JPH1118277A - 過電流検出回路 - Google Patents
過電流検出回路Info
- Publication number
- JPH1118277A JPH1118277A JP9169973A JP16997397A JPH1118277A JP H1118277 A JPH1118277 A JP H1118277A JP 9169973 A JP9169973 A JP 9169973A JP 16997397 A JP16997397 A JP 16997397A JP H1118277 A JPH1118277 A JP H1118277A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current
- overcurrent detection
- proportional
- overcurrent
- detection circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
- G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
- G05F1/565—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor
- G05F1/569—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor for protection
- G05F1/573—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor for protection with overcurrent detector
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is dc
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/26—Current mirrors
- G05F3/262—Current mirrors using field-effect transistors only
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Abstract
に検出する。 【解決手段】 過電流検出対象である電流の経路の入出
力端子1,2間に接続された第1の抵抗素子4と、入力
端子1に一端が接続された第2の抵抗素子5と、抵抗素
子4の出力端子2側が一方の入力端子に接続され、か
つ、抵抗素子5の他端が他方の入力端子に接続された差
動増幅手段6と、差動増幅手段6の出力信号が加えら
れ、かつ、抵抗素子5に直列接続されて抵抗素子4を流
れる電流に比例する大きさの比例電流を出力させる比例
電流出力手段7と、比例電流出力手段7から出力される
比例電流を監視して抵抗素子4を流れる電流の過電流状
態を検出する電流監視手段8とを備える。
Description
に内蔵可能な過電流検出回路に関し、特に、電源装置の
過負荷時に電源回路を保護するために電源供給線を流れ
る電流の過電流状態を検出する過電流検出回路に関す
る。
電源供給線に抵抗を挿入し、この抵抗を流れる電流によ
る電圧降下を監視するのが一般的である。この方法に基
づく従来の過電流検出回路の具体例を、図12、図1
3、図14に示す。
あり、抵抗114及びトランジスタ115により構成さ
れた部分が過電流を検出する。この過電流検出部113
は、垂下型過電流保護回路と呼ばれている。電源供給線
200を流れる電流I1が過電流となるしきい値をI
overとすると、電流I1がしきい値Ioverを超えたとき
に抵抗114の電圧降下がトランジスタ115のベース
−エミッタ間電圧Vbeより大きくなり、トランジスタ1
15が動作してコレクタ−エミッタ間電圧Vceが下が
る。これにより、電源供給用のトランジスタ116のベ
ース電圧は下がり、コレクタに流れる電流I1の変化が
少なくなってトランジスタ116のコレクタ−エミッタ
間電圧Vceが上昇する。つまり、出力電圧が低下する。
従って、過電流検出部113は、トランジスタ116の
コレクタを流れる電流I1を制限し、過電流によるトラ
ンジスタ116の破壊を保護する機能がある。なお、図
12において、111は入力端子、112は出力端子、
117,118は分圧抵抗、119は基準電圧源、12
0は演算増幅器である。
ータであり、過電流検出部の回路構成が異なっている。
過電流検出部121は、トランジスタ115及び抵抗1
14,122,123によって構成されており、フの字
型過電流保護回路と呼ばれている。過電流検出動作は図
12の回路とほぼ同じであり、抵抗114の電圧降下に
よりトランジスタ115が動作し、電源供給用のトラン
ジスタ116のベース電圧が低下する。これにより出力
電圧が低下するが、更に抵抗122,123の働きで電
流I1が減少し、トランジスタ116を過電流による破
壊から保護している。
する回路である。軽負荷のときは抵抗114の電圧降下
が小さいので、ダイオード124と抵抗125との接続
点に接続されたコンパレータ127の正入力端子より負
入力端子の方が電圧が高いため、コンパレータ127の
出力は「Low」レベルとなる。重負荷となり、電流I1が
過電流Ioverとなって抵抗114の電圧降下がダイオー
