JPH11127066A - 寄生トランジスタのトリガリングを防ぐ方法および補助回路 - Google Patents

寄生トランジスタのトリガリングを防ぐ方法および補助回路

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JPH11127066A
JPH11127066A JP10184678A JP18467898A JPH11127066A JP H11127066 A JPH11127066 A JP H11127066A JP 10184678 A JP10184678 A JP 10184678A JP 18467898 A JP18467898 A JP 18467898A JP H11127066 A JPH11127066 A JP H11127066A
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terminal
transistor
control circuit
parasitic
pull
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JP10184678A
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Enrico Scian
エンリコ・シャン
Fabrizio Martignoni
ファブリツィオ・マルティニョーニ
Riccardo Depetro
リッカルド・デペトロ
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STMicroelectronics SRL
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SGS THOMSON MICROELECTRONICS
SGS Thomson Microelectronics SRL
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子回路の出力段の寄生トランジスタのトリ
ガリングを防ぐ方法とその関連補助回路を得る。 【解決手段】 電子回路の出力段(2)が、それぞれソ
ース端子、ゲート端子、ドレイン端子およびボディ端子
を有するプルアップPMOS形の少なくとも1つのトラ
ンジスタM2と、前記ボディ端子に接続された端子を有
する寄生バイポーラ・トランジスタ(3)とのトランジ
スタ対(M1、M2)を含む寄生トランジスタのトリガ
リングを防ぐ方法において、プルアップPMOSトラン
ジスタのボディ端子とソース端子の間に接続されたキャ
パシタ(C1)を提供するステップと、制御回路(5)
を使って、プルアップPMOSトランジスタのボディ効
果を抑制するステップとを含むことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子回路の出力段
における寄生トランジスタのトリガリング(triggering)
を防ぐための方法とその関連補助回路に関する。
【0002】より詳細には、本発明は、電子回路の出力
段における寄生トランジスタのトリガリングを防ぐ方法
に関し、前記出力段は、それぞれソース端子、ゲート端
子、ドレイン端子およびボディ端子を有する少なくとも
1つのPMOSプルアップ型トランジスタと、前記ボデ
ィ端子に接続された端子を有する寄生バイポーラ・トラ
ンジスタとによるトランジスタ対を含む。
【0003】
【従来の技術】一般的な電子回路の最終出力段は、その
複雑さに関係なく、基本的に、電力を負荷などに送るよ
うに構成されたドライバ部を含むことは周知である。し
たがって、出力段は、必要性や応用例のタイプにより負
荷から電流を排出または抽出することができなければな
らない。
【0004】最新技術を利用した出力段の多数の構成が
考案された。図1に、最も一般的な出力段の構成のひと
つを概略的に示す。図1の段は、第1の電圧基準Vddと
第2の電圧基準Vssの間に直列に接続されたMOSトラ
ンジスタの相補対を含み、第2の電圧基準Vssは、負電
圧でもアースでもよい。相補対の第1のトランジスタM
1は、NMOS形またはDMOS形のプルダウン・トラ
ンジスタであり、そのボディ端子がソース端子に接続さ
れている。
