JPH11176725A - 投影露光装置 - Google Patents
投影露光装置Info
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- JPH11176725A JPH11176725A JP9337523A JP33752397A JPH11176725A JP H11176725 A JPH11176725 A JP H11176725A JP 9337523 A JP9337523 A JP 9337523A JP 33752397 A JP33752397 A JP 33752397A JP H11176725 A JPH11176725 A JP H11176725A
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- vibration
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70858—Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
- G03F7/709—Vibration, e.g. vibration detection, compensation, suppression or isolation
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- Public Health (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 フィードバック制御の精度をさらに良好にす
ることができる投影露光装置を提供する。 【解決手段】 ステージを制御する移動信号に基づき、
第1ステージ及び第2ステージが搭載された露光装置本
体40の変動に対するカウンターフォースを演算し、ア
クチュエータ7,32の駆動を制御する駆動制御手段に
フィードフォワード入力するのに対して、露光装置本体
40の位置を検出する位置検出手段5の検出結果に基づ
いて、露光装置本体40の振動を割り出し、駆動制御手
段11に与えるアクチュエータ駆動用フィードバック信
号を演算する振動制御用演算手段54を備える。
ることができる投影露光装置を提供する。 【解決手段】 ステージを制御する移動信号に基づき、
第1ステージ及び第2ステージが搭載された露光装置本
体40の変動に対するカウンターフォースを演算し、ア
クチュエータ7,32の駆動を制御する駆動制御手段に
フィードフォワード入力するのに対して、露光装置本体
40の位置を検出する位置検出手段5の検出結果に基づ
いて、露光装置本体40の振動を割り出し、駆動制御手
段11に与えるアクチュエータ駆動用フィードバック信
号を演算する振動制御用演算手段54を備える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、投影露光装置に係
り、更に詳しくは、露光装置本体の振動制御方式とし
て、振動センサの出力に基づいてアクチュエータを駆動
することにより露光装置本体の振動制御を行なういわゆ
るアクティブ除振方式を採用する投影露光装置に関す
る。
り、更に詳しくは、露光装置本体の振動制御方式とし
て、振動センサの出力に基づいてアクチュエータを駆動
することにより露光装置本体の振動制御を行なういわゆ
るアクティブ除振方式を採用する投影露光装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来より、ステップ・アンド・リピート
方式の縮小投影型露光装置、即ちいわゆるステッパー等
の精密機器では、除振台の振動をセンサで検出し、この
センサの出力に基づいてアクチュエータを駆動すること
により振動制御を行うアクティブ除振装置が用いられて
いる。
方式の縮小投影型露光装置、即ちいわゆるステッパー等
の精密機器では、除振台の振動をセンサで検出し、この
センサの出力に基づいてアクチュエータを駆動すること
により振動制御を行うアクティブ除振装置が用いられて
いる。
【0003】ところで、ステッパー等では、大きな加減
速を行うXYステージ(ウエハステージ)が除振パッド
に保持された定盤上に搭載されており、XYステージが
移動する際、その加減速に伴う反力により露光装置本体
に加振力が働く。アクティブ除振装置ではステージ加減
速に伴う反力と同じ大きさで、逆向きの力(カウンター
フォース)をフィードフォワードで入力している。かか
るカウンターフォースのフィードフォワードを行う光リ
ソグラフィ装置(投影露光装置)が、例えば特開平5−
121294号公報に開示されている。この特開平5−
121294号公報に開示されている光リソグラフィ装
置では、フィードフォワードで3つのアクチュエータに
力を与え、光リソグラフィ装置本体の振動を抑制してい
る。また、この光リソグラフィ装置では、フィードフォ
ワードでアクチュエータに力を与えても抑えきれなかっ
た振動を、アクチュエータに対向する位置に配置された
3つの加速度センサより得て3つのアクチュエータにフ
ィードバックしている。
速を行うXYステージ(ウエハステージ)が除振パッド
に保持された定盤上に搭載されており、XYステージが
移動する際、その加減速に伴う反力により露光装置本体
に加振力が働く。アクティブ除振装置ではステージ加減
速に伴う反力と同じ大きさで、逆向きの力(カウンター
フォース)をフィードフォワードで入力している。かか
るカウンターフォースのフィードフォワードを行う光リ
ソグラフィ装置(投影露光装置)が、例えば特開平5−
121294号公報に開示されている。この特開平5−
121294号公報に開示されている光リソグラフィ装
置では、フィードフォワードで3つのアクチュエータに
力を与え、光リソグラフィ装置本体の振動を抑制してい
る。また、この光リソグラフィ装置では、フィードフォ
ワードでアクチュエータに力を与えても抑えきれなかっ
た振動を、アクチュエータに対向する位置に配置された
3つの加速度センサより得て3つのアクチュエータにフ
ィードバックしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記特開平5−121
294号公報は、フィードフォワードでアクチュエータ
に力を与えても抑えきれなかった振動を加速度センサよ
り得てアクチュエータにフィードバックするものである
が、このようなものに対し、フィードバック制御の精度
をさらに良好にすることが望まれている。
294号公報は、フィードフォワードでアクチュエータ
に力を与えても抑えきれなかった振動を加速度センサよ
り得てアクチュエータにフィードバックするものである
が、このようなものに対し、フィードバック制御の精度
をさらに良好にすることが望まれている。
【0005】本発明は、かかる事情の下になされたもの
で、フィードバック制御の精度をさらに良好にすること
ができる投影露光装置を提供することにある。
で、フィードバック制御の精度をさらに良好にすること
ができる投影露光装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、第1ステージに載置されたマスクのパタ
ーンを投影光学系を介して第2ステージに載置された基
板上に転写する投影露光装置であって、前記第1ステー
ジ及び前記第2ステージの内の少なくとも一方に対する
移動信号を出力するステージ移動信号出力手段と;前記
移動信号に基づき、前記ステージを制御するステージ制
御手段と;前記第1ステージ及び前記第2ステージが搭
載された露光装置本体の位置を検出する位置検出手段
と;前記露光装置本体に設けられた少なくとも1つのア
クチュエータと;前記露光装置本体の振動を抑制するよ
うに前記アクチュエータの駆動を制御する駆動制御手段
と;前記移動信号に基づき、前記露光装置本体の変動に
対するカウンターフォースを演算し、前記駆動制御手段
にフィードフォワード入力するカウンターフォース演算
手段と;前記位置検出手段の検出結果に基づいて、前記
露光装置本体の振動を割り出し、前記駆動制御手段に与
えるアクチュエータ駆動用フィードバック信号を演算す
る振動制御用演算手段とを有することを特徴とする。
め、本発明は、第1ステージに載置されたマスクのパタ
ーンを投影光学系を介して第2ステージに載置された基