ド124の順方向電圧Vfより大きくなると、コンパレ
ータ127の負入力端子の電圧が正入力端子の電圧より
低くなり、その出力は「High」レベルとなって過電流を
検出する。コンパレータ120の出力は過電流検出信号
として検出端子126から出力され、入力側あるいは出
力側にある電源供給用のトランジスタを保護するのに利
用される。
で1Vまたはそれ以下の電圧降下が要求されているレギ
ュレータに内蔵された電源供給用のトランジスタを保護
する場合や、電源供給線に挿入されたオン/オフ用のス
イッチングトランジスタを保護する場合等は、図12〜
図14に示したような抵抗の電圧降下による過電流検出
は難しくなる。その理由として次の2点を挙げることが
できる。
下を考慮すると、このトランジスタに直列接続された抵
抗の過電流検出時の電圧降下を0.5〔V〕以下にする
必要があり、バイポーラトランジスタのベース−エミッ
タ間電圧Vbeやダイオードの順方向電圧Vfを基準の電
圧として使用できなくなることで、ある程度の精度を有
する基準電圧が得られなくなる。2点目として、抵抗の
電圧降下を低くするため、出力電流が数100〔mA〕
以上になるとき抵抗値を1〔Ω〕以下に設定するので、
出力電流の僅かな変化に対して抵抗の電圧降下がほとん
ど変化しなくなり、過電流検出の感度が悪くなる。
による過電流検出は、一般に検出精度が悪く、バラツキ
が生じ易いという問題がある。更に、電源供給用のトラ
ンジスタやスイッチングトランジスタ自体のオン抵抗が
過電流検出用の抵抗より小さい場合、過電流検出用の抵
抗の大きさがトランジスタを含んだ全体の電圧降下に影
響し、抵抗による電圧降下のロスが大きくなるという問
題がある。
い過電流検出回路を提供しようとするものである。ま
た、本発明は、電力損失の少ない過電流検出回路を実現
しようとするものである。
載の発明に対応する基本的な回路構成図である。本発明
では、入力端子1と出力端子2との間の電源供給線20
0に第1の抵抗素子4を挿入し、この抵抗素子4の入力
端子1側に第2の抵抗素子5の一端を接続する。そし
て、これらの抵抗素子4,5の他端を演算増幅器等の差
動増幅手段6の二入力端子に各々接続する。第1、第2
の抵抗素子としては、受動抵抗やMOSFET等が考え
られる。また、第2の抵抗素子5に接続された差動増幅
手段6の一方の入力端子に、第2の抵抗素子5と直列に
なるようにトランジスタ等からなる比例電流出力手段7
を接続し、その制御端子(ベースまたはゲート)に差動
増幅手段6の出力端子を接続する。比例電流出力手段7
としては、バイポーラトランジスタやMOSFET等が
考えられる。更に、比例電流出力手段7の出力側に電流
監視手段8を接続し、この手段8から過電流検出信号出
力端子3を取り出す。電流監視手段8としては、コンパ
レータや電流比較回路を有するものが考えられる。
4,5、差動増幅手段6、比例電流出力手段7からなる
回路により、電源供給線200を流れる電流I1の大き
さに比例した比例電流I2を取り出す。第2の抵抗素子
5の抵抗値(r2とする)を第1の抵抗素子4の抵抗値
(r1とする)のn倍にすると、取り出される比例電流
I2の大きさは電源供給線200に流れる電流I1のn分
の1である。従って、電流監視手段8により比例電流I
2を電圧に変換して基準電圧と比較するか、または比例
電流I2を基準電流と比較することで、電源供給線20
0を流れる電流I1の大きさを監視して、過電流状態を
検出する。
る。図1の基本回路において、電源供給線200の電流
I1に対する比例電流I2を取り出す回路について説明す
る。電流I1による抵抗素子4の電圧降下は、I1×r1
であるから、差動増幅手段6の入力電圧V1(=Vo)は
数式1によって表される。
が、差動増幅手段6の二入力が仮想短絡(イマジナリー
ショート)となるように動作する場合、数式2が成り立
つ。
子5による電圧降下はI2×r2となり、V2は数式3と
なる。
が導かれる。
ように抵抗素子4の抵抗値r1のn倍とする。
る。
きさに比例した電流I2を取り出すことができる。電源
供給線200の過電流のしきい値をIoverとすると、こ
のときの比例電流I2は数式7で表される。
準電流Irefと比較し、次の数式8が成り立つときに電
源供給線200の電流I1が過電流状態であると判断
し、過電流検出信号出力端子3から過電流検出信号を出
力する。
を電圧に変換して検出電圧を得、この検出電圧を基準電
圧Vrefと比較した場合、電流を電圧に変換する時の抵
抗値をRとすると、次の数式9が成り立つときに電源供
給線200の電流I1が過電流状態であると判断し、過
電流検出信号出力端子3から過電流検出信号を出力す
る。
求項2〜請求項10記載の発明によって更に具体化され
る。まず、請求項2記載の発明は、図1における第1、
第2の抵抗素子4,5が第1、第2の受動抵抗であり、
差動増幅手段6が演算増幅器であり、比例電流出力手段
7が、演算増幅器の出力信号が制御端子に加えられるバ
イポーラトランジスタ、MOSFET等のトランジスタ
であり、電流監視手段8が、比例電流を第3の受動抵抗
により変換して得た検出電圧と基準電圧との比較結果に
応じて過電流検出信号を出力するコンパレータを有する
ものである。
電流検出回路において、コンパレータの基準電圧を、第
3の受動抵抗と同一成分により製造された(すなわち同
一の温度特性を有する)第4の受動抵抗と基準電流とに
より発生させるものである。
