JPH1082963A

JPH1082963A - 光走査装置

Info

Publication number: JPH1082963A
Application number: JP8237577A
Authority: JP
Inventors: Shinichi Inamori; 信一稲森
Original assignee: NIPPON DENKI OFFICE SYST; NEC Office Systems Ltd
Current assignee: NIPPON DENKI OFFICE SYST; NEC Office Systems Ltd
Priority date: 1996-09-09
Filing date: 1996-09-09
Publication date: 1998-03-31

Abstract

(57)【要約】【課題】ｆ−θレンズや回転多面鏡は高価であり、ま
たそれらの個体差によって画像品位にバラツキを生じ
る。【解決手段】ｆ−θレンズ５の歪面収差を補正するた
めの位相制御情報を格納する記憶部１と、記憶部１の位
相制御情報に基づいて画像信号の位相を制御する位相制
御部２とを備える。また、回転多面鏡４の反射面間の要
素変動を補正するための各反射面ごとの位相制御情報を
格納する記憶部１０１と、回転多面鏡４の現在反射して
いる反射面を検知する面検知部３５と、検知された反射
面ごとに記憶部１０１の対応する位相制御情報に基づい
て画像信号の位相を制御する位相制御部１０２とを備え
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、レーザビームプリ
ンタ（ＬＢＰ）等に光書き込み手段として用いられる光
走査装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】一般に、光走査装置は、電子写真方式や
銀塩写真方式の画像形成装置とＬＢＰやイメージセッタ
ーに内蔵され、像記録体としての感光ドラムや感材に対
する光書き込み手段として広く用いられている。図１１
は従来の光走査装置の概略構成を示した図である。図１
１において、まず、光源３から発した光束は等角速度で
回転する回転多面鏡４により走査光とされ、ｆ−θレン
ズ５により結像面７に結像される。この場合、回転多面
鏡４は光源３から発せられた光束を等角速度で走査する
が、そのままでは結像面７は平面または直円筒面で走査
線は直線となるため、中心部と両端部では走査速度に差
が生じ等密度な画像とならない。そこで、ｆ−θレンズ
５によって光学的にこのような走査速度差を補正してい
る。しかしながら、ｆ−θレンズ５は高価であることか
ら、より簡単な光学系の研究が行われている。

【０００３】その代表的な例として、特開昭５５−１１
８０１２号公報にｆ−θレンズを用いないレーザビーム
走査方式が提案されている。図１２に同公報のレーザビ
ーム走査方式を示している。図１２において、５０はレ
ーザビームを発生するレーザビーム発生装置、５１はレ
ーザビームを変調するための変調装置、５３はレーザビ
ームを偏向させ、感光ドラム５２上に照射するための回
転ミラー、５４は正弦波形の信号を発生するための正弦
波形発生回路、５５は正弦波形の電圧に応じてクロック
信号を発生する電圧制御型発振回路、５６はクロック信
号に従った点列信号を変調装置５１に供給する論理制御
部である。変調装置５１は変調器５７、変調器５７を駆
動する変調駆動回路５８、点列信号に従って変調駆動回
路５８を作動させるスイッチ回路５９からなっている。
論理制御部５６は、記録すべきデータを後述するクロッ
ク信号と同期をとり、点列信号として変調装置５１に供
給し、電圧制御型発振回路５５は入力電圧に比例した周
波数の発振が可能な発振器で、入出力関係に次のような
特性を持っている。

【０００４】ｆｏ＝ｋ１・Ｖ１但し、ｆｏは出力周波数、ｋ１は定数、Ｖ１は入力電圧
である。ここで、入力電圧を正弦波に比例させると、ｆｏ＝ｋ２・ｓｉｎωｔとなり、電圧制御型発振回路５５は正弦波状に周波数変
調されたクロック信号を発生する。但し、ｋ２は定数、
ωは角速度である。よって、ｆ−θレンズ２７を用いな
い場合、感光ドラム５２上のレーザ走査光の速度はｓｅ
ｃ２ωｔに比例するので、電圧制御型発振回路５５から
のｓｉｎωｔ（＝１／ｓｅｃ２ωｔ）に比例した周波数
のクロック信号により、変調装置５１を動作させれば感
光ドラム５２上に書き込まれる点列を等間隔にすること
ができる。

