JPH11231008A - コンデンサ寿命診断装置およびコンデンサ内蔵機器 - Google Patents
コンデンサ寿命診断装置およびコンデンサ内蔵機器Info
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- JPH11231008A JPH11231008A JP10032642A JP3264298A JPH11231008A JP H11231008 A JPH11231008 A JP H11231008A JP 10032642 A JP10032642 A JP 10032642A JP 3264298 A JP3264298 A JP 3264298A JP H11231008 A JPH11231008 A JP H11231008A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】コンデンサの寿命を的確に診断する。
【解決手段】ＣＰＵ１５により電源電圧の印加の停止後
におけるコンデンサ４の両端間電圧をサンプリングし、
各サンプリング電圧を記憶部１６に記憶させ、ＣＰＵ１
５はこの各サンプリング電圧とサンプリング間隔などか
ら時定数を求め、この時定数と既知の抵抗値とから当該
コンデンサ４の容量を演算し、この容量を所定の容量と
比較して容量抜けの判定を行い、この判定に基づいて寿
命の到来を診断する構成。
におけるコンデンサ４の両端間電圧をサンプリングし、
各サンプリング電圧を記憶部１６に記憶させ、ＣＰＵ１
５はこの各サンプリング電圧とサンプリング間隔などか
ら時定数を求め、この時定数と既知の抵抗値とから当該
コンデンサ４の容量を演算し、この容量を所定の容量と
比較して容量抜けの判定を行い、この判定に基づいて寿
命の到来を診断する構成。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンデンサ寿命診
断装置およびこれを用いたスイッチング電源装置のよう
なコンデンサ内蔵機器に関する。
断装置およびこれを用いたスイッチング電源装置のよう
なコンデンサ内蔵機器に関する。
【０００２】
【従来の技術】スイッチング電源装置などの電源装置に
おいては、電解コンデンサが内蔵されている。このよう
な電解コンデンサが内蔵されている機器では、電解コン
デンサは使用環境によっては通常の使用で想定される期
間よりも短い期間で規定値以下に容量抜けし得る。
おいては、電解コンデンサが内蔵されている。このよう
な電解コンデンサが内蔵されている機器では、電解コン
デンサは使用環境によっては通常の使用で想定される期
間よりも短い期間で規定値以下に容量抜けし得る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】容量抜けした電解コン
デンサはその寿命が到来したことになるが、このような
コンデンサの容量抜けは外観だけで判定することは比較
的困難であり、したがって、外観だけでの判定は不正確
なものといえる。スイッチング電源装置などではこうし
た容量抜けした電解コンデンサを使用すると出力電圧の
異常上昇などして好ましくない。電解コンデンサの容量
抜けに基づいてコンデンサの寿命を診断する装置も従来
から種々提案されているものの、そのいずれもが電解コ
ンデンサの容量抜けに至るまでの精確な計測に基づいた
ものではなく、したがって、その寿命の診断は不正確で
ある。そのため、寿命の来たコンデンサの交換などが遅
れてしまい不測の事態につながる結果となり得る。
デンサはその寿命が到来したことになるが、このような
コンデンサの容量抜けは外観だけで判定することは比較
的困難であり、したがって、外観だけでの判定は不正確
なものといえる。スイッチング電源装置などではこうし
た容量抜けした電解コンデンサを使用すると出力電圧の
異常上昇などして好ましくない。電解コンデンサの容量
抜けに基づいてコンデンサの寿命を診断する装置も従来
から種々提案されているものの、そのいずれもが電解コ
ンデンサの容量抜けに至るまでの精確な計測に基づいた
ものではなく、したがって、その寿命の診断は不正確で
ある。そのため、寿命の来たコンデンサの交換などが遅
れてしまい不測の事態につながる結果となり得る。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明においては、電源
