JPH11103142A - Wiring board and its manufacturing method - Google Patents

Wiring board and its manufacturing method

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JPH11103142A
JPH11103142A JP26455897A JP26455897A JPH11103142A JP H11103142 A JPH11103142 A JP H11103142A JP 26455897 A JP26455897 A JP 26455897A JP 26455897 A JP26455897 A JP 26455897A JP H11103142 A JPH11103142 A JP H11103142A
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JP
Japan
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metal
wiring layer
wiring board
coated
resin
Prior art date
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Application number
JP26455897A
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Japanese (ja)
Inventor
Takayuki Neura
孝之 禰占
Riichi Sasamori
理一 笹森
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Publication date
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Publication of JPH11103142A publication Critical patent/JPH11103142A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a wiring board at low cost and which has high conductivity, and the manufacturing method. SOLUTION: A wiring board formed of conductor wiring layers 2 containing copper powders in the mean particle diameter of 3-10 μm coated with at least one kind of metal selected from among Al, Au, Cd, Cr, Ni, Pb, Sn, Th, Ti, Tl, Zn, Zr, in an insulating substrate 1 containing at least an organic resin and on the surface or inside of the substrate 1, is impressed with a pulse current of a thickness of 1-2,000 A/cm<2> and a pulse width of 0.01-1000 msec so that neckparts 8 made of an alloy of copper and a coating metal are formed in the contact parts between the metal coated copper powders for lowering the resistance.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、少なくとも有機樹
脂を含む絶縁基板の表面および/または内部に、金属粉
末を含む導体配線層を形成した、半導体素子収納用パッ
ケージなどに適した配線基板とその製造方法に関するも
のであり、特に、導体配線層の低抵抗化の改良に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wiring board suitable for a package for accommodating a semiconductor element, wherein a conductive wiring layer containing a metal powder is formed on at least the surface and / or inside of an insulating substrate containing an organic resin. The present invention relates to a manufacturing method, and particularly to an improvement in lowering the resistance of a conductor wiring layer.

【0002】[0002]

【従来技術】従来より、配線基板、例えば、半導体素子
を収納するパッケージに使用される多層配線基板とし
て、アルミナ等の絶縁層とW,Moなどの高融点金属か
らなる配線層とを具備したセラミック配線基板が多用さ
れているが、このようなセラミック配線基板は、硬くて
脆い性質を有することから、製造工程または搬送工程に
おいて、セラミックの欠けや割れ等が発生しやすく、ま
た、焼結前のグリーンシートにメタライズペーストを印
刷して、印刷後のシートを積層して焼結する場合、焼結
により得られる基板に反り等の変形や寸法のばらつき等
が発生しやすいという問題があり、回路基板の超高密度
化やフリップチップ等のような基板の平坦度の厳しい要
求に対して十分に対応できないという問題があった。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a multilayer wiring board used for a wiring board, for example, a package for housing a semiconductor element, a ceramic provided with an insulating layer such as alumina and a wiring layer made of a high melting point metal such as W and Mo. Wiring boards are often used, but such ceramic wiring boards are hard and brittle, so that in the manufacturing process or the transporting process, chipping or cracking of the ceramic is likely to occur, and also before sintering. When a metallized paste is printed on a green sheet, and the printed sheets are laminated and sintered, there is a problem that a substrate obtained by sintering is liable to be deformed such as warpage or dimensional variation, etc. However, there is a problem that it is not possible to sufficiently cope with strict requirements for flatness of a substrate such as ultra-high density and flip chips.

【0003】そこで、最近では、樹脂を含む絶縁層表面
に銅箔を接着した後、これをエッチングして微細な回路
を形成した基板や、銅などの金属粉末を含むペーストを
絶縁層に印刷して配線層を形成した後、これを積層し、
あるいは積層後に、所望位置にマイクロドリルやパンチ
ング等によりビア用の孔明けを行い、そのビア内壁にメ
ッキ法により金属を付着させて配線層を接続して多層化
したプリント配線基板が提案されている。また、絶縁層
としては、その強度を高めるために、樹脂に対して、粉
末状あるいは繊維状の無機質フィラーを分散させた基板
も提案されており、これらの複合材料からなる絶縁層上
に多数の半導体素子を搭載したマルチチップモジュール
(MCM)等への適用も検討されている。
[0003] Therefore, recently, a copper foil is adhered to the surface of an insulating layer containing a resin and then etched to form a substrate on which a fine circuit is formed, or a paste containing a metal powder such as copper is printed on the insulating layer. After forming the wiring layer by laminating,
Alternatively, a printed wiring board has been proposed in which a hole is drilled for a via at a desired position after lamination by microdrilling or punching, a metal is attached to the inner wall of the via by a plating method, and a wiring layer is connected to form a multilayer. . Further, as an insulating layer, a substrate in which a powdery or fibrous inorganic filler is dispersed with respect to a resin in order to increase the strength has been proposed. Application to a multi-chip module (MCM) on which a semiconductor element is mounted is also being studied.

【0004】以上のようなプリント配線板の多層化、配
線の超微細化、精密化の要求に対応して、樹脂を含む絶
縁層の表面に銅などの低抵抗金属を含む導体ペーストで
回路パターンを印刷したり、スルーホール中に導体ペー
ストを充填した高密度に多層化された配線基板を作製す
る試みが行われている。
[0004] In response to the demands for multi-layer printed wiring boards, ultra-fine wiring, and precision as described above, a circuit pattern is formed on a surface of an insulating layer containing a resin by using a conductive paste containing a low-resistance metal such as copper. Attempts have been made to print high-density multi-layered wiring boards in which conductive paste is filled in through holes and conductive paste is filled in through holes.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、低抵抗
金属を含む導体ペースト中には、絶縁体への印刷性を高
めるとともに、金属粉末を互いに結合させるために樹脂
を配合させることから、粉末の接触界面には、樹脂が介
在しやすいために、通常の銅箔や銅メッキにより形成さ
れた回路よりも抵抗値が高いという問題点があった。
However, in a conductive paste containing a low-resistance metal, a resin is mixed in order to improve the printability on the insulator and to bond the metal powder to each other. At the interface, there is a problem that the resistance value is higher than that of a circuit formed by ordinary copper foil or copper plating because a resin is easily interposed.