【０００５】また、図１３に特開昭５８−８７９６５号
公報に開示された光走査装置を示している。これもｆ−
θレンズを用いない例である。同公報においては、連続
的にクロック信号に周波数変調を加えた先の特開昭５５
−１１８０１２号公報の不安定さを改良すべく、４種類
の周波数のクロック信号を結像面の中心部から両端部に
至る領域に応じて選択使用するように構成したものであ
る。図１４に特開昭５８−８７９６５号公報のタイミン
グチャートを示している。図１４においては、各領域を
示すゲート１信号〜ゲート４信号に応じて４種の周波数
ｆ１、ｆ２、ｆ３、ｆ４のクロック信号が選択使用され
る様子を示している。この図１３、図１４の光走査装置
では、ｆ−θレンズを用いない代わりにクロック信号に
変調を加えることで走査速度差（歪曲収差）を補正する
ことが可能である。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかし、このような光
走査装置では、ｆ−θレンズの他の目的である主・副走
査方向のピント（像面湾曲）の補正はできないため、現
実にｆ−θレンズあるいは他の光学的補正手段を用いな
い光走査装置を実現することは困難であり、必ずしも装
置の低価格化を実現できるとは限らなかった。また、ｆ
−θレンズを用いた場合、像面湾曲の補正機能（ピント
合わせ）に加えて歪曲収差（走査速度差）の補正機能を
ｆ−θレンズに負わせようとすると、ｆ−θレンズは設
計が複雑で加工上の精度の向上も困難であるため、やは
りｆ−θレンズが高価になることは解決できなかった。

【０００７】また、回転多面鏡４を光束を直線状に走査
するための手段として用いる場合、回転多面鏡４の各反
射面は回転中心から等角・等方かつ等距離でないと、各
反射面に対応する点列は走査線ごとにずれを生じるた
め、良好な画像とならない。そのため、良好な画像を得
るには回転多面鏡の精度を上げる必要がある。しかし、
加工上の精度を向上するには、加工に時間がかかり、歩
留りも低下するので、やはり回転多面鏡は高価になると
いう問題があった。更に、従来においては、走査速度差
（歪曲収差）を補正したり、回転多面鏡の精度に改良を
加えたとしても、ｆ−θレンズや回転多面鏡の仕上り精
度に個体差があるため、一律な補正方法ではこれらの要
素変動を吸収することはできず、完全に画像劣化を防止
することは困難であった。

【０００８】そこで、本発明は、かかる従来の問題点に
鑑みなされたもので、安価で、しかも画像品位の劣化も
防止することが可能な光走査装置を提供することを目的
としたものである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明の光走査装置は、
光束を発生する光源と、前記光源からの光束を直線状に
走査する偏向器と、走査された光束を等線速度に変換す
る光学系レンズとを備え、前記光源の光束を画像信号に
応じて変調し、変調された光束を像記録体上に走査する
ことによって光書き込みを行う光走査装置において、前
記光学系レンズの歪曲収差を補正するための位相制御情
報を格納する記憶手段と、前記記憶手段の位相制御情報
に基づいて前記画像信号の位相を制御する位相制御手段
とを備えたことを特徴としている。

【００１０】また、本発明の光走査装置は、光束を発生
する光源と、複数の反射面を有し前記光源からの光束を
直線状に走査する回転多面鏡と、走査された光束を等線
速度に変換する光学系レンズとを備え、前記光源の光束
を画像信号に応じて変調し、変調された光束を像記録体
上に走査することによって光書き込みを行う光走査装置
において、前記回転多面鏡の反射面間の要素変動を補正
するための各反射面ごとの位相制御情報を格納する記憶
手段と、前記回転多面鏡の現在反射している反射面を検
知する面検知手段と、検知された反射面ごとに前記記憶
手段の対応する位相制御情報に基づいて前記画像信号の
位相を制御する位相制御手段とを備えたことを特徴とし
ている。

