JPH1116978A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JPH1116978A
JPH1116978A JP9162492A JP16249297A JPH1116978A JP H1116978 A JPH1116978 A JP H1116978A JP 9162492 A JP9162492 A JP 9162492A JP 16249297 A JP16249297 A JP 16249297A JP H1116978 A JPH1116978 A JP H1116978A
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JP
Japan
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substrate
processing
transport path
transfer
exposure
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Pending
Application number
JP9162492A
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English (en)
Inventor
Kenji Sugimoto
憲司 杉本
Hidekazu Inoue
秀和 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication of JPH1116978A publication Critical patent/JPH1116978A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70733Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
    • G03F7/7075Handling workpieces outside exposure position, e.g. SMIF box

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 効率の良い基板処理を達成することができる
基板処理装置を提供すること。 【解決手段】 基板処理装置100は、インデクサID
と、表面処理部120と、一対の露光処理部STP1、
STP2と、各露光処理部STP1、STP2及び表面処
理部120間を個別に接続する一対のインターフェイス
IF1、IF2とを備える。表面処理部120は、ほぼ同
一の処理部分P1、P2から構成されている。第1処理部
分P1は、加熱ユニットを含む第1処理ユニット群G1
と、回転処理ユニットからなる第2処理ユニット群G2
とを備え、これらの間に、第2搬送ロボットTR2を備
える第2搬送路122が配置され、第2処理ユニット群
G2を挟んで、第1搬送ロボットTR1を備える第1搬送
路121も配置されている。基板受渡ポジションPOS
は、第1処理部分P1と第2処理部分P2との間で基板を
受け渡すために設けられたものであり、一対の第1搬送
路121は主搬送路を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体基板や液
晶ガラス基板等の薄板状基板(以下、「基板」と称す
る)に対して一連の処理(例えば、レジスト塗布処理、
露光処理、現像処理など)を行う基板処理装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】周知のように、上記基板に対しては、レ
ジスト塗布、露光、現像等の種々の表面処理が行われ
る。一般に、これらの処理は、レジスト塗布処理や現像
処理等の処理を行う表面処理部と、露光処理を行う露光
処理部と、これらの処理部を接続するインターフェイス
とを備えた基板処理装置により行われている。
【0003】図7は、従来の基板処理装置10の構成を
示す平面図である。この基板処理装置10は、基板の搬
出入を行うインデクサIDと、表面処理部20と、露光
処理部STPと、表面処理部20及び露光処理部STP
間を外気に触れないようにインライン接続するインター
フェイスIFとを備えている。
【0004】露光処理部STPは、レジスト塗布済みの
