JPH11179542A - 溶接機におけるデータサンプリング方法 - Google Patents

溶接機におけるデータサンプリング方法

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JPH11179542A
JPH11179542A JP36599697A JP36599697A JPH11179542A JP H11179542 A JPH11179542 A JP H11179542A JP 36599697 A JP36599697 A JP 36599697A JP 36599697 A JP36599697 A JP 36599697A JP H11179542 A JPH11179542 A JP H11179542A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 溶接トーチ実際位置が測定不能なパルス指令
方式のサーボ制御を用いた場合でも、溶接トーチ実際位
置に同期したデータのサンプリングが可能な、溶接機に
おけるデータサンプリング方法を可能にする。 【解決手段】 コントローラ1からは指令軌跡の変化分
に対応する指令パルスがサーボアンプ2に与えられる。
サーボアンプ2は、この指令に応じてサーボモータ5を
駆動する。一方、指令パルスは指令値カウンタ7にも与
えられ、指令値が計算される。指令値カウンタ7の内容
は指令軌跡に対応している。実位置演算手段8は、指令
値カウンタ7の内容を基に、溶接トーチの実際位置を計
算する。計算された溶接トーチの位置はデータサンプリ
ング手段9に与えられる。データサンプリング手段9
は、与えられた溶接トーチ位置に同期して、従来技術と
同様の方法により、溶接電流、溶接電圧等のサンプリン
グを行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、溶接機におけるデ
ータサンプリング方法に関するものであり、特に、パル
ス指令方式のサーボ制御を用い、溶接の進行方向に対し
て左右に溶接トーチをウィービングさせて行う溶接方法
において、溶接トーチのウィービング位置に同期させて
溶接データをサンプリングする方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】パイプの円周方向のシームを自動で溶接
する溶接機の構成の例を図2に示す。図2において、パ
ーソナルコンピュータ21は、自動溶接のためのCAD
データを作成するためのものであり、作成されたデータ
はフレキシブルディスク21aに記録される。制御装置
22は、自動溶接の実質的な制御(電源及びトーチ位置
等の制御)を行うためのものであり、フレキシブルディ
スク21aからCADデータを読み込む。そして、制御
装置22は、この読み込んだデータを用いて実際の溶接
条件を設定し、設定された条件に対応して、ロジックテ
ーブルに予め記録されたデータにより各種溶接パラメー
タを設定する。
【0003】さらに、この制御装置22では、設定され
た溶接パラメータを実際の溶接の制御に用いるNC言語
に変換し、変換した言語を制御データとして制御テーブ
ルの形で内部のメモリに記録する。そのメモリに記録さ
れた制御データを用いて、電源装置23、及び溶接ヘッ
ド24を駆動制御すると共に、パルス電圧波形及びパル
ス電流波形の計測・解析値を用いてアーク倣い関連補正
を行う構成となっている。なお、制御装置22の主な制
御項目は、溶接ヘッド24の溶接の電圧、電流、及び溶
接ヘッド24に搭載された溶接トーチ27の、パイプ開
先30に対するウィービング、溶接ヘッド24の移動速
度等である。
【0004】溶接ヘッド24は、電源装置23と送電ケ
ーブル28で接続され、パイプ外周に巻き付けられたガ
イドレール29上に、円周方向に移動可能に装着され
る。溶接ヘッド24には、溶接トーチ27に対して溶接
ワイヤを供給するワイヤ供給部26が搭載されている。
【0005】図3に、制御装置22、電源装置23、溶
接ヘッド24、パイプ25間の電気的な接続関係を示
す。図から分かるように、電源装置23からは、送電ケ
ーブル28を介して、溶接ヘッド24のワイヤ31とパ
イプ25との間にパルス溶接電圧が印加されるようにな
っている。これにより、ワイヤ31とパイプ25表面と
の間にアークが発生する。ワイヤ31は一定速度で送ら
れ、アークにより溶かされて溶着金属となり、パイプ開
先30内で固まり、母材を構成する。
【0006】図4に、溶接ヘッド24の詳細図を示す。
溶接ヘッド24は、パイプ外周上の位置(時分で示す)
X軸、溶接トーチ27のウィービングの開先部幅方向
