JPH11163054A - 半導体装置の構造及びその製造方法 - Google Patents

半導体装置の構造及びその製造方法

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JPH11163054A
JPH11163054A JP32130397A JP32130397A JPH11163054A JP H11163054 A JPH11163054 A JP H11163054A JP 32130397 A JP32130397 A JP 32130397A JP 32130397 A JP32130397 A JP 32130397A JP H11163054 A JPH11163054 A JP H11163054A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 裏面に半田バンプ9の複数個をマトリックス
状に並べて設けた基板の表面に、ICチップ3を、その
各電極パッド4が前記各半田バンプ9に電気的に接続す
るように重ね合わせ接合して成るエリアアレイパッケー
ジ型の半導体装置において、その小型・軽量化を図ると
共に、低コスト化を図る。 【手段】 前記基板としてポリイミドフィルム1を使用
して、このポリイミドフィルム1に対して前記ICチッ
プ3を、導電粒子を混合した接着フィルム2にて接合す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、裏面に半田バンプ
の複数個をマトリックス状に並べて設けた基板の表面
に、ICチップを、その各電極パッドが前記各半田バン
プに電気的に接続するように重ね合わせ接合して成るエ
リアアレイパッケージ型の半導体装置において、その構
造と、その製造方法とに関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、この種のエリアアレイパッケー
ジ型半導体装置は、多ピン化の微細配線に適合するよう
に開発されたもので、従来は、その基板としてガラスエ
ポキシ樹脂板(ガラスの繊維をエポキシ樹脂で板状に固
めたもの)を使用し、この基板の下面に、外部接続用半
田パンプの複数個をマトリックス状に並べて設ける一
方、前記基板の上面に、前記基板の上面に搭載するIC
チップの周囲に設けられている各電極パッドに対応する
接続用電極及び前記各外部接続用半田パンプに電気的に
導通する端子用電極並びにこれら各接続用電極と各端子
用電極との相互間をで電気的に接続する配線パターンを
銅等の金属箔にて形成し、そして、前記基板の上面に、
前記ICチップを、当該ICチップにおける各電極パッ
ドの各々が基板における接続用電極の各々に電気的に接
続するようにして搭載すると言う構成にしている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、この従来にお
けるエリアアレイパッケージ型半導体装置は、ICチッ
プを搭載する基板として、ガラスエポキシ樹脂板を使用
をしていることにより、この基板の厚さが相当に厚いか
ら、基板の下面からICチップの上面までの高さが可成
り高くなり、エリアアレイパッケージ型半導体装置が大
型化するばかりか、重量が増大することに加えて、ガラ
スエポキシ樹脂板とICチップとの間における熱膨張差
が大きいから、この大きい熱膨張差のためのICチップ
の基板に対する接合が外れたり、ICチップに歪み及び
割れが発生するおそれが大きいと言う問題があった。
【0004】ところで、前記基板の裏面に対して複数個
の外部接続用半田バンプの複数個を、基板裏面から突出
する形態にして設けるに際しては、基板のうち、当該基
板の上面に形成した各端子用電極の箇所に貫通孔を穿設
し、この貫通孔内に、半田ポールを、当該半田ボールの
一部が前記端子用電極に接触するか又は極く近接し他の
部分が基板の裏面から突出するように、半田接合用フラ
ックスと一緒に挿入したのち、半田ボールを溶かす温度
まで加熱して、半田ボールの一部を前記端子用電極に対