【0005】相補対の第2のトランジスタM2は、PM
OS形のプルアップ・トランジスタであり、そのボディ
端子がソース端子に接続されている。各駆動段は、トラ
ンジスタM1およびM2のゲート端子に接続されたそれ
ぞれの出力を有する。2つのトランジスタM1およびM
2は、出力ノードOUTと一致したドレイン端子によっ
て共に接続される。電気的負荷LOADは、出力ノード
OUTとアースの間に接続される。
【0006】負荷LOADは、様々なソーシングまたは
シンキングの動作ステップに基づいて、PMOSトラン
ジスタM2またはNMOSトランジスタM1によって交
互に駆動される。MOSトランジスタの相補対は、制御
ロジックに関して提供することができる明らかな利点に
より、出力段を実現するために最も広く使用されている
ものであるが、以下に行う考察は、バイポーラ・トラン
ジスタやその他のMOSトランジスタ対を含む出力段の
構成にも適用することができる。
【0007】図2は、たとえば、NMOS形またはDM
OS形のトランジスタ対を含む出力段を示す。これらの
トランジスタM3、M4は、出力ノードOUTにおいて
接続される。いくつかの応用例では、電流を負荷から正
および/または負の電源に戻す必要がある。これは、た
とえば、高電圧パルス発生器がパルス電源を生成するフ
ラット・パネルの分野に必要とされる。
【0008】図4は、それぞれの電圧基準を供給するそ
れぞれ正と負の2つのパルス発生器を図1の回路と関連
付けた実施形態を概略的に示す。供給信号の立ち上がり
の間、エネルギーが負荷に送られ、それに対して信号の
立ち下がりの間、負荷は、そのエネルギーの一部を供給
線に戻す。図3は、そのようなエネルギー輸送が行われ
ている間の、供給電圧の不等辺台形パターンを概略的に
示す。
【0009】電流ループバックは、構成要素、すなわち
PMOS、NMOSまたはDMOSトランジスタの双方
向性のオペラビリティ(operability)によって許容され
る。しかしながら、MOS構成要素はそれぞれ関連した
寄生ダイオードを有し、それが、逆レンジの動作に影響
を及ぼす。
【0010】また、PMOSトランジスタの場合は、ド
レイン−ボディpn接合によって形成された寄生ダイオ
ードのそばに、ドレイン−ボディ−基板接合によって形
成された垂直pnp形の寄生バイポーラ・トランジスタ
がある。残念ながら、この寄生バイポーラ・トランジス
タは、また、その関連MOSトランジスタの動作中にア
クティブであり、電流ループバックに寄与せず、基板に
流れる電流を消費する。
【0011】上記の状況は、エネルギー回収の視点から
も好ましくないことであるが、基板電位が、より多くの
寄生素子をトリガする点まで局部的に上昇することがあ
るために、出力段を損傷させることがある。したがっ
て、たとえば、適切な技術を利用してそのβ係数を低く
維持することによって、寄生トランジスタの利得を制限
する必要がある。もう1つの解決策は、適切な基板タッ
プ手段によって、PMOSトランジスタのまわりの領域
を「フリージング」することである。
【0012】他のより根本的な解決策は、SOIすなわ
ち誘電体絶縁技術の使用を提供する。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】本発明の基本となる技
術的課題は、出力段の駆動中に寄生トランジスタのトリ
ガリングを防ぐような機能的でかつ構造的特徴を有する
方法とそれに関連する回路を提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明の背後にある解決
策の概念は、ドレイン−ボディ間ダイオードのアクティ
ブ化を防ぐこと、またはそれに流れる電流を少なくとも
実質上減少させることである。
【0015】この概念は、出力段を構成する相補対にお
けるPMOSトランジスタのボディ端子をソース端子か
ら切り離し、それをボディ端子とソース端子の間に接続
された「プルアップ」キャパシタに接続することによっ
て実現される。この解決策の概念に基づき、技術的課題
は、請求項1の特徴的部分において予め示され定義され
たような駆動方法によって解決される。
【0016】技術的課題は、また、併記の請求項5に定
義された補助回路によって解決される。本発明の方法お
よび回路の特徴と利点は、添付図面を参照し非制限的な