【0006】そのため、ペースト中の低抵抗金属として
は銀が多用されている。銀が主導体成分として用いられ
る理由は、金属中で最も導電率が高いこと、銅等の卑金
属に比べ化学的安定性が高いこと等による。しかしなが
ら、銀はコストが非常に高く、さらに銀が大気中湿気と
直流電界との相互作用により、銀配線相互間を移行する
現象、いわゆるマイグレーションが生じるために、回路
設計上の制約が多く、使用条件によっては信頼性に問題
があった。これに対して、銅は、比抵抗もある程度低
く、銀に比較して安価に入手できるものの、表面が酸化
しやすいことから、特殊な方法で貯蔵する必要があるな
ど、取り扱いが不便である。
For this reason, silver is frequently used as a low-resistance metal in the paste. The reason why silver is used as the main conductor component is that it has the highest conductivity among metals and has higher chemical stability than a base metal such as copper. However, silver has a very high cost, and silver has a phenomenon of migration between silver wirings due to the interaction between atmospheric moisture and a DC electric field, so-called migration. There was a problem in reliability under some conditions. On the other hand, copper has low resistivity to some extent and can be obtained at a lower cost than silver, but is inconvenient to handle, for example, it needs to be stored by a special method because its surface is easily oxidized.

【0007】そこで、これらの問題を解決するために、
銅粉末の表面に低抵抗の銀を被覆して、比抵抗の低減と
銅粉末の酸化を抑制した導電材料が特開昭56−101
739号、特開平8−138437号等にて提案されて
いる。
Therefore, in order to solve these problems,
JP-A-56-101 discloses a conductive material in which the surface of copper powder is coated with low-resistance silver to reduce the specific resistance and suppress the oxidation of the copper powder.
No. 739 and Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-13837.

【0008】しかしながら、これらの銀被覆銅粉末を用
いた場合においても、これらの粉末を結合するために全
固形分あたり3重量%以上の樹脂が必要とされており、
この樹脂分が粉末間の接触部に介在して接触抵抗が高く
なり、導体配線層の比抵抗を低減するには至っておら
ず、さらには、銀が単独で存在することからマイグレー
ションが生じるという問題があるのが現状である。ま
た、この樹脂分を加熱分解したり、通電加熱を行うこと
など様々な改良も行われているが、これらの加熱処理に
おいても十分な効果が得られておらず、場合によって
は、加熱によっては絶縁層に対して悪影響を及ぼすなど
の問題があった。
However, even when these silver-coated copper powders are used, a resin of 3% by weight or more per total solid content is required to bind these powders,
This resin component intervenes in the contact portion between the powders, increasing the contact resistance, not reducing the specific resistance of the conductor wiring layer, and further causing migration due to the presence of silver alone. There is a current situation. In addition, various improvements have been made, such as heat decomposition of this resin component and conducting electric heating.However, sufficient effects have not been obtained in these heat treatments, and in some cases, depending on the heating, There were problems such as adverse effects on the insulating layer.

【0009】本発明は、上記のような欠点が生じず、安
価で、かつ高導電性に優れたる導体配線層を具備した配
線基板とその製造方法を提供することを目的とするもの
である。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a wiring board having a conductor wiring layer which is inexpensive and has high conductivity without causing the above-mentioned drawbacks, and a method of manufacturing the same.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明者は、上記の課題
に対して検討を重ねた結果、Al、Au、Cd、Cr、
Ni、Pb、Sn、Th、Ti、Tl、Zn、Zrの群
から選ばれる少なくとも1種の金属を被覆してなる平均
粒径が3〜10μmの銅粉末を用い、この粉末を用いて
形成された導体配線層に対して高圧力で加熱処理を行い
粉末同士を圧接させるとともに、該導体配線層に対し
て、パルス電流を印加することで、金属粉末間の接点付
近に放電を起こし、電気の導通を妨げていた被覆金属表
面の樹脂や酸化物を除去すると同時に粉末同士を溶接し
て接触部を被覆金属と銅の合金によって形成することに
より、銀によるマイグレーションの発生なく、配線層の
抵抗を格段に下げることができることから、これにより
多層プリント配線基板の超微細化、精密化の要求に応え
うることのできる高信頼性の導体配線層を形成すること
ができることを知見した。
Means for Solving the Problems The present inventor has studied the above problems and found that Al, Au, Cd, Cr,
A copper powder coated with at least one metal selected from the group consisting of Ni, Pb, Sn, Th, Ti, Tl, Zn, and Zr and having an average particle diameter of 3 to 10 μm is used, and is formed using this powder. A heat treatment is applied to the conductive wiring layer at a high pressure to bring the powders into pressure contact with each other, and by applying a pulse current to the conductive wiring layer, a discharge is caused in the vicinity of the contact between the metal powders, and electric power is generated. By removing the resin and oxides on the surface of the coated metal that prevented the conduction and simultaneously welding the powders together to form the contact part with an alloy of the coated metal and copper, the migration of the wiring layer was reduced without the occurrence of silver migration. Since it can be remarkably reduced, it was found that this can form a highly reliable conductor wiring layer that can respond to the demand for ultra-fine and precise multilayer printed wiring boards. It was.