電圧投入あるいは印加停止後の少なくとも一方の時点に
際してのコンデンサの両端間電圧を複数点でサンプリン
グし、各サンプリング電圧から時定数を求め、この求め
た時定数に基づいて前記コンデンサの寿命を診断するこ
とによって上述の課題を解決している。
電圧投入あるいは印加停止後の少なくとも一方の時点に
際してのコンデンサの両端間電圧を複数点でサンプリン
グし、各サンプリング電圧から時定数を求め、この求め
た時定数に基づいて前記コンデンサの寿命を診断するこ
とによって上述の課題を解決している。
【０００５】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
て図面を参照して詳細に説明する。
【０００６】図１は、本発明のコンデンサ寿命診断装置
が組み込まれたコンデンサ内蔵機器としてのスイッチン
グ電源装置の概略構成図である。図１を参照して、一対
の入力端子１，１に印加された交流電源は全波整流回路
２で全波整流されるとともに、突入電流防止抵抗３を介
して電解コンデンサからなる平滑コンデンサ４（以下、
単にコンデンサという）で平滑化される。この平滑化さ
れた電圧は、コンバータトランス５の一次側巻線６に与
えられる。この一次側巻線６に直列のスイッチング素子
７は制御回路８からの制御信号に応答してオンオフす
る。制御回路８は図示されていない出力電圧検出回路か
らの検出出力に応答して出力電圧を一定の安定電圧に制
御するための前記制御信号を出力するようになってい
る。これによって、コンバータトランス５の二次側巻線
９に誘起された電圧は、整流ダイオード１０で整流され
るとともに、コンデンサ１１で平滑化されたうえで直流
電圧として一対の出力端子１２，１２から出力される。
が組み込まれたコンデンサ内蔵機器としてのスイッチン
グ電源装置の概略構成図である。図１を参照して、一対
の入力端子１，１に印加された交流電源は全波整流回路
２で全波整流されるとともに、突入電流防止抵抗３を介
して電解コンデンサからなる平滑コンデンサ４（以下、
単にコンデンサという）で平滑化される。この平滑化さ
れた電圧は、コンバータトランス５の一次側巻線６に与
えられる。この一次側巻線６に直列のスイッチング素子
７は制御回路８からの制御信号に応答してオンオフす
る。制御回路８は図示されていない出力電圧検出回路か
らの検出出力に応答して出力電圧を一定の安定電圧に制
御するための前記制御信号を出力するようになってい
る。これによって、コンバータトランス５の二次側巻線
９に誘起された電圧は、整流ダイオード１０で整流され
るとともに、コンデンサ１１で平滑化されたうえで直流
電圧として一対の出力端子１２，１２から出力される。
【０００７】このようなスイッチング電源装置におい
て、本実施の形態では全波整流回路２とコンバータトラ
ンス５の一次側巻線６との間にあるコンデンサ４の寿命
を診断するためのコンデンサ寿命診断装置１３を備えて
いる。
て、本実施の形態では全波整流回路２とコンバータトラ
ンス５の一次側巻線６との間にあるコンデンサ４の寿命
を診断するためのコンデンサ寿命診断装置１３を備えて
いる。
【０００８】本実施の形態のコンデンサ寿命診断装置１
３は、電圧検出部１４と、ＣＰＵ１５と、記憶部１６
と、通報部１７と、表示部１８とを少なくとも有してい
る。
３は、電圧検出部１４と、ＣＰＵ１５と、記憶部１６
と、通報部１７と、表示部１８とを少なくとも有してい
る。
【０００９】電圧検出部１４は、コンデンサ両端間電圧
Ｖｃを検出するようになっている。なお、電圧検出部１
４とコンデンサ４との間に図示はしていないが、フォト
カプラ、パルストランスなどの絶縁手段を介在させる。
コンデンサ４両端間電圧Ｖｃの測定方法は各種あり周知
されているので説明を省略する。ＣＰＵ１５は、電源電
圧ＶDDを駆動電源とされ、電圧検出部からのコンデンサ
両端間電圧Ｖｃを入力する。
Ｖｃを検出するようになっている。なお、電圧検出部１
４とコンデンサ４との間に図示はしていないが、フォト
カプラ、パルストランスなどの絶縁手段を介在させる。
コンデンサ４両端間電圧Ｖｃの測定方法は各種あり周知
されているので説明を省略する。ＣＰＵ１５は、電源電
圧ＶDDを駆動電源とされ、電圧検出部からのコンデンサ
両端間電圧Ｖｃを入力する。
