JPH11142418A - 走査型プローブ顕微鏡 - Google Patents
走査型プローブ顕微鏡Info
- Publication number
- JPH11142418A JPH11142418A JP31200597A JP31200597A JPH11142418A JP H11142418 A JPH11142418 A JP H11142418A JP 31200597 A JP31200597 A JP 31200597A JP 31200597 A JP31200597 A JP 31200597A JP H11142418 A JPH11142418 A JP H11142418A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- cantilever
- liquid
- sample container
- probe microscope
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- Pending
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
観察を行うを走査型プローブ顕微鏡を提供する。 【解決手段】 走査型プローブ顕微鏡は、カンチレバー
1を支持するカンチレバー支持部2と、カンチレバー1
の変位を測定する変位測定部3〜6と、側壁19を備え
内部に液体10を保持する試料容器11を備え、試料S
を満たす液体10を良好に保持し、少なくとも試料S及
びカンチレバー1を試料容器11内の液体10中とした
状態で試料測定を行う。
Description
微鏡に関し、特に溶液中での観察に適した走査型プロー
ブ顕微鏡に関する。
と試料表面間に働く原子間力を測定する原子間力顕微鏡
(AFM)が知られている。この走査型プローブ顕微鏡
は、探針および探針を支持するカンチレバーと、このカ
ンチレバーの曲がりを検出する変位測定系とを備え、探
針と試料との間の原子間力(引力または斥力)を検出
し、この原子間力が一定となるように制御することによ
って、試料表面の形状を観察するものであり、生物,有
機分子,絶縁物等の非導電物質の観察を行うことができ
る顕微鏡である。
ド、コンタクトハイトモード、ノンコンタクトモード、
ダイナミックモード等の各種の測定モードを備えてい
る。コンタクトモードはカンチレバーと試料との間に働
く斥力が一定となるようにフィードバック制御を行いな
がら試料表面を走査し、フィードバック量から高さを測
定するモードであり、コンタクトハイトモードはカンチ
レバーの高さを一定に保ちながら試料表面を走査し、カ
ンチレバーのたわみ量から高さを測定するモードであ
り、ノンコンタクトモードは共振点付近で振動している
カンチレバーと試料との間に働く引力が一定となるよう
にフィードバック制御を行いながら試料表面を走査し、
フィードバック量から高さを測定するモードであり、ダ
イナミックモードは共振点付近で振動しているカンチレ
バーと試料との間に働く斥力が一定となるようにフィー
ドバック制御を行いながら試料表面を走査し、フィード
バック量から高さを測定するモードである。
状をカンチレバーの変位に置き換えて検出を行うもので
あり、カンチレバーの背面からの反射光の反射方向がカ
ンチレバーのたわみによって変化することを利用して検
出を行うものである。カンチレバーは、通常、長さ数百
ミクロンの大きさで、先端に先鋭な探針が形成されてお
り、試料や測定目的に応じて用意された複数種のカンチ
レバーの中から選択して用いている。また、試料は走査
手段によって三次元方向に走査・制御され、カンチレバ
ーは試料表面の形状をトレースして、三次元の観察像を
得ている。試料走査型の他にカンチレバー走査型の走査
手段を用いることもできる。
液、あるいは種々の溶液中にある試料の観察を走査型プ
ローブ顕微鏡によって行う場合、従来、液体の保持をO
リングや表面張力を用いて行っている。図9はOリング
を用いた液中試料の観察を説明するための図である。図
9は、基板104とカンチレバー101を支持するカン
チレバー支持部102との間にOリング103を配置
し、Oリング103で形成される空間内を液体100で
満たすと共に液体中に試料Sを配置する構成である。
又、図10は表面張力を用いた溶液中試料の観察を説明
するための図である。図10は、基板104とカンチレ
バー101を支持するカンチレバー支持部102との間
に液体100を表面張力104で保持させ、この液体1
00内に試料Sを配置する構成である。
顕微鏡では、液体中の試料の観察を行う場合、液体の保
持の点で問題がある。例えば、Oリングを用いて液体を
保持する場合には、Oリングの厚さによって試料の厚さ
が制限されるという問題点があり、又、Oリングの弾性
によって観察像が歪んだり、カンチレバー支持部102
がOリングと接触しているため視野を大きく動かせない
という問題もある。
には、液体がこぼれやすく、厚みのある試料の観察がで