基板に対して露光処理を行うユニットであり、露光機本
体や、基板の搬出入を行うロボットを一体に形成してい
る。また、表面処理部20は、露光前後の基板に対して
諸処理を行うユニットであり、処理ユニット群22と搬
送路24とを備えている。このうち、処理ユニット群2
2は、各基板にレジスト塗布処理、現像処理、熱処理等
を個別に行う複数の処理ユニットを集合したものとして
構成されている。搬送路24は、処理ユニット群22を
構成する各処理ユニット相互間で基板を搬送するための
搬送ロボットTRを備える。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の基板処
理装置では、露光処理部STPにおける基板処理のスル
ープットと、表面処理部20における基板処理のスルー
プットとの整合をとることが一般に困難で、例えば表面
処理部20側における処理が先行しその内部装置に一定
の待機時間が生じる場合もあり、基板処理装置全体とし
て効率の良い処理が行われているとは必ずしも言えなか
った。
【0006】そこで、この発明は、効率の良い基板処理
を達成することができる基板処理装置を提供することを
目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の基板処理装置は、基板を搬送する基板搬
送機構を有して直線状に延びる主搬送路と、前記主搬送
路に沿って配置されるとともに、前記基板搬送機構によ
って搬送される前記基板に所定の処理を施す複数の処理
ユニットを有する複合処理部と、前記主搬送路を挟んで
前記複合処理部の反対側に配置された複数の露光機と前
記主搬送路に設けた前記基板搬送機構との間で前記基板
を受け渡すため、前記露光機ごとに当該露光機に対向し
て配置された複数のインターフェイス部とを備える。
【0008】また、請求項2の基板処理装置は、基板を
搬送する基板搬送機構を有して直線状に延びる主搬送路
と、前記主搬送路に沿って配置されるとともに、前記基
板搬送機構によって搬送される前記基板に所定の処理を
施す複数の処理ユニットを有する複合処理部と、前記主
搬送路を挟んで前記複合処理部の反対側に配置された複
数の熱処理炉と前記主搬送路に設けた前記基板搬送機構
との間で前記基板を受け渡すため、前記熱処理炉ごとに
当該熱処理炉に対向して配置された複数のインターフェ
イス部とを備える。
【0009】また、請求項3の基板処理装置は、前記主
搬送路を前記複数のインターフェイス部のそれぞれに対
応する複数の搬送路部分から構成し、前記複合処理部を
前記複数の搬送路部分のそれぞれに対向する複数の処理
部分から構成し、前記インターフェイス部、前記搬送路
部分、及び前記処理部分を1組とする複数組の処理ブロ
ックを直列に連結することによって形成したことを特徴
とする。
【0010】また、請求項4の基板処理装置は、隣接す
る前記複数の露光機の間に、所定間隔の隙間が存在する
ことを特徴とする。
【0011】また、請求項5の基板処理装置は、隣接す
る前記複数の熱処理炉の間に、所定間隔の隙間が存在す
ることを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ、本発明
の実施の具体的な形態について詳細に説明する。
【0013】図1は、本発明の一実施形態に係る基板処
理装置100の構造を示す平面図である。この装置10
0では、基板の搬出入を行うためのインデクサIDが自
動搬送装置AGVの走行経路に面するように配列されて
おり、このインデクサIDの正面を自動搬送装置AGV
がY軸方向に走行している。そして、自動搬送装置AG
VとインデクサIDとの間で基板を収容したキャリア
(図示を省略)の受け渡しが行われる。
【0014】基板処理装置100は、上記インデクサI
Dのほか、基板にレジスト塗布処理や現像処理等の諸処
理を行う表面処理部120と、基板に露光処理を行う一
対の露光処理部STP1、STP2と、各露光処理部ST
P1、STP2及び表面処理部120間を個別に接続する
一対のインターフェイスIF1、IF2とを備える。そし
て、この装置100では、単一のインデクサIDを窓口
として、表面処理部120に基板を供給し、ここから複
数のインターフェイスIF1、IF2を介して複数の露光
処理部STP1、STP2に基板を外気に直接さらすこと
なく供給し、これら露光処理部STP1、STP2にて基
板を並列処理する。したがって、露光処理部ごとに表面