【0011】即ち、本発明の配線基板は、有機樹脂を含
む絶縁基板と、前記絶縁基板の表面及び/または内部
に、Al、Au、Cd、Cr、Ni、Pb、Sn、T
h、Ti、Tl、Zn、Zrの群から選ばれる少なくと
も1種の金属を被覆してなる平均粒径が3〜10μmの
銅粉末を含む導体配線層が形成されてなる配線基板であ
って、前記導体配線層の金属被覆銅粉末間の接触部に銅
と前記被覆金属との合金からなるネック部が形成されて
なることを特徴とし、特に、金属被覆層の厚みが0.1
〜1μmであることを特徴とするものである。
That is, the wiring board of the present invention comprises an insulating substrate containing an organic resin, and Al, Au, Cd, Cr, Ni, Pb, Sn, T, on the surface and / or inside of the insulating substrate.
h, a wiring board on which a conductor wiring layer containing a copper powder having an average particle diameter of 3 to 10 μm formed by coating at least one metal selected from the group consisting of Ti, Tl, Zn, and Zr is provided, A neck portion made of an alloy of copper and the coating metal is formed at a contact portion between the metal coating copper powder of the conductor wiring layer, and in particular, the thickness of the metal coating layer is 0.1
11 μm.

【0012】また、本発明の配線基板の製造方法は、有
機樹脂を含む絶縁基板と、前記絶縁基板の表面及び/ま
たは内部に、Al、Au、Cd、Cr、Ni、Pb、S
n、Th、Ti、Tl、Zn、Zrの群から選ばれる少
なくとも1種の金属を被覆してなる平均粒径が3〜10
μmの銅粉末を含む導体配線層を形成した後、該導体配
線層にパルス電流を印加して、前記被覆銅粉末間の接触
部を溶接して前記被覆金属と銅との合金からなるネック
部を生成したことを特徴とするものであり、特に、印加
するパルス電流の電流密度が1〜2000A/cm2
パルス幅が0.01〜1000msec.であることを
特徴とするものである。
Further, according to the method for manufacturing a wiring board of the present invention, an insulating substrate containing an organic resin, and Al, Au, Cd, Cr, Ni, Pb, S
n, Th, Ti, Tl, Zn, Zr, having an average particle diameter of 3 to 10 coated with at least one metal selected from the group consisting of
After forming a conductor wiring layer containing copper powder of μm, a pulse current is applied to the conductor wiring layer to weld a contact portion between the coated copper powder and a neck portion made of an alloy of the coated metal and copper. Wherein the current density of the applied pulse current is 1 to 2000 A / cm 2 ,
The pulse width is 0.01 to 1000 msec. It is characterized by being.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】本発明の配線基板は、基本的には
図1の概略断面図に示すように、絶縁基板1と導体配線
層2によって構成される。また、前記導体配線層2とし
ては、絶縁基板1の表面または絶縁層間に形成された配
線回路層3と、異なる層の配線回路層3間を接続するス
ルーホール導体またはビアホール導体4により構成され
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A wiring board according to the present invention is basically composed of an insulating substrate 1 and a conductor wiring layer 2, as shown in a schematic sectional view of FIG. The conductor wiring layer 2 includes a wiring circuit layer 3 formed on the surface of the insulating substrate 1 or between the insulating layers, and a through-hole conductor or a via-hole conductor 4 for connecting the wiring circuit layers 3 of different layers. .

【0014】本発明における絶縁基板1は、絶縁材料と
しての電気的特性、耐熱性、および機械的強度を有する
熱硬化性樹脂、例えば、アラミド樹脂、フェノール樹
脂、エポキシ樹脂、イミド樹脂、フッ素樹脂、フェニレ
ンエーテル樹脂、ビスマイレイドトリアジン樹脂、ユリ
ア樹脂、メラミン樹脂、シリコーン樹脂、ウレタン樹
脂、不飽和ポリエステル樹脂、アリル樹脂等が、単独ま
たは組み合わせで含む。
The insulating substrate 1 according to the present invention is made of a thermosetting resin having electrical properties, heat resistance and mechanical strength as an insulating material, for example, aramid resin, phenol resin, epoxy resin, imide resin, fluorine resin, A phenylene ether resin, a bismailide triazine resin, a urea resin, a melamine resin, a silicone resin, a urethane resin, an unsaturated polyester resin, an allyl resin, and the like, alone or in combination.

【0015】また、上記の絶縁基板中には、絶縁基板あ
るいは配線基板全体の強度を高めるために、有機樹脂に
対してフィラーを複合化させることもできる。有機樹脂
と複合化されるフィラーとしては、SiO2 、Al2
3 、ZrO2 、TiO2 、AlN、SiC、BaTiO
3 、SrTiO3 、ゼオライト、CaTiO3 、ほう酸
アルミニウム等の無機質フィラーが好適に用いられる。
また、ガラスやアラミド樹脂からなる不織布、織布など
に上記樹脂を含浸させて用いてもよい。なお、有機樹脂
とフィラーとは、体積比率で15:85〜50:50の
比率で複合化されるのが適当である。これらの中でも、
絶縁層の加工性、強度等の点で、エポキシ樹脂、イミド
樹脂、フェニレンエーテル樹脂と、シリカまたはアラミ
ド不織布との混合物であることが最も望ましい。
In the above-mentioned insulating substrate, a filler can be compounded with an organic resin in order to increase the strength of the entire insulating substrate or wiring substrate. SiO 2 , Al 2 O
3 , ZrO 2 , TiO 2 , AlN, SiC, BaTiO
3 , inorganic fillers such as SrTiO 3 , zeolite, CaTiO 3 and aluminum borate are preferably used.
Further, a nonwoven fabric or a woven fabric made of glass or aramid resin may be used by impregnating the above resin. The organic resin and the filler are preferably compounded in a volume ratio of 15:85 to 50:50. Among these,
In terms of workability, strength and the like of the insulating layer, a mixture of an epoxy resin, an imide resin, a phenylene ether resin, and a silica or aramid nonwoven fabric is most desirable.