して半田付けすることによって設けるものである。
【0005】この場合において、前記各外部接続用半田
バンプにおける基板の裏面からの高さは、プリント基板
等の別の部品に対する電気的接続の確実性、及び、容易
性を高めることのために出来るだけ高くすることが必要
であるが、前記基板が、ガラスエポキシ樹脂板製でその
厚さが厚いときにおいて、、半田パンプの突出高さを高
くする状態のもとで基板の上面における端子用電極に接
触するか又は極く近接するためには、基板に穿設の貫通
孔内に挿入する半田ポールの直径、及びこの半田ボール
が嵌まる貫通孔の内径を、基板の厚さが厚い分だけ大き
くしなければならない。
【0006】つまり、従来のように、基板を、厚さの厚
いガラスエポキシ樹脂板にした場合には、基板の裏面に
マトリックス状に並べて設けられる各外部接続用半田バ
ンプの直径が大きくなることにより、各外部接続用半田
バンプ相互間の間隔を広くしなければならないから、多
ピン化の微細配線に対して充分に対応することができな
いばかりか、半田の使用量が多くなって重量が更にアッ
プすると言う問題があった。
【0007】これに加えて、従来におけるエリアアレイ
パッケージ型半導体装置は、ICチップにおける各電極
パッド及び基板における各接続用電極のうちいずれか一
方又は両方に、金バンプを設けて、この金バンプの圧着
により、ICチップと基板とを接合するようにしている
が、ICチップと基板との接合を、前記金バンプの圧着
のみに依存することができず、前記圧着したあとにおい
て、ICチップと基板との間に合成樹脂を充填するよう
にしなければならないことに加えて、前記金バンプの圧
着に大きい押圧力を必要とし、ICチップに欠け又は割
れが発生するおそれが大きく不良品の発生率が高いか
ら、コストが可成りをアップすると言う問題もあった。
【0008】本発明は、これらの問題を解消した半導体
装置の構造とその製造方法とを提供することを技術的課
題とするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】この技術的課題を達成す
るため本発明は、「フレキシブルなポリイミドフィルム
と、ICチップとから成り、前記ポリイミドフィルムの
裏面に、外部接続用半田バンプの複数個をマトリックス
状に並べて設ける一方、前記ポリイミドフィルムの表面
に、前記ICチップにおける各電極パッドに対応する接
続用電極及び前記各半田パンプに導通する端子用電極並
びにこれら各接続用電極と各端子用電極との相互間を電
気的に接続する配線パターンとを形成し、更に、前記ポ
リイミドフィルムの表面に、前記ICチップを、当該I
Cチップにおける各電極パッドをポリイミドフィルムに
おける各接続用電極の各々にで電気的に接続するように
重ね合わせ接合する。」と言う構成にした。
【0010】また、本発明の製造方法は、「フレキシブ
ルなポリイミドフィルムと、片面に回路素子を形成する
と共に回路素子に対する複数個の電極パッドを突出して
設けて成るICチップとから成り、前記ポリイミドフィ
ルムの表面に、マトリックス状に並べた複数の端子用電
極及び前記ICチップにおける各電極パッドに対応する
複数個の接続用電極並びに各端子用電極と各接続用電極
との相互間を接続する配線パターンを形成する工程と、
前記ポリイミドフィルムのうち前記各端子用電極の箇所
に貫通孔を穿設する工程と、前記各貫通孔内にポリイミ
ドフィルムの裏面側から挿入した半田ボールを前記端子
用電極に半田付けして前記ポリイミドフィルムの裏面に
複数個の半田バンプをマトリックス状に並べて形成する
工程と、前記ポリイミドフィルムの表面に前記ICチッ
プをその間に導電粒子混入の接着フィルムを挟んで重ね
合わせる工程と、前記ポリイミドフィルムとICチップ
とをその間における接着フィルムのうちICチップにお
ける各電極パッドの部分を圧縮変形するように互いに押
圧しこの押圧状態で前記接着フィルムを乾燥・硬化する
工程とから成ることを特徴とする。」ものである。
【0011】
【発明の作用・効果】このように、本発明は、エリアア