処理部及びインターフェイスを設けていた従来の基板処
理装置に比較して、自動搬送装置AGVの走行手順、タ
イミング等の制御が簡略化され、結果として工場等に配
置される基板処理システム全体としての管理が簡略化さ
れ、稼働効率が向上することになる。
【0015】表面処理部120は、ほぼ同一構造を有す
る一対の第1処理部分P1及び第2処理部P2から構成さ
れている。前者の第1処理部分P1は、加熱ユニットを
含む第1処理ユニット群G1と、スピンコータ等の回転
処理ユニットからなる第2処理ユニット群G2とを備え
る。これら第1処理ユニット群G1及び第2処理ユニッ
ト群G2は並列配置されており、これらの間には、第2
搬送ロボットTR2を備える第2搬送路122が配置さ
れ、第1処理ユニット群G1を挟んで第2搬送路122
に対向する領域には、第1搬送ロボットTR1を備える
第1搬送路121が配置されている。後者の第2処理部
分P2は、第1搬送路121に基板受渡ポジションPO
Sを有していない点を除き、第1処理部分P1と同一の
構造を有する。
【0016】この基板受渡ポジションPOSは、第1処
理部分P1と第2処理部分P2との間で基板を受け渡すた
めに設けられたものである。つまり、第1処理部分P1
の第1搬送路121と第2処理部分P2の第1搬送路1
21とを位置合わせしてインラインで接続することによ
り、両者を一体として単一の主搬送路を形成し、この主
搬送路を介して、インデクサIDから搬入された基板
を、第1及び第2処理部分P1、P2を構成する一対の第
1処理ユニット群G1と、一対のインターフェイスIF
1、IF2とに供給することができる。なお、上記基板受
渡ポジションPOSは、基板を支持する複数の支持ピン
(図示を省略)を備え、第1及び第2処理部分P1、P2
にそれぞれ設けた一対の第1搬送ロボットTR1がとも
にアクセスできるようになっている。第1処理部分P1
側の第1搬送ロボットTR1によってインデクサIDか
ら搬送されてきた基板は、基板受渡ポジションPOSに
設けた支持ピン上に載置され、第2処理部分P2側の第
1搬送ロボットTR1に渡されて第2処理部分P2に搬入
される。逆に、第2処理部分P2側の第1搬送ロボット
TR1によって第2処理部分P2から搬出された基板は、
基板受渡ポジションPOSに設けた支持ピン上に載置さ
れ、第1処理部分P1側の第1搬送ロボットTR1に渡さ
れ、第1搬送路121を介してインデクサIDに戻され
る。
【0017】ここで、第1及び第2処理部分P1、P2を
構成する一対の第1処理ユニット群G1と一対の第2処
理ユニット群G2と一対の第2搬送路122とは、上記
主搬送路に沿って配置された複合処理部となっており、
対面する主搬送路側に配置した一対の第1搬送ロボット
TR1から基板の供給を受けてこの基板に種々の表面処
理を施すとともに、処理後の基板を一対の第1搬送ロボ
ットTR1に戻す。
【0018】なお、第1処理部分P1、インターフェイ
スIF1、及び露光処理部STP1は、これらを一組とす
る第1処理ブロックB1と認識することができ、第2処
理部分P2、インターフェイスIF2、及び露光処理部S
TP2は、これらを一組とする第2処理ブロックB2と認
識することができる。そして、これら個別の第1及び第
2処理ブロックB1、B2を、第1及び第2処理部分P
1、P2で相互に連結するとともに、一方の第1処理ブロ
ックB1側にインデクサIDを接続することにより、全
体として図1に示す基板処理装置100を構成すること
ができる。この際、両露光処理部STP1、STP2間に
隙間を設けているが、これは各露光処理部STP1、S
TP2等のメンテナンスのためである。
【0019】以上説明したインデクサIDと、表面処理
部120(第1及び第2処理部分P1、P2)と、インタ
ーフェイスIF1、IF1とは、これらを一体の装置とし
て制御されており、図示を省略しているが、各部の動作
や処理を制御する制御用コントローラが内蔵されてお
り、操作用のパネルが設けられている。この際、第1及
び第2処理部分P1、P2は、基板の出入口であるインデ
クサIDと第1処理部分P1側に設けた第1搬送路12
1とを共有していることになる。そして、この共有部分
での干渉を避けるように、第1及び第2処理部分P1、
P2を動作させれば、第1及び第2処理部分P1、P2等
における同時並列的な処理が可能となり、基板処理の効