(パイプ軸方向)Y軸、及び溶接高さ方向(パイプ半径
方向)Z軸、及び溶接トーチ旋回軸の各軸についてサー
ボ機構を備え、これら4軸は制御装置22により制御さ
れている。ウィービングは2次元ウィービングである。
即ち、溶接トーチ27を溶接進行方向(X軸)に対して
直交するY軸方向及びZ軸方向に、開先部に沿って移動
させている。
【0007】溶接を自動で行うために、いろいろな自動
制御が行われている。その代表的なものを以下に示す。
【0008】<溶接速度制御>溶接ヘッド24のパイプ
円周方向(X軸方向)への進行速度が、プリセットされ
た値になるように制御を行う。具体的には、X軸方向駆
動モータの速度を、プリセット値に制御する。
【0009】<上下アーク倣い>上下アーク倣いは、指
令電流値と計測した電流値が一致するように、溶接トー
チ27の上下方向位置を補正するものである。電流値が
指令電流値よりも高くなったときは、溶接トーチ27が
低すぎてワイヤ突き出し長さが短くなっているものと判
断し、溶接トーチ27を上げる。逆に、電流値が指令電
流値よりも低くなったときは、溶接トーチ27が高すぎ
てワイヤ突き出し長さが長くなっているものと判断し、
溶接トーチ27を下げる。
【0010】<アーク電圧調整(アーク長補正)>アー
ク電圧調整は、溶接作業時の環境条件によるアーク電圧
の変動を吸収するために、アーク電圧を自動調整するも
のである。具体的には、アークショート時間率が設定さ
れた値となるように電圧指令を調整する。アークショー
トとは、溶接ワイヤと母材や溶融金属との間隔が短くな
りすぎて、両者の間に短絡(ショートが生じた状態のこ
とである。
【0011】<左右アーク倣い>左右アーク倣いは、溶
接トーチ27のウィービング中心が正確にパイプ開先3
0中心を通るようにするものであり、左右電流値が均等
になるように溶接トーチ27中心位置をずらす制御を行
うものである。ウィービングの中心がパイプ開先30中
心に対してずれると、左右端で開先壁との間隔が異な
り、これにより左右端での電流値が異なるようになる。
よって、この電流値の差を検出することにより、ウィー
ビングの中心のずれを検出することができる。従って、
左右端での電流値の差を無くすようにウィービングの中
心位置を調整する。
【0012】これらの制御、特に左右アーク倣い制御を
行うための溶接機データ(溶接電流、溶接電圧、アーク
ショート時間、アークショート率等)のサンプリング
は、溶接トーチの位置に同期して行っている。その例を
図5に示す。
【0013】図5において、横軸は時間、縦軸はY軸、
即ち開先幅方向の位置である。実線は溶接トーチ位置の
指令値の軌跡である指令軌跡、破線は実際の溶接トーチ
位置の軌跡であるサーボ軌跡である。図5の例では、ウ
ィービング幅(Y軸方向の移動範囲)を、右端、右、中
心、左、左端の5区間に分けて、各区間毎に各種データ
のサンプリングを行っている。
【0014】図5にも示されているように、溶接トーチ
の移動指令に対するサーボ機構の応答の遅延に起因し
て、サーボ軌跡は指令軌跡に遅れて追従すると共に、振
幅も指令軌跡より小さくなっている。よって、溶接トー
チの実際位置が計測可能であるサーボ系においては、溶
接トーチの実際位置を計測し、それを基準にして溶接ト
ーチが前記区間のどこにあるかを判断し、データのサン
プリングを行っている。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、パルス
指令方式のサーボ制御機構においては、溶接トーチの実
際位置の計測を行っていない。パルス指令方式のサーボ
制御機構の制御ブロック図の例を図6に示す。コントロ
ーラ41からは指令軌跡の変化分に対応する指令パルス
がサーボアンプ42に与えられる。サーボアンプ42は
カウンタ43を有しておりこのパルスを計数する。カウ
ンタ43の値がD/A変換器44によりアナログ値とさ
れてサーボモータ45に与えられる。
【0016】サーボモータ45の動きはパルス発信器4
6により検出され、そのパルスはフィードバックパルス
としてカウンタ43に入力される。指令パルスとフィー
ドバックパルスのカウント方向は逆になっているので、
指令パルスの数とフィードバックパルスの数が一致した
時点、即ち指令パルス分だけサーボモータ45が回転し
た時点でカウンタ43の値がゼロとなってサーボモータ
45が停止する。
【0017】このようなサーボ制御系においては、サー
ボモータの回転量の絶対値、即ち溶接トーチのウィービ
ング量の実際値を検出することができない。よって、前
記のように、溶接トーチの実際の位置に同期してデータ
のサンプリングを行うことができないという問題点があ
