JPH11111817A - 半導体製造装置 - Google Patents

半導体製造装置

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JPH11111817A
JPH11111817A JP27238497A JP27238497A JPH11111817A JP H11111817 A JPH11111817 A JP H11111817A JP 27238497 A JP27238497 A JP 27238497A JP 27238497 A JP27238497 A JP 27238497A JP H11111817 A JPH11111817 A JP H11111817A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
cassette
positioning mechanism
stage
cassette stage
Prior art date
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Pending
Application number
JP27238497A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Yasui
毅 保井
Kazuhiro Shino
和弘 示野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kokusai Electric Corp
Original Assignee
Kokusai Electric Corp
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Publication date
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ウェーハ位置決め機構の昇降手段を簡素化す
るとともに、カセットステージの回転停止精度に関係な
くオリフラ/ノッチ合せが正確にできるようにする。 【解決手段】 カセットステージ2と独立して設けてい
たウェーハ位置決め機構3をカセットステージ2に一体
的に設ける。ウェーハ位置決め機構3をカセットステー
ジ2に一体的に設けるために、カセットステージ2にエ
アシリンダ51を一体に取り付け、このエアシリンダ5
1にウェーハ位置決め機構3を取り付け、ウェーハ位置
決め機構3をカセットステージ2上に載置されたウェー
ハカセット1に対して進退できるようにする。これによ
りカセットステージ2の回転停止精度によらずに、ウェ
ーハ検知およびオリフラ/ノッチ合せができるようにな
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体製造装置に係
り、特にウェーハカセット内のウェーハを検知し、ウェ
ーハのオリフラ/ノッチ位置を揃えた後に、ウェーハカ
セットを反転して装置内部に搬送する半導体製造装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】ウェーハを収納したウェーハカセット
は、半導体製造装置の外部のクリーンルームでは、ウェ
ーハの飛出しやずれを防止するために、ウェーハカセッ
ト内のウェーハが垂直姿勢となるようにして自走型搬送
車(AGV)あるいは人手により搬送され、半導体製造
装置の内部では、ウェーハ搬送の都合上、ウェーハが水
平状態となるような姿勢にして搬送されて、カセット棚
に保管される。そのため、装置外部との間でウェーハカ
セットを授受するために装置前面部に設けられたカセッ
トステージで、ウェーハカセットを回転する必要があ
る。
【0003】また、半導体製造工程では、製造装置内の
位置合せ作動を正しく行う必要があり、特にウェーハ毎
に処理のばらつきが出ないように、処理の前にウェーハ
カセット内のウェーハのオリフラ/ノッチをカセットの
背面部に合わせておくようになっている。そのためにウ
ェーハ位置決め機構が設けられる。
【0004】図2に、ウェーハWを収納したウェーハカ
セット1、ウェーハカセット1を授受するカセットステ
ージ2、カセットステージ2とは独立に設けられたウェ
ーハ位置決め機構3、およびウェーハ位置決め機構用の
昇降機構4を示す。(a)はウェーハ位置決め機構3を
上昇してウェーハ検知およびオリフラ/ノッチ合せをし
ている状態、(b) はウェーハ位置決め機構3を下降した
状態、(c) はカセット1を反転した状態をそれぞれ示
す。
【0005】カセットステージ2は、内部ステージ2
1、外部ステージ22、およびガイドステージ23を備
えて全体がT字形をしており、カセットステージ回転軸
24を中心に回転自在に設けられる。半導体製造装置外
部でウェーハカセット1の授受を行う場合は、外部ステ
ージ22が水平状態で外部に露出し(図2(b) )、半導
体製造装置内部でウェーハカセット1の授受を行う場合
は、内部ステージ21が水平状態で図示しないカセット
棚に対峙するように、カセットステージ2が反転する
(図2(c) )。
【0006】ウェーハ位置決め機構3は、カセットステ