率を高めることができる。
【0020】図2は、基板処理装置100の要部を説明
する平面図である。図示のように、インデクサIDと第
1処理ブロックB1とは、第1処理ブロックB1を構成す
る第1処理部分P1の−X方向側の端部で接続されてい
る。なお、この第1処理部分P1の+X方向側の端部に
は、第2処理ブロックB2を構成する第2処理部分P2
(図示を省略)が接続される。
【0021】インデクサIDは、基板移載ロボット35
と、基板受渡台36とを備えている。また、インデクサ
IDには、基板Wを多段に収納可能な4つのキャリアC
Aが着脱自在に載置されている。なお、未処理基板を収
納したキャリアCAは、基板処理装置100近傍をY軸
方向に走行する自動搬送装置AGVからインデクサID
に渡され、逆に、処理済みの基板を収納したキャリアC
Aは、自動搬送装置AGVがインデクサIDから取り出
して搬送する。
【0022】基板移載ロボット35は、Y軸方向(キャ
リアCAの配列方向)に移動自在であるとともに、Z軸
方向(高さ方向)の移動および回転動作も可能である。
この基板移載ロボット35は、インデクサIDに載置さ
れているキャリアCAから基板Wを取り出して、Y軸方
向に搬送して基板受渡台36上にこの基板Wを載置す
る。また、基板移載ロボット35は、処理済みの基板W
が基板受渡台36に載置されたときには、この基板Wを
取り出してキャリアCAに格納する。
【0023】第1処理部分P1は、X軸方向に沿って並
列配置された一対の第1及び第2処理ユニット群G1、
G2と、これらに沿って配置された一対の第1及び第2
搬送路121とを備える。これらのうち第1処理ユニッ
ト群G1は、エッジ露光処理を行うエッジ露光ユニット
EEWや加熱処理を行う加熱ユニットHP等、ドライ系
の表面処理ユニットをX−Z面に平行な面内で2次元配
置したものである。また、第2処理ユニット群G2は、
ウエット系の回転処理ユニットを一列に配置したもので
あり、基板Wを回転させてレジスト塗布を行うスピンコ
ータSC及び回転現像処理を行うスピンデベロッパSD
1、SD2を備えている。また、第1搬送路121は、第
1処理ユニット群G1に沿ってこれに対向配置されてお
り、第2搬送路122は、第1処理ユニット群G1と第
2処理ユニット群G2との間に配置されている。前者の
第1搬送路121には、前面側の第1処理ユニット群G
1と背面側のインターフェイスIF1と側面側の基板受渡
ポジションPOSとにそれぞれアクセスしてこれらとの
間で基板Wを受け渡す第1搬送ロボットTR1が配置さ
れている。また、後者の第2搬送路121には、前面側
の第2処理ユニット群G2と背面側の第1処理ユニット
群G1とにそれぞれアクセスしてこれらとの間で基板W
を受け渡す第2搬送ロボットTR2が配置されている。
【0024】第1及び第2搬送ロボットTR1、TR2
は、それぞれ第1及び第2搬送路121、122に設け
られた図示を省略するボールねじの雄ねじと、この雄ね
じを回転させるモータと、ガイドレールとによって、第
1及び第2搬送路121、122を図2中のX軸方向に
移動自在に構成されている。また、第1及び第2搬送ロ
ボットTR1、TR2は、回転動作および上下移動が可能
に構成されるとともに、前後移動可能な一対のアーム
(図示省略)を有している。第1及び第2搬送ロボット
TR1、TR2が第1及び第2処理ユニット群G1、G2を
構成する各処理ユニット等と基板Wの受け渡しを行うと
きは、一方のアームの前後移動および上下動作を順次行
うことによって処理ユニット中の基板Wを外部に搬出
し、他方のアームの前後移動および上下動作を順次行う
ことによって処理ユニット中に基板Wを搬入する。
【0025】インターフェイスIF1は、第1搬送路1
21との間で基板Wを受け渡す基板移載ロボット41
と、この基板移載ロボット41がインターフェイスIF
1中に搬入した基板Wを一時的にストックするバッファ
部45と、このバッファ部45にアクセスする基板移載
ロボット42と、この基板移載ロボット42から基板W
を受け取って支持する基板搬入台47と、基板移載ロボ
ット42に渡すべき基板Wを支持する基板搬出台48と
を備えている。
【0026】露光処理部STP1は、レジスト塗布済み
の基板Wに対して露光処理を行う装置であり、インター
フェイスIF1の基板搬入台47に載置された基板Wを
取り込んで露光機本体にセットしたり、露光後の基板W