電流検出回路において、第1、第2の抵抗素子4,5が
第1、第2の受動抵抗であり、差動増幅手段6が演算増
幅器であり、比例電流出力手段7が、演算増幅器の出力
信号が制御端子に加えられるバイポーラトランジスタ、
MOSFET等のトランジスタであり、電流監視手段8
が、比例電流と基準電流との比較結果に応じて過電流検
出信号を出力する電流比較回路により構成される。
電流検出回路において、第1、第2の抵抗素子4,5が
第1、第2のMOSFETスイッチであり、差動増幅手
段6が演算増幅器であり、比例電流出力手段7が、演算
増幅器の出力信号が制御端子に加えられるバイポーラト
ランジスタ、MOSFET等のトランジスタであり、電
流監視手段8が、比例電流を受動抵抗により変換して得
た検出電圧と基準電圧との比較結果に応じて過電流検出
信号を出力するコンパレータを有している。そして、コ
ンパレータから出力される過電流検出信号により、第
1、第2のMOSFETスイッチをオフさせて過電流を
遮断する機能を有するものである。
電流検出回路において、第1、第2の抵抗素子4,5が
第1、第2のMOSFETスイッチであり、差動増幅手
段6が演算増幅器であり、比例電流出力手段7が、演算
増幅器の出力信号が制御端子に加えられるバイポーラト
ランジスタ、MOSFET等のトランジスタであり、電
流監視手段8が、比例電流と基準電流との比較結果に応
じて過電流検出信号を出力する電流比較回路により構成
される。そして、電流比較回路から出力される過電流検
出信号により、第1、第2のMOSFETスイッチをオ
フさせて過電流を遮断する機能を有するものである。
電流検出回路において、第1、第2の抵抗素子4,5が
第1、第2のMOSFETスイッチであり、差動増幅手
段6が第1の演算増幅器であり、比例電流出力手段7
が、第1の演算増幅器の出力信号が制御端子に加えられ
るバイポーラトランジスタ、MOSFET等のトランジ
スタであり、電流監視手段8が、比例電流を受動抵抗に
より電圧に変換して得た検出電圧と基準電圧とを入力と
して過電流検出信号を出力すると共に、第1のMOSF
ETスイッチを流れる電流を一定値に制限するように動
作する第2の演算増幅器を有するものである。
記載の過電流検出回路において、基準電圧を、検出電圧
を得るための受動抵抗と同一成分により製造された(す
なわち同一の温度特性を有する)別の受動抵抗と基準電
流とにより発生させるものである。
電流検出回路において、第1、第2の抵抗素子4,5が
第1、第2のMOSFETスイッチであり、差動増幅手
段6が演算増幅器であり、比例電流出力手段7が、演算
増幅器の出力信号が制御端子に加えられるバイポーラト
ランジスタ、MOSFET等のトランジスタであり、電
流監視手段8が、比例電流と基準電流とを入力として過
電流検出信号を出力すると共に、第1のMOSFETス
イッチを流れる電流を一定値に制限するように動作する
ノートンアンプ等の電流差動増幅器を有するものであ
る。
態を説明する。図2は本発明の第1実施形態を示してお
り、請求項2記載の発明の実施形態に相当する。この実
施形態は、図1における第1、第2の抵抗素子4,5と
して第1、第2の受動抵抗12,13を、差動増幅手段
6として演算増幅器14を、比例電流出力手段7として
NPNトランジスタ15を、電流監視手段8としてコン
パレータ18、第3の受動抵抗16、基準電圧源17を
用いたものである。そして、抵抗12の一端を演算増幅
器14の負入力端子に接続すると共に、抵抗13の一端
を正入力端子に接続して電流I1に比例する電流I2を取
り出している。電流監視回路の部分は、NPNトランジ
スタ15のエミッタに接続された受動抵抗16により比
例電流I2を電圧に変換し、この検出電圧をコンパレー
タ18により基準電圧Vrefと比較して過電流状態を検
出する。なお、9は入力端子、10は出力端子、11は
過電流検出信号出力端子である。
6の抵抗値をRとすると、前述した数式9が成り立つと
きにコンパレータ18の出力が「High」レベルとなり、
電源供給線200を流れる電流I1の過電流検出信号が
出力される。
も請求項2記載の発明の実施形態に相当する。この実施
形態は、図2におけるNPNトランジスタ15をNチャ
ンネルMOSFET19に置き換えたものである。その
他の構成は図2と同様であり、同一部品には同一符号を
付してある。本実施形態から明らかなように、図1の比
例電流出力手段7はバイポーラトランジスタやMOSF
ETによって構成することができる。なお、図4以降の
各実施形態において、図1の比例電流出力手段7に相当
する部分にはすべてMOSFETが用いられているが、
これらを図2のようにバイポーラトランジスタに置き換
えることも可能である。
00の電流変化に対する検出感度及び検出精度を従来技
術(図14)と比較しながら説明する。ここでは、図1
4におけるダイオード124を0.1〔V〕の電圧降下
のある電圧源に置き換えて考える。図14、図3とも、
電源供給線200の過電流検出用の抵抗114,12の
抵抗値を0.1〔Ω〕として、過電流検出のしきい値I
overを1〔A〕とする。
い値Ioverの10%変化したときを考察すると、Iover
の10%は100〔mA〕である。従来の図14の回路
では、100〔mA〕の変化で抵抗114の電圧降下の
変化は10〔mV〕である。一方、本実施形態の図3の
回路において、比例電流I2を電源供給線200の電流
I1の10,000分の1にして抵抗16の抵抗値を1