きないという問題点がある。この液もれは、走査型プロ
ーブ顕微鏡の装置自体を損傷させるおそれがある。又、
エタノールのように表面張力が小さな液体を使用するこ
とができないという問題もある。
解決し、液体を良好に保持し、液体中の試料の観察に適
した走査型プローブ顕微鏡を提供することを目的とす
る。
顕微鏡は、側壁を有し内部に液体を保持する容器を用い
て試料ホルダーを構成することによって、試料を満たす
液体を良好に保持する。
レバーを支持するカンチレバー支持部と、カンチレバー
の変位を測定する変位測定部と、側壁を備え内部に液体
を保持する試料容器を備え、少なくとも試料及びカンチ
レバーを試料容器内の液体中とした状態で試料測定を行
う。
し、カンチレバー及び試料を液体中に浸した状態で測定
を行うものであり、これによって、カンチレバーと試料
は、試料の観察中において液体内に安定した状態で保持
される。本発明の試料容器は、側壁によって液体の保持
する機能を構成しているため、その側壁の位置や大きさ
を設定することによって、カンチレバー,カンチレバー
支持部、あるいは試料の大きさや形状に対応することが
でき、これによって、カンチレバーやカンチレバー支持
部と干渉しない位置や高さ、及び試料を収納する大きさ
や高さを容易に設定することができる。
施の態様は、カンチレバーをカンチレバー支持部の底面
に固定するものである。これによって、試料容器内の液
体の液位をカンチレバー支持部のカンチレバー設置位置
より上方とすることにより、試料及びカンチレバーを液
体中に浸すことができる。
施の態様は、カンチレバーの変位測定を光学系変位測定
部により行うと共に、カンチレバー支持部を透光材で形
成するものであり、これによって、カンチレバー支持部
内に光学系変位測定の光経路を通すことができ、変位測
定部の設計が容易となる。
施の態様は、試料容器内への液体の注入及び排出を行う
液体流通手段を備えるものであり、これによって、試料
容器内の液体の交換や液体の特性を維持することがで
き、測定条件の精度を高めることができる。
施の態様は、試料容器内への液体の注入及び排出を行う
液体流通手段をカンチレバー支持部に設けるものであ
り、これによって、試料及び試料容器の移動にともなう
干渉を起こすことなく、試料容器内への液体の注入、試
料容器空の液体の排出を行うことができる。
施の態様は、試料容器内への液体の注入及び排出を行う
液体流通手段を試料容器に設けるものであり、これによ
って、カンチレバーのカンチレバー支持部に干渉するこ
となく、試料容器内への液体の注入、試料容器空の液体
の排出を行うことができる。
施の態様は、液体流通手段において液体の排出を行う排
出管端部の位置を、試料容器の液位に設定するものであ
り、これによって、試料容器内の余剰液体を排出するこ
とによって、液位を設定位置に定めることができる。
参照しながら詳細に説明する。図1は本発明の走査型プ
ローブ顕微鏡の構成を説明するための概略構成図であ
る。図1において、走査型プローブ顕微鏡は、カンチレ
バー1によって試料Sの観察を行う装置であり、カンチ
レバー1を支持するカンチレバー支持部2と、カンチレ
バー1の変位を測定する変位測定部(3,4,5,6)
と、試料Sを液体10内に保持する試料容器11と、試
料Sをカンチレバー1に対して移動させて走査を行う走
査型手段7を備える。
ザー光源3と、照射されたレーザー光をカンチレバー1
に向けるビームスプリッタ4と、カンチレバー1で反射
されたレーザー光の方向を調節するミラー5と、反射レ
ーザー光を検出するフォトダイオード6を備える。カン
チレバー1に対する入射レーザー光及び反射レーザー光
は、透光性のカンチレバー支持部2を透過する光学経路
を形成する。
8と、底面18の周囲を囲む側壁19を備え、内部に液
体10を保持可能としている。試料容器11内に液体1
0を注入し、カンチレバー1及び試料Sを液体中に浸し
た状態とする。この状態の試料Sを変位測定部で測定す
ることにより、液体中の試料の観察を行う。
の高さは、試料Sの大きさに応じて設定し選択すること
ができる。側壁19の高さは、試料容器11の底面18
上に試料Sを配置し、カンチレバー1を測定位置に配置
した場合に、少なくとも試料S及びカンチレバー1が浸
る程度に注入した液体が外部にこぼれない程度とする。
又、この試料容器11を透光性とすることにより、内部
に配置した試料Sとカンチレバー1との位置関係を確認
することができる。
1の構成例について、図2,3,4の正面断面図、及び
正面図を用いて説明する。なお、図2と図3は異なる方
向から見た正面断面図である。変位測定部は、図1で示
した構成と同様に、レーザー光源3とビームスプリッタ
4とミラー5とフォトダイオード6を備え、試料容器1
1内の液体10中に浸され得た状態の試料Sをカンチレ
バー1によって観察する。なお、変位測定部は上記した
光学系の変位測定手段に限らず他の変位測定手段を用い
ることもできる。走査手段は、ピエゾ素子を用いてX,
Y,Z方向に走査することができるピエゾスキャナの
