JPH1075944A - 高速x線ctスキャナ装置 - Google Patents
高速x線ctスキャナ装置Info
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- JPH1075944A JPH1075944A JP8231958A JP23195896A JPH1075944A JP H1075944 A JPH1075944 A JP H1075944A JP 8231958 A JP8231958 A JP 8231958A JP 23195896 A JP23195896 A JP 23195896A JP H1075944 A JPH1075944 A JP H1075944A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000004904 shortening Methods 0.000 abstract description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【課題】検出器の応答時間を早くすることなく、かつ解
像度を低下させずに走査の高速化を実現し得る。 【解決手段】測定対象物6を囲む円周上に検出器2を設
置し、さらに異径同心円周上に16個のX線管球21〜
36を設置する。X線管球21の照射する扇状X線を示
したのが4aであり、この扇状X線4aは、測定対象物
6を透過してX線管球21と測定対象物6を挟んで反対
側の検出器2で検出される。それぞれのX線管球21〜
36は、円周上の対向する二つのX線管球が同時に発光
するようになっており、発光するX線の入射領域が重な
らないように設定されている。二つの対向するX線管球
21,29が発光し、そのX線の照射が終了すると、異
なる円周上の対向する二つのX線管球22及び30によ
る照射が行われ、このようにして全てのX線管球による
走査が行われる。
像度を低下させずに走査の高速化を実現し得る。 【解決手段】測定対象物6を囲む円周上に検出器2を設
置し、さらに異径同心円周上に16個のX線管球21〜
36を設置する。X線管球21の照射する扇状X線を示
したのが4aであり、この扇状X線4aは、測定対象物
6を透過してX線管球21と測定対象物6を挟んで反対
側の検出器2で検出される。それぞれのX線管球21〜
36は、円周上の対向する二つのX線管球が同時に発光
するようになっており、発光するX線の入射領域が重な
らないように設定されている。二つの対向するX線管球
21,29が発光し、そのX線の照射が終了すると、異
なる円周上の対向する二つのX線管球22及び30によ
る照射が行われ、このようにして全てのX線管球による
走査が行われる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、測定対象物にX線
を照射してその断面画像情報を得る高速X線CTスキャ
ナ装置に関する。
を照射してその断面画像情報を得る高速X線CTスキャ
ナ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】高速X線CTスキャナ装置は、X線発生
を電気的にON/OFFさせる電子ビーム制御方式の採
用により、従来からあるX線CTスキャナのスキャン時
間を大幅に高速化(1/60〜1/2000秒)させ、
測定対象物の断層撮影を行うものである。
を電気的にON/OFFさせる電子ビーム制御方式の採
用により、従来からあるX線CTスキャナのスキャン時
間を大幅に高速化(1/60〜1/2000秒)させ、
測定対象物の断層撮影を行うものである。
【0003】図3は本発明の対象とする高速X線CTス
キャナ装置の構成図、図4は同装置の検出部を示す平面
断面図である。図3及び図4に示すように、X線発生部
容器1内に複数個例えば16個のX線管球21〜36が
配置されている。すなわち、測定対象物6を中心とし
て、その測定対象物6を囲む円周上に16個のX線管球
21〜36が配置され、またX線管球21〜36と異径
同心円周上でその内周に検出器2が配置されており、X
線管球21〜36から照射されるX線が照射窓5より測
定対象物6に向けて照射されるようになっている。
キャナ装置の構成図、図4は同装置の検出部を示す平面
断面図である。図3及び図4に示すように、X線発生部
容器1内に複数個例えば16個のX線管球21〜36が
配置されている。すなわち、測定対象物6を中心とし
て、その測定対象物6を囲む円周上に16個のX線管球
21〜36が配置され、またX線管球21〜36と異径