レイパッケージ型半導体装置において、その基板にポリ
イミドフィルムを使用するものであることにより、その
厚さが、従来のガラスエポキシ樹脂板に比べて遙かに薄
いから、全体の高さが可成り低くなり、エリアアレイパ
ッケージ型半導体装置を大幅に小型化できるばかりか、
大幅に軽量化できるのであり、しかも、前記ポリイミド
フィルムは、その厚さが薄くて、且つ、フレキシブルで
あることにより、このポリイミドフィルムにおける熱膨
張が、ICチップに及ぶをことを僅少にできるから、熱
膨張のために、ICチップの基板に対する接合が外れた
り、ICチップに歪み及び割れが発生したりすることを
確実に低減できるのである。
【0012】また、前記ポリイミドフィルムの表面に、
前記ICチップを、その間に介挿した導電粒子混入の接
着フィルムにて、当該接着フィルムのうち前記ICチッ
プにおける各電極パッドの部分を圧縮変形するように重
ね合わせ接合することにより、ポリイミドフィルムとI
Cチップとを、その間に介挿した接着フィルムにて互い
に強固に接合できると同時に、前記接着フィルムのうち
ICチップにおける各電極パッドの部分が圧縮変形する
ことで、この部分における各導電粒子が、ICチップに
おける各電極パッド及びポリイミドフィルムにおける接
続用電極に対して接触すると共に各導電粒子が互いに接
触することになり、ポリイミドフィルムにおける各半田
バンプとICチップにおける各電極パッドとを互いに確
実に電気的に接続することができるのであり、このため
に、その間の接合に従来のように金バンプを使用すると
言う従来のように、ICチップと基板との間に合成樹脂
を充填することを必要としないばかりか、ICチップに
欠け又は割れが発生するおそれが小さくて不良品の発生
率が低いから、コストを大幅に低減できるのである。
【0013】更にまた、前記ポリイミドフィルムの厚さ
が従来のガラスエポキシ樹脂板に比べて遙かに薄いこと
により、半田バンプの形成に際して、ポリイミドフィル
ムに穿設する貫通孔の内径、及び、この貫通孔内にポリ
イミドフィルムの表面における端子用電極に接触するか
又は接近するように挿入する半田ボールの直径を、前記
ポリイミドフィルムの厚さが薄い分だけ小さくすること
ができる。
【0014】その結果、各半田バンプに所定の突出高さ
を確保した状態のもとで、各半田バンプの直径を小さく
て、各半田バンプ相互間の間隔を狭くできるから、多ピ
ン化の微細配線に対して充分に対応することができると
共に、半田の使用量が少なくなってより軽量化できるの
である。特に、前記ポリイミドフィルムに穿設する貫通
孔を、その内径がポリイミドフィルムの裏面において大
きくなる形状にすることにより、貫通孔の内径を大きく
することなく、半田ボールの直径をより大きくすること
ができるから、各半田バンプにおける高さをより高くす
ることができるのである。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
1〜図6の図面について説明する。この図において符号
1は、フレキシブルなポリイミドフィルムを、符号2
は、導電粒子を混入した接着フィルムを、そして、符号
3は、少なくとも片面に各種の回路素子(図示せず)複
数個と、これら各回路素子に対して接続する複数個の電
極パッド4を設けて成るICチップを各々示す。
【0016】前記ポリイミドフィルム1には、複数個の
貫通孔5が縦及び横方向に同じピッチPの間隔でマトリ
ックス状に並べて穿設されており、また、このポリイミ
ドフィルム1の表面のうち前記各貫通孔5の箇所の各々
には端子用電極6が、前記ICチップ3における各電極
パッドに対応する箇所の各々には接続用電極7が、そし
て、これら各端子用電極6と各接続用電極7との相互間
を互いに電気的に接続するための配線パターン(図示せ
ず)が、銅等の金属箔にて形成されている。また、前記
ポリイミドフィルム1の表面には、合成樹脂による保持
膜10が、前記各端子用電極6及び配線パターンを覆う
ように形成されている。
【0017】なお、前記ポリイミドフィルムの表面にお