【００１１】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。図１は本発明による第１の
実施の形態の光走査装置の構成を示したブロック図であ
る。図１において、まず３は画像信号に応じて変調され
た光束を発生する光源、４は光源からの光束を直線状に
走査する偏向器としての回転多面鏡、５は走査された光
束を等線速度に変換するための光学系レンズとしてのｆ
−θレンズである。これらは図１１のものと同じであ
る。但し、ｆ−θレンズ５としては、詳しく後述するよ
うに精度の低いものを用いることが可能である。

【００１２】また、１は光学系レンズの光学特性から成
る位相制御情報、即ちｆ−θレンズ５の歪曲収差を補正
するための位相制御情報を格納する記憶部、２は記憶部
からの位相制御情報に基づいて画像信号の位相を変調制
御する位相制御部である。更に、６は直線状に走査され
た光束を走査線端部にて受光し、水平同期信号１０を生
成するための受光素子、７は走査光束が焦点を結ぶ感光
体の結像面である。また、９は外部装置から入力される
光源の明滅を制御するための画像信号、１０は前述のよ
うに受光素子６から出力される画像信号の主走査方向の
開始タイミングの基準となる水平同期信号、１１は記憶
部１に格納されたｆ−θレンズ５の収差特性から得られ
る位相制御情報、３３は位相制御部２から出力される画
像信号の位相を変調制御した後の変調化画像信号を示し
ている。

【００１３】位相制御部２には外部装置（図示せず）か
ら画像信号９が入力されると共に、記憶部１からは前述
のような位相制御情報１１が入力される。また、光源３
には位相制御部２から変調化画像信号３３が入力され、
光源３の光束は変調化画像信号３３に応じて変調され
る。変調された光束は回転多面鏡４に入射し、回転多面
鏡４によって直線状の走査に変換される。そして、この
走査された光束はｆ−θレンズ５を透過後、結像面７上
に結像し、その一部は受光素子６に入射する。また、受
光素子６からは位相制御部２へ水平同期信号１０が入力
される。

【００１４】ここで、記憶部１には予めｆ−θレンズ５
の歪曲収差による結像面上での収差特性から得られる位
相制御情報１１が格納されており、位相制御部２に逐一
ロードできる機能を有している。位相制御部２は位相制
御情報１１と受光素子６からの水平同期信号１０に基づ
いて外部装置から受信した画像信号９のスイッチングタ
イミングに変更を与えることで画像信号９を変調し、変
調化画像信号３３を生成する。また、光源３、回転多面
鏡４、受光素子６は従来と同様であるが、ｆ−θレンズ
５は、従来の光走査装置の場合、複雑な設計と精密な加
工による歪曲収差補正（走査速度差補正）、主走査像面
湾曲補正（主走査ピント合わせ）、副走査像面湾曲補正
（副走査ピント合わせ）の３機能が必要であったが、本
実施形態では歪曲収差の補正機能のためのレンズパワー
が与えられていないものでも、仕上がり精度上かなり難
のあるものでも用いることが可能である。

【００１５】次に、記憶部１及び位相制御部２の具体的
な構成について説明する。図２に記憶部１と位相制御部
２の構成例を示している。図２において、ＯＳＣ１５は
クロック信号２２、クロック×８信号２１の２系統のク
ロック信号を生成する発振回路である。クロック信号２
２はクロック×８信号２１を８分周したもので、画像信
号９の転送レートと同周波数となるよう設定され、アド
レス発生回路１３、ＲＯＭ１２、シフトレジスタ１４に
入力される。クロック×８信号２１はマスク回路１６、
シフトレジスタ１４に入力される。アドレス発生回路１
３はＲＯＭ１２の読み出しアドレスを生成する回路であ
り、ＲＯＭ１２とはＲＯＭアドレス信号１８で接続され
ている。マスク回路１６は水平同期信号１０とクロック
×８信号から像記録体に光書き込みを行うべき期間のみ
マスク信号１６を有効にする機能を有しており、このマ
スク信号２０はアドレス発生回路１３、ＲＯＭ１２、シ
フトレジスタ１４に入力される。