同心円周上でその内周に検出器2が配置されており、X
線管球21〜36から照射されるX線が照射窓5より測
定対象物6に向けて照射されるようになっている。
【0004】上記検出器2で検出されたX線透過情報は
透過X線量に比例した電流信号に変換されてプリアンプ
8、メインアンプ9を介してデータ収録装置11に送ら
れ、その後データ処理装置12に送られる。
透過X線量に比例した電流信号に変換されてプリアンプ
8、メインアンプ9を介してデータ収録装置11に送ら
れ、その後データ処理装置12に送られる。
【0005】また、データ収録装置11からX線発生の
指令がX線発生制御装置10に出され、その指令に基づ
いてX線発生制御装置10がX線管球21〜36からの
扇状X線4の発生を制御する。
指令がX線発生制御装置10に出され、その指令に基づ
いてX線発生制御装置10がX線管球21〜36からの
扇状X線4の発生を制御する。
【0006】上記高速X線CTスキャナ装置の従来の動
作を説明する。まず、データ収録装置11からパルス信
号による第1のX線発生の指令がX線発生制御装置10
に出される。このX線発生制御装置10は、上記データ
収録装置11からの指令によりX線管球21を動作させ
て扇状X線4を発生させる。この扇状X線4は、照射窓
5より測定対象物6に対して照射される。この扇状X線
4は測定対象物6を透過してX線管球21と測定対象物
6を挟んで反対側にある検出器2に入射して透過X線量
に比例した電流信号に変換される。この電流信号はプリ
アンプ8、メインアンプ9で増幅され、電圧信号として
データ収録装置11に送られる。
作を説明する。まず、データ収録装置11からパルス信
号による第1のX線発生の指令がX線発生制御装置10
に出される。このX線発生制御装置10は、上記データ
収録装置11からの指令によりX線管球21を動作させ
て扇状X線4を発生させる。この扇状X線4は、照射窓
5より測定対象物6に対して照射される。この扇状X線
4は測定対象物6を透過してX線管球21と測定対象物
6を挟んで反対側にある検出器2に入射して透過X線量
に比例した電流信号に変換される。この電流信号はプリ
アンプ8、メインアンプ9で増幅され、電圧信号として
データ収録装置11に送られる。
【0007】上記した一つのX線管球21の検出動作が
終了すると、第2、第3、…のX線発生の指令がデータ
収録装置11から出され、順にX線管球22,23、…
から扇状X線4が照射される。全てのX線管球のX線照
射による透過情報より、データ処理装置12で測定対象
物6の断面画像情報を得る。
終了すると、第2、第3、…のX線発生の指令がデータ
収録装置11から出され、順にX線管球22,23、…
から扇状X線4が照射される。全てのX線管球のX線照
射による透過情報より、データ処理装置12で測定対象
物6の断面画像情報を得る。
【0008】このように、X線管球21〜36は、上記
したように一番目から一つずつ順次照射動作を行うた
め、一つのX線管球をON動作させるのにt秒かかると
すると、16個のX線管球21〜36の全てのX線照射
が終了するには少なくとも16・t秒かかることにな
り、すなわち一断面のスキャン時間は最短でも16・t
秒必要とされている。また二次元CT画像データの収録
もこれに同調したタイミングで行われる。
したように一番目から一つずつ順次照射動作を行うた
め、一つのX線管球をON動作させるのにt秒かかると
すると、16個のX線管球21〜36の全てのX線照射
が終了するには少なくとも16・t秒かかることにな
り、すなわち一断面のスキャン時間は最短でも16・t
秒必要とされている。また二次元CT画像データの収録
もこれに同調したタイミングで行われる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上記高速X線CTスキ
ャナ装置において、測定対象物の断面情報を得るために
は、測定対象物から見て全ての方向からのX線透過情報
が必要である。この場合、従来の走査方法であれば一断
面のスキャン時間は上記したように最短でも16・t秒
必要とされ、より高速に測定対象物を通過する物体の断
面計測を行うためには、スキャン時間を短縮する必要が
ある。
ャナ装置において、測定対象物の断面情報を得るために
は、測定対象物から見て全ての方向からのX線透過情報
が必要である。この場合、従来の走査方法であれば一断
面のスキャン時間は上記したように最短でも16・t秒
必要とされ、より高速に測定対象物を通過する物体の断
面計測を行うためには、スキャン時間を短縮する必要が