0〔kΩ〕にした場合、I1に100〔mA〕の変化が
あるとI2は10〔μA〕変化し、抵抗16による電圧
変化は100〔mV〕になる。図14のコンパレータ1
27及び図3のコンパレータ18として同一の素子を使
用した場合、入力電圧の10〔mV〕の変化と100
〔mV〕の変化を検出するときには、コンパレータの反
応は100〔mV〕の変化の方が良い。すなわち、本実
施形態によれば、従来よりも電源供給線200の電流変
化に対する感度が良く、従って、検出精度を高めること
が可能である。なお、この効果は、図2の実施形態を始
めとして、図4以下の実施形態についても同様である。
項3記載の発明の実施形態に相当する。比例電流I2の
取り出し回路は図3と同じであるが、電流監視回路部分
の基準電圧Vrefを、基準電流源20と、受動抵抗16
と同一の成分で製造した第4の受動抵抗21とによって
得る点が異なっている。この実施形態では、上記基準電
圧Vrefと、比例電流I2及び抵抗16により変換した検
出電圧とをコンパレータ18で比較し、過電流を検出す
る。この実施形態のように基準電圧Vrefを基準電流I
refと抵抗21とによって発生させる場合、基準電流I
refの温度変動が僅かであれば、基準電圧発生用の抵抗
21と比例電流I2の検出用抵抗16とが同一成分で製
造されていて同一の温度特性を有すると考えられるの
で、過電流検出精度の温度変動を小さくすることができ
る。
り、請求項4記載の発明の実施形態に相当する。この実
施形態において、比例電流I2の取り出し回路は図3と
同じである。異なるのは、電流監視回路部分において、
比例電流I2と基準電流Irefとを電流比較回路22によ
り直接比較し、比例電流I2が基準電流Irefより大きく
なった時に過電流を検出する点である。なお、図5では
簡略化した電流比較回路22を用いており、Nチャンネ
ルMOSFET及びPチャンネルMOSFETによって
構成されている。
り、請求項5記載の発明の実施形態に相当する。この実
施形態では、図1の第1の抵抗素子4としてPチャンネ
ルMOSFETスイッチ23を用いると共に、比例電流
I2の取り出し用に、図1の第2の抵抗素子5としてP
チャンネルMOSFETスイッチ24を用いている。そ
の他の構成は図3とほぼ同一であるが、この実施形態で
はコンパレータ18の出力端子がスイッチ23,24の
ゲートに接続されている。MOSFETをスイッチとし
て使う場合、トランジスタがオンのときには線形領域で
動作していて、ドレイン−ソース電圧が変化しても抵抗
成分の値は一定となる。すなわち、受動抵抗とほぼ同じ
特性となっている。また、その抵抗値はトランジスタの
チップサイズにほぼ比例している。
数式10で示されるとする。なお、数式10において、
(W/L)23はスイッチ23のチップの(幅/長さ)を
示すサイズ比、(W/L)24はスイッチ24のチップの
(幅/長さ)を示すサイズ比である。
23のオン状態の抵抗値をrm1,PチャンネルMOSF
ETスイッチ24の抵抗値をrm2とすると、rm1,rm2
の間には数式11の関係が成り立つ。
り、電源供給線200の電流I1に比例した電流I2を取
り出すことができる。また、電流監視回路部分は図3と
同一であるが、過電流検出信号であるコンパレータ18
の出力端子をPチャンネルMOSFETスイッチ23,
24の各ゲートに接続することにより、過電流検出時に
スイッチ23,24をオフして過電流を遮断し、スイッ
チ23,24や他の素子の破壊を防ぐことができる。
するが請求項8記載の発明の実施形態に相当する。この
実施形態は、図6と同様にPチャンネルMOSFETス
イッチ24を用いて比例電流I2を取り出しており、電
流監視回路部分では図4と同様に基準電流源20と受動
抵抗21とによって基準電圧Vrefを作り出している。
この実施形態でも、図6と同様にコンパレータ18の出
力端子をスイッチ23,24の各ゲートに接続して、過
電流検出時にこれらのスイッチ23,24をオフし、過
電流を遮断する。なお、受動抵抗16,21は同一の成
分によって製造されており、同一の温度特性を有するも
のである。
項6記載の発明の実施形態に相当する。この実施形態
も、図6、図7と同様にPチャンネルMOSFETスイ
ッチ24を用いて比例電流I2を取り出しており、電流
監視回路部分では図5と同様に電流比較回路22により
比例電流I2と基準電流Irefとを直接比較している。ま
た、過電流検出信号出力端子11をスイッチ23,24
の各ゲートに接続して、過電流検出時にこれらのスイッ
チ23,24をオフし、過電流を遮断する。
項7記載の発明の実施形態に相当する。この実施形態
は、図6における電流監視回路部分のコンパレータ18
を第2の演算増幅器25(差動増幅手段としての演算増
幅器14を第1の演算増幅器とする)に置き換え、過負
荷時に電源供給線200の電流I1を過電流検出のしき
い値Ioverに抑制するように電流制限動作させるもので
ある。なお、26は演算増幅器25の出力端子と過電流
検出信号出力端子11との間に接続された出力バッファ
である。
算増幅器25のフィードバック動作によりPチャンネル
MOSFETスイッチ23,24のゲート電圧が上昇
し、これらのスイッチ23,24は線形領域動作から飽
和領域動作に移る。このため、ドレイン−ソース電圧が
上昇しても電源供給線200に一定電流Ioverを流すよ
うになる。従って、過負荷時に電流制限動作が実行され