【００１０】ここで、ＣＰＵ１５は、サンプリング手段
として、交流電源がオンされた後の電源電圧ＶＤＤが印
加されている間から、交流電源がオフになってコンデン
サ４の蓄積電圧が低下しても電源電圧ＶDDがリセット電
圧に低下して動作停止に至るまでの間、コンデンサ４の
両端間電圧を所定のサンプリング間隔でサンプリングす
る。このことについて図２および図３を参照して説明す
る。図２ａはコンデンサ４両端間電圧Ｖｃの変化波形、
図２ｂはＣＰＵ１５に対する電源電圧ＶDDの変化波形、
図３はＣＰＵ１５の動作説明のためのフローチャートを
それぞれ示している。交流電源がオンすると、ＣＰＵ１
５は、コンデンサ４両端間電圧Ｖｃを所定のサンプリン
グ間隔で複数点−Ｖ2，−Ｖ1，Ｖ0，Ｖ1，Ｖ2，Ｖ3，…
をサンプリングしていく。このサンプリングは、ＣＰＵ
１５に電圧ＶDDが定常電圧として印加されている間から
電源がオフにされてリセット電圧にまで低下するまでの
間である。ここで、Ｖ0は交流電源オフ時でのサンプリ
ング電圧、Ｖ4はＣＰＵ１５の電源電圧ＶDDがそのリセ
ット電圧になってＣＰＵ１５が動作停止するためサンプ
リングされない。前記定常状態におけるサンプリング電
圧−Ｖ2，−Ｖ1，Ｖ0は同じ電圧値であり、交流電源オ
フ後からリセットまでのサンプリング電圧Ｖ0，Ｖ1，Ｖ
2、Ｖ3はコンデンサ４の容量に応じた変化をする。ＣＰ
Ｕ１５は前記サンプリングした各電圧それぞれを記憶部
１６に記憶させる。
として、交流電源がオンされた後の電源電圧ＶＤＤが印
加されている間から、交流電源がオフになってコンデン
サ４の蓄積電圧が低下しても電源電圧ＶDDがリセット電
圧に低下して動作停止に至るまでの間、コンデンサ４の
両端間電圧を所定のサンプリング間隔でサンプリングす
る。このことについて図２および図３を参照して説明す
る。図２ａはコンデンサ４両端間電圧Ｖｃの変化波形、
図２ｂはＣＰＵ１５に対する電源電圧ＶDDの変化波形、
図３はＣＰＵ１５の動作説明のためのフローチャートを
それぞれ示している。交流電源がオンすると、ＣＰＵ１
５は、コンデンサ４両端間電圧Ｖｃを所定のサンプリン
グ間隔で複数点−Ｖ2，−Ｖ1，Ｖ0，Ｖ1，Ｖ2，Ｖ3，…
をサンプリングしていく。このサンプリングは、ＣＰＵ
１５に電圧ＶDDが定常電圧として印加されている間から
電源がオフにされてリセット電圧にまで低下するまでの
間である。ここで、Ｖ0は交流電源オフ時でのサンプリ
ング電圧、Ｖ4はＣＰＵ１５の電源電圧ＶDDがそのリセ
ット電圧になってＣＰＵ１５が動作停止するためサンプ
リングされない。前記定常状態におけるサンプリング電
圧−Ｖ2，−Ｖ1，Ｖ0は同じ電圧値であり、交流電源オ
フ後からリセットまでのサンプリング電圧Ｖ0，Ｖ1，Ｖ
2、Ｖ3はコンデンサ４の容量に応じた変化をする。ＣＰ
Ｕ１５は前記サンプリングした各電圧それぞれを記憶部
１６に記憶させる。
【００１１】ＣＰＵ１５はまた、演算手段として、記憶
部１６に記憶されている複数のサンプリング電圧に基づ
いてコンデンサ４両端間電圧の変化波形をシミュレート
して時定数を演算し、この時定数から当該コンデンサ４
の容量を演算するようになっている。このシミュレート
は、サンプリング間隔と複数点のサンプリング電圧とか
ら時定数カーブつまりコンデンサ４両端間電圧Ｖｃの変
化波形を補間するものである。この補間は周知されてい
るのでその説明は省略する。ＣＰＵ１５は、この補間に
よって得られた時定数カーブから時定数Ｔを求めるとと
もに、既知の抵抗値例えばスイッチング電源装置におい
てコンデンサ４と接続されている突入電流防止抵抗３の
抵抗値Ｒとからコンデンサ４の容量Ｃ0をＴ／Ｒの式か
ら演算して求める。この場合、時定数Ｔは抵抗３の抵抗
値Ｒと関係しているのであるが、この抵抗３の抵抗値Ｒ
は既知であるので、記憶部１６にこの抵抗値Ｒが記憶さ
れ、ＣＰＵ１５はこの上記演算において記憶部１６から
この抵抗値Ｒを読み出すとよい。
部１６に記憶されている複数のサンプリング電圧に基づ
いてコンデンサ４両端間電圧の変化波形をシミュレート
して時定数を演算し、この時定数から当該コンデンサ４
の容量を演算するようになっている。このシミュレート
は、サンプリング間隔と複数点のサンプリング電圧とか
ら時定数カーブつまりコンデンサ４両端間電圧Ｖｃの変
化波形を補間するものである。この補間は周知されてい