【００１６】ＲＯＭ１２はｆ−θレンズ５の歪曲収差の
補正データが書き込まれた読み出し専用メモリであっ
て、１走査線を構成する全画素分の位相制御情報が１画
素あたり８ビットのデータとして格納されている。シフ
トレジスタ１４はＲＯＭ１２から読み出されたＲＯＭデ
ータ１９をシリアル変換し、変調クロック信号２３とし
て出力する回路で、ＲＯＭ１２とはＲＯＭデータ信号１
９で接続されている。また、シフトレジスタ１４は変調
クロック信号により１ラインＦＩＦＯ（First InFirst
Out）メモリ１７と接続されている。１ラインＦＩＦＯ
メモリ１７は、１走査線分の画像信号９を記憶すると、
変調クロック信号２３に同期して排出する先入れ先出し
メモリとして機能する。ここで、ＲＯＭ１２は記憶部１
を構成し、アドレス発生回路１３、マスク回路１６、Ｏ
ＳＣ１５、シフトレジスタ１４及び１ラインＦＩＦＯメ
モリ１７は位相制御部２を構成している。

【００１７】次に、本実施形態の光走査装置の動作を図
３を参照して説明する。まず、受光素子６は＜回転多面
鏡４による光束走査線の起点部に設けられ、走査光束が
この受光素子６に入射すると、走査開始のタイミングを
示す水平同期信号１０を発生し、位相制御部２に出力す
る。位相制御部２では外部装置に水平同期信号１０を返
し、外部装置ではこれに同期して画像信号９の送信を開
始する。ここで、図３（ａ）に示すように水平同期信号
を発生すると、図３（ｂ）のように一定時間経過後画像
信号が入力される。従来の光走査装置の場合はこの画像
信号がそのまま光源３に入力され、光源３の明滅に変換
される。図３（ｃ）にこの従来の場合の変調化しない画
像信号による結像面上の点列の様子を示している。図３
（ｃ）から明らかなように結像面上の点列は、ｆ−θレ
ンズ５の歪曲収差の影響で点列が等間隔になっていない
ことがわかる。

【００１８】本実施形態においては、位相制御部２でか
かる収差特性をもとに計算された位相制御情報に基づい
て画像信号の位相を変調制御し、図３（ｄ）のように変
調化画像信号として出力している。変調化画像信号は、
位相、波長、デューテイに補正が加えられているため、
図３（ｅ）に示すように変調化画像信号による結像面上
での点列はｆ−θレンズ５の歪曲収差が補償され、等間
隔な点列とすることができる。

【００１９】次に、図２の記憶部１と位相制御部２によ
る画像信号の変調化動作を図４に基づいて説明する。ま
ず、図４（ｆ）はＯＣＳ１５のクロック×８信号、図４
（ｇ）もＯＣＳ１５のクロック信号であり、その周期の
比は１：８になっている。ここで、前述のように水平同
期信号を（図示せず）発生すると、図４（ｈ）のように
その一定時間経過後にマスク信号が有効になり、マスク
信号はアドレス発生回路１３、ＲＯＭ１２、シフトレジ
スタ１４をイネーブルにし、各々の回路はクロック×８
信号、クロック信号に同期して動作を開始する。具体的
には、まず、アドレス発生回路１３は初期値００００Ｈ
からクロック信号の立ち上がりエッジで１Ｈづつインク
リメントされ、ＲＯＭ１２は図４（ｊ）のようにクロッ
ク信号の立ち下がりエッジでＲＯＭデータを確定させ
る。

【００２０】ＲＯＭアドレス００００Ｈ番地のデータは
７１Ｈで、そのままシフトレジスタ１４にクロック信号
の立ち上がりエッジでロードされるや、クロック×８信
号の立ち上がりエッジで順次シリアル変換される。図４
（ｋ）にこのシリアル変換された変調クロック信号を示
しており、ＲＯＭ１２内のデータ次第で図４（ｇ）のク
ロック信号の周期、位相、デューテイを変更できること
がわかる。図４（ｌ）は外部装置から入力された画像信
号であり、１、０、１の値となっている。画像信号は、
変調クロック信号の立ち上がりエッジでサンプリングさ
れ、図４（ｍ）のように変調化画像信号が生成される。
このようにして画像信号の位相を変調制御し、画像信号
の１、０、１の信号に対して位相調整を行う。ここで、
１ラインＦＩＦＯメモリ１７は画像信号を１走査分記憶
し、先頭データから変調クロック信号に同期して排出す
るためのバッファであり、画像信号の受信から変調化画
像信号の生成までには水平同期信号１周期の遅延時間が
与えられている。

