JPH109950A - 反射型物体検出装置 - Google Patents
反射型物体検出装置Info
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- JPH109950A JPH109950A JP8181414A JP18141496A JPH109950A JP H109950 A JPH109950 A JP H109950A JP 8181414 A JP8181414 A JP 8181414A JP 18141496 A JP18141496 A JP 18141496A JP H109950 A JPH109950 A JP H109950A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 反射型物体検出装置において、発光パワーの
ロスを生じることなく、また、センサの形状を大きくす
ることなく、投光ビームの光強度分布をシャープにし
て、白黒誤差を軽減することを目的とする。 【解決手段】 投光部１の発光素子２を、投光レンズ３
の光軸Ｌより受光レンズ５と遠い側に配置し、投光部１
による投光スポットＳ１の検知領域Ｒにおける強度分布
を受光素子４より遠い側において急峻に落ち込むように
構成した。これにより、センサの形状を大きくすること
なく、検出物体での距離が長いところで生じやすい白黒
誤差を軽減することができ、反射率の大きく異なる物体
についても正確な物体の有無検出が可能となる。
ロスを生じることなく、また、センサの形状を大きくす
ることなく、投光ビームの光強度分布をシャープにし
て、白黒誤差を軽減することを目的とする。 【解決手段】 投光部１の発光素子２を、投光レンズ３
の光軸Ｌより受光レンズ５と遠い側に配置し、投光部１
による投光スポットＳ１の検知領域Ｒにおける強度分布
を受光素子４より遠い側において急峻に落ち込むように
構成した。これにより、センサの形状を大きくすること
なく、検出物体での距離が長いところで生じやすい白黒
誤差を軽減することができ、反射率の大きく異なる物体
についても正確な物体の有無検出が可能となる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、物体の有無等を光
学的に検知する反射型物体検出装置に関するものであ
る。
学的に検知する反射型物体検出装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、特定の領域内を被検出物体が通過
したことを検知するセンサとして限定反射型光電センサ
が知られている。図８に従来の限定反射型光電センサの
一例とこのセンサの距離−受光量特性を示す。限定反射
型光電センサ１１０は、発光ダイオード（以下、ＬＥＤ
という）等の発光素子１０２と投光レンズ１０３とから
構成される投光部より光ビームを照射し、光ビームが伝
搬する特定領域Ｒからの光をフォトダイオード等の受光
素子１０４と受光レンズ１０５により構成される受光部
により受光し、この特定領域Ｒを検知領域として被検出
物体がこの領域を通過したときには、被検出物体からの
反射光を受光部により受光して被検出物体の通過を判別
するものである。このセンサ１１０は、受光素子１０４
の受光量がある一定のしきい値より大きくなると検知信
号を出力するが、反射率の違う物体、例えば白紙と黒紙
の受光量差により、特に特定領域Ｒのセンサ１１０より
遠い側において検知領域の差（白黒誤差）が生じ、検知
領域が異なってしまう。
したことを検知するセンサとして限定反射型光電センサ
が知られている。図８に従来の限定反射型光電センサの
一例とこのセンサの距離−受光量特性を示す。限定反射
型光電センサ１１０は、発光ダイオード（以下、ＬＥＤ
という）等の発光素子１０２と投光レンズ１０３とから
構成される投光部より光ビームを照射し、光ビームが伝
搬する特定領域Ｒからの光をフォトダイオード等の受光
素子１０４と受光レンズ１０５により構成される受光部
により受光し、この特定領域Ｒを検知領域として被検出
物体がこの領域を通過したときには、被検出物体からの
反射光を受光部により受光して被検出物体の通過を判別
するものである。このセンサ１１０は、受光素子１０４
の受光量がある一定のしきい値より大きくなると検知信
号を出力するが、反射率の違う物体、例えば白紙と黒紙