るのでその説明は省略する。ＣＰＵ１５は、この補間に
よって得られた時定数カーブから時定数Ｔを求めるとと
もに、既知の抵抗値例えばスイッチング電源装置におい
てコンデンサ４と接続されている突入電流防止抵抗３の
抵抗値Ｒとからコンデンサ４の容量Ｃ0をＴ／Ｒの式か
ら演算して求める。この場合、時定数Ｔは抵抗３の抵抗
値Ｒと関係しているのであるが、この抵抗３の抵抗値Ｒ
は既知であるので、記憶部１６にこの抵抗値Ｒが記憶さ
れ、ＣＰＵ１５はこの上記演算において記憶部１６から
この抵抗値Ｒを読み出すとよい。
【００１２】そして、ＣＰＵ１５は、この演算の結果、
周囲温度の変化による抵抗３の抵抗値Ｒの変化±ΔＲ、
コンデンサの容量の変化＋ΔＣを考慮したコンデンサ４
の理論上の最悪の容量Ｃｒ＝Ｔ／（Ｒ±ΔＲ）＋ΔＣ
（これも記憶部１６に記憶されている。）に対して、コ
ンデンサ４の容量Ｃ0が、その容量Ｃｒ以下であると判
断したときは、コンデンサ４が容量抜けを起こしている
と判断し、通報部１７を駆動してこれに接続されている
機器にコンデンサ４が寿命であることを通報するとか、
通報部１７それ自体がブザーであれば、これを駆動鳴動
して周囲に知らせるとか、あるいは、表示部１８を駆動
してコンデンサ４が容量抜けして寿命がきていることを
表示させる。コンデンサ４が容量抜けしていないとき
も、ＣＰＵ１５は通報部にそのことを通報しても構わな
いし、表示部１８にそのことを表示させても構わない。
周囲温度の変化による抵抗３の抵抗値Ｒの変化±ΔＲ、
コンデンサの容量の変化＋ΔＣを考慮したコンデンサ４
の理論上の最悪の容量Ｃｒ＝Ｔ／（Ｒ±ΔＲ）＋ΔＣ
（これも記憶部１６に記憶されている。）に対して、コ
ンデンサ４の容量Ｃ0が、その容量Ｃｒ以下であると判
断したときは、コンデンサ４が容量抜けを起こしている
と判断し、通報部１７を駆動してこれに接続されている
機器にコンデンサ４が寿命であることを通報するとか、
通報部１７それ自体がブザーであれば、これを駆動鳴動
して周囲に知らせるとか、あるいは、表示部１８を駆動
してコンデンサ４が容量抜けして寿命がきていることを
表示させる。コンデンサ４が容量抜けしていないとき
も、ＣＰＵ１５は通報部にそのことを通報しても構わな
いし、表示部１８にそのことを表示させても構わない。
【００１３】なお、記憶部１６に測定毎にデータを記憶
させておけば、（ｎ−１）回目の容量とｎ回目の容量と
を比較してコンデンサ４の容量低下の速度を判定できる
のでその判定からコンデンサ４の容量抜けをより一層事
前に知るための判定のデータとして用いることができ
る。そして、このことによってコンデンサ４の寿命の到
来時期を前以て判定できる。
させておけば、（ｎ−１）回目の容量とｎ回目の容量と
を比較してコンデンサ４の容量低下の速度を判定できる
のでその判定からコンデンサ４の容量抜けをより一層事
前に知るための判定のデータとして用いることができ
る。そして、このことによってコンデンサ４の寿命の到
来時期を前以て判定できる。
【００１４】なお、上述の実施の形態においては、図２
で示すように電源電圧がオフになった後のコンデンサ４
両端間電圧の低下からそのコンデンサ４の容量抜けの測
定をしていたが、図５で示すように電源電圧が立ち上が
るに際し、その立ち上がり状態がコンデンサ４の前記容
量Ｃ0に対応していることを利用しても構わない。ここ
で図５ａは図２ａに、また図５ｂは図２ｂにそれぞれ対
応している。
で示すように電源電圧がオフになった後のコンデンサ４
両端間電圧の低下からそのコンデンサ４の容量抜けの測
定をしていたが、図５で示すように電源電圧が立ち上が
るに際し、その立ち上がり状態がコンデンサ４の前記容
量Ｃ0に対応していることを利用しても構わない。ここ
で図５ａは図２ａに、また図５ｂは図２ｂにそれぞれ対
応している。
【００１５】なお、上述の実施の形態においては、寿命
診断対象としてのコンデンサはコンバータトランス５の
一次側巻線側のコンデンサ４であったが、二次側巻線９
側のコンデンサ１１であっても構わない。二次側巻線９
側の場合は電圧検出部１４とコンデンサ１１との間にフ
ォトカプラなどの絶縁手段を介在させる必要はない。
診断対象としてのコンデンサはコンバータトランス５の
一次側巻線側のコンデンサ４であったが、二次側巻線９
側のコンデンサ１１であっても構わない。二次側巻線９