【００２１】図５は本実施形態の光走査装置の配置構成
を示した平面図である。本実施形態では、回転多面鏡４
による走査角２９は±３０度、解像度は２４０ｄｐｉ、
偏向点２６からｆ−θレンズ５までの距離は３８０ｍ
ｍ、ｆ−θレンズ５から結像面７までの距離は１６４ｍ
ｍ、走査線長は３０５ｍｍとしている。図６はｆ−θレ
ンズ５の歪曲収差図である。ｆ−θレンズ５は走査角＋
３０度及び−３０度近辺において３１で示すように−
０．５％の変位（実線）を持っている。

【００２２】図７は図２のＲＯＭ１２のダンプリストで
ある。図７においては、先頭番地から６０バイトアドレ
ス分を転記し、１バイト（８ビット）のデータが１画素
に相当している。これらのデータは図６に示した歪曲収
差図の変位を極力ゼロにするべく、実験によって得られ
た値である。本願発明者の実験によれば、図７のデータ
を用いて前述のような画像信号の位相制御を行った結
果、ｆ−θレンズ５の見かけ上の歪曲収差を図６に破線
３２で示すような程度にまで改善できることを確認でき
た。

【００２３】なお、以上の実施形態では、ＲＯＭ１２と
して８ビット×１、０２４ＫワードのＥＥＰＲＯＭ（El
ectric Erasable Programable ＲＯＭ）を用いたが、実
際に位相制御情報を格納するために必要な容量は約３Ｋ
ワード（２４Ｋビット）に過ぎない。位相制御情報を格
納するために必要な容量は次式により得られる。（容量）ビット＝（走査線長）ｍｍ×（解像度）／２
５．４ｍｍ×（クロック数／画素）このように本実施形態では、記憶部１内に予めプログラ
ムされた位相制御情報１１により画像信号９の位相制御
を行うため、ｆ−θレンズ５には像面湾曲補正（ピント
合わせ）の機能を持たせるだけでよく、歪曲収差補正
（走査速度差補正）の機能のためのレンズパワーを持た
せる必要がない。また、仮に歪曲収差補正のためのレン
ズパワーを持たせた場合でも、そのレンズの仕上がり精
度に難があったとしても使用可能となり、ｆ−θレンズ
の歩留まりの向上に寄与することができる。更に、製造
上のバラツキによりｆ−θレンズの特性に個体差がある
場合でも、装置毎に位相制御情報をプログラムすること
により、更に歩留まりの向上を期待でき、またｆ−θレ
ンズの精度差による画像品位の劣化も防止することがで
きる。

【００２４】次に、本発明の第２の実施形態について説
明する。図８は本実施形態の構成を示したブロック図で
ある。なお、図８においては図１の第１の実施形態とほ
ぼ同一の構成を有しているが、面検知手段としての面検
知部３５とモータ３４を備えた点が異なっている。図１
と同一部分は同一符号を付している。図８において、３
５は回転多面鏡４の現在反射している面を検知する面検
知部である。面検知部３５は回転多面鏡４を駆動するモ
ータ３４から１回転に１回発生するインデックスパルス
３６、回転角度の変化に応じてオン、オフを繰り返すタ
コパルス３７を受信し、それに基づいて回転多面鏡４
（本実施形態では８面）の現在反射している反射面を示
す面検知信号３８を出力する。記憶部１０１は回転多面
鏡４の各面毎の歪み、回転中心との等角精度、等距離精
度等を補正するデータを８走査線分格納する機能を有し
ている。位相制御部１０２は面検知部３５からの面検知
信号３８で指定された反射面に相当する位相制御情報１
１１を記憶部１０１からロードし、８本の走査線毎に画
像信号９に変調を与える機能を有している。