の受光量差により、特に特定領域Ｒのセンサ１１０より
遠い側において検知領域の差（白黒誤差）が生じ、検知
領域が異なってしまう。
【０００３】図９（ａ）は白黒誤差が大きく、特性の悪
い反射型光電センサの距離−受光量特性を示す図であ
り、同図（ｂ）は白黒誤差が小さく、特性の良い反射型
光電センサの距離−受光量特性を示す図である。この白
黒誤差を小さくするためには、同図（ｂ）に示すように
距離−受光量特性において、特定領域Ｒの端で受光量の
落ち込みを急激にすればよい。このためには、図１０に
示すように、投光ビームの強度分布をシャープにする、
または投光ビームを絞る、または投光レンズ１０３の光
軸と受光レンズ１０５の光軸間の距離（以下、基線長と
いう）を長くする方法がある。
い反射型光電センサの距離−受光量特性を示す図であ
り、同図（ｂ）は白黒誤差が小さく、特性の良い反射型
光電センサの距離−受光量特性を示す図である。この白
黒誤差を小さくするためには、同図（ｂ）に示すように
距離−受光量特性において、特定領域Ｒの端で受光量の
落ち込みを急激にすればよい。このためには、図１０に
示すように、投光ビームの強度分布をシャープにする、
または投光ビームを絞る、または投光レンズ１０３の光
軸と受光レンズ１０５の光軸間の距離（以下、基線長と
いう）を長くする方法がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図１０
に示すように、従来の限定反射型光電センサ１１０で
は、投光素子として一般のＬＥＤ等を用い、このＬＥＤ
１０２の中心軸と投光レンズ１０３の光軸とは一致して
いるため、それによる投光ビームの強度分布は、投光レ
ンズ１０３の光軸をピークとして、その周囲に向かって
緩慢に減少するものとなり、落ち込みが急激でない。ま
た、投光ビームを絞ることもできず、白黒誤差特性を向
上を図ることは困難である。また、基線長を長くしよう
とすれば、センサが大型化し、好ましくない。
に示すように、従来の限定反射型光電センサ１１０で
は、投光素子として一般のＬＥＤ等を用い、このＬＥＤ
１０２の中心軸と投光レンズ１０３の光軸とは一致して
いるため、それによる投光ビームの強度分布は、投光レ
ンズ１０３の光軸をピークとして、その周囲に向かって
緩慢に減少するものとなり、落ち込みが急激でない。ま
た、投光ビームを絞ることもできず、白黒誤差特性を向
上を図ることは困難である。また、基線長を長くしよう
とすれば、センサが大型化し、好ましくない。
【０００５】また、上記白黒誤差の問題を解決するため
に、例えば、特開平７−１４４７８号公報には、遮光板
を用いて光ビームの広がりを防ぎ、これにより白黒誤差
特性の向上を図った限定反射型光電センサが開示されて
いる。しかしながら、このように遮光板を用いても、発
光源が長方形であるときには広がりを防ぐ効果が十分に
得られない。また、遮光板により光束の広がりを防いで
いるため、発光パワーのロスが発生するので、検知範囲
の長距離化が困難となる。本発明は、上述した問題点を
解決するためになされたものであり、発光パワーのロス
を生じることなく、また、センサの形状を大きくするこ
となく、投光ビームの光強度分布がシャープになるよう
にしたことにより、白黒誤差を軽減することができる反
射型物体検出装置を提供することを目的とする。
に、例えば、特開平７−１４４７８号公報には、遮光板
を用いて光ビームの広がりを防ぎ、これにより白黒誤差
特性の向上を図った限定反射型光電センサが開示されて
いる。しかしながら、このように遮光板を用いても、発
光源が長方形であるときには広がりを防ぐ効果が十分に
得られない。また、遮光板により光束の広がりを防いで
いるため、発光パワーのロスが発生するので、検知範囲
の長距離化が困難となる。本発明は、上述した問題点を
解決するためになされたものであり、発光パワーのロス
を生じることなく、また、センサの形状を大きくするこ
となく、投光ビームの光強度分布がシャープになるよう
にしたことにより、白黒誤差を軽減することができる反
射型物体検出装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、発光素子と投光レンズとからなる投光手
段の投光ビームの光軸と受光素子と受光レンズとからな
る受光手段の受光ビームの光軸とを所定角度で交差さ
