JPH11118812A - Xyステージ - Google Patents

Xyステージ

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JPH11118812A
JPH11118812A JP28401897A JP28401897A JPH11118812A JP H11118812 A JPH11118812 A JP H11118812A JP 28401897 A JP28401897 A JP 28401897A JP 28401897 A JP28401897 A JP 28401897A JP H11118812 A JPH11118812 A JP H11118812A
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JP
Japan
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axis
ballast
sample
axis table
stage
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JP28401897A
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Koro Oi
公郎 大井
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Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課 題】 鉛直面内に配置したXYステージの鉛直
方向に移動するテーブルを上方へ移動させる際に必要な
駆動力を小さくすること。 【解決手段】 鉛直なテーブル支持面およびバラスト支
持面を有するテーブル・バラスト支持部材2bと、前記
テーブル支持面に支持された鉛直なY軸方向に移動可能
なY軸テーブル7および前記Y軸に垂直且つ水平なX軸
方向に移動可能に支持されたX軸テーブル9を有するX
Yテーブル3と、前記バラスト支持面に支持された鉛直
なY軸方向に移動可能で前記Y軸テーブル7およびY軸
テーブル7に支持される部材と重量が釣り合うバラスト
14と、前記Y軸テーブル7およびバラスト14を連結
するとともに前記Y軸テーブル7およびバラスト14の
一方に作用する下向きの重力が他方に上向きの力を作用
させるように前記Y軸テーブル7およびバラスト14を
連結するテーブル・バラスト連結部材17。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、STM(Scanning
Tunneling Microscope、走査型トンネル顕微鏡)、A
FM(Atomic Force Microscope、原子間力顕微鏡)、
UHV(ulutra high vacuum)−STM(超高真空走
査型トンネル顕微鏡)、UHV(urutra high vacuu
m)−AFM(超高真空原子間力顕微鏡)等のSPM(S
canning Probe Microscope、走査型プローブ顕微鏡)、
および、SAP(走査型アトムプローブ装置)等で使用
するXYステージに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ウエハー等の比較的大きな試料用
の試料ホルダを支持するXYステージでは、水平面内で
移動するXYテーブルが使用されている。例えば、大気
圧SPMのXYステージ上の試料と探針(または、カン
チレバー)の位置関係は、試料を水平に配置し、試料の
上から探針(または、カンチレバー)がアプローチされ
る構造である。この試料と探針(または、カンチレバ
ー)との位置関係の問題点は、探針(または、カンチレ
バー)が試料の上で移動(または、scan)し、動き回わ
ることである。探針(または、カンチレバー)は、試料
へアプローチのために機械的に動き、scanの時にはスキ
ャナーとともに試料の上方で動く。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】試料の上でものが動く
