JPH1115536A - 空気圧制御装置 - Google Patents

空気圧制御装置

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JPH1115536A
JPH1115536A JP9165497A JP16549797A JPH1115536A JP H1115536 A JPH1115536 A JP H1115536A JP 9165497 A JP9165497 A JP 9165497A JP 16549797 A JP16549797 A JP 16549797A JP H1115536 A JPH1115536 A JP H1115536A
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JP
Japan
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pressure
air
air pressure
intensifying
pulse
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JP9165497A
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English (en)
Inventor
Toru Inagaki
徹 稲垣
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Advantest Corp
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Advantest Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 小型の空気増圧手段が用いられ二次圧縮空気
の利用が断片的に使用される場合、利用圧縮空気側に空
気漏れがあっても、空気増圧手段の増圧弁の連続駆動を
防止し、寿命を長引かせる空気圧制御装置。 【解決手段】 一次圧縮空気を一の入力口に、空気増圧
手段で増圧した二次圧縮空気を他の入力口に結合した空
気圧切換手段24を、スイッチ群20iと論理和手段2
2と増圧パルス発生手段23とで生成された増圧要求パ
ルスで電磁弁で切り換え、利用圧縮空気を通常は一次圧
縮空気とし増圧要求パルスの存在時に二次圧縮空気とす
る構成。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、一次空気圧P1
を増圧させて二次空気圧P2による二次圧縮空気を利用
するための空気増圧手段の制御に関し、特に半導体試験
装置に使用される空気圧制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から空気圧を増圧させるために広く
空気増圧手段が使用されている。半導体試験装置にも使
用されている。この明細書では、半導体試験装置での空
気圧制御装置について記述するが、これに限ることなく
一般的に用いることができる発明である。
【0003】図3に従来の半導体試験装置における空気
増圧手段に関連する構成図を示す。半導体試験装置は、
主として、半導体試験装置本体1とテストヘッド(以下
「TH」と云う)3i(i=1〜2)とから構成され、
TH3iにはピンエレクトロニクス回路から成る多数の
ピンカードが内蔵されている。この多数のピンカードと
半導体試験装置本体1の電子回路部門2との間は伝送ケ
ーブル9で接続され、相互に信号が授受されている。T
H3iは半導体試験装置本体1に通常は2台接続されて
いるが、1台でもよい。
【0004】TH3iの上部には、TH3iと被試験デ
バイスを接続するためのデバイス・インターフェイス
(以下「DI部」と云う)が設けられている。DI部は
パフォーマンス・ボード4とハイ・フィックス(布線イ
ンターフェイス)5とIC用ソケット6で構成され、T
H3iとは特殊コネクタで接続されている。このTH3
iとDI部とを接続する特殊コネクタでの着脱時に例え
ば7kg/cm2の圧縮空気が必要とされる。また、TH32
に示すように、TH3iがオート・ハンドラと連結する
ときには、DI部を横向きにするが、これを支える支持
棒8の伸縮時にも例えば7kg/cm2の空気圧が必要とされ
る。この特殊コネクタの着脱時や支持棒8の伸縮時に