せ、この交差領域を検知領域として被検出物体がこの領
域を通過したときの、被検出物体からの反射光を受光手
段により受光し、その受光出力に基づいて被検出物体の
有無を判別する反射型物体検出装置において、投光レン
ズは、集光系のレンズであり、投光レンズの最も収差の
少ない集光点が、受光レンズより遠い側になるようにし
たものである。
に、本発明は、発光素子と投光レンズとからなる投光手
段の投光ビームの光軸と受光素子と受光レンズとからな
る受光手段の受光ビームの光軸とを所定角度で交差さ
せ、この交差領域を検知領域として被検出物体がこの領
域を通過したときの、被検出物体からの反射光を受光手
段により受光し、その受光出力に基づいて被検出物体の
有無を判別する反射型物体検出装置において、投光レン
ズは、集光系のレンズであり、投光レンズの最も収差の
少ない集光点が、受光レンズより遠い側になるようにし
たものである。
【０００７】この構成においては、投光ビームの強度分
布が受光部より遠い側において急峻に落ち込むことにな
るので、検出物体での距離が長くなるところで生じる白
黒誤差を軽減することができ、白紙や黒紙といった反射
率の大きく異なる物体についても正確な有無検出が可能
となる。また、上述した特開平７−１４４７８号公報の
限定反射型光電センサのように、遮光板等を用いたもの
ではないので、発光パワーのロスがなく、検知範囲の長
距離化を図ることができる。さらには、基線長を長くす
る必要がないので、センサの形状が大きくなることはな
い。
布が受光部より遠い側において急峻に落ち込むことにな
るので、検出物体での距離が長くなるところで生じる白
黒誤差を軽減することができ、白紙や黒紙といった反射
率の大きく異なる物体についても正確な有無検出が可能
となる。また、上述した特開平７−１４４７８号公報の
限定反射型光電センサのように、遮光板等を用いたもの
ではないので、発光パワーのロスがなく、検知範囲の長
距離化を図ることができる。さらには、基線長を長くす
る必要がないので、センサの形状が大きくなることはな
い。
【０００８】また、本発明は、発光素子と投光レンズと
からなる投光手段の投光ビームの光軸と受光素子と受光
レンズからなる受光手段の受光ビームの光軸とを所定角
度で交差させ、この交差領域を検知領域として被検出物
体が領域を通過したときの、被検出物体からの反射光を
受光手段により受光し、その受光出力に基づいて被検出
物体の有無を判別する反射型物体検出装置において、発
光素子を、投光レンズの光軸より受光レンズと遠い側に
配置したものである。
からなる投光手段の投光ビームの光軸と受光素子と受光
レンズからなる受光手段の受光ビームの光軸とを所定角
度で交差させ、この交差領域を検知領域として被検出物
体が領域を通過したときの、被検出物体からの反射光を
受光手段により受光し、その受光出力に基づいて被検出
物体の有無を判別する反射型物体検出装置において、発
光素子を、投光レンズの光軸より受光レンズと遠い側に
配置したものである。
【０００９】この構成においては、投光ビームの強度分
布が受光部より遠い側において急峻に落ち込むことにな
るので、上述と同様に白黒誤差を小さくすることがで
き、白紙や黒紙といった反射率の大きく異なる物体につ
いても正確な有無検出が可能となる。
布が受光部より遠い側において急峻に落ち込むことにな
るので、上述と同様に白黒誤差を小さくすることがで
き、白紙や黒紙といった反射率の大きく異なる物体につ
いても正確な有無検出が可能となる。
【００１０】また、本発明は、発光素子と投光レンズと
からなる投光手段の投光ビームの光軸と受光素子と受光
レンズからなる受光手段の受光ビームの光軸とを所定角
度で交差させ、この交差領域を検知領域として被検出物
体が領域を通過したときの、被検出物体からの反射光を
受光手段により受光し、その受光出力に基づいて被検出
物体の有無を判別する反射型物体検出装置において、発
光素子の発光面を、投光レンズの光軸を法線とする平面
に対して、受光手段の受光レンズ側を向く方向に傾けた
ものである。
からなる投光手段の投光ビームの光軸と受光素子と受光
レンズからなる受光手段の受光ビームの光軸とを所定角
度で交差させ、この交差領域を検知領域として被検出物
体が領域を通過したときの、被検出物体からの反射光を