板上に転写する投影露光装置であって、前記第1ステー
ジ及び前記第2ステージの内の少なくとも一方に対する
移動信号を出力するステージ移動信号出力手段と;前記
移動信号に基づき、前記ステージを制御するステージ制
御手段と;前記第1ステージ及び前記第2ステージが搭
載された露光装置本体の位置を検出する位置検出手段
と;前記露光装置本体に設けられた少なくとも1つのア
クチュエータと;前記露光装置本体の振動を抑制するよ
うに前記アクチュエータの駆動を制御する駆動制御手段
と;前記移動信号に基づき、前記露光装置本体の変動に
対するカウンターフォースを演算し、前記駆動制御手段
にフィードフォワード入力するカウンターフォース演算
手段と;前記位置検出手段の検出結果に基づいて、前記
露光装置本体の振動を割り出し、前記駆動制御手段に与
えるアクチュエータ駆動用フィードバック信号を演算す
る振動制御用演算手段とを有することを特徴とする。
【0007】これによれば、ステージ移動信号出力手段
から第1ステージ及び第2ステージの内の少なくとも一
方に対する移動信号が出力されると、この移動信号に基
づいてステージ制御手段により対応するステージが制御
される。このとき、カウンターフォース演算手段によ
り、移動信号に基づいて露光装置本体の変動に対するカ
ウンターフォースの指令値が演算され、駆動制御手段に
フィードフォワード入力される。このため、上記のステ
ージ制御手段による制御に基づきステージが移動する際
に、露光装置本体に生じる振動は、大部分、カウンター
フォースの指令値に基づいて駆動制御手段によりその駆
動が制御されたアクチュエータが発するカウンターフォ
ースにより抑制される。一方、このカウンターフォース
により抑制し切れなかった露光装置本体の振動(残留振
動)が、第1ステージ及び第2ステージが搭載された露
光装置本体の位置を検出する位置検出手段の検出結果に
基づいて割り出される。そして、振動制御用演算手段で
は、位置検出手段の検出結果に基づいて、駆動制御手段
に与えるアクチュエータ駆動用フィードバック信号を演
算する。これにより、駆動制御手段によりアクチュエー
タ駆動用フィードバック信号に基づいてアクチュエータ
が駆動され、残留振動が除振される。
から第1ステージ及び第2ステージの内の少なくとも一
方に対する移動信号が出力されると、この移動信号に基
づいてステージ制御手段により対応するステージが制御
される。このとき、カウンターフォース演算手段によ
り、移動信号に基づいて露光装置本体の変動に対するカ
ウンターフォースの指令値が演算され、駆動制御手段に
フィードフォワード入力される。このため、上記のステ
ージ制御手段による制御に基づきステージが移動する際
に、露光装置本体に生じる振動は、大部分、カウンター
フォースの指令値に基づいて駆動制御手段によりその駆
動が制御されたアクチュエータが発するカウンターフォ
ースにより抑制される。一方、このカウンターフォース
により抑制し切れなかった露光装置本体の振動(残留振
動)が、第1ステージ及び第2ステージが搭載された露
光装置本体の位置を検出する位置検出手段の検出結果に
基づいて割り出される。そして、振動制御用演算手段で
は、位置検出手段の検出結果に基づいて、駆動制御手段
に与えるアクチュエータ駆動用フィードバック信号を演
算する。これにより、駆動制御手段によりアクチュエー
タ駆動用フィードバック信号に基づいてアクチュエータ
が駆動され、残留振動が除振される。
【0008】このように、本発明によれば、位置検出手
段の検出結果に基づいて、各アクチュエータ駆動用のフ
ィードバック信号を与えるようにしたので、露光装置本
体の残留振動を抑制することができ、高精度な露光が可
能となり、これはスループットの向上につながる。しか
も、フィードバック制御用に第1ステージ及び第2ステ
ージが搭載された露光装置本体の位置を検出する位置検
出手段の検出結果を用いているため、加速度を積分した
値を用いる場合に比して、フィードバック制御の精度を
さらに良好にすることができる。
段の検出結果に基づいて、各アクチュエータ駆動用のフ
ィードバック信号を与えるようにしたので、露光装置本
体の残留振動を抑制することができ、高精度な露光が可
能となり、これはスループットの向上につながる。しか
も、フィードバック制御用に第1ステージ及び第2ステ
ージが搭載された露光装置本体の位置を検出する位置検
出手段の検出結果を用いているため、加速度を積分した
値を用いる場合に比して、フィードバック制御の精度を
さらに良好にすることができる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態につい
て、図1ないし図3に基づいて説明する。
て、図1ないし図3に基づいて説明する。
【0010】図1には、一実施形態に係るステップ・ア
ンド・スキャン型の投影露光装置100の概略斜視図が
示されている。この図1において、設置面としての床上
に長方形板状の台座2が設置され、この台座2上に除振
パッド4A〜4D(但し、図1における紙面奥側の除振
パッド4Dは図示せず)が設置され、これらの除振パッ
ド4A〜4D上に長方形状の定盤6が設置されている。
ここで、後述するように、本実施形態では投影光学系P
Lが使用されているため、投影光学系PLの光軸に平行
にZ軸を取り、Z軸に直交する平面内で定盤6の長手方
向にY軸を、これに直交する方向にX軸を取る。また、
それぞれの軸回りの回転方向をZθ、Yθ、Xθ方向と
定める。なお、以下の説明において、必要に応じ、図1
中のX、Y、Z軸を示す各矢印の示す方向を+X、+
Y、+Z方向、これと反対の方向を−X、−Y、−Z方
向と区別して用いるものとする。
ンド・スキャン型の投影露光装置100の概略斜視図が
示されている。この図1において、設置面としての床上
に長方形板状の台座2が設置され、この台座2上に除振
パッド4A〜4D(但し、図1における紙面奥側の除振
パッド4Dは図示せず)が設置され、これらの除振パッ
ド4A〜4D上に長方形状の定盤6が設置されている。
ここで、後述するように、本実施形態では投影光学系P
Lが使用されているため、投影光学系PLの光軸に平行
にZ軸を取り、Z軸に直交する平面内で定盤6の長手方
向にY軸を、これに直交する方向にX軸を取る。また、
それぞれの軸回りの回転方向をZθ、Yθ、Xθ方向と
定める。なお、以下の説明において、必要に応じ、図1
中のX、Y、Z軸を示す各矢印の示す方向を+X、+
Y、+Z方向、これと反対の方向を−X、−Y、−Z方
向と区別して用いるものとする。
【0011】除振パッド4A〜4Dは、それぞれ定盤6
の長方形の底面の4つのコーナー付近に配置されてい
る。本実施形態では、除振パッド4A〜4Dとして空気
式ダンパが使用され、空気の圧力により除振パッド4A
〜4Dの高さを調整できるため、その空気式ダンパは上
下動機構の役目をも兼ねている。勿論、上下動機構を別
に設けてダンピング液中に圧縮コイルばねを入れた機械
式ダンパ等を除振パッドとして使用してもよい。
の長方形の底面の4つのコーナー付近に配置されてい
る。本実施形態では、除振パッド4A〜4Dとして空気
式ダンパが使用され、空気の圧力により除振パッド4A
〜4Dの高さを調整できるため、その空気式ダンパは上
下動機構の役目をも兼ねている。勿論、上下動機構を別
に設けてダンピング液中に圧縮コイルばねを入れた機械
式ダンパ等を除振パッドとして使用してもよい。
【0012】台座2と定盤6との間に除振パッド4Aと
並列にアクチュエータ7Aが設置されている。アクチュ
エータ7Aとしては、台座2上に固定された発磁体より
なる固定子9Aと定盤6の底面に固定された可動子8A
とから構成されるボイスコイルモータが使用されてい
る。このアクチュエータ7Aは、後述するアクチュエー
タ制御回路11(図1では図示省略、図2、図3参照)
により可動子8A内のコイルに流れる電流が制御される
ことにより、台座2から定盤6の底面に対するZ方向の
付勢力、又は定盤6の底面から台座2に向かう吸引力を
発生する。
並列にアクチュエータ7Aが設置されている。アクチュ
エータ7Aとしては、台座2上に固定された発磁体より
なる固定子9Aと定盤6の底面に固定された可動子8A
とから構成されるボイスコイルモータが使用されてい
る。このアクチュエータ7Aは、後述するアクチュエー
