとなり,
ノードNAを経由して転送信号生成部191に最も近く
に配置されているサブレジスタ装置群G1に入力され
る。そして,サブレジスタ装置群G1を構成するサブレ
ジスタ装置SRのデータ転送ゲートTGがオンし,ライ
トレジスタ部からリードレジスタ部への転送が行われ
る。
【0040】次に,このHレベルの転送信号STは,信
号処理部10に伝達される。かかる信号処理部10に
は,容量素子15が備えられており,入力された転送信
号STは,容量素子15によって所定の時間遅延されて
パルス信号生成手段40に伝達される。ここで転送信号
STは,幅Wのパルスに調整され,ノードNBに伝達さ
れる。ノードNBにおける転送信号STは,サブレジス
タ装置群G2に入力される。そして,サブレジスタ装置
群G2を構成するサブレジスタ装置SRのデータ転送ゲ
ートTGがオンし,ライトレジスタ部からリードレジス
タ部への転送が行われる。
【0041】サブレジスタ装置群G2に伝達された転送
信号STは,次に信号処理部20に入力され,上述の信
号処理部10と同様に所定の時間遅延されてパルス信号
生成手段50に伝達される。ここで,転送信号STは,
再びパルス幅Wに調整され,ノードNCに伝達されるこ
ととなる。またさらに,ノードNCにおける転送信号S
Tは,サブレジスタ装置群G3に入力され,以降同様
に,最終段に位置するサブレジスタ装置SRまで順次伝
達されることとなる。
【0042】以上のように,第2の実施の形態にかかる
レジスタ装置31によれば,上述の第1の実施の形態に
かかるレジスタ装置1に対して,各サブレジスタ装置群
G1,G2,G3の間に転送信号STを所定のパルス幅
に調整するためのパルス信号生成手段が追加されている
ためにレジスタ装置1と同様の効果の他,下記の新たな
効果を有する。すなわち,パルス信号発生手段40,5
0によってデータ転送ゲートTGのオン時間を容易に調
整することが可能となる。したがって,ライトレジスタ
部からリードレジスタ部へのデータの転送に最低限必要
な時間だけ各サブレジスタ装置のデータ転送ゲートTG
をオンさせることが可能となる。これによって,従来,
ライトレジスタ部からリードレジスタ部へのデータ転送
が終了した後もオンしていたデータ転送ゲートTGの無
駄な動作をなくすことが可能となり,レジスタ装置31
全体の消費電力低減が図られる。
【0043】また,第2の実施の形態にかかるレジスタ
装置31は,第1の実施の形態にかかるレジスタ装置1
と同様に,図3に示すように半導体基板に対してレイア
ウトされる。かかるレイアウトによれば,第1の実施の
形態にかかるレジスタ装置1と同様に,各サブレジスタ
装置群相互間の影響を最小限におさえつつ,それぞれ安
定したデータ転送動作を行うことが可能となる。
【0044】以上,添付図面を参照しながら本発明の好
適な実施形態について説明したが,本発明はかかる例に
限定されない。当業者であれば,特許請求の範囲に記載
された技術的思想の範疇内において各種の変更例または
修正例に想到し得ることは明らかであり,それらについ
ても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解され
る。
【0045】例えば,上記の実施の形態においては,3
つのサブレジスタ装置群G1,G2,G3を用いて説明
しているが,サブレジスタ装置群の数は,これに限定さ
れない。
【0046】また,各サブレジスタ装置に備えられたラ
イトレジスタWRおよびリードレジスタRRは,インバ
ータラッチとして説明しているが,これに限らず,その
他ラッチ機能を有する素子であればいかなる構成であっ
てもよい。
【0047】そして,パルス信号生成手段40,50
は,インバータ41〜44とNANDゲート45によっ
て形成されているが,インバータの数を増やしてパルス
幅を拡げることも可能である。また,パルス信号生成手
段としてモノステーブルマルチバイブレータ等を用いる
ことも可能である。さらに,パルス信号生成手段40,
50は,略同一回路として,生成されるパルス信号のパ
ルス幅が一致している場合に即して説明したが,パルス
幅を個別に調節するようにしてもよい。
【0048】
【発明の効果】以上説明したように,本発明によれば,
全てのサブレジスタ装置における第1のレジスタ部から
第2のレジスタ部へのデータ転送は,誤動作なく正確に
行われることとなる。
【0049】そして,請求項2,3に記載の発明によれ
ば,電力消費を低減させることが可能となる。また,請
求項4に記載の発明によれば,複数のサブレジスタ装置
を効率よく動作させることが可能となり,請求項5に記
載の発明によれば,サブレジスタ装置の動作の安定化が
図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態にかかるレジスタ装
置の構成を示す回路ブロック図である。
【図2】図1のレジスタ装置の動作を示す波形図であ
る。
【図3】図1のレジスタ装置の半導体基板上におけるレ
イアウト図である。
【図4】図1のレジスタ装置を半導体基板上にレイアウ
トした場合の回路ブロック図である。
【図5】本発明の第2の実施の形態にかかるレジスタ装
置の構成を示す回路ブロック図である。
【図6】図5のレジスタ装置に備えられたパルス信号生
成手段を示す回路図である。
【図7】図5のレジスタ装置の動作を示す波形図であ
る。
【図8】従来のレジスタ装置を有するFIFOメモリの
構成を示すブロック図である
【図9】従来のレジスタ装置の構成を示す回路ブロック
図である。
【図10】図9のレジスタ装置の動作を示す波形図であ
る。
【符号の説明】
1,31 レジスタ装置 10,20 信号処理部 40,50 パルス信号生成手段 191 転送信号生成部 G1,G2,G3 サブレジスタ装置群 SR サブレジスタ装置 ST 転送信号 TG データ転送ゲート

