JPH1075276A - データ転送装置 - Google Patents

データ転送装置

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JPH1075276A
JPH1075276A JP8228754A JP22875496A JPH1075276A JP H1075276 A JPH1075276 A JP H1075276A JP 8228754 A JP8228754 A JP 8228754A JP 22875496 A JP22875496 A JP 22875496A JP H1075276 A JPH1075276 A JP H1075276A
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JP
Japan
Prior art keywords
data
lsi
circuit
delay
dff
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP8228754A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayuki Suzuki
雅之 鈴木
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
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Publication of JPH1075276A publication Critical patent/JPH1075276A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 LSIの種類を統一して、生産性の向上と管
理工数の縮減を図る。 【解決手段】 データ転送装置は周辺回路2とLSI1
を備えている。周辺回路は種類によって入出力間の処理
時間が異なり、LSIより転送されたデータとクロック
に制御されて動作する。LSIは1つの選択された周辺
回路にD形フリップフロップDFF1を介してデータD
1を転送し、選択された周辺回路2より転送されたデー
タD2をDFF5を介して入力する。可変遅延回路DL
1及びDL2により内部クロックCLKをそれぞれ遅延
させて、周辺回路2及びDFF5にそれぞれ転送する。
DL1及びDL2の遅延量は制御データを格納した遅延
レジスタRG1,RG2により制御される。なお周辺回
路がメモリ回路であってもよい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、ICテスタ等に
用いられるデータ転送装置に関し、特に入出力端子間に
おけるデータ処理時間の異なる複数種類の周辺回路と、
その内の選択された1つにデータとクロックを転送する
と共に、その選択された周辺回路より転送されたデータ
を入力するLSIとを有するデータ転送装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来例(1) 従来のデータ転送装置100は図2に示すように、LS
I1と入出力端子間におけるデータ処理時間の異なる複
数種類の周辺回路(図2では2−1と2−2)とより成
り、その内の選択された1つの周辺回路(図2では2−
1)がLSIに接続される。一般に周辺回路2−1は必
要に応じ周辺回路2−2と容易に交換できるように、装
置100の実装用基板のコネクタに挿脱自在に取付けら
れる。LSI1には周辺回路2−iとのデータ入力及び
出力インタフェース用にそれぞれDFF1,DFF5が
設けられる。また周辺回路2−iにも周辺回路2−1の
DFF2,DFF4のような入出力インタフェース用の
DFFが必要に応じ設けられる。
【0003】周辺回路2−1ではDFF2とDFF4と
の間の回路がDFF3となっているが、一般的にはロジ
ック回路やメモリ回路が存在する。またLSI1でもイ
ンタフェース用のDFF5の出力側にDFF6を設けた
場合が示されているが、一般的には他のロジック回路等
であってよい。DFF1の入力データは内部クロックC
LK(図2B)の立上りで取り込まれ、その立上り時
点よりτ1時間遅れてDFF2のデータ入力端子にデー
タD1が与えられる(図2B)。遅延時間τ1はDF
F1の動作遅れ時間τ1−1と、DFF1とDFF2と
の間の伝送線路の伝搬遅延時間τ1−2の和である。
【0004】内部クロックCLKは、遅延回路DL1を
経由して、立上りがτa(τa>τ1)時間遅れたクロ
ックCLK′が周辺回路2−1の各DFFのクロック入
力端子CKに供給される(図2B)。遅延時間τaは
遅延回路DL1の遅延時間τa−1と、遅延回路DL1
とDFF−2のクロック端子CKとの間の伝送線路の伝
搬遅延時間τa−2との和である。
【0005】周辺回路2−1において、DFF2の入力
データD1(図2B)はクロックCLK′の立上り時
点に取り込まれ、DFF2の動作遅延時間τ2だけ遅れ
た出力データがDFF3に入力される(図2B)。D
FF3の入力データはDFF3において、DFF2が入
力データを取り込んだCLK′より1周期(T)遅れた
クロックCLK′の立上りで取り込まれ、その動作遅延
時間τ3だけ遅れた出力データがDFF4に入力される
(図2B)。
【0006】DFF4の入力データはDFF4におい
て、DFF3が入力データを取り込んだCLK′より1
周期(T)遅れたクロックCLK′の立上りで取り込ま
れ、その動作遅延時間τ4−1とその出力側の伝送線路
の伝搬遅延時間τ4−2との和τ4だけ遅れたデータD
2がLSI1のDFF5に入力される(図2B)。D
FF5では入力データD2が、DFF1で入力データを