ということは、試料上面にごみを落としているというこ
とになり、表面を扱う装置にはふさわしくない。特に、
半導体関係でウエハーを扱う場合には、大きな問題であ
る。
【0004】試料にごみが落ちないようにするにはカバ
ーをすれば良いが、完全にカバーで覆うことは複雑で問
題も多い。対策として、原理的に試料にごみが落ちない
様に「試料の上に移動するものが無い構造」すなわち、
「試料を垂直に立てる構造」が考えられる。これは超高
真空のSTM/AFMで実施されているが、試料の大き
さが最大5mm×5mmで試料移動も±2mmと小さい
ステージで実現している。しかし、半導体向けには8イ
ンチ×10インチのウエハーを観察する場合、300m
mのステージが必要になっている。このサイズのステー
ジを垂直に立てた場合、問題点としては、ステージを重
力に逆らって移動させなければ、リニア駆動方式のステ
ージを用いることはできず、ネジ駆動方式のステージで
も、持ち上げるときのみ大きなトルクが必要になった
り、高速移動できなくなったりする。
【0005】ステージを立てた場合、持ち上げるステー
ジの重さを無かったことにすれば水平に寝かした場合と
同じに扱える。前記重さを無かったことにする簡単な方
法としては、反対側に同じ重さのバラストを設け、ステ
ージと繋げることが考えられる。
【0006】本発明は、前述の事情に鑑み、下記の記載
内容(O01),(O02)を課題とする。 (O01)XYステージを鉛直面内に配置することによ
り、XYステージで支持する試料の表面を鉛直に配置す
ること。 (O02)鉛直面内に配置したXYステージの鉛直方向に
移動するテーブルを上方へ移動させる際に必要な駆動力
を小さくすること。
【0007】
【課題を解決するための手段】次に、前記課題を解決す
るために案出した本発明を説明するが、本発明の要素に
は、後述の実施例の要素との対応を容易にするため、実
施例の要素の符号をカッコで囲んだものを付記する。ま
た、本発明を後述の実施例の符号と対応させて説明する
理由は、本発明の理解を容易にするためであり、本発明
の範囲を実施例に限定するためではない。
【0008】(本発明)前記課題を解決するために、本
発明のXYステージは、下記の要件を備えたことを特徴
とする、 (Y01)互いに反対側を向いた鉛直な側面に形成された
テーブル支持面およびバラスト支持面を有するテーブル
・バラスト支持部材(2b)、 (Y02)前記テーブル支持面に支持された鉛直なY軸方
向に移動可能なY軸テーブル(7)および前記Y軸に垂
直且つ水平なX軸方向に移動可能に支持されたX軸テー
ブル(9)を有するXYテーブル(3)、 (Y03)前記バラスト支持面に支持された鉛直なY軸方
向に移動可能で前記Y軸テーブル(7)およびY軸テー
ブル(7)に支持される部材と釣り合う重量を有するバ
ラスト(14)、 (Y04)前記Y軸テーブル(7)およびバラスト(1
4)を連結するテーブル・バラスト連結部材(17;
L)、 (Y05)前記Y軸テーブル(7)およびバラスト(1
4)の一方に作用する下向きの重力が他方に上向きの力
を作用させるように前記Y軸テーブル(7)およびバラ
スト(14)を連結するテーブル・バラスト連結部材
(17;L)。
【0009】
【作用】前記構成を備えた本発明のXYステージでは、
テーブル・バラスト支持部材(2b)は、互いに反対側
を向いた鉛直な側面に形成されたテーブル支持面および
バラスト支持面を有する。前記テーブル支持面は、XY
テーブル(3)を支持する。XYテーブル(3)は、鉛
直なY軸方向に移動可能なY軸テーブル(7)および前
記Y軸に垂直で且つ水平なX軸方向に移動可能なX軸テ
ーブル(9)を有する前記バラスト支持面は前記Y軸テ
ーブル(7)およびY軸テーブル(7)に支持される部
材と重量が釣り合うバラスト(14)を、鉛直なY軸方
向に移動可能に支持する。前記Y軸テーブル(7)およ
びバラスト(14)を連結するテーブル・バラスト連結
部材(17;L)は、前記Y軸テーブル(7)およびバ
ラスト(14)の一方に作用する下向きの重力が他方に
上向きの力を作用させるように前記Y軸テーブル(7)
およびバラスト(14)を連結する。
