JPH11101819A - 微小球の製造方法 - Google Patents

微小球の製造方法

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JPH11101819A
JPH11101819A JP10132559A JP13255998A JPH11101819A JP H11101819 A JPH11101819 A JP H11101819A JP 10132559 A JP10132559 A JP 10132559A JP 13255998 A JP13255998 A JP 13255998A JP H11101819 A JPH11101819 A JP H11101819A
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JP
Japan
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diameter
small
microspheres
contact
rubbing
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Application number
JP10132559A
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English (en)
Inventor
Shigeo Kiyota
清田茂男
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KIYOTA SEISAKUSHO KK
Kiyota Manufacturing Co
Original Assignee
KIYOTA SEISAKUSHO KK
Kiyota Manufacturing Co
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 プローブコンタクト自体を極めて小径に形成
し得る微小球の製造方法で、この微小球を使用すること
によって、プランジャーコンタクトを従来不可能視され
ていた超微細な径とすることができるから、プリント基
板のピッチ間隔の非常に狭い超LSIを極めて正確に検
査することができ、しかもこのような超微細な径とする
ことによって、プロープコンタクトには常に安定して電
流が流れ、そのためプリント配線基板の試験精度が飛躍
的に向上する。 【解決手段】 平坦な擦り板8,8′の間に小球4aを
挟持し、該擦り板を互いに逆方向に回転させて、小球を
直径0.4mm以下の微小球に研磨する。また、微小球
の直径が、0.2mm〜0.05mmである。また、擦
り板に研磨剤を含有させるか、或は擦り板間に微小球よ
りも小径の研磨剤の微細粉体を介装してなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、超微小なピッチ間隔
の半導体、液晶等の電極若しくはパタ−ン等の断線、シ
ョート等を精密にトライ検査することのできる超微細な
径の超LSI検査用プローブコンタクト等に使用される
微小球の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】プリント基板の回路導通などのテストに
使用されるプローブコンタクトは、円筒状の胴部内にコ
イルスプリングを介してプランジャーコンタクトを嵌合
装着してなり、該プランジャーコンタクトの先端部がプ
リント基板の被測定面に押し当てられた時に、プランジ
ャーコンタクトが胴部に対し相対移動可能に構成されて
いる。
【0003】しかして、前記先端部が被測定面に垂直に
当接し、コイルスプリングが真直に押圧される場合はあ
まり問題はないが、先端部が被測定面に傾斜して当接し
た場合または何等かの理由によって、コイルスプリング
に不均一な力がかかる状態となると、胴部とプランジャ
ーコンタクトの摺動部とが瞬間的に離れ、その結果瞬間
的に電流が流れなくなり、このことが導通試験の障害と
なっている。プリント基板の回路導通試験等を行う場
合、プローブコンタクト自体には常に正常に電流が流れ
なければならないからである。特に、最近はより精密な
試験の必要性が高くなってきているので、このような欠
点のないプローブコンタクトが強く求められている。
【0004】このような問題点を解決するため、プラン
ジャーコンタクトの摺動部の下面を斜面に形成し、該斜
面とコイルスプリングとの間に小球を介装させてなるプ
ローブコンタクトが、米国の会社から提案され、既に特
許されている。このプローブコンタクトは、摺動部の斜