タ制御回路11(図1では図示省略、図2、図3参照)
により可動子8A内のコイルに流れる電流が制御される
ことにより、台座2から定盤6の底面に対するZ方向の
付勢力、又は定盤6の底面から台座2に向かう吸引力を
発生する。
【0013】他の除振パッド4B〜4Dにおいても、除
振パッド4Aと同様にそれぞれ並列に、アクチュエータ
7Aと同様の構成のアクチュエータ7B〜7Dが設置さ
れ(但し、図1における紙面奥側のアクチュエータ7
C、7Dは図示せず)、これらのアクチュエータ7B〜
7Dの付勢力又は吸引力もそれぞれ後述するアクチュエ
ータ制御回路11(図1では図示省略、図2、図3参
照)により設定される。アクチュエータ7A〜7Dの制
御方法については、後述する。
振パッド4Aと同様にそれぞれ並列に、アクチュエータ
7Aと同様の構成のアクチュエータ7B〜7Dが設置さ
れ(但し、図1における紙面奥側のアクチュエータ7
C、7Dは図示せず)、これらのアクチュエータ7B〜
7Dの付勢力又は吸引力もそれぞれ後述するアクチュエ
ータ制御回路11(図1では図示省略、図2、図3参
照)により設定される。アクチュエータ7A〜7Dの制
御方法については、後述する。
【0014】定盤6上には第2ステージとしてのウエハ
ステージ20が搭載されている。このウエハステージ2
0は、実際には、図2に示されるように、不図示のリニ
アモータによって定盤6の上面に沿ってX方向に駆動さ
れるXステージ20Xと、このXステージ20X上に載
置され、不図示のリニアモータによってY方向に駆動さ
れるYステージ20Yと、このYステージ20Y上に載
置されたZ・レベリングステージ20Zとから構成され
るが、図1ではこれらが代表してウエハステージ20と
して示されている。このウエハステージ20、具体的に
はレベリングステージ20Z上に、θ方向の微小回転が
可能なウエハホルダ21を介して基板としてのウエハW
が吸着保持されている。
ステージ20が搭載されている。このウエハステージ2
0は、実際には、図2に示されるように、不図示のリニ
アモータによって定盤6の上面に沿ってX方向に駆動さ
れるXステージ20Xと、このXステージ20X上に載
置され、不図示のリニアモータによってY方向に駆動さ
れるYステージ20Yと、このYステージ20Y上に載
置されたZ・レベリングステージ20Zとから構成され
るが、図1ではこれらが代表してウエハステージ20と
して示されている。このウエハステージ20、具体的に
はレベリングステージ20Z上に、θ方向の微小回転が
可能なウエハホルダ21を介して基板としてのウエハW
が吸着保持されている。
【0015】また、定盤6上でウエハステージ20を囲
むように第1コラム24が植設され、第1コラム24の
上板の中央部に投影光学系PLが固定され、第1コラム
24の上板に投影光学系PLを囲むように第2コラム2
6が植設され、第2コラム26の上板上に第1ステージ
としてのレチクルステージ27が搭載され、このレチク
ルステージ27上にマスクとしてのレチクルRが載置さ
れている。
むように第1コラム24が植設され、第1コラム24の
上板の中央部に投影光学系PLが固定され、第1コラム
24の上板に投影光学系PLを囲むように第2コラム2
6が植設され、第2コラム26の上板上に第1ステージ
としてのレチクルステージ27が搭載され、このレチク
ルステージ27上にマスクとしてのレチクルRが載置さ
れている。
【0016】ウエハステージ20(実際にはレベリング
ステージ20Z)の+Y方向、+X方向の側面は鏡面加
工が施され反射面20a、20bが形成されている。こ
れらの反射面20a、20bを介してウエハY軸干渉計
30Y、ウエハX軸干渉計30X(以下、これらを纏め
て「ウエハ干渉計30」と呼ぶこともある)によって、
ウエハステージ20のY方向の移動位置、X方向の移動
位置がそれぞれ計測されるようになっている(これにつ
いては、さらに後述する)。Z・レベリングステージ2
0Zは、Z軸方向の駆動及びXY面に対する傾斜が調整
可能に構成されている。従って、Xステージ20X、Y
ステージ20Y、Z・レベリングステージ20Z及びウ
エハホルダ21によって、ウエハWは3次元的に位置決
めが可能となっている。
ステージ20Z)の+Y方向、+X方向の側面は鏡面加
工が施され反射面20a、20bが形成されている。こ
れらの反射面20a、20bを介してウエハY軸干渉計
30Y、ウエハX軸干渉計30X(以下、これらを纏め
て「ウエハ干渉計30」と呼ぶこともある)によって、
ウエハステージ20のY方向の移動位置、X方向の移動
位置がそれぞれ計測されるようになっている(これにつ
いては、さらに後述する)。Z・レベリングステージ2
0Zは、Z軸方向の駆動及びXY面に対する傾斜が調整
可能に構成されている。従って、Xステージ20X、Y
ステージ20Y、Z・レベリングステージ20Z及びウ
エハホルダ21によって、ウエハWは3次元的に位置決
めが可能となっている。
【0017】前記レチクルステージ27は、レチクルR
のX軸方向の微調整、及び回転角の調整が可能に構成さ
れている。また、このレチクルステージ27は、図示し
ないリニアモータによってY方向に駆動されるようにな
っている。このレチクルステージ27の+Y方向、+X
方向の側面は鏡面加工が施され反射面27a、27bが
形成されている。これらの反射面27a、27bを介し
てレチクルY軸干渉計31Y、レチクルX軸干渉計31
X(以下、これらを纏めて「レチクル干渉計31」と呼
ぶこともある)によって、レチクルステージ27のY方
向の移動位置、X方向の移動位置がそれぞれ計測される
ようになっている(これについては、さらに後述す
る)。
のX軸方向の微調整、及び回転角の調整が可能に構成さ
れている。また、このレチクルステージ27は、図示し
ないリニアモータによってY方向に駆動されるようにな
っている。このレチクルステージ27の+Y方向、+X
方向の側面は鏡面加工が施され反射面27a、27bが
形成されている。これらの反射面27a、27bを介し
てレチクルY軸干渉計31Y、レチクルX軸干渉計31
X(以下、これらを纏めて「レチクル干渉計31」と呼
ぶこともある)によって、レチクルステージ27のY方
向の移動位置、X方向の移動位置がそれぞれ計測される
ようになっている(これについては、さらに後述す
る)。
【0018】更に、レチクルRの上方には、図示しない
照明光学系が配置され、後述する制御装置42(図1で
は図示省略、図2、図3参照)ではレチクルR及びウエ
ハWの相対位置合わせ(アライメント)及び図示しない
焦点検出系によるオートフォーカスを行ないつつ、照明
光学系からの露光用の照明光ELの下で、レチクルRの
パターンを投影光学系PLを介してウエハW上の各ショ
ット領域に順次露光するようになっている。本実施形態
では、各ショット領域の露光に際しては、ウエハステー
ジ20とレチクルステージ27とが、制御装置42の指
示に応じて、それぞれのステージ制御用回路(これにつ
いては後述する)により不図示のリニアモータを介して
Y軸方向(走査方向)に沿って所定の速度比で相互に逆
向きに相対走査される。
照明光学系が配置され、後述する制御装置42(図1で
は図示省略、図2、図3参照)ではレチクルR及びウエ
ハWの相対位置合わせ(アライメント)及び図示しない
焦点検出系によるオートフォーカスを行ないつつ、照明
光学系からの露光用の照明光ELの下で、レチクルRの
パターンを投影光学系PLを介してウエハW上の各ショ
ット領域に順次露光するようになっている。本実施形態
では、各ショット領域の露光に際しては、ウエハステー
ジ20とレチクルステージ27とが、制御装置42の指
示に応じて、それぞれのステージ制御用回路(これにつ
いては後述する)により不図示のリニアモータを介して
Y軸方向(走査方向)に沿って所定の速度比で相互に逆
向きに相対走査される。
【0019】前記第1コラム24は、4本の脚部24a
〜24d(但し、図1における紙面奥側の脚部24dは
図示せず)により定盤6上に接触している。また、この
第1コラム24の−Y方向の側面に可動軸35Aが埋め
込まれ、可動軸35Aと床上に固定された図示しない支
柱との間にアクチュエータ32Aが取り付けられてい
る。
〜24d(但し、図1における紙面奥側の脚部24dは
図示せず)により定盤6上に接触している。また、この
