JPH11153690A - 中性子検出器の試験システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】試験ツールを用いた中性子検出器の試験で、試
験ツールと中性子検出器の接続替えの操作を省くことに
ある。 【解決手段】中性子検出器１−１〜１−ｎの出力ケーブ
ル２−１〜２−ｎに切換回路３−１〜３−ｎを介してＡ
ＰＲＭ盤４の入力回路４０−１〜４０−ｎ、及び試験ツ
ール５の試験処理回路５０を接続し、試験時には切換制
御部５５からの制御信号Ｓ１〜Ｓｎを出力し試験対象の
中性子検出器が接続されている切換回路の接点を切り換
えて試験処理回路５０と接続し、メインコントローラ５
１の指令により中性子検出器の試験を実行し得たデータ
を中性子検出器個別に集計する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、原子力発電プラン
トの出力領域中性子監視システムに用いられる中性子検
出器の健全性確認に好適な試験システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】原子力発電プラント、特に沸騰水型原子
炉においては、出力領域の炉出力を監視するために、原
子炉内に多数の局所出力領域監視用の中性子検出器（以
下、検出器と略称する）を設置している。これらの検出
器は、使用時間の経過とともに劣化する。劣化の進行具
合は、放射線の積算照射量に大きく影響されるため、燃
料の燃焼度が異なる炉内では検出器の設置位置によって
個々の検出器で差異が生じる。このためプラント運転中
には、１回／月程度の頻度で全ての検出器に対して劣化
の程度を把握しなければならない。

【０００３】検出器の劣化の程度を把握するには、検出
器にバイアス電圧を印加し、これによって検出器に流れ
る通電電流を測定する。測定にあたっては、バイアス電
圧を０〜数百ボルトの範囲で変化させ、この間の通電電
流値の変化を記録していく。これは、検出器の電圧／電
流（Ｖ／Ｉ）特性、あるいはプラトー特性と呼ばれ、通
電電流が飽和するバイアス電圧値の高低と、突発的に過
大電流が流れる放電現象の有無により検出器の健全性を
判断する指標とされる。具体的には、検出器の劣化が進
行するにしたがって、低いバイアス電圧値で通電電流が
飽和、あるいは放電現象が頻発するようになる。

【０００４】電気出力１１０万〜１３５万ｋｗクラスの
沸騰水型原子炉においては、検出器は炉心内に２００個
程度設置されており、これらの検出器は複数のグループ
に分割され、グループごとに検出器出力を平均演算する
システム構成となっている。原子炉の運転にあたって
は、上記平均演算された結果を炉出力として用いる。平
均演算する装置は、平均出力領域モニタ（ＡＰＲＭ）と
呼ばれ、上記検出器のグループに対応した複数のチャネ
ルで多重化されている。更に、各チャネルごとに炉出力
の異常を示す警報が設定される他、複数のＡＰＲＭチャ
ネルで同時に炉出力が異常となった時に原子炉保護系に
スクラム信号を出力するよう多数決のロジックが組まれ
ている。

【０００５】上記の検出器へのバイアス電圧の印加、及
び通電電流の測定（以下、試験と称する）は、中央制御
室に設置された制御盤（ＡＰＲＭ盤）で行われる。試験
時には、試験対象とする検出器が属するＡＰＲＭチャネ
ルを原子炉保護系や警報等のロジックから切り離すよう
バイパスする。次に、ＡＰＲＭ盤に納められた検出器出
力信号の入力回路から検出器の出力ケーブルを外して、
その出力ケーブルからバイアス電圧を印加し、通電電流
を測定する。

【０００６】近年、検出器の試験には、専用の試験ツー
ルが用いられることが多くなった。その例としては、特
開平8−201526 号公報記載の電圧／電流特性装置が挙げ
られる。本公知例による試験ツールは、検出器へ印加す
るバイアス電圧を一定時間で徐々に変化させ、その時々
の通電電流を取り込むような試験処理回路をパーソナル
コンピュータに付加し、バイアス電圧の制御と、印加し
たバイアス電圧値に対する通電電流値を記憶するもので
ある。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、試
験対象とする検出器が属するＡＰＲＭチャネルをバイパ
スしたうえで、検出器のプラトー特性を自動測定するこ
とは可能である。一つの検出器を試験する工程は、検出
器の出力ケーブルをＡＰＲＭ盤の入力回路から取り外し
試験処理回路に接続、次にパーソナルコンピュータを操
作してバイアス電圧の印加とそのバイアス電圧値及び通
電電流値を測定・記録、その後に検出器の出力ケーブル
を試験処理回路から取り外してＡＰＲＭ盤の入力回路に
接続復帰するといった作業となる。しかし、前述のよう
に原子炉内には２００個程度の検出器があり、すべての
検出器を試験するには、この工程を２００回程度繰り返
さなければならない。