ある。
【0010】そのためには、一個のX線管球の発光時間
を短縮するか、配置しているX線管球の数を減らすこと
が考えられる。しかし、X線管球の発光時間の短縮によ
っては、検出器の応答時間よりは短くできないために限
界がある。またX線管球の数を減らすことによっては、
得られる断面情報の解像度が悪くなるといった問題点が
ある。
を短縮するか、配置しているX線管球の数を減らすこと
が考えられる。しかし、X線管球の発光時間の短縮によ
っては、検出器の応答時間よりは短くできないために限
界がある。またX線管球の数を減らすことによっては、
得られる断面情報の解像度が悪くなるといった問題点が
ある。
【0011】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたもので、その目的とするところは、検出器の応答時
間を早くすることなく、かつ解像度を低下させずに走査
速度の高速化を実現し得る高速X線CTスキャナ装置を
提供することにある。
れたもので、その目的とするところは、検出器の応答時
間を早くすることなく、かつ解像度を低下させずに走査
速度の高速化を実現し得る高速X線CTスキャナ装置を
提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の高速X線CTス
キャナ装置は、測定対象物を囲む円周上に配置され、該
測定対象物に向けてX線を照射する複数個のX線管と、
これらX線管と異径同心円周上に配置され前記X線管か
ら照射されて測定対象物を透過したX線を検出する複数
個の検出器と、前記複数個のX線管のうち前記検出器へ
のX線入射領域が重ならない位置の少なくとも2つ以上
のX線管を1つの組として同時に動作させると共に他の
X線管の組を順次選択して動作させる走査手段と、前記
検出器の検出情報に基づいて前記測定対象物の断面画像
情報を得る処理手段とを具備したことを特徴とする。
キャナ装置は、測定対象物を囲む円周上に配置され、該
測定対象物に向けてX線を照射する複数個のX線管と、
これらX線管と異径同心円周上に配置され前記X線管か
ら照射されて測定対象物を透過したX線を検出する複数
個の検出器と、前記複数個のX線管のうち前記検出器へ
のX線入射領域が重ならない位置の少なくとも2つ以上
のX線管を1つの組として同時に動作させると共に他の
X線管の組を順次選択して動作させる走査手段と、前記
検出器の検出情報に基づいて前記測定対象物の断面画像
情報を得る処理手段とを具備したことを特徴とする。
【0013】本発明による高速X線CTスキャナ装置に
よれば、以下の作用・効果を有する。少なくとも2つ以
上のX線管が同時にON動作され、それぞれのX線管か
らX線が測定対象物に向けて照射される。照射されたX
線は測定対象物を透過し、その透過情報が検出器で検出
される。このとき、それぞれのX線の入射領域が重なら
ないように照射されているので、検出器で検出する際
も、それぞれのX線ごとに互いに影響を受けずにその透
過情報を得ることができる。
よれば、以下の作用・効果を有する。少なくとも2つ以
上のX線管が同時にON動作され、それぞれのX線管か
らX線が測定対象物に向けて照射される。照射されたX
線は測定対象物を透過し、その透過情報が検出器で検出
される。このとき、それぞれのX線の入射領域が重なら
ないように照射されているので、検出器で検出する際
も、それぞれのX線ごとに互いに影響を受けずにその透
過情報を得ることができる。
【0014】上記動作が終了すると、上記したX線と異
なる、X線の入射領域の重ならない少なくとも2つ以上
のX線管が選択され、この選択された複数のX線管から
同様に同時にON動作されてX線が照射され、同様の測
定動作が行われる。このように順次複数のX線管を1つ
の組として同時に測定が行われ、全てのX線管からのX
線照射による検出情報より、測定対象物の断面画像情報
を得る。
なる、X線の入射領域の重ならない少なくとも2つ以上
のX線管が選択され、この選択された複数のX線管から
同様に同時にON動作されてX線が照射され、同様の測
定動作が行われる。このように順次複数のX線管を1つ
の組として同時に測定が行われ、全てのX線管からのX
線照射による検出情報より、測定対象物の断面画像情報
を得る。
【0015】この装置により、少なくとも2つ以上のX
線管により同時にX線透過情報を得ることが可能である
ので、一つのX線管からX線を一つずつ照射していく場
合に比べて走査時間を短縮でき、かつスキャナの解像度
を低下させることはなく、検出器の応答時間を早くする