ける各端子用電極6及び各接続用電極7、並びにこれら
の相互間を接続する配線パターンは、前記ポリイミドフ
ィルム1の表面に形成した銅等の金属箔を、従来から良
く知られているように、フォトエッチングすることによ
って形成される。また、前記ポリイミドフィルム1にお
ける貫通孔5は、ポリイミドフィルムを、従来から良く
知られているように、フォトエッチングすることによっ
て形成するものであるが、このフォトエッチングによる
貫通孔5の穿設により、この貫通孔5を、図示したよう
に、その内径がポリイミドフィルム1における裏面側に
おいて大きくなる形状にすることができる。
【0018】そして、前記ポリイミドフィルム1におけ
る各貫通孔5内に、図3に示すように、半田ボール8
を、図示しない半田フラックスと一緒に、当該半田ボー
ル8の一部がポリイミドフィルム1の表面における端子
用電極6に接触するか、又はこれに近接するように挿入
したのち、この各半田ボール8を溶かす温度まで加熱し
て、各半田ボール8の一部を前記端子用電極6に対して
半田付けすることにより、前記ポリイミドフィルム1の
裏面に、図4に示すように、前記各半田ボール8による
半田バンプ9の複数個を、縦及び横方向に同じピッチP
の間隔でマトリックス状に並べて設けることができるの
である。
【0019】この場合において、前記ポリイミドフィル
ム1は、その厚さが従来のガラスエポキシ樹脂板に比べ
て遙かに薄いことにより、このポリイミドフィルム1に
穿設する貫通孔5の内径、及び、この貫通孔5内にポリ
イミドフィルム1の表面における端子用電極6に接触す
るか又は接近するように挿入する半田ボール8の直径
を、前記ポリイミドフィルム1の厚さが薄い分だけ小さ
くすることができるから、各半田バンプ9に所定の突出
高さを確保した状態のともで、各半田バンプ9の直径を
小さくて、各半田バンプ9相互間の間隔Pを狭くするこ
とができるのである。
【0020】また、前記ポリイミドフィルム1に穿設す
る各貫通孔5を、図示したように、その内径がポリイミ
ドフィルム1における裏面側において大きくなる形状に
することにより、貫通孔5の内径を大きくすることな
く、半田ボール8の直径をより大きくすることができる
から、前記半田ポール8による各半田バンプ9における
高さをより高くすることができるのである。
【0021】そして、前記ポリイミドフィルム1の表面
に、前記ICチップ3を、その電極パッド4を下向きに
て、且つ、その間に前記接着フィルム2を挟んで重ね合
わせたのち、ポリイミドフィルム1とICチップ3と
を、その間に介挿した接着フィルム2を圧縮するように
互いに押圧する。この場合において、前記ICチップ3
における各電極パッド4を突出した形態にするか、或い
は、ポリイミドフィルム1における各接続用電極7を突
出した形態にするか、若しくは、ICチップ3における
各電極パッド4及びポリイミドフィルム1における各接
続用電極7の両方を突出した形態にすることにより、前
記接着フィルム2のうちICチップ3における各電極パ
ッド4の部分を部分的に圧縮変形するようにし、この押
圧状態を保持したままで、加熱等により前記接着フィル
ム2を乾燥・硬化するのである。
【0022】これにより、ポリイミドフィルム1とIC
チップ3とを、図5及び図6に示すように、その間に介
挿した接着フィルム2にてて互いに強固に接合できると
同時に、前記接着フィルム2のうちICチップ3におけ
る各電極パッド4の部分が部分的に圧縮変形すること
で、この部分における各導電粒子が、ICチップ3にお
ける各電極パッド4及びポリイミドフィルム1における
接続用電極7に対して接触すると共に各導電粒子が互い
に接触することになるから、ポリイミドフィルム1にお
ける各半田バンプ9とICチップ3における各電極パッ
ド4とを互いに確実に電気的に接続することができるの
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態を示す分解した状態の斜視
図である。
【図2】図1の要部における拡大縦断正面図である。
【図3】ポリイミドフィルムにおける貫通孔内に半田ボ
ールを挿入した状態を示す拡大断面図である。
【図4】ポリイミドフィルムにおける貫通孔内に半田ボ
ールを挿入して半田バンプを形成した状態を示す拡大断
面図である。
【図5】本発明による半導体装置を示す斜視図である。
【図6】図5の要部における拡大縦断正面図である。
【符号の説明】
1 ポリイミドフィルム 2 接着フィルム 3 ICチップ 4 電極パッド 5 貫通孔 6 端子用電極 7 接続用電極 8 半田ボール 9 半田バンプ 10 保護膜

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】フレキシブルなポリイミドフィルムと、I
    Cチップとから成り、前記ポリイミドフィルムの裏面
    に、外部接続用半田バンプの複数個をマトリックス状に
    並べて設ける一方、前記ポリイミドフィルムの表面に、
    前記ICチップにおける各電極パッドに対応する接続用
    電極及び前記各半田パンプに導通する端子用電極並びに
    これら各接続用電極と各端子用電極との相互間を電気的
    に接続する配線パターンとを形成し、更に、前記ポリイ
    ミドフィルムの表面に、前記ICチップを、当該ICチ
    ップにおける各電極パッドをポリイミドフィルムにおけ
    る各接続用電極の各々に電気的に接続するように重ね合
    わせ接合したことを特徴とする半導体装置の構造。
  2. 【請求項2】フレキシブルなポリイミドフィルムと、I
    Cチップとから成り、前記ポリイミドフィルムの裏面
    に、外部接続用半田バンプの複数個をマトリックス状に
    並べて設ける一方、前記ポリイミドフィルムの表面に、
    前記ICチップにおける各電極パッドに対応する接続用
    電極及び前記各半田パンプに導通する端子用電極並びに
    これら各接続用電極と各端子用電極との相互間を電気的
    に接続する配線パターンとを形成し、更に、前記ポリイ
    ミドフィルムの表面に、前記ICチップを、その間に介
    挿した導電粒子混入の接着フィルムにて、当該接着フィ
    ルムのうち前記ICチップにおける各電極パッドの部分
    を圧縮変形するように重ね合わせ接合したことを特徴と
    する半導体装置の構造。
  3. 【請求項3】フレキシブルなポリイミドフィルムと、片
    面に回路素子を形成すると共に回路素子に対する複数個
    の電極パッドを突出して設けて成るICチップとから成
    り、前記ポリイミドフィルムの表面に、マトリックス状
    に並べた複数の端子用電極及び前記ICチップにおける
    各電極パッドに対応する複数個の接続用電極並びに各端
    子用電極と各接続用電極との相互間を接続する配線パタ
    ーンを形成する工程と、前記ポリイミドフィルムのうち
    前記各端子用電極の箇所に貫通孔を穿設する工程と、前
    記各貫通孔内にポリイミドフィルムの裏面側から挿入し
    た半田ボールを前記端子用電極に半田付けして前記ポリ
    イミドフィルムの裏面に複数個の半田バンプをマトリッ
    クス状に並べて形成する工程と、前記ポリイミドフィル
    ムの表面に前記ICチップをその間に導電粒子混入の接
    着フィルムを挟んで重ね合わせる工程と、前記ポリイミ
    ドフィルムとICチップとをその間における接着フィル
    ムのうちICチップにおける各電極パッドの部分を圧縮
    変形するように互いに押圧しこの押圧状態で前記接着フ
    ィルムを乾燥・硬化する工程とから成ることを特徴とす
    る半導体装置の製造方法。
  4. 【請求項4】前記「請求項3」において、前記ポリイミ
    ドフィルムに貫通孔を穿設する工程が、貫通孔をその内
    径がポリイミドフィルムの裏面において大きくなる形状
    にして穿設する工程であることを特徴とする半導体装置
    の製造方法。
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