JPH11154641A - 薬液処理装置 - Google Patents
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- JPH11154641A JPH11154641A JP10149733A JP14973398A JPH11154641A JP H11154641 A JPH11154641 A JP H11154641A JP 10149733 A JP10149733 A JP 10149733A JP 14973398 A JP14973398 A JP 14973398A JP H11154641 A JPH11154641 A JP H11154641A
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Abstract
くす。 【解決手段】 現像液を塗布する場合には、例えば、循
環経路30内を500〜700ml/minの流量で循環させ
て、スリット状吐出口4aから現像液が流下しない状態
から、バルブ33を閉じるか絞ることにより、またはポ
ンプ35により流量を1500〜3000ml/minに上げ
ると、スリット状吐出口4aから現像液がカーテン状に
なってガラス基板W上の略全面に亘って塗布される。
Description
や半導体ウェーハ等の板状被処理物表面にレジスト液や
現像液や洗浄液といったような薬液を塗布する薬液処理
装置に関する。
処理物表面に塗布するレジスト液等の量を極力少なくす
る手段として、特開昭61−65435号公報、特開昭
63−156320号公報及び特開平4−118073
号公報に開示されるようにスリット状のノズル穴から塗
布液を吐出することが従来から行われている。
報には、基板の移送方向と直交する下向きの偏平な液吐
出孔を有するノズルを配置し、基板の経路を横切って処
理液を膜状に滴下させ、移送される基板が処理液膜を通
過するようにし、処理液を供給された基板を、回転チャ
ックに装着し、回転させながら、その上方のスプレーノ
ズルから処理液を散布して処理を行うことが開示されて
いる。
ジスト供給手段(ノズル)の線状開口部よりレジスト液
を基板に供給した後、基板を回転させることにより感光
性レジスト薄膜を形成することが開示されている。
した先行技術と同様に、スリット(スロット)状のノズ
ル穴を有するヘッドにて基板上にコーティング液を塗布
した後、スピン式の塗膜調整装置で塗膜厚を調整する内
容が示されている。
て塗布液の供給管の先端にノズルを接続する構造となっ
ており、塗布液の供給管のバルブを開とすることでノズ
ルから塗布液を吐出し、塗布液の供給管のバルブを閉と
することで、ノズルからの塗布液の吐出を停止する。
の供給管のバルブを閉じて塗布液の吐出を停止するよう
にしているが、ノズル内に塗布液が残っているため、こ
の塗布液がノズルの開口から垂れ下がり、場合によって
は、バルブを閉じた後に落下することがある。
っていると、次の塗布を行う際に最初の塗布量が多くな
り膜厚が一定にならない。そこで、従来は塗布開始前に
一旦ノズル内に残っている塗布液を排出した後に、通常
の塗布を開始するようにしており、塗布液の無駄になっ
ている。
発明は、塗布液の循環経路の途中に、板状被処理物表面
に所定幅で塗布液を塗布するノズルを設けるようにし
た。塗布液の循環経路の途中にノズルを設けるにあた
り、ノズルへの塗布液の供給及びノズルからの塗布液の
排出に伴って気泡が発生するのを防止するため、ノズル
に形成した塗布液の流路の断面形状と塗布液の供給管
(チューブ等を含む)の断面形状及び塗布液の排出管
(チューブ等を含む)の断面形状とをほぼ同一にして段
差をなくし、気泡の発生を防止するのが好ましい。
は直線状とし、始端から終端に致るまでほぼ流路断面積
が一定とすることが好ましい。更に、前記循環経路には
エア抜き槽及び温度調整器を設けることが好ましく、ま
た、循環経路には新たな塗布液の補給管を接続すること
が可能である。
図面に基づいて説明する。ここで、図1は本発明に係る
塗布装置の全体図、図2は本発明に係る塗布装置の断面
図であり、回転カップ式の塗布ユニット1の両側にレー
ル2,2を設け、これらレール2,2間に門型フレーム
3を移動可能に係合し、この門型フレーム3にノズル4
を取り付けている。尚、本発明は薬液処理装置に関する
ものなので、装置の形態は図1及び図2に示した塗布装
置に限定されない。
は下部分10と上部分20からなり、下部分10はベー
スに固定されたアウターカップ11とこのアウターカッ
プ11内に設けられスピンナーにて回転せしめられるイ
ンナーカップ12とを備え、インナーカップ12内には
インナーカップ12と一体的に回転する載置テーブル1
3が設けられ、この載置テーブル13の中央部はサブテ
ーブル14とされている。このサブテーブル14は独立
して昇降動し、上昇した位置でガラス基板W(板状被処
理物)の受渡しを行い、下降位置で載置テーブル13と
面一になる。
ーカップ11の周縁を閉塞するアウターカップ用蓋体2