【０００８】特に、一つの検出器の試験が終了する度
に、試験処理回路を次の試験対象となる検出器に接続し
直す接続替えの作業は効率が悪い。これは、保守担当員
がAPRM盤の入力回路から検出器の出力ケーブルを取り外
し、そのケーブルを試験処理回路の入力に接続し直す作
業である。これら出力ケーブルの取り外しや接続はコネ
クタを用いて行うが、耐ノイズ性や接触の信頼性を向上
させるためワンタッチでの脱着はできず、コネクタを数
回強く回す操作が必要であり、安易な作業ではない。こ
のように保守担当員は、コネクタの脱着と上記パーソナ
ルコンピュータの操作を交互に行う必要がある。

【０００９】また、ＡＰＲＭ盤の入力回路は全ての検出
器に対して同一の形状で盤内に配置されているため、検
出器の出力ケーブルの接続替えの際には誤って他の検出
器の出力ケーブルを試験処理回路に接続することが考え
られる。パーソナルコンピュータには、試験対象の検出
器が予め順番にプログラミングされており、上記のよう
な接続の誤りがあった場合にも、これを認識することは
できず、試験対象の検出器を誤ったまま記憶し、検出器
の健全性を管理する上で問題となる。通常、このような
誤りが生じないように、３〜４人の保守担当員が、出力
ケーブルとAPRM盤の入力回路の対応付けを何度もチェッ
クしながらコネクタの脱着を行う。このため、人員の削
減が困難であり、かつ作業効率が悪い。

【００１０】また、前述のように上記試験はＡＰＲＭチ
ャネルをバイパスして行う。バイパス操作は、運転員が
バイパス可能なプラント状態であることを確認してから
行うため、保守担当員の一存ではバイパスすることはで
きず、所定の手続きが必要である。また、ＡＰＲＭチャ
ネルは、プラント運転上必要な信頼性を確保するため、
基本的には同時に複数チャネルをバイパスすることはで
きない。このため、すべての検出器を試験するために
は、上記所定の手続きを含めＡＰＲＭチャネルのバイパ
スをチャネル数分だけ繰り返さなければならない。これ
は、前述の検出器出力ケーブルの接続替え、及び接続の
確認と相まって、検出器の試験の作業効率を低下させる
一因となっている。

【００１１】本発明の目的は、複数の中性子検出器に対
して検出器の出力ケーブルと試験処理回路の接続替えを
することなく中性子検出器のプラトー特性を測定するこ
とが可能で、かつＡＰＲＭチャネルのバイパスを不要と
した中性子検出器の試験システムを提供することにあ
る。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明によれば、検出器
の試験時には、試験対象の検出器の出力ケーブルが試験
ツールの可変電圧源と接続され、かつＡＰＲＭ盤の入力
回路とは非接続となるよう切換制御手段から制御される
切換手段を有し、ＡＰＲＭ盤においては、切換手段の接
点状態を制御する信号を取り込んでＡＰＲＭ盤の入力回
路と非接続状態である検出器を特定する接続状態判定手
段を設け、該接続状態判定手段の判定結果から非接続状
態である検出器の出力値を除外して平均演算する。試験
ツールでは、メインコントローラが上記切換制御手段と
上記可変電圧源を制御し、実際に検出器に印加されるバ
イアス電圧値と検出器の通電電流値を取り込んで記憶す
る。上記メインコントローラは、切換制御手段により上
記切換手段で可変電圧源と接続されている検出器を把握
して、その検出器へのバイアス電圧の印加、及び通電電
流の測定を実行し各々のデータを記憶し、記憶したデー
タを用いて検出器ごとにバイアス電圧値とそれに対応す
る通電電流値の関係を、即ちプラトー特性を求めて提示
する。

【００１３】また、本発明によれば、検出器の試験時に
は、試験対象の検出器の出力ケーブルが試験ツールの可
変電圧源と接続され、かつＡＰＲＭ盤の入力回路とは非
接続となるよう切換制御手段から制御される切換手段を
有し、ＡＰＲＭ盤においては、切換手段の接点状態を制
御する信号を取り込んでＡＰＲＭ盤の入力回路と非接続
状態である検出器を特定する接続状態判定手段を設け、
該接続状態判定手段の判定結果から非接続状態である検
出器の出力値に代えてその検出器の最も近くに設置され
ている検出器の出力値を平均演算に用いる。