【0010】したがって、Y軸テーブル(7)に作用す
る重力は、前記バラスト(14)に作用する重力と釣り
合って、キャンセルさせる。このため、Y軸テーブル
(7)を鉛直方向(Y軸方向)に移動させる際に必要な
Y軸テーブル(7)駆動用の力は、Y軸テーブル(7)
に作用する重力に影響されないので、Y軸テーブル
(7)を上方に移動させるのに必要な駆動力と下方に移
動させるのに必要な駆動力とをほぼ等しくすることがで
きる。したがって、Y軸テーブル(7)を上方に移動さ
せるのに必要な駆動力は、Y軸テーブル(7)に作用す
る重力に打ち勝つ必要が無くなるので、小さくなる。
【0011】
【発明の実施の形態】(実施例)次に図面を参照しなが
ら、本発明のXYステージの実施の形態の具体例(実施
例)を説明するが、本発明は以下の実施例に限定される
ものではない。なお、以後の説明の理解を容易にするた
めに、図面において互いに直交する矢印X,Y,Zの方
向に直交座標軸X軸、Y軸、Z軸を定義し、X方向と逆
向きは−X方向、Y方向と逆向きは−Y方向、Z方向と
逆向きは−Z方向とする。また、X方向及び−X方向を
含めてX軸方向といい、Y方向及び−Y方向を含めてY
軸方向といい、Z方向及び−Z方向を含めてZ軸方向と
いうことにする。さらに図中、「○」の中に「・」が記
載されたものは紙面の裏から表に向かう矢印を意味し、
「○」の中に「×」が記載されたものは紙面の表から裏
に向かう矢印を意味するものとする。
【0012】(実施例1)図1は本発明のXYテーブル
およびバラストを有するXYステージの実施例1の全体
説明図で、図1AはXYテーブルの斜視図、図1Bは前
記XYテーブルと釣り合うバラストの斜視図である。図
2は同実施例1のXYステージの正断面図である。図3
は同実施例1のXYステージを備えたSTMの側断面図
である。図4は試料ホルダの説明図で、図4Aは平面
図、図4Bは正面図である。
【0013】図1、図2において、XYステージ1は、
基板2を有しており、基板2は水平基板2aおよび鉛直
基板(すなわち、テーブル・バラスト支持部材)2bに
より構成されている。鉛直基板2bの右側面(Z側面、
すなわち、Z軸方向の側面)には2軸テーブル装置(す
なわち、XYテーブル)3が装着されている。2軸テー
ブル装置3は、テーブル基板4に支持された一対のY軸
ガイド6,6、および前記Y軸ガイド6,6によりY軸
方向(鉛直方向)にスライド移動可能にガイドされるY
軸テーブル7を有している。Y軸テーブル7は図示しな
いY軸駆動装置によりY軸方向の位置が調整可能であ
る。前記Y軸テーブル7上には、一対のX軸ガイド8,
8、および前記X軸ガイド8,8によりX軸方向(水平
方向)にスライド移動可能にガイドされるX軸テーブル
9が支持されている。X軸テーブル9は図示しないX軸
駆動装置によりX軸方向の位置が調整可能である。
【0014】前記X軸テーブル9上には、Z軸回りに回
転可能な回転テーブル11が、その回転位置を調節可能
に支持されている。前記回転テーブル11上には、ホル
ダ装着用突出部材12が設けられている。ホルダ装着用
突出部材12はX軸方向から見た形状(すなわち、X軸
に垂直な断面形状)が台形に形成されている。
【0015】前記鉛直基板2bの左側面(−Z側面、す
なわち、−Z方向の側面)には鉛直方向(Y軸方向)に
延びる一対のY軸ガイド13,13、および前記Y軸ガ
イド13,13によりY軸方向にスライド自在に支持さ
れたバラスト14が配置されている。バラスト14は、
前記Y軸テーブル7およびY軸テーブル7に支持された
部材(前記符号8〜11で示された部材および後述の試
料ホルダH)の各重量の合計と均合う重量を有してい
る。前記鉛直基板2bの上端にはアイドラプーリ16が
回転自在に支持されており、前記アイドラプーリ16に
掛けられたワイヤ17の一端は前記Y軸テーブル7に連
結され、他端は前記バラスト14に連結されている。し
たがって、前記ワイヤ17は、前記Y軸テーブル7およ
びバラスト14を連結するテーブル・バラスト連結部材
17として使用されている。
【0016】前記鉛直なY軸方向にスライド可能なY軸