例の目的で示した以下の実施形態の説明から明らかであ
ろう。
【0017】
【発明の実施の形態】図面を参照し、特に図5の例を参
照し、電子制御回路の最終出力段2のための、本発明を
実施する補助即ちボディ回路を、全体的かつ概略的に1
で示す。段2は、段2の出力ノードOUTとアースの間
に接続された電気的負荷LOADを駆動するように適合
される。段2は、図1を参照して本出願の前文で考察し
たものと実質上同一のMOSトランジスタM1とM2の
相補対を含むことが好ましい。したがって、以下では段
2は詳細に説明せず、前述の図1の説明を参照された
い。
【0018】詳細には、段2の相補対におけるPMOS
トランジスタM2と関連した寄生バイポーラ・トランジ
スタが、図5の3で概略的に示されていることに注意さ
れたい。pnp形トランジスタ3は、そのエミッタ端子
が相補対のドレイン端子に接続され、ベース端子が、P
MOSトランジスタM2のボディ端子に接続され、コレ
クタ端子がアースに接続されている。
【0019】補助回路1は、段2に接続され、段2に含
まれる相補対におけるPMOSトランジスタM2のボデ
ィ端子とソース端子の間に接続されたキャパシタC1を
含む。回路1は、さらに、一端がトランジスタM2のボ
ディ端子に接続され、それによりトランジスタ3のベ−
ス端子に接続されたダイオードDJを含む。ダイオード
DJの他端は、Vbodyで示された電圧信号を自由に受け
取ることができる。
【0020】本発明において、回路1の構成は、PMO
SトランジスタM2のボディ端子をソース端子から実質
上切り離すという利点をもつ。このボディ端子は、トラ
ンジスタM2のボディ端子とソース端子の間に接続され
た「プルアップ」キャパシタC1に導かれる。このキャ
パシタC1は予め充電されており、高電圧電源の電圧が
低下したときに、ダイオードDJを介してパルス前に充
電される。実際には、このダイオードは、キャパシタC
1の一端と直流電位線の間に、所定の値の低電圧で接続
される。
【0021】パルス供給電圧(pulsive supply)が上昇
するにつれて、トランジスタM2のボディ端子の電圧も
引き上げられ、PMOSトランジスタの永久的ボディ効
果が維持される。この効果は、欠点と考えられることが
あるが、より高い駆動過電圧によって、つまり、ゲート
端子とソース端子間の電圧Vgate-sourceの適切な低下
によって対処することができる
【0022】その代わりに、パルス信号の立ち下がりで
は、PMOSトランジスタM2の寸法を適切に決め、予
め選択された適切な電圧Vbodyを印加することによっ
て、ソース端子として働くPMOSトランジスタM2の
ドレイン端子の電圧を、ボディ端子の電圧よりも低い値
に保持することができる。このようにして、オンになっ
た場合に、接合がアクティブ化されたりきわめて大量の
電流を流したりすることがなくなる。
【0023】前に述べたように、本発明の補助回路は、
技術的課題を解決するが、供給信号の立ち上がりの間に
PMOSトランジスタにボディ効果を加えるという欠点
を持つ。このため、PMOSトランジスタのしきい値電
圧(Vth)が高くなり、昇圧機能がなくなるために、同
じ電流を供給するのにPMOSトランジスタの定格を必
要以上に大きく設計しなければならなくなる。この欠点
をなくすために、立ち上がりの間にトランジスタM2の
ボディ端子をそのソース端子に短絡するボディ制御回路
5が導入された。これは、ボディ効果を抑える。
【0024】図6は、段2と本発明による駆動制御回路
の間の相互接続の全体のレイアウトを概略的に示す。レ
ベル・シフタ/駆動段4は、段2のトランジスタM2の
制御端子に接続された少なくとも1つの出力を有する。
ボディ回路1は、トランジスタM2のボディ端子に接続
された出力を有し、ボディ制御回路5は、ボディ回路1
に接続された出力を有する。図5において、段4は、ト
ランジスタM1を駆動する段8に複製される。
【0025】図7は、ボディ制御回路5の内部構造をよ
り詳細に示す。シフタ段4は、正の供給パルスVddの期
間ずっとM1をオンに維持し、M2をオフに維持する。
回路段4は、事実上、2つのMOSスイッチM1および
M2に論理情報を送る高電圧レベル・シフタとして分類
される。
【0026】ボディ制御回路5は、一対の入力DMOS
トランジスタM3およびM4を含む微分セル・レベル・