第1コラム24の−Y方向の側面に可動軸35Aが埋め
込まれ、可動軸35Aと床上に固定された図示しない支
柱との間にアクチュエータ32Aが取り付けられてい
る。
【0020】アクチュエータ32Aとしては、アクチュ
エータ7Aと同様に、図示しない支柱に固定された発磁
体よりなる固定子34Aと、可動軸35Aに取り付けら
れたコイルを含む可動子33Aとから構成されるボイス
コイルモータが使用されている。このアクチュエータ3
2Aは、後述するアクチュエータ制御回路11によって
可動子33A内のコイルに流れる電流が調整されること
により、可動軸35Aに対して±X方向に力を与えるこ
とができる。同様に、第1コラム24の+Y方向の側面
に可動軸35Bが埋め込まれ、可動軸35Bと床上に固
定された図示しない支柱との間に、アクチュエータ32
Aと同一構成のアクチュエータ32Bが取り付けられ、
後述するアクチュエータ制御回路11により制御され、
可動軸35Bに対して±X方向に力を与えることができ
るようになっている。
エータ7Aと同様に、図示しない支柱に固定された発磁
体よりなる固定子34Aと、可動軸35Aに取り付けら
れたコイルを含む可動子33Aとから構成されるボイス
コイルモータが使用されている。このアクチュエータ3
2Aは、後述するアクチュエータ制御回路11によって
可動子33A内のコイルに流れる電流が調整されること
により、可動軸35Aに対して±X方向に力を与えるこ
とができる。同様に、第1コラム24の+Y方向の側面
に可動軸35Bが埋め込まれ、可動軸35Bと床上に固
定された図示しない支柱との間に、アクチュエータ32
Aと同一構成のアクチュエータ32Bが取り付けられ、
後述するアクチュエータ制御回路11により制御され、
可動軸35Bに対して±X方向に力を与えることができ
るようになっている。
【0021】また、第1コラム24の+Y方向の側面の
中央部と床上の図示しない支柱との間に、アクチュエー
タ32Aと同一構成のアクチュエータ32Cが設置さ
れ、後述するアクチュエータ制御回路11により制御さ
れ、アクチュエータ32Cを介して第1コラム24に対
して±Y方向に力を与えることができる。同様に、第1
コラム24の−Y方向の側面の中央部と床上の図示しな
い支柱との間に、アクチュエータ32Aと同一構成のア
クチュエータ32Dが設置され、後述するアクチュエー
タ制御回路11により制御され、アクチュエータ32D
を介して第1コラム24に対して±Y方向に力を与える
ことができる。これらのアクチュエータ32A〜32D
の制御方法についても後述する。
中央部と床上の図示しない支柱との間に、アクチュエー
タ32Aと同一構成のアクチュエータ32Cが設置さ
れ、後述するアクチュエータ制御回路11により制御さ
れ、アクチュエータ32Cを介して第1コラム24に対
して±Y方向に力を与えることができる。同様に、第1
コラム24の−Y方向の側面の中央部と床上の図示しな
い支柱との間に、アクチュエータ32Aと同一構成のア
クチュエータ32Dが設置され、後述するアクチュエー
タ制御回路11により制御され、アクチュエータ32D
を介して第1コラム24に対して±Y方向に力を与える
ことができる。これらのアクチュエータ32A〜32D
の制御方法についても後述する。
【0022】定盤6の上面の+Y方向側および−Y方向
側の端位置には、一対の反射鏡3Z1、3Z2がそれぞれ
取り付けられており、反射鏡3Z1に対向する位置に、
定盤6、第1コラム24及び第2コラム26からなるボ
ディとこのボディに搭載されたウエハステージ20、投
影光学系PL及びレチクルステージ27等とによって構
成される露光装置本体40のZ方向位置を検出する位置
検出手段としての本体Z軸干渉計5Z1が、反射鏡3Z2
に対向する位置に、露光装置本体40のZ方向位置を検
出する位置検出手段としての本体Z軸干渉計5Z2が、
それぞれ、露光装置本体40とは別に床上に設けられた
図示せぬ支柱に支持されて設けられている。これら本体
Z軸干渉計5Z1、5Z2は、それぞれ反射鏡3Z1、3
Z2に向けてヘリウム・ネオン・レーザー光を照射させ
て、露光装置本体40のZ方向の位置を計測する。
側の端位置には、一対の反射鏡3Z1、3Z2がそれぞれ
取り付けられており、反射鏡3Z1に対向する位置に、
定盤6、第1コラム24及び第2コラム26からなるボ
ディとこのボディに搭載されたウエハステージ20、投
影光学系PL及びレチクルステージ27等とによって構
成される露光装置本体40のZ方向位置を検出する位置
検出手段としての本体Z軸干渉計5Z1が、反射鏡3Z2
に対向する位置に、露光装置本体40のZ方向位置を検
出する位置検出手段としての本体Z軸干渉計5Z2が、
それぞれ、露光装置本体40とは別に床上に設けられた
図示せぬ支柱に支持されて設けられている。これら本体
Z軸干渉計5Z1、5Z2は、それぞれ反射鏡3Z1、3
Z2に向けてヘリウム・ネオン・レーザー光を照射させ
て、露光装置本体40のZ方向の位置を計測する。
【0023】また、第1コラム24の+Y方向側の側面
には、一対の反射鏡3Y1、3Y2が取り付けられてお
り、反射鏡3Y1に対向する位置に、露光装置本体40
のY方向位置を検出する位置検出手段としての本体Y軸
干渉計5Y1が、反射鏡3Y2に対向する位置に、露光装
置本体40のY方向位置を検出する位置検出手段として
の本体Y軸干渉計5Y2が、それぞれ、露光装置本体4
0とは別に床上に設けられた図示せぬ支柱に支持されて
設けられている。これら本体Y軸干渉計5Y1、5Y
2は、それぞれ反射鏡3Y1、3Y2に向けてヘリウム・
ネオン・レーザー光を照射させて露光装置本体40のY
方向の位置を計測する。
には、一対の反射鏡3Y1、3Y2が取り付けられてお
り、反射鏡3Y1に対向する位置に、露光装置本体40
のY方向位置を検出する位置検出手段としての本体Y軸
干渉計5Y1が、反射鏡3Y2に対向する位置に、露光装
置本体40のY方向位置を検出する位置検出手段として
の本体Y軸干渉計5Y2が、それぞれ、露光装置本体4
0とは別に床上に設けられた図示せぬ支柱に支持されて
設けられている。これら本体Y軸干渉計5Y1、5Y
2は、それぞれ反射鏡3Y1、3Y2に向けてヘリウム・
ネオン・レーザー光を照射させて露光装置本体40のY
方向の位置を計測する。
【0024】さらに、第1コラム24の+X方向の側面
には、一対の反射鏡3X1、3X2が取り付けられてお
り、反射鏡3X1に対向する位置に、露光装置本体40
のX方向位置を検出する位置検出手段としての本体X軸
干渉計5X1が、反射鏡3X2に対向する位置に、露光装
置本体40のX方向位置を検出する位置検出手段として
の本体X軸干渉計5X2が、それぞれ、露光装置本体4
0とは別に床上に設けられた図示せぬ支柱に支持されて
設けられている。これら本体Y軸干渉計5X1、5X
2は、それぞれ反射鏡3X1、3X2に向けてヘリウム・
ネオン・レーザー光を照射させて露光装置本体40のX
方向の位置を計測する。
には、一対の反射鏡3X1、3X2が取り付けられてお
り、反射鏡3X1に対向する位置に、露光装置本体40
のX方向位置を検出する位置検出手段としての本体X軸
干渉計5X1が、反射鏡3X2に対向する位置に、露光装
置本体40のX方向位置を検出する位置検出手段として
の本体X軸干渉計5X2が、それぞれ、露光装置本体4
0とは別に床上に設けられた図示せぬ支柱に支持されて
設けられている。これら本体Y軸干渉計5X1、5X
2は、それぞれ反射鏡3X1、3X2に向けてヘリウム・
ネオン・レーザー光を照射させて露光装置本体40のX
方向の位置を計測する。
【0025】なお、図2では、反射鏡3Z1、3Z2が代
表的に反射鏡3Zとして示され、本体Z軸干渉計5
Z1、5Z2が代表的に本体Z軸干渉計5Zとして示さ
れ、反射鏡3Y1、3Y2が代表的に反射鏡3Yとして示
され、本体Y軸干渉計5Y1、5Y2が代表的に本体Y軸
干渉計5Yとして示され、反射鏡3X1、3X2が代表的
に反射鏡3Xとして示され、本体X軸干渉計5X1、5
X2が代表的に本体X軸干渉計5Xとして示されてい
る。また、以下、本体Z軸干渉計5Z1、5Z2、本体Y
軸干渉計5Y1、5Y2、本体X軸干渉計5X1、5X2を
纏めて「本体干渉計5」と呼ぶこともある。これらの本
体干渉計5の出力は、後述する振動制御用演算回路54