る。指令軌跡はコントローラ41で把握することが可能
であるので、指令軌跡に同期させてデータのサンプリン
グを行うことも考えられるが、図6に示すように、指令
軌跡とサーボ軌跡は一致していないので、サンプリング
の誤差が発生することは避けられない。
【0018】本発明はこのような問題点を解決するため
になされたもので、溶接トーチ実際位置が測定不能なパ
ルス指令方式のサーボ制御を用いた場合でも、溶接トー
チ実際位置に同期したデータのサンプリングが可能な、
溶接機におけるデータサンプリング方法を可能にするこ
とを課題とする。
【0019】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
の第1の手段は、パルス指令方式のサーボ制御を用い、
溶接の進行方向に対して左右に溶接トーチをウィービン
グさせて行う溶接方法において、溶接トーチのウィービ
ング位置に同期させて溶接データをサンプリングするに
際し、溶接トーチの位置指令値から溶接トーチ実際位置
を予測し、予測された溶接トーチ実際位置に基づいてデ
ータサンプリングのタイミングを決定することを特徴と
する溶接機におけるデータサンプリング方法(請求項
1)である。
【0020】本手段においては、溶接トーチの位置指令
値から溶接トーチの実際位置を予測する。即ち、位置指
令値の変化に対する溶接トーチ実際位置の追随性を、解
析的又は実験的に求め、例えば伝達関数の形で両者の関
係付けを行う。そして、実際の位置指令値(指令軌跡)
に対して伝達関数演算を行う等により、溶接トーチの実
際の位置の時間的変化(サーボ軌跡)を計算して予測す
る。そして、予測された溶接トーチ実際位置に基づいて
データサンプリングのタイミングを決定するので、溶接
トーチの実際位置検出ができなくても、溶接トーチの実
際位置に同期したデータサンプリングができる。
【0021】前記課題を解決するための第2の手段は、
前記第1の手段であって、溶接トーチの位置指令に対す
る溶接トーチ実際位置の応答遅れが一次遅れであるとし
て、溶接トーチ実際位置を予測することを特徴とするも
の(請求項2)である。
【0022】一般に、指令軌跡に対するサーボ軌跡の遅
れは、一次遅れで近似できる。よって、溶接トーチの位
置指令に対する溶接トーチ実際位置の応答遅れが一次遅
れであるとして溶接トーチ実際位置を予測すると、演算
が簡単になり、かつ正確に溶接トーチ実際位置を予測す
ることができる。
【0023】前記課題を解決するための第3の手段は、
前記第1の手段であって、溶接トーチの位置指令に対す
る溶接トーチ実際位置の応答遅れが一次遅れと無駄時間
であるとして、溶接トーチ実際位置を予測することを特
徴とするもの(請求項2)である。
【0024】指令軌跡に対するサーボ軌跡の応答遅れを
一次遅れと無駄時間が結合したものとして、これに基づ
いて溶接トーチ実際位置を予測すると、それほど演算を
複雑にすることなく、前記第2の手段に比べて、溶接ト
ーチ実際位置をより正確に予測することができる。
【0025】前記課題を解決するための第4の手段は、
前記第1の手段であって、溶接トーチの位置指令に対す
る溶接トーチ実際位置の応答遅れが二次遅れであるとし
て、溶接トーチ実際位置を予測することを特徴とするも
の(請求項4)である。
【0026】指令軌跡に対するサーボ軌跡の応答遅れを
二次遅れとして、これに基づいて溶接トーチ実際位置を
予測すると、それほど演算を複雑にすることなく、前記
第2の手段に比べて、溶接トーチ実際位置をより正確に
予測することができる。
【0027】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図を
用いて説明する。図1は、本発明の実施の形態の例を示
すブロック図である。図1において、1はコントロー
ラ、2はサーボアンプ、3はカウンタ、4はD/A変換
器、5はサーボモータ、6はパルス発信器、7は指令値
カウンタ、8は実位置演算手段、9はデータサンプリン
グ手段である。
【0028】コントローラ1からは指令軌跡の変化分に
対応する指令パルスがサーボアンプ2に与えられる。サ
ーボアンプ2はカウンタ3を有しており、カウンタ3の
値がD/A変換器4によりアナログ値とされてサーボモ
ータ5に与えられる(実際には、D/A変換器の後に速
度制御装置、電力増幅器が設置されているが、これらの
図示及び説明は省略する)。
【0029】サーボモータ5の動きはパルス発信器6に
より検出され、そのパルスはフィードバックパルスとし
てカウンタ3に入力される。指令パルスとフィードバッ
クパルスのカウント方向は逆になっているので、指令パ