シフタを含む。入力信号CONは、トランジスタM3に
直接印加され、インバータ6を介してトランジスタM4
に逆の形で印加される。
【0027】回路5の微分セルは、その出力に、ゲート
端子が共に接続され電圧基準Vrefに接続された一対の
NMOSトランジスタM5およびM6を有する。これら
のトランジスタは、電圧に有効であり、信号を比較的低
い電圧V5からVdd+Vbodyと関連した高い電圧まで確
実にシフトさせる。
【0028】さらに、トランジスタM7およびM8の対
が、フリップ・フロップ記憶素子7を構成するように接
続され、トランジスタM7の制御端子が、トランジスタ
M8のドレイン端子に接続され、この逆にも接続され
る。この記憶素子は、オン/オフ情報を記憶するのに役
立つ。オン/オフ情報は、また、その一方が閉じている
ときに他方が開いている逆位相で動作する2つのスイッ
チIaとIbに渡される。
【0029】記憶素子7とスイッチIaおよびIbとの
関係は、それぞれトランジスタ対を含む2つのインバー
タINV1とINV2によって確立される。MOSトラ
ンジスタM10とM11は、インバータINV1に提供
され、MOSトランジスタM12とM13は、インバー
タINV2に提供される。インバータINV1とINV
2は、カスケード接続され、ボディ回路1のプルアップ
・キャパシタC1の両端の電圧によってバイアスされ
る。
【0030】供給信号Vddの立ち上がりの間、スイッチ
Ibはオン状態であり、トランジスタM2のボディ端子
とソース端子を短絡させる。供給信号Vssの立ち下がり
の間、スイッチIaはオン状態であり、トランジスタM
2のボディ端子はプルアップ・キャパシタC1の正電位
端子に接続され、これにより、ボディ端子が、予め充電
されたキャパシタC1の両端の電圧降下と等しい電圧に
バイアスされ、ボディ回路1は、前述のように寄生トラ
ンジスタのトリガリングを防ぐ機能を実行することがで
きる。
【0031】以上説明した構成は、ひとつの例示的な応
用例を表し、本発明の動作を制限するものではない。本
発明の注目すべき利点は、40または64の出力を有す
るセル・アレイの行と列のドライバとして多数の出力段
を利用するフラット・パネルに使用されるような多数出
力の駆動回路において、たとえば、ボディ端子が、出力
段のすべてのPMOSトランジスタに対する共通ウェル
にあることである。このように、複数の段を含む集積回
路全体に、1つの制御回路5を使用することができる。
【0032】図8は、たとえば3つの段の複数の出力段
が、互いに並列に配置され、単一のプルアップ・キャパ
シタC1に接続され、単一の制御回路5を使用するよう
な可能な状況を概略的に示す。キャパシタC1は、多数
の集積回路によって共用することもできる。同様の考え
はダイオードDJにも適用され、ダイオードDJは、キ
ャパシタC1を充電するために集積されたタイプでも個
別のタイプでもよい。このキャパシタは、接続されたす
べてのウェルに十分な電荷を送るように設計されるべき
であり、後者は、供給パルスの間充電されなければなら
ない。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来技術による最終出力段の回路図である。
【図2】従来技術による最終出力段の回路図である。
【図3】図2の段に表れる信号の波形を示す図である。
【図4】従来技術による最終出力段の回路図である。
【図5】本発明による補助回路の概略図である。
【図6】図5に示した補助回路の詳細な図である。
【図7】本発明の方法と回路の例示的な応用例を示す図
である。
【図8】複数の出力段への本発明の例示的な応用例を示
す図である。
【符号の説明】
1 ボディ回路、 2 出力段、 3 寄生バイポーラ
・トランジスタ、 4レベル・シフタ/駆動段、 5
ボディ制御回路、 6 インバータ、 7フリップ・フ
ロップ記憶素子、 8 段。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H03K 19/0175 H03K 19/00 101F 19/003 (72)発明者 ファブリツィオ・マルティニョーニ イタリア国、21040 モラッツォーネ、ヴ ィア・マッツィーニ 5 (72)発明者 リッカルド・デペトロ イタリア国、28037 ドモドッソラ、ヴィ ア・ロミータ 12