面と小球とが当接するので、摺動部は、常に胴部に接触
する力を受けるため、接触が確実となるものである。
【0005】しかして、最近検査するプリント基板のピ
ッチ間隔が非常に狭くなってきているので、プランジャ
ーコンタクトの先端が、芯振れによって中心からできる
だけ移動しないコンタクトプローブが強く求められてい
る。プランジャーコンタクトの先端が若干でも移動する
と、プランジャーコンタクトの先端が目的としない被測
定面に当たる恐れが生じるからである。
【0006】プランジャーコンタクトの先端をできるだ
け移動させないようにするには、プランジャーコンタク
トをできるだけ細くし、プランジャーコンタクトとスリ
ーブとの間のクリアランスをできるだけ少なくする必要
がある。しかしながら、従来のコンタクトプローブで
は、現在入手し得る小球は0.5mm以上であるので、
プランジャーコンタクトは0.7mm以下とすることは
できない問題があった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、このよう
な従来の問題点を一挙に解決しようとするものであり、
プランジャーコンタクトと胴部とを安定して接触し得る
ようにし、しかもプローブコンタクト自体を極めて小径
に形成し得る微小球の製造方法を提供することを目的と
する。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明者は鋭意研究の結果、平坦な擦り板の間に小
球を挟持し、該擦り板を摺動させて、小球を研磨するこ
とによって、プランジャーコンタクトを極めて小径に形
成することのできる微小な径の小球を製造することを可
能とし、本発明に到達した。
【0009】即ち、本発明は、平坦な擦り板の間に小球
を挟持し、該擦り板を互いに逆方向に回転させて、前記
小球を直径0.4mm以下の微小球に研削することを特
徴とする。上記微小球を使用すれば、直径0.5mm〜
0.1mmの微小なプランジャーコンタクトを形成する
ことができる。
【0010】
【実施例】次に、本発明の製法により得た微小球を使用
したプロ−ブコンタクトを図面に基づいて説明する。図
1は、本発明の微小球を使用したプロ−ブコンタクトを
示す断面図であり、外径0.2mmの胴部1に、コイル
スプリング2を内装し、直径0.14mmのプランジャ
ーコンタクト3,3′を前記胴部1に嵌合させ、プラン
ジャーコンタクト3,3′と前記コイルスプリング2と
の当接部にそれぞれ直径0.13mmの微小球4,4′
を介装した例を示す。
【0011】図2は、本発明の微小球を使用したプロ−
ブコンタクトの他の例を示す断面図であり、外径0.2
mmの胴部1に、コイルスプリング2を内装し、直径
0.14mmのプランジャーコンタクト3を前記胴部1
に嵌合させ、プランジャーコンタクト3と前記コイルス
プリング2との当接部にそれぞれ直径0.13mmの微
小球4を介装した例を示す。微小球4,4′との当接部
のプランジャーコンタクト3,3′は、接触を確実にす
るため、斜面に形成されている。
【0012】従来の小球の製法は、丸棒を切断し、これ
を小球の型内に入れて、加圧成型するものであるが、こ
の方法では、直径0.5mm以下の微小球を製造するこ
とは不可能であった。
【0013】本発明の微小球は、図6に示すように、擦
り板8,8′間で例えば直径0.5mmの小球4aを挟
持し、擦り板8と8′を互いに逆方向に回転させて、小
球4aを研磨することにより、直径0.2mm程度の微
小球にすることができる。
【0014】擦り板8と8′には、研磨材を含有させて
おくか、或は擦り板8と8′間に、製造しようとする微
小球よりも小径の研磨材の微粉体を入れておく必要があ
る。研磨材としては、例えば、ダイヤモンド、研磨材と
して使用し得るセラミック等を使用することができる。
【0015】次に、本発明の微小球の製造方法を、図3
〜図5に基づいて説明する。図3に示すように、目的と
する微小球の径よりも20〜30%大きい径の断面円形
のスチール線材5を、図4に示すように、旋盤若しくは
研削によって先端を小球部6に形成し、ついで、図5に
示すように、小球部6と線材5との間のくびれ部7に、
カッタ−9を当てて切断する、カッタ−9は、刃部が斜
面になっているので、この斜面に案内されて、くびれ部
7は、直線状ではなく、曲線状に切断される。
【0016】上記のようにして、直径0.16mmの線
材5から製造した小球を使用し、図6に示すように研磨
して、直径0.13mmの微小球を得た。
【0017】得られた微小球の電子顕微鏡写真(200
倍)を図7に示す。図7の横の直線状部は髪の毛であ
り、その上方に3個の微小球が写つている。図7から、