テーブル7に作用する重力は、Y軸テーブル7を鉛直軸
方向の下方に移動させるように作用する。このY軸テー
ブル7に作用する下向きの重力は、前記ワイヤ17を介
して前記バラスト14に上向きの力を作用させる。そし
て、バラスト14に作用する重力はバラスト14に下向
きの力を作用させている。したがって、Y軸テーブル7
に作用する重力は、前記バラスト14に作用する重力と
釣り合って、キャンセルさせる。このため、Y軸テーブ
ル7を鉛直方向(Y軸方向)に移動させる際に必要なY
軸テーブル駆動用の力は、Y軸テーブル7に作用する重
力に影響されないので、Y軸テーブル7を上方に移動さ
せるのに必要な駆動力と下方に移動させるのに必要な駆
動力とをほぼ等しくすることができる。したがって、Y
軸テーブル7を上方に移動させるのに必要な駆動力は、
Y軸テーブル7に作用する重力に打ち勝つ必要が無くな
るので、小さくなる。
【0017】前記水平基板2a上には探針ホルダ装着部
材18が支持されており、探針ホルダ装着部材18上に
は探針ホルダ19が装着されている。探針ホルダ19は
探針20を支持している。
【0018】図3において前記XYステージ1は、試料
に対して精密作業を行う際に使用される真空試料室(真
空作業室)A内に配置されている。真空試料室(真空作
業室)Aは接続口26aを有する外壁26により構成さ
れている。前記真空試料室Aは、前記接続口26aを介
して試料交換室(予備排気室)27と接続されている。
真空試料室Aと試料交換室27との間には内部仕切弁2
8が設けられている。内部仕切弁28は、断面くさび型
部材29,30およびそれらを連結する引張バネ31,
31により構成されている。くさび型部材29上面には
仕切弁開閉用シャフト32が接続されている。仕切弁開
閉用シャフト32上端部には油圧シリンダのピストン3
3が固定されている。ピストン33は通常図3に示す位
置(仕切弁閉塞位置)にあり、油圧により上下方向に移
動可能になっている。
【0019】前記くさび型部材29上方には押圧バネ3
4が設けられている。くさび型部材29は通常押圧バネ
34により下方に押圧されおり、くさび型部材29が下
方に押圧される押圧力は、くさび型部材29とくさび型
部材30との当接面においてくさび型部材30を図3に
おいて後方(−X方向)に押圧するように作用する。こ
のとき、くさび型部材30は前記真空試料室Aの外壁2
6に圧接し、内部仕切弁28が閉塞状態になる。内部仕
切弁28を開くときは、前記ピストン33を上方に移動
させる。ピストン33の上方への移動に伴い前記くさび
型部材29が上方へ移動される。このとき、引張バネ3
1,31により連結されているくさび型部材29も上方
へ移動し、内部仕切弁28が開放状態になる。また、試
料交換室27を形成する外壁36には外部仕切弁37が
設けられているおり、試料交換室27は前記外部仕切弁
37を介して外部の大気と接続されている。そして、試
料交換室27は図示しない真空装置により真空にするこ
とが可能に構成されている。
【0020】前記試料交換室27の外壁36には交換棒
支持部材38が連結されており、前記交換棒支持部材3
8にスライド可能に支持された試料交換棒39は、その
内端部が前記試料交換室27内に配置され、その外端部
は試料交換室27外側に配置されている。試料交換棒3
9の外端部には操作部39aが形成されており、内端部
にはホルダ連結ネジ39bが形成されている。前記符号
1〜39等で示された要素により、STMが構成されて
いる。
【0021】図3、図4において、試料ホルダHには、
前記試料交換棒39の連結ネジ39bと着脱可能に連結
される連結ネジ孔41が形成されている。前記試料ホル
ダHの下部には前記回転テーブル11上のホルダ装着用
突出部材12に嵌合係止される台形溝42が形成されて
いる。また図4において、試料ホルダHは、上部に円形
の試料支持部43を有している。試料支持部43には試
料(ウエハ)Wが支持されている。試料(ウエハ)Wに
は円周方向の位置検出用のノッチ(切欠)Waが形成さ
れている。試料支持部43側面には試料位置決め部材4
4,44および試料押圧部材45が設けられている。試