を基板搬出台48に搬出したりするロボットを内蔵す
る。また、露光処理部STP1は、図示を省略している
が、露光処理を制御する制御用コントローラを収容した
コントローララックと、操作用のパネルを収容したオペ
レーションラックと、露光光源であるエキシマレーザ光
を出射するエキシマレーザ発振器とを内蔵する。なお、
露光処理ユニットSTP1には、メンテナンス扉51が
設けられており、作業者はこのメンテナンス扉51を開
けて、上記ロボットの保守作業等をおこなう。
【0027】図3は、第1処理ユニット群G1をXZ平
面で切断して見た断面図である。図示の如く、第1処理
ユニット群G1は、エッジ露光処理を行うエッジ露光ユ
ニットEEWと、基板を加熱するホットプレートユニッ
トHPと、基板を冷却するクールプレートユニットCP
と、基板受渡ユニットIFWとを積層配列した構造を有
している。なお、図3においては、縦5段の積層構造が
横4列に配置されているが、このような配列に限定され
るものではなく、用途に応じて任意の配置・配列とでき
ることは言うまでもない。
【0028】図4は、第1処理部分P1のA−A矢視断
面図である。ただし、この図は、第1及び第2搬送ロボ
ットTR1、TR2がA−A線上に存在する場合について
描いている。図示の如く、ホットプレートユニットHP
への基板出入口は、第1搬送路121側にのみ設けられ
ているのに対して、クールプレートユニットCP及び基
板受渡ユニットIFWへの基板出入口は、第1搬送路1
21と第2搬送路122の両側に設けられている。この
ようにすることにより、ホットプレートユニットHPの
熱が第2搬送路122に放出されることがなくなるた
め、この第2搬送路122に面したスピンコータSCや
スピンデベロッパSD1、SD2において熱的に安定した
処理が行われる。また、スピンコータSCやスピンデベ
ロッパSD1、SD2にアクセスする第2搬送ロボットT
R2のアームは、加熱された基板Wに直接接触すること
がないため、第2処理ユニット群G2においては熱的に
安定した処理が行われる。
【0029】第1搬送ロボットTR1と第2搬送ロボッ
トTR2との間で基板Wの受け渡しを行うときは、クー
ルプレートユニットCPまたは基板受渡ユニットIFW
を介在させる。すなわち、第1搬送ロボットTR1から
第2搬送ロボットTR2に基板Wを渡すときは、一旦第
1搬送ロボットTR1がクールプレートユニットCP等
に基板Wを載置した後、この基板Wを第2搬送ロボット
TR2が受け取る。逆に、第2搬送ロボットTR2が第1
搬送ロボットTR1に基板Wを渡すときは、第2搬送ロ
ボットTR2が基板受渡ユニットIFW等に基板Wを載
置した後、この基板Wを第1搬送ロボットTR1が受け
取る。
【0030】以上説明した第1処理部分P1において、
インデクサIDから払い出された基板Wは、第1処理ユ
ニット群G1を構成するホットプレートユニットHP等
で熱処理され、スピンコータSCでレジスト塗布処理が
施され、第1搬送ロボットTR1によってインターフェ
イスIF1に渡される。また、インターフェイスIF1か
ら第1搬送ロボットTR1に渡された露光処理済みの基
板Wは、スピンデベロッパSD1、SD2で現像処理が施
され、第1処理ユニット群G1を構成するホットプレー
トユニットHPで熱処理等がされた後、インデクサID
に戻される。
【0031】次に、図5は、インターフェイスIF1を
露光処理部STP1側から見た側面図である。インター
フェイスIF1は、第1搬送路121(図示を省略)側
にアクセスしてこれとの間で基板Wの受け渡しを行う基
板移載ロボット41と、基板搬入台47及び基板搬出台
48にアクセスして露光処理部STP1(図示を省略)
側との間で基板Wの受け渡しを行う基板移載ロボット4
2と、両基板移載ロボット41、42間で基板Wを受け
渡す際に基板Wを一時的にストックして露光処理部ST
P1と第1処理部分P1の処理速度の差等を吸収するバッ
ファ部45とを備える。
【0032】基板移載ロボット41は、そのヘッド41
bがモータ41eと雄ねじ41dによってZ軸方向(鉛
直方向)に移動自在であるとともに、モータ41cによ
って回転可能に構成されている。すなわち、ヘッド41
bの支持軸41gが雄ねじ41dに螺合されており、モ
ータ41eに連結された雄ねじ41dが正方向また逆方
向に回転することによって、ヘッド41bが上下移動を
