JPH11118735A - 配管等減肉状態評価方法及びその評価装置 - Google Patents
配管等減肉状態評価方法及びその評価装置Info
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- JPH11118735A JPH11118735A JP9280037A JP28003797A JPH11118735A JP H11118735 A JPH11118735 A JP H11118735A JP 9280037 A JP9280037 A JP 9280037A JP 28003797 A JP28003797 A JP 28003797A JP H11118735 A JPH11118735 A JP H11118735A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】断熱材などの処理系設備を解体せずに配管の減
肉状態を評価する装置を提供することを目的とする。 【解決手段】配管減肉状態評価装置は、調査対象の配管
２を挟んで対峙配管したＸ線発生器１およびＸ線検出器
３と、Ｘ線発生器１から配管等２に対してＸ線１ａを照
射し、透過して来た該Ｘ線からＸ線検出器３が得た配管
減肉に関する単位画素毎の濃淡値のＸ線透過情報を入力
して画像解析し、配管の減肉部４の減肉状態を評価する
解析装置６とを具備する。
肉状態を評価する装置を提供することを目的とする。 【解決手段】配管減肉状態評価装置は、調査対象の配管
２を挟んで対峙配管したＸ線発生器１およびＸ線検出器
３と、Ｘ線発生器１から配管等２に対してＸ線１ａを照
射し、透過して来た該Ｘ線からＸ線検出器３が得た配管
減肉に関する単位画素毎の濃淡値のＸ線透過情報を入力
して画像解析し、配管の減肉部４の減肉状態を評価する
解析装置６とを具備する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、配管等減肉状態評
価方法およびその評価装置に関する。
価方法およびその評価装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】配管または容器等（以下、配管という）
の減肉状態を評価する場合、超音波探傷試験等で当該配
管に直接端子部を接触させて評価することが一般的であ
った。しかし、配管は外部が保温材等で覆われているこ
とが多く、前記超音波探傷試験で評価する場合、覆いを
外してから評価しなければならなかった。
の減肉状態を評価する場合、超音波探傷試験等で当該配
管に直接端子部を接触させて評価することが一般的であ
った。しかし、配管は外部が保温材等で覆われているこ
とが多く、前記超音波探傷試験で評価する場合、覆いを
外してから評価しなければならなかった。
【０００３】また、Ｘ線を用いて非破壊検査する場合に
おいても、定量的に評価することは困難であり、減肉状
態を判断してメンテナンス時期を決めるには至らなかっ
た。
おいても、定量的に評価することは困難であり、減肉状
態を判断してメンテナンス時期を決めるには至らなかっ
た。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、従来の超音
波探傷試験で評価する場合の覆いを外しての評価しなけ
ればならないという問題点を解決し、覆いを付けたまま
での診断を可能とするものである。
波探傷試験で評価する場合の覆いを外しての評価しなけ
ればならないという問題点を解決し、覆いを付けたまま
での診断を可能とするものである。
【０００５】また、Ｘ線で評価する場合においても定量
的に評価でき、配管のメンテナンス時期を的確に管理で
きるようにしようとするものである。
的に評価でき、配管のメンテナンス時期を的確に管理で
きるようにしようとするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、配管等に外部
からＸ線等の放射線を照射して得られる前記配管等につ
いての単位画素毎の濃淡値の放射線透過情報を用いて画
像解析を実行し、当該配管等の減肉状態を評価すること
を特徴とする。
からＸ線等の放射線を照射して得られる前記配管等につ
いての単位画素毎の濃淡値の放射線透過情報を用いて画
像解析を実行し、当該配管等の減肉状態を評価すること
を特徴とする。
【０００７】この場合において、前記画像解析は、予め
記録している前記配管等の設計情報から形成した基準情
報と、前記放射線透過情報との重ね合わせであることを
特徴とする。
記録している前記配管等の設計情報から形成した基準情
報と、前記放射線透過情報との重ね合わせであることを
特徴とする。
【０００８】更に、前記減肉状態としての減肉量を評価
する前記画像解析は、（１）前記重ね合わせで得られた
重ね合わせ透過情報を単位画素毎に分解し、該単位画素
毎の前記各重ね合わせ透過情報が画像上に表示する前記
濃淡値から当該単位画素毎の前記減肉の奥行き寸法を換
算し、（２）該奥行き寸法と前記単位画素の前記面積と
を乗算して、前記単位画素毎に対応した前記減肉状態の
微少容積ΔＣを求め、（３）該微少容積ΔＣを、前記重
ね合わせ透過情報から前記減肉の減肉状態と評価した領
域範囲のすべてに対し積算して、前記減肉の容積Ｃを求
めることを特徴とする。
する前記画像解析は、（１）前記重ね合わせで得られた
重ね合わせ透過情報を単位画素毎に分解し、該単位画素
毎の前記各重ね合わせ透過情報が画像上に表示する前記
濃淡値から当該単位画素毎の前記減肉の奥行き寸法を換
算し、（２）該奥行き寸法と前記単位画素の前記面積と
を乗算して、前記単位画素毎に対応した前記減肉状態の
微少容積ΔＣを求め、（３）該微少容積ΔＣを、前記重
ね合わせ透過情報から前記減肉の減肉状態と評価した領
域範囲のすべてに対し積算して、前記減肉の容積Ｃを求
めることを特徴とする。
【０００９】本発明は更に、ある物質あるいは流体を搬
送する処理系設備の調査対象の配管等を挟んで対峙配置
した放射線発生器ならびに放射線検出器を備えた配管等
減肉状態評価装置において、前記放射線発生器から前記
配管等に対して放射線を照射し、透過してきた該放射線
から前記放射線検出器が得た前記配管等内部についての
単位画素毎の濃淡値の放射線透過情報を入力して画像解
析し、前記配管等内部の減肉状態を評価する解析装置と
を具備する配管等減肉状態評価装置を提供する。
送する処理系設備の調査対象の配管等を挟んで対峙配置
した放射線発生器ならびに放射線検出器を備えた配管等
減肉状態評価装置において、前記放射線発生器から前記
配管等に対して放射線を照射し、透過してきた該放射線
から前記放射線検出器が得た前記配管等内部についての
単位画素毎の濃淡値の放射線透過情報を入力して画像解
析し、前記配管等内部の減肉状態を評価する解析装置と
を具備する配管等減肉状態評価装置を提供する。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照し説明する。
て、図面を参照し説明する。
【００１１】図１は、本発明による一実施例の配管の減
肉状態評価装置を示す図である。
肉状態評価装置を示す図である。
【００１２】図２は、図１の配管の減肉状態評価装置の
詳細を示す図である。本実施例の評価装置を配管検査に
実際に適用した場合の構成例を示している。
詳細を示す図である。本実施例の評価装置を配管検査に
実際に適用した場合の構成例を示している。
【００１３】図１，図２において、本実施例の評価装置
は、放射線発生器としてのＸ線発生器１と、放射線検出
器としてのＸ線検出器３と、情報変換器５と、解析装置
６と、記録装置７と、表示装置８と、支持装置９（９
ａ，９ｂ）とから構成される。
は、放射線発生器としてのＸ線発生器１と、放射線検出
器としてのＸ線検出器３と、情報変換器５と、解析装置
６と、記録装置７と、表示装置８と、支持装置９（９
ａ，９ｂ）とから構成される。
【００１４】尚、図２に示すように、解析装置６は記録
装置７と表示装置８とを含むものであってもよい。ま
た、解析装置６は、情報変換器５までも包含する構成で
あってもよい。更に、評価装置は、支持装置９を含まな
い構成であってもよい。従って、評価装置は、少なくと
もＸ線発生器１とＸ線検出器３と解析装置６とを含む構
成である。１００はしゃへい物を示す。
装置７と表示装置８とを含むものであってもよい。ま
た、解析装置６は、情報変換器５までも包含する構成で
あってもよい。更に、評価装置は、支持装置９を含まな
い構成であってもよい。従って、評価装置は、少なくと
もＸ線発生器１とＸ線検出器３と解析装置６とを含む構
成である。１００はしゃへい物を示す。
【００１５】配管の減肉状態評価装置は、配管の減肉の
状態を調査するために、Ｘ線発生器１とＸ線検出器３と
を支持装置９ａ，９ｂにて同時にあるいは別々に移動し
て、ある物質から最終形成物あるいは中間形成物を精製
する断熱材１０の調査対象としての任意の構成機器を配
管２を断熱材１０で覆った状態で挟み、Ｘ線発生器１
（即ち、放射線発生器）とＸ線検出器３（即ち、放射線
検出器）とをＸ線（即ち、放射線）の照射可能範囲に対
峙配置して、調査対象としての該配管２に対してＸ線１
ａを照射し、配管に関する単位画素毎の濃淡値のＸ線透
過情報（即ち、放射線透過情報）をＸ線検出器３から入
手し、該Ｘ線透過情報を所定の画像処理手順により解析
し、配管２の減肉部４の減肉状態を評価する解析装置６
を備える。
状態を調査するために、Ｘ線発生器１とＸ線検出器３と
を支持装置９ａ，９ｂにて同時にあるいは別々に移動し
て、ある物質から最終形成物あるいは中間形成物を精製
する断熱材１０の調査対象としての任意の構成機器を配
管２を断熱材１０で覆った状態で挟み、Ｘ線発生器１
（即ち、放射線発生器）とＸ線検出器３（即ち、放射線
検出器）とをＸ線（即ち、放射線）の照射可能範囲に対
峙配置して、調査対象としての該配管２に対してＸ線１
ａを照射し、配管に関する単位画素毎の濃淡値のＸ線透
過情報（即ち、放射線透過情報）をＸ線検出器３から入
手し、該Ｘ線透過情報を所定の画像処理手順により解析
し、配管２の減肉部４の減肉状態を評価する解析装置６
を備える。
【００１６】上記構成の評価装置の動作は、次の通りで
ある。配管２を挟んで、Ｘ線発生器１とＸ線検出器３と
を対峙配置し、配管２に放射線としてのＸ線１ａをＸ線
発生器１から照射し、透過して来た該放射線から配管２
に関するＸ線透過情報をＸ線検出器３が得る。
ある。配管２を挟んで、Ｘ線発生器１とＸ線検出器３と
を対峙配置し、配管２に放射線としてのＸ線１ａをＸ線
発生器１から照射し、透過して来た該放射線から配管２
に関するＸ線透過情報をＸ線検出器３が得る。
【００１７】次に、情報変換器５は、得られたＸ線透過
情報を後述する解析装置６が解析することが可能な変換
情報に変換する。そして、解析装置６は、Ｘ線透過情報
としての変換情報を解析することによって、対象とする
配管２の減肉状態を定量的に求めるものである。また、
必要に応じて、評価した減肉状態を表わす解析情報を記
録装置７に記録し、さらにまた、表示装置８にて表示す
る。
情報を後述する解析装置６が解析することが可能な変換
情報に変換する。そして、解析装置６は、Ｘ線透過情報
としての変換情報を解析することによって、対象とする
配管２の減肉状態を定量的に求めるものである。また、
必要に応じて、評価した減肉状態を表わす解析情報を記
録装置７に記録し、さらにまた、表示装置８にて表示す
る。
【００１８】更に、詳細について説明する。
【００１９】Ｘ線発生器１とＸ線検出器３は、Ｘ線が有
効に照射される範囲に対峙している配置にあり、更に、
配管２の減肉に関するＸ線透過情報が希望通りに得られ
るように、Ｘ線発生器１とＸ線検出器３を任意の位置に
移動する手段としての支持装置９（９ａ，９ｂ）によっ
て支持されている。従って、支持装置９によって、一般
的にはＸ線発生器１とＸ線検出器３を、配管２に対して
光軸が直角になるように設置するが、配管２が光軸上に
複数重なった場合には、Ｘ線発生器１とＸ線検出器３の
光軸が一致している状態でＸ線発生器１とＸ線検出器３
とを、上下方向あるいは左右向に任意に向きを変えるよ
うに調整する。
効に照射される範囲に対峙している配置にあり、更に、
配管２の減肉に関するＸ線透過情報が希望通りに得られ
るように、Ｘ線発生器１とＸ線検出器３を任意の位置に
移動する手段としての支持装置９（９ａ，９ｂ）によっ
て支持されている。従って、支持装置９によって、一般
的にはＸ線発生器１とＸ線検出器３を、配管２に対して
光軸が直角になるように設置するが、配管２が光軸上に
複数重なった場合には、Ｘ線発生器１とＸ線検出器３の
光軸が一致している状態でＸ線発生器１とＸ線検出器３
とを、上下方向あるいは左右向に任意に向きを変えるよ
うに調整する。
【００２０】Ｘ線検出器３で検出されたＸ線透過情報
は、情報変換器５によって解析装置６が扱える変換情報
に変換し、解析装置６に送られる。解析装置６は、情報
変換器５にて変換した変換情報から、後述するような所
定の手順によって画像解析し、解析情報を出力する。そ
して、必要に応じて解析装置６にて解析した解析情報を
記録装置７にて記録する。この記録装置７は、配管２に
関する減肉前の設計情報を予め記録することにも使用す
る。
は、情報変換器５によって解析装置６が扱える変換情報
に変換し、解析装置６に送られる。解析装置６は、情報
変換器５にて変換した変換情報から、後述するような所
定の手順によって画像解析し、解析情報を出力する。そ
して、必要に応じて解析装置６にて解析した解析情報を
記録装置７にて記録する。この記録装置７は、配管２に
関する減肉前の設計情報を予め記録することにも使用す
る。
【００２１】更に必要に応じて、Ｘ線透過情報および／
または変換情報および／または解析情報を表示装置８に
て表示する。尚、上記実施例の説明では、便宜上から
「Ｘ線透過情報」と「変換情報」と「解析情報」とを別
称したが、これらの３つの情報が同一のものであっても
可である場合があるので、これら全てを放射線透過情報
（即ち、Ｘ線透過情報）と総称することも可である。
または変換情報および／または解析情報を表示装置８に
て表示する。尚、上記実施例の説明では、便宜上から
「Ｘ線透過情報」と「変換情報」と「解析情報」とを別
称したが、これらの３つの情報が同一のものであっても
可である場合があるので、これら全てを放射線透過情報
（即ち、Ｘ線透過情報）と総称することも可である。
【００２２】減肉状態を調査するときに、減肉が配管の
どの場所にあるか特定できず、存在する場所によって
は、上記の方法では、評価しにくい場合があるので、Ｘ
線透過情報を得る際に、配管をはさんで発生器と検出器
と配管が同一軸上にあることを条件として、配管の長手
方向を軸として、９０°あるいは１２０°回転してＸ線
透過情報を得るものとする。
どの場所にあるか特定できず、存在する場所によって
は、上記の方法では、評価しにくい場合があるので、Ｘ
線透過情報を得る際に、配管をはさんで発生器と検出器
と配管が同一軸上にあることを条件として、配管の長手
方向を軸として、９０°あるいは１２０°回転してＸ線
透過情報を得るものとする。
【００２３】次に、本発明による配管減肉状態評価方法
について説明する。
について説明する。
【００２４】図３は、本発明による一実施例の配管減肉
状態評価方法を示す図である。(イ)は調査対象の配管を
示し、（ロ）はその縦断面を示す。配管のＸ線透過情報
から、配管２の減肉部４を把握する方法の一実施例を示
している。
状態評価方法を示す図である。(イ)は調査対象の配管を
示し、（ロ）はその縦断面を示す。配管のＸ線透過情報
から、配管２の減肉部４を把握する方法の一実施例を示
している。
【００２５】図３において、図１で示した評価装置を用
いて、配管２にＸ線を照射して、Ｘ線透過情報を得る
と、前述の表示装置８の画面に、配管２の「Ｘ線透過情
報としての透過画像情報１１」の画像が写し出される。
いて、配管２にＸ線を照射して、Ｘ線透過情報を得る
と、前述の表示装置８の画面に、配管２の「Ｘ線透過情
報としての透過画像情報１１」の画像が写し出される。
【００２６】（ハ）に示すように、該透過画像情報１１
の画面中央部を垂直に延びる軸Ｚ１−Ｚ２を結んだ直線
上に存在する各画素データの値を取り出してプロットす
ると、（ニ）に示すように各々の画素における画素値の
濃度分布１３が得られる。換言すれば、軸Ｚ１−Ｚ２の
方向は、水平に設置された配管２の減肉部４を垂直に横
切る方向である。そして、軸Ｚ１−Ｚ２を順次水平方向
に移動させる（Ｚ軸を走査する）ことによって、透過画
像情報１１のうちの全ての画像区画に対して、各々の画
素における画素値の濃度分布１３が得られる。
の画面中央部を垂直に延びる軸Ｚ１−Ｚ２を結んだ直線
上に存在する各画素データの値を取り出してプロットす
ると、（ニ）に示すように各々の画素における画素値の
濃度分布１３が得られる。換言すれば、軸Ｚ１−Ｚ２の
方向は、水平に設置された配管２の減肉部４を垂直に横
切る方向である。そして、軸Ｚ１−Ｚ２を順次水平方向
に移動させる（Ｚ軸を走査する）ことによって、透過画
像情報１１のうちの全ての画像区画に対して、各々の画
素における画素値の濃度分布１３が得られる。
【００２７】（ホ）に示すように、配管部位に減肉部の
存在しない基準配管情報１８を有する基準情報としての
基準配管合成画像情報１７を得る。この基準配管合成画
像情報１７を透過画像情報１１と同様に、軸Ｚ１−Ｚ２
に沿って走査して各画素データを取り出すと、（ヘ）に
示すように、各々の画素における画素値の基準配管濃度
分布１９が得られる。
存在しない基準配管情報１８を有する基準情報としての
基準配管合成画像情報１７を得る。この基準配管合成画
像情報１７を透過画像情報１１と同様に、軸Ｚ１−Ｚ２
に沿って走査して各画素データを取り出すと、（ヘ）に
示すように、各々の画素における画素値の基準配管濃度
分布１９が得られる。
【００２８】次に、前述の透過画像情報１１と、（ト）
に示すように、基準配管合成画像情報１７とから論理減
算処理２０をすると、換言すれば、放射線透過情報と基
準情報とを重ね合わせることによって、（チ）に示すよ
うに、配管部位の減肉部４のみが映し出された画像とし
て浮かび上がった減肉部透過情報２２を有する重ね合わ
せ透過情報としての減肉部透過画像情報２１が得られ
る。軸Ｚ１−Ｚ２で走査して各画素データを取り出す
と、（リ）に示すように、各々の画素における画素値の
減肉部濃度分布２３が得られる。この減肉部濃度分布２
３から、減肉部４のみの濃淡データ（即ち、濃淡値）を
取り出すことができる。換言すれば、減肉部の有無を識
別することができる。
に示すように、基準配管合成画像情報１７とから論理減
算処理２０をすると、換言すれば、放射線透過情報と基
準情報とを重ね合わせることによって、（チ）に示すよ
うに、配管部位の減肉部４のみが映し出された画像とし
て浮かび上がった減肉部透過情報２２を有する重ね合わ
せ透過情報としての減肉部透過画像情報２１が得られ
る。軸Ｚ１−Ｚ２で走査して各画素データを取り出す
と、（リ）に示すように、各々の画素における画素値の
減肉部濃度分布２３が得られる。この減肉部濃度分布２
３から、減肉部４のみの濃淡データ（即ち、濃淡値）を
取り出すことができる。換言すれば、減肉部の有無を識
別することができる。
【００２９】なお、減肉部濃度分布２３は、前述の濃度
分布１３として示した変位部位２５に相当するものであ
る。また、本実施例では、画面イメージ（即ち、エリア
センサ）から濃淡データを取得しているので、エリアと
してデータを取得するために例えば配管の長手方向に走
査していくことができ、データ取得の効率が良いという
効果が生まれる。
分布１３として示した変位部位２５に相当するものであ
る。また、本実施例では、画面イメージ（即ち、エリア
センサ）から濃淡データを取得しているので、エリアと
してデータを取得するために例えば配管の長手方向に走
査していくことができ、データ取得の効率が良いという
効果が生まれる。
【００３０】図４は、本発明の実施例による単位画素毎
の濃淡値の放射線透過情報を用いた配管減肉状態評価方
法を示す図である。すなわち、減肉部４に関する「Ｘ線
透過情報としての重ね合わせ透過情報」から、減肉部４
の減肉状態を求める方法の一実施例を示している。ま
た、図４には、任意の画素部分を拡大した拡大画像２４
が示されている。
の濃淡値の放射線透過情報を用いた配管減肉状態評価方
法を示す図である。すなわち、減肉部４に関する「Ｘ線
透過情報としての重ね合わせ透過情報」から、減肉部４
の減肉状態を求める方法の一実施例を示している。ま
た、図４には、任意の画素部分を拡大した拡大画像２４
が示されている。
【００３１】図４において、重ね合わせ透過情報として
の減肉部透過情報画面４１を単位画素４２毎に分解し、
該単位画素毎の各々のメモリ（即ち、減肉部透過情報の
うちの単位画素毎の減肉部透過情報）が表現する値、つ
まり画像上に表示される単位画素毎の濃淡値（または、
階調値と呼称されるもの）を取り出す。取り出された濃
淡値は、その単位画素における減肉部の奥行き寸法とし
ての「減肉部４の厚み」を意味している。換言すれば、単
位画素毎に該単位画素に対応する濃淡値（または、階調
値）を減肉部の厚さに換算する方法または手段に、本発
明による配管減肉状態評価の特徴がある。
の減肉部透過情報画面４１を単位画素４２毎に分解し、
該単位画素毎の各々のメモリ（即ち、減肉部透過情報の
うちの単位画素毎の減肉部透過情報）が表現する値、つ
まり画像上に表示される単位画素毎の濃淡値（または、
階調値と呼称されるもの）を取り出す。取り出された濃
淡値は、その単位画素における減肉部の奥行き寸法とし
ての「減肉部４の厚み」を意味している。換言すれば、単
位画素毎に該単位画素に対応する濃淡値（または、階調
値）を減肉部の厚さに換算する方法または手段に、本発
明による配管減肉状態評価の特徴がある。
【００３２】そして、該奥行き寸法を高さとし単位画素
の大きさを底面積として、それらを乗算して単位画素毎
に対応した減肉部４の微小容積（ΔＣ）を求める。尚、
階調値の例としては、２５６階調，１０２４階調があ
り、階調数が大きいほど濃淡値に対する分解能が大きい
ことになる。具体的な実施例として、単位画素の面積
（大きさ）を０.１８mm 角とし、２５６階調で撮影した
ところ、別途分解して得られた真値に対しての誤差は５
％であった。勿論、単位画素の大きさは任意に変えられ
るものとする。
の大きさを底面積として、それらを乗算して単位画素毎
に対応した減肉部４の微小容積（ΔＣ）を求める。尚、
階調値の例としては、２５６階調，１０２４階調があ
り、階調数が大きいほど濃淡値に対する分解能が大きい
ことになる。具体的な実施例として、単位画素の面積
（大きさ）を０.１８mm 角とし、２５６階調で撮影した
ところ、別途分解して得られた真値に対しての誤差は５
％であった。勿論、単位画素の大きさは任意に変えられ
るものとする。
【００３３】次に、減肉部透過情報が示す減肉部４の領
域範囲に対し各々のΔＣを求めて、それら全てを加算し
て減肉部４の容積Ｃを求める。該容積Ｃに減肉部の予値
である密度ρを乗算することによって、減肉部の減肉の
重量Ｗを求める。
域範囲に対し各々のΔＣを求めて、それら全てを加算し
て減肉部４の容積Ｃを求める。該容積Ｃに減肉部の予値
である密度ρを乗算することによって、減肉部の減肉の
重量Ｗを求める。
【００３４】図５は、濃度分布から減肉部の厚みを換算
する換算曲線（イ）や変換テーブル（ロ）を示す図であ
る。即ち、前述の濃度分布としての濃淡値から減肉部の
厚みを換算して求めるための、「濃淡値−減肉部の厚
み」に関する換算曲線または換算曲線から作成した変換
テーブルを示している。なお、図中の換算曲線ａ，ｂ，
ｃは、調査条件のパラメータによる違いを示している。
例えば、調査条件のパラメータとして、減肉部の種類の
違い、配管の材質や形状の違いなどがある。そして、本
実施例によれば、解析装置の処理時間を短縮することが
できるという効果が得られる。
する換算曲線（イ）や変換テーブル（ロ）を示す図であ
る。即ち、前述の濃度分布としての濃淡値から減肉部の
厚みを換算して求めるための、「濃淡値−減肉部の厚
み」に関する換算曲線または換算曲線から作成した変換
テーブルを示している。なお、図中の換算曲線ａ，ｂ，
ｃは、調査条件のパラメータによる違いを示している。
例えば、調査条件のパラメータとして、減肉部の種類の
違い、配管の材質や形状の違いなどがある。そして、本
実施例によれば、解析装置の処理時間を短縮することが
できるという効果が得られる。
【００３５】図６は、調査条件による濃淡値の補正方法
を示す図である。配管のＸ線透過情報を基に、調査条件
（または、計測条件）によるＸ線透過情報の濃淡値の調
査誤差（または、計測誤差）を補正する方法を示してい
る。例えば、調査条件として「配管の設置位置（例え
ば、ａ配管とＸ線発生器１やＸ線検出器３との距離が遠
い・近いという関係）」，「Ｘ線発生器が発生するエネ
ルギ（Ｘ線管電圧またはＸ線管電流の値が大きい・小さ
いという関係）」が違う場合であれば、予め、各々の調
査条件についていくつかの異なる条件で撮影した基礎デ
ータを記録装置に持っていて、該基礎データとＸ線透過
情報とを比較して換算曲線または変換テーブルを変更す
ることで、濃淡値の調査誤差（または、計測誤差）を補
正することができる。（イ）に示す濃淡値−減肉部の厚
みに関する換算曲線を（ロ）に示す曲線Ａから曲線Ｂに
変更する、または、曲線Ａと曲線Ｂとの間を取って補間
する場合を、図６に例示している。変換テーブルの場合
であっても同様に行える。そして、本実施例によれば、
記録装置の容量を小さくするという効果がある。
を示す図である。配管のＸ線透過情報を基に、調査条件
（または、計測条件）によるＸ線透過情報の濃淡値の調
査誤差（または、計測誤差）を補正する方法を示してい
る。例えば、調査条件として「配管の設置位置（例え
ば、ａ配管とＸ線発生器１やＸ線検出器３との距離が遠
い・近いという関係）」，「Ｘ線発生器が発生するエネ
ルギ（Ｘ線管電圧またはＸ線管電流の値が大きい・小さ
いという関係）」が違う場合であれば、予め、各々の調
査条件についていくつかの異なる条件で撮影した基礎デ
ータを記録装置に持っていて、該基礎データとＸ線透過
情報とを比較して換算曲線または変換テーブルを変更す
ることで、濃淡値の調査誤差（または、計測誤差）を補
正することができる。（イ）に示す濃淡値−減肉部の厚
みに関する換算曲線を（ロ）に示す曲線Ａから曲線Ｂに
変更する、または、曲線Ａと曲線Ｂとの間を取って補間
する場合を、図６に例示している。変換テーブルの場合
であっても同様に行える。そして、本実施例によれば、
記録装置の容量を小さくするという効果がある。
【００３６】図７は、本発明による実施例の減肉部の減
肉重量を求めるフローを示す図である。処理系設備にお
いて水平配置されていない（水平配置以外の）配管２の
減肉部４の重量を求めるフローチャートを、ステップ１
（Ｓ２１）〜ステップ１０（Ｓ３０）にて示している。
各ステップの内容は図中に示す通りである。すなわち、
配管または容器の計測したい箇所へＸ線発生器およびＸ
線検出器を移動する（Ｓ２１）。Ｘ線撮影（Ａ）を行う
（Ｓ２２）。配管のある垂直断面の濃淡（階調値）を調
べる（Ｓ２３）。配管の径（肉厚とともに予値とする）
をもとに一画素の寸法と実際の寸法の比を求める（Ｓ２
４）。配管または容器の形状データベース（設計情報と
して予値）から（Ａ）に合わせて使用前の状態の濃淡デ
ータをつくる（Ｂ)(Ｓ２５）。（Ｂ）から（Ａ）を引き
算して（Ｃ）とする(Ｓ２６)。濃淡値（階調値）から奥
行（厚み）を求める（Ｓ２７）。一画素毎（一メモリ）
の容積を求める（Ｓ２８）。容積を足し合わせる（Ｓ２
９）。配管の密度(予値)を乗じて重量を求める（Ｓ３
０）。
肉重量を求めるフローを示す図である。処理系設備にお
いて水平配置されていない（水平配置以外の）配管２の
減肉部４の重量を求めるフローチャートを、ステップ１
（Ｓ２１）〜ステップ１０（Ｓ３０）にて示している。
各ステップの内容は図中に示す通りである。すなわち、
配管または容器の計測したい箇所へＸ線発生器およびＸ
線検出器を移動する（Ｓ２１）。Ｘ線撮影（Ａ）を行う
（Ｓ２２）。配管のある垂直断面の濃淡（階調値）を調
べる（Ｓ２３）。配管の径（肉厚とともに予値とする）
をもとに一画素の寸法と実際の寸法の比を求める（Ｓ２
４）。配管または容器の形状データベース（設計情報と
して予値）から（Ａ）に合わせて使用前の状態の濃淡デ
ータをつくる（Ｂ)(Ｓ２５）。（Ｂ）から（Ａ）を引き
算して（Ｃ）とする(Ｓ２６)。濃淡値（階調値）から奥
行（厚み）を求める（Ｓ２７）。一画素毎（一メモリ）
の容積を求める（Ｓ２８）。容積を足し合わせる（Ｓ２
９）。配管の密度(予値)を乗じて重量を求める（Ｓ３
０）。
【００３７】図７に示す本実施例の特徴は、予め記録し
てある配管の減肉状態に関する設計情報、即ち、処理系
設備の過去の実績データから形成した基準情報を利用す
る点にある。
てある配管の減肉状態に関する設計情報、即ち、処理系
設備の過去の実績データから形成した基準情報を利用す
る点にある。
【００３８】すなわち、減肉部が発生していると思われ
る放射線透過情報との重ね合わせから、減肉状態を把握
するものである。
る放射線透過情報との重ね合わせから、減肉状態を把握
するものである。
【００３９】本実施例によって、配管や容器の形状のい
かんに拘らず、また、配管や容器以外の構成機器に対し
ても、減肉部状態を評価することができる。
かんに拘らず、また、配管や容器以外の構成機器に対し
ても、減肉部状態を評価することができる。
【００４０】
【発明の効果】本発明によれば、無解体，非破壊で配管
あるいは容器の減肉状態を定量的に把握することができ
るので、解体点検による運転停止や解析作業が無くな
り、設備の運転効率や点検作業効率の向上に、さらには
安全性の向上に結び付く効果がある。また、無解体，非
破壊で計測診断できることは、減肉状況調査時間の短縮
にも繋がるという効果もある。
あるいは容器の減肉状態を定量的に把握することができ
るので、解体点検による運転停止や解析作業が無くな
り、設備の運転効率や点検作業効率の向上に、さらには
安全性の向上に結び付く効果がある。また、無解体，非
破壊で計測診断できることは、減肉状況調査時間の短縮
にも繋がるという効果もある。
【図１】本発明による一実施例の配管の減肉状態評価装
置を示す構成図である。
置を示す構成図である。
【図２】図１の配管の減肉状態評価装置の詳細を示す斜
視図である。
視図である。
【図３】本発明による一実施例の配管の減肉状態評価方
法のためのステップを示す図である。
法のためのステップを示す図である。
【図４】本発明の実施例の配管の減肉状態評価方法を示
す図である。
す図である。
【図５】濃度分布から減肉部の厚みを換算する換算曲線
や変換テーブルを示す図である。
や変換テーブルを示す図である。
【図６】調査条件による濃淡値の補正方法を示す図であ
る。
る。
【図７】本発明の実施例の減肉部の減肉の重量を求める
フローを示すフローチャート図である。
フローを示すフローチャート図である。
１…Ｘ線発生器、１ａ…Ｘ線、２…配管、３…Ｘ線検出
器、４…減肉部、５…情報変換器、６…解析装置、７…
記録装置、８…表示装置、９，９ａ，９ｂ…支持装置、
１０…断熱材、１１，３１…透過画像情報、１２…配管
部位情報、１３…濃度分布、１７…基準配管合成画像情
報、１８…基準配管情報、１９…基準配管濃度分布、２
０…論理減算処理、２１…減肉部透過画像情報、２２…
減肉部透過情報、２３…減肉部濃度分布、３２…配管部
位情報。
器、４…減肉部、５…情報変換器、６…解析装置、７…
記録装置、８…表示装置、９，９ａ，９ｂ…支持装置、
１０…断熱材、１１，３１…透過画像情報、１２…配管
部位情報、１３…濃度分布、１７…基準配管合成画像情
報、１８…基準配管情報、１９…基準配管濃度分布、２
０…論理減算処理、２１…減肉部透過画像情報、２２…
減肉部透過情報、２３…減肉部濃度分布、３２…配管部
位情報。
Claims (4)
- 【請求項１】配管等に外部からＸ線等の放射線を照射し
て得られる前記配管等についての単位画素毎の濃淡値の
放射線透過情報を用いて画像解析を実行し、当該配管等
の減肉状態を評価することを特徴とする配管等減肉状態
評価方法。 - 【請求項２】請求項１において、前記画像解析は、予め
記録してある前記配管等の設計情報から形成した基準情
報と、前記放射線透過情報との重ね合わせであることを
特徴とする配管等減肉評価方法。 - 【請求項３】請求項２において、 前記減肉状態としての減肉量を評価する前記画像解析
は、前記重ね合わせで得られた重ね合わせ透過情報を単
位画素毎に分解し、該単位画素毎の前記各重ね合わせ透
過情報が画像上に表示する前記濃淡値から当該単位画素
毎の前記減肉の奥行き寸法を換算して求めることを特徴
とする配管等減肉評価方法。 - 【請求項４】ある物質あるいは流体を搬送する処理系設
備の調査対象の配管等を挟んで対峙配置した放射線発生
器ならびに放射線検出器を備えた配管等減肉状態評価装
置において、 前記放射線発生器から前記配管等に対して放射線を照射
し、透過してきた該放射線から前記放射線検出器が得た
前記配管等内部についての単位画素毎の濃淡値の放射線
透過情報を入力して画像解析し、前記配管等内部の減肉
状態を評価する解析装置とを具備することを特徴とする
配管等減肉状態評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28003797A JP3452773B2 (ja) | 1997-10-14 | 1997-10-14 | 配管等減肉状態評価方法及びその評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28003797A JP3452773B2 (ja) | 1997-10-14 | 1997-10-14 | 配管等減肉状態評価方法及びその評価装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11118735A true JPH11118735A (ja) | 1999-04-30 |
| JP3452773B2 JP3452773B2 (ja) | 2003-09-29 |
Family
ID=17619425
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28003797A Expired - Fee Related JP3452773B2 (ja) | 1997-10-14 | 1997-10-14 | 配管等減肉状態評価方法及びその評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3452773B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004347416A (ja) * | 2003-05-21 | 2004-12-09 | Cosmo Oil Co Ltd | 非破壊検査方法および非破壊検査装置 |
| JP2009063572A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Tongfang Nuctech Co Ltd | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置 |
| JP2009063571A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Tongfang Nuctech Co Ltd | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置及びその方法 |
| JP2010266264A (ja) * | 2009-05-13 | 2010-11-25 | Central Res Inst Of Electric Power Ind | 非破壊検査方法及びその装置 |
| JP2020118552A (ja) * | 2019-01-24 | 2020-08-06 | 札幌施設管理株式会社 | 厚さ検出方法及び配管検査方法 |
| JP2021148755A (ja) * | 2020-03-24 | 2021-09-27 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 構造物の検査方法および診断方法 |
-
1997
- 1997-10-14 JP JP28003797A patent/JP3452773B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004347416A (ja) * | 2003-05-21 | 2004-12-09 | Cosmo Oil Co Ltd | 非破壊検査方法および非破壊検査装置 |
| JP2009063572A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Tongfang Nuctech Co Ltd | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置 |
| JP2009063571A (ja) * | 2007-09-05 | 2009-03-26 | Tongfang Nuctech Co Ltd | 航空貨物コンテナにおける密輸品を調査する装置及びその方法 |
| JP2010266264A (ja) * | 2009-05-13 | 2010-11-25 | Central Res Inst Of Electric Power Ind | 非破壊検査方法及びその装置 |
| JP2020118552A (ja) * | 2019-01-24 | 2020-08-06 | 札幌施設管理株式会社 | 厚さ検出方法及び配管検査方法 |
| JP2021148755A (ja) * | 2020-03-24 | 2021-09-27 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 構造物の検査方法および診断方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3452773B2 (ja) | 2003-09-29 |
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