【００１４】試験ツールでは、上述と同様に上記切換手
段で可変電圧源と接続されている検出器へのバイアス電
圧の印加、及び通電電流の測定を実行し各々のデータを
記憶し、記憶したデータを用いて検出器ごとにバイアス
電圧値とそれに対応する通電電流値の関係を、即ちプラ
トー特性を求めて提示する。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態につ
いて、図面を用いて説明する。

【００１６】図１は、本発明による中性子検出器の試験
システムの基本的な構成を示している。図１に示したｎ
個の中性子検出器（以下、検出器と略称する）１−１〜
１−ｎは、原子炉格納容器内に設置されており、それぞ
れ接地している。検出器１−１〜１−ｎの出力信号（電
流信号）は出力ケーブル２−１〜２−ｎによって切換回
路３−１〜３−ｎの接点ａに入力され、切換制御部５５
からの接点切換信号Ｓ１〜Ｓｎによって切換回路３−１
〜３−ｎの接点ｂあるいは接点ｃに接続する。この接点
ｂはＡＰＲＭ盤４の入力回路４０−１〜４０−ｎに接続
し、接点ｃはケーブル６を介して試験ツール５に接続す
る。ＡＰＲＭ盤４の入力回路４０−１〜４０−ｎは検出
器１−１〜１−ｎの出力電流を電圧信号に変換，増幅し
て平均演算部４１に出力する。平均演算部４１では、接
点切換信号Ｓ１〜Ｓｎを取り込む接点状態判定部４２か
ら判定結果を入力し、これをもとに各入力回路の出力信
号を平均演算して出力する。

【００１７】試験ツール５は、試験処理回路５０、上記
の切換制御部５５と、メインコントローラ５１、及びメ
インコントローラ５１に付随する入力装置５７，出力装
置５８，メモリ５９で構成する。試験処理回路５０は、
ケーブル６を介して各検出器にバイアス電圧を印加する
可変電圧源５２、可変電圧源５２によって検出器に印加
された実際のバイアス電圧を測定する電圧測定器５４，
ケーブル６に流れる電流を測定する電流測定器５３，電
圧測定器５４と電流測定器５３の測定結果Ｄｖ及びＤｃ
をディジタル値に変換するアナログ／ディジタル変換器
５６とで構成する。メインコントローラ５１が試験処理
回路５０や切換制御部５に対して入出力するデータや指
令（制御信号）は全てディジタル信号である。また、入
力装置５７からは保守担当員が必要な情報をメインコン
トローラ５１に入力し、メモリ５９はメインコントロー
ラ５１が取り込んだ電流測定器５３と電圧測定器５４の
測定データを記憶し、出力装置５８を用いて測定したデ
ータから得られるプラトー特性を出力する。

【００１８】通常時においては、全ての切換回路３−１
〜３−ｎは接点ａと接点ｂとが接続され、検出器１−１
〜１−ｎの出力信号が入力回路４０−１〜４０−ｎに入
力されるようになっている。この接続の制御は切換制御
部５５からの接点切換信号Ｓ１〜Ｓｎによってなされる
が、切換制御部５５の故障などで接点切換信号Ｓ１〜Ｓ
ｎが喪失した場合には、接点ａと接点ｂとが強制的に接
続されるよう切換回路３−１〜３−ｎにはフェールセー
フ機能を有したものを用いる。具体的には、リレーが考
えられ、リレーの励磁／無励磁を接点切換信号Ｓ１〜Ｓ
ｎで行うようにし、無励磁であるときに接点ａと接点ｂ
とが接続されるようにする。

【００１９】以下、試験対象を検出器１−１とした場合
の試験について述べる。なお、他の検出器に対しても同
様である。本発明による試験システムにおいては、試験
ツール５側とＡＰＲＭ盤４側との作用の組み合わせで実
現するが、理解を容易にするため、それぞれの作用を分
けて述べる。まず、はじめに試験ツール５を中心とした
作用を述べる。