取り込んだクロックCLKの立上りより3Tだけ遅れた
クロックCLKの立上りで取り込まれ、その動作遅延時
間τ5だけ遅れた出力データ(図2B)がDFF6に
入力される。
【0007】周辺回路2−1ではDFF2の出力(図2
B)は、DFF3とDFF4で順次入力データの後端
を取り込んで出力する、所謂パイプライン動作が行われ
るので、2T(パイプライン動作分)だけ遅れ、更にD
FF4とその出力側の伝送線路の合計の遅延時間τ4だ
け遅れ、その遅れたデータD2(図2B)がDFF5
に入力される。
【0008】DFF5の入力データD2は、DFF1が
入力データを取り込んだCLKの立上りを基準にして、
TA=τ4+τa+2Tだけ遅れる。Ta≡τa+τ4
<Tに設定することによって、DFF5の入力データD
2はDFF5においてDFF1が入力データを取り込ん
だ時点のCLKより3Tだけ遅れたCLKで取り込むこ
とができる。周辺回路2−1がもしn段のパイプライン
動作を行えば、(n+1)Tだけ遅れたCLKで取り込
まれる。 従来例(2) 従来の他のデータ転送装置100では図3Aに示すよう
に、周辺回路2−3のDFF3(DFF3の代わりに他
の回路であってもよいが、ここでは簡単にDFF3とし
て説明する)の遅延時間τ3が長く、τa+τ3>Tと
なる場合には、DFF3が入力データaを取り込んだク
ロックCLK′の次のタイミングでDFF3の出力デー
タaの後端を次段のDFF4で取り込む従来例(1)で
述べたパイプライン動作ができなくなる。そのため従来
例(2)では遅延回路DLcを挿入してクロックCL
K′をτc時間遅らせたクロックCLK″を用いている
(図3B)。DFF4ではこのCLK″の立上り時点
で入力データaの後端が取り込まれてDFF5に入力さ
れる(図3B)。
【0009】DFF1が入力データaをCLKの立上り
で取り込んだ時点より、データaがDFF5に入力され
る迄の時間TAは、図より明らかなようにTA=τ4+
τc+τa+2Tとなる。更に従来例(2)では、周辺
回路2−3の代りに従来例(1)で述べた周辺回路2−
1に交換できるようにLSIが構成される。周辺回路2
−1に交換した場合には、DFF5の入力データD2の
タイミングは既に述べたように図3B′(図2Bと
同じ)となっているので、LSIのDFF5では、図3
Bのと′においてそれぞれのデータa同士、データ
b同士、データc同士、……の互いに重なる時間帯(ハ
ッチングして示した時間帯)において、入力データを取
り込まなければならない。そこで図3Bに示すように
遅延回路DL2によりクロックCLKの立上りよりτb
時間遅らせて、前述の同じデータの重なるハッチングし
た時間帯で立上るクロックCLKaを生成してDFF5
及び6に供給している。DFF5ではCLKaの立上り
で入力データD2を取り込み、τ5時間遅れて出力デー
タをDFF6に入力している(図3B)。 従来例(3) この例では周辺回路2−4または2−5において、DF
F1が入力データをCLKの立上りで取り込んだ時点よ
りデータD2がDFF5に入力されるまでの遅延時間T
Aに応じて、入力クロックCLK′を遅延させたクロッ
クCLKbを生成して、DFF5に供給している。DF
F5では、CLKbの立上り時点で入力データD2を取
り込む。LSI1の後段の回路では内部クロックCLK
に同期して動作させる必要があるので、この例ではDF
F6で内部クロックCLKに乗せ換えている。
【0010】図4Bの,は周辺回路2−4を選択し
た場合、′、′は周辺回路2−5を選択した場合で
ある。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
(1)従来例(1),(2),(3)において、LSI
の遅延回路DL1の遅延量τa−1は、DFF1の遅延
時間τ1−1のみでなく、DFF1の出力側の伝送線路
の遅延時間τ1−2及び遅延回路DL1の出力側伝送線
路の遅延時間τa−2を考慮して設定しなければならな
い。各LSIに組合わされる周辺回路2−i,2−jの
種類は各LSIによって異なるため、各LSIの遅延回
路DL1の遅延時間τa−1はLSIによって異なり、
異なった遅延回路が実装される。
【0012】(2)従来例(2)のLSIの遅延回路D
L2の遅延量も、組合わされる周辺回路2−i,2−j
の遅延時間TA−τaによって異なるので、LSIによ
って異なった遅延回路が実装される。 (3)従来例(3)のLSIでは、周辺回路からクロッ
クCLKbを入力するためにピンを増やさなければなら
ない問題がある。
【0013】(4)最近、LSIの種類を1つに統一し
て、LSIの生産性の向上と管理工数の縮減を図ろうと
する新たな要望がだされるようになって来た。この発明
の目的はこのような要望に応えようとするものである。
【0014】
【課題を解決するための手段】
(1)請求項1の発明は、入出力端子間におけるデータ
処理時間が種類によって異なり、外部より転送されたデ
ータとクロックに制御されて動作する複数種類の周辺回
路と、それらの周辺回路の内の任意の1つの選択された
周辺回路にクロックを転送すると共に、出力インタフェ
ース用のD形フリップフロップ(以下DFFと言う)を
介してデータを転送し、その選択された周辺回路より転
送されたデータを入力インタフェース用のDFFを介し
て入力するLSIとを有するデータ転送装置に関する。
【0015】この発明では特に、前記LSIは、内部ク
ロックを遅延させて前記選択された周辺回路に転送する
第1の可変遅延回路と、内部クロックを遅延させて前記
入力インタフェース用のDFFに転送する第2の可変遅
延回路と、それら第1、第2の可変遅延回路の遅延量を
制御すると共に、対応する制御データを格納する第1、
第2の遅延レジスタとを具備する。
