JPH11223538A - マスフローコントローラ流量検定システム - Google Patents
マスフローコントローラ流量検定システムInfo
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- JPH11223538A JPH11223538A JP10025508A JP2550898A JPH11223538A JP H11223538 A JPH11223538 A JP H11223538A JP 10025508 A JP10025508 A JP 10025508A JP 2550898 A JP2550898 A JP 2550898A JP H11223538 A JPH11223538 A JP H11223538A
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Abstract
上させたマスフローコントローラ流量検定システムを提
供すること。 【解決手段】 本発明のマスフローコントローラ流量検
定システムは、プロセスガスを供給する複数のプロセス
ガスライン1A〜1Cと、そのプロセスガスラインに分
岐接続された計測ガスライン11とを有し、計測ガスラ
イン11の共通部分には、第1圧力調整器14と、計測
開始用遮断弁15と、圧力センサ16と、第2圧力調整
器21とが順次配管され、計測ガスライン11の各分岐
部分12A〜12Cには、連結部遮断弁118A〜18
Cとが順次配管されたものであって、計測開始用遮断弁
15と第2圧力調整器21との間の圧力降下を圧力セン
サ16によって測定することでマスフローコントローラ
2A〜2Cの流量検定を行う。
Description
設備等に用いられるガスライン中に配管されたマスフロ
ーコントローラの流量検定システムに関し、さらに詳細
には、流量計測時の容積変化をなくし安定した流量計測
が可能なマスフローコントローラ流量検定システムに関
するものである。
チング装置等においては、例えばシランやホスフィン等
のいわゆる特殊材料ガスや塩素ガス等の腐食性ガスおよ
び水素ガス等の強燃性ガス等が使用される。これらのガ
スは、その流量がプロセスの良否に直接影響するこ
と、排気系に設置される除害装置の負担、ガス自体
が高価であること、等の理由によりその流量が極めて厳
格に管理される。そこで、ガスライン中には公知のマス
フローコントローラが配管され、そのマスフローコント
ローラによってガス種およびプロセスレシピごとに最適
の流量のガスが流される。マスフローコントローラで
は、このような流量の設定が印加電圧の調節により行わ
れる。
材料ガスは、その特性上ガスライン内でも固形物を析出
する可能性があり、その析出固形物が蓄積されガスライ
ン内の容量変化を生じさせることがある。特に、マスフ
ローコントローラ内の細管部分では、他の部分と比較し
て固形物が析出する可能性や析出した場合の影響が大き
い。従って、析出固形物が蓄積されると、最適な流量を
極めて厳格に管理するマスフローコントローラの性能が
低下し、プロセスの安定性が阻害されることとなる。そ
のため、マスフローコントローラにおける印加電圧と実
流量との関係が崩れ、適正な流量のガス供給が行われな
くなってしまう。
は、正しいガス流量を流すべく印加電圧の設定を修正し
なければならないが、このとき、マスフローコントロー
ラの流量を計測する必要が生ずる。そこで、従来のマス
フローコントローラ流量検定システムとして次のような
ものが挙げられる。図10は、従来のマスフローコント
ローラ流量検定システムに組み込まれたガス回路の一部
を示した図である。プロセスガスA〜Cを図示しないプ
ロセスチャンバに供給するプロセスガスラインは、プロ
セスガス供給管1A〜1Cにマスフローコントローラ2
A〜2Cが配管され、その上流側には第1遮断弁3A〜
3Cと第2遮断弁4A〜4Cとが、更にその下流側には
第3遮断弁5A〜5Cが配管されている。
ンは、計測ガス供給管11が、プロセスガス供給管1A
〜1Cの第1遮断弁3A〜3Cと第2遮断弁4A〜4C
との間に、分岐管12A〜12Cを介して分岐接続され
ている。計測用ガスとして窒素ガスを用い、その流量計
測用の高圧窒素源13に計測ガス供給管11が接続され
ている。そして、その計測ガス供給管11には、レギュ
レータ14、計測開始用遮断弁15及び圧力センサ16
が順次配管されている。また、各分岐管12A〜12C
には、逆止弁17A〜17C及び連結部遮断弁18A〜
18Cが配管されている。逆止弁17A〜17Cは、2
種類以上のガスが混合されて生成物が発生する危険を避
けるために設けられている。
フローコントローラ流量検定システムでは、例えば以下
のようにしてマスフローコントローラ2Aの流量計測が
行われる。先ず、全ての第1遮断弁3A〜3Cが閉じら
れ、プロセスガスA〜Cの供給が遮断された後、連結部
遮断弁18A〜18C及び計測開始用遮断弁15が開か
れる。そのため、図示しないプロセスチャンバを介して
排気側にブローして、プロセスガス供給管1A〜1C内
に残留しているプロセスガスが掃気される。そして、計
測対象外となるマスフローコントローラ2B,2Cに対
応する連結部遮断弁18B,18Cが閉じられ、高圧窒
素源13から窒素ガスが供給される。
を介して排気側に流出するが、高圧窒素源6からレギュ
レータ14を介して供給され続けるため、ガスライン内
は2kgf/cm2 に維持される。そこで、ガスライン
内が2kgf/cm2 で安定した状態で計測開始用遮断
弁15が閉じられると、その計測開始用遮断弁15の下
流側へは窒素ガスの供給が停止される。そのため、マス
フローコントローラ2Aからは所定流量の窒素ガスが排
出され続け、圧力センサ16の測定値が次第に低下する
こととなる。この圧力降下時間に基づいてマスフローコ
ントローラ2Aの流量が計測される。そして、マスフロ
ーコントローラ2Aの初期状態での圧力降下時間と、今
回の計測による圧力降下時間とが比較演算されて流量変
化率が算出され、そのマスフローコントローラ2Aの流
量検定が行われる。
フローコントローラ流量検定システムでは、流量計測時
にマスフローコントローラの一次圧が低下してしまうた
めに、測定精度が悪くなってしまうという問題があっ
た。即ち、従来の流量検定システムによる流量測定は、
遮断したマスフローコントローラ一次側の圧力低下によ
る、その降下速度を計測して流量変化率が測定されてい
る。そのため、マスフローコントローラの一次圧が低下
する状態で測定が行われていた。しかしながら、マスフ
ローコントローラの使用条件をみた場合、通常その一次
圧はレギュレータによってコントロールされ、圧力変動
がないように一定に制御されている。これは、圧力変動
が起こるとマスフローコントローラの流量コントロール
精度が悪くなり、流れが脈動したり、一定の流量に定め
ることができないからである。
は、マスフローコントローラの一次圧が一定圧に管理さ
れた通常使用時の状態に対して、その一次圧が徐々に低
下していくという異なった状態の下で検定が行われてい
た。従って、例えばマスフローコントローラは、一次圧
の低下に伴って排出流量が減少していくと、その設定値
との比較による不足を補おうと制御流量を増大させてし
まう。そのため、一次圧を低下させた状態で流量検定を
行うことが測定精度を悪くする原因となっていた。
止弁の閉弁が完全でないために、管内のガスが逆流して
しまって配管容積が変動し、マスフローコントローラの
流量計測が不安定になってしまうという問題があった。
即ち、前記例示の場合では、各分岐管12B,12Cに
設けられた連結部遮断弁18B,18Cが閉じられるた
め、その上流側管内の圧力はレギュレータ14によって
2kgf/cm2 に調整される。そして、計測開始用遮
断弁15が閉じられて計測が開始されると、管内の窒素
ガスがマスフローコントローラ2Aを通ってプロセスガ