は、TH3iに取り付けられている例えば押しボタンス
イッチ7i(i=1〜n)を押すことにより着脱や伸縮
を行い、通常はいずれかにロックされている。
【0005】ところで、一般工業関係では汎用として通
常5kg/cm2の圧縮空気が用いられているので、ユーザに
は通常5kg/cm2の圧縮空気が準備されている。そこで半
導体試験装置では、ユーザが準備する一次空気圧P1か
ら駆動に必要な二次空気圧P2、例えば7kg/cm2へ増圧
する小型の空気増圧手段を半導体試験装置内に持たせる
構成になっている。この従来の構成を図3を用いて説明
する。
【0006】ユーザの供給する一次圧縮空気を空気取入
口10から取り入れ、空気圧力計16を経て一次圧縮空
気11を空気増圧手段の増圧弁12に導く。増圧弁12
は機械的な圧縮により空気圧を増圧するものである。増
圧された二次圧縮空気14は増圧タンク13に備蓄さ
れ、この備蓄された二次圧縮空気14が空気圧力計17
を経てTH3iに送られる。空気圧力計16及び17は
空気圧をチェックするために設けている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】空気増圧のシステムが
理想的に構成され稼働されるならば、従来の図3の装置
で充分である。しかしながら、一般的に機械装置は経年
変化があり劣化する。また、弁の継ぎ手部分やカプラや
チューブの継ぎ手部分に緩みが出たり、不適切な使用を
したりすることもある。それらによって、二次圧縮空気
側に空気漏れが発生することがある。空気漏れが発生す
ると、増圧タンク13の二次空気圧P2を一定に保つた
めに、増圧弁12が連続駆動して増圧し続ける。半導体
試験装置内でのこの空気増圧手段は小型であり無理が効
かない。それに増圧弁12は駆動回数による寿命がある
ので、二次側のエアー漏れは増圧弁12の故障原因とな
っている。
【0008】この発明は、半導体試験装置での二次空気
圧P2の使用が連続的ではなく必要なときに断片的に使
用されるものであること、二次空気圧P2の使用は使用
者が意識的に用いることを前提として、二次圧縮空気側
に空気漏れが発生しても増圧弁12が異常に連続駆動せ
ず、従って増圧弁12に過重を与えず、寿命を伸ばす空
気圧制御装置を提供するものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
にこの発明は、TH(テストヘッド)に導く利用空気圧
をP3とすると、駆動に必要な短時間のみ利用空気圧P
3を二次空気圧P2とし、駆動に関係ない不必要な時間
では利用空気圧P3を一次空気圧P1のままにするもの
である。つまり利用空気圧P3側に空気漏れが発生して
も小型の空気増圧手段に対する影響を最小限に止め、少
なくとも増圧弁12に負担をかけさせないようにする。
利用空気圧P3が、駆動に関係ない不必要な時間では一
次空気圧P1でも大気圧でもよいが、駆動時の応答時間
を考慮すると一次空気圧P1の一次圧縮空気の方が大気
圧よりレスポンスが速い。しかし、利用空気圧P3が低
い場合では一次空気圧P1は大気圧でよい。以下、具体
的に説明する。
【0010】一次圧縮空気と二次圧縮空気を電磁弁で切
り換え利用圧縮空気を取り出す空気切換手段を設ける。
この空気切換手段を通常は一次圧縮空気側に連結し、T
H側からの増圧要求信号時に二次圧縮空気側に切り換え
て利用圧縮空気を取り出すものである。前述のように、
利用圧縮空気の空気圧P3が低い場合は、一次圧縮空気
は大気圧の空気としてしてよい。
【0011】TH側の増圧要求信号発生のスイッチは複
数個ある。例えば1台のTHにDI部と連結するための
ロックスイッチとフリースイッチ、並びにオート・ハン
ドラと連結時にDI部を横に倒すための オンスイッチ
とオフスイッチの2つのスイッチがある。THが2台あ
ると増圧要求のスイッチは8個になる。これらのスイッ
チ群の要求を全て検知する論理和手段が必要である。論
理和手段は増圧要求の要求時間毎にまとめるのがよい。
例えば、1秒間の増圧要求のグループと10秒間の増圧
要求のグループあるいは手動による時間の増圧要求のグ
ループとは後の処理が異なるからである。
【0012】この論理和回路からの信号を受け、必要時
間のパルスを発生する増圧パルス発生手段が必要であ
る。増圧パルス発生手段はノイズ(雑音)で誤動作する
のを防止するために、入力段にローパスフィルタ(低域