行う。また、ヘッド41bに連結されたモータ41cの
正逆方向の回転にともなって、このヘッド41bが鉛直
軸回りの回転動作を行う。ヘッド41bの上面には、ア
ーム41aと基板支持ピン(図示省略)が設けられてい
る。そして、ヘッド41bに内蔵された駆動機構によっ
て、アーム41aの前後動作が可能に構成されている。
【0033】基板移載ロボット42は、基板移載ロボッ
ト41とほぼ同様の構造を有する。この基板移載ロボッ
ト42が基板移載ロボット41と異なる点は、モータ4
2jと雄ねじ42k及びガイドレール42mによって基
板移載ロボット42が水平方向(X軸方向)に移動可能
である点である。すなわち、基板移載ロボット42の上
下移動機構42fの下端が雄ねじ42kに螺合されると
ともに、ガイドレール42mに摺動自在に嵌合されてい
る。そして、雄ねじ42kに連結されたモータ42jが
正方向または逆方向に回転することにより、基板移載ロ
ボット42がX軸方向に前進または後退する。また、基
板移載ロボット42のヘッド42b内部の駆動機構によ
って前後移動可能なアーム42aがヘッド42bの上面
に設けられている。
【0034】基板搬入台47及び基板搬出台48には、
それぞれ支持ピン47a、48aが設けられており、前
者の支持ピン47a上には、基板移載ロボット42によ
って搬送されてきた露光処理前の基板Wが載置され、後
者の支持ピン48a上には、露光処理部STP1中から
の露光処理後の基板Wが載置される。
【0035】動作について説明すると、図示を省略する
第1処理部分P1においてレジスト塗布処理を終了した
基板Wは、これに設けた第1搬送ロボットTR1からイ
ンターフェイスIF1側の基板移載ロボット41に渡さ
れ、逆に、露光処理が終了した基板Wは、基板移載ロボ
ット41から第1処理部分P1側の第1搬送ロボットT
R2に渡される。なお、図示を省略しているが、このよ
うな動作のための開口が、基板移載ロボット41の前方
(−Y方向)側に設けられている。また、第1搬送ロボ
ットTR2と基板移載ロボット41との間では、基板W
を支持するハンドの形状、支持ピンの高さ等の差を利用
して、基板Wの受け渡しが行われる。
【0036】露光処理前(レジスト塗布後)の基板W
は、基板移載ロボット41から基板移載ロボット42に
渡され、また、露光処理後の基板Wは、基板移載ロボッ
ト42から基板移載ロボット41に渡される。これらの
受け渡しは、バッファ部45を介して行われる。このバ
ッファ部45は、基板Wの周端部を支持する複数の収納
棚を積層して構成している。すなわち、一方のロボット
のアームが基板Wを一旦前述の収納棚に格納し、この基
板Wを他方のロボットのアームが取り出すことによって
移載ロボット間での基板Wの受け渡しが行われる。この
ときに、収納棚は複数設けられているため、インターフ
ェイスIF1と第1処理部分P1または露光処理部STP
1との基板Wの受け渡しのタイミングが不調の場合に
も、基板Wを一時的にバッファ部45に収納しておくこ
とができる。
【0037】バッファ部45から基板移載ロボット42
によって取り出された基板Wは、基板搬入台47上の載
置され、基板搬出台48上の基板Wは、基板移載ロボッ
ト42によってバッファ部45に搬入される。すなわ
ち、基板搬入台47上に基板Wを載置するときは、アー
ム42aが基板搬入台47の上方に移動した後、下降
し、基板Wが支持ピン47a上に載置された状態とな
る。そして、アーム42aが後退することによって載置
動作が完了する。支持ピン47a上に載置された基板W
は、露光処理部STP1に取り込まれて露光処理が行わ
れる。露光処理が終了した基板Wは、基板搬出台48の
支持ピン48a上に載置される。そして、基板搬出台4
8から基板Wを取り出すときは、支持ピン48a上に載
置されている基板Wの下方にアーム42aが移動した
後、上昇し、基板Wがアーム42a上に載置された状態
となる。そして、アーム42aが後退して基板Wの取り
出しが完了する。
【0038】以上、実施形態に即してこの発明を説明し
たが、この発明は、上記実施形態に限定されるものでは
ない。例えば、上記実施形態では、2つの露光機を備え
る基板処理装置100が開示されているが、本発明の基
板処理装置は、3つ以上の露光機を備えるものであって
もよい。図6は、図1の基板処理装置100の一変形例
として、3つの露光機を備える基板処理装置200の平