上記のようにして得た微小球の直径は、髪の毛と同じよ
うな大きさであることがわかる。
【0018】上記図3〜図6に示す方法によれば、直径
0.05mmまでの小球を得ることができ、この微小球
を使用すれば、直径0.1mmのプランジャ−コンタク
トとすることができる。
【0019】上記のようにして得た直径0.2mm以下
のプロ−ブコンタクトを1列に配列すると、0.3mm
間隔の超LSIのプリント基板の端子を同時に検査する
ことができ、交互若しくは千鳥に配列することによっ
て、端子ピッチ0.08mmの超LSIのプリント基板
の端子を同時に検査することができる。
【0020】更に最近におけるICパッケージ等にも、
現在は直径0.25mmの半田線を使用しているが、
0.05mmのボールの出現によって、ICパッケージ
が一挙に新しい技術革新の道を開くことができ、今後の
電子技術の幅広い応用と出番が待っている状態である。
【0021】
【作用】上記図1に示す本発明のプローブコンタクトを
使用して、2000回プロ−ビング試験による抵抗値の
変化を測定した。試験は、それぞれ別のプローブコンタ
クトを使用して5回行った。結果を次表−1に示す。
尚、1回目の試験の1000回プロ−ビングの抵抗値の
変化を図8に示す。
【0022】
【0023】表−1及び図8の結果から、本発明の微小
球を使用したプローブコンタクトは、2000回プロ−
ビング試験の抵抗値の変化が極めて少ないことがわか
る。これは、従来の小球を介装したプローブコンタクト
と比べてもはるかに優れており、全く予想外のことであ
った。微小球を介装し、超微小な径のプローブコンタク
トとすることにより、接触が確実になったものと考えら
れる。
【0024】本発明の微小球は、超微小な径のプローブ
コンタクトだけでなく、今後の電子回路測定部門は勿論
のこと、電子産業全体における応用として画期的な新技
術の開発創出に大きな役割を期待できる。
【0025】
【発明の効果】以上述べたごとく、本発明によれば、従
来製造が不可能であった微小球を容易に製造することが
できる。この微小球を使用することによって、プランジ
ャ−コンタクトを従来不可能視されていた超微細な径と
することができるから、プリント基板のピッチ間隔の非
常に狭い超LSIを極めて正確に検査することができ、
しかもこのような超微細な径とすることによって、プロ
ーブコンタクトには常に安定して電流が流れ、そのため
プリント配線基板の試験精度が飛躍的に向上するという
予想外の効果をも有する極めて画期的な発明である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の微小球を使用したプローブコンタクト
の例を示す断面図である。
【図2】本発明の微小球を使用したプローブコンタクト
の他の例を示す断面図である。
【図3】本発明の微小球の製造に使用する線材の側面図
である。
【図4】線材の先端に小球を形成した状態の側面図であ
る。
【図5】先端の小球を切断する状態を示す側面図であ
る。
【図6】本発明の方法により、微小球を製造する状態を
示す断面図である。
【図7】本発明の方法により得た微小球の電子顕微鏡写
真である。
【図8】本発明の微小球を使用したプロ−ブコンタクト
を使用した連続プロ−ビング試験による抵抗値の変化の
線図である。
【符号の説明】
1 胴部 3,3′ プランジャーコンタクト 4,4′ 微小球

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】平坦な擦り板の間に小球を挟持し、該擦り
    板を互いに逆方向に回転させて、前記小球を直径0.4
    mm以下の微小球に研削することを特徴とする微小球の
    製造方法。
  2. 【請求項2】前記微小球の直径が、0.2mm〜0.0
    5mmである請求項1に記載の製造方法。
  3. 【請求項3】前記擦り板に研磨剤を含有させるか、或は
    前記擦り板間に前記微小球よりも小径の研磨剤の微細粉
    体を介装してなる請求項1又は2に記載の製造方法。
  4. 【請求項4】前記小球が、断面円形の線材を研削して、
    先端を球状物に形成し、該球状物をカッターで切断して
    形成した小球である請求項3に記載の製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS611343A (ja) * 1985-06-11 1986-01-07 Toyoichi Shinkai シート状食品の製造方法

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