受光手段により受光し、その受光出力に基づいて被検出
物体の有無を判別する反射型物体検出装置において、発
光素子の発光面を、投光レンズの光軸を法線とする平面
に対して、受光手段の受光レンズ側を向く方向に傾けた
ものである。
【００１１】この構成においては、小さな出射角で出射
された光ほど強い光パワーを持つような分布（ランバー
ト分布）で発光するようなＬＥＤ等を用いた場合、上述
した物体検出装置よりも効率良くセンサ前方の検知領域
に光を出射することができるので、より強い光を出射で
きる。これにより、白黒誤差をさらに低減することがで
きるので、より正確な物体の有無検出が可能となる。
された光ほど強い光パワーを持つような分布（ランバー
ト分布）で発光するようなＬＥＤ等を用いた場合、上述
した物体検出装置よりも効率良くセンサ前方の検知領域
に光を出射することができるので、より強い光を出射で
きる。これにより、白黒誤差をさらに低減することがで
きるので、より正確な物体の有無検出が可能となる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明を具体化した実施の
形態を図面を参照して説明する。 （第１の実施形態）図１は本実施形態による反射型物体
検出装置の投光部の構成を示す断面図である。投光部１
は、発光素子２と、集光系に設計された投光レンズ３と
からなるものであり、これらは半導体チップ２ａの発光
面の端面と、投光レンズ３の光軸Ｌとが一致するような
状態で配置されている。半導体チップ２ａは直方体状の
モールド樹脂２ｂにより発光素子２の中心に封入されて
おり、このチップ２ａの発光面の形状は、正方形、長方
形、または半月形のように直線形状の端面を一つ含むも
のであればよく、図２に示すように、その中心にワイヤ
ーボンディング遮光部２ｓを備えたものであっても構わ
ない。なお、２ｃは半導体チップ２ａを外部回路と電気
的に接続するためのリードフレームを示している。
形態を図面を参照して説明する。 （第１の実施形態）図１は本実施形態による反射型物体
検出装置の投光部の構成を示す断面図である。投光部１
は、発光素子２と、集光系に設計された投光レンズ３と
からなるものであり、これらは半導体チップ２ａの発光
面の端面と、投光レンズ３の光軸Ｌとが一致するような
状態で配置されている。半導体チップ２ａは直方体状の
モールド樹脂２ｂにより発光素子２の中心に封入されて
おり、このチップ２ａの発光面の形状は、正方形、長方
形、または半月形のように直線形状の端面を一つ含むも
のであればよく、図２に示すように、その中心にワイヤ
ーボンディング遮光部２ｓを備えたものであっても構わ
ない。なお、２ｃは半導体チップ２ａを外部回路と電気
的に接続するためのリードフレームを示している。
【００１３】図３はこの投光部１から出射された光の光
路図である。上述したような位置に発光素子２と投光レ
ンズ３を配置したので、発光素子２から発光する光線の
最も収差の少ない集光点Ｓ１は投光スポットの端に位置
することとなり、この集光点Ｓ１における強度分布は、
光軸Ｌに垂直な面Ｐのｙ座標が等しい位置近傍において
急峻に落ち込む。例えば、上述の図２に示したような形
状の半導体チップ２ａを用いたときの集光点Ｓ１におけ
る光強度分布は図４のようになる。また、半導体チップ
２ａの発光面において、投光レンズ３の光軸Ｌと一致し
ている側の発光強度を強くすれば、集光点Ｓ１における
光強度がより強くなり、光強度分布の落ち込みをより急
峻とすることができる。
路図である。上述したような位置に発光素子２と投光レ
ンズ３を配置したので、発光素子２から発光する光線の
最も収差の少ない集光点Ｓ１は投光スポットの端に位置
することとなり、この集光点Ｓ１における強度分布は、
光軸Ｌに垂直な面Ｐのｙ座標が等しい位置近傍において
急峻に落ち込む。例えば、上述の図２に示したような形
状の半導体チップ２ａを用いたときの集光点Ｓ１におけ
る光強度分布は図４のようになる。また、半導体チップ
２ａの発光面において、投光レンズ３の光軸Ｌと一致し
ている側の発光強度を強くすれば、集光点Ｓ１における
光強度がより強くなり、光強度分布の落ち込みをより急
峻とすることができる。
【００１４】なお、図３では半導体チップ２ａの発光面
の両端面から出射される光ビームの分布のみを示してい
るが、この間では光が連続して出射されていることは言