る。この動作は、従来技術で取り上げた垂下型過電流保
護回路の動作と同様である。本実施形態における出力バ
ッファ26は、演算増幅器25の出力レベルが電源電圧
まで振れないようにするためのものである。
求項8記載の発明の実施形態に相当する。この実施形態
では、図7の電流監視回路部分のコンパレータ18を第
2の演算増幅器25に置き換えることにより、図9と同
様な電流制限動作をする。また、図9と同様に過電流検
出信号を出力バッファ26を介して出力させている。図
9の実施形態と異なるのは、演算増幅器25の基準電圧
Vrefを、基準電流Irefと受動抵抗21とにより作り出
している点である。
請求項9記載の発明の実施形態に相当する。この実施形
態では、図8における電流比較回路22を、ノートンア
ンプ27を用いた電流比較回路28に置き換えることで
図9と同様な電流制限動作をする。また、図9と同様に
過電流検出信号を出力バッファ26を介して出力させて
いる。
00に挿入したPチャンネルMOSFETスイッチ23
のオン抵抗成分に着目してこれを過電流検出に利用して
いる。また、PチャンネルMOSFETスイッチ23,
24が過電流によって破壊しないように、過電流検出回
路の出力信号により各スイッチ23,24を強制的に遮
断する保護機能を持った過電流保護回路を構成してい
る。電源の供給、遮断を行なうため、電源供給線200
に低オン抵抗のトランジスタスイッチを挿入する場合
は、図6〜図11のような回路にすることで電源の供
給、遮断のためのスイッチング機能とスイッチの保護機
能とを併せ持つことができる。電源の供給、遮断を行な
うスイッチでの電圧降下のロスは、トランジスタのオン
抵抗で決まるから、オン抵抗が極めて小さいトランジス
タを選ぶことにより、電圧降下のロスを低減することが
できる。
さい抵抗値を持つ受動抵抗やMOSFETスイッチを用
いた場合にも、高精度かつ高感度に過電流を検出するこ
とができる。また、レギュレータや電源供給線の過電流
検出に用いる抵抗での電圧降下による電力損失を低減す
ることができる。更に、電源供給線に挿入されたMOS
FETスイッチを過電流検出信号を用いてオフすること
により、過電流を確実に遮断してスイッチ等の素子を保
護することができる。
路構成図である。
る。
Claims (9)
- 【請求項1】 過電流検出対象である電流の経路の入力
端子と出力端子との間に接続された第1の抵抗素子と、 前記入力端子に一端が接続された第2の抵抗素子と、 第1の抵抗素子の前記出力端子側が一方の入力端子に接
続され、かつ、第2の抵抗素子の他端が他方の入力端子
に接続された差動増幅手段と、 この差動増幅手段の出力信号が加えられ、かつ、第2の
抵抗素子に直列接続されて第1の抵抗素子を流れる電流
に比例する大きさの比例電流を出力させる比例電流出力
手段と、 この比例電流出力手段から出力される比例電流を監視し
て第1の抵抗素子を流れる電流の過電流状態を検出する
電流監視手段と、 を備えたことを特徴とする過電流検出回路。 - 【請求項2】 請求項1記載の過電流検出回路におい
て、 第1、第2の抵抗素子が第1、第2の受動抵抗であり、 前記差動増幅手段が演算増幅器であり、 前記比例電流出力手段が、前記演算増幅器の出力信号が
制御端子に加えられるトランジスタであり、 前記電流監視手段が、比例電流を第3の受動抵抗により
変換して得た検出電圧と基準電圧との比較結果に応じて
過電流検出信号を出力するコンパレータを有することを
特徴とする過電流検出回路。 - 【請求項3】 請求項2記載の過電流検出回路におい
て、 前記基準電圧を、第3の受動抵抗と同一成分により製造
された第4の受動抵抗と基準電流とにより発生させるこ
とを特徴とする過電流検出回路。 - 【請求項4】 請求項1記載の過電流検出回路におい
て、 第1、第2の抵抗素子が第1、第2の受動抵抗であり、 前記差動増幅手段が演算増幅器であり、 前記比例電流出力手段が、前記演算増幅器の出力信号が
制御端子に加えられるトランジスタであり、 前記電流監視手段が、比例電流と基準電流との比較結果
に応じて過電流検出信号を出力する電流比較回路である
ことを特徴とする過電流検出回路。 - 【請求項5】 請求項1記載の過電流検出回路におい
て、 第1、第2の抵抗素子が第1、第2のMOSFETスイ
ッチであり、 前記差動増幅手段が演算増幅器であり、 前記比例電流出力手段が、前記演算増幅器の出力信号が
制御端子に加えられるトランジスタであり、 前記電流監視手段が、比例電流を受動抵抗により変換し
て得た検出電圧と基準電圧との比較結果に応じて過電流
検出信号を出力するコンパレータを有し、前記過電流検
出信号により第1、第2のMOSFETスイッチをオフ
させることを特徴とする過電流検出回路。 - 【請求項6】 請求項1記載の過電流検出回路におい
て、 第1、第2の抵抗素子が第1、第2のMOSFETスイ
ッチであり、 前記差動増幅手段が演算増幅器であり、 前記比例電流出力手段が、前記演算増幅器の出力信号が
制御端子に加えられるトランジスタであり、 前記電流監視手段が、比例電流と基準電流との比較結果
に応じて過電流検出信号を出力する電流比較回路であ
り、前記過電流検出信号により第1、第2のMOSFE
Tスイッチをオフさせることを特徴とする過電流検出回
路。 - 【請求項7】 請求項1記載の過電流検出回路におい
て、 第1、第2の抵抗素子が第1、第2のMOSFETスイ