【００２０】試験を開始する時には、保守担当員が入力
装置５７を操作することによって、メインコントローラ
５１が試験のための処理を開始する。メインコントロー
ラ５１の処理フローを図２に示す。まず、ステップ２０
１で保守担当員が試験対象の検出器を設定し入力する。
ここでは、検出器１−１を試験対象としているため、例
えば「１−１」などと検出器の個体番号を入力する。試
験対象が複数であれば、複数の検出器を示す個体番号を
入力する。ステップ２０２では、検出器に印加するバイ
アス電圧の範囲と印加の変化幅を設定する。例えば、バ
イアス電圧を０〜２５０ｖの範囲で１０ｖごとに上昇さ
せたい場合には、最小値を０ｖ，最大値を２５０ｖ，変
化幅を１０ｖとして入力する。これらの設定がなされる
ことにより切換制御部５５に切換指令Ｃｃを出力する
（ステップ２０３）。

【００２１】これによって、切換制御部５５は試験対象
である検出器１−１をＡＰＲＭ盤４の入力回路４０−１
から切り離し、ケーブル６と接続するよう切換回路３−
１の接点ａと接点ｃとを接続させる接点切換信号Ｓ１を
出力する。

【００２２】ステップ２０４では、可変電圧源５２にバ
イアス電圧を印加するように信号Ｃｂを出力する。ここ
では、ステップ２０２で入力した最小電圧値から最大電
圧値まで指定の変化幅でバイアス電圧を出力するように
信号Ｃｂで可変電圧源５２を制御する。可変電圧源５２
がバイアス電圧の出力を開始したら、ケーブル６を介し
て検出器１−１に印加されている実際のバイアス電圧を
電圧計測器５４によって測定し、測定結果Ｄｖをディジ
タル値に変換してメインコントローラ５１に取り込む
（ステップ２０５）。

【００２３】メインコントローラ５１では、この電圧値
がステップ２０２で設定された最小電圧値に達するか否
かを判定し（ステップ２０６）達したときに電流測定器
５３の測定値Ｄｃのディジタル値を取り込みメモリに記
憶する（ステップ２０７）。ここで、可変電圧源の出力
するバイアス電圧がステップ２０２で設定した最大値に
達したか否かを判定し（ステップ２０８）、達していな
い場合には、指定の変化幅分のバイアス電圧の増加を可
変電圧源５２に設定するよう指示し（ステップ２０
９）、ステップ２０４の処理に戻す。

【００２４】これによって、可変電圧源５２は出力電圧
を上昇させ、検出器に印加される実際のバイアス電圧が
指定の最大値に達するまで繰り返す。バイアス電圧が最
大値に達したら、ステップ２０１で設定した試験対象の
検出器全てに対して試験を実施したか否かを判定し（ス
テップ２１０）、実施済みでない場合には次の試験対象
となる検出器を選択し（ステップ２１１）、ステップ２
０３以降の処理を繰り返す。ステップ２１０で全ての検
出器に対する試験が終了したと判定した場合は、試験終
了として処理を終える。

【００２５】次にＡＰＲＭ盤４側の作用について述べ
る。前述のように通常時には、切換回路３−１〜３−ｎ
の接点ａと接点ｂとが接続されており、ＡＰＲＭ盤４
は、全ての検出器の出力信号を入力回路４０−１〜４０
−ｎを介して取り込み、平均演算部４１で平均演算して
いる。試験ツール５の切換制御部５５から出力される接
点切換信号Ｓ１〜ＳｎはＡＰＲＭ盤４の接続状態判定部
４１にも取り込まれている。接点切換信号Ｓ１〜Ｓｎ
は、検出器とＡＰＲＭ盤４の入力回路の接続状態を示す
情報となるため、接続状態判定部４１ではＡＰＲＭ盤４
の入力回路に接続されていない検出器を判定することが
できる。このため接続状態判定部４１では、通常時には
全ての検出器の出力信号がＡＰＲＭ盤に入力されている
ことを判定して、平均演算部４１に対して全ての検出器
出力を用いて平均演算するよう判定結果Ｓｃを出力す
る。

【００２６】一方、何れかの検出器が試験中でＡＰＲＭ
盤４とは切り離された状態である場合、例えば検出器１
−１が試験中である場合には、接続状態判定部４１は接
点切換信号Ｓ１から検出器１−１を平均演算の対象から
除外するように判定結果Ｓｃを出力する。これによっ
て、平均演算部４１では１−１の出力値を参照すること
を止め、平均演算の母数を一つ減じて演算を実行する。

【００２７】これによって、入力が切り離されて不確定
となった入力回路４０−１の出力値を平均演算に用いる
ことがないので、試験中にも精度良く平均演算すること
ができる。