炉波器)を設けてノイズを除去し、単安定マルチバイブ
レータ(以下、「単安定マルチ」と云う)で必要時間、
例えば1秒とか10秒のパルスを発生する。その後段に
電磁弁を駆動するために必要な電圧、例えば24Vに増
幅する電圧増幅器を設ける。この電磁弁駆動パルスを上
記の空気圧切換手段に与えて、電磁弁駆動パルスの存在
する間、利用空気圧P3を一次空気圧P1から二次空気
圧P2に切り換えるものである。
【0013】
【発明の実施の形態】発明の実施の形態を実施例に基づ
き図面を参照して説明する。図1に本発明の一実施例の
構成図を、図2にこの発明に用いる空気圧制御回路主要
部の構成図の一例を示す。図3と対応する部分には同一
符号を付す。先ず、図1について説明する。
【0014】一次空気圧P1の一次圧縮空気11を空気
取入口10から取り入れる。一次圧縮空気11は空気圧
力計16を経て増圧弁12と空気切換手段24の一の入
力口とに導かれる。増圧弁12は一次空気圧P1を機械
的な圧縮により二次空気圧P2に増圧する。増圧された
二次圧縮空気14は増圧タンク13に備蓄され、備蓄さ
れた二次圧縮空気14は空気切換手段24の他の入力口
に導かれる。空気切換手段24では通常一次圧縮空気1
1を出力側に連結しており、増圧信号を受けて増圧信号
パルスの間、電磁弁を駆動し二次圧縮空気14を出力側
に連結させるようにしている。
【0015】TH3i側の増圧要求信号発生のスイッチ
20i(i=1〜n)は従来のスイッチ7iと同一でも
よいが、要求信号の出力端子が必要である。スイッチ2
0iからの増圧要求信号は、接続ケーブル21iによっ
て半導体試験装置本体1側の論理和手段22に送られ
る。論理和手段22はスイッチ20i群の全ての増圧要
求信号を検知する。検知した増圧要求信号を増圧パルス
発生手段23に送る。
【0016】増圧パルス発生手段23は雑音を除去する
ローパスフィルタと一定時間パルス信号を発生する単安
定マルチと電磁弁を駆動するのに必要な電圧に増幅する
電圧増幅器から成っていて、電磁弁駆動パルスを生成
し、空気切換手段24に送られる。空気切換手段24は
電磁弁駆動パルスの存在する間、利用圧縮空気15を一
次圧縮空気11から二次圧縮空気14に切り換える。電
磁弁駆動パルスが無くなると再び利用圧縮空気15は二
次圧縮空気14から一次圧縮空気11に戻る。
【0017】利用圧縮空気15は空気圧力計17を経て
それぞれのTH3iに送られる。利用圧縮空気15はT
HとDI部の着脱時やハンドラとの連結時に、必要な二
次空気圧P2を供給し、その他の時は一次空気圧P1を
与えている。よって、利用圧縮空気15側に空気漏れが
多少発生しても二次圧縮空気を供給する半導体試験装置
に用意されている小型の空気増圧手段12、13、とり
わけ増圧弁12に過重な負担をかけることが無くなり、
長寿命となる。一次圧縮空気11側は圧縮装置が大型装
置であるので多少の空気漏れがあっても負担が少なく、
空気圧力計17をチェックしていて、異常があるときに
空気漏れを改善するとよい。
【0018】図2に上記の空気圧制御回路主要部の一実
施例の回路図を示す。TH3iのスイッチ群20iから
の増圧要求信号は、接続ケーブル21iによって論理和
手段22に送られる。論理和手段22は増圧要求時間の
グループ毎にそれぞれの論理和回路(OR回路)に集め
られる。例えば、OR回路301 は約1秒間の増圧要求
時間、OR回路302 は約10秒間の増圧要求時間、O
R回路303 はスイッチ20iを押している全時間と、
要求時間毎にOR回路で集める。OR回路30iの出力
信号はそれぞれ増圧パルス発生手段23に送られる。
【0019】増圧パルス発生手段23は、先ず初段にロ
ーパスフィルタ31iを置き、それぞれのノイズを除去
する。ノイズによる誤動作を防止するためである。ノイ
ズを除去された増圧要求パルスは、それぞれの要求時間
毎の単安定マルチ32iに導かれる。例えば、単安定マ
ルチ311 は約1秒のパルスを発生し、単安定マルチ3
2 は約10秒間のパルスを発生する。単安定マルチ3
2iの直前に単安定マルチ用駆動パルス発生器を設けて
もよい。パルス発生時間を正確にするためである。
【0020】単安定マルチ32iからの信号はOR回路
33でまとめられる。論理和手段22のOR回路303
からの増圧要求信号は手動のパルス時間が要求信号であ
るのでそのままOR回路33でまとめられる。OA回路
33でまとめられた増圧要求信号は電圧増幅器34で電
磁弁駆動に必要な電圧、例えば24Vに増幅されて空気
圧切換手段24に送られる。図2では電磁弁駆動のパル
ス時間を3種類、3系統の回路で説明したが、これに限
るものでなく、1系統のみでもよいし、系統数を増やし
てもよい。
【0021】空気圧切換手段24は、通常は利用圧縮空
気15を一次圧縮空気11側に連結しているが、増圧要
求信号パルスを受けるとこの間、電磁弁が駆動し、利用
圧縮空気15を二次圧縮空気14側に連結する。増圧要
求信号パルスが無くなると、再び利用圧縮空気15を一
次圧縮空気11側に連結する。
【0022】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、この発明
は、二次圧縮空気14の利用が断片的に使用されている
こと、一次圧縮空気11から二次圧縮空気14に増圧す
る空気増圧手段が小型で増圧弁12の駆動回数による寿
命が比較的短い場合に適用され、小型空気増圧手段の増
圧弁12の寿命を非常に長引かせることができる。
【0023】つまり、利用圧縮空気側に空気漏れが発生
しても、小型空気増圧手段の増圧弁12の異常な連続駆
動が発生せずに故障が少なくなる。このことは装置全体
の部品の寿命を均一化することになり、装置全体の故障
が少なくなり稼働時間を長引かせ、利用価値が増加す
る。よって、この発明の効果は大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成図である。
【図2】本発明に用いられる一実施例の空気圧制御回路
主要部の回路図である。
【図3】従来例の構成図である。
【符号の説明】
1 半導体試験装置本体 3i、31 、32 TH(テストヘッド) 4 パフォーマンス・ボード 5 ハイ・フィックス(布線インターフェイス) 6 IC用ソケット 7i スイッチ 8 支持棒 9 伝送ケーブル 10 空気取入口 11 一次圧縮空気 12 増圧弁 13 増圧タンク 14 二次圧縮空気 15 利用圧縮空気 16、17 空気圧力計 20i スイッチ 21i 接続ケーブル 22 論理和手段 23 増圧パルス発生手段 24 空気圧切換手段 30i、301 、302 、303 論理和回路(OR
回路) 31i、311 、312 、313 ローパスフィルタ
(低域炉波器) 32i、321 、322 単安定マルチバイブレータ 33 論理和回路(OR回路) 34 電圧増幅器 DI部 デバイス・インターフェイス P1 一次空気圧 P2 二次空気圧 P3 利用空気圧

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一次空気圧(P1)を二次空気圧(P
    2)に増圧して二次圧縮空気(14)を利用する空気増
    圧装置において、 増圧要求信号を出力する複数のスイッチ手段(20i)
    と、 上記複数のスイッチ手段(20i)からの増圧要求信号
    を加算して出力する論理和手段(22)と、 上記論理和手段(22)からの出力信号を受け必要時間
    のパルスを発生する増圧パルス発生手段(23)と、 上記増圧パルス発生手段(23)からの増圧要求パルス
    を受けて一次空気圧(P1)と二次空気圧(P2)とを
    切り換える空気圧切換手段(24)と、 一次空気圧(P1)を二次空気圧(P2)に増圧する空
    気増圧手段(12、13)と、 を具備することを特徴とする空気圧制御装置。
  2. 【請求項2】 複数のスイッチ手段(20i)を半導体
    試験装置のテストヘッド(3i)に設け、論理和手段
    (22)と増圧パルス発生手段(23)と空気圧切換手
    段(24)と空気増圧手段(12、13)とを半導体試
    験装置本体(1)に設け、上記複数のスイッチ手段(2
    0i)と上記論理和手段(22)とを信号伝送する接続
    ケーブル(21i)を設けたことを特徴とする請求項1
    記載の空気圧制御装置。
JP9165497A 1997-06-23 1997-06-23 空気圧制御装置 Withdrawn JPH1115536A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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Effective date: 20040907