側の場合は電圧検出部１４とコンデンサ１１との間にフ
ォトカプラなどの絶縁手段を介在させる必要はない。
【００１６】なお、上述の実施の形態においては、この
コンデンサ寿命診断装置１３はスイッチング電源装置に
適用されているが、コンデンサ内蔵装置はこれに限定さ
れるものではなく、電解コンデンサを内蔵した機器、装
置のすべてに適用できるものである。
コンデンサ寿命診断装置１３はスイッチング電源装置に
適用されているが、コンデンサ内蔵装置はこれに限定さ
れるものではなく、電解コンデンサを内蔵した機器、装
置のすべてに適用できるものである。
【００１７】なお、上述の実施の形態においては、この
コンデンサ寿命診断装置１３で診断されるコンデンサは
電解コンデンサであったが、必ずしもこれに限定される
ものではなく、電解コンデンサ以外のコンデンサであっ
ても構わない。
コンデンサ寿命診断装置１３で診断されるコンデンサは
電解コンデンサであったが、必ずしもこれに限定される
ものではなく、電解コンデンサ以外のコンデンサであっ
ても構わない。
【００１８】なお、上述の実施の形態においては、この
コンデンサ寿命診断装置１３での診断は、コンデンサ４
の時定数Ｔのカーブと既知の抵抗値Ｒとから演算して求
められた容量Ｃ0を所定の容量Ｃｒと比較し、その演算
容量Ｃ0が所定の容量Ｃｒ以下のときに容量抜けして寿
命が来ていると診断したが、必ずしもこれに限定される
ものではなく、前回の時定数カーブと今回の時定数カー
ブとを比較し、その比較から前記両時定数カーブが所定
以上に差異があるときは、コンデンサの寿命が来ている
と診断しても構わない。この場合、ＣＰＵ１５は記憶部
１５に前回の時定数カーブを記憶させておくとともに、
今回演算で求めた時定数カーブを前回の時定数カーブと
比較することで行うとよい。
コンデンサ寿命診断装置１３での診断は、コンデンサ４
の時定数Ｔのカーブと既知の抵抗値Ｒとから演算して求
められた容量Ｃ0を所定の容量Ｃｒと比較し、その演算
容量Ｃ0が所定の容量Ｃｒ以下のときに容量抜けして寿
命が来ていると診断したが、必ずしもこれに限定される
ものではなく、前回の時定数カーブと今回の時定数カー
ブとを比較し、その比較から前記両時定数カーブが所定
以上に差異があるときは、コンデンサの寿命が来ている
と診断しても構わない。この場合、ＣＰＵ１５は記憶部
１５に前回の時定数カーブを記憶させておくとともに、
今回演算で求めた時定数カーブを前回の時定数カーブと
比較することで行うとよい。
【００１９】なお、上述の実施の形態においては、この
コンデンサ寿命診断装置１３においては、電源電圧の印
加停止には単なる電源スイッチのオンオフによる停止の
みならず、停電による瞬停も含まれるものである。
コンデンサ寿命診断装置１３においては、電源電圧の印
加停止には単なる電源スイッチのオンオフによる停止の
みならず、停電による瞬停も含まれるものである。
【００２０】
【発明の効果】以上のように本発明によれば次の効果を
得られる。
得られる。
【００２１】請求項１の発明によれば、電源電圧投入あ
るいは印加停止後の少なくとも一方の時点に際してのコ
ンデンサの両端間電圧を複数点でサンプリングし、各サ
ンプリング電圧から時定数を求め、この求めた時定数に
基づいてコンデンサの寿命を判定するので、コンデンサ
の寿命診断を適確に行うことができる。
るいは印加停止後の少なくとも一方の時点に際してのコ
ンデンサの両端間電圧を複数点でサンプリングし、各サ
ンプリング電圧から時定数を求め、この求めた時定数に
基づいてコンデンサの寿命を判定するので、コンデンサ
の寿命診断を適確に行うことができる。
【００２２】請求項２の発明によれば、前記寿命の診断
を、前記時定数と所定の既知抵抗値とから前記コンデン
サの容量を求め、この求めた容量を所定の容量と比較す
ることによる容量抜け判定に基づいて行うので、その求
めたコンデンサが容量抜けしていることの判定が正確と
なり、したがって、その容量抜けからコンデンサ寿命の
診断を適確に行うことができる。
を、前記時定数と所定の既知抵抗値とから前記コンデン
サの容量を求め、この求めた容量を所定の容量と比較す
ることによる容量抜け判定に基づいて行うので、その求
めたコンデンサが容量抜けしていることの判定が正確と
なり、したがって、その容量抜けからコンデンサ寿命の