【００２８】このように本システム構成によれば、検出
器一つずつＡＰＲＭ盤４から切り離して試験し、切り離
した検出器に対応したＡＰＲＭ盤の入力回路の出力値を
平均演算から除外して求めるため、ＡＰＲＭチャネルを
バイパスする必要がない。

【００２９】また、試験ツール５では、メインコントロ
ーラ５１が切換制御部５５に試験対象の検出器が選択す
るよう指示し、バイアス電圧の実測値Ｄｖと通電電流Ｄ
ｃのディジタル値を取り込みメモリ５９への記憶を制御
しているため、検出器ごとのバイアス電圧と通電電流の
対応付けが容易にでき、両者の関係であるプラトー特性
をグラフに描画することも容易である。また、手作業で
検出器とＡＰＲＭ盤の入力回路の接続コネクタを外して
測定ツールに接続し直すことが不要であるため、誤って
他の検出器と誤接続するようなことが防止できる。

【００３０】以上述べたように、保守担当員は入力装置
５７で所定の設定を入力した後はメインコントローラ５
１の指令により、各切換回路の接点の切換えとバイアス
電圧の印加と測定、及び通電電流の測定がなされるた
め、複数の検出器に対して連続的かつ自動的に試験する
ことが可能である。このため、保守担当員は試験ツール
と検出器の出力ケーブルの接続替えを行う必要がなく、
試験対象の検出器ごとに測定データを集計しプラトー特
性を得ることができる。また、検出器を個別に試験し、
試験中の検出器出力を平均演算から除外するためＡＰＲ
Ｍをバイパスする必要がない。従って、バイパスに要す
る工程が不要となり、検出器の試験を効率良くでき、従
来に比べて大幅に試験時間を短縮実施できる。

【００３１】本実施例ではメインコントローラ５１，入
力装置５７，出力装置５８，メモリ５９をそれぞれ独立
したコンポーネントとして示しているが、これらを１台
のパーソナルコンピュータに置き換えてシステムを構成
することも容易に考えられる。

【００３２】原子力プラントにおいては、ＡＰＲＭ盤は
複数チャネルあり、図１のＡＰＲＭ盤４は複数チャネル
のうちの１チャネルである。他のチャネルのＡＰＲＭ盤
は、図１のＡＰＲＭ盤４と同様の構成であり、試験ツー
ル５は共用できるものである。具体的には、試験ツール
と全ての切換回路との接点切換信号の信号ケーブル，バ
イアス電圧印加用ケーブル６、及び試験ツールとＡＰＲ
Ｍ盤との接点切換信号の信号ケーブルをアセンブリとし
てコネクタで着脱するものとすれば、簡単なコネクタの
着脱で一つの試験ツールを複数のＡＰＲＭ盤に接続する
ことができる。図３は図１のシステムを応用した例であ
る。図３においては、図１の切換回路３−１〜３−ｎと
接続制御部７０をＡＰＲＭ盤４に格納している。これに
よって、図１でのＡＰＲＭ盤４の接続状態判定部４２と
試験ツール５の切換制御部５５を廃している。図３の構
成では、切換回路３−１，入力回路４０−１〜４０−
ｎ，試験処理回路５０は図１と同じものである。試験ツ
ール５では、メインコントローラ，メモリ，入力装置、
及び出力装置としてパーソナルコンピュータ６１を用い
ており、試験処理回路５０やＡＰＲＭ盤４との信号の送
受のためにインタフェース６０を介在させる。

【００３３】図３のシステムでは、保守担当員のパーソ
ナルコンピュータ６１の操作によって試験を開始する。
試験開始時には、図１の実施例と同様で、試験対象の検
出器の設定，バイアス電圧の最小値，最大値，変化幅を
入力する。これによってパーソナルコンピュータ６１
は、接続制御部７０に指令Ｃｃを出力する。指令Ｃｃ
は、試験対象の検出器、即ち切換回路３−１〜３−ｎの
接点ａと接点ｃとを接続させるよう指示する信号であ
る。指令Ｃｃを入力した接続制御部７０は、試験対象の
検出器が接続されている切換回路に対して接点切換信号
Ｓ１〜Ｓｎの何れかを出力するが、平均演算部４１に対
しても試験対象の検出器を特定する信号Ｓｃを出力す
る。