こともない。
線管により同時にX線透過情報を得ることが可能である
ので、一つのX線管からX線を一つずつ照射していく場
合に比べて走査時間を短縮でき、かつスキャナの解像度
を低下させることはなく、検出器の応答時間を早くする
こともない。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の一実施形態を説明する。図1は、本発明の一実施形態
に係る高速X線CTスキャナ装置の検出部の平面断面
図、図2は同実施形態におけるX線発生制御装置の構成
図を示す。図1に示すように、測定対象物6を囲む円周
上に複数の検出器2が設置されている。さらに異径同心
円周上でかつ検出器2の外周に、多数(本実施形態では
16個)のX線管球21〜36が固定して設置されてい
る。この多数のX線管球21〜36は、それぞれ扇状の
X線を測定対象物6に向けて照射するようになってい
る。
の一実施形態を説明する。図1は、本発明の一実施形態
に係る高速X線CTスキャナ装置の検出部の平面断面
図、図2は同実施形態におけるX線発生制御装置の構成
図を示す。図1に示すように、測定対象物6を囲む円周
上に複数の検出器2が設置されている。さらに異径同心
円周上でかつ検出器2の外周に、多数(本実施形態では
16個)のX線管球21〜36が固定して設置されてい
る。この多数のX線管球21〜36は、それぞれ扇状の
X線を測定対象物6に向けて照射するようになってい
る。
【0017】例えば、X線管球21の照射する扇状X線
を示したのが4aであり、この扇状X線4aは、測定対
象物6を透過してX線管球21と測定対象物6を挟んで
反対側の検出器2で検出される。この検出領域を示した
のが3aである。
を示したのが4aであり、この扇状X線4aは、測定対
象物6を透過してX線管球21と測定対象物6を挟んで
反対側の検出器2で検出される。この検出領域を示した
のが3aである。
【0018】また、それぞれのX線管球21〜36は、
図2に示すように前記図3のX線発生制御装置10内に
設けられるパルス発生器41〜56に接続され、パルス
発生器41〜56に伝えられたX線発生の指令により、
対応するX線管球がX線を発生するようになっている。
また測定対象物6を囲む円周の対向する二つのX線管
球、例えば21と29に対応するパルス発生器41と4
9は、一つのパルス発生制御ポート61に接続されてい
る。また、X線管球22と30に対応するパルス発生器
42と50はパルス発生制御ポート62に接続され、こ
のようにして二つの対向するX線管球に対応する二つの
パルス発生器に一つのパルス発生制御ポートが接続さ
れ、全てのパルス発生制御ポート61〜68がそれぞれ
パルス発生器41〜56に接続されている。
図2に示すように前記図3のX線発生制御装置10内に
設けられるパルス発生器41〜56に接続され、パルス
発生器41〜56に伝えられたX線発生の指令により、
対応するX線管球がX線を発生するようになっている。
また測定対象物6を囲む円周の対向する二つのX線管
球、例えば21と29に対応するパルス発生器41と4
9は、一つのパルス発生制御ポート61に接続されてい
る。また、X線管球22と30に対応するパルス発生器
42と50はパルス発生制御ポート62に接続され、こ
のようにして二つの対向するX線管球に対応する二つの
パルス発生器に一つのパルス発生制御ポートが接続さ
れ、全てのパルス発生制御ポート61〜68がそれぞれ
パルス発生器41〜56に接続されている。
【0019】このパルス発生制御ポート61〜68に信
号を送ることでパルス発生器41〜56に信号を伝える
ことが可能となり、また二つのパルス発生器に接続され
ているため、一つの信号をパルス発生制御ポートに与え
ることで二つのパルス発生器に同時に信号を伝えること
ができ、二つのX線管球からの同時発光の制御が可能と
なる。
号を送ることでパルス発生器41〜56に信号を伝える
ことが可能となり、また二つのパルス発生器に接続され
ているため、一つの信号をパルス発生制御ポートに与え
ることで二つのパルス発生器に同時に信号を伝えること
ができ、二つのX線管球からの同時発光の制御が可能と
なる。
【0020】上記実施形態の動作を以下説明する。ま
ず、図3に示すデータ収録装置11から第1のX線発生
の指令がX線発生制御装置10に出される。この第1の
指令に基づき、図2に示すX線発生制御装置10内のパ
ルス発生制御ポート61に、第1のX線発生の指令が入
力される。この入力された信号を受けて、パルス発生器
41,49が同時にパルス波を発生させ、これらパルス