【0016】本発明によれば、導体配線層2は、Al、
Au、Cd、Cr、Ni、Pb、Sn、Th、Ti、T
l、Zn、Zrの群から選ばれる少なくとも1種の金属
で被覆される銅粉末を導体材料として含有するものであ
り、その金属被覆層の厚みが0.1〜1μmであること
が望ましい。これは、金属被覆層の厚みが0.1μmよ
りも少ないと、被覆金属と銅との合金からなるネック部
の形成量が小さく、通電に十分な接触面積が得られにく
くなるからである。また、金属被覆層の厚みが1μmよ
りも大きくなると、粉末間接触部において、被覆金属と
銅との合金が形成されなくなるためである。
According to the present invention, the conductor wiring layer 2 is made of Al,
Au, Cd, Cr, Ni, Pb, Sn, Th, Ti, T
It contains copper powder coated with at least one metal selected from the group consisting of l, Zn, and Zr as a conductive material, and the thickness of the metal coating layer is preferably 0.1 to 1 μm. This is because if the thickness of the metal coating layer is less than 0.1 μm, the formation amount of the neck portion made of an alloy of the coating metal and copper is small, and it is difficult to obtain a sufficient contact area for energization. Further, when the thickness of the metal coating layer is larger than 1 μm, an alloy of the coating metal and copper is not formed in the contact portion between the powders.

【0017】本発明において、銅粉末表面に被覆される
上記金属群は、いずれも銅と合金を形成して900℃以
下の融点の合金となる特性を有するものであり、かかる
特性によって金属被覆銅粉末間に被覆金属と銅との合金
からなるネック部を低いパルス電流の印加により容易に
形成できると同時、ネック部の成長を助長することか
ら、パルス電流の印加による有機樹脂を含む絶縁基板へ
の影響をより小さくすることができる。これらの被覆金
属の中でも、Al、Au、Ni、Pb、Sn、Znが低
抵抗および価格の点で望ましい。
In the present invention, each of the above-mentioned metal groups coated on the surface of copper powder has a property of forming an alloy with copper to become an alloy having a melting point of 900 ° C. or less. A neck portion made of an alloy of a coating metal and copper can be easily formed between powders by applying a low pulse current, and simultaneously promotes the growth of the neck portion. Can be further reduced. Among these coated metals, Al, Au, Ni, Pb, Sn, and Zn are preferable in terms of low resistance and cost.

【0018】また、この金属被覆銅粉末の平均粒径が3
〜10μm、特に3〜7μm、最適には3〜5μmであ
ることが必要である。これは平均粒径が3μmよりも小
さいか、あるいは10μmよりも大きくなるといずれも
導体ペーストの印刷性および充填性が悪くなるととも
に、金属被覆銅粉末の充填密度が低下することにより抵
抗が高くなってしまうためである。
The average particle size of the metal-coated copper powder is 3
It is necessary that the thickness be 10 to 10 μm, particularly 3 to 7 μm, and optimally 3 to 5 μm. This is because when the average particle size is smaller than 3 μm or larger than 10 μm, the printability and the filling property of the conductive paste are deteriorated and the filling density of the metal-coated copper powder is lowered, so that the resistance is increased. This is because

【0019】また、本発明の配線基板における導体配線
層中には、前記金属被覆銅粉末間の結合をとるために樹
脂結合剤が配合されていてもよく、このような結合剤と
しては、印刷性の点でセルロース系、ポリエチレングリ
コール等のグリコール系の樹脂が好適に使用されるが、
その他、上述した熱硬化性樹脂等を用いることもでき
る。この樹脂結合剤は、その量が多くなるほど、粉末間
に介在して接触抵抗を増大させる傾向にあるため、2重
量部以下、特に0.05〜1重量部であることが印刷性
および導体配線層の低抵抗化を図る上で望ましい。
Further, in the conductor wiring layer of the wiring board of the present invention, a resin binder may be blended in order to establish a bond between the metal-coated copper powders. In terms of properties, cellulose resins, glycol resins such as polyethylene glycol are preferably used,
In addition, the above-described thermosetting resin or the like can be used. As the amount of the resin binder increases, it tends to increase the contact resistance by being interposed between the powders. Therefore, the content is preferably 2 parts by weight or less, particularly 0.05 to 1 part by weight. It is desirable to reduce the resistance of the layer.

【0020】なお、本発明の配線基板における導体配線
層の露出する表面に、ニッケルや金等の耐食性に優れ、
かつ半導体素子等の電子部品との接合性および外部電気
回路基板の配線層との接続性に優れる金属をメッキ法に
より1〜20μmの厚みで被着形成させておくことによ
り、導体配線層が酸化腐食することを有効に防止するこ
とができるとともに、導体配線層の電気部品あるいは外
部電気回路基板との電気接続を容易、かつ強固に行うこ
とができる。
The exposed surface of the conductor wiring layer in the wiring board of the present invention has excellent corrosion resistance, such as nickel or gold,
In addition, a metal having excellent bonding properties with electronic components such as semiconductor elements and connectivity with a wiring layer of an external electric circuit board is formed in a thickness of 1 to 20 μm by plating so that the conductive wiring layer is oxidized. Corrosion can be effectively prevented, and electrical connection of the conductor wiring layer to an electric component or an external electric circuit board can be easily and firmly made.

【0021】また、導体配線層中の金属被覆銅粉末5
は、通常、図3に示すように、銅からなる内部コア6の
表面に所定の厚みの金属からなるシェル7により構成さ
れており、粉末5、5間は点接触している。これに対し
て、本発明によれば、図2に示すように、金属被覆銅粉
末5、5間の接触部が、溶接されることによりネック部
8が形成され,しかも少なくともネック部8は内部コア
6の銅成分とシェル7の金属成分との合金によって形成
されている。このネック部8の幅は、粉末5の粒径の1
/5以上であることが低抵抗化を達成する上で望まし
い。
The metal-coated copper powder 5 in the conductor wiring layer
Usually, as shown in FIG. 3, the surface of an inner core 6 made of copper is constituted by a shell 7 made of a metal having a predetermined thickness, and the powders 5 are in point contact with each other. On the other hand, according to the present invention, as shown in FIG. 2, the contact portion between the metal-coated copper powders 5, 5 is welded to form a neck portion 8, and at least the neck portion 8 has an inner portion. It is formed of an alloy of a copper component of the core 6 and a metal component of the shell 7. The width of the neck portion 8 is one of the particle size of the powder 5.
/ 5 or more is desirable for achieving low resistance.