他、任意の走査機構を用いることができ、又、試料容器
側の走査に代えて変位測定部側を走査する構成とするこ
ともできる。
を固定具23で固定する支持部本体21と、支持部本体
21を保持する支持枠22と、支持枠22に取り付けら
れた支持レバー24とを備える。カンチレバー1は、カ
ンチレバー支持部21の下端部分に固定具23で固定さ
れる。固定具23は、ねじやばね機構等の任意の固定手
段を用いることができる。図2,3,4において、支持
部本体21の外径、試料容器11の内径、支持枠22の
内径は、試料容器1の移動分を考慮して大きさを設定
し、試料容器11とカンチレバー支持部21及び支持枠
22との干渉を防止する。
形成され、一方の貫通孔の一端には液体を注入するため
の注入管12が設けられ、他方の貫通孔の一端には液体
を排出するための排出管13が設けられる。貫通孔と注
入管12及び排出管13は、試料容器11に対する液体
流通手段を形成する。この液体流通手段の排出管13側
にある貫通孔の端部は、その設置位置によって試料容器
11中の液体の液位を定めることができる。
13からの排出を連動させて行うことによって試料容器
11内の液体を流し、試料Sを満たす液体を同一特性あ
るいは異なる特性とすることができ、液体環境を任意に
制御することができる。
の高さは、試料Sの大きさやカンチレバー支持部分の大
きさに応じて設定し選択することができる。側壁19の
高さは、試料容器11の底面18上に試料Sを配置し、
カンチレバー1を測定位置に配置した場合に、少なくと
も試料S及びカンチレバー1が浸る程度に注入した液体
が外部にこぼれない程度とする。又、試料容器11を透
光性とすることにより、内部に配置した試料Sとカンチ
レバー1との位置関係を確認することができる。
72が取り付けられ、ピエゾスキャナ等の走査手段7側
に設けた磁石71との吸引力によって、試料容器11を
走査手段7に取り付けることができる。なお、磁性体と
磁石は逆の位置関係で設けることも、又、試料容器11
の走査手段7への取り付け手段を、上記構成に限らず他
の構成とすることもできる。
支持レバー24側を切り取った形状とすることによっ
て、支持レバー24側からカンチレバー1及び試料Sを
見通すことができ、カンチレバーの取り付けの際に、カ
ンチレバー1と試料Sとの位置関係を黙視によって確認
することができる。
ができる。はじめに、試料Sの大きさに適した試料容器
11を選択し、この試料容器11内の底面18上に試料
Sを配置した後、試料容器11を走査手段7に取り付け
る。次に、観察する試料Sに適したカンチレバー1を選
択し、カンチレバー支持部2に固定具23で固定する。
カンチレバー1を取り付けたカンチレバー支持部2を支
持枠22に取り付け、支持レバー24を操作して、試料
容器11内において、試料Sとカンチレバー1との位置
決めを行う。このカンチレバー1と試料Sの位置決めに
おいて、透光性の支持部本体21や試料容器11を用
い、支持枠22に形成した切り取り部分を利用すること
によって、黙視により位置の確認を行うことができる。
図示しない液体流通手段の液位供給源から液体を注入管
12を通して注入する。試料容器11中の液位は、少な
くとも試料Sとカンチレバー1が液体に浸るものとす
る。この液体の設定において、例えば、排出管13によ
る吸引と注入管12からの注入を同時に行うことによ
り、試料容器11の液位は排出管13の排出口13’の
位置で定めることができる。
内の液位は、排出管13の排出口13’に位置により常
に一定位置に定めることができる。
第2の構成例を説明するための概略図である。第2の構
成例は、支持部本体21を一部を試料容器11側に突出
させて突出部25を形成し、この突出部25の先端にカ
ンチレバー1を取り付ける構成とするものである。この
構成によれば、試料容器11と支持部本体21の相対的
な移動量を大きくすることができ、走査範囲を拡大する
ことができる。
鏡の第3の構成例を説明するための概略図であり、それ
ぞれ異なる方向から見た正面断面図である。第3の構成
例は、支持部本体21の注入管12の注入口12’と排
出管13の排出口13’の高さ方向の位置を異ならせた
構成であり、図中では排出口13’を注入口12’より
も高い位置とし、注入口12’の高さ位置にカンチレバ
ー1を取り付けた構成を示している。試料容器11内に
注入された液体の液位は、排出口13’の位置によって
設定することができ、排出口13’を注入口12’より
も高い位置とすることによって、カンチレバー1を確実
に液体中に浸すことができる。
第4の構成例を説明するための概略図である。第4の構
成例は、試料容器11に対して液体の注入及び排出を行
う液体流通手段を試料容器11側に設ける構成である。
流通管14は、注入管と排出管を兼ねた管であり、一端
を試料容器11の側壁19に設けた開口部14’に接続
している。流通管14の他方には図示しない液体流通機
構を接続し、試料容器11内への液体の注入、及び試料
容器11からの液体の排出を行う。この構成によれば、