料押圧部材45は引張バネ46により前記円形の試料支
持部43の中心部に引張られており、試料(ウエハ)W
は試料押圧部材45により前記試料位置決め部材44,
44に押圧され、固定されている。
【0022】(実施例の作用)前記構成を備えた本発明
の実施例1のXYステージ1を備えたSTMでは、図3
に示すように、試料交換棒39先端の連結ネジ39bを
試料ホルダHの連結ネジ孔41にねじ込んで連結する。
そして、試料ホルダHの試料支持部43上面に試料(ウ
エハ)Wを保持する。この状態から試料交換棒39を9
0度回転させて、試料Wを紙面の表面側に且つ前記台形
溝42を紙面の背面側に移動させる。また、前記XYス
テージ1のY軸テーブル7およびX軸テーブル9を設定
された基準位置に移動させる。X軸テーブル9が基準位
置に移動した状態では、X軸テーブル9上の断面台形の
ホルダ装着用突出部材12は、前記90度回転した試料
交換棒39先端に連結した試料ホルダHの台形溝42と
嵌合可能な位置(台形溝42の後方(−X方向)位置)
に配置される。
【0023】前記内部仕切弁28を開いた状態で前記9
0度回転した試料交換棒39を−X軸方向に前進移動さ
せると、前記試料ホルダHの台形溝42は、前記X軸テ
ーブル9上の断面台形のホルダ装着用突出部材12に嵌
合し、装着される。なお、前記台形溝42をホルダ装着
用突出部材12に嵌合させて装着する技術は従来周知で
ある。前述のようにしてXYステージ1の回転テーブル
11上のホルダ装着用突出部材12を前記試料ホルダH
の台形溝42に嵌合装着した状態で、前記試料交換棒3
9を回転させて試料ホルダHから離脱させる。その後、
試料交換棒39を試料交換室27に後退させて、前記内
部仕切弁28を閉塞する。
【0024】この状態で、試料ホルダHに保持された試
料(ウエハ)WをXY平面内で移動させながら、STM
による観察、検査を行う。前記試料(ウエハ)Wを支持
するY軸テーブル7をY方向(上向きの鉛直方向)に移
動させる際、Y軸テーブル7およびY軸テーブル7に支
持された部材(X軸テーブル9および試料ホルダH等)
の重量は前記バラスト14の重量と釣り合っているの
で、小さな駆動力で上方に移動させることができる。
【0025】(実施例2)図5は本発明のXYテーブル
およびバラストを有するXYステージの実施例2の全体
説明図で、縦断面図である。なお、この実施例2の説明
において、前記実施例1の構成要素に対応する構成要素
には同一の符号を付して、その詳細な説明を省略する。
図5において、鉛直基板2bにはZ軸方向の貫通孔2cが
形成されており、前記貫通孔2cには鉛直基板2bに支持
されたX軸方向に延びる揺動軸2dが配置されている。
前記揺動軸2dにより揺動レバーLが揺動自在に支持さ
れている。
【0026】図6は本発明の試料ステージの実施例2で
使用するバラストの説明図で、図6Aは斜視図、図6B
は前記図6Aの要部拡大図である。図6において、バラ
スト14には右側面(Z側面)に凹部14aが形成され
ている。前記凹部14aを挟んでX軸方向両側には軸支
持部14b,14bが設けられている。前記軸支持部14
b,14bは、前記図5に示す鉛直基板2bの貫通孔2c内
に挿入される部分である。図5、図6において前記軸支
持部14b,14bにより軸14cが支持されており、前
記軸14cにはベアリング14dが装着されている。前記
ベアリング14dは前記揺動レバーL(図5参照)上に
支持されている。
【0027】図5において、Y軸テーブル7には左側面
(−Z側面)に凹部7aが形成されている。前記図6に
示す凹部14aおよび軸支持部14b、14bと同様に、
前記凹部7aを挟んでX軸方向両側には軸支持部7b,7
bが設けられている。前記軸支持部7b,7bは、前記鉛
直基板2bの貫通孔2c内に挿入される部分である。前記
軸支持部7b,7bにより軸7cが支持されており、前記
軸7cにはベアリング7dが装着されている。前記ベアリ
ング7dは前記揺動レバーL上に支持されている。前記
符号7a〜7dで示された要素は前記符号14a〜14dで
示された要素とほぼ同様に構成されている。
【0028】前記Y軸テーブル7およびY軸テーブル7