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1のレジスタ部,第2のレジスタ部,
    および前記第1のレジスタ部に保持されているデータを
    前記第2のレジスタ部に転送することが可能なデータ転
    送部から成る複数のサブレジスタ装置と;前記複数のサ
    ブレジスタ装置におけるデータ転送部を制御するための
    転送信号を生成する転送信号生成部と;を備えたレジス
    タ装置であって:前記転送信号を前記各サブレジスタ装
    置に伝送するための伝送経路における1または2以上の
    箇所に前記転送信号を増幅する機能を有する信号処理部
    を備えたことを特徴とするレジスタ装置。
  2. 【請求項2】 さらに,前記信号処理部は,入力された
    信号を所定の時間遅延させて出力することが可能な信号
    遅延手段を備えたことを特徴とする請求項1に記載のレ
    ジスタ装置。
  3. 【請求項3】 さらに,前記信号処理部は,入力された
    信号に基づいて所定の時間幅のパルス信号を生成するこ
    とが可能なパルス信号生成手段を備えたことを特徴とす
    る請求項1または2に記載のレジスタ装置。
  4. 【請求項4】 前記複数のサブレジスタ装置は,複数の
    サブレジスタ装置群にグループ化され;前記伝送経路
    は,前記転送信号が前記各サブレジスタ装置群毎に順次
    伝送されるように形成されたことを特徴とする請求項
    1,2,または3に記載のレジスタ装置。
  5. 【請求項5】 前記各サブレジスタ装置群は,相隣接す
    るサブレジスタ装置群に対して前記転送信号が連続して
    伝送されないように配置されたことを特徴とする請求項
    4に記載のレジスタ装置。
JP10046216A 1998-02-10 1998-02-10 レジスタ装置 Withdrawn JPH11232867A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10046216A JPH11232867A (ja) 1998-02-10 1998-02-10 レジスタ装置
US09/123,433 US6108395A (en) 1998-02-10 1998-07-28 Register device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10046216A JPH11232867A (ja) 1998-02-10 1998-02-10 レジスタ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11232867A true JPH11232867A (ja) 1999-08-27

Family

ID=12740921

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10046216A Withdrawn JPH11232867A (ja) 1998-02-10 1998-02-10 レジスタ装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6108395A (ja)
JP (1) JPH11232867A (ja)

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5916053A (ja) * 1982-07-16 1984-01-27 Nec Corp パイプライン演算装置
US4473760A (en) * 1982-12-13 1984-09-25 Western Digital Corporation Fast digital sample resolution circuit
US4833655A (en) * 1985-06-28 1989-05-23 Wang Laboratories, Inc. FIFO memory with decreased fall-through delay

Also Published As

Publication number Publication date
US6108395A (en) 2000-08-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100936637B1 (ko) 메모리 모듈들에 대한 동적 명령 및/또는 어드레스 미러링시스템 및 방법
EP0704848B1 (en) Semiconductor pipeline memory device eliminating time loss due to difference between pipeline stages from data access
US5537354A (en) Semiconductor memory device and method of forming the same
EP0646928B1 (en) Synchronous dynamic random access memory
US5566108A (en) Synchronized semiconductor memory
KR970017656A (ko) 버스트 모드를 가진 고속 반도체 메모리
US5631866A (en) Semiconductor memory device
US6163500A (en) Memory with combined synchronous burst and bus efficient functionality
US4667310A (en) Large scale circuit device containing simultaneously accessible memory cells
JP3759645B2 (ja) 同期型半導体記憶装置
US5991230A (en) Synchronous random access memory
US20080192552A1 (en) Internal address generator
JP4894095B2 (ja) 半導体記憶装置
US6219283B1 (en) Memory device with local write data latches
KR100265760B1 (ko) 직접엑세스모드테스트제어회로를구비하는고속반도체메모리장치및테스트방법
JPH0395793A (ja) アービター回路
KR20030066450A (ko) 데이터 기록 방법 및 그 방법을 이용하는 메모리 시스템
US20020141251A1 (en) Method and circuit for processing output data in pipelined circuits
JPH11232867A (ja) レジスタ装置
US4918657A (en) Semiconductor memory device provided with an improved precharge and enable control circuit
KR100910194B1 (ko) 반도체 기억 장치
JPH08212778A (ja) 同期型半導体記憶装置およびそのデータ読出方法
JP2509275B2 (ja) 半導体メモリ装置
JPH09180443A (ja) 半導体メモリ回路
JP3240745B2 (ja) 半導体記憶装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20050510