カンチレバー支持部に干渉することなく、試料容器内へ
の液体の注入、試料容器空の液体の排出を行うことがで
きる。又、図8中の排出流通管14は、注入管と排出管
を兼ねた構成を示しているが、前記構成例と同様に、注
入管と排出管を個別に配設することもできる。
支持部2の支持枠22は省略して示している。
な試料の観察が可能となり、又、観察像の歪の発生を防
止し、大きな視野を得ることができる。
防止し、液体もれによる装置の損傷を防止することがで
き、又、液体の種類に影響されることなく液体中の試料
観察を行うことができる。
す液体の注入及び排出を、試料をセットした状態で行う
ことができる。
の液体を、少なくとも試料とカンチレバーを液体中に満
たす液位に設定することができる。
ローブ顕微鏡によれば、液体を良好に保持し、液体中の
試料の良好な観察を行うことができる。
るための概略構成図である。
を説明するための正面断面図である。
を説明するための正面断面図である。
を説明するための正面図である。
を説明するための概略図である。
を説明するための概略図である。
を説明するための概略図である。
を説明するための概略図である。
するための図である。
説明するための図である。
ザー光源、4…ビームスプリッタ、5…ミラー、6…フ
ォトダイオード、7…走査手段、10…液体、11…試
料容器、12…注入管、12’…注入口、13…排出
管、13’…排出口、14…流通管、14’…流通口、
18…底面、19…側壁、21…支持部本体、22…支
持枠、23…固定具、24…支持レバー、25…突出
部、71…磁石、72…磁性体、100…基板、101
…カンチレバー、102…カンチレバー支持部、103
…Oリング、104…表面張力。
Claims (1)
- 【請求項1】 カンチレバーを支持するカンチレバー支
持部と、カンチレバーの変位を測定する変位測定部と、
側壁を備え内部に液体を保持する試料容器を備え、少な
くとも試料及びカンチレバーを試料容器内の液体中とし
た状態で試料測定を行うことを特徴とする走査型プロー
ブ顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31200597A JPH11142418A (ja) | 1997-11-13 | 1997-11-13 | 走査型プローブ顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31200597A JPH11142418A (ja) | 1997-11-13 | 1997-11-13 | 走査型プローブ顕微鏡 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11142418A true JPH11142418A (ja) | 1999-05-28 |
Family
ID=18024068
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31200597A Pending JPH11142418A (ja) | 1997-11-13 | 1997-11-13 | 走査型プローブ顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11142418A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20110307979A1 (en) * | 2010-06-11 | 2011-12-15 | Shimadzu Corporation | Scanning-type Probe Microscope |
-
1997
- 1997-11-13 JP JP31200597A patent/JPH11142418A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20110307979A1 (en) * | 2010-06-11 | 2011-12-15 | Shimadzu Corporation | Scanning-type Probe Microscope |
JP2011257331A (ja) * | 2010-06-11 | 2011-12-22 | Shimadzu Corp | 走査型プローブ顕微鏡 |
US8181267B2 (en) | 2010-06-11 | 2012-05-15 | Shimadzu Corporation | Scanning-type probe microscope |
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A521 | Written amendment |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A02 | Decision of refusal |
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