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子回路の出力段(2)の寄生トランジ
    スタのトリガリングを防ぐ方法であって、前記段(2)
    が、それぞれソース端子、ゲート端子、ドレイン端子お
    よびボディ端子を有するプルアップPMOS形の少なく
    とも1つのトランジスタM2と、前記ボディ端子に接続
    された端子を有する寄生バイポーラ・トランジスタ
    (3)とのトランジスタ対(M1、M2)を含む寄生ト
    ランジスタのトリガリングを防ぐ方法において、 前記プルアップPMOSトランジスタのボディ端子とソ
    ース端子の間に接続されたキャパシタ(C1)を提供す
    るステップと、 制御回路(5)を使って、前記プルアップPMOSトラ
    ンジスタのボディ効果を抑制するステップとを含むこと
    を特徴とする寄生トランジスタのトリガリングを防ぐ方
    法。
  2. 【請求項2】 電圧電位(Vbody)を自由に受け取る他
    端を有するダイオード(DJ)の一端が、前記ボディ端
    子にも接続されたことを特徴とする請求項1に記載の寄
    生トランジスタのトリガリングを防ぐ方法。
  3. 【請求項3】 前記制御回路(5)が、記憶素子(7)
    と関連付けられ、逆位相で動作する一対のスイッチ(I
    a、Ib)に接続されたレベル・シフタを含むことを特
    徴とする請求項1に記載の寄生トランジスタのトリガリ
    ングを防ぐ方法。
  4. 【請求項4】 前記制御回路(4)は、前記トランジス
    タ(M1、M2)のそれぞれの制御端子を駆動するよう
    に接続された一対の出力端を有することを特徴とする請
    求項1に記載の寄生トランジスタのトリガリングを防ぐ
    方法。
  5. 【請求項5】 電子回路の出力段の寄生トランジスタの
    トリガリングを防ぐための補助回路であって、前記段
    (2)が、それぞれソース端子、ゲート端子、ドレイン
    端子およびボディ端子を有するプルアップPMOS形の
    少なくとも1つのトランジスタM2と、前記ボディ端子
    に接続された端子を有する寄生バイポーラ・トランジス
    タ(3)とのトランジスタ対(M1、M2)を含む補助
    回路において、 前記プルアップPMOSトランジスタのボディ端子とソ
    ース端子の間に接続されたキャパシタ(C1)と、 前記プルアップPMOSトランジスタのボディ効果を抑
    制するための制御回路(5)とを備えたことを特徴とす
    る補助回路。
  6. 【請求項6】 電圧電位(Vbody)を自由に受け取る他
    端を有するダイオード(DJ)の一端が、前記ボディ端
    子に接続されたことを特徴とする請求項5に記載の補助
    回路。
  7. 【請求項7】 前記制御回路(5)が、記憶素子(7)
    と関連付けられ、逆位相で動作する一対のスイッチ(I
    a、Ib)に接続されたレベル・シフタを含むことを特
    徴とする請求項5に記載の補助回路。
  8. 【請求項8】 制御回路(5)に組み込まれた前記記憶
    素子(7)が、MOSトランジスタ・フリップ・フロッ
    プであることを特徴とする請求項5に記載の補助回路。
  9. 【請求項9】 前記制御回路(5)が、集積回路内の複
    数の出力段に接続可能であることを特徴とする請求項5
    に記載の補助回路。
JP10184678A 1997-06-30 1998-06-30 寄生トランジスタのトリガリングを防ぐ方法および補助回路 Pending JPH11127066A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP97830327.9 1997-06-30
EP97830327A EP0889591B1 (en) 1997-06-30 1997-06-30 Method and corresponding circuit to prevent a parasitic transistor turn on in an output stage of an electronic circuit

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JPH11127066A true JPH11127066A (ja) 1999-05-11

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ID=8230691

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10184678A Pending JPH11127066A (ja) 1997-06-30 1998-06-30 寄生トランジスタのトリガリングを防ぐ方法および補助回路

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US (1) US6194948B1 (ja)
EP (1) EP0889591B1 (ja)
JP (1) JPH11127066A (ja)
DE (1) DE69727918D1 (ja)

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JP3641511B2 (ja) * 1995-06-16 2005-04-20 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置

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