信号がそれぞれのパルス発生器41,49に対応するX
線管球21,29に伝えられる。X線管球21,29は
上記パルス信号により動作し、扇状X線4a,4bを測
定対象物6に照射する。
ず、図3に示すデータ収録装置11から第1のX線発生
の指令がX線発生制御装置10に出される。この第1の
指令に基づき、図2に示すX線発生制御装置10内のパ
ルス発生制御ポート61に、第1のX線発生の指令が入
力される。この入力された信号を受けて、パルス発生器
41,49が同時にパルス波を発生させ、これらパルス
信号がそれぞれのパルス発生器41,49に対応するX
線管球21,29に伝えられる。X線管球21,29は
上記パルス信号により動作し、扇状X線4a,4bを測
定対象物6に照射する。
【0021】上記照射された扇状X線4a,4bは測定
対象物6を透過し、照射されたX線管球21,29と測
定対象物6を挟んで反対側の検出器2の検出領域3a,
3bで検出される。この検出領域3a,3bは、X線が
同時に入射する領域が重ならないように定められてい
る。このように入射領域を重ならないようにすること
で、同時にX線を照射してもそれぞれのX線に関する独
立した透過情報を得ることが可能となる。
対象物6を透過し、照射されたX線管球21,29と測
定対象物6を挟んで反対側の検出器2の検出領域3a,
3bで検出される。この検出領域3a,3bは、X線が
同時に入射する領域が重ならないように定められてい
る。このように入射領域を重ならないようにすること
で、同時にX線を照射してもそれぞれのX線に関する独
立した透過情報を得ることが可能となる。
【0022】このように検出器2で検出されたX線透過
情報は、透過X線量に比例した電流信号に変換された
後、プリアンプ8、メインアンプ9で増幅され、電圧信
号としてデータ収録装置11に送られる。
情報は、透過X線量に比例した電流信号に変換された
後、プリアンプ8、メインアンプ9で増幅され、電圧信
号としてデータ収録装置11に送られる。
【0023】上記したX線管球21,29による照射が
行われると、次に、第2のX線発生の指令がX線発生制
御装置10内のパルス発生制御ポート62に入力され
る。この第2の指令を受けて、上記したX線管球21,
29による測定と同様に、X線管球22,30から扇状
X線が照射され、上記したX線管球21,29からの照
射による透過情報の検出と同様の動作がなされる。さら
に同様に、第3、第4のX線発生の指令がパルス発生制
御ポート63,64に送られ、扇状X線がX線管球2
3,31、X線管球24,32から順次照射される。こ
のようにX線管球から二つずつ順番にX線が照射され、
全てのX線管球21〜36によるX線透過情報が検出器
2、プリアンプ8、メインアンプ9を介してデータ収録
装置11に送られ、その後データ処理装置12で2次元
X線CT画像情報が得られる。
行われると、次に、第2のX線発生の指令がX線発生制
御装置10内のパルス発生制御ポート62に入力され
る。この第2の指令を受けて、上記したX線管球21,
29による測定と同様に、X線管球22,30から扇状
X線が照射され、上記したX線管球21,29からの照
射による透過情報の検出と同様の動作がなされる。さら
に同様に、第3、第4のX線発生の指令がパルス発生制
御ポート63,64に送られ、扇状X線がX線管球2
3,31、X線管球24,32から順次照射される。こ
のようにX線管球から二つずつ順番にX線が照射され、
全てのX線管球21〜36によるX線透過情報が検出器
2、プリアンプ8、メインアンプ9を介してデータ収録
装置11に送られ、その後データ処理装置12で2次元
X線CT画像情報が得られる。
【0024】ここで、上記した二つのX線管球によるX
線照射を同時に行うことによる測定時間を考える。一つ
のX線管球によるON動作にt秒かかるとすると、全X
線管球によるX線照射が終了するのに、本実施形態の場
合は16個のX線管球を用い、同時に二つのX線管球か
ら照射が行われるため、8・t秒かかる。
線照射を同時に行うことによる測定時間を考える。一つ
のX線管球によるON動作にt秒かかるとすると、全X
線管球によるX線照射が終了するのに、本実施形態の場
合は16個のX線管球を用い、同時に二つのX線管球か
ら照射が行われるため、8・t秒かかる。
【0025】この装置により、一つずつX線を照射して
いく場合に比べて半分の時間で測定を行うことが可能で
ある。また、この場合同時に複数のX線管球からX線を
照射することが可能なパルス発生制御ポートを用いるこ