【００２５】図９は図８の記憶部１０１及び位相制御部
１０２の詳細な構成を示した回路図てある。なお、図９
ではアドレス発生器１１３（図２のアドレス発生回路１
３に対応）、ＲＯＭ１１２（図２のＲＯＭ１２に対応）
のみを示しているが、その他の構成は図２と同じであ
る。図９において、１１３はアドレス発生回路である。
アドレス発生回路１１３は第１の実施形態の場合と同一
のクロック信号２２、マスク信号２０の他に面検知部３
５からの面検知Φ１：Φ８信号３８を受信し、これをア
ドレス発生条件に加えてＲＯＭアドレス１１８を生成す
る機能を有している。ＲＯＭ１１２には回転多面鏡４の
各反射面に対応する８本の走査線分の位相制御情報が格
納されており、アドレス発生回路１１３から指定された
ＲＯＭアドレス１１８の位置のデータを出力する。

【００２６】次に、本実施形態の動作を図１０に基づい
て説明する。まず、図１０（ａ）は水平同期信号であ
り、第１の実施形態と同じタイミングで受光素子６から
位相制御部１０２に出力される。図１０（ｂ）はマスク
回路１６から出力されるマスク信号であり、これも第１
の実施形態と同じタイミングで有効となる。図１０
（ｅ）〜（ｈ）は面検知部３５から位相制御部１０２の
アドレス発生回路１１３に出力される面検知信号を示し
ている。面検知信号は水平同期信号に同期して８本の信
号φ１〜φ８が順次有効となる。ここで、図１０（ｂ）
のようにマスク信号が有効になると、図１０（ｅ）のよ
うにそれに先立って面検知信号φ１が有効となり、アド
レス発生回路１１３ではこれをアドレス発生条件に加え
て図１０（ｃ）のようにＲＯＭアドレスの先頭を０００
Ｈから０００１Ｈを切り換える。以降、ＲＯＭアドレス
は図１０（ｃ）を拡大して示すように第１の実施形態と
同様に１づつインクリメントされる。

【００２７】次いで、図１０（ａ）のように次の水平同
期信号が有効になると、図１０（ｆ）のように面検知信
号φ２が有効となり、アドレス発生回路１１３ではこれ
をアドレス発生条件に加えてＲＯＭアドレスを出力す
る。即ち、図１０（ｃ）のようにアドレス発生回路１１
３の先頭のＲＯＭアドレスが１０００Ｈから１００１Ｈ
へと変化し、以後ＲＯＭデータは１づつインクリメント
される。また、図１０（ｇ）のように面検知信号φ３が
出力されると、アドレス発生回路１１３ではそれに応じ
てＲＯＭデータを出力し、以下面検知信号に応じてＲＯ
Ｍデータを出力する。

【００２８】このようにしてアドレス発生回路１１３で
は、回転多面鏡４の反射面ごとにそれに対応したＲＯＭ
アドレスを発生し、ＲＯＭ１１２から図１０（ｄ）のよ
うにＲＯＭアドレスに対応したＲＯＭデータが出力され
る。後の動作は第１の実施形態と全く同じであり、ＲＯ
Ｍデータはシフトレジスタ１４に出力され、シフトレジ
スタ１４から変調クロックが出力される。そして、画像
信号を変調クロックの立ち上がりエッジでサンプリング
することによって変調化画像信号が作成され、光源３の
光束を変調化画像信号に応じて変調することで感光体上
に光書き込みを行う。

【００２９】このように本実施形態では、記憶部１０１
に回転多面鏡の反射面ごとに反射面間の要素変動を補正
するための位相制御情報を格納し、回転多面鏡の反射面
ごとに対応する位相制御情報に基づいて画像信号の位相
を制御しているので、精度の低い回転多面鏡を用いた場
合であっても反射面間の要素変動による画像の劣化がな
く、安価な回転多面鏡であっても用いることができる。
また、装置ごとに回転多面鏡の精度に応じて位相制御情
報をプログラムすることにより、回転多面鏡の精度差に
よる画像品位の劣化を防止することができる。