面構造を示す。この基板処理装置200は、第1処理部
分P1とインターフェイスIF1と露光処理部STP1と
からなる第1処理ブロックB1と、第2処理部分P2とイ
ンターフェイスIF2と露光処理部STP2とからなる第
2処理ブロックB2との間に、第1処理ブロックB1と同
一構造の第3処理ブロックB3を配置している。この場
合、第1〜第3処理部分P1〜P3を構成する3つの第1
搬送路121を直線に接続することによって主搬送路を
構成する。そして、第1処理部分P1に設けた基板受渡
ポジションPOSを介して、第1処理ブロックB1と第
3処理部分P3との間での基板の受け渡しが可能にな
る。また、第3処理部分P3に設けた基板受渡ポジショ
ンPOSを介して、第3処理ブロックB3と第2処理部
分P2との間での基板の受け渡しが可能になる。さら
に、露光機(G線、i線、エキシマ等)の種類が異なる
ケースでも有効である。
【0039】また、上記実施形態では、インデクサID
と、表面処理部120と、複数の露光処理部STP1、
STP2と、各露光処理部STP1、STP2及び表面処
理部120間を個別に接続する複数のインターフェイス
IF1、IF2とを備える基板処理装置が開示されている
が、上記一対の露光処理部STP1、STP2を一対の熱
処理炉に置き換えることも可能である。この場合、基板
処理装置は、基板の搬出入のためのインデクサと、基板
に洗浄等の諸処理を施す表面処理部と、複数の縦形熱処
理炉と、各縦形熱処理炉及び処理部間を個別に接続する
複数のインターフェイスとを備えるものとする。なお、
縦形熱処理炉とは、半導体基板等を鉛直方向に積層した
状態で収容する炉芯管に適当な雰囲気ガスを供給しつ
つ、この炉芯管を鉛直方向に延びる筒状のヒータ内で鉛
直方向に移動させることによって、基板表面の熱酸化、
膜堆積等を行うものである。このような縦形熱処理炉で
は処理に長時間を要するため、比較的短時間で行える洗
浄等の前後処理を行う共有化処理部分(表面処理部等)
に複数の縦形熱処理炉を接続して、これら縦形熱処理炉
で並列処理を行うことにより、基板処理の効率化を図る
ことができる。この際、各縦形熱処理炉のメンテナンス
のため、縦形熱処理炉間に隙間を設けることが望まし
い。
【0040】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1の装置では、基板を搬送する基板搬送機構を有して直
線状に延びる主搬送路と、前記主搬送路に沿って配置さ
れるとともに、前記基板搬送機構によって搬送される前
記基板に所定の処理を施す複数の処理ユニットを有する
複合処理部と、前記主搬送路を挟んで前記複合処理部の
反対側に配置された複数の露光機と前記主搬送路に設け
た前記基板搬送機構との間で前記基板を受け渡すため、
前記露光機ごとに当該露光機に対向して配置された複数
のバッファ部とを備えるので、複合処理部単独での処理
のスループットと複数の露光機による並行処理のスルー
プットとの相対的な差を簡易に吸収して両者における処
理を効率的に整合させることができる。さらに、単一の
出入部を介して基板又はこれを収容したキャリアを装置
外から受け入れるだけで、複数の露光機による並行処理
が可能となるので、本発明の基板処理装置を組み込んだ
処理システムでは、複合処理部と露光機とを1対1で接
続してこれを複数配列していた従来型のシステムに比較
して、内部の共有化を高めることができ、空間、コスト
面でシステムの効率化を図ることができるとともに、処
理システムを制御する工場全体としての運営における負
担を軽減することもできる。
【0041】また、請求項2の基板処理装置は、基板を
搬送する基板搬送機構を有して直線状に延びる主搬送路
と、前記主搬送路に沿って配置されるとともに、前記基
板搬送機構によって搬送される前記基板に所定の処理を
施す複数の処理ユニットを有する複合処理部と、前記主
搬送路を挟んで前記複合処理部の反対側に配置された複
数の熱処理炉と前記主搬送路に設けた前記基板搬送機構
との間で前記基板を受け渡すため、前記熱処理炉ごとに
当該熱処理炉に対向して配置された複数のバッファ部と
を備えるので、複合処理部単独での処理のスループット
と複数の熱処理炉による並行処理のスループットとの相
対的な差を簡易に吸収して両者における処理を効率的に
整合させることができる。さらに、単一の出入部を介し
て基板又はこれを収容したキャリアを装置外から受け入