ージ2の下方に立設されたエアシリンダ41のピストン
ロッド42に取り付けられ、エアシリンダ41に並設し
たスタンド43に取り付けたガイドレール44に沿って
昇降するようになっている。ピストンロッド42は、上
方に位置するカセットステージ2と下方に位置するエア
シリンダ41間の長距離を往復するためロングストロー
クとなる。ウェーハ位置決め機構3の昇降の際、カセッ
トステージ2は、そのガイドステージ23がガイドレー
ル44の延長線上に来るように回転を停止して、ガイド
ステージ23がウェーハ位置決め機構3の延長ガイドレ
ールの役割を果たすようになっている。
【0007】ウェーハ位置決め機構3は、上昇してウェ
ーハWに接触し、ウェーハWのオリフラ/ノッチ位置を
回転させて所望の位置に揃えるようになっている。ウェ
ーハ位置決め機構3は、その上部にウェーハ検知センサ
31を付設しており、ウェーハ検知センサ31がウェー
ハW間の隙間に挿入され、ウェーハWの有無を検知する
ようになっている。
【0008】ウェーハカセット1内のウェーハWを検知
し、オリフラ/ノッチ位置を揃えた後に、ウェーハカセ
ット1を反転して装置内部に搬送するには、ウェーハ位
置決め機構3を矢印方向に上昇し、ウェーハ検知センサ
31をウェーハW間に挿入してウェーハ検知をする。ま
た、ウェーハWを回転させ、オリフラ/ノッチをウェー
ハカセット1の背面(図2では下方)に揃える(図2
(a) )。
【0009】ウェーハ検知とオリフラ/ノッチ合せ後、
ウェーハ位置決め機構3を矢印方向に下降して、カセッ
トステージ2の回転時にカセットステージ2と干渉しな
い待機位置にもってくる(図2(b) )。ウェーハ位置決
め機構3を待機位置まで下降した後、カセットステージ
回転軸24を中心にカセットステージ2を90°矢印方
向に回転することによりウェーハカセット1を反転し
て、外部ステージ22から内部ステージ21上に載せ変
え、ウェーハWが水平状態になるようにして、矢印方向
に搬送する(図2(c) )。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述した
従来のウェーハ位置決め機構3には、次のような問題点
があった。
【0011】(1) オリフラ/ノッチ合せ時にはウェーハ
位置決め機構3をカセットステージまで上昇し、カセッ
ト反転時には回転するカセットステージ2と干渉しない
待機位置まで下降させる必要があり、そのためにロング
ストロークのエアシリンダ41を使わなければならない
ため、昇降機構が非常に大掛かりで複雑になる。
【0012】(2) カセットステージ2とウェーハ位置決
め機構3とは独立して設けられているため、ウェーハ検
知およびオリフラ/ノッチ合せ時に、カセットステージ
のウェーハ位置決め機構に対する位置合せに高い精度が
要求される。特にカセットステージ2の回転の停止精度
が悪いと、オリフラ/ノッチ合せミスや、ウェーハ位置
決め機構3に付設されたウェーハ検知センサ31がウェ
ーハWと接触を起こすおそれがある。
【0013】本発明の課題は、上述した従来技術の問題
点を解消して、構成が簡単で、カセットステージの回転
停止精度に関係なくオリフラ/ノッチ合せやウェーハ検
知が可能となる半導体製造装置を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明は、装置外部から
供給されるウェーハカセットをカセットステージに載置
して、前記ウェーハカセット内のウェーハを検知し、前
記ウェーハのオリフラ/ノッチ位置を揃えた後に、前記
カセットステージを回転することによりウェーハカセッ
トを反転して装置内部に搬送する半導体製造装置におい
て、前記ウェーハを検知するとともに前記ウェーハのオ
リフラ/ノッチ位置を揃えるためのウェーハ位置決め機
構を、前記カセットステージに一体的に取り付けたもの
である。
【0015】カセットステージに対してウェーハ位置決
め機構が独立して設けられている場合には、両者の位置
を正確に一致させないと、ウェーハのオリフラ/ノッチ
合せミスや、ウェーハとの接触を起こすおそれがある。
これに対して本発明は、カセットステージにウェーハ位
置決め機構が一体的に取り付けられているので、取付け
位置が正確でありさえすれば、カセットステージの回転
停止精度に関係なく、ウェーハ位置決め機構によるオリ
フラ/ノッチ合せやウェーハ検知が正確に行え、オリフ
ラ/ノッチ合せミスや、ウェーハとの接触は起こらな
い。また、ウェーハ位置決め機構がカセットステージの
回転に干渉しないので、ウェーハ位置決め機構を干渉し
ない位置に待機させる必要もない。
【0016】なお、カセットステージにウェーハ位置決
め機構を一体的に取り付けるには、カセットステージ
に、これに載置されるウェーハカセットに対してウェー
ハ位置決め機構を進退させる駆動手段を一体に取り付
け、この駆動手段にウェーハ位置決め機構を取り付ける
ようにすることが好ましい。駆動手段によりウェーハ位
置決め機構を前進させることでウェーハを検知してウェ
ーハのオリフラ/ノッチ位置を揃え、反転して搬送する
ときはウェーハとの干渉を避けるためにウェーハ位置決
め機構を後退させる。
【0017】駆動手段には、エアシリンダや油圧シリン