ッチであり、 前記差動増幅手段が第1の演算増幅器であり、 前記比例電流出力手段が、前記演算増幅器の出力信号が
制御端子に加えられるトランジスタであり、 前記電流監視手段が、比例電流を受動抵抗により変換し
て得た検出電圧と基準電圧とを入力として過電流検出信
号を出力すると共に、第1のMOSFETスイッチを流
れる電流を一定値に制限するように動作する第2の演算
増幅器を有することを特徴とする過電流検出回路。 - 【請求項8】 請求項5または7記載の過電流検出回路
において、 前記基準電圧を、検出電圧を得るための受動抵抗と同一
成分により製造された別の受動抵抗と基準電流とにより
発生させることを特徴とする過電流検出回路。 - 【請求項9】 請求項1記載の過電流検出回路におい
て、 第1、第2の抵抗素子が第1、第2のMOSFETスイ
ッチであり、 前記差動増幅手段が演算増幅器であり、 前記比例電流出力手段が、前記演算増幅器の出力信号が
制御端子に加えられるトランジスタであり、 前記電流監視手段が、比例電流と基準電流とを入力とし
て過電流検出信号を出力すると共に、第1のMOSFE
Tスイッチを流れる電流を一定値に制限するように動作
する電流差動増幅器を有することを特徴とする過電流検
出回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP09169973A JP3101998B2 (ja) | 1997-06-26 | 1997-06-26 | 過電流検出回路 |
US09/090,259 US5892647A (en) | 1997-06-26 | 1998-06-04 | Overcurrent detection circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP09169973A JP3101998B2 (ja) | 1997-06-26 | 1997-06-26 | 過電流検出回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1118277A true JPH1118277A (ja) | 1999-01-22 |
JP3101998B2 JP3101998B2 (ja) | 2000-10-23 |
Family
ID=15896247
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP09169973A Expired - Lifetime JP3101998B2 (ja) | 1997-06-26 | 1997-06-26 | 過電流検出回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5892647A (ja) |
JP (1) | JP3101998B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009071963A (ja) * | 2007-09-12 | 2009-04-02 | Rohm Co Ltd | 充電制御回路およびそれを利用した電子機器 |
US8362748B2 (en) | 2007-09-12 | 2013-01-29 | Rohm Co., Ltd. | Voltage comparison circuit |
KR101332941B1 (ko) * | 2012-07-01 | 2013-12-02 | 박근철 | 변류기와 mosfet를 이용한 대기전력차단기의 전류 검출 방법 |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6570748B2 (en) | 2000-07-13 | 2003-05-27 | Sipex Corporation | Method and apparatus for indicating an over-current condition |
JP2002182757A (ja) * | 2000-12-19 | 2002-06-26 | Tokai Rika Co Ltd | 入力異常検出機能を有する入力回路及び制御装置 |
CN100521437C (zh) * | 2002-04-24 | 2009-07-29 | 三洋电机株式会社 | 装有过流保护电路的混合集成电路装置 |
JP3739361B2 (ja) * | 2003-02-26 | 2006-01-25 | ローム株式会社 | 半導体集積回路装置 |
AU2003219535A1 (en) * | 2003-03-14 | 2004-09-30 | Magnetek S.P.A. | Electronic circuit breaker |
US6956727B1 (en) * | 2004-01-21 | 2005-10-18 | Analog Devices, Inc. | High side current monitor with extended voltage range |
US20050275371A1 (en) * | 2004-06-15 | 2005-12-15 | Bersiek Shamel A | Current monitor |
FR2874138A1 (fr) * | 2004-08-06 | 2006-02-10 | St Microelectronics Sa | Regulation d'une alimentation a decoupage |