とで、検出器の性能を上げることなく、従来と同様の検
出器を利用したままで上記測定時間の短縮を図ることが
可能である。
いく場合に比べて半分の時間で測定を行うことが可能で
ある。また、この場合同時に複数のX線管球からX線を
照射することが可能なパルス発生制御ポートを用いるこ
とで、検出器の性能を上げることなく、従来と同様の検
出器を利用したままで上記測定時間の短縮を図ることが
可能である。
【0026】なお、本発明は上記実施形態に限定される
ものではない。例えば、二つのX線管球から同時にX線
を照射する方法を示したが、X線が同時に入射する領域
が重ならなければ、同時に照射するX線を三つ以上とす
ることもできる。また、16個のX線管球を用いる場合
を示したが、この数には限定されない。
ものではない。例えば、二つのX線管球から同時にX線
を照射する方法を示したが、X線が同時に入射する領域
が重ならなければ、同時に照射するX線を三つ以上とす
ることもできる。また、16個のX線管球を用いる場合
を示したが、この数には限定されない。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、同
時に複数のX線管による照射が行われるので、検出器の
応答時間を早くすることなく、かつ解像度を低下させる
ことなく、より高速の断面計測が可能となる。
時に複数のX線管による照射が行われるので、検出器の
応答時間を早くすることなく、かつ解像度を低下させる
ことなく、より高速の断面計測が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る高速X線CTスキャ
ナ装置の検出部を示す図。
ナ装置の検出部を示す図。
【図2】同実施形態におけるX線発生制御装置を示す
図。
図。
【図3】同実施形態における高速X線CTスキャナ装置
を示す図。
を示す図。
【図4】従来の高速X線CTスキャナ装置の検出部を示
す図。
す図。
1 X線発生部容器 2 検出器 3a,3b 検出領域 4a,4b 扇状X線 5 照射窓 6 測定対象物 7 電源 8 プリアンプ 9 メインアンプ 10 X線発生制御装置 11 データ収録装置 12 データ処理装置 21〜36 X線管球 41〜56 パルス発生器 61〜68 パルス発生制御ポート
Claims (1)
- 【請求項1】 測定対象物を囲む円周上に配置され、該
測定対象物に向けてX線を照射する複数個のX線管と、 前記X線管と異径同心円周上に配置され、前記X線管か
ら照射されて測定対象物を透過したX線を検出する複数
個の検出器と、 前記複数個のX線管のうち、前記検出器へのX線入射領
域が重ならない位置の少なくとも2つ以上のX線管を1
つの組として同時に動作させると共に、他のX線管の組
を順次選択して動作させる走査手段と、 前記検出器の検出情報に基づいて前記測定対象物の断面
画像情報を得る処理手段とを具備したことを特徴とする
高速X線CTスキャナ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8231958A JPH1075944A (ja) | 1996-09-02 | 1996-09-02 | 高速x線ctスキャナ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8231958A JPH1075944A (ja) | 1996-09-02 | 1996-09-02 | 高速x線ctスキャナ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1075944A true JPH1075944A (ja) | 1998-03-24 |
Family
ID=16931731
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8231958A Pending JPH1075944A (ja) | 1996-09-02 | 1996-09-02 | 高速x線ctスキャナ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1075944A (ja) |
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- 1996-09-02 JP JP8231958A patent/JPH1075944A/ja active Pending
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