ダなどの直動アクチュエータ、モータなどを使った回動
アクチュエータさらには、クランク機構を使った揺動ア
クチュエータ等を用いることができる。特に直動アクチ
ュエータを用いた場合には、ショートストロークにでき
るので、占有領域が小さく、小形化が図れる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を説明
する。図1は縦型拡散・CVD装置などで構成される半
導体製造装置のカセットステージ2、ウェーハ位置決め
機構3、および昇降機構5を示す構成図であり、(a) は
ウェーハ位置決め機構3を上昇してオリフラ/ノッチ合
せをしている状態、(b) はA方向矢視図、(c) はウェー
ハ位置決め機構3を下降した状態、(d) はウェーハカセ
ット1を反転した状態をそれぞれ示す。
【0019】ウェーハカセット1は、多数のウェーハW
を並行に並べて収容する。このウェーハカセット1を授
受するカセットステージ2は、内部ステージ21、これ
と直角な外部ステージ22、および外部ステージ22と
直角で内部ステージ21の反対側に延設したガイドステ
ージ23を備えて全体がT字形をしており、T字形の付
根に水平に設けたカセットステージ回転軸24を中心に
回転自在に設けられる。半導体製造装置の外部でウェー
ハカセット1の授受を行う場合は、外部ステージ22が
水平状態で外部に露出し(図1(c) )、半導体製造装置
内部でウェーハカセット1の授受を行う場合は、内部ス
テージ21が水平状態で図示しないカセット棚に対峙す
るように、カセットステージ2が回転する(図1(d)
)。
【0020】ウェーハ位置決め機構3はカセットステー
ジ2に一体的に取り付けられる。具体的には、図1(b)
に示すように、カセットステージ2を構成する外部ステ
ージ22の裏面に一体に取り付けられた位置決め機構用
取付板53にエアシリンダ51を取り付け、そのエアシ
リンダ51にエアシリンダ51によって昇降するウェー
ハ位置決め機構3が取り付けられる。外部ステージ22
の中間部はウェーハ位置決め機構3の通過を許容するた
めに窓25が開いており、この窓25を介してウェーハ
位置決め機構3の上部がウェーハカセット1の開放され
た底部に進入する。エアシリンダ51は、カセットステ
ージ2上の極く短い距離を往復するだけでよいためショ
ートストロークでよい。ショートストロークであるた
め、ウェーハ位置決め機構3のガイドは不要となる。
【0021】ウェーハ位置決め機構3は、ウェーハカセ
ット1内のウェーハWを回転させる駆動ローラ32と、
制御部であるコントローラ(図示略)と、アラームメッ
セージ等を表示する表示部(図示略)とを備えており、
ウェーハ位置決め機構3を上昇して駆動ローラ32をウ
ェーハWに接触させ、ウェーハWのオリフラ/ノッチ位
置を回転して所望の位置に揃えるようになっている。ウ
ェーハ位置決め機構3は、その上部に櫛歯状に並んだウ
ェーハ検知センサ31を付設しており、ウェーハ検知セ
ンサ31がウェーハW間の隙間に挿入され、ウェーハW
の有無を検知するようになっている。
【0022】次に装置外部からウェーハカセット1を供
給されて装置内部に受け渡す動作を説明する。外部ステ
ージ22上にウェーハWを垂直状態にして載置されてい
るウェーハカセット1に向けてウェーハ位置決め機構3
が上昇すると、ウェーハ検知センサ31が、ウェーハW
に接触せずに確実にウェーハW間の隙間に挿入され、収
容部毎のウェーハWの有無が検知される。これととも
に、駆動ローラ32がウェーハWと接触してオリフラ/
ノッチを合せる(図2(a) 、(b) )。この際、カセット
ステージ2を僅かに傾斜させているのは、ウェーハWが
自重で全て一方側に片寄り、全部のウェーハWが一定の
姿勢で等間隔に整列させるためである。
【0023】ウェーハ検知とオリフラ/ノッチ位置を回
転して揃えた後、ウェーハ位置決め機構3をわずかに下
降して、カセットステージ2の回転時にウェーハWと干
渉しない待機位置にもってくる(図2(c) )。ウェーハ
位置決め機構3を待機位置まで下降した後、カセットス
テージ回転軸24を中心にウェーハカセット1を90°
反転させて外部ステージ22から内部ステージ21上に
載せ変えて、ウェーハWを水平状態とする(図2( d)
)。このとき、一体的に取り付けられたウェーハ位置
決め機構3も一緒に反転して、水平状態となる。
【0024】上述したように実施の形態によれば、ウェ
ーハ位置決め機構3をカセットステージ2と一体化する
ことで、カセットステージ2を回転させてもウェーハ位
置決め機構3がカセットステージ2と干渉することがな
いので、ウェーハステージ回転時にウェーハ位置決め機
構3をカセットステージ2に干渉しない位置に待機させ
る必要がない。ウェーハ位置決め機構3は、ウェーハカ
セット1の回転時にウェーハWとの干渉を回避する距離
だけ退避させれば十分である。また、オリフラ/ノッチ
合せ時にもウェーハ位置決め機構3をカセット1の位置
までわずかに移動するだけでよいため、昇降機構5はシ
ョートストロークのエアシリンダ51でよく、したがっ
て昇降機構を小形化でき、従来必要としたスタンドやガ
イドを必要としない。さらに、従来、ウェーハ位置決め