診断を適確に行うことができる。
【００２３】請求項３の発明によれば、コンデンサの寿
命到来を通報あるいは表示できて便利である。
命到来を通報あるいは表示できて便利である。
【００２４】請求項４の発明によれば、前記コンデンサ
寿命診断装置を備えたコンデンサ内蔵装置であるので、
例えばスイッチング電源装置では電解コンデンサの寿命
を事前に的確に知ることができるので、信頼性の高い装
置となる。
寿命診断装置を備えたコンデンサ内蔵装置であるので、
例えばスイッチング電源装置では電解コンデンサの寿命
を事前に的確に知ることができるので、信頼性の高い装
置となる。
【図１】本発明の実施形態に係るコンデンサ寿命診断装
置が内蔵されているコンデンサ内蔵機器としてのスイッ
チング電源装置の回路図
置が内蔵されているコンデンサ内蔵機器としてのスイッ
チング電源装置の回路図
【図２】動作説明に供する図であり、（ａ）は平滑コン
デンサ両端間電圧の波形変化を示す図、（ｂ）はＣＰＵ
の電源電圧の波形変化を示す図
デンサ両端間電圧の波形変化を示す図、（ｂ）はＣＰＵ
の電源電圧の波形変化を示す図
【図３】動作説明に供するフローチャート
【図４】本発明の他の実施の形態における図２に対応す
るもので（ａ）は平滑コンデンサ両端間電圧の波形変化
を示す図、（ｂ）はＣＰＵの電源電圧の波形変化を示す
図
るもので（ａ）は平滑コンデンサ両端間電圧の波形変化
を示す図、（ｂ）はＣＰＵの電源電圧の波形変化を示す
図
２ 全波整流回路 ３ 突入電流防止抵抗 ４ 平滑コンデンサ（電解コンデンサ） １４ 電圧検出部 １５ ＣＰＵ １６ 記憶部 １７ 通報部 １８ 表示部 Ｖｃ コンデンサ両端間電圧 ＶDD ＣＰＵ電源電圧
Claims (4)
- 【請求項１】電源電圧投入あるいは印加停止後の少なく
とも一方の時点に際してのコンデンサの両端間電圧を複
数点でサンプリングし、各サンプリング電圧から時定数
を求め、この求めた時定数に基づいて前記コンデンサの
寿命を診断することを特徴とするコンデンサ寿命診断装
置。 - 【請求項２】前記時定数と所定の既知抵抗値とから前記
コンデンサの容量を求め、この求めた容量を所定の容量
と比較することによる容量抜け判定に基づいて前記寿命
の診断を行うことを特徴とする請求項１に記載のコンデ
ンサ寿命診断装置。 - 【請求項３】前記判定結果を通報あるいは表示する手段
を備えたことを特徴とする請求項１に記載のコンデンサ
寿命診断装置。 - 【請求項４】請求項１ないし３いずれかに記載のコンデ
ンサ寿命診断装置を備えたことを特徴とするコンデンサ
内蔵機器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10032642A JPH11231008A (ja) | 1998-02-16 | 1998-02-16 | コンデンサ寿命診断装置およびコンデンサ内蔵機器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10032642A JPH11231008A (ja) | 1998-02-16 | 1998-02-16 | コンデンサ寿命診断装置およびコンデンサ内蔵機器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11231008A true JPH11231008A (ja) | 1999-08-27 |
Family
ID=12364514
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10032642A Pending JPH11231008A (ja) | 1998-02-16 | 1998-02-16 | コンデンサ寿命診断装置およびコンデンサ内蔵機器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11231008A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20040001124A (ko) * | 2002-06-27 | 2004-01-07 | 대우전자주식회사 | 캐패시터 내구성 시험용 다기능 과전류 계전기 |
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