【0022】本発明の配線基板の製造方法によれば、ま
ず、前述したような熱硬化性樹脂、あるいは熱可塑性樹
脂と無機質フィラーとを用いて、これに適当な硬化剤、
溶剤を添加混合してスラリー状となし、これをドクター
ブレード法、カレンダーロール法、圧延法等によりシー
ト状に成形して絶縁層を作製する。所望によりこれを加
熱硬化させて半硬化あるいは完全硬化させて作製され
る。また、絶縁層としては、上記以外にプリプレグ等を
用いることもできる。
According to the method for manufacturing a wiring board of the present invention, first, a thermosetting resin as described above, or a thermoplastic resin and an inorganic filler, and an appropriate curing agent,
A slurry is formed by adding and mixing a solvent, and the slurry is formed into a sheet by a doctor blade method, a calender roll method, a rolling method, or the like to form an insulating layer. If desired, this is heated and cured to be semi-cured or completely cured. In addition, other than the above, a prepreg or the like can be used as the insulating layer.

【0023】次に、この絶縁層に、金属被覆銅粉末を含
む導体配線層を形成する。適用する導体配線層として
は、絶縁基板の表面や絶縁層間に形成される配線回路層
および/または配線回路層間を接続するビアホール導体
やスルーホール導体のいずれでもよい。導体配線層を形
成する場合には、金属被覆銅粉末を主体とする導体ペー
ストを、スクリーン印刷法、グラビア印刷法などの周知
の印刷方法によって厚さ10〜35μmの厚みで印刷す
る。また、ビアホール導体やスルーホール導体を形成す
る場合には、絶縁層にビアホールやスルーホールなどを
形成し、そのホール内に導体ペーストを充填する。
Next, a conductor wiring layer containing metal-coated copper powder is formed on the insulating layer. The conductor wiring layer to be applied may be any of a wiring circuit layer formed on the surface of the insulating substrate or between the insulating layers and / or a via-hole conductor or a through-hole conductor connecting the wiring circuit layers. When forming the conductor wiring layer, a conductor paste mainly composed of a metal-coated copper powder is printed to a thickness of 10 to 35 μm by a known printing method such as a screen printing method or a gravure printing method. When a via-hole conductor or a through-hole conductor is formed, a via-hole or a through-hole is formed in an insulating layer, and the hole is filled with a conductive paste.

【0024】この時に用いる導体ペーストとしては、固
形成分として、平均粒径が3〜10μm、特に3〜7μ
m、最適には3〜5μmの金属被覆銅粉末と、粉末10
0重量部に対して樹脂結合剤を2重量部以下、特に0.
05〜1重量部の割合で含み、さらには、適当な溶剤等
を含む。また、場合によっては、適当な硬化剤を含む場
合もある。
The conductive paste used at this time has an average particle size of 3 to 10 μm, particularly 3 to 7 μm, as a solid component.
m, optimally 3-5 μm metal-coated copper powder and powder 10
2 parts by weight or less of resin binder is added to 0 part by weight, especially 0.1 part by weight
And a suitable solvent and the like. In some cases, the composition may contain an appropriate curing agent.

【0025】また、多層化する場合には、例えば、導体
ペーストによって導体配線層が形成された複数の絶縁層
を積層し、30kg/cm2 以下の圧力で圧着する。こ
の圧着は、導体配線層が軟化した状態で行われることが
望ましく、樹脂結合剤が熱硬化性樹脂の場合には、半硬
化の状態で積層圧着することにより絶縁層を密着するこ
とができ、さらには絶縁層間に接着剤を介在させて積層
することもできる。
In the case of multi-layering, for example, a plurality of insulating layers each having a conductor wiring layer formed by a conductor paste are laminated and pressure-bonded at a pressure of 30 kg / cm 2 or less. This crimping is desirably performed in a state where the conductor wiring layer is softened, and when the resin binder is a thermosetting resin, the insulating layer can be adhered by laminating and crimping in a semi-cured state, Further, they can be laminated with an adhesive interposed between the insulating layers.

【0026】本発明によれば、このようにして作製され
た配線基板における導体配線層に対して40kg/cm
2 以上、特に60kg/cm2 以上の圧力を印加するこ
とによって、導体配線層中の金属被覆銅粉末間の接触部
で変形し、粉末間を面接触に近い形で接合することがで
きる。この時の圧力が40kg/cm2 よりも小さい
と、粉末間の面接触が不十分となり、導体配線層の低抵
抗化を図ることが難しい。
According to the present invention, the conductor wiring layer in the wiring board thus manufactured is 40 kg / cm.
2 or more, in particular by applying 60 kg / cm 2 or more pressure to deform at the contact portion between the metal-coated copper powder conductor wiring layer, between the powder can be joined in a form close to a surface contact. If the pressure at this time is less than 40 kg / cm 2 , the surface contact between the powders becomes insufficient, and it is difficult to reduce the resistance of the conductor wiring layer.

【0027】導体配線層に対して40kg/cm2 以上
の圧力を印加する方法としては、導体配線層が形成され
た配線基板をプレス機等によって加圧したり、さらに
は、加熱しながら加圧するホットプレス機によって行っ
てもよい。
As a method of applying a pressure of 40 kg / cm 2 or more to the conductor wiring layer, a wiring board on which the conductor wiring layer is formed is pressurized by a press or the like, It may be performed by a press machine.

【0028】このようにして作製された配線基板におい
ては、導体配線層における金属粉末の表面には、配線層
中に含まれる樹脂によって粉末表面に薄い樹脂膜が存在
したり、大気中の酸素によって酸化した薄い酸化膜が形
成されている。
In the wiring board manufactured as described above, a thin resin film exists on the surface of the metal powder in the conductive wiring layer due to the resin contained in the wiring layer, or a thin resin film exists due to oxygen in the atmosphere. An oxidized thin oxide film is formed.

