JPH10728A - Reflection preventive film and manufacture thereof - Google Patents

Reflection preventive film and manufacture thereof

Info

Publication number
JPH10728A
JPH10728A JP8177510A JP17751096A JPH10728A JP H10728 A JPH10728 A JP H10728A JP 8177510 A JP8177510 A JP 8177510A JP 17751096 A JP17751096 A JP 17751096A JP H10728 A JPH10728 A JP H10728A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
refractive index
layer
index layer
film
reflection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8177510A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3776980B2 (en
Inventor
Yurie Oota
友里恵 太田
Norinaga Nakamura
典永 中村
Mitsuru Tsuchiya
充 土屋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP17751096A priority Critical patent/JP3776980B2/en
Priority to US08/876,907 priority patent/US5925438A/en
Publication of JPH10728A publication Critical patent/JPH10728A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3776980B2 publication Critical patent/JP3776980B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for forming a functional thin film with high function and high quality using an application process which is advantageous in terms of mass production and equipment cost. SOLUTION: This reflection preventive film consists of a transparent base material film 1 and a hard coat layer 2, a layer 5 with moderate index of reflection, a layer 3 with high index of reflection and a layer 4 with low index of reflection which overlie this film in that order directly or through another layer. The layer 4 with low index of refraction is an SiO2 gel layer comprising an SiO2 sol which is prepared by hydrolyzing silicon alkoxide expressed by RnSi(OR')n (R and R' are a 1-10C alkyl group each; m+n is 4; and m an n are an integer each).

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ワープロ、コンピ
ュータ、テレビ、プラズマディスプレイパネル等の各種
ディスプレイ、液晶表示装置に用いる偏光板の表面、透
明プラスチック類からなるサングラスレンズ、度付メガ
ネレンズ、カメラ用ファインダーレンズ等の光学レン
ズ、各種計器のカバー、自動車、電車等の窓ガラス等の
表面の反射防止に優れた反射防止フイルム及びその製造
方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to various displays such as word processors, computers, televisions and plasma display panels, surfaces of polarizing plates used in liquid crystal displays, sunglass lenses made of transparent plastics, prescription eyeglass lenses, and cameras. The present invention relates to an antireflection film excellent in antireflection of the surface of an optical lens such as a finder lens, a cover of various instruments, a window glass of an automobile or a train, and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、カーブミラー、バックミラー、ゴ
ーグル、窓ガラス、パソコン、ワープロ、プラズマディ
スプレイ等のディスプレイ、その他種々の商業ディスプ
レイ等には、ガラスやプラスチック等の透明基板が用い
られており、これらの透明基板を通して物体や文字、図
形等の視覚情報を観察する場合、或いはミラーでは透明
基板を通して反射層からの像を観察する場合に、これら
の透明基板の表面が外光で反射して内部の視覚情報が見
えにくいという問題があった。
2. Description of the Related Art Conventionally, transparent substrates such as glass and plastic have been used for displays such as curve mirrors, rearview mirrors, goggles, window glasses, personal computers, word processors, plasma displays, and various other commercial displays. When observing visual information such as objects, characters, and figures through these transparent substrates, or when observing an image from a reflective layer through a transparent substrate with a mirror, the surface of these transparent substrates is There is a problem that visual information of the person is difficult to see.