1と、下降した位置でインナーカップ12の周縁を閉塞
するインナーカップ用蓋体22とを備え、アウターカッ
プ用蓋体21はアーム23に支持され、インナーカップ
用蓋体22はアウターカップ用蓋体21とは独立して回
転可能に支持されている。
基板Wの幅よりその長さが若干短いスリット状の吐出口
4aを備え、一端には塗布液の供給管31が接続され、
他端には塗布液の排出管32が接続されている。尚、吐
出口4aについては、複数の円穴を長手方向に並べて配
置してもよい。
5a,5bをボルト6a,6bで結合して構成される。
各半体5a,5bの合わせ面には塗布液の流路7となる
凹部が形成され、また一方の半体5aには前記スリット
状吐出口4aとなる凹部が形成されている。尚、流路7
がスリット状吐出口4aにつながっており、このスリッ
ト状の吐出口4aとなる凹部には吐出口4aの幅を設定
する凸部8が設けられている。
面から見て略紡錘形状をなし、流路7からの塗布液がで
きるだけ抵抗を受けずにスリット状吐出口4aを流下す
るようにしている。また、各半体5a,5bには流路7
となる凹部の上方に前記ボルト6aの挿通穴9aが形成
され、流路7よりも下方には前記ボルト6bの挿通穴9
bが形成されている。特に挿通穴9bについては前記凸
部8の部分に開口せしめ、塗布液がボルト6bに接触し
ない構成になっている。尚、挿通穴9bを凸部8から外
して開口させてもよい。
7の一端は塗布液の供給管31が嵌合する供給口7aと
され、他端は塗布液の排出管32が嵌合する排出口7b
とされ、これら供給口7a及び排出口7bは流路7より
も若干大径とされ、供給口7aに供給管31を、また排
出口7bに排出管32をそれぞれ嵌合させた状態で、図
6に示すように、供給口7a及び排出口7bの流路断面
形状と流路7の流路断面形状とが略同一になるようにし
ている。斯かる構成とすることで、供給管31及び排出
管32と流路7との継ぎ目において段差がなくなり、塗
布液が流れることにつれて気泡が発生するのを防止する
ことができる。また、上記例に代えて、供給管と排出管
を流路に対し、流路の端部においてL字型に連結しても
よい。
ル4を設けた構成を示しており、前記したようにノズル
4の一端には循環経路30の一部をなす塗布液の供給管
31が接続され、ノズル4の他端には循環経路30の一
部をなす塗布液の排出管32が接続され、更に循環経路
30の途中にはバルブ33、エア抜き槽34、ポンプ3
5、温度調整器36、フィルタ37及びバルブ38が設
けられている。
たエア抜き管40が設けられ、また前記エア抜き槽34
には塗布液の補給管41が接続され、この補給管41に
もバルブ42が設けられている。
ンサ43にてエア抜き槽34内の塗布液の量が一定値以
下になったことを検知すると、自動的にバルブ42を開
とし、タンク44内の塗布液を補給管41を介してエア
抜き槽34内に補給する。
内の塗布液を加熱するヒータ45と、塗布液を冷却する
放熱水通路46が設けられ、循環経路30内を流れる塗
布液の温度をセンサ47にて測定し、この測定値に基づ
いて放熱水通路46内を流れる水の流量を制御装置48
でコントロールして、塗布液の温度を一定に維持する。
尚、温度調整器36の構造は図示例に限らず任意であ
る。また、フィルタ37の位置はポンプ35と温度調整
器36の間にしてもよい。
きさにもよるが、現像液を塗布する場合には、例えば、
循環経路30内を500〜700ml/minの流量で循環さ
せて、スリット状吐出口4aから現像液が流下しない状
態から、バルブ33を閉じるか絞ることにより、または
ポンプ35により流量を1500〜3000ml/minに上
げると、スリット状吐出口4aから現像液がカーテン状
になってガラス基板W上の略全面に亘って塗布される。
塗布されたならば、バルブ33を元の状態に開けるか、
流量を元に戻すことにより現像液のスリット状吐出口4
aからの流下が止まり、現像液がバルブ33側に流れ出
すことから、サックバック作用によりスリット状吐出口
4aから現像液が吸引され、ノズル内方に引き込まれ
る。
であり、図7に示した実施例と同一の部材については同
一の番号を付して説明を省略する。この実施例にあって
は、ポンプ35の下流側にフィルター50を介して第2
のエア抜き槽51を設けている。この第2のエア抜き槽
51にはバルブ52を備えたエア抜き管53を設けると
ともに、エア抜き槽51の外側には温度調節器54を配
置し、更にエア抜き槽51の上面には塗布液を圧送する
ための窒素ガス供給管55を接続している。
状吐出口4aまで送る駆動源としてポンプ35ではなく
窒素ガスの圧力を利用する。即ち、塗布液を供給する場
合には、塗布液の循環状態からバルブ33,52を閉じ
るとともにポンプ35を止め、エア抜き槽51内に窒素
ガスを送り込む。すると、1.0〜2.0kg/cm2の窒素
ガスの圧力で循環経路30、バルブ38を介して塗布液
はスリット状吐出口4aに送られ、カーテン状になって
ガラス基板Wなどの表面に塗布される。また、前記同
様、バルブ38が無い状態でも同じような結果が得られ
る。
タ落ち対策については前記同様、サックバック作用を利