【0029】そこで、本発明によれば、上記のように作
製された配線基板における導体配線層に対してパルス電
流を印加する。この導体配線層にパルス電流を印加する
と金属粉末間にプラズマ放電を生じる。このプラズマに
より金属粉末表面の酸化膜や付着物が除去され、いわゆ
る溶接された状態となって、金属粉末同士が導電性を妨
げる介在物なしに接触することが可能になり、この結
果、通電加熱のみでは達成されなかった低抵抗の配線層
を、その周辺の絶縁層に悪影響を及ぼすことなく、形成
することができるのである。
Therefore, according to the present invention, a pulse current is applied to the conductor wiring layer in the wiring board manufactured as described above. When a pulse current is applied to the conductor wiring layer, a plasma discharge occurs between the metal powders. This plasma removes oxide films and deposits on the surface of the metal powder, and forms a so-called welded state, so that the metal powders can come into contact with each other without inclusions that hinder conductivity. It is possible to form a low-resistance wiring layer, which has not been achieved only by itself, without adversely affecting the surrounding insulating layer.

【0030】このパルス電流の印加は、電流を印加する
導体配線層の両端に電極を押し当ててパルス電流を印加
する。印加するパルス電流の最適条件としては、電流密
度が1〜2000A/cm2 、パルス幅が0.01から
1000msec.の条件が良好に用いられ、電流密度
が1A/cm2 より低いと、溶接されずに金属粉末間の
界面に存在する酸化膜や樹脂の除去が難しく、また20
00A/cm2 を越えると、部分的に発熱が起こり絶縁
基板を傷める場合があるためである。また、望ましく
は、1パルスの通電時間3秒以下、パルス間間隔3秒以
下がよい。なお、このパルス電流印加時間は、5秒〜5
分間、特に10秒〜1分間が望ましい。
The pulse current is applied by pressing the electrodes against both ends of the conductor wiring layer to which the current is applied to apply the pulse current. The optimum conditions for the pulse current to be applied include a current density of 1 to 2000 A / cm 2 and a pulse width of 0.01 to 1000 msec. If the current density is lower than 1 A / cm 2 , it is difficult to remove the oxide film and resin existing at the interface between the metal powders without welding.
If it exceeds 00 A / cm 2 , heat is partially generated and the insulating substrate may be damaged. Desirably, the energizing time of one pulse is 3 seconds or less, and the interval between pulses is 3 seconds or less. The pulse current application time is 5 seconds to 5 seconds.
Minutes, particularly 10 seconds to 1 minute.

【0031】また、パルス電流は矩形波であることが望
ましい。正弦波等も用いられるが矩形波が最も効果的で
ある。また、パルス電流が直流パルスであることが望ま
しい。それは、正弦波よりも矩形波のほうが、粉末間の
放電が起こりやすく、表面の清浄効果が高く、パルス電
流は交流よりも直流のほうが一旦清浄された粉末表面に
汚れ等が付着しにくいためである。
The pulse current is desirably a rectangular wave. Although a sine wave or the like is used, a rectangular wave is most effective. Further, it is desirable that the pulse current is a DC pulse. The reason is that a rectangular wave is more likely to cause a discharge between powders than a sine wave and has a higher surface cleaning effect, and a pulse current is less likely to adhere to a once-cleaned powder surface with a DC current than with an AC. is there.

【0032】さらに、上記パルス電流の印加の後に、配
線層に通電により加熱処理を施すことにより、さらに配
線層の低抵抗化を図ることができる。通電処理は、電流
密度1〜4000A/cm2 の直流、交流でもよく、通
電による加熱温度は100〜350℃の範囲が適当であ
る。この時の温度が100℃よりも低いと、電気抵抗を
下げる効果が小さく、350℃を越えると絶縁層や導体
配線層を構成する樹脂が分解する場合がある。この通電
加熱によって、金属粉末間の接点が発熱し粉末同士の結
合力をさらに高めることができる。
Further, after the application of the pulse current, the wiring layer is subjected to a heat treatment by energization, whereby the resistance of the wiring layer can be further reduced. The energization treatment may be DC or AC with a current density of 1 to 4000 A / cm 2 , and the heating temperature by energization is suitably in the range of 100 to 350 ° C. If the temperature at this time is lower than 100 ° C., the effect of lowering the electric resistance is small, and if it is higher than 350 ° C., the resin constituting the insulating layer and the conductor wiring layer may be decomposed. The contact heating between the metal powders generates heat by the energization heating, so that the bonding force between the powders can be further increased.

【0033】また、この通電加熱は、前述したパルス電
流の印加と同時に行うことができる。具体的には、直流
のパルス電流と直流電流とをあわせた波形、つまり直流
電流波形の上部が矩形波となった電流を印加すると通電
加熱による作用と、パルス電流印加による放電溶接作用
とを同時に付加することができる。
Further, the energization heating can be performed simultaneously with the application of the above-described pulse current. Specifically, when a waveform obtained by combining a DC pulse current and a DC current, that is, when a current having a rectangular waveform at the top of the DC current waveform is applied, the action of energization heating and the discharge welding action of pulse current application are simultaneously performed. Can be added.

【0034】上記の導体配線層に印加するパルス電流を
制御することにより比抵抗5×10-5Ω・cm以下の低
抵抗化を実現することが可能となる。これにより、配線
基板における導体配線層の超微細化、精密化の要求に応
えることのできる高信頼性の配線基板を提供することが
できる。
By controlling the pulse current applied to the conductor wiring layer, it is possible to realize a low resistivity of 5 × 10 −5 Ω · cm or less. This makes it possible to provide a highly reliable wiring board that can meet the demand for ultra-fine and fine conductor wiring layers in the wiring board.