機構用の昇降機構を設置するために使用していたカセッ
トステージ2の下方の空間を空けることができるので、
他の用途に有効利用できる。
【0025】また、カセットステージ2とウェーハ位置
決め機構3とは一体的に設けられているため、カセット
ステージ2上にウェーハ位置決め機構3を一度正確に取
り付けてしまえば、カセットステージ2の回転の停止精
度にかかわらず、オリフラ/ノッチ合せや、ウェーハ検
知センサ31の挿入位置が正確に行われるので、オリフ
ラ/ノッチ合せミスや、ウェーハ位置決め機構3に付設
されたウェーハ検知センサ31とウェーハWとの接触を
起こすおそれがない。
【0026】なお、実施の形態のカセットステージ2は
ガイドステージ23を備えているが、カセットステージ
回転軸24をずらせば、これを省略できる。ウェーハに
設けられる位置合せ面はオリフラ/ノッチと表記したよ
うにオリフラでもノッチでもよい。位置決め機構用取付
板は外部ステージ22に取り付けたが、ガイドステージ
を省略しない場合には、これに取り付けるようにしても
よい。また、ピストンロッド52を位置決め機構用取付
板53に固定し、エアシリンダ51の本体にウェーハ位
置決め機構3を取り付けるようにしたが、逆にウェーハ
位置決め機構3をピストンロッド52に取り付け、エア
シリンダ51の本体を位置決め機構用取付板53に取り
付けるようにしてもよい。さらに昇降機構5は、エアシ
リンダに限定されず、油圧シリンダ、その他の駆動機構
または進退手段でもよい。
【0027】
【発明の効果】本発明によれば、ウェーハ位置決め機構
をカセットステージに一体的に取り付けたので構成が簡
単となり、カセットステージの回転停止精度に関係なく
高精度にオリフラ/ノッチ合せやウェーハ検知が行え、
ウェーハとの接触も生じないので、装置の信頼性が向上
する。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態の半導体製造装置を構成するカセッ
トステージ、ウェーハ位置決め機構、昇降機構の構成図
である。
【図2】従来のカセットステージ、ウェーハ位置決め機
構、昇降機構の構成図である。
【符号の説明】
1 ウェーハカセット 2 カセットステージ 3 ウェーハ位置決め機構 24 カセットステージ回転軸 31 ウェーハ検知センサ 51 エアシリンダ W ウェーハ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】装置外部から供給されるウェーハカセット
    をカセットステージに載置して、前記ウェーハカセット
    内のウェーハを検知し、前記ウェーハのオリフラ/ノッ
    チ位置を揃えた後に、前記カセットステージを回転する
    ことによりウェーハカセットを反転して装置内部に搬送
    する半導体製造装置において、 前記ウェーハを検知するとともに前記ウェーハのオリフ
    ラ/ノッチ位置を揃えるためのウェーハ位置決め機構
    を、前記カセットステージに一体的に取り付けたことを
    特徴とする半導体製造装置。
JP27238497A 1997-10-06 1997-10-06 半導体製造装置 Pending JPH11111817A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27238497A JPH11111817A (ja) 1997-10-06 1997-10-06 半導体製造装置

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JP27238497A JPH11111817A (ja) 1997-10-06 1997-10-06 半導体製造装置

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JPH11111817A true JPH11111817A (ja) 1999-04-23

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ID=17513140

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27238497A Pending JPH11111817A (ja) 1997-10-06 1997-10-06 半導体製造装置

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JP (1) JPH11111817A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100356340B1 (ko) * 2000-11-30 2002-10-18 내일시스템주식회사 웨이퍼 프레임 로딩용 엘리베이터

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100356340B1 (ko) * 2000-11-30 2002-10-18 내일시스템주식회사 웨이퍼 프레임 로딩용 엘리베이터

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