【0016】(2)請求項2の発明は、前記(1)にお
いて、周辺回路がアドレスデータを入力して、そのアド
レスに格納されているデータを出力するメモリ回路とさ
れる。
【0017】
【発明の実施の形態】図1の実施例を参照して発明の実
施の形態を説明する。図1には図2、図3と対応する部
分に同じ符号を付けてある。この発明では遅延回路DL
1,DL2は内部クロックCLKを遅延させる可変遅延
回路とされ、それらDL1,DL2の遅延量を制御する
制御データが遅延レジスタRG1,RG2にそれぞれ格
納される。遅延レジスタRG1,RG2はLSIの内部
または外部より制御される。
【0018】このようにDL1,DL2に可変機能をも
たせることによって、共通のLSIによって、従来例
(1),(2),(3)のいずれの場合にも対応するこ
とができる。しかも従来例(3)のようにLSIに周辺
回路よりクロックを入力するためのピンを設ける必要が
ない。データ転送装置100の周辺回路がアクセス速度
の異なる複数種類のメモリ回路である場合には、それら
のアクセス速度に応じてLSI(例えばMPU)を変更
することなく動作できる。この場合、データD1がアド
レス、データD2がメモリに格納されたデータである。
【0019】
【発明の効果】
(1)この発明では、内部クロックCLKを遅延させ
て、周辺回路に転送する遅延回路DL1と、内部クロッ
クを遅延させてLSIの入力インタフェース用のDFF
−5に転送する遅延回路DL2にそれぞれ可変機能を設
けたので、周辺回路が種類によってその入出力間の処理
時間が異なっていても、一種類のLSIで対処すること
ができる。このLSIの品種の統一によってLSIの生
産性の向上と管理工数の縮減が図られる。
【0020】(2)この発明によれば、周辺回路の規格
変更による処理時間の変更に対しても一種類のLSIで
柔軟に対応できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】Aはこの発明の実施例を示すブロック図、Bは
Aの要部のタイミングチャート。
【図2】Aは従来のデータ転送装置のブロック図、Bは
Aの要部のタイミングチャート。
【図3】Aは従来の他のデータ転送装置のブロック図、
BはAの要部のタイミングチャート。
【図4】Aは従来の更に他のデータ転送装置のブロック
図、BはAの要部のタイミングチャート。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入出力端子間におけるデータ処理時間が
    種類によって異なり、外部より転送されたデータとクロ
    ックに制御されて動作する複数種類の周辺回路と、 それらの周辺回路の内の任意の1つの選択された周辺回
    路にクロックを転送すると共に、出力インタフェース用
    のD形フリップフロップ(以下DFFと言う)を介して
    データを転送し、その選択された周辺回路より転送され
    たデータを入力インタフェース用のDFFを介して入力
    するLSIと、 を有するデータ転送装置において、 前記LSIは、 内部クロックを遅延させて前記選択された周辺回路に転
    送する第1の可変遅延回路と、 内部クロックを遅延させて前記入力インタフェース用の
    DFFに転送する第2の可変遅延回路と、 それら第1、第2の可変遅延回路の遅延量を制御すると
    共に、対応する制御データを格納する第1、第2の遅延
    レジスタとを具備することを特徴とするデータ転送装
    置。
  2. 【請求項2】 請求項1において、前記周辺回路がアド
    レスデータを入力して、そのアドレスに格納されている
    データを出力するメモリ回路であることを特徴とするデ
    ータ転送装置。
JP8228754A 1996-08-29 1996-08-29 データ転送装置 Withdrawn JPH1075276A (ja)

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JP8228754A JPH1075276A (ja) 1996-08-29 1996-08-29 データ転送装置

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JP8228754A Withdrawn JPH1075276A (ja) 1996-08-29 1996-08-29 データ転送装置

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JP (1) JPH1075276A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10023102A1 (de) * 2000-05-11 2001-11-22 Infineon Technologies Ag Bidirektionale Datenschnittstelle und Verfahren zum Testen derselben
JP2007078643A (ja) * 2005-09-16 2007-03-29 Seiko Epson Corp 半導体集積回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10023102A1 (de) * 2000-05-11 2001-11-22 Infineon Technologies Ag Bidirektionale Datenschnittstelle und Verfahren zum Testen derselben
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Effective date: 20031104