【0035】[0035]

【実施例】平均粒径が約5μmの略球形の酸化珪素70
体積%、イミド樹脂30体積%を用いてスラリーを調整
し、このスラリーを用いてドクターブレード法によって
キャリアシート上に塗布し、これを50℃の温度で60
分間乾燥して厚み120μmの絶縁層を完成した。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Substantially spherical silicon oxide 70 having an average particle size of about 5 μm
A slurry was prepared by using 30% by volume of imide resin and 30% by volume of imide resin, and the slurry was applied to a carrier sheet by a doctor blade method, and this was applied at a temperature of 50 ° C. to 60%.
After drying for 120 minutes, an insulating layer having a thickness of 120 μm was completed.

【0036】次に、前記絶縁基板の表面に、表1の平均
粒径および被覆金属の被覆厚みを有する金属被覆銅粉末
99.8重量部、セルロース0.2重量部、溶剤として
2−オクタノール10重量部とを混合してなる導電性ペ
ーストを調製し、直径が0.1mmのスルーホールを形
成しそのホール内にこのペーストを充填した。
Next, 99.8 parts by weight of metal-coated copper powder having the average particle diameter and the coating thickness of the coated metal shown in Table 1 were added to the surface of the insulating substrate, 0.2 parts by weight of cellulose, and 2-octanol 10 as a solvent. A conductive paste was prepared by mixing the paste with a weight part, a through hole having a diameter of 0.1 mm was formed, and the paste was filled in the through hole.

【0037】次に、上記のようにして導体配線層を形成
した8層の絶縁層を作製し、これを位置合わせして積層
圧着した。そして、この積層物をプレス機内にセット
し、50kg/cm2 の圧力を印加した。さらに120
℃に加熱してペースト中の有機溶剤を揮散除去した。そ
の後,250℃5時間処理して、熱硬化性樹脂を完全硬
化させて配線基板を作製した。
Next, eight insulating layers each having a conductor wiring layer formed thereon as described above were prepared, aligned, and laminated and pressed. Then, the laminate was set in a press machine, and a pressure of 50 kg / cm 2 was applied. Further 120
C. to remove the organic solvent in the paste. Thereafter, the wiring board was manufactured by treating at 250 ° C. for 5 hours to completely cure the thermosetting resin.

【0038】得られた配線基板に対して、導体配線層の
両極端に表1に示す電流密度およびパルス幅で30秒間
パルス電流を印加した。なお、パルス間間隔はパルス幅
と同じにした。また、一部の基板に対しては、さらに、
表1に示す条件で通電加熱を行った。
A pulse current was applied to the obtained wiring board at the extremes of the conductor wiring layer at the current density and pulse width shown in Table 1 for 30 seconds. Note that the interval between the pulses was the same as the pulse width. Also, for some substrates,
Electric heating was performed under the conditions shown in Table 1.

【0039】そして、これらの処理後の配線基板におけ
る導体配線層の初期体積固有抵抗を測定し、その結果を
表1に示した。また、導体配線層の金属被覆銅粉末の接
触状況を走査型電子顕微鏡写真(SEM)により観察
し、溶接の有無を確認し、溶接により形成されたネック
幅の金属粉末の粒径に対する比率を測定しその平均を求
めた。
Then, the initial volume resistivity of the conductor wiring layer in the wiring board after these treatments was measured, and the results are shown in Table 1. In addition, the contact state of the metal-coated copper powder in the conductor wiring layer is observed by a scanning electron micrograph (SEM) to confirm the presence or absence of welding, and the ratio of the neck width formed by welding to the particle size of the metal powder is measured. The average was calculated.

【0040】[0040]

【表1】 [Table 1]

【0041】[0041]

【表2】 [Table 2]

【0042】表1,2の結果から明らかなように、A
l、Au、Cd、Cr、Ni、Pb、Sn、Th、T
i、Tl、Zn、Zrの群から選ばれた被覆金属は、い
ずれも5×10-5Ω・cm以下の抵抗値を示し、導体配
線層の低抵抗化に有効であった。
As is clear from the results in Tables 1 and 2, A
1, Au, Cd, Cr, Ni, Pb, Sn, Th, T
Each of the coated metals selected from the group consisting of i, Tl, Zn, and Zr exhibited a resistance value of 5 × 10 −5 Ω · cm or less, and was effective in reducing the resistance of the conductor wiring layer.

【0043】但し、金属被覆銅粉末の平均粒径が3〜1
0μmの試料No.2〜5の試料は5×10-5Ω・cm以
下の抵抗値になったが、3μmより小さい試料No.1、
10μmより大きい試料No.6については、充填密度が
低下し、低抵抗にならなかった。
However, the average particle size of the metal-coated copper powder is 3 to 1
Samples No. 2 to 5 of 0 μm had a resistance value of 5 × 10 −5 Ω · cm or less, but Sample No. 1 of less than 3 μm,
For sample No. 6 larger than 10 μm, the packing density was reduced and the resistance was not reduced.

【0044】被覆金属の厚みが0.1〜1μmの試料に
ついては、5×10-5Ω・cm以下の低抵抗値が得られ
たが、被覆金属の被覆厚みが0.1μmより小さい試料
No.11では、合金からなるネック部が小さく、1μm
より大きい試料No.16は合金からなるネック部が小さ
くまたは形成されず、低抵抗にならなかった。
For the sample having a coating metal thickness of 0.1 to 1 μm, a low resistance value of 5 × 10 −5 Ω · cm or less was obtained, but for the sample No having a coating metal coating thickness of less than 0.1 μm. In .11, the neck made of alloy is small and
The larger sample No. 16 did not have low resistance because the neck portion made of the alloy was small or not formed.