【0003】このような透明基板の反射を防止する方法
としては、従来、ガラスやプラスチックの表面に反射防
止塗料を塗布する方法、ガラス・プラスチック基材等の
透明基板の表面に、必要に応じてハードコート層を介し
て膜厚0.1μm程度のMgF2やSiO2等の薄膜を蒸
着やスパッタリング、プラズマCVD法等の気相法によ
り形成する方法があった。
[0003] As a method of preventing reflection of such a transparent substrate, a method of applying an antireflection paint to the surface of glass or plastic, or a method of coating a surface of a transparent substrate such as a glass or plastic substrate, if necessary, have been used. There has been a method of forming a thin film of about 0.1 μm in thickness such as MgF 2 or SiO 2 through a hard coat layer by a vapor phase method such as vapor deposition, sputtering, or plasma CVD.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】気相法による機能性薄
膜の製造方法は、高機能且つ高品質な薄膜を得ることが
可能であるが、高真空系での精密な雰囲気の制御が必要
であり、又、特殊な加熱又はイオン発生加速装置を必要
とし、製造装置が複雑で大型化するために、必然的に製
造コストが高くなるという問題がある。又、薄膜の大面
積化或いは複雑な形状のものを製造することが困難であ
るという問題がある。他方、塗布法による機能性薄膜の
製造方法のうち、スプレー法によるものは、塗液の利用
効率が悪く、成膜条件の制御が困難である等の問題があ
る。又、浸漬法及びスクリーン印刷法等による塗布法を
利用する機能性薄膜の製造方法は、成膜原料の利用効率
が良く、大量生産や設備コスト面での有利さがあるが、
塗布法により得られる機能性薄膜は、気相法により得ら
れる薄膜に比較して機能及び品質が劣ると云う問題点が
ある。
According to the method for producing a functional thin film by a vapor phase method, a high-performance and high-quality thin film can be obtained, but precise atmosphere control in a high vacuum system is required. In addition, there is a problem that a special heating or ion generation acceleration device is required, and the manufacturing apparatus is complicated and large, so that the manufacturing cost is necessarily increased. Further, there is a problem that it is difficult to increase the area of the thin film or to manufacture a thin film having a complicated shape. On the other hand, among the methods for producing a functional thin film by a coating method, the method by a spray method has problems such as poor use efficiency of a coating liquid and difficulty in controlling film forming conditions. In addition, a method for producing a functional thin film using a coating method such as an immersion method and a screen printing method has a good use efficiency of a film forming material and has an advantage in mass production and equipment cost,
The functional thin film obtained by the coating method has a problem that the function and quality are inferior to the thin film obtained by the gas phase method.

【0005】近年、塗布法によって優れた品質の薄膜を
得る方法として、無機又は有機超微粒子を酸性及び又は
アルカリ水溶液中に分散した分散液を、基材上に塗布
し、焼成する方法が提案されている。この製造方法によ
ると、大量生産や設備コスト面では有利であるが、製造
工程中に高温での焼成過程を必要とするため、プラスチ
ック基材には成膜が不可能なこと、又、基材と塗布膜と
の収縮度の違い等により被膜の均一性が十分でなく、気
相法により得られる薄膜に比較した場合に、依然として
性能が劣り、又、熱処理に長時間(例えば、数十分間以
上)を要し、生産性に劣ると云う欠点を有する。従っ
て、本発明の目的は、高機能且つ高品質な反射防止フイ
ルムを、大量生産や設備コスト面で有利な塗布法によっ
て提供することである。
In recent years, as a method for obtaining a thin film of excellent quality by a coating method, there has been proposed a method in which a dispersion liquid in which inorganic or organic ultrafine particles are dispersed in an acidic or alkaline aqueous solution is applied to a substrate and fired. ing. This method is advantageous in terms of mass production and equipment costs, but requires a high-temperature sintering process during the manufacturing process, making it impossible to form a film on a plastic substrate. The uniformity of the film is not sufficient due to the difference in the degree of shrinkage between the film and the coating film, and the performance is still inferior when compared with a thin film obtained by a gas phase method. Or more), resulting in poor productivity. Therefore, an object of the present invention is to provide a high-performance and high-quality antireflection film by a coating method which is advantageous in mass production and equipment cost.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的は以下の本発明
によって達成される。即ち、本発明は、透明基材フイル
ムの面に、直接又は他の層を介してハードコート層、中
屈折率層、高屈折率層及び低屈折率層をこの記載の順序
で形成してなり、該低屈折率層がR mSi(OR´)
n(R及びR´はそれぞれ炭素数1〜10のアルキル基
を表し、m+nは4であり、m及びnはそれぞれ整数で
ある)で表される珪素アルコキシドを加水分解して調製
したSiO2ゾルからなるSiO2ゲル層であることを特
徴とする反射防止フイルム及びその製造方法である。
The object of the present invention is as follows.
Achieved by That is, the present invention provides a transparent base film
Hard coat layer, directly or through another layer
The order of the refractive index layer, high refractive index layer and low refractive index layer
And the low refractive index layer is formed of R mSi (OR ')
n(R and R ′ are each an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms.
And m + n is 4, and m and n are each an integer.
Prepared by hydrolyzing silicon alkoxide represented by
SiOTwoSiO consisting of solTwoSpecially for gel layer
An anti-reflection film and a method of manufacturing the same.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】本発明の好ましい実施の形態を図
面を参照して説明する。図1は本発明の基本形態を示
し、透明基材フイルム1の面に、ハードコート層2、中
屈折率層5、高屈折率層3及び低屈折率層4をこの記載
の順序で形成してなり、該低屈折率層4が、R mSi
(OR´)n(R、R´はそれぞれ炭素数1〜10のア
ルキル基を表し、m+nは4であり、m及びnはそれぞ
れ整数である)で表される珪素アルコキシドを加水分解
して調製したSiO2ゾルからなるSiO2ゲル層である
ことを特徴としている。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 shows a preferred embodiment of the present invention.
A description will be given with reference to FIGS. FIG. 1 shows a basic embodiment of the present invention.
Then, a hard coat layer 2 and a middle
The refractive index layer 5, the high refractive index layer 3, and the low refractive index layer 4 are referred to in this description.
And the low refractive index layer 4 is formed of R mSi
(OR ')n(R and R ′ each represent an atom having 1 to 10 carbon atoms.
M + n is 4, m and n are each
Hydrolyze the silicon alkoxide represented by
Prepared SiOTwoSiO consisting of solTwoGel layer
It is characterized by:

【0008】本発明で使用する透明基材フイルムとして
は、例えば、アセテートブチレートセルロースフイル
ム、ポリエーテルサルホンフイルム、ポリアクリル系樹
脂フイルム、ポリウレタン系樹脂フイルム、ポリエステ
ルフイルム、ポリカーボネートフイルム、ポリスルホン
フイルム、ポリエーテルフイルム、トリメチルペンテン
フイルム、ポリエーテルケトンフイルム、(メタ)アク
リロニトリルフイルム等が使用できるが、特に一軸又は
二軸延伸ポリエステルフイルムが透明性に優れ、光学的
に異方性が無い点で好適に用いられる。その厚みは、通
常は8μm〜1000μm程度のものが好適に用いられ
る。
The transparent base film used in the present invention includes, for example, an acetate butyrate cellulose film, a polyether sulfone film, a polyacrylic resin film, a polyurethane resin film, a polyester film, a polycarbonate film, a polysulfone film, and a polystyrene film. Ether films, trimethylpentene films, polyetherketone films, (meth) acrylonitrile films, and the like can be used. In particular, uniaxially or biaxially stretched polyester films are preferably used because they are excellent in transparency and have no optical anisotropy. Can be Usually, the thickness of about 8 μm to 1000 μm is suitably used.

【0009】上記透明基材フイルムの面に形成するハー
ドコート層とは、JIS K5400で示される鉛筆硬
度試験で、H以上の硬度を示すものをいう。ハードコー
ト層の形成には、反応硬化型樹脂、即ち、熱硬化型樹脂
及び/又は電離放射線硬化型樹脂を使用することが好ま
しい。前記熱硬化型樹脂には、フェノール樹脂、尿素樹
脂、ジアリルフタレート樹脂、メラミン樹脂、グアナミ
ン樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、
エポキシ樹脂、アミノアルキッド樹脂、メラミン−尿素
共縮合樹脂、珪素樹脂、ポリシロキサン樹脂等が使用さ
れ、これらの樹脂に必要に応じて、架橋剤、重合開始剤
等の硬化剤、重合促進剤、溶剤、粘度調整剤等を加えて
使用する。
[0009] The hard coat layer formed on the surface of the transparent substrate film is a layer showing a hardness of H or more in a pencil hardness test shown in JIS K5400. For the formation of the hard coat layer, it is preferable to use a reaction curable resin, that is, a thermosetting resin and / or an ionizing radiation curable resin. The thermosetting resin, phenol resin, urea resin, diallyl phthalate resin, melamine resin, guanamine resin, unsaturated polyester resin, polyurethane resin,
Epoxy resins, amino alkyd resins, melamine-urea co-condensation resins, silicon resins, polysiloxane resins, and the like are used, and if necessary, a curing agent such as a cross-linking agent, a polymerization initiator, a polymerization accelerator, or a solvent. , A viscosity modifier and the like.

【0010】前記電離放射線硬化型樹脂には、好ましく
は、アクリレート系の官能基を有するもの、例えば、比
較的低分子量のポリエステル樹脂、ポリエーテル樹脂、
アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ウレタン樹脂、アルキッ
ド樹脂、スピロアセタール樹脂、ポリブタジエン樹脂、
ポリチオールポリエン樹脂、多価アルコール等の多官能
化合物の(メタ)アクリレート等のオリゴマー又はプレ
ポリマー及び反応性希釈剤としてエチル(メタ)アクリ
レート、エチルヘキシル(メタ)アクリレート、スチレ
ン、メチルスチレン、N−ビニルピロリドン等の単官能
モノマー並びに多官能モノマー、例えば、トリメチロー
ルプロパントリ(メタ)アクリレート、ヘキサンジオー
ル(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールジ
(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールジ(メ
タ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)
アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)
アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)ア
クリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリ
レート等を比較的多量に含有するものが使用できる。
The ionizing radiation-curable resin preferably has an acrylate-based functional group, for example, a polyester resin or polyether resin having a relatively low molecular weight.
Acrylic resin, epoxy resin, urethane resin, alkyd resin, spiro acetal resin, polybutadiene resin,
Polythiol polyene resin, oligomer or prepolymer of polyfunctional compound such as polyhydric alcohol such as (meth) acrylate, and ethyl (meth) acrylate, ethylhexyl (meth) acrylate, styrene, methylstyrene, N-vinylpyrrolidone as reactive diluent And monofunctional monomers such as trimethylolpropane tri (meth) acrylate, hexanediol (meth) acrylate, tripropylene glycol di (meth) acrylate, diethylene glycol di (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth)
Acrylate, dipentaerythritol hexa (meth)
Those containing relatively large amounts of acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate and the like can be used.

【0011】特に好適には、ポリエステルアクリレート
とポリウレタンアクリレートの混合物が用いられる。そ
の理由は、ポリエステルアクリレートは塗膜が非常に硬
くてハードコートを得るのに適しているが、ポリエステ
ルアクリレート単独ではその塗膜は衝撃性が低く脆くな
るので、塗膜に耐衝撃性及び柔軟性を与えるためにポリ
ウレタンアクリレートを併用する。ポリエステルアクリ
レート100重量部に対するポリウレタンアクリレート
の配合割合は30重量部以下とする。この値を越えると
塗膜が柔らかすぎてハードコート性がなくなってしまう
からである。
Particularly preferably, a mixture of a polyester acrylate and a polyurethane acrylate is used. The reason is that polyester acrylate has a very hard coating and is suitable for obtaining a hard coat.However, polyester acrylate alone has low impact strength and is brittle, so that the coating has high impact resistance and flexibility. To give a polyurethane acrylate. The mixing ratio of the polyurethane acrylate to 100 parts by weight of the polyester acrylate is 30 parts by weight or less. If it exceeds this value, the coating film is too soft and loses the hard coat property.

【0012】更に、上記の電離放射線硬化型樹脂組成物
を紫外線硬化型樹脂組成物とするには、この中に光重合
開始剤として、アセトフェノン類、ベンゾフェノン類、
ミヒラーベンゾイルベンゾエート、α−アミロキシムエ
ステル、テトラメチルチウラムモノサルファイド、チオ
キサントン類や、光