用して行う。
塗布液の循環経路の途中に、板状被処理物表面に所定幅
で塗布液を塗布するノズルを設けたので、循環経路のバ
ルブを操作するだけで、ノズルの吐出口の全長に亘って
サックバック作用を及ぼして、塗布液のボタ落ちを防止
することができる。
面形状と、塗布液の供給管の断面形状及び塗布液の排出
管の断面形状とをほぼ同一にしたので、管と流路との継
ぎ目に段差が生じることなく、したがって気泡の発生を
防止することができる。
に、膜厚を均一にすべく、ノズルを板状被処理物の直上
位置から離れた位置に移動させ、この位置でノズル先端
から垂れ下がっている余分な塗布液を噴き落とした後、
ノズルを板状被処理物の直上位置に移動させてから塗布
を行っていたが、本発明によればその必要がなくなるの
で、塗布液の有効利用が図れ、塗布制御も簡単になる。
ることで、ノズル内で気泡が発生しにくくなり、また、
循環経路の途中に温度調整器を設けることでノズルから
吐出される塗布液の粘度を一定に維持することができ
る。特に、一旦温度調整器で温調された塗布液は、常に
循環しているので、一定の温度を維持したままノズルよ
り吐出することができる。更に循環経路、具体的にはエ
ア抜き槽に塗布液の補給管を接続することで、循環経路
に常に一定量の塗布液を流すことができる。
示す図
ズルの吐出口、5a,5b…ノズルの半体、6a,6b
…ボルト、7…流路、7a…供給口、7b…排出口、8
…凸部、30…循環経路、31…塗布液の供給管、32
…塗布液の排出管、33,38,39,42,50,5
2…バルブ、34,51…エア抜き槽、35…ポンプ、
36,54…温度調整器、37,50…フィルター、4
1…補給管。
Claims (5)
- 【請求項1】 板状被処理物表面に所定幅で塗布液を塗
布するノズルを備えた塗布装置において、前記ノズルは
塗布液の循環経路の途中に設けられていることを特徴と
する薬液処理装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の塗布装置において、前
記ノズルには塗布液の流路が形成され、この塗布液の流
路の一端は塗布液の供給管が嵌合する供給口とされ、他
端は塗布液の排出管が嵌合する排出口とされ、前記供給
口に連続する部分の流路断面形状は塗布液の供給管の流
路断面形状に実質的に等しく、また前記排出口に連続す
る部分の流路断面形状は塗布液の排出管の流路断面形状
に実質的に等しいことを特徴とする薬液処理装置。 - 【請求項3】 請求項2に記載の塗布装置において、前
記ノズルに形成される塗布液の流路は直線状とされ、始
端から終端に致るまでほぼ流路断面積が一定であること
を特徴とする薬液処理装置。 - 【請求項4】 請求項1乃至請求項3に記載の塗布装置
において、前記循環経路にはエア抜き槽及び温度調整器
が設けられていることを特徴とする薬液処理装置。 - 【請求項5】 請求項1乃至請求項4に記載の塗布装置
において、前記循環経路のエア抜き槽には新たな塗布液
の補給管が接続されていることを特徴とする薬液処理装
置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14973398A JP3437446B2 (ja) | 1997-09-16 | 1998-05-29 | 薬液処理装置 |
US09/153,590 US6423139B1 (en) | 1997-09-16 | 1998-09-15 | Chemical liquid treatment apparatus |
KR1019980038163A KR100544906B1 (ko) | 1997-09-16 | 1998-09-16 | 약액(藥液)도포 방법 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25019697 | 1997-09-16 | ||
JP9-250196 | 1997-09-16 | ||
JP14973398A JP3437446B2 (ja) | 1997-09-16 | 1998-05-29 | 薬液処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11154641A true JPH11154641A (ja) | 1999-06-08 |
JP3437446B2 JP3437446B2 (ja) | 2003-08-18 |
Family
ID=26479524
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14973398A Expired - Fee Related JP3437446B2 (ja) | 1997-09-16 | 1998-05-29 | 薬液処理装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6423139B1 (ja) |
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