(図1では図示省略、図2、図3参照)に供給されてい
る。
表的に反射鏡3Zとして示され、本体Z軸干渉計5
Z1、5Z2が代表的に本体Z軸干渉計5Zとして示さ
れ、反射鏡3Y1、3Y2が代表的に反射鏡3Yとして示
され、本体Y軸干渉計5Y1、5Y2が代表的に本体Y軸
干渉計5Yとして示され、反射鏡3X1、3X2が代表的
に反射鏡3Xとして示され、本体X軸干渉計5X1、5
X2が代表的に本体X軸干渉計5Xとして示されてい
る。また、以下、本体Z軸干渉計5Z1、5Z2、本体Y
軸干渉計5Y1、5Y2、本体X軸干渉計5X1、5X2を
纏めて「本体干渉計5」と呼ぶこともある。これらの本
体干渉計5の出力は、後述する振動制御用演算回路54
(図1では図示省略、図2、図3参照)に供給されてい
る。
【0026】図2には、投影露光装置100を構成する
露光装置本体40に対する振動制御系の構成が、その制
御対象である露光装置本体40とともに示されている。
この露光装置本体40は、前述の如く、4つの除振パッ
ド4A〜4Dと4つのZ方向用アクチュエータ7A〜7
Dで下から支えられているが、図2では、これらが代表
的に除振パッド4、Z方向用アクチュエータ7として示
されている。また、露光装置本体40は、Y方向の振動
制御用に2つのY方向用アクチュエータ32C、32D
で支えられ、X方向の振動制御用に2つのX方向用アク
チュエータ32A、32Bで支えられているが、図2に
おいては、これら4つのアクチュエータが代表してアク
チュエータ32として示されている。
露光装置本体40に対する振動制御系の構成が、その制
御対象である露光装置本体40とともに示されている。
この露光装置本体40は、前述の如く、4つの除振パッ
ド4A〜4Dと4つのZ方向用アクチュエータ7A〜7
Dで下から支えられているが、図2では、これらが代表
的に除振パッド4、Z方向用アクチュエータ7として示
されている。また、露光装置本体40は、Y方向の振動
制御用に2つのY方向用アクチュエータ32C、32D
で支えられ、X方向の振動制御用に2つのX方向用アク
チュエータ32A、32Bで支えられているが、図2に
おいては、これら4つのアクチュエータが代表してアク
チュエータ32として示されている。
【0027】ここで、図2を用いて、レチクルステージ
27、ウエハステージ20の位置の計測について説明す
る。
27、ウエハステージ20の位置の計測について説明す
る。
【0028】レチクルステージ27の+Y方向の側面に
は反射面27aが前記の如く形成されており、また、投
影光学系PLの外周上部には固定鏡44が固定されてい
る。レチクルY軸干渉計31Yからは、反射面20aお
よび固定鏡44に向けてヘリウム・ネオン・レーザー光
が照射され、レチクルY軸干渉計31Yにより固定鏡4
4を基準としてレチクルステージ27上に載置されたレ
チクルRのY方向の位置が計測される。
は反射面27aが前記の如く形成されており、また、投
影光学系PLの外周上部には固定鏡44が固定されてい
る。レチクルY軸干渉計31Yからは、反射面20aお
よび固定鏡44に向けてヘリウム・ネオン・レーザー光
が照射され、レチクルY軸干渉計31Yにより固定鏡4
4を基準としてレチクルステージ27上に載置されたレ
チクルRのY方向の位置が計測される。
【0029】ウエハステージ20を構成するレベリング
ステージ20Zの+Y方向の側面には反射面20aが前
記の如く形成されており、また、投影光学系PLの外周
下部に固定鏡46が固定されている。ウエハY軸干渉計
30Yからは、反射面20aおよび固定鏡46に向けて
ヘリウム・ネオン・レーザー光が照射され、ウエハY軸
干渉計30Yにより固定鏡46を基準としてウエハステ
ージ20に載置されたウエハWのY方向の位置が計測さ
れる。
ステージ20Zの+Y方向の側面には反射面20aが前
記の如く形成されており、また、投影光学系PLの外周
下部に固定鏡46が固定されている。ウエハY軸干渉計
30Yからは、反射面20aおよび固定鏡46に向けて
ヘリウム・ネオン・レーザー光が照射され、ウエハY軸
干渉計30Yにより固定鏡46を基準としてウエハステ
ージ20に載置されたウエハWのY方向の位置が計測さ
れる。
【0030】ここでは、レチクルRおよびウエハWのY
方向の位置計測についてのみ説明したが、前述したX方
向位置計測用のレチクルX軸干渉計31X、ウエハX軸
干渉計30Xでも、同様にしてレチクルR、ウエハWの
X方向の位置が計測される。
方向の位置計測についてのみ説明したが、前述したX方
向位置計測用のレチクルX軸干渉計31X、ウエハX軸
干渉計30Xでも、同様にしてレチクルR、ウエハWの
X方向の位置が計測される。
【0031】次に、露光装置本体40に対する振動制御
系の構成について、図2及び図3(図2の各部の詳細な
構成を示す図)を参照しつつ説明する。この制御系は、
図2に示されるように、装置全体を統括制御する制御装
置42、レチクルステージ制御用回路48、ウエハステ
ージ制御用回路50、カウンターフォース演算回路5
2、振動制御用演算回路54及びアクチュエータ制御回
路11等を備えている。本実施形態では、制御装置42
によってステージ移動信号出力手段が構成され、レチク
ルステージ制御用回路48によってステージ制御手段が
構成され、カウンターフォース演算回路52によってカ
ウンターフォース演算手段が構成され、振動制御用演算
回路54によって振動制御用演算手段が構成されてい
る。
系の構成について、図2及び図3(図2の各部の詳細な
構成を示す図)を参照しつつ説明する。この制御系は、
図2に示されるように、装置全体を統括制御する制御装
置42、レチクルステージ制御用回路48、ウエハステ
ージ制御用回路50、カウンターフォース演算回路5
2、振動制御用演算回路54及びアクチュエータ制御回
路11等を備えている。本実施形態では、制御装置42
によってステージ移動信号出力手段が構成され、レチク
ルステージ制御用回路48によってステージ制御手段が
構成され、カウンターフォース演算回路52によってカ
ウンターフォース演算手段が構成され、振動制御用演算
回路54によって振動制御用演算手段が構成されてい
る。
【0032】振動制御用演算回路54は、露光装置本体
40の振動中心としての重心位置G(図2中に★で示さ
れる)を基準とした振動を演算する重心基準の演算回路
54Aを備えている。
40の振動中心としての重心位置G(図2中に★で示さ
れる)を基準とした振動を演算する重心基準の演算回路
54Aを備えている。
【0033】重心基準の演算回路54Aは、6つの本体
干渉計5の出力に基づいて所定の演算を行うことによ
り、露光装置本体40の重心位置Gにおける6自由度方
向(X、Y、Z、Xθ、Yθ、Zθ)の振動を求める機
能を有している。露光装置本体40の重心位置Gは、設
計上で予め求められており、また6つの本体干渉計5の
位置も予め決められている。従って、本体干渉計5の出
力に基づいて所定のマトリックス演算を行うことによ
り、露光装置本体40の重心位置Gにおける6自由度方
向の振動を求めることができる。但し、露光装置本体4
0の重心位置Gは、レチクルステージ27およびウエハ
ステージ20の移動によって変動するため、本実施形態
では、これを考慮してシュミレーション実験等により、
レチクルステージ27及びウエハステージ20の位置に
応じたマトリックス演算の係数を予め求め、これらのマ
トリックス演算の係数がマップデータとして重心基準の
演算回路54A内のメモリに記憶されている。さらに、
本実施形態では、8つのアクチュエータ7A〜7D、3
2A〜32Dを備えているので、かかる演算回路54A
は、露光装置本体40の重心位置Gにおける6自由度方
向の振動を、さらに8つのアクチュエータに分担させる
マトリックス演算を行い、各アクチュエータにアクチュ
エータ制御回路11を介してフィードバック信号として
与えるようになっている。
干渉計5の出力に基づいて所定の演算を行うことによ
り、露光装置本体40の重心位置Gにおける6自由度方
向(X、Y、Z、Xθ、Yθ、Zθ)の振動を求める機
能を有している。露光装置本体40の重心位置Gは、設
計上で予め求められており、また6つの本体干渉計5の
位置も予め決められている。従って、本体干渉計5の出
力に基づいて所定のマトリックス演算を行うことによ
り、露光装置本体40の重心位置Gにおける6自由度方