うまでもない。
の両端面から出射される光ビームの分布のみを示してい
るが、この間では光が連続して出射されていることは言
うまでもない。
【００１５】図５はこの投光部１を用いた反射型物体検
出装置の構成と、この投光部１より出射された光線の最
も収差の少ない集光点Ｓ１の位置する面Ｐにおける光の
強度分布を示すものである。この限定反射検出物体１０
は、投光部１より光ビームを照射し、光ビームが伝搬す
る特定領域Ｒからの光を受光素子４と受光レンズ５によ
り構成される受光部により受光し、この特定領域Ｒを検
知領域として、被検出物体がこの領域を通過したときに
は、被検出物体からの反射光を受光部により受光して被
検出物体の通過を判別するものである。
出装置の構成と、この投光部１より出射された光線の最
も収差の少ない集光点Ｓ１の位置する面Ｐにおける光の
強度分布を示すものである。この限定反射検出物体１０
は、投光部１より光ビームを照射し、光ビームが伝搬す
る特定領域Ｒからの光を受光素子４と受光レンズ５によ
り構成される受光部により受光し、この特定領域Ｒを検
知領域として、被検出物体がこの領域を通過したときに
は、被検出物体からの反射光を受光部により受光して被
検出物体の通過を判別するものである。
【００１６】この物体検出装置１０においては、投光レ
ンズ３を集光系のレンズに設計し、発光素子２から発光
する光線の最も収差の少ない集光点Ｓ１が投光スポット
の受光レンズ５の遠い側になるようにし、また、発光素
子２を投光レンズ３の光軸Ｌより受光レンズ５と遠い側
に配置したので、投光ビームの光強度分布が受光部より
遠い側において急峻に落ち込む。これにより、受光素子
４において、上述の図９（ｂ）に示したような距離−受
光量特性を得ることができるので、ＬＥＤ光源を使用し
ても光学系を大きくすることなく、白黒誤差を小さくす
ることができ、白紙や黒紙といった反射率の大きく異な
る物体についても正確な検出が可能となる。
ンズ３を集光系のレンズに設計し、発光素子２から発光
する光線の最も収差の少ない集光点Ｓ１が投光スポット
の受光レンズ５の遠い側になるようにし、また、発光素
子２を投光レンズ３の光軸Ｌより受光レンズ５と遠い側
に配置したので、投光ビームの光強度分布が受光部より
遠い側において急峻に落ち込む。これにより、受光素子
４において、上述の図９（ｂ）に示したような距離−受
光量特性を得ることができるので、ＬＥＤ光源を使用し
ても光学系を大きくすることなく、白黒誤差を小さくす
ることができ、白紙や黒紙といった反射率の大きく異な
る物体についても正確な検出が可能となる。
【００１７】また、図６はこの反射型物体検出装置１０
をさらに具体化した構成図と、この装置からの所定距離
における強度分布図である。上述したように、この物体
検出装置１０によれば基線長を長くすることなく白黒誤
差を小さくできるので、発光素子２、投光レンズ３、受
光素子４、及び受光レンズ５等を収めた筐体６のサイズ
を変えることなく、従来よりも白黒誤差の低減を図るこ
とができる。
をさらに具体化した構成図と、この装置からの所定距離
における強度分布図である。上述したように、この物体
検出装置１０によれば基線長を長くすることなく白黒誤
差を小さくできるので、発光素子２、投光レンズ３、受
光素子４、及び受光レンズ５等を収めた筐体６のサイズ
を変えることなく、従来よりも白黒誤差の低減を図るこ
とができる。
【００１８】（第２の実施形態）図７は本実施形態によ
る反射型物体検出装置の投光部の構成を示す断面図であ
る。この投光部１は、半導体チップ２ａの発光面を投光
レンズ３の光軸Ｌに垂直な面に対して傾けたものであ
る。なお、受光部は開示していないが、投光部と並んで
図の下方に配置されている。このような構成により、ラ
ンバート分布で発光するようなＬＥＤを光源として用い
た時にも、この光源からの光を効率良く出射することが
できるので、この投光部１を物体検出装置に用いれば、
より強い光を検知領域に出射することができ、装置の性
能向上を図ることができる。
る反射型物体検出装置の投光部の構成を示す断面図であ
る。この投光部１は、半導体チップ２ａの発光面を投光
レンズ３の光軸Ｌに垂直な面に対して傾けたものであ
る。なお、受光部は開示していないが、投光部と並んで
図の下方に配置されている。このような構成により、ラ