に支持された部材(X軸テーブル9、回転テーブル1
1、試料ホルダH等)の重量と前記バラスト14の重量
とは同じ大きさに設定されており、且つ前記揺動軸2d
に対するベアリング14d,7dの位置は等距離に設定さ
れている。したがって、前記Y軸テーブル7およびY軸
テーブル7に支持された部材に作用する重力は揺動レバ
ーLを時計方向に回転するように作用する。この揺動レ
バーLに作用する力は前記バラスト14を持ち上げるよ
うに作用する。したがって、揺動レバーLは、前記Y軸
テーブルおよびバラストの一方に作用する下向きの重力
が他方に上向きの力を作用させるように、前記Y軸テー
ブルおよびバラストを連結するテーブル・バラスト連結
部材としての機能を有している。
【0029】(実施例2の作用)前記試料(ウエハ)W
を支持するY軸テーブル7をY方向(上向きの鉛直方
向)に移動させる際、Y軸テーブル7およびY軸テーブ
ル7に支持された部材(X軸テーブル9および試料ホル
ダH等)の重量は前記バラスト14の重量と釣り合うの
で、小さな駆動力でY軸テーブル7を上方に移動させる
ことができる。
【0030】(実施例3)図7は本発明のXYテーブル
およびバラストを有するXYステージの実施例3の全体
説明図で、縦断面図である。なお、この実施例3の説明
において、前記実施例2の構成要素に対応する構成要素
には同一の符号を付して、その詳細な説明を省略する。
この実施例3は、前記Y軸テーブル7およびY軸テーブ
ル7に支持された部材(X軸テーブル9、回転テーブル
11、試料ホルダH等)の重量と前記バラスト14の重
量とが異なっている点で、前記実施例2と相違してい
る。したがって、前記揺動軸2dに対するベアリング1
4d,7dの距離は異なっており、ベアリング14d,7d
に対する揺動軸2dの位置は、揺動レバーLに作用する
回転モーメントが釣り合う位置に設定されている。この
実施例3のその他の構成は前記実施例2と同様である。
この実施例3は前記実施例2と同様に小さな駆動力でY
軸テーブル7を上方に移動させることができる。
【0031】(実施例4)図8は本発明のXYテーブル
およびバラストを有するXYステージの実施例4の全体
説明図で、縦断面図である。図9は本発明の実施例4の
作用説明図である。なお、この実施例4の説明におい
て、前記実施例3の構成要素に対応する構成要素には同
一の符号を付して、その詳細な説明を省略する。この実
施例4は、Y軸テーブル7に、その凹部7aに配置され
たX軸方向に延びる軸7cが設けられている。また、バ
ラスト14にはその凹部14aに配置されたX軸方向に
延びる軸14cが設けられている。揺動レバーLには長
孔Laが形成されており、長孔Laには揺動軸2dおよび
軸14cが相対的回転可能且つスライド可能に係合して
いる。また、揺動レバーLは前記軸7cと相対的回転可
能に連結されている。
【0032】この実施例4は、前記Y軸テーブル7およ
びY軸テーブル7に支持された部材(X軸テーブル9、
回転テーブル11、試料ホルダH等)の重量と前記バラ
スト14の重量とが異なっており、前記揺動軸2dに対
する軸14c,7cの距離は異なっている。そして、軸1
4c,7cに対する揺動軸2dの位置は、揺動レバーLに
作用する回転モーメントが釣り合う位置に設定されてい
る。この実施例4のその他の構成は前記実施例3と同様
である。この実施例4は前記実施例3と同様に小さな駆
動力でY軸テーブル7を上方に移動させることができ
る。
【0033】(変更例)以上、本発明の実施例を詳述し
たが、本発明は、前記実施例に限定されるものではな
く、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内
で、種々の変更を行うことが可能である。本発明の変更
実施例を下記に例示する。
【0034】(H01)本発明は、実施例に示した、ST
Mの代わりに、UHV−AFM(原子間力顕微鏡)等の
他のSPM(走査型プローブ顕微鏡)、および、SAP
(走査型アトムプローブ装置)にも適用可能である。 (H02)前記図8、図9に示す実施例4において、レバ
ーLに対して、軸14cおよび7cをX軸方向にスライド
可能に構成した場合、Y軸テーブル7上にX軸テーブル
9を支持する代わりに、X軸テーブル上にY軸テーブル
を支持する構成を採用することが可能である。その場
合、Y軸テーブルおよびY軸テーブルに支持される部材
の重量には、X軸テーブルの重量が含まれないので、バ
ラスト14の重量を軽くすることが可能である。
【0035】
【発明の効果】前述の本発明のXYステージは、下記の
効果を奏することができる。 (E01)XYステージを鉛直面内に配置することによ
り、XYステージで支持する試料の表面を鉛直に配置す
ることができる。したがって、試料表面に上方から異物
が落下して付着することを防止することができる。 (E02)鉛直面内に配置したXYステージの鉛直方向に
移動するテーブルを上方へ移動させる際に必要な駆動力
を小さくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は本発明のXYテーブルおよびバラスト
を有するXYステージの実施例1の全体説明図で、図1
AはXYテーブルの斜視図、図1Bは前記XYテーブル
と釣り合うバラストの斜視図である。
【図2】 図2は同実施例1のXYステージの正断面図
である。
【図3】 図3は同実施例1のXYステージを備えたS
TMの側断面図である。
【図4】 図4は試料ホルダの説明図で、図4Aは平面
図、図4Bは正面図である。
【図5】 図5は本発明のXYテーブルおよびバラス
トを有するXYステージの実施例2の全体説明図で、縦
断面図である。
【図6】 図6は本発明の試料ステージの実施例2で使
用するバラストの説明図で、図6Aは斜視図、図6Bは
前記図6Aの要部拡大図である。
【図7】 図7は本発明のXYテーブルおよびバラスト
を有するXYステージの実施例3の全体説明図で、縦断
面図である。
【図8】 図8は本発明のXYテーブルおよびバラスト
を有するXYステージの実施例4の全体説明図で、縦断
面図である。
【図9】 図9は本発明の実施例4の作用説明図であ
る。
【符号の説明】
2b…テーブル・バラスト支持部材、3…XYテーブ
ル、7…Y軸テーブル、9…X軸テーブル、14…バラ
スト、17,L…テーブル・バラスト連結部材、

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 下記の要件を備えたことを特徴とするX
    Yステージ、 (Y01)互いに反対側を向いた鉛直な側面に形成された
    テーブル支持面およびバラスト支持面を有するテーブル
    ・バラスト支持部材、 (Y02)前記テーブル支持面に支持された鉛直なY軸方
    向に移動可能なY軸テーブルおよび前記Y軸に垂直且つ
    水平なX軸方向に移動可能に支持されたX軸テーブルを
    有するXYテーブル、 (Y03)前記バラスト支持面に支持された鉛直なY軸方
    向に移動可能で前記Y軸テーブルおよびY軸テーブルに
    支持される部材と釣り合う重力を有するバラスト、 (Y04)前記Y軸テーブルおよびバラストを連結するテ
    ーブル・バラスト連結部材、 (Y05)前記Y軸テーブルおよびバラストの一方に作用
    する下向きの重力が他方に上向きの力を作用させるよう
    に前記Y軸テーブルおよびバラストを連結するテーブル
    ・バラスト連結部材。
JP28401897A 1997-10-16 1997-10-16 Xyステージ Withdrawn JPH11118812A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010261970A (ja) * 2004-07-12 2010-11-18 Arkray Inc 分析用具、分析用具における反応槽の特定方法および分析装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010261970A (ja) * 2004-07-12 2010-11-18 Arkray Inc 分析用具、分析用具における反応槽の特定方法および分析装置

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