れるだけで、複数の熱処理炉による並行処理が可能とな
るので、本発明の基板処理装置を組み込んだ処理システ
ムでは、複合処理部と熱処理炉とを1対1で接続してこ
れを複数配列するシステムに比較して、内部の共有化を
高めることができ、空間、コスト面でシステムの効率化
を図ることができるとともに、処理システムを制御する
工場全体としての運営における負担を軽減することもで
きる。
【0042】また、請求項3の基板処理装置は、前記主
搬送路を前記複数のバッファ部のそれぞれに対応する複
数の搬送路部分から構成し、前記複合処理部を前記複数
の搬送路部分のそれぞれに対向する複数の処理部分から
構成し、前記バッファ部、前記搬送路部分、及び前記処
理部分を1組とする複数組の処理ブロックを直列に連結
することによって形成したので、このような処理ブロッ
ク単位で装置の設計や施工が可能となり、これらにおけ
る負担を低減できる。
【0043】また、請求項4の基板処理装置は、隣接す
る前記複数の露光機の間に所定間隔の隙間が存在するの
で、露光機のメンテナンスが容易である。
【0044】また、請求項5の基板処理装置は、隣接す
る前記複数の熱処理炉の間に所定間隔の隙間が存在する
ので、熱処理炉のメンテナンスが容易である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る基板処理装置の平面図である。
【図2】図1の基板処理装置の要部を拡大した図であ
る。
【図3】図2の基板処理装置の第1処理ユニット群をX
Z平面で切断して見た断面図である。
【図4】図2の第1処理部分P1のA−A矢視断面図で
ある。
【図5】図2のインターフェイスを露光処理部側から見
た側面図である。
【図6】図1の基板処理装置の変形例を示す図である。
【図7】従来の基板処理装置の構成を示す平面図であ
る。
【符号の説明】
100 基板処理装置 120 処理部 ID インデクサ P1 第1処理部分 P2 第2処理部分 IF1、IF2 インターフェイス STP1、STP2、STP3 露光処理部 B1 第1処理ブロック B2 第2処理ブロック W 基板

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を搬送する基板搬送機構を有して直
    線状に延びる主搬送路と、 前記主搬送路に沿って配置されるとともに、前記基板搬
    送機構によって搬送される前記基板に所定の処理を施す
    複数の処理ユニットを有する複合処理部と、 前記主搬送路を挟んで前記複合処理部の反対側に配置さ
    れた複数の露光機と前記主搬送路に設けた前記基板搬送
    機構との間で前記基板を受け渡すため、前記露光機ごと
    に当該露光機に対向して配置された複数のインターフェ
    イス部と、を備える基板処理装置。
  2. 【請求項2】 基板を搬送する基板搬送機構を有して直
    線状に延びる主搬送路と、 前記主搬送路に沿って配置されるとともに、前記基板搬
    送機構によって搬送される前記基板に所定の処理を施す
    複数の処理ユニットを有する複合処理部と、 前記主搬送路を挟んで前記複合処理部の反対側に配置さ
    れた複数の熱処理炉と前記主搬送路に設けた前記基板搬
    送機構との間で前記基板を受け渡すため、前記熱処理炉
    ごとに当該熱処理炉に対向して配置された複数のインタ
    ーフェイス部と、を備える基板処理装置。
  3. 【請求項3】 前記主搬送路を前記複数のインターフェ
    イス部のそれぞれに対応する複数の搬送路部分から構成
    し、前記複合処理部を前記複数の搬送路部分のそれぞれ
    に対向する複数の処理部分から構成し、前記インターフ
    ェイス部、前記搬送路部分、及び前記処理部分を1組と
    する複数組の処理ブロックを直列に連結することによっ
    て形成したことを特徴とする請求項1又は請求項2記載
    の基板処理装置。
  4. 【請求項4】 隣接する前記複数の露光機の間には、所
    定間隔の隙間が存在することを特徴とする請求項1記載
    の基板処理装置。
  5. 【請求項5】 隣接する前記複数の熱処理炉の間には、
    所定間隔の隙間が存在することを特徴とする請求項2記
    載の基板処理装置。
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