【００３０】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、次の効果
がある。（１）光学系レンズの歪曲収差を補正すための位相制御
情報に基づいて画像信号に変調を加えることにより、歪
曲収差の補正のためのレンズパワーのないレンズや精度
上難のあるレンズであっても用いることができる。従っ
て、光学系レンズの歩留りが向上し、光学系レンズを安
価に作製できるので、その分装置のコストを低減するこ
とができる。（２）各々の装置ごとに光学系レンズの特性に応じて位
相制御情報をプログラムできるので、光学系レンズの特
性差による画像品位のバラツキを防止することができ
る。（３）回転多面鏡の反射面間の要素変動を補正するため
の位相制御情報に基づいて画像信号に変調を加えること
により、精度の低い回転多面鏡であっても用いることが
可能となり、回転多面鏡を安価に作製することができ
る。従って、回転多面鏡が安価になるので、その分装置
コストを低減することができる。（４）装置ごとに回転多面鏡の精度に応じて位相制御情
報をプログラムできるので、回転多面鏡の精度差による
画像品位のバラツキを防止することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光走査装置の第１の実施形態を示した
ブロック図である。

【図２】図１の実施形態の記憶部１及び位相制御部２の
構成を詳細に示したブロック図である。

【図３】図１の実施形態と従来装置とで画像信号による
像記録面上の点列を比較して示した図である。

【図４】図２の位相制御部による画像信号の変調化動作
を説明するためのタイムチャートである。

【図５】図１の実施形態の各部の配置構成を示した平面
図である。

【図６】図１の実施形態に用いられるｆ−θレンズの収
差図である。

【図７】図１の実施形態に用いられるＲＯＭ１２内のＲ
ＯＭデータを示した図である。

【図８】本発明の第２の実施形態を示したブロック図で
ある。

【図９】図８の実施形態の記憶部１０１と位相制御部１
０２を詳細に示したブロック図である。

【図１０】図８の実施形態の動作を説明するためのタイ
ムチャートである。

【図１１】従来例の光走査装置の概略構成を示した平面
図である。

【図１２】従来のｆ−θレンズを用いない光走査装置の
例を示した図である。

【図１３】ｆ−θレンズを用いない他の例を示した図で
ある。

【図１４】図１２の装置の動作を示したタイミングチャ
ートである。

【符号の説明】

１，１０１記憶部２，１０２位相制御部３光源４回転多面鏡５ｆ−θレンズ６受光素子７結像面１２ＲＯＭ１３アドレス発生回路１４シフトレジスタ１５ＯＳＣ１６マスク回路１７１ラインＦＩＦＯメモリ３４モータ３５面検知部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号庁内整理番号ＦＩ技術表示箇所Ｈ０４Ｎ 1/113 Ｈ０４Ｎ 1/04 １０４Ａ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光束を発生する光源と、前記光源からの
光束を直線状に走査する偏向器と、走査された光束を等
線速度に変換する光学系レンズとを備え、前記光源の光
束を画像信号に応じて変調し、変調された光束を像記録
体上に走査することによって光書き込みを行う光走査装
置において、前記光学系レンズの歪曲収差を補正するた
めの位相制御情報を格納する記憶手段と、前記記憶手段
の位相制御情報に基づいて前記画像信号の位相を制御す
る位相制御手段とを備えたことを特徴とする光走査装
置。
【請求項２】請求項１に記載の光走査装置において、
前記光学系レンズはｆ−θレンズであることを特徴とす
る光走査装置。
【請求項３】光束を発生する光源と、複数の反射面を
有し前記光源からの光束を直線状に走査する回転多面鏡
と、走査された光束を等線速度に変換する光学系レンズ
とを備え、前記光源の光束を画像信号に応じて変調し、
変調された光束を像記録体上に走査することによって光
書き込みを行う光走査装置において、前記回転多面鏡の
反射面間の要素変動を補正するための各反射面ごとの位
相制御情報を格納する記憶手段と、前記回転多面鏡の現
在反射している反射面を検知する面検知手段と、検知さ
れた反射面ごとに前記記憶手段の対応する位相制御情報
に基づいて前記画像信号の位相を制御する位相制御手段
とを備えたことを特徴とする光走査装置。
【請求項４】請求項３に記載の光走査装置において、
前記光学系レンズはｆ−θレンズであることを特徴とす
る光走査装置。