向の振動を求めることができる。但し、露光装置本体4
0の重心位置Gは、レチクルステージ27およびウエハ
ステージ20の移動によって変動するため、本実施形態
では、これを考慮してシュミレーション実験等により、
レチクルステージ27及びウエハステージ20の位置に
応じたマトリックス演算の係数を予め求め、これらのマ
トリックス演算の係数がマップデータとして重心基準の
演算回路54A内のメモリに記憶されている。さらに、
本実施形態では、8つのアクチュエータ7A〜7D、3
2A〜32Dを備えているので、かかる演算回路54A
は、露光装置本体40の重心位置Gにおける6自由度方
向の振動を、さらに8つのアクチュエータに分担させる
マトリックス演算を行い、各アクチュエータにアクチュ
エータ制御回路11を介してフィードバック信号として
与えるようになっている。
【0034】前記制御装置42には、レチクル干渉計3
1及びウエハ干渉計30の計測値がレチクルステージ制
御用回路48及びウエハステージ制御用回路50を介し
て供給されている(図2参照)。そして、この制御装置
42では、Xステージ20X、Yステージ20Y及びレ
チクルステージ27の位置、速度および加速度を管理し
制御している。すなわち、制御装置42では、レチクル
干渉計31及びウエハ干渉計30の計測値に基づいて、
図3に示されるように、各ステージに対する位置、速度
及び加速度の指令値を演算し、ステージ用制御回路4
8、50に対して、各ステージの位置の指令値を目標値
として与えるとともに、後述するように速度及び加速度
の指令値をステージ用制御回路48、50内のステージ
制御系にフィードフォワード入力するようになってい
る。
1及びウエハ干渉計30の計測値がレチクルステージ制
御用回路48及びウエハステージ制御用回路50を介し
て供給されている(図2参照)。そして、この制御装置
42では、Xステージ20X、Yステージ20Y及びレ
チクルステージ27の位置、速度および加速度を管理し
制御している。すなわち、制御装置42では、レチクル
干渉計31及びウエハ干渉計30の計測値に基づいて、
図3に示されるように、各ステージに対する位置、速度
及び加速度の指令値を演算し、ステージ用制御回路4
8、50に対して、各ステージの位置の指令値を目標値
として与えるとともに、後述するように速度及び加速度
の指令値をステージ用制御回路48、50内のステージ
制御系にフィードフォワード入力するようになってい
る。
【0035】前記カウンターフォース演算回路52は、
露光装置本体40の6自由度方向の変動に対して逆向き
の力(カウンタフォース)を各アクチュエータで発生さ
せるべく、演算を行いアクチュエータ制御回路11にフ
ィードフォワード入力する回路である。このカウンター
フォース演算回路52は、図3に示されるように、制御
装置42からのレチクルステージ27及びウエハステー
ジ20の位置の指令値を合算し、またゲイン調整し、さ
らに各アクチュエータに与える力の割合を演算する第1
の合算及びゲインのマトリックス演算回路(以下、「第
1のマトリックス演算回路」という)52Aと、レチク
ルステージ27及びウエハステージ20の加速度の指令
値を合算し、またゲイン調整し、さらに各アクチュエー
タに与える力の割合を演算する第2の合算及びゲインの
マトリックス演算回路(以下、「第2のマトリックス演
算回路」という)52Bとを備えている。
露光装置本体40の6自由度方向の変動に対して逆向き
の力(カウンタフォース)を各アクチュエータで発生さ
せるべく、演算を行いアクチュエータ制御回路11にフ
ィードフォワード入力する回路である。このカウンター
フォース演算回路52は、図3に示されるように、制御
装置42からのレチクルステージ27及びウエハステー
ジ20の位置の指令値を合算し、またゲイン調整し、さ
らに各アクチュエータに与える力の割合を演算する第1
の合算及びゲインのマトリックス演算回路(以下、「第
1のマトリックス演算回路」という)52Aと、レチク
ルステージ27及びウエハステージ20の加速度の指令
値を合算し、またゲイン調整し、さらに各アクチュエー
タに与える力の割合を演算する第2の合算及びゲインの
マトリックス演算回路(以下、「第2のマトリックス演
算回路」という)52Bとを備えている。
【0036】第1のマトリックス演算回路52Aは、ス
テージ(Rステージ27、Xステージ20X、Yステー
ジ20Y)の位置指令値に基づき、ステージ移動による
重心の変化による影響を求め、これをキャンセルするよ
うなカウンターフォースの指令値を演算する。また、第
2のマトリックス演算回路52Bは、ステージの加速度
の指令値に基づき、加速度による反力を求め、これをキ
ャンセルするようなカウンターフォースの指令値を演算
する。これらのマトリックス演算回路52A、52Bで
演算されたカウンターフォースの指令値は、アクチュエ
ータ制御回路11を構成する加算器11hにフィードフ
ォワード入力される。
テージ(Rステージ27、Xステージ20X、Yステー
ジ20Y)の位置指令値に基づき、ステージ移動による
重心の変化による影響を求め、これをキャンセルするよ
うなカウンターフォースの指令値を演算する。また、第
2のマトリックス演算回路52Bは、ステージの加速度
の指令値に基づき、加速度による反力を求め、これをキ
ャンセルするようなカウンターフォースの指令値を演算
する。これらのマトリックス演算回路52A、52Bで
演算されたカウンターフォースの指令値は、アクチュエ
ータ制御回路11を構成する加算器11hにフィードフ
ォワード入力される。
【0037】アクチュエータ制御回路11は、図3に示
されるように、目標位置出力部11aから出力される6
自由度方向の目標位置(ここでは、原点(0,0,0,
0,0,0)が目標位置である)と、本体干渉計5の検
出結果に基づき振動制御用演算回路54の重心基準の演
算回路54Aで演算された露光装置本体40の重心位置
Gにおける位置情報との差である位置偏差(6自由度方
向)を演算する減算器11dと、この減算器11dから
出力される位置偏差を動作信号として(比例+積分+微
分)制御動作を行い速度指令値(6自由度方向)を演算
するPID制御回路11eと、このPID制御回路11
eからの速度指令値と、本体干渉計5の検出結果に基づ
き振動制御用演算回路54の重心基準の演算回路54A
で演算された露光装置本体40の重心位置Gにおける位
置情報を微分器11bにより微分した速度情報(6自由
度方向)との差である速度偏差(6自由度方向)を演算
する減算器11fと、この減算器11fから出力される
速度偏差を動作信号として(比例+積分+微分)制御動
作を行い各アクチュエータに対する力の指令値を演算す
るPID制御回路11gと、このPID制御回路11g
からの力の指令値が入力される加算器11hとを備えて
いる。この加算器11hには、前述した如く、マトリッ
クス演算回路52A、52Bからのカウンターフォース
の指令値もフィードフォワード入力されている。
されるように、目標位置出力部11aから出力される6
自由度方向の目標位置(ここでは、原点(0,0,0,
0,0,0)が目標位置である)と、本体干渉計5の検
出結果に基づき振動制御用演算回路54の重心基準の演
算回路54Aで演算された露光装置本体40の重心位置
Gにおける位置情報との差である位置偏差(6自由度方
向)を演算する減算器11dと、この減算器11dから
出力される位置偏差を動作信号として(比例+積分+微
分)制御動作を行い速度指令値(6自由度方向)を演算
するPID制御回路11eと、このPID制御回路11
eからの速度指令値と、本体干渉計5の検出結果に基づ
き振動制御用演算回路54の重心基準の演算回路54A
で演算された露光装置本体40の重心位置Gにおける位
置情報を微分器11bにより微分した速度情報(6自由
度方向)との差である速度偏差(6自由度方向)を演算
する減算器11fと、この減算器11fから出力される
速度偏差を動作信号として(比例+積分+微分)制御動
作を行い各アクチュエータに対する力の指令値を演算す
るPID制御回路11gと、このPID制御回路11g
からの力の指令値が入力される加算器11hとを備えて
いる。この加算器11hには、前述した如く、マトリッ
クス演算回路52A、52Bからのカウンターフォース
の指令値もフィードフォワード入力されている。