ンバート分布で発光するようなＬＥＤを光源として用い
た時にも、この光源からの光を効率良く出射することが
できるので、この投光部１を物体検出装置に用いれば、
より強い光を検知領域に出射することができ、装置の性
能向上を図ることができる。
【００１９】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、検知領域
内を被検出物体が通過したことを検知する限定反射型物
体検出装置において、投光レンズを集光系のレンズと
し、このレンズの最も収差の少ない集光点が受光レンズ
より遠い側になるようにすることにより、投光ビームの
強度分布が受光部より遠い側において急峻に落ち込むこ
とになるので、白黒誤差を小さくすることができ、反射
率の大きく異なる物体についても正確な有無検出が可能
となる。また、ＬＥＤ光源を使用しても光学系を大きく
することなく、被検出物体までの距離が長いところで生
じやすい白黒誤差を小さくすることができる。さらに、
遮光板を用いて光束の広がりを抑えるものではないの
で、発光パワーのロスが生じることがなく、検知範囲の
長距離化を図ることができる。
内を被検出物体が通過したことを検知する限定反射型物
体検出装置において、投光レンズを集光系のレンズと
し、このレンズの最も収差の少ない集光点が受光レンズ
より遠い側になるようにすることにより、投光ビームの
強度分布が受光部より遠い側において急峻に落ち込むこ
とになるので、白黒誤差を小さくすることができ、反射
率の大きく異なる物体についても正確な有無検出が可能
となる。また、ＬＥＤ光源を使用しても光学系を大きく
することなく、被検出物体までの距離が長いところで生
じやすい白黒誤差を小さくすることができる。さらに、
遮光板を用いて光束の広がりを抑えるものではないの
で、発光パワーのロスが生じることがなく、検知範囲の
長距離化を図ることができる。
【００２０】また、本発明によれば、発光素子を投光レ
ンズの光軸より受光レンズと遠い側に配置することによ
り、投光ビームの強度分布が受光部より遠い側において
急峻に落ち込むことになるので、白黒誤差を小さくする
ことができ、上述と同様の効果が得られる。
ンズの光軸より受光レンズと遠い側に配置することによ
り、投光ビームの強度分布が受光部より遠い側において
急峻に落ち込むことになるので、白黒誤差を小さくする
ことができ、上述と同様の効果が得られる。
【００２１】また、本発明によれば、発光素子の発光面
を投光レンズの光軸を法線とする平面に対して、受光レ
ンズ側に傾けることにより、効率の良い光の出射が可能
となり、より強い光を検知領域に出射することができる
ので、白黒誤差をさらに低減し、反射率の大きく異なる
物体についての有無検出がより正確となる。
を投光レンズの光軸を法線とする平面に対して、受光レ
ンズ側に傾けることにより、効率の良い光の出射が可能
となり、より強い光を検知領域に出射することができる
ので、白黒誤差をさらに低減し、反射率の大きく異なる
物体についての有無検出がより正確となる。
【図１】本発明の第１の実施形態による投光部の構成図
である。
である。
【図２】第１の実施形態による発光源の発光面の形状を
示す図である。
示す図である。
【図３】第１の実施形態による投光部より出射された光
の光路図である。
の光路図である。
【図４】第１の実施形態による集光点における光強度分
布を示す図である。
布を示す図である。
【図５】第１の実施形態による投光部を用いた反射型物
体検出装置の構成図である。
体検出装置の構成図である。
【図６】第１の実施形態による反射型物体検出装置をさ
らに具体化した構成図である。
らに具体化した構成図である。
【図７】第２の実施形態による投光部の構成図である。
【図８】従来の限定反射型光電センサの構成とこのセン
サの距離−受光量特性を示す図である。
サの距離−受光量特性を示す図である。
【図９】（ａ）は白黒誤差の大きな反射型光電センサの
距離−受光量特性を示す図、（ｂ）は白黒誤差の小さな
反射型光電センサの距離−受光量特性を示す図である。
距離−受光量特性を示す図、（ｂ）は白黒誤差の小さな
反射型光電センサの距離−受光量特性を示す図である。
【図１０】反射型光電センサにおいて白黒誤差を少なく
するための考案を説明するための図である。
するための考案を説明するための図である。