TW200727561A (en) * | 2006-01-03 | 2007-07-16 | Wistron Corp | Power-switching circuit with overload protection from a serial bus interface and method of driving the same |
JP5581907B2 (ja) | 2010-09-01 | 2014-09-03 | 株式会社リコー | 半導体集積回路及び半導体集積回路装置 |
KR101725551B1 (ko) | 2011-01-14 | 2017-04-11 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 백라이트 구동회로 및 이를 적용한 디스플레이 장치 |
TWI486602B (zh) | 2013-10-08 | 2015-06-01 | Wistron Corp | 檢測用負載裝置 |
US9411349B2 (en) * | 2013-11-14 | 2016-08-09 | Litelfuse, Inc. | Overcurrent detection of load circuits with temperature compensation |
CN113037508B (zh) * | 2019-12-24 | 2022-10-25 | 华为技术有限公司 | 一种下电控制电路以及下电控制方法 |
US12003090B2 (en) * | 2020-09-03 | 2024-06-04 | Cypress Semiconductor Corporation | Current controlled architecture for a Vconn switch |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04295222A (ja) * | 1991-03-22 | 1992-10-20 | Nec Corp | 安定化電源回路 |
US5233287A (en) * | 1992-05-05 | 1993-08-03 | Space Systems/Loral | Current limiting bilateral converter having a ground referenced current sensor |
JPH0674981A (ja) * | 1992-08-28 | 1994-03-18 | Taiyo Yuden Co Ltd | 電流値検出回路及び過電流遮断回路 |
-
1997
- 1997-06-26 JP JP09169973A patent/JP3101998B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-06-04 US US09/090,259 patent/US5892647A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009071963A (ja) * | 2007-09-12 | 2009-04-02 | Rohm Co Ltd | 充電制御回路およびそれを利用した電子機器 |
US8362748B2 (en) | 2007-09-12 | 2013-01-29 | Rohm Co., Ltd. | Voltage comparison circuit |
KR101332941B1 (ko) * | 2012-07-01 | 2013-12-02 | 박근철 | 변류기와 mosfet를 이용한 대기전력차단기의 전류 검출 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5892647A (en) | 1999-04-06 |
JP3101998B2 (ja) | 2000-10-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH1118277A (ja) | 過電流検出回路 | |
US6407537B2 (en) | Voltage regulator provided with a current limiter | |
US5159516A (en) | Overcurrent-detection circuit | |
EP0688077B1 (en) | Power delivery circuit with current sensing | |
KR100608112B1 (ko) | 과전류 보호회로를 구비한 전원 레귤레이터 및 전원레귤레이터의 과전류 보호방법 | |
US6794856B2 (en) | Processor based integrated circuit with a supply voltage monitor using bandgap device without feedback | |
US7075373B2 (en) | Overcurrent protection circuit with fast current limiting control | |
US6917187B2 (en) | Stabilized DC power supply device | |
US20070171590A1 (en) | Overcurrent detection circuit | |