【0038】次に、上述のようにして構成された投影露
光装置100の走査露光時の動作を説明する。
光装置100の走査露光時の動作を説明する。
【0039】この投影露光装置100では、露光を行う
際には、不図示の照明光学系からの露光用照明光ELに
より、レチクルR上の所定のスリット状の照明領域(こ
の照明領域は、照明光学系内のブラインドによって規定
される)が均一な照度で照明される。この照明領域に対
してレチクルRが所定の走査方向に走査されるのに同期
して、この照明領域と投影光学系PLに関して共役な露
光領域に対してウエハWを走査する。これにより、レチ
クルRのパターン領域を透過した照明光ELが、投影光
学系PLにより所定倍率に縮小され、レジストが塗布さ
れたウエハW上に照射され、ウエハW上の露光領域にレ
チクルRのパターンが逐次転写され、1回の走査でレチ
クルR上のパターン領域の全面がウエハW上のショット
領域に転写される。
際には、不図示の照明光学系からの露光用照明光ELに
より、レチクルR上の所定のスリット状の照明領域(こ
の照明領域は、照明光学系内のブラインドによって規定
される)が均一な照度で照明される。この照明領域に対
してレチクルRが所定の走査方向に走査されるのに同期
して、この照明領域と投影光学系PLに関して共役な露
光領域に対してウエハWを走査する。これにより、レチ
クルRのパターン領域を透過した照明光ELが、投影光
学系PLにより所定倍率に縮小され、レジストが塗布さ
れたウエハW上に照射され、ウエハW上の露光領域にレ
チクルRのパターンが逐次転写され、1回の走査でレチ
クルR上のパターン領域の全面がウエハW上のショット
領域に転写される。
【0040】このステップ・アンド・スキャン型の投影
露光装置100では、上記の走査露光の際に、制御装置
42によりレチクルステージ27をY方向に速度βVで
走査(1/β:投影光学系PLの縮小倍率)させ、ウエ
ハステージ20を−Y方向に速度Vで同期走査させるた
めの指令値の信号がそれぞれのステージ制御用回路4
8、50に送られる。それぞれのステージ制御用回路4
8、50では、干渉計31、30の計測値をモニタしつ
つレチクルステージ27及びウエハステージ20を所定
に位置および所定の速度で走査するよう制御する。
露光装置100では、上記の走査露光の際に、制御装置
42によりレチクルステージ27をY方向に速度βVで
走査(1/β:投影光学系PLの縮小倍率)させ、ウエ
ハステージ20を−Y方向に速度Vで同期走査させるた
めの指令値の信号がそれぞれのステージ制御用回路4
8、50に送られる。それぞれのステージ制御用回路4
8、50では、干渉計31、30の計測値をモニタしつ
つレチクルステージ27及びウエハステージ20を所定
に位置および所定の速度で走査するよう制御する。
【0041】この場合において、レチクルステージ27
及びウエハステージ20は、前記の如くリニアモータに
よって走査されるので、レチクルステージ27及びウエ
ハステージ20が移動する際の加速及び減速に伴い、そ
の反力がリニアモータに生じ、その反力により露光装置
本体40に振動が生じる。また、レチクルステージ27
及びウエハステージ20が走査されると、露光装置本体
40の重心が変動するため露光装置本体40が微妙に傾
き、露光装置本体40に振動が生じる。
及びウエハステージ20は、前記の如くリニアモータに
よって走査されるので、レチクルステージ27及びウエ
ハステージ20が移動する際の加速及び減速に伴い、そ
の反力がリニアモータに生じ、その反力により露光装置
本体40に振動が生じる。また、レチクルステージ27
及びウエハステージ20が走査されると、露光装置本体
40の重心が変動するため露光装置本体40が微妙に傾
き、露光装置本体40に振動が生じる。
【0042】但し、本実施形態では、前記の如く、制御
装置42からのレチクルステージ27、ウエハステージ
20に対する位置及び加速度の指令値に基づき、カウン
ターフォース演算回路52によりステージ移動による重
心の変化による影響をキャンセルするようなカウンター
フォースの指令値と、加速度による反力をキャンセルす
るようなカウンターフォースの指令値とが演算され、ア
クチュエータ制御回路11を介して各アクチュエータ
(7A〜7D、32A〜32D)にフィードフォワード
で与えられている。このため、レチクルステージ27及
びウエハステージ20の加速及び減速によって生じる反
力は、基本的にはカウンターフォースの指令値に応じて
駆動される各アクチュエータの発生する力により打ち消
され、上記のステージの走査により生じる露光装置本体
40の振動は大部分除振される。しかしながら、すべて
の反力がカウンターフォースによってちょうど打ち消さ
れるわけではないので、露光装置本体40には、6自由
度方向(X,Y、Z、Xθ、Yθ及びZθ方向)の微少
な振動(以下、残留振動という)が残ることになる。
装置42からのレチクルステージ27、ウエハステージ
20に対する位置及び加速度の指令値に基づき、カウン
ターフォース演算回路52によりステージ移動による重
心の変化による影響をキャンセルするようなカウンター
フォースの指令値と、加速度による反力をキャンセルす
るようなカウンターフォースの指令値とが演算され、ア
クチュエータ制御回路11を介して各アクチュエータ
(7A〜7D、32A〜32D)にフィードフォワード
で与えられている。このため、レチクルステージ27及
びウエハステージ20の加速及び減速によって生じる反
力は、基本的にはカウンターフォースの指令値に応じて
駆動される各アクチュエータの発生する力により打ち消
され、上記のステージの走査により生じる露光装置本体
40の振動は大部分除振される。しかしながら、すべて
の反力がカウンターフォースによってちょうど打ち消さ
れるわけではないので、露光装置本体40には、6自由
度方向(X,Y、Z、Xθ、Yθ及びZθ方向)の微少
な振動(以下、残留振動という)が残ることになる。
【0043】この残留振動による露光装置本体40の変
動が、露光装置本体40に取り付けられた本体干渉計5
でそれぞれ検出される。これら本体干渉計5の出力に基
づいて、振動制御用回路54内の重心基準の演算回路5
4Aでは、所定のマトリックス演算を行うことにより、
露光装置本体40の重心位置Gにおける6自由度方向の
振動を求め、この6自由度方向の振動を、さらに8つの
アクチュエータに分担させるマトリックス演算を行っ
て、各アクチュエータにアクチュエータ制御回路11を
介してフィードバック信号として与える。このため、こ
のフィードバック信号に基づき、アクチュエータ制御回
路11により各アクチュエータが制御され、上記残留振
動が速やかに抑制される。
動が、露光装置本体40に取り付けられた本体干渉計5
でそれぞれ検出される。これら本体干渉計5の出力に基
づいて、振動制御用回路54内の重心基準の演算回路5
4Aでは、所定のマトリックス演算を行うことにより、
露光装置本体40の重心位置Gにおける6自由度方向の
振動を求め、この6自由度方向の振動を、さらに8つの
アクチュエータに分担させるマトリックス演算を行っ
て、各アクチュエータにアクチュエータ制御回路11を
介してフィードバック信号として与える。このため、こ
のフィードバック信号に基づき、アクチュエータ制御回
路11により各アクチュエータが制御され、上記残留振
動が速やかに抑制される。
【0044】この場合において、本実施形態では、露光
装置本体40の重心位置Gにおける6自由度方向の振動
として、本体干渉計5の検出結果に基づいた位置情報と
これを微分した値に基づいた速度情報とを算出して、こ
の6自由度方向の振動を抑制するためのフィードバック
信号を各アクチュエータに与えているので、加速度を検
出し該加速度を1回積分した値に基づいた速度情報と加
速度を2回積分した値に基づいた位置情報とを算出する
場合に比して、フィードバック制御の精度をさらに良好
にすることができ、より効果的に残留振動を抑制するこ
とができる。
装置本体40の重心位置Gにおける6自由度方向の振動
として、本体干渉計5の検出結果に基づいた位置情報と
これを微分した値に基づいた速度情報とを算出して、こ
の6自由度方向の振動を抑制するためのフィードバック
信号を各アクチュエータに与えているので、加速度を検
出し該加速度を1回積分した値に基づいた速度情報と加