【0045】また、本発明により、導体配線層に対して
電流密度が1〜2000A/cm2、パルス幅0.01
〜1000msec.のパルス電流を印加したその他の
本発明試料は、SEM観察から粉末間の接触部が溶接に
よるネックの成長が観察された。また、このネックの成
長が見られた各試料に対して、EPMA(X線マイクロ
アナライザー)によりネック部の成分を分析した結果、
いずれもネック部から被覆金属と銅の両方の成分が検出
され、ネック部が被覆金属と銅の合金になっていること
がわかった。また、このうち、パルス電流値が1000
A/cm2 以上の試料については、金属被覆銅粉末の非
接触部の表面が被覆金属と銅合金になっていることがわ
かった。
According to the present invention, the current density is 1 to 2000 A / cm 2 and the pulse width is 0.01 to the conductor wiring layer.
~ 1000 msec. In the other samples of the present invention to which the pulse current was applied, neck growth due to welding at the contact portion between the powders was observed from SEM observation. Further, as a result of analyzing the components of the neck portion by EPMA (X-ray microanalyzer) for each sample in which the growth of the neck was observed,
In each case, both components of the coating metal and copper were detected from the neck portion, and it was found that the neck portion was an alloy of the coating metal and copper. Among them, the pulse current value is 1000
For the samples of A / cm 2 or more, it was found that the surface of the non-contact portion of the metal-coated copper powder was a coating metal and a copper alloy.

【0046】[0046]

【発明の効果】以上詳述した通り、本発明の配線基板に
よれば、導体配線層をAl、Au、Cd、Cr、Ni、
Pb、Sn、Th、Ti、Tl、Zn、Zrの群から選
ばれる少なくとも1種の金属を被覆してなる平均粒径が
3〜10μmの銅粉末より形成すれば、導電性に優れて
おり、パルス電流を印加することにより、粉末表面の樹
脂や酸化物を除去し、粉末同士の接触部を溶接すること
ができるために、導体配線層の比抵抗を大幅に低減する
ことができる。これにより、配線層の微細化と高密度化
に十分に対応することができ、超微細化、精密化の要求
に応えうることのできる高信頼性の配線基板を作製する
ことができる。
As described in detail above, according to the wiring board of the present invention, the conductor wiring layer is made of Al, Au, Cd, Cr, Ni,
Pb, Sn, Th, Ti, Tl, Zn, Zr, if formed from a copper powder having an average particle size of 3 to 10 μm coated with at least one metal selected from the group of the metal, it has excellent conductivity, By applying a pulse current, the resin or oxide on the powder surface can be removed and the contact portion between the powders can be welded, so that the specific resistance of the conductor wiring layer can be significantly reduced. As a result, a highly reliable wiring board that can sufficiently cope with the miniaturization and high density of the wiring layer and can meet the demands for ultrafineness and precision can be manufactured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の配線基板の概略断面図を示す。FIG. 1 is a schematic sectional view of a wiring board of the present invention.

【図2】本発明における導体配線層中の金属被覆銅粉末
の接触状態を説明するための要部拡大図である。
FIG. 2 is an enlarged view of a main part for describing a contact state of metal-coated copper powder in a conductor wiring layer according to the present invention.

【図3】従来における導体配線層中の金属被覆銅粉末の
接触状態を説明するための要部拡大図である。
FIG. 3 is an enlarged view of a main part for explaining a contact state of a metal-coated copper powder in a conventional conductor wiring layer.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 絶縁基板 2 導体配線層 3 配線回路層 4 スルーホール導体/ビアホール導体 5 金属被覆銅粉末 6 内部コア 7 シェル 8 ネック部 REFERENCE SIGNS LIST 1 insulating substrate 2 conductor wiring layer 3 wiring circuit layer 4 through-hole conductor / via-hole conductor 5 metal-coated copper powder 6 internal core 7 shell 8 neck

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】有機樹脂を含む絶縁基板と、前記絶縁基板
の表面及び/または内部に、Al、Au、Cd、Cr、
Ni、Pb、Sn、Th、Ti、Tl、ZnおよびZr
の群から選ばれる少なくとも1種の金属を被覆してなる
平均粒径が3〜10μmの銅粉末を含む導体配線層が形
成されてなる配線基板であって、前記導体配線層中の金
属被覆銅粉末間の接触部に銅と前記被覆金属との合金か
らなるネック部が形成されてなることを特徴とする配線
基板。
1. An insulating substrate containing an organic resin, and Al, Au, Cd, Cr,
Ni, Pb, Sn, Th, Ti, Tl, Zn and Zr
A conductive wiring layer formed by coating at least one metal selected from the group consisting of a copper powder having an average particle diameter of 3 to 10 μm, wherein the metal-coated copper in the conductive wiring layer is provided. A wiring board, wherein a neck portion made of an alloy of copper and the coating metal is formed at a contact portion between the powders.
【請求項2】前記金属被覆銅粉末における金属被覆層の
厚みが0.1〜1μmであることを特徴とする請求項1
記載の配線基板。
2. The metal-coated copper powder according to claim 1, wherein the metal-coated layer has a thickness of 0.1 to 1 μm.
The wiring board as described.
【請求項3】有機樹脂を含む絶縁基板と、前記絶縁基板
の表面及び/または内部に、Al、Au、Cd、Cr、
Ni、Pb、Sn、Th、Ti、Tl、ZnおよびZr
の群から選ばれる少なくとも1種の金属を被覆してなる
平均粒径が3〜10μmの銅粉末を含む導体配線層を形
成した後、該導体配線層にパルス電流を印加して、前記
被覆銅粉末間の接触部を溶接して前記被覆金属と銅との
合金からなるネック部を形成することを特徴とする配線
基板の製造方法。
3. An insulating substrate containing an organic resin, and Al, Au, Cd, Cr,
Ni, Pb, Sn, Th, Ti, Tl, Zn and Zr
Forming a conductor wiring layer containing copper powder having an average particle size of 3 to 10 μm coated with at least one metal selected from the group consisting of: A method of manufacturing a wiring board, wherein a contact portion between powders is welded to form a neck portion made of an alloy of the coated metal and copper.
【請求項4】印加するパルス電流の電流密度が1〜20
00A/cm2 、パルス幅が0.01〜1000mse
c.であることを特徴とする請求項3記載の配線基板の
製造方法。
4. The current density of a pulse current to be applied is 1 to 20.
00 A / cm 2 , pulse width of 0.01 to 1000 mse
c. 4. The method for manufacturing a wiring board according to claim 3, wherein
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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