１ 投光部（投光手段） ２ 発光素子 ３ 投光レンズ ４ 受光素子 ５ 受光レンズ Ｌ 投光レンズの光軸 Ｓ１ 集光点 Ｒ 特定領域（検知領域）
Claims (3)
- 【請求項１】 発光素子と投光レンズとからなる投光手
段の投光ビームの光軸と受光素子と受光レンズからなる
受光手段の受光ビームの光軸とを所定角度で交差させ、
この交差領域を検知領域として被検出物体が該領域を通
過したときの、該被検出物体からの反射光を前記受光手
段により受光し、その受光出力に基づいて該被検出物体
の有無を判別する反射型物体検出装置において、 前記投光レンズは、集光系のレンズであり、 前記投光レンズの最も収差の少ない集光点が、前記受光
レンズより遠い側になるようにしたことを特徴とする反
射型物体検出装置。 - 【請求項２】 発光素子と投光レンズとからなる投光手
段の投光ビームの光軸と受光素子と受光レンズからなる
受光手段の受光ビームの光軸とを所定角度で交差させ、
この交差領域を検知領域として被検出物体が該領域を通
過したときの、該被検出物体からの反射光を前記受光手
段により受光し、その受光出力に基づいて該被検出物体
の有無を判別する反射型物体検出装置において、 前記発光素子を、前記投光レンズの光軸より前記受光レ
ンズと遠い側に配置したことを特徴とする反射型物体検
出装置。 - 【請求項３】 発光素子と投光レンズとからなる投光手
段の投光ビームの光軸と受光素子と受光レンズからなる
受光手段の受光ビームの光軸とを所定角度で交差させ、
この交差領域を検知領域として被検出物体が該領域を通
過したときの、該被検出物体からの反射光を前記受光手
段により受光し、その受光出力に基づいて該被検出物体
の有無を判別する反射型物体検出装置において、 前記発光素子の発光面を、前記投光レンズの光軸を法線
とする平面に対して、前記受光手段の受光レンズ側を向
く方向に傾けたことを特徴とする反射型物体検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8181414A JPH109950A (ja) | 1996-06-21 | 1996-06-21 | 反射型物体検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8181414A JPH109950A (ja) | 1996-06-21 | 1996-06-21 | 反射型物体検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH109950A true JPH109950A (ja) | 1998-01-16 |
Family
ID=16100355
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8181414A Pending JPH109950A (ja) | 1996-06-21 | 1996-06-21 | 反射型物体検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH109950A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002098586A (ja) * | 2000-09-27 | 2002-04-05 | Sunx Ltd | 反射型センサ |
| JP2010156492A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-15 | Panasonic Corp | 空気調和機 |
-
1996
- 1996-06-21 JP JP8181414A patent/JPH109950A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002098586A (ja) * | 2000-09-27 | 2002-04-05 | Sunx Ltd | 反射型センサ |
| JP2010156492A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-15 | Panasonic Corp | 空気調和機 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030325 |