速度を2回積分した値に基づいた位置情報とを算出する
場合に比して、フィードバック制御の精度をさらに良好
にすることができ、より効果的に残留振動を抑制するこ
とができる。
【0045】なお、上記実施形態では、振動制御用回路
54で、露光装置本体40の重心位置Gにおける6自由
度方向の振動を求める場合について説明したが、本発明
がこれに限定されることはなく、振動制御用回路54に
より6つの本体干渉計5の出力に基づき、振動中心とし
ての慣性主軸中心における3自由度、又は6自由度方向
の振動を求めるようにしても良い。ここで慣性主軸と
は、露光装置本体40が有する回転し易い3方向の軸で
ある。
54で、露光装置本体40の重心位置Gにおける6自由
度方向の振動を求める場合について説明したが、本発明
がこれに限定されることはなく、振動制御用回路54に
より6つの本体干渉計5の出力に基づき、振動中心とし
ての慣性主軸中心における3自由度、又は6自由度方向
の振動を求めるようにしても良い。ここで慣性主軸と
は、露光装置本体40が有する回転し易い3方向の軸で
ある。
【0046】なお、上記実施形態では、本発明がステッ
プ・アンド・スキャン型の投影露光装置に適用された場
合について説明したが、本発明の適用範囲がこれに限定
されることはなく、少なくとも一つの移動ステージが露
光装置本体に搭載されていれば本発明は適用でき、例え
ば、ステップ・アンド・リピート方式の縮小投影露光装
置(いわゆるステッパー)にも好適に適用できる。
プ・アンド・スキャン型の投影露光装置に適用された場
合について説明したが、本発明の適用範囲がこれに限定
されることはなく、少なくとも一つの移動ステージが露
光装置本体に搭載されていれば本発明は適用でき、例え
ば、ステップ・アンド・リピート方式の縮小投影露光装
置(いわゆるステッパー)にも好適に適用できる。
【0047】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
位置検出手段の検出結果に基づいて、各アクチュエータ
駆動用のフィードバック信号を与えるようにしたので、
露光装置本体の残留振動を抑制することができ、高精度
な露光を行うことができる。しかも、フィードバック制
御用に第1ステージ及び第2ステージが搭載された露光
装置本体の位置を検出する位置検出手段の検出結果を用
いているため、加速度を積分した値を用いる場合に比し
て、フィードバック制御の精度をさらに良好にすること
ができる。
位置検出手段の検出結果に基づいて、各アクチュエータ
駆動用のフィードバック信号を与えるようにしたので、
露光装置本体の残留振動を抑制することができ、高精度
な露光を行うことができる。しかも、フィードバック制
御用に第1ステージ及び第2ステージが搭載された露光
装置本体の位置を検出する位置検出手段の検出結果を用
いているため、加速度を積分した値を用いる場合に比し
て、フィードバック制御の精度をさらに良好にすること
ができる。
【図1】 一実施形態に係る投影露光装置を示す概略斜
視図である。
視図である。
【図2】 露光装置本体に対する振動制御系の構成を示
す図である。
す図である。
【図3】 図2の各部の詳細な構成を示す図である。
5Z1、5Z2、5Y1、5Y2、5X1、5X2 本体干渉
計(位置検出手段) 7A〜7D アクチュエータ 11 アクチュエータ制御回路(駆動制御手段) 20 ウエハステージ(第2ステージ) 27 レチクルステージ(第1ステージ) 32A〜32D アクチュエータ 40 露光装置本体 42 制御装置(ステージ移動信号出力手段) 48 レチクルステージ制御用回路(ステージ制御手
段) 52 カウンターフォース演算回路(カウンターフォー
ス演算手段) 54 振動制御用演算回路(振動制御用演算手段) 100 投影露光装置 R レチクル(マスク) PL 投影光学系 W ウエハ(基板)
計(位置検出手段) 7A〜7D アクチュエータ 11 アクチュエータ制御回路(駆動制御手段) 20 ウエハステージ(第2ステージ) 27 レチクルステージ(第1ステージ) 32A〜32D アクチュエータ 40 露光装置本体 42 制御装置(ステージ移動信号出力手段) 48 レチクルステージ制御用回路(ステージ制御手
段) 52 カウンターフォース演算回路(カウンターフォー
ス演算手段) 54 振動制御用演算回路(振動制御用演算手段) 100 投影露光装置 R レチクル(マスク) PL 投影光学系 W ウエハ(基板)
Claims (1)
- 【請求項1】 第1ステージに載置されたマスクのパタ
ーンを投影光学系を介して第2ステージに載置された基
板上に転写する投影露光装置であって、 前記第1ステージ及び前記第2ステージの内の少なくと
も一方に対する移動信号を出力するステージ移動信号出
力手段と;前記移動信号に基づき、前記ステージを制御
するステージ制御手段と;前記第1ステージ及び前記第
2ステージが搭載された露光装置本体の位置を検出する
位置検出手段と;前記露光装置本体に設けられた少なく
とも1つのアクチュエータと;前記露光装置本体の振動
を抑制するように前記アクチュエータの駆動を制御する
駆動制御手段と;前記移動信号に基づき、前記露光装置
本体の変動に対するカウンターフォースを演算し、前記
駆動制御手段にフィードフォワード入力するカウンター
フォース演算手段と;前記位置検出手段の検出結果に基
づいて、前記露光装置本体の振動を割り出し、前記駆動
制御手段に与えるアクチュエータ駆動用フィードバック
信号を演算する振動制御用演算手段とを有する投影露光
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9337523A JPH11176725A (ja) | 1997-12-08 | 1997-12-08 | 投影露光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9337523A JPH11176725A (ja) | 1997-12-08 | 1997-12-08 | 投影露光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11176725A true JPH11176725A (ja) | 1999-07-02 |
Family
ID=18309461
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9337523A Withdrawn JPH11176725A (ja) | 1997-12-08 | 1997-12-08 | 投影露光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11176725A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006202435A (ja) * | 2005-01-21 | 2006-08-03 | Fujitsu Ten Ltd | ディスクチェンジャ |
JP2007173808A (ja) * | 2005-12-22 | 2007-07-05 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 |
-
1997
- 1997-12-08 JP JP9337523A patent/JPH11176725A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006202435A (ja) * | 2005-01-21 | 2006-08-03 | Fujitsu Ten Ltd | ディスクチェンジャ |
JP2007173808A (ja) * | 2005-12-22 | 2007-07-05 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 |
JP4498346B2 (ja) * | 2005-12-22 | 2010-07-07 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リソグラフィ装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050301 |