ルスの数とフィードバックパルスの数が一致した時点、
即ち指令パルス分だけサーボモータ5が回転した時点で
カウンタ3の値がゼロとなってサーボモータ5が停止す
る。
【0030】一方、指令パルスは指令値カウンタ7にも
与えられ、指令値が計算される。指令値カウンタ7の内
容は指令軌跡に対応している。実位置演算手段8は、指
令値カウンタ7の内容を基に、溶接トーチの実際位置を
計算する。この実施の形態においては、実位置演算手段
8は一次遅れ要素からなり、溶接トーチがその位置指令
に対して一次遅れを持って追随しているものとして溶接
トーチの現在位置を予測している。
【0031】予測された溶接トーチの位置はデータサン
プリング手段9に与えられる。データサンプリング手段
9は、与えられた溶接トーチ位置に同期して、従来技術
と同様の方法により、溶接電流、溶接電圧等のサンプリ
ングを行う。このような方式とすることにより、溶接ト
ーチの現在位置を検出する手段がなくても、その位置を
予測し、それに同期したデータのサンプリングを行うこ
とができる。
【0032】本発明の別の実施の形態においては、実位
置演算手段8が一次遅れと無駄時間の結合した要素から
なっている他は前記実施の形態と同じである。この演算
は、入力を実位置演算手段8内の記憶手段中で一定時間
遅延させ、それを一次遅れ要素に入力することで簡単に
実現できる。この方法によれば、実位置演算手段を単な
る一次遅れとしたときよりも、高精度で溶接トーチの現
在位置を予測することができる。
【0033】本発明のさらに別の実施の形態において
は、実位置演算手段8が二次遅れ要素からなっている他
は前記実施の形態と同じである。二次遅れ要素も、マイ
クロコンピュータを使用することによって簡単に実現で
きる。この方法によっても、実位置演算手段を単なる一
次遅れとしたときよりも、高精度で溶接トーチの現在位
置を予測することができる。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように、本発明において
は、溶接トーチの位置指令値から溶接トーチ実際位置を
予測し、予測された溶接トーチ実際位置に基づいてデー
タサンプリングのタイミングを決定しているので、溶接
トーチ実際位置が測定不能なパルス指令方式のサーボ制
御を用いた場合でも、溶接トーチ実際位置に同期したデ
ータのサンプリングが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の例を示すブロック図であ
る。
【図2】自動溶接機の構成の例を示す図である。
【図3】自動溶接機の電気的な接続関係を示す図であ
る。
【図4】溶接ヘッドの詳細を示す図である。
【図5】溶接機データをサンプリングする区間を示す図
である。
【図6】パルス指令方式のサーボ制御機構の制御ブロッ
クの例を示す図である。
【符号の説明】
1 コントローラ 2 サーボアンプ 3 カウンタ 4 D/A変換器 5 サーボモータ 6 パルス発信器 7 指令値カウンタ 8 実位置演算手段 9 データサンプリング手段

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パルス指令方式のサーボ制御を用い、溶
    接の進行方向に対して左右に溶接トーチをウィービング
    させて行う溶接方法において、溶接トーチのウィービン
    グ位置に同期させて溶接データをサンプリングするに際
    し、溶接トーチの位置指令値から溶接トーチ実際位置を
    予測し、予測された溶接トーチ実際位置に基づいてデー
    タサンプリングのタイミングを決定することを特徴とす
    る溶接機におけるデータサンプリング方法。
  2. 【請求項2】 溶接トーチの位置指令に対する溶接トー
    チ実際位置の応答遅れが一次遅れであるとして、溶接ト
    ーチ実際位置を予測することを特徴とする請求項1に記
    載の溶接機におけるデータサンプリング方法。
  3. 【請求項3】 溶接トーチの位置指令に対する溶接トー
    チ実際位置の応答遅れが一次遅れと無駄時間であるとし
    て、溶接トーチ実際位置を予測することを特徴とする請
    求項1に記載の溶接機におけるデータサンプリング方
    法。
  4. 【請求項4】 溶接トーチの位置指令に対する溶接トー
    チ実際位置の応答遅れが二次遅れであるとして、溶接ト
    ーチ実際位置を予測することを特徴とする請求項1に記
    載の溶接機におけるデータサンプリング方法。
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