US20070229041A1 (en) | Excess Current Detecting Circuit and Power Supply Device Provided with it | |
US20090195953A1 (en) | Power IC with an over-current protection circuit and method thereof | |
JP4010893B2 (ja) | 電流制限機能付き安定化電源装置 | |
US20060103992A1 (en) | Voltage regulator | |
US6735064B2 (en) | Inrush current suppressing device | |
KR20070051319A (ko) | 회로의 보호 방법, 보호 회로 및 그것을 이용한 전원 장치 | |
JP4012472B2 (ja) | 電界効果トランジスタ内の電流を並列検知する回路 | |
US20060028264A1 (en) | Method and apparatus to remotely sense the temperature of a power semiconductor | |
EP0224491A1 (en) | Method and circuit for providing adjustable control of short circuit current through a semiconductor device | |
US6870351B2 (en) | Voltage regulator circuit and integrated circuit device including the same | |
JP2000252804A (ja) | 過電流検出回路及びこれを内蔵した半導体集積回路 | |
JP2735394B2 (ja) | 温度補償された過負荷トリップレベル半導体リレー | |
US20200202701A1 (en) | Two-wire transmitter | |
US7612550B2 (en) | Dropper type regulator | |
KR20060121970A (ko) | 전원 공급 장치 | |
US20060152875A1 (en) | Overcurrent protection device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20000724 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070825 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080825 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080825 Year of fee payment: 8 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080825 Year of fee payment: 8 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080825 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090825 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090825 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100825 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100825 Year of fee payment: 10 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100825 Year of fee payment: 10 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110825 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110825 Year of fee payment: 11 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110825 Year of fee payment: 11 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110825 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120825 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120825 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130825 Year of fee payment: 13 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |