JPH11167972A - コネクタのチェックゲージとチェック方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 サーフェイスマウント用コネクタにおける端
子リードの過度な変形をチェックするチェックゲージに
関し、精度が高く作業の簡素化と高能率化が可能なコネ
クタのチェックゲージとチェック方法の提供を目的とす
る。 【解決手段】 上記課題は、供試コネクタ１の各コンタ
クト12に対応する表示手段32と、表示手段32に電圧を印
加可能な試験電源35を具えたゲージ本体３と、供試コネ
クタ１を装着可能な結合コネクタ41と、コンタクト12を
対応する表示手段32に接続する第１のケーブル42を具え
たハーネス４と、ゲージ板自体を試験電源35に接続する
第２のケーブル51と、供試コネクタ１の載置面に形成さ
れた基準面55、57とを具えたゲージ板５とを有し、コン
タクト12の一端に形成された端子リード14が基準面55、
57に接触すると、ハーネス４を介して対応する表示手段
32に電圧が印加される本発明のチェックゲージによって
達成される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はサーフェイスマウン
ト用コネクタにおける端子リードの過度な変形をチェッ
クするチェックゲージに係り、特に過度な変形をＬＥＤ
の点灯または非点灯で判別することで作業の簡素化と高
能率化を図ったチェックゲージに関する。

【０００２】近年、プリント基板に搭載されるコネクタ
は自動組立が容易なサーフェイスマウント方式のものが
主流になりつつあり、端子リードははんだリフロー装置
によるはんだ付けで不良を起こさない程度の面精度を具
えていることが要求される。

【０００３】端子リードの面精度を確認するためにコネ
クタの製造工程において各種の手段を用いて面精度をチ
ェックしているが、面精度のチェックを簡素化できる手
段がなく作業の簡素化と高能率化が可能なチェックゲー
ジの開発が要望されている。

【０００４】

【従来の技術】図６は供試コネクタの形状を示す斜視
図、図７は従来のチェックゲージを示す斜視図である。

【０００５】図６に示す如く供試コネクタ１は絶縁体11
と所定の間隔で絶縁体11に植設された複数のコンタクト
12で形成されており、絶縁体11は供試コネクタ１をプリ
ント基板の所定の位置に位置決めするための２個の突起
13を下面に突出させている。

【０００６】コンタクト12は一端にプリント基板にはん
だ付けされる端子リード14を具えており、等間隔に配列
された端子リード14は同一平面に当接可能に成形されて
いる。コンタクト12は絶縁体11の後面から突出している
端部にプリント基板にはんだ付けされる端子リード14を
具えており、はんだリフロー装置によりはんだ付けされ
る端子リード14は同一平面に当接可能に成形されて等間
隔に配列されている。

【０００７】手作業ではんだ付けする場合は端子リード
14の面が上下方向にばらついていてもはんだ付けに際し
修正可能であるが、はんだリフロー装置によるはんだ付
けの場合は端子リード14のばらつきが大きいとはんだ付
け不良を生じる要因になる。

【０００８】そこではんだ付け不良を防止する手段とし
てコネクタの製造工程において端子リード14の変形をチ
ェックすると共に、端子リードが過度に変形している場
合は端子リードの変形を修正することでばらつきを抑制
する等の作業を行っている。

【０００９】従来のチェックゲージ２は図７(a) に示す
如く基板部21と基板部21の一端に設けられたゲージ部22
とがＬ字状をなし、ゲージ部22は供試コネクタ１が基板
部21に載置されると端子リード14の端面と対抗する位置
にスリット23を具えている。

【００１０】スリット23の一辺は端子リード14の変形の
上側許容限界を、他辺は端子リード14の変形の下側許容
限界を示しており、図７(a) に矢印で示す如くチェック
ゲージ２の側方からスリット23を通して端子リード14を
観察し変形をチェックする。

【００１１】即ち、図７(b) において端子リード14ａは
スリット23の一辺に掛かり変形が上側許容限界を超して
いて不良、端子リード14ｂ乃至14ｆは良、端子リード14
ｇはスリット23の他辺に掛かり変形が下側許容限界を超
していて不良と判定される。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のチェッ
クゲージは端子リードがスリットの一辺または他辺に掛
かっているかどうかの判定が難しく、特に小型化された
供試コネクタの場合は端子リードの断面が極めて小さい
ためチェックデータに含まれる個人差が大きい。

【００１３】また、小型化された供試コネクタではチェ
ックデータの個人差を抑制するため顕微鏡を通し端子リ
ードを観察するが、チェックに要する時間が大幅に増大
されると共に作業者の疲労度が増大され作業効率が低下
するという問題があった。

【００１４】本発明の目的は精度が高く作業の簡素化と
高能率化が可能なコネクタのチェックゲージとチェック
方法を提供することにある。

【００１５】

【課題を解決するための手段】図１は本発明になるチェ
ックゲージを示すブロック図である。なお全図を通し同
じ対象物は同一記号で表している。

【００１６】上記課題はゲージ本体３と、供試コネクタ
１をゲージ本体３に接続するハーネス４と、チェックに
際して供試コネクタ１が載置されるゲージ板５とを有
し、ゲージ本体５は、供試コネクタ１が有する複数のコ
ンタクト12に対応する複数の表示手段（ＬＥＤ）32と、
表示手段32のそれぞれに電圧を印加可能な試験電源35と
を有し、ハーネス４は、供試コネクタ１を装着可能な結
合コネクタ41と、コンタクト12を対応する表示手段32の
それぞれに接続する第１のケーブル42とを有し、ゲージ
板５は、ゲージ板自体を試験電源35に接続する第２のケ
ーブル51と、供試コネクタ１が載置される面に形成され
た基準面55、57とを有し、結合コネクタ41に装着された
供試コネクタ１をゲージ板５に載置したとき、コンタク
ト12の一端に形成され同一平面に当接可能に成形された
端子リード14が基準面55、57に接触すると、ハーネス４
を介して対応する表示手段32に電圧が印加される本発明
のチェックゲージによって達成される。

【００１７】本発明のチェックゲージは、例えば、供試
コネクタを下限検出部に載置し押し付けたとき、変形量
が許容値を超している端子リードは全て基準面に当接し
て対応するＬＥＤが点灯し、供試コネクタを上限検出部
に載置し押し付けたとき、変形量が許容値内にある端子
リードは全て基準面に当接して対応するＬＥＤが点灯す
るため、点灯したＬＥＤの位置または非点灯のＬＥＤの
位置をチェックすることで、過度に変形した端子リード
を検出することが可能になり、端子リードの面精度のチ
ェック作業が簡素化されて高能率化し、しかも個人等が
含まれることなく精度の高いチェックデータが得られ
る。

【００１８】即ち、精度が高く作業の簡素化と高能率化
が可能なコネクタのチェックゲージとチェック方法を実
現することができる。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下添付図により本発明の実施例
について説明する。なお図２はゲージ本体の外観を示す
斜視図、図３はゲージ板の構造を示す斜視図、図４は端
子リードの下方変形チェック方法を示す模式図、図５は
端子リードの上方変形チェック方法を示す模式図であ
る。

【００２０】本発明のチェックゲージは図１に示す如く
ゲージ本体３とハーネス４と供試コネクタ１を載置する
ゲージ板５とを有し、ゲージ本体３は図２に示す如くケ
ース31の前面に複数のＬＥＤ32と接続コネクタ33と接地
端子34とが装着されている。

【００２１】図２では図示省略されているが図１に示す
如くＬＥＤ32は供試コネクタ１のコンタクト12にそれぞ
れ対応させており、ＬＥＤ32の一端と接地端子34の間に
試験電源35が接続されＬＥＤ32の他端はそれぞれ接続コ
ネクタ33に接続されている。

【００２２】ハーネス４はチェックに際し供試コネクタ
１が装着される結合コネクタ41と第１のケーブル42と接
続コネクタ43を有し、供試コネクタ１のコンタクト12は
それぞれハーネス４と接続コネクタ33を介し対応するＬ
ＥＤ32の他端に接続される。

【００２３】第２のケーブル51を介し接地端子34に接続
されたゲージ板５は同一金属板に下限検出部52と上限検
出部53が形成され、端子リード14の下方への過度な変形
は下限検出部52において、上方への過度な変形は上限検
出部53において検出される。

【００２４】図３に示す如く下限検出部52は供試コネク
タ１の絶縁体11に形成された２個の突起13を嵌挿可能な
ガイド孔54を有し、チェックに際して突起13をガイド孔
54に嵌挿することにより供試コネクタ１は下限検出部52
の所定の位置に載置される。

【００２５】また、下限検出部52は供試コネクタ１が載
置され絶縁体11がゲージ板５に押し付けられたとき、下
方への変形量が許容値内の端子リード14は当接すること
なく、変形量が許容値を超えた端子リード14のみが当接
する下限基準面55を有する。

【００２６】隣接する上限検出部53も同様に供試コネク
タ１の絶縁体11に形成された２個の突起13を嵌挿可能な
ガイド孔56を有し、チェックに際して突起13をガイド孔
56に嵌挿することにより供試コネクタ１は上限検出部53
の所定の位置に載置される。

【００２７】また、上限検出部53は供試コネクタ１が載
置され絶縁体11がゲージ板５に押し付けられたとき、上
方への変形量が許容値内の端子リード14のみが当接し、
変形量が許容値を超えた端子リード14は当接することの
ない上限基準面57を有する。

【００２８】なお、上限検出部53は下限検出部52と異な
り端子リード14のそれぞれと対向する領域の両側に溝58
が形成されており、上記の上限基準面57は溝58によって
挟まれ端子リード14の幅と比較すると幅が極めて狭い凸
部の上面に形成されている。

【００２９】このように溝58により挟まれ端子リード14
の幅と比べて幅が極めて狭い凸部の上面に上限基準面57
を形成することで、端子リード14の上方への変形量が許
容値内であっても左または左に変形していると上限基準
面57に当接することはない。

【００３０】供試コネクタ１のコンタクト12はそれぞれ
ハーネス４を介し対応するＬＥＤ32に、ゲージ板５は第
２のケーブル51を介して接地端子34に接続されており、
端子リード14が下限基準面55または上限基準面57に当接
するとＬＥＤ32が点灯する。

【００３１】図４(a) に示す如く結合コネクタ41に装着
された供試コネクタ１の絶縁体11を下限検出部52に載置
し押し付けたとき、ＬＥＤ32が点灯すればそのＬＥＤ32
に対応するコンタクト12の端子リード14が下方に過度に
変形していると判定される。

【００３２】例えば、図４(b) において端子リード14ａ
〜14ｄは下限基準面55との間に隙間を有しＬＥＤ32が点
灯することはないが、端子リード14ｅの場合は下限基準
面55に当接しておりＬＥＤ32が点灯し該当する端子リー
ド14ｅは不良と判定される。

【００３３】同様に、図５(a) に示す如く結合コネクタ
41に装着された供試コネクタ１を上限検出部53に載置し
て押し付けたとき、ＬＥＤ32が点灯しない場合はそのＬ
ＥＤ32に対応するコンタクト12の端子リード14が過度に
変形していると判定される。

【００３４】例えば、図５(b) において端子リード14ａ
〜14ｄは下限基準面55との間に隙間を有しＬＥＤ32が点
灯することはないが、端子リード14ｅの場合は下限基準
面55に当接しておりＬＥＤ32が点灯し該当する端子リー
ド14ｅは不良と判定される。

【００３５】例えば、図５(b) において端子リード14ｂ
〜14ｄは上限基準面57に当接しておりＬＥＤ32が点灯す
るが、端子リード14ａは上方に変形、端子リード14ｅは
左に変形し、ＬＥＤ32が点灯しないため端子リード14
ａ、14ｅは不良と判定される。

【００３６】本発明のチェックゲージは、例えば、供試
コネクタを下限検出部に載置し押し付けたとき、変形量
が許容値を超している端子リードは全て下限基準面に当
接して対応するＬＥＤが点灯し、供試コネクタを上限検
出部に載置し押し付けたとき、変形量が許容値内にある
端子リードは全て上限基準面に当接して対応するＬＥＤ
が点灯するため、点灯したＬＥＤの位置または非点灯の
ＬＥＤの位置をチェックすることで、過度に変形した端
子リードを検出することが可能になり、端子リードの面
精度のチェック作業が簡素化されて高能率化し、しかも
個人等が含まれることなく精度の高いチェックデータが
得られる。

【００３７】即ち、精度が高く作業の簡素化と高能率化
が可能なコネクタのチェックゲージとチェック方法を実
現することができる。なお、上記ゲージ板は第２のケー
ブルを介し接地端子に接続された金属板に下限基準面と
上限基準面を形成しているが、例えば下限基準面と上限
基準面にのみ金属板を配設しその金属板を第２のケーブ
ルを介し接地端子に接続してもよい。

【００３８】

【発明の効果】上述の如く本発明によれば、精度が高く
作業の簡素化と高能率化が可能なコネクタのチェックゲ
ージとチェック方法を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明になるチェックゲージを示すブロック
図である。

【図２】 ゲージ本体の外観を示す斜視図である。

【図３】 ゲージ板の構造を示す斜視図である。

【図４】 端子リードの下方変形チェック方法を示す模
式図である。

【図５】 端子リードの上方変形チェック方法を示す模
式図である。

【図６】 供試コネクタの形状を示す斜視図である。

【図７】 従来のチェックゲージを示す斜視図である。

【符号の説明】

１ 供試コネクタ ３ ゲージ本体 ４ ハーネス ５ ゲージ板 11 絶縁体 12 コンタクト 13 突起 14 端子リード 31 ケース 32 ＬＥＤ 33 接続コネクタ 34 接地端子 35 試験電源 41 結合コネクタ 42 第１のケーブル 43 接続コネクタ 51 第２のケーブル 52 下限検出部 53 上限検出部 54、56 ガイド孔 55 下限基準面 57 上限基準面 58 溝

フロントページの続き (72)発明者 井原 健一 東京都品川区東五反田２丁目３番５号 富 士通高見澤コンポーネント株式会社内

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ゲージ本体と、供試コネクタを該ゲージ
   本体に接続するハーネスと、チェックに際して該供試コ
   ネクタが載置されるゲージ板とを有し、 該ゲージ本体は、該供試コネクタが有する複数のコンタ
   クトに対応する複数の表示手段と、該表示手段のそれぞ
   れに電圧を印加可能な試験電源とを有し、 該ハーネスは、該供試コネクタを装着可能な結合コネク
   タと、該コンタクトを対応する該表示手段のそれぞれに
   接続する第１のケーブルとを有し、 該ゲージ板は、該ゲージ板自体を該試験電源に接続する
   第２のケーブルと、該供試コネクタが載置される面に形
   成された基準面とを有し、 該結合コネクタに装着された該供試コネクタを該ゲージ
   板に載置したとき、該コンタクトの一端に形成され同一
   平面に当接可能に成形された端子リードが該基準面に接
   触すると、該ハーネスを介して対応する該表示手段に電
   圧が印加されることを特徴とするコネクタのチェックゲ
   ージ。
2. 【請求項２】 前記表示手段は、ＬＥＤであることを特
   徴とする請求項１記載のコネクタのチェックゲージ。
3. 【請求項３】 前記ゲージ板は、前記端子リードの下方
   への変形を検出する下限検出部と、該端子リードの上方
   への変形を検出する上限検出部とを有し、 該下限検出部には、該端子リードの下方への変形量が許
   容値を超えたときのみ当接する基準面が、該上限検出部
   には、該端子リードの上方への変形量が許容値内にある
   ときのみ当接する基準面が、それぞれ形成されているこ
   とを特徴とする請求項１記載のコネクタのチェックゲー
   ジ。
4. 【請求項４】 前記供試コネクタは、絶縁体の下面に突
   出させた複数の位置決め用の突起を有し、前記ゲージ板
   は、該突起が嵌入可能な位置決め孔を有することを特徴
   とする請求項１記載のコネクタのチェックゲージ。
5. 【請求項５】 前記上限検出部は、前記端子リードのそ
   れぞれと対向する領域の両側に溝を有し、前記基準面
   が、該溝で挟まれた凸部の上面に形成されていることを
   特徴とする請求項３記載のコネクタのチェックゲージ。
6. 【請求項６】 請求項１および３記載のチェックゲージ
   を用い、供試コネクタを載置して端子リードの変形をチ
   ェックする方法であって、 結合コネクタに装着された該供試コネクタを、下限検出
   部に載置し押し付けたとき、作動したゲージ本体の表示
   手段に対応するコンタクトの端子リードが下方に変形し
   ていると判定し、 該結合コネクタに装着された該供試コネクタを、上限検
   出部に載置し押し付けたとき、不作動の該ゲージ本体の
   該表示手段に対応するコンタクトの端子リードが、上方
   に変形していると判定することを特徴とするコネクタの
   チェック方法。