【００３４】これにより、平均演算部４１は試験対象の
検出器を平均演算の対象から除外し、代わりに試験対象
の検出器に最も近い位置に設置された検出器を選択して
平均演算を行う。炉心内で極端な設置位置の違い、例え
ば炉心の中心部と外周部のように燃料の燃焼度の差異が
大きい位置に設置された検出器の出力値には大きな差が
生じていることが考えられる。一方、検出器が同一の燃
料集合体周りに設置されている。即ち隣接した位置にあ
れば両者の出力には大差はなく、お互いに出力値を補う
ことが可能である。

【００３５】これより、試験対象の検出器の出力値に代
えて最も近い位置に設置された検出器の出力値を平均演
算に用いても問題ない。この他の作用は、図１の実施例
と同様であり、試験の過程で得た検出器のバイアス電圧
値と通電電流値の各データは、パーソナルコンピュータ
６０が内蔵するメモリに記憶され、必要なときにデータ
をもとにプラトー特性を出力することができる。本シス
テム構成では、試験ツール側の切換制御部が不要とな
り、かつ試験ツールと各切換回路を個々に接続する必要
がないため、接続用ケーブルが削減できるメリットがあ
る。

【００３６】

【発明の効果】以上述べたように、本発明においては、
ＡＰＲＭ盤では試験対象の検出器出力を平均演算から除
外、あるいは試験対象の検出器に最も近い位置に設置さ
れた検出器の出力を平均演算に用いるようにし、試験ツ
ールではメインコントローラが試験対象となる複数の検
出器を順次切換えるとともに、バイアス電圧の印加・測
定と通電電流の測定を行い、それらの測定データを検出
器ごとに集計するため、保守担当員による検出器の出力
ケーブルと試験処理回路の接続替えを不要としながら検
出器とデータの対応付けが正態に記録でき、かつＡＰＲ
Ｍチャネルのバイパスを不要とした検出器の試験システ
ムを提供できる。従って、保守作業効率が向上し、ひい
ては保守コストを低減することが可能であるため、本発
明の工業的な価値は大きい。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施の形態になる中性子検出器の試
験システムの基本構成を示す図である。

【図２】試験ツールの基本的な処理を示すフローチャー
トである。

【図３】図１に示した中性子検出器の試験システムの応
用例の構成を示す図である。

【符号の説明】

１−１〜１−ｎ…中性子検出器、３−１〜３−ｎ…切換
回路、４…ＡＰＲＭ盤、５…試験ツール、４０−１〜４
０−ｎ…入力回路、４１…平均演算部、４２…接続状態
判定部、５０…試験処理回路、５１…メインコントロー
ラ、５５…切換制御部、６０…パーソナルコンピュー
タ、７０…接点制御部。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】複数の中性子検出器の出力信号を平均演算
   する平均演算装置に接続された上記中性子検出器に試験
   ツールを接続し該試験ツールによって、上記中性子検出
   器を試験する中性子検出器の試験システムにおいて、上
   記中性子検出器の出力を上記平均演算装置と上記試験ツ
   ールの何れか一方に接続する切換手段と、上記試験ツー
   ルによって制御され上記切換手段に対して接続状態を指
   定する切換信号を出力する切換制御手段と、該切換制御
   手段の切換信号から上記切換手段によって上記試験ツー
   ルに接続された試験対象の中性子検出器を特定する接続
   状態判定手段を設け、該接続状態判定手段が特定した上
   記試験対象の中性子検出器の出力信号を上記平均演算装
   置による平均演算から除外し、上記試験ツールで該試験
   ツールに接続された中性子検出器を試験することを特徴
   とした中性子検出器の試験システム。
2. 【請求項２】複数の中性子検出器の出力信号を平均演算
   する平均演算装置に接続された上記中性子検出器に試験
   ツールを接続し該試験ツールによって、上記中性子検出
   器を試験する中性子検出器の試験システムにおいて、上
   記中性子検出器の出力を上記平均演算装置と上記試験ツ
   ールの何れか一方に接続する切換手段と、上記試験ツー
   ルによって制御され上記切換手段に対して接続状態を指
   定する切換信号を出力する切換制御手段と、該切換制御
   手段の切換信号から上記切換手段によって上記試験ツー
   ルに接続された試験対象の中性子検出器を特定する接続
   状態判定手段を設け、該接続状態判定手段が特定した上
   記試験対象の中性子検出器の出力信号に代えて該試験対
   象の中性子検出器に最も近い位置に設置された中性子検
   出器の出力信号を用いて上記平均演算装置による平均演
   算演算を実行し、上記試験ツールで該試験ツールに接続
   された中性子検出器を試験することを特徴とした中性子
   検出器の試験システム。