ス供給管1Aから排出される。
であるため、逆止弁17B,17Cの上流側及び下流側
の圧力差はほとんど生じない。そのため、逆止弁17
B,17Cが完全に閉弁されず、その逆止弁17B,1
7C下流側の窒素ガスが、徐々に減圧される上流側に逆
流してしまうことがある。ところが、このような不都合
は毎回必ず起こるわけではなく、逆止弁17B,17C
が正確に閉弁して逆流を生じさせない場合もある。従っ
て、逆止弁17B,17Cが正確に閉じられる場合と閉
じられない場合とがあったのでは、分岐管12B,12
Cにおける逆止弁17B,17Cと連結部遮断弁18
B,18Cとの間の容積分の変動が生じてしまい、マス
フローコントローラの流量計測が不安定になってしまい
正確な流量検定が行えない。
するためになされたものであり、マスフローコントロー
ラの流量測定精度を向上させたマスフローコントローラ
流量検定システムを提供することを目的とする。
トローラ流量検定システムは、プロセスガス遮断弁とマ
スフローコントローラとを順次経由してプロセスガス源
からのプロセスガスをプロセスチャンバに供給する複数
のプロセスガスラインと、計測ガス供給源からのプロセ
スガスを前記各マスフローコントローラを経由して排出
すべく、前記プロセスガスラインに分岐接続された計測
ガスラインとを有し、前記計測ガスラインの共通部分に
は、第1圧力調整器と、計測開始用遮断弁と、圧力セン
サと、第2圧力調整器とが順次配管され、前記計測ガス
ラインの各分岐部分には、前記プロセスガスラインと計
測ガスライン間の遮断を行う連結部遮断弁とが順次配管
されたものであって、前記計測開始用遮断弁と第2圧力
調整器との間の圧力降下を前記圧力センサによって測定
することでマスフローコントローラの流量検定を行うこ
とを特徴とする。
よりプロセスガスの供給が遮断され、計測対象外のマス
フローコントローラに連結された連結部遮断弁が閉じら
れて、計測ガス供給源から計測ガスが供給された後、ガ
スライン内が第1圧力調整器と第2圧力調整器とによっ
て所定圧に設定された状態で計測開始用遮断弁が閉じら
れる。そして、ガスライン内に閉じこめられた計測ガス
が、計測ガスが所定のマスフローコントローラから排出
されることに伴う圧力降下が圧力センサによって測定さ
れ、その測定値に基づきマスフローコントローラの流量
が計測される。従って、マスフローコントローラから計
測ガスが排出される計測中、第2圧力調整器によってそ
の下流側は常に一定圧に維持されているため、閉じられ
た連結部遮断弁上流側の逆止弁には逆圧がかからず、逆
流を発生させない。そのため、計測時の逆止弁による容
積変化をなくし、マスフローコントローラの流量計測を
安定させることができる。
量検定システムは、プロセスガス遮断弁とマスフローコ
ントローラとを順次経由してプロセスガス源からのプロ
セスガスをプロセスチャンバに供給する複数のプロセス
ガスラインと、計測ガス供給源からのプロセスガスを前
記各マスフローコントローラを経由して排出すべく、前
記プロセスガスラインに分岐接続された計測ガスライン
とを有し、前記計測ガスラインの共通部分には、第1圧
力調整器と、計測開始用遮断弁と、圧力センサとが順次
配管され、更にその下流側には一次圧を減圧させる圧力
調整器が分岐配管され、前記計測ガスラインの各分岐部
分には、プロセスガスの流入を防止する逆止弁と、前記
プロセスガスラインと計測ガスライン間の遮断を行う連
結部遮断弁とが順次配管されたものであって、前記計測
開始用遮断弁を閉じて前記圧力調整器が所定のタイミン
グで減圧を行った後、前記圧力センサによって圧力降下
を測定することでマスフローコントローラの流量検定を
行うことを特徴とする。
よりプロセスガスの供給が遮断され、計測対象外のマス
フローコントローラに連結された連結部遮断弁が閉じら
れて、計測ガス供給源から計測ガスが供給された後、ガ
スライン内が第1圧力調整器によって所定圧に設定され
た状態で計測開始用遮断弁が閉じられる。計測開始用遮
断弁が閉じられて圧力調整器により所定のタイミングで
一次圧の減圧が行われた後、ガスライン内に閉じこめら
れた計測ガスが、計測ガスが所定のマスフローコントロ
ーラから排出されることに伴う圧力降下が圧力センサに
よって測定され、その測定値に基づきマスフローコント
ローラの流量が計測される。従って、圧力調整器により
所定のタイミングで一次圧の減圧が行われると、逆止弁
上流側の圧力が減圧され、逆圧により逆止弁にが強制的
に閉弁されて逆流の発生が防止される。そのため、計測
時の逆止弁による容積変化をなくし、マスフローコント
ローラの流量計測を安定させることができる。
量検定システムは、前記圧力調整器は、圧力調整用遮断
弁であって、前記計測開始用遮断弁の閉弁の後に開弁す
ることによって、低圧に設定した当該圧力調整用遮断弁
の下流側に計測用ガスを流すことによって一次圧を減圧
させることを特徴とする。よって、簡易な構成により逆
止弁を確実に閉弁させることができ、計測時の逆止弁に
よる容積変化をなくし、マスフローコントローラの流量
計測を安定させることができる。
量検定システムは、前記計測開始用遮断弁がノーマルク
ローズタイプのエアオペレート弁、前記圧力調整用遮断
弁がノーマルオープンタイプのエアオペレート弁の組み
合わせである場合、又はそれぞれの遮断弁が逆のタイプ
のオペレート弁による組み合わせである場合に、両遮断
弁への作動エアの供給が共通の制御弁によって制御され
るものであって、計測開始用遮断弁への作動エアの供給
が絞りと逆止弁とからなるスピードコントローラを介し
て行われることを特徴とする。よって、共通の制御弁に
よって作動エアの供給が可能なため、その構成部材を減
らすことができ、また、計測ガス供給時にスピードコン
トローラによって計測開始用遮断弁が開けられる前に圧
力調整用遮断弁を閉じるため、その圧力調整用遮断弁下
流側を確実に低圧状態にすることができる。
量検定システムは、前記圧力調整器は、圧力調整用遮断
弁と補助遮断弁とが順次配管されたものであって、前記
計測開始用遮断弁の閉弁前に前記補助遮断弁を開閉する
ことによって、前記圧力調整遮断弁下流側を低圧にする
ことを特徴とする。よって、補助遮断弁の開閉によって
圧力調整用遮断弁下流側を確実に低圧状態にすることが
できる。
コントローラ流量検定システムの一実施の形態について
説明する。図1は、第1実施の形態のマスフローコント
ローラ流量検定システム(以下、単に「流量検定システ
ム」という)に組み込まれたガス回路の一部を示した図
である。これは、前記従来例のもの(図10参照)とほ
ぼ同様な構成によって形成されたガス回路であるが、そ
の特徴として、計測ガス供給管11に圧力センサ16の
下流側に第2のレギュレータ21が配管されている。よ
って、このレギュレータ21を除き、他の構成について
は従来例のものと同符号を付して説明する。レギュレー
タ21は、その下流側の圧力を調節することによって逆
止弁17A〜17Cによる容積変化をなくし、マスフロ
ーコントローラの流量計測を安定させる目的で設けられ
たものである。そこで、このような構成のガス回路によ
る流量計測の安定性について、その計測方法を示すとと
もに計測精度を検証することとする。
試験装置を示した回路図である。この装置では、計測対
象となるマスフローコントローラ2へのガスラインが計
測ガス供給管22によって構成され、その計測ガス供給
管22の上流側には、レギュレータ14、計測開始用遮
断弁15、圧力センサ16及びレギュレータ21が、図
1に示したガス回路に対応して順に配管されている。そ
して、その計測ガス供給管22の下流側には、マスフロ
ーコントローラ2が接続され、マスフローコントローラ
2に供給されるガスの圧力を測定する圧力センサ23
と、マスフローコントローラ21の排出流量を測定する
マスフローメータ24がそれぞれ配管されている。
なるマスフローコントローラ2(例えば、図1における
マスフローコントローラ2Aに対応)までのガスライン
を図1のガス回路のものと比較すれば、分岐管12A
と、そこに配管された逆止弁17A及び連結部遮断弁1
8Aと、そしてプロセスガス供給管1Aと、そこに配管
された第2遮断弁4Aとが省略されている。一方、計測
ガス供給管22に配管されたレギュレータ21の下流側
では、計測対象外のマスフローコントローラ(例えば、
図1におけるマスフローコントローラ2B,2Cに対
応)に連結された全ての分岐管12B,12Cを代替し
た分岐管25が、計測ガス供給管22に分岐接続されて
いる。そして、そこには逆止弁17及び連結部遮断弁1
8が順に配管され、さらに本計測装置では、逆止弁17
の不都合によって容積が変動する逆止弁17及び連結部
遮断弁18間の圧力を測定すべく圧力センサ26が配管
されている。
御部が構成されている。なお、図1には図示していない
が、流量検定システムにおいても同様の制御部が構成さ
れている。計測開始用遮断弁15及び連結部遮断弁18
は、共にノーマルクローズタイプのエアオペレート弁で
あり、その両遮断弁15,18を動作させる作動エアの
供給を調整するための電磁弁31,32が、図示しない
エアポンプに接続されている。電磁弁31には、その駆
動電源32に接続されたモニタリングコントローラ31
が接続され、電磁弁32には、その駆動電源34に接続
されたI/Oボード35に接続されている。
タイミングで電磁弁31を開閉すべく制御プログラムが
記憶されている。また、そのモニタリングコントローラ
31には、I/Oボード35が接続され、更にそのI/
Oボード35には、本計測試験装置の全体制御を行うパ
ソコン36に接続されている。一方、ADボード37が
パソコン36に接続されている。
システムに基づく計測試験装置とともに、図10で示し
た従来の流量検定システムに対応する計測試験装置を構
成し、両者の流量計測の安定性について比較してみる。
図3は、従来の流量検定システムの計測試験装置を示し
た回路図であり、図2のものと比較して、本実施の形態
の特徴として設けたレギュレータ21を含まないもので
あって、他の構成を同一とする。同一の構成については
同符号を付して示す。
定システムの計測試験装置の場合について説明する。な
お、計測ガスには窒素ガスの代わりに圧縮エアを使用す
る。先ず、パソコン36からの計測開始信号が発信され
ると、I/Oボード35を介して駆動電源34からの電
圧が電磁弁32に印加され、励磁した電磁弁32の動作
により作動エアが遮断されて連結部遮断弁18が閉じら
れる。また、パソコン36からの計測開始信号はI/O
ボード35からモニタリングコントローラ33に送信さ
れ、駆動電源32からの電圧が電磁弁31に印加され
る。そのため、励磁した電磁弁31の動作により作動エ
アが供給されて計測開始用遮断弁18が開けられ、計測
ガス供給管22へエア供給源38からの圧縮エアが供給
される。
は、計測ガス供給管22に直接配管されたマスフローコ
ントローラ2及びマスフローメータ24を通って排出さ
れ、一方その計測ガス供給管22に分岐接続された分岐
管25へ流れるエアは、連結部遮断弁18が閉じられて
いるため、その流れが止められる。ところで、本計測試
験装置では、レギュレータ14が4kgf/cm2 に設
定されているため、その下流側では、計測ガス供給管2
2内の圧力が4kgf/cm2 に維持されることとな
る。従って、圧力センサ16の測定値は4kgf/cm
2 が示めされる。
態の特徴をなすレギュレータ21は、2kgf/cm2
に設定されている。そのため、更にその下流側の計測ガ
ス供給管22内及び分岐管25内の圧力は、2kgf/
cm2 に維持されることとなる。従って、圧力センサ2
3及び圧力センサ26の測定値は2kgf/cm2 が示
される。そして、エア供給源38から供給された圧縮エ
アによって、前述した値にガスライン内の圧力が設定さ
れた後、所定のタイミングでモニタリングコントローラ
33により電磁弁31への通電が止められる。そのた
め、電磁弁31の動作により作動エアの供給が遮断され
て計測開始用遮断弁15が閉じられる。計測開始用遮断
弁15の閉弁によって圧縮エアの供給が遮断され、計測
が開始される。
26の測定、そしてマスフローメータ24の測定による
実測値データが、パソコン36に接続されたADボード
37によりモニタされる。図4は、この実測値データを
グラフにして示したものであり、横軸に時間、縦軸に圧
力及び流量をとって示したグラフである。先ず、計測開
始用遮断弁15が閉じられると、計測ガス供給管22内
に閉じこめられたエアが、流量設定されたマスフローコ
ントローラ2を通って大気へ排出される。そのため、計
測開始用遮断弁15の下流側の圧力は徐々に低下してい
くことになるが、この計測試験装置ではレギュレータ2
1によって更に圧力調整が行われているため、その下流
側の圧力は2kgf/cm2 に維持される。
る圧力は、計測開始用遮断弁15とレギュレータ21と
の間に充填されたエアが下流側に流れるため、図4に示
すように計測開始直後から緩やかな降下線が示される。
また、マスフローコントローラ2の排出流量は、図4に
示されるように一定値が保たれている。従って、圧力セ
ンサ16において測定される圧力は一定の割合で下降す
ることとなる。一方、レギュレータ21下流側は、常に
2kgf/cm2 の圧力に維持されているため、圧力セ
ンサ26によってさ測定れる圧力は一定値が保たれてい
る。なお、この実測値データ(P16,P26,MFM
24)はADボード37に送信され、そのデータを解析
したパソコン36から出力されたものである。
ム(図10)における計測試験装置の場合について説明
する。その試験方法は前述した本実施の形態のものと同
様である。エア供給源38から供給された圧縮エアは、
計測ガス供給管22に直接配管されたマスフローコント
ローラ2及びマスフローメータ24を通って排出され、
一方その計測ガス供給管22に分岐接続された分岐管2
5へ流れるエアは、連結部遮断弁18が閉じられている
ため、その流れが止められる。ところで、本計測試験装
置では、レギュレータ14が2kgf/cm2 に設定さ
れているため、その下流側では、計測ガス供給管22内
及び分岐管25内の圧力が2kgf/cm2 に維持され
ることとなる。従って、圧力センサ16及び圧力センサ
26の測定値は2kgf/cm2 が示めされる。
縮エアによって、前述したようにガスライン内の圧力が
2kgf/cm2 に設定された後、所定のタイミングで
モニタリングコントローラ33によって電磁弁31への
通電が遮断される。そのため、電磁弁31の動作により
作動エアの供給が遮断されて計測開始用遮断弁15が閉
じられ、計測が開始される。
26の測定、そしてマスフローメータ24の測定による
実測値データが、パソコン36に接続されたADボード
37によりモニタされる。図5は、この実測値データを
グラフにして示したものであり、横軸に時間、縦軸に圧
力及び流量をとって示したグラフである。先ず、計測開
始用遮断弁15が閉じられると、計測ガス供給管22内
にに閉じこめられたエアが、流量設定されたマスフロー
コントローラ2を通って大気へ排出される。そのため、
計測開始用遮断弁15下流側にあるエアの排出によっ
て、圧力センサ16によって測定される圧力は、図5に
示すように徐々に低下する下降線が示された。また、マ
スフローコントローラ2の排出流量は、図5に示される
ように、計測開始直後の流量低下を補うべく弁の開きを
大きくするために上昇するが、その後は安定した設定流
量の排出が保たれる。従って、圧力センサ16において
測定される圧力は一定の割合で下降することとなる。
うに逆止弁17に作動ミスが生じると、図5に示すよう
に圧力センサ26によってされる圧力が徐々に低下する
下降線が示されることとなる。逆止弁17は、その上流
側の圧力が低下すれば下流側の圧力が相対的に高くな
り、そのことによって逆圧がかかかり下流側のエアが逆
流しないように閉弁されるはずである。そのような正常
時には、逆止弁17と連結部遮断弁18との間の管内は
密閉状態となり、エアの逆流が生じないため圧力センサ
26によって測定される圧力は一定値を示すこととな
る。
全に閉弁されなければ、上流側の減圧によってエアが逆
流してしまうこととなる。図5は、そのような状況を示
したものである。従って、図3に示す従来の流量検定シ
ステムにおける計測試験装置では、圧力センサ16で測
定される圧力は、計測開始直後からのエアの排出によっ
て2kgf/cm2 の値から徐々に降下し、逆止弁17
が閉じられなかったことで、圧力センサ26で測定され
る圧力も2kgf/cm2 の値から徐々に下降する値が
示されることとなった。そして、こような計測時の逆止
弁17の開閉状態は、繰り返し行われる計測試験装置で
の試験結果から、不規則に発生する現象であることがわ
かった。
テムにおける計測試験装置では、レギュレータ21によ
って逆止弁17の上流側及び下流側圧力を一定値に保つ
ため、分岐管25内のエアの流れを止めることで逆止弁
17での逆流がなくなった。そのことを示すように、図
4に示す圧力センサ26の測定値が一定となった。従っ
て、本実施の形態の計測試験装置では、従来のような逆
止弁17の開閉による容積変化をなくし、流量計測時に
は、常に連結部遮断弁18上流側の容積のもとで計測が
行われるようになった。よって、この計測検査装置の試
験結果から、図1に示す流量検定システムについても流
量計測が安定して行えることが分かる。そこで、例えば
マスフローコントローラ2Aの流量検定を行う場合につ
いて説明する。
られ、プロセスガスA〜Cの供給が遮断される。次い
で、連結部遮断弁18A〜18Cが開かれ、レギュレー
タ14の下流側の圧力が4kgf/cm2 に、レギュレ
ータ21の下流側の圧力が2kgf/cm2 になるよう
に調整された状態で計測開始用遮断弁15が開かれる。
そのため、高圧窒素源13から供給された窒素ガスは、
計測ガス供給管11からプロセスガス供給管1A〜1C
へ流れ、図示しないプロセスチャンバを介して排気側に
ブローして、プロセスガス供給管1A〜1C内に残留し
ているプロセスガスが掃気される。その後、連結部遮断
弁18B,18Cが閉じられ、マスフローコントローラ
2B,2Cからの排出が止められる。
を介して設定流量づつ排出され続けるが、一方で高圧窒
素源6からレギュレータ14を介して補充される。その
ため、管内の圧力は、レギュレータ14の下流側はレギ
ュレータ21までの間で4kgf/cm2 に維持され、
そのレギュレータ21下流側は2kgf/cm2 に維持
される。このような設定圧力で管内が安定した後、計測
開始用遮断弁15が閉じらて計測が開始される。計測開
始用遮断弁15の閉弁によりその下流側に閉じこめられ
た窒素ガスは、排出側に連通している分岐管12Aを通
ってマスフローコントローラ1から設定流量の窒素ガス
が排出され続ける。そして、窒素ガスの排出により、供
給が止められた計測開始用遮断弁15下流側の圧力、即
ち、圧力センサ16によって測定される圧力は次第に下
降することとなる。
レータ21が設けられているため、そのレギュレータ2
1下流側の圧力は依然として2kgf/cm2 の圧力が
維持されている。そのため、従来逆流のおそれがあった
逆止弁17B,17Cは、その上流側と下流側とで圧力
差がないので逆流することはなく、マスフローコントロ
ーラ2Aの流量計測は、安定した一定容積の下で行われ
る。従って、流量検定システムでは、圧力センサ16か
ら出力される測定値に基づき、所定の圧力幅における圧
力降下時間によって流量計測が行われる。例えば、本実
施の形態では、圧力センサ16の測定値が3.5kgf
/cm2 になったところで、パソコン36に接続された
ADボード37によって圧力データのモニタが開始さ
れ、3.3〜2.8kgf/cm2 までの圧力降下時間
によって流量計測が行われる。そして、今回計測された
圧力降下時間と、マスフローコントローラ2Aの初期状
態での圧力降下時間とが比較演算されて流量変化率が算
出され、それをもとにマスフローコントローラ2Aの流
量検定が行われる。
態の流量検定システムによれば、ガス回路中に逆止弁1
7A〜17Cを有するものであっても、圧力センサ16
による計測位置下流側に更に圧力調整器として第2のレ
ギュレータ21を設けたので、逆止弁17A〜17Cの
前後の圧力を一定に保つことで逆流の影響をなくすこと
ができた。そのため、マスフローコントローラ2A(2
B,2C)の流量計測を行う際の容積が常に一定とな
り、その検定が精度よく行われることとなった。なお、
本実施の形態では、逆止弁17A〜17Cが及ぼすマス
フローコントローラの一次圧の低下、特に逆止弁17A
〜17Cの開弁による容積変化による場合を示して説明
したが、圧力センサ16による計測位置下流側に圧力調
整器として第2のレギュレータ21を設けることは、逆
止弁の有無にかかわらずマスフローコントローラの一次
圧を安定させることができ、これによってマスフローコ
ントローラの流量測定精度を向上させることができる。
ーラ流量検定システムの第2実施の形態について説明す
る。図6は、第2実施の形態の流量検定システムに組み
込まれたガス回路の一部を示した図である。本実施の形
態のものも、前記従来例のものとほぼ同様の構成によっ
て形成されたガス回路であって、その特徴は、計測ガス
供給管11に圧力調整弁41を設けた点である。そこ
で、この圧力調整弁41を除き、他の構成については従
来例のものと同符号を付して説明する。この圧力調整弁
41は、逆止弁17A〜17C上流側の圧力を瞬間的に
減圧させるために設けられたものである。そこで、この
ような構成のガス回路による流量計測の安定性につい
て、前記第1実施の形態と同様に計測試験装置を示し、
その計測方法を示すとともに計測精度を検証することと
する。
に基づいて形成された計測試験装置を示した回路図であ
る。この装置では、計測対象となるマスフローコントロ
ーラ2へのガスラインが計測ガス供給管22によって構
成され、その計測ガス供給管22の上流側には、レギュ
レータ14、計測開始用遮断弁15及び圧力センサ16
が、図6に示したガス回路に対応して順に配管されてい
る。そして、その計測ガス供給管22の下流側には、マ
スフローコントローラ2及びその排出流量を測定するマ
スフローメータ24が配管されている。一方、計測ガス
供給管22には、マスフローコントローラ2直前の上流
側に分岐管25が分岐接続されている。そして、その分
岐管25は更に2方向に分岐され、一方には逆止弁1
7、圧力センサ26及び連結部遮断弁18が順に配管さ
れ、他方には圧力調整弁41が配管されている。
プのエアーオペレート弁であり、計測開始用遮断弁15
と同じ電磁弁31からの作動エアによって動作するよう
共通するエアパイプが接続されている。その計測開始用
遮断弁15は、ノーマルクローズタイプのエアーオペレ
ート弁であり、圧力調整弁41が閉じるのに対し若干遅
れて開くようにするためのスピードコントローラが設け
られている。具体的には、計測開始用遮断弁15に絞り
42を介してエアパイプが接続され、その絞り42をま
たぐように連結されたバイパスに、計測開始用遮断弁1
5側への流れを遮断する逆止弁43が配管されて構成さ
れている。また、圧力調整弁41下流側の圧力調整管4
4は閉じられているが、その下流側の配管容積は、後述
するように圧力調整弁41が開いて上流側のガスが下流
側の圧力調整管44に流れ込むことによって、上流側の
圧力降下幅が約0.3kgf/cm2 となるように設計
されている。
における計測試験装置の流量計測について説明する。な
お、本試験においても計測ガスには窒素ガスの代わりに
圧縮エアを使用する。先ず、パソコン36からの計測開
始信号が発信されると、I/Oボード35を介して駆動
電源34からの電圧が電磁弁32に印加され、励磁した
電磁弁32の動作により作動エアが遮断されて連結部遮
断弁18が閉じられる。また、パソコン36からの計測
開始信号はI/Oボード35からモニタリングコントロ
ーラ33に送信され、駆動電源32からの電圧が電磁弁
31に印加される。そのため、励磁した電磁弁31の動
作により作動エアが供給されて計測開始用遮断弁15が
開けられ、計測ガス供給管22へエア供給源38からの
圧縮エアが供給される。
れた作動エアは、圧力調整弁41及び計測開始用遮断弁
15へ同一のエアパイプによって同時に供給されるが、
スピードコントローラによって計測開始用遮断弁15の
動作が遅れることとなる。計測開始用遮断弁15に供給
される作動エアの供給量が絞り42によって制限されて
いるため、圧力調整弁41に比べて、計測開始用遮断弁
15を動作させる圧力に達するまでに時間がかかるため
である。
15によってエア供給源38から供給された圧縮エア
は、計測ガス供給管22に直接配管されたマスフローコ
ントローラ2及びマスフローメータ24を通って排出さ
れる。一方、その計測ガス供給管22に分岐接続された
分岐管25へ流れるエアは、連結部遮断弁18及び圧力
調整弁41が閉じられているため、その流れが止められ
る。本計測試験装置では、レギュレータ14が2kgf
/cm2 に設定されているため、その下流側では圧力が
2kgf/cm2 にまで上昇して安定することとなる。
また、エア供給源38から圧縮エアが供給される前に圧
力調整弁41が閉じられるため、圧力調整弁41の下流
側の圧力調整管44内は2kgf/cm2 に設定された
上流側に比べ低圧になっている。
縮エアによって前述した値にガスライン内の圧力が設定
されて安定した後、所定のタイミングで電磁弁31への
通電がとめられる。そのため、電磁弁31の動作により
作動エアの供給が遮断され、計測開始用遮断弁18が閉
じらて計測が開始される。このとき、圧力センサ16及
び圧力センサ26の測定、そしてマスフローメータ24
の測定による実測値データが、パソコン36に接続され
たADボード37によりモニタされる。図8は、この実
測値データをグラフにして示したものであり、横軸に時
間、縦軸に圧力及び流量をとって示したグラフである。
弁18が閉じられると、それと同時に圧力調整弁41が
開けられる。その瞬間、計測開始用遮断弁15の下流側
では、2kgf/cm2 から約0.3kgf/cm2 の
急激な圧力降下分が生ずる。計測開始用遮断弁15の遮
断によって閉じこめられたエアが、圧力調整弁41下流
側の圧力調整管44内へ瞬間的に流れるためである。従
って、逆止弁17は、計測開始直後に急激な圧力降下に
よる逆圧がかかり確実に閉弁することとなる。そこで、
圧力調整弁41による急激な圧力降下は圧力センサ16
によって測定され、図8に示すように急激は下降線が示
される。そして、計測開始用遮断弁15下流側に閉じこ
められたエアはマスフローコントローラ2を通って設定
流量づつ排出されるため、続いて徐々に低下する下降線
が示される。
センサ26によって測定される逆止弁17下流側の圧力
は、図8に示すように計測開始の前後を問わず常に一定
に保たれている。これは、その逆止弁17が完全に閉弁
され、連結部遮断弁18との間に閉じこめられたエアに
は逆流が生じてないためである。また、マスフローコン
トローラ2の排出流量を測定するマスフローメータ24
の出力は、図8に示すように計測開始直後に流量が一旦
急激に突出し、その後一定流量で安定している。これ
は、計測開始直後の圧力降下に伴う流量低下を補うべ
く、マスフローコントローラ2の弁の開きが瞬間的に大
きくなるためである。その後ガスライン内のエアが安定
するため、マスフローコントローラ2が再び絞られ、設
定流量のエアが排出されることとなる。なお、この実測
値データ(P16,P26,MFM24)は、ADボー
ド37に送信され、そのデータを解析したパソコン36
から出力されたものである。
における計測試験装置によれば、計測開始直後に、圧力
調整弁41によって逆止弁17の上流側圧力を急激に圧
力降下させるため、逆止弁17が正確に閉弁されてエア
の逆流がなくなった。そのことを示すように、図8で示
す圧力センサ26によって測定される圧力が一定となっ
た。従って、本実施の形態の計測試験装置でも、従来の
ような逆止弁17の開閉による容積変化をなくし、流量
計測には、常に逆止弁17上流側の容積が対象になるこ
ととなった。よって、この計測検査装置の試験結果か
ら、図6に示す流量検定システムについても流量計測が
安定して行えることが分かる。そこで、例えばマスフロ
ーコントローラ2Aの流量検定を行う場合について説明
する。
られ、プロセスガスA〜Cの供給が遮断される。次い
で、連結部遮断弁18A〜18Cが開かれ、レギュレー
タ14の下流側の圧力が2kgf/cm2 に調整された
状態で計測開始用遮断弁15が開かれる。このとき、圧
力調整弁41は閉じられ、その下流側の圧力は、前述し
た計測試験装置と同様に2kgf/cm2 に比べて低圧
に保たれている。また、連結部遮断弁18B,18Cは
閉じられ、マスフローコントローラ2B,2Cへは流れ
ることはない。そのため、高圧窒素源13から供給され
た窒素ガスは、計測ガス供給管11からプロセスガス供
給管1A〜1Cへ流れ、図示しないプロセスチャンバを
介して排気側にブローして、プロセスガス供給管1A〜
1C内に残留しているプロセスガスが掃気される。その
後、連結部遮断弁18B,18Cが閉じられ、マスフロ
ーコントローラ2B,2Cからの排出が止められる。
を介して設定流量づつ排出され続けるが、一方で高圧窒
素源6からレギュレータ14を介して補充される。その
ため、レギュレータ14の下流側は2kgf/cm2 に
維持される。そこで、この状態から計測開始用遮断弁1
5が閉じられて計測が開始される。この計測開始用遮断
弁15の閉弁により窒素ガスの供給が遮断されると同時
に圧力調整弁41が開けられる。そのため、計測開始用
遮断弁15の閉弁によってガスライン内に閉じこめられ
た窒素ガスは、圧力調整弁41の開弁によって、より圧
力の低い圧力調整弁41下流側の圧力調整管44へ流れ
込むこととなる。従って、計測開始用遮断弁15下流側
の圧力は2kgf/cm2 から急激な圧力降下を生じ、
逆圧によって全ての逆止弁17A〜17Cが閉じられ
る。
りその下流側に閉じこめられた窒素ガスは、排出側に連
通している分岐管12Aを通ってマスフローコントロー
ラ1から設定流量の窒素ガスが排出され続ける。そし
て、窒素ガスの排出により、供給が止められた計測開始
用遮断弁15下流側の圧力は低下し、圧力センサ16の
測定値が次第に下降することとなる。このとき、逆止弁
17B,17Cは、更に減圧する上流側と2kgf/c
m2に保たれた下流側との圧力差によって、閉弁状態が
維持される。よって、従来逆流のおそれがあった逆止弁
17B,17Cは確実に閉弁され、マスフローコントロ
ーラ2Aの流量計測は、安定した一定容積の下で行われ
る。従って、流量検定システムでは、圧力センサ16の
測定値に基づき、所定の圧力幅における圧力降下時間に
よって流量計測が行われる。そして、今回計測された圧
力降下時間と、マスフローコントローラ2Aの初期状態
での圧力降下時間とが比較演算されて流量変化率が算出
され、それをもとにマスフローコントローラ2Aの流量
検定が行われる。
態の流量検定システムによれば、ガス回路中に逆止弁1
7A〜17Cを有するものであっても、圧力調整弁41
によって計測開始直後の圧力を下げ、逆止弁17A〜1
7Cを確実に閉弁させるようにしたので、マスフローコ
ントローラ2A(2B,2C)の流量計測を行う際の容
積が常に一定となり、その検定が精度よく行われること
となった。ところで、本実施の形態では、逆止弁17A
〜17Cによる問題点を中心に説明したが、更にこの流
量検定システムに対して、前記第1実施の形態の如く圧
力センサ16による計測位置下流側に圧力調整器として
第2のレギュレータ21を設けてもよい。そうすれば、
更にマスフローコントローラの一次圧を安定させること
ができ、これによってマスフローコントローラの流量測
定精度を向上させることができる。
れるわけではなく、その趣旨を逸脱しない範囲で様々な
変更が可能である。例えば、請求項1に記載の圧力調整
器に該当する前記第1実施の形態で示したレギュレータ
は、固定式或いは、電子式レギュレータなどの別を問わ
ない。また、前記第2実施の形態で示した請求項2に記
載の圧力調整器の構成は、圧力調整弁41及び圧力調整
管44によるものに限定されず、例えば、圧力調整管4
4を閉じたものとせず、ベントラインとしてもよい。こ
の場合、圧力調整弁41は所定の圧力降下を生じさせる
時間で開閉する。また、図9に示すように、圧力調整弁
41及び補助遮断弁45を直列に配管することで、スピ
ードコントローラを構成する絞り42及び逆止弁43を
省略するようにしてもよい。この場合、計測開始前に補
助遮断弁45を開閉し、圧力調整弁45下流側を低圧状
態にする。
ローコントローラとを順次経由してプロセスガス源から
のプロセスガスをプロセスチャンバに供給する複数のプ
ロセスガスラインと、計測ガス供給源からのプロセスガ
スを各マスフローコントローラを経由して排出すべく、
プロセスガスラインに分岐接続された計測ガスラインと
を有し、計測ガスラインの共通部分には、第1圧力調整
器と、計測開始用遮断弁と、圧力センサと、第2圧力調
整器とが順次配管され、計測ガスラインの各分岐部分に
は、プロセスガスラインと計測ガスライン間の遮断を行
う連結部遮断弁とが順次配管した構成としたので、マス
フローコントローラから計測ガスが排出される計測中、
第2圧力調整器によってその下流側は常に一定圧に維持
されるため、マスフローコントローラの流量測定精度を
向上させたマスフローコントローラ流量検定システムを
提供すること可能となった。
スフローコントローラとを順次経由してプロセスガス源
からのプロセスガスをプロセスチャンバに供給する複数
のプロセスガスラインと、計測ガス供給源からのプロセ
スガスを各マスフローコントローラを経由して排出すべ
く、プロセスガスラインに分岐接続された計測ガスライ
ンとを有し、計測ガスラインの共通部分には、第1圧力
調整器と、計測開始用遮断弁と、圧力センサとが順次配
管され、更にその下流側には一次圧を減圧させる圧力調
整器が分岐配管され、計測ガスラインの各分岐部分に
は、プロセスガスの流入を防止する逆止弁と、プロセス
ガスラインと計測ガスライン間の遮断を行う連結部遮断
弁とが順次配管されたものであって、計測開始用遮断弁
を閉じて圧力調整器が所定のタイミングで減圧を行った
後、圧力センサによって圧力降下を測定することでマス
フローコントローラの流量検定を行う構成としたので、
逆止弁にが強制的に閉弁されるため、計測時の逆止弁に
よる容積変化がなくなりマスフローコントローラの流量
計測が安定したマスフローコントローラ流量検定システ
ムを提供することが可能となった。
用遮断弁であって、計測開始用遮断弁の閉弁の後に開弁
することによって、低圧に設定した当該圧力調整用遮断
弁の下流側に計測用ガスを流すことによって一次圧を減
圧させる構成としたので、簡易な構成により逆止弁を確
実に閉弁させることができ、計測時の逆止弁による容積
変化がなくなりマスフローコントローラの流量計測が安
定したマスフローコントローラ流量検定システムを提供
することが可能となった。
マルクローズタイプのエアオペレート弁、圧力調整用遮
断弁がノーマルオープンタイプのエアオペレート弁の組
み合わせである場合、又はそれぞれの遮断弁が逆のタイ
プのオペレート弁による組み合わせである場合に、両遮
断弁への作動エアの供給が共通の制御弁によって制御さ
れるものであって、計測開始用遮断弁への作動エアの供
給が絞りと逆止弁とからなるスピードコントローラを介
して行われるよう構成したので、共通の制御弁によって
作動エアの供給が可能なため、その構成部材を減らすこ
とができ、また、計測ガス供給時にスピードコントロー
ラによって計測開始用遮断弁が開けられる前に圧力調整
用遮断弁を閉じるため、その圧力調整用遮断弁下流側を
確実に低圧状態にすることができるマスフローコントロ
ーラ流量検定システムを提供することが可能となった。
用遮断弁と補助遮断弁とが順次配管されたものであっ
て、計測開始用遮断弁の閉弁前に補助遮断弁を開閉する
ことによって、圧力調整遮断弁下流側を低圧にする構成
としたので、補助遮断弁の開閉によって圧力調整用遮断
弁下流側を確実に低圧状態にすることができるマスフロ
ーコントローラ流量検定システムを提供することが可能
となった。
テムを構成するガス回路の一部を示した図である。
測試験装置を示した回路図である。
を示した回路図である。
測試験装置の実測値データをグラフにして示した図であ
る。
の実測値データをグラフにして示した図である。
テムを構成するガス回路の一部を示した図である。
測試験装置を示した回路図である。
測試験装置の実測値データをグラフにして示した図であ
る。
テムを構成するガス回路の一部を示した図である。
の一部を示した図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 プロセスガス遮断弁とマスフローコント
ローラとを順次経由してプロセスガス源からのプロセス
ガスをプロセスチャンバに供給する複数のプロセスガス
ラインと、 計測ガス供給源からのプロセスガスを前記各マスフロー
コントローラを経由して排出すべく、前記プロセスガス
ラインに分岐接続された計測ガスラインとを有し、 前記計測ガスラインの共通部分には、第1圧力調整器
と、計測開始用遮断弁と、圧力センサと、第2圧力調整
器とが順次配管され、前記計測ガスラインの各分岐部分
には、前記プロセスガスラインと計測ガスライン間の遮
断を行う連結部遮断弁とが順次配管されたものであっ
て、 前記計測開始用遮断弁と第2圧力調整器との間の圧力降
下を前記圧力センサによって測定することでマスフロー
コントローラの流量検定を行うことを特徴とするマスフ
ローコントローラ流量検定システム。 - 【請求項2】 プロセスガス遮断弁とマスフローコント
ローラとを順次経由してプロセスガス源からのプロセス
ガスをプロセスチャンバに供給する複数のプロセスガス
ラインと、 計測ガス供給源からのプロセスガスを前記各マスフロー
コントローラを経由して排出すべく、前記プロセスガス
ラインに分岐接続された計測ガスラインとを有し、 前記計測ガスラインの共通部分には、第1圧力調整器
と、計測開始用遮断弁と、圧力センサとが順次配管さ
れ、更にその下流側には一次圧を減圧させる圧力調整器
が分岐配管され、前記計測ガスラインの各分岐部分に
は、プロセスガスの流入を防止する逆止弁と、前記プロ
セスガスラインと計測ガスライン間の遮断を行う連結部
遮断弁とが順次配管されたものであって、 前記計測開始用遮断弁を閉じて前記圧力調整器が所定の
タイミングで減圧を行った後、前記圧力センサによって
圧力降下を測定することでマスフローコントローラの流
量検定を行うことを特徴とするマスフローコントローラ
流量検定システム。 - 【請求項3】 請求項2に記載のマスフローコントロー
ラ流量検定システムにおいて、 前記圧力調整器は、圧力調整用遮断弁であって、前記計
測開始用遮断弁の閉弁の後に開弁することによって、低
圧に設定した当該圧力調整用遮断弁の下流側に計測用ガ
スを流すことによって一次圧を減圧させることを特徴と
するマスフローコントローラ流量検定システム。 - 【請求項4】 請求項3に記載のマスフローコントロー
ラ流量検定システムにおいて、 前記計測開始用遮断弁がノーマルクローズタイプのエア
オペレート弁、前記圧力調整用遮断弁がノーマルオープ
ンタイプのエアオペレート弁の組み合わせである場合、
又はそれぞれの遮断弁が逆のタイプのオペレート弁によ
る組み合わせである場合に、 両遮断弁への作動エアの供給が共通の制御弁によって制
御されるものであって、計測開始用遮断弁への作動エア
の供給が絞りと逆止弁とからなるスピードコントローラ
を介して行われることを特徴とするマスフローコントロ
ーラ流量検定システム。 - 【請求項5】 請求項3に記載のマスフローコントロー
ラ流量検定システムにおいて、 前記圧力調整器は、圧力調整用遮断弁と補助遮断弁とが
順次配管されたものであって、 前記計測開始用遮断弁の閉弁前に前記補助遮断弁を開閉
することによって、前記圧力調整遮断弁下流側を低圧に
することを特徴とするマスフローコントローラ流量検定
システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02550898A JP3557087B2 (ja) | 1998-02-06 | 1998-02-06 | マスフローコントローラ流量検定システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02550898A JP3557087B2 (ja) | 1998-02-06 | 1998-02-06 | マスフローコントローラ流量検定システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11223538A true JPH11223538A (ja) | 1999-08-17 |
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---|---|---|---|
JP02550898A Expired - Lifetime JP3557087B2 (ja) | 1998-02-06 | 1998-02-06 | マスフローコントローラ流量検定システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3557087B2 (ja) |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003090264A1 (fr) * | 2002-04-22 | 2003-10-30 | Tokyo Electron Limited | Systeme de traitement de dispositifs a semiconducteurs |
US7108009B2 (en) | 2002-11-15 | 2006-09-19 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor manufacturing apparatus enabling inspection of mass flow controller maintaining connection thereto |
WO2007102319A1 (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-13 | Ckd Corporation | ガス流量検定ユニット |
WO2008053839A1 (fr) * | 2006-11-02 | 2008-05-08 | Horiba Stec, Co., Ltd. | Mécanisme de diagnostic dans un régulateur de débit massique à pression différentielle |
US7918238B2 (en) | 2004-06-21 | 2011-04-05 | Hitachi Metals, Ltd. | Flow controller and its regulation method |
US7979165B2 (en) | 2006-03-20 | 2011-07-12 | Hitachi Metals, Ltd. | Mass flow rate control apparatus, its calibration method and semiconductor-producing apparatus |
US20130036833A1 (en) * | 2011-08-10 | 2013-02-14 | Ckd Corporation | Gas flow-rate verification system and gas flow-rate verification unit |
CN103063259A (zh) * | 2012-12-24 | 2013-04-24 | 北京七星华创电子股份有限公司 | 管道压力检测及控制系统 |
KR200473806Y1 (ko) * | 2012-10-08 | 2014-07-31 | 한전케이피에스 주식회사 | 발전기 공기압 충전장치 |
US9400004B2 (en) | 2010-11-29 | 2016-07-26 | Pivotal Systems Corporation | Transient measurements of mass flow controllers |
US9523435B2 (en) | 2009-10-15 | 2016-12-20 | Pivotal Systems Corporation | Method and apparatus for gas flow control |
US10401202B2 (en) | 2015-07-10 | 2019-09-03 | Pivotal Systems Corporation | Method and apparatus for gas flow control |
US11899477B2 (en) | 2021-03-03 | 2024-02-13 | Ichor Systems, Inc. | Fluid flow control system comprising a manifold assembly |
WO2024113765A1 (zh) * | 2022-11-29 | 2024-06-06 | 上海新漫传感科技有限公司 | 探测器的保护系统、方法及计算机可读介质 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5346628B2 (ja) | 2009-03-11 | 2013-11-20 | 株式会社堀場エステック | マスフローコントローラの検定システム、検定方法、検定用プログラム |
US9188989B1 (en) | 2011-08-20 | 2015-11-17 | Daniel T. Mudd | Flow node to deliver process gas using a remote pressure measurement device |
US9958302B2 (en) | 2011-08-20 | 2018-05-01 | Reno Technologies, Inc. | Flow control system, method, and apparatus |
US11144075B2 (en) | 2016-06-30 | 2021-10-12 | Ichor Systems, Inc. | Flow control system, method, and apparatus |
US10838437B2 (en) | 2018-02-22 | 2020-11-17 | Ichor Systems, Inc. | Apparatus for splitting flow of process gas and method of operating same |
US10303189B2 (en) | 2016-06-30 | 2019-05-28 | Reno Technologies, Inc. | Flow control system, method, and apparatus |
US10679880B2 (en) | 2016-09-27 | 2020-06-09 | Ichor Systems, Inc. | Method of achieving improved transient response in apparatus for controlling flow and system for accomplishing same |
US10663337B2 (en) | 2016-12-30 | 2020-05-26 | Ichor Systems, Inc. | Apparatus for controlling flow and method of calibrating same |
-
1998
- 1998-02-06 JP JP02550898A patent/JP3557087B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003090264A1 (fr) * | 2002-04-22 | 2003-10-30 | Tokyo Electron Limited | Systeme de traitement de dispositifs a semiconducteurs |
US7108009B2 (en) | 2002-11-15 | 2006-09-19 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor manufacturing apparatus enabling inspection of mass flow controller maintaining connection thereto |
US7658204B2 (en) | 2002-11-15 | 2010-02-09 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor manufacturing apparatus enabling inspection of mass flow controller maintaining connection thereto |
US7918238B2 (en) | 2004-06-21 | 2011-04-05 | Hitachi Metals, Ltd. | Flow controller and its regulation method |
WO2007102319A1 (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-13 | Ckd Corporation | ガス流量検定ユニット |
US7716993B2 (en) | 2006-03-07 | 2010-05-18 | Ckd Corporation | Gas flow rate verification unit |
JP2011064707A (ja) * | 2006-03-07 | 2011-03-31 | Ckd Corp | ガス流量検定ユニット |
US7979165B2 (en) | 2006-03-20 | 2011-07-12 | Hitachi Metals, Ltd. | Mass flow rate control apparatus, its calibration method and semiconductor-producing apparatus |
US8744784B2 (en) | 2006-11-02 | 2014-06-03 | Horiba Stec, Co., Ltd. | Diagnostic mechanism in differential pressure type mass flow controller |
WO2008053839A1 (fr) * | 2006-11-02 | 2008-05-08 | Horiba Stec, Co., Ltd. | Mécanisme de diagnostic dans un régulateur de débit massique à pression différentielle |
TWI450063B (zh) * | 2006-11-02 | 2014-08-21 | Horiba Stec Co | 差壓式質量流量控制器中之診斷機構及診斷方法 |
US9523435B2 (en) | 2009-10-15 | 2016-12-20 | Pivotal Systems Corporation | Method and apparatus for gas flow control |
US9904297B2 (en) | 2009-10-15 | 2018-02-27 | Pivotal Systems Corporation | Method and apparatus for gas flow control |
US9983595B2 (en) | 2009-10-15 | 2018-05-29 | Pivotal Systems Corporation | Method and apparatus for gas flow control |
US9400004B2 (en) | 2010-11-29 | 2016-07-26 | Pivotal Systems Corporation | Transient measurements of mass flow controllers |
CN102954819A (zh) * | 2011-08-10 | 2013-03-06 | 喜开理株式会社 | 气体流量检定系统及气体流量检定单元 |
JP2013037614A (ja) * | 2011-08-10 | 2013-02-21 | Ckd Corp | ガス流量検定システム及びガス流量検定ユニット |
US8910529B2 (en) | 2011-08-10 | 2014-12-16 | Ckd Corporation | Gas flow-rate verification system and gas flow-rate verification unit |
US20130036833A1 (en) * | 2011-08-10 | 2013-02-14 | Ckd Corporation | Gas flow-rate verification system and gas flow-rate verification unit |
KR200473806Y1 (ko) * | 2012-10-08 | 2014-07-31 | 한전케이피에스 주식회사 | 발전기 공기압 충전장치 |
CN103063259A (zh) * | 2012-12-24 | 2013-04-24 | 北京七星华创电子股份有限公司 | 管道压力检测及控制系统 |
US10401202B2 (en) | 2015-07-10 | 2019-09-03 | Pivotal Systems Corporation | Method and apparatus for gas flow control |
US11899477B2 (en) | 2021-03-03 | 2024-02-13 | Ichor Systems, Inc. | Fluid flow control system comprising a manifold assembly |
WO2024113765A1 (zh) * | 2022-11-29 | 2024-06-06 | 上海新漫传感科技有限公司 | 探测器的保护系统、方法及计算机可读介质 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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