JPH11160879A - 薄膜電極の形成法 - Google Patents

薄膜電極の形成法

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JPH11160879A
JPH11160879A JP9338098A JP33809897A JPH11160879A JP H11160879 A JPH11160879 A JP H11160879A JP 9338098 A JP9338098 A JP 9338098A JP 33809897 A JP33809897 A JP 33809897A JP H11160879 A JPH11160879 A JP H11160879A
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JP
Japan
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meth
photosensitive resin
acrylate
thin film
resin composition
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Application number
JP9338098A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Nakajima
寛幸 中島
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Nippon Synthetic Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Nippon Synthetic Chemical Industry Co Ltd
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  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ガラス基材との密着性に富み、特に現像時及
び蒸着(減圧下)時の密着性に富み、アルカリによる現
像剥離性にも優れて、プラズマディスプレイパネル等の
大形ガラス基材上に電極を形成するのに有用な薄膜電極
の形成法を提供すること。 【解決手段】 ベースポリマー(A)、エチレン性不飽
和化合物(B)、光重合開始剤(C)及びシラン系化合
物(D)を含有し、かつエチレン性不飽和化合物(B)
として少なくともポリエチレングリコールジ(メタ)ア
クリレートを含んだ感光性樹脂組成物層を基板上に設け
た後に露光し、現像により電極形成部となる微細パター
ン部の感光性樹脂組成物を除去し、次いでその上に導電
性物質の薄膜を形成し、その後に基板上に残存する感光
性樹脂組成物層を剥離する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プラズマディスプ
レイパネル(PDP)等の基材上に薄膜電極のパターン
形成を行うときに有用な薄膜電極の形成法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、PDP等の表示パネルのガラ
ス基材上の電極形成法としては、一面に形成された導電
性薄膜の一部を感光性樹脂組成物のマスキングで保護
し、酸性溶液などでエッチングし、最後に感光性樹脂組
成物を剥離することで電極を形成するエッチング法、あ
るいは導電性ペーストを版目を通して印刷し、焼成など
で焼き付ける印刷法などが行われてきた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
エッチング法では、使用するエッチング処理液が強酸性
を示す場合が多く、この処理液に耐えうる感光性樹脂組
成物の設計が非常に困難であり、薄膜電極への性能要求
が増すごとにエッチングによる形成がより困難となって
きており、また、印刷法では、大画面に対応したスクリ
ーン版を作ることや更には高精細化することは困難であ
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明者は、か
かる課題について鋭意研究をした結果、ベースポリマー
(A)、エチレン性不飽和化合物(B)、光重合開始剤
(C)及びシラン系化合物(D)を含有し、かつエチレ
ン性不飽和化合物(B)として少なくともポリエチレン
グリコールジ(メタ)アクリレートを含む感光性樹脂組
成物層を用いて、薄膜電極を形成すると、該感光性樹脂
組成物がガラス基材との密着性に優れ、かつアルカリ現
像時の剥離性にも優れ、更には減圧雰囲気下の密着性に
も優れるため、精度や形状に優れた薄膜電極を形成する
ことができることを見いだし、本発明を完成するに至っ
た。
【0005】
【発明の実施の形態】以下に、本発明を詳細に述べる。
本発明に用いられる感光性樹脂組成物層のベースポリマ
ー(A)としては、アクリル系樹脂、ポリエステル系樹
脂、ポリウレタン系樹脂などが用いられる。これらの中
では、(メタ)アクリレートを主成分とし、必要に応じ
てエチレン性不飽和カルボン酸や他の共重合可能なモノ
マーを共重合したアクリル系共重合体が重要である。ア
セトアセチル基含有アクリル系共重合体を用いることも
できる。ここで(メタ)アクリル酸エステルとしては、
メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレ
ート、プロピル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)
アクリレート、ヘキシル(メタ)アクリレート、2−エ
チルヘキシル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル
(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレー
ト、ジメチルアミノエチル(メタ)アクリレート、ヒド
ロキシエチル(メタ)アクリレート、ヒドロキシプロピ
ル(メタ)アクリレート、グリシジル(メタ)アクリレ
ートなどが例示される。
【0006】エチレン性不飽和カルボン酸としては、ア
クリル酸、メタクリル酸、クロトン酸などのモノカルボ
ン酸が好適に用いられ、そのほか、マレイン酸、フマー
ル酸、イタコン酸などのジカルボン酸、あるいはそれら
の無水物やハーフエステルも用いることができる。これ
らの中では、アクリル酸とメタクリル酸が特に好まし
い。
【0007】稀アルカリ現像型とするときは、エチレン
性不飽和カルボン酸を15〜30重量%程度(酸価で1
00〜200mgKOH/g程度)共重合することが必要
である。他の共重合可能モノマーとしては、アクリルア
ミド、メタクリルアミド、アクリロニトリル、メタクリ
ロニトリル、スチレン、α−メチルスチレン、酢酸ビニ
ル、アルキルビニルエーテルなどが例示できる。
【0008】本発明では、エチレン性不飽和化合物
(B)として、少なくともポリエチレングリコールジ
(メタ)アクリレートを用いることを特徴とするもの
で、具体的にはテトラエチレングリコールジ(メタ)ア
クリレート等を挙げることができ、テトラエチレングリ
コールジ(メタ)アクリレートが好適に用いられる。ま
た、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート以
外のエチレン性不飽和化合物(B)としては、エチレン
グリコールジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコ
ールジ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコー
ルジ(メタ)アクリレート、プロピレングリコールジ
(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ
(メタ)アクリレート、ブチレングリコールジ(メタ)
アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アク
リレート、1,6−ヘキサングリコールジ(メタ)アク
リレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリ
レート、グリセリンジ(メタ)アクリレート、ペンタエ
リスリトールジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリ
トールトリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリト
ールペンタ(メタ)アクリレート、2,2−ビス(4−
(メタ)アクリロキシジエトキシフェニル)プロパン、
2,2−ビス−(4−(メタ)アクリロキシポリエトキ
シフェニル)プロパン、2−ヒドロキシ−3−(メタ)
アクリロイルオキシプロピル(メタ)アクリレート、エ
チレングリコールジグリシジルエーテルジ(メタ)アク
リレート、ジエチレングリコールジグリシジルエーテル
ジ(メタ)アクリレート、フタル酸ジグリシジルエステ
ルジ(メタ)アクリレート、グルセリントリアクリレー
ト、グリセリンポリグリシジルエーテルポリ(メタ)ア
クリレートなどの多官能モノマーが挙げられ、特にグル
セリントリアクリレート等の3官能モノマーとの併用が
好ましく、また、これらの多官能モノマーと共に、単官
能モノマーを適当量併用することもでき、かかる単官能
モノマーの例としては、2−ヒドロキシエチル(メタ)
アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリ
レート、2−ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート、
2−フェノキシ−2−ヒドロキシプロピル(メタ)アク
リレート、2−(メタ)アクリロイルオキシ−2−ヒド
ロキシプロピルフタレート、3−クロロ−2−ヒドロキ
シプロピル(メタ)アクリレート、グリセリンモノ(メ
タ)アクリレート、2−(メタ)アクリロイルオキシエ
チルアシッドホスフェート、フタル酸誘導体のハーフ
(メタ)アクリレート、N−メチロール(メタ)アクリ
ルアミドなどが挙げられる。
【0009】エチレン性不飽和化合物(B)中のポリエ
チレングリコールジ(メタ)アクリレートの含有量は、
50〜100重量%が好ましく、更には90〜100重
量%で、かかる含有量が50重量%未満ではレジストの
密着性が低下して好ましくない。また、ポリエチレング
リコールジ(メタ)アクリレートの含有量は、ベースポ
リマー(A)100重量部に対して、10〜100重量
部であることが好ましく、更には50〜100重量部
で、かかる含有量が50重量部未満ではレジストの密着
性が低下し、逆に100重量部を越えるとコールドフロ
ーの原因となって好ましくない。
【0010】ベースポリマー(A)100重量部に対す
るポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート以外
のエチレン性不飽和化合物(B)の配合割合は、10〜
200重量部、特に40〜100重量部の範囲から選ぶ
ことが望ましい。エチレン性不飽和化合物(B)の過少
は硬化不良、可撓性の低下、現像速度の遅延を招き、エ
チレン性不飽和化合物(B)の過多は粘着性の増大、コ
ールドフロー、硬化レジストの剥離速度低下を招く。
【0011】更に、感光性樹脂組成物層に用いられる光
重合開始剤(C)としては、ベンゾイン、ベンゾインメ
チルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾイン
イソプロピルエーテル、ベンゾインn−ブチルエーテ
ル、ベンゾインフェニルエーテル、ベンジルジフェニル
ジスルフィド、ベンジルジメチルケタール、ジベンジ
ル、ジアセチル、アントラキノン、ナフトキノン、3,
3’−ジメチル−4−メトキシベンゾフェノン、ベンゾ
フェノン、4,4’−ビス(ジメチルアミノ)ベンゾフ
ェノン、4,4’−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェ
ノン、4,4’−ジエチルアミノベンゾフェノン、ピバ
ロインエチルエーテル、1,1−ジクロロアセトフェノ
ン、p−t−ブチルジクロロアセトフェノン、ヘキサア
リールイミダゾール二量体、2,2’−ビス(o−クロ
ロフェニル)4,5,4’,5’−テトラフェニル−
1,2’−ビイミダゾール、2−クロロチオキサント
ン、2−メチルチオキサントン、2,4−ジエチルチオ
キサントン、2,2’−ジエトキシアセトフェノン、
2,2’−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン、
2,2’−ジクロロ−4−フェノキシアセトフェノン、
フェニルグリオキシレート、α−ヒドロキシイソブチル
フェノン、ジベゾスパロン、1−(4−イソプロピルフ
ェニル)−2−ヒドロキシ−2−メチル−1−プロパノ
ン、2−メチル−[4−(メチルチオ)フェニル]−2
−モルフォリノ−1−プロパノン、トリブロモフェニル
スルホン、トリブロモメチルフェニルスルホンなどが挙
げられ、これらの1種または2種以上が用いられる。光
重合開始剤(C)の含有量は、ベースポリマー(A)と
エチレン性不飽和化合物(B)との合計量100重量部
に対して、1〜20重量部程度とするのが適当である。
【0012】本発明においては、上記の感光性樹脂組成
物層にシラン系化合物(D)を含有させることを特徴と
するもので、シラン系化合物(D)としては、γ−グリ
シドキシプロピルトリメトキシシラン、β−(3,4エ
ポキシシクロヘキシ)−エチルトリメトキシシラン、β
−(3,4エポキシシクロヘキシ)−エチルトリエトキ
シシラン等のエポキシシラン、N−β(アミノエチル)
γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−フェニル
−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン等のアミノシ
ラン、γ−クロロプロピルトリメトキシシラン等のクロ
ロプロピルシラン、γ−メタクリロキシプロピルトリメ
トキシシラン等のメタクリロシランなどが挙げられる
が、エポキシシラン、アミノシラン、クロロプロピルシ
ランのいずれか1種以上を用いることが好ましい。シラ
ン系化合物(D)の含有量としては、感光性樹脂組成物
中に0.01〜1重量%とすることが好ましく、更には
0.1〜0.3重量%とすることが好ましい。シラン系
化合物(D)の含有量が0.01重量%未満では、レジ
ストの密着性が低下し、逆に1重量%を越えるとガラス
面で剥離現象が見られて好ましくない。シラン系化合物
(D)を含有させる方法としては、特に限定されず公知
の方法、例えば上記の(A)〜(C)の樹脂組成物に所
定量のシラン系化合物(D)を添加して、十分混合撹拌
する方法等がある。
【0013】本発明に用いられる感光性樹脂組成物
(層)には、そのほか、染料(クリスタルバイオレッ
ト,マラカイトグリーン,マラカイトグリーンレイク,
ブリリアントグリーン,パテントブルー,メチルバイオ
レット,ビクトリアブルー,ローズアニリン,パラフク
シン,エチレンバイオレット等)、密着性付与剤、可塑
剤、酸化防止剤、熱重合禁止剤、溶剤、表面張力改質
材、安定剤、連鎖移動剤、消泡剤、難燃剤、などの添加
剤を適宜添加することができる。
【0014】本発明においては、上記の如き感光性樹脂
組成物層を用いて、基材上に薄膜電極を形成させること
も特徴とするものであり、かかる形成法について詳細に
説明する。かかる感光性樹脂組成物層は、基材上に該組
成物を直接塗布して形成しても良いが、あらかじめフォ
トレジストフィルムまたはドライフィルムレジスト(D
FR)に成形したものを用いることが好ましく、かかる
DFRを用いたPDP用基板の電極形成について具体的
に説明するが、本発明においては、これに限定されるも
のではない。
【0015】(成層方法)上記の感光性樹脂組成物は、
これをポリエステルフィルム、ポリプロピレンフィル
ム、ポリスチレンフィルムなどのベースフィルム面に塗
工した後、その塗工面の上からポリエチレンフィルム、
ポリビニルアルコール系フィルムなどの保護フィルムを
被覆してDFRとする。また、上記の感光性樹脂組成物
は、DFR以外にもディップコート法、フローコート
法、スクリーン印刷法等の常法により、加工すべき(ガ
ラス等の)基板上に直接塗工し、厚さ1〜150μmの
感光層を容易に形成することも、勿論可能で、かかる塗
工時には、メチルエチルケトン、メチルセロソルブアセ
テート、エチルセロソルブアセテート、シクロヘキサ
ン、メチルセルソルブ、塩化メチレン、1,1,1−ト
リクロルエタン等の溶剤を添加することもできる。
【0016】(露光)DFRによって画像を形成させる
にはベースフィルムと感光性樹脂組成物層との接着力及
び保護フィルムと感光性樹脂組成物層との接着力を比較
し、接着力の低い方のフィルムを剥離してから感光性樹
脂組成物層の側をガラス面に貼り付けた後、他方のフィ
ルム上にパターンマスク(電極形成部分が未露光部とな
る)を密着させて露光する。感光性樹脂組成物が粘着性
を有しないときは、前記他方のフィルムを剥離してから
パターンマスクを感光性樹脂組成物層に直接接触させて
露光することもできる。露光は通常紫外線照射により行
い、その際の光源としては、高圧水銀灯、超高圧水銀
灯、カーボンアーク灯、キセノン灯、メタルハライドラ
ンプ、ケミカルランプなどが用いられる。紫外線照射後
は、必要に応じ加熱を行って、硬化の完全を図ることも
できる。
【0017】(現像)露光後は、レジスト上のフィルム
を剥離除去してから現像を行う。本発明に用いられる感
光性樹脂組成物は稀アルカリ現像型であるので、露光後
の現像は、炭酸ソーダ、炭酸カリウムなどのアルカリ
0.5〜3重量%程度の稀薄水溶液を用いて行う。かか
る現像により、電極が形成される微細パターン部の感光
性樹脂組成物を除去するのである。 (導電薄膜形成)現像後、導電物質により薄膜を形成す
る。導電物質としては、ITO(酸化インジュウム
錫)、酸化錫、金、銀、ニッケル、銅等が挙げられ、か
かる導電物質を一般蒸着,スパッタリング,CVD(化
学蒸着)等の蒸着法、希釈液の吹き付け乾燥、ペースト
状の印刷などにより、100Å〜10μm程度の薄膜が
形成され、本発明では、特に減圧下で行われる蒸着法に
おいて有用である。 (薄膜形成後のレジスト剥離)導電薄膜形成後、残って
いる硬化レジストの剥離を行う。硬化レジストの剥離除
去は、水酸化ナトリウム、水酸化カリウムなどの0.5
〜10重量%程度の濃度のアルカリ水溶液からなるアル
カリ剥離液を用いて行う場合が多い。かかるレジスト剥
離により、(レジスト上の)不要部分の導電薄膜が除去
されて、目的とする電極(微細パターン)が形成される
のである。次いで、十分に水洗浄を行った後、乾燥され
る。
【0018】かくして、PDP用前面基板上に電極が形
成されて、その後、背面基材との間にガス封入後、接合
されてPDPとして実用に供されるのである。
【0019】
【実施例】以下、実施例を挙げて本発明を具体的に説明
する。なお、例中「部」とあるのは、断りのない限り重
量基準を意味する。 実施例1 (ドープの調整)下記のベースポリマー(A)55部、
下記のエチレン性不飽和化合物(B)30部、下記処方
の光重量開始剤(C)8部及び下記のシラン系化合物
(D)0.3部をを混合して感光性樹脂組成物を調製し
た。
【0020】ベースポリマー(A) メチルメタクリレート/n−ブチルメタクリレート/2
−エチルヘキシルアクリレート/スチレン/メタクリル
酸の共重合割合が重量基準で32/30/15/2/2
1である共重合体(酸価143.3、ガラス転移点6
6.3℃、重量平均分子量8万)エチレン性不飽和化合物(B) テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート光重合開始剤(C) ベンゾフェノン/4,4’−ジエチルアミノベンゾフェ
ノン/2,2−ビス(o−クロロフェニル)4,5,
4’,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾー
ルの重量比8/0.15/1の混合物シラン系化合物(D) γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン
【0021】(ドライフィルムの作製)上記のドープ
を、ギャップ3ミルのアプリケーターを用いて厚さ20
μmのポリエステルフイルム上に塗工し、室温で1分3
0秒放置した後、60℃、90℃、110℃のオーブン
でそれぞれ3分間ずつ乾燥して、レジスト厚20μmの
ドライフイルムとなした(ただし保護フイルムは設けて
いない)。 (PDPガラス基板へのラミネート)このドライフイル
ムを、オーブンで60℃に予熱したガラス基材(200
mm×200mm×2mm)上に、ラミネートロール温
度100℃、同ロール圧3kg/cm2、ラミネート速
度1.5m/secにてラミネートした。 (露光,現像)ラミネート後、基板全面にL/S(ライ
ン/スペース)=100μm/100μmになるように
ラインパターンをポリエステルフイルム上に置いて、オ
ーク製作所製の露光機HMW−532Dにて3kw超高
圧水銀灯で100mjに露光した。露光後15分間のホ
ールドタイムを取った後、1%Na2CO3水溶液、30
℃で、最少現像時間の1.5倍の時間で現像し、その
後、水洗・乾燥を行って、L/S=100μm/100
μmのレジスト層のパターンを形成させた。 (導電薄膜の蒸着形成・レジストの剥離)上記のパター
ンを載せた基板の上に、薄膜製造装置(減圧下)によ
り、膜厚2000Å、面抵抗値30Ω/□のITO膜を
蒸着形成した。次に、50℃に加温した3%NaOH水
溶液を60秒間シャワーリングすることで硬化レジスト
を剥離し、パターン(L/S=100μm/100μ
m)のITO透明電極(厚さ2000Å)を、PDP用
基板上に形成した。
【0022】上記のITOパターンの作製工程におい
て、以下の評価を行った。 [現像時のレジスト密着性]上記の現像工程において、
別途、最少現像時間の3倍の時間で現像した場合のレジ
ストの密着性を目視観察して、以下の通り評価した。 ◎ −−− レジストに浮きが全く認められない ○ −−− レジストの先端部に浮きが認められる × −−− 全体的にレジストの浮きが認められる [蒸着時のレジスト密着性]上記の導電薄膜の(減圧
下)蒸着形成工程において、レジストの密着性を下記の
ように評価した。 ◎ −−− レジストに浮きが全く認められない ○ −−− レジストの先端部に浮きが認められる × −−− 全体的にレジストの浮きが認められる [剥離性]上記のレジスト剥離工程において、該ライン
状のレジストの剥離状態を目視観察して、以下の通り評
価した。 ◎ −−− レジストが分散(細分化)して剥離 ○ −−− レジストが2分割して剥離 × −−− レジストがライン状で剥離
【0023】実施例2 実施例1において、感光性樹脂組成物中のシラン系化合
物(D)を0.1部とした以外は同様に電極形成を行っ
て、同様に評価を行った。 実施例3 実施例1において、感光性樹脂組成物中のエチレン性不
飽和化合物(B)をテトラエチレングリコールジ(メ
タ)アクリレート/グリセリントリアクリレート=25
/10(重量比)の混合物とした以外は同様に電極形成
を行って、同様に評価を行った。
【0024】比較例1 実施例1において、感光性樹脂組成物中のテトラエチレ
ングリコールジ(メタ)アクリレートに替えてトリメチ
ロールプロパントリアクリレートを用いた以外は同様に
電極形成を行って、同様に評価を行った。 比較例2 実施例1において、感光性樹脂組成物中のシラン系化合
物(D)を無添加とした以外は同様に電極形成を行っ
て、同様に評価を行った。実施例及び比較例の評価結果
を表1に示す。
【0025】
【表1】 レジスト密着性I レジスト密着性II 剥離性 実施例1 ◎ ◎ ○ 〃 2 ◎ ◎ ○ 〃 3 ◎ ◎ ◎ 比較例1 × × × 〃 2 × × × 注)レジスト密着性Iは、現像時のレジスト密着性を、レジスト密着性IIは、 蒸着時のレジスト密着性をそれぞれ意味する。
【0026】
【発明の効果】本発明の薄膜電極の形成法は、特定の感
光性樹脂組成物を用いているため、ガラス基材との密着
性、特に現像時及び蒸着(減圧下)時の密着性に富み、
アルカリによる現像剥離性にも優れており、PDP等の
大形ガラス基材上の薄膜電極形成に大変有用である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01J 17/04 H01J 17/04

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ベースポリマー(A)、エチレン性不飽
    和化合物(B)、光重合開始剤(C)及びシラン系化合
    物(D)を含有し、かつエチレン性不飽和化合物(B)
    として少なくともポリエチレングリコールジ(メタ)ア
    クリレートを含む感光性樹脂組成物層を基板上に設けた
    後に露光し、現像により電極形成部となる微細パターン
    部の感光性樹脂組成物を除去し、次いでその上に導電性
    物質の薄膜を形成し、その後に基板上に残存する感光性
    樹脂組成物層を剥離することを特徴とする薄膜電極の形
    成法。
  2. 【請求項2】 シラン系化合物(D)が、エポキシシラ
    ン、アミノシラン、クロロプロピルシランのいずれか1
    種以上であることを特徴とする請求項1記載の薄膜電極
    の形成法。
  3. 【請求項3】 シラン系化合物(D)の含有量が、ベー
    スポリマー(A)及びエチレン性不飽和化合物(B)の
    総量100重量部に対して、0.1〜5重量部であるこ
    とを特徴とする請求項1または2記載の薄膜電極の形成
    法。
  4. 【請求項4】 エチレン性不飽和化合物(B)として,
    更にグリセリントリアクリレートを用いることを特徴と
    する請求項1〜3いずれか記載の感光性樹脂組成物。
  5. 【請求項5】 ポリエチレングリコールジ(メタ)アク
    リレートの含有量が、ベースポリマー(A)100重量
    部に対して、50〜100重量部であることを特徴とす
    る請求項1〜4いずれか記載の薄膜電極の形成法。
  6. 【請求項6】 ベースポリマー(A)100重量部に対
    するポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート以
    外のエチレン性不飽和化合物(B)の配合割合が、10
    〜200重量部であることを特徴とする請求項1〜5い
    ずれか記載の薄膜電極の形成法。
  7. 【請求項7】 感光性樹脂組成物層が感光性樹脂組成物
    をベースフィルムに積層してなるフォトレジストフィル
    ムであることを特徴とする請求項1〜6いずれか記載の
    薄膜電極の形成法。
  8. 【請求項8】 基材がプラズマディスプレイパネル形成
    用基材であることを特徴とする請求項1〜7いずれか記
    載の薄膜電極の形成法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2005347258A (ja) * 2004-06-01 2005-12-15 Dongjin Semichem Co Ltd PDPアドレス電極用無鉛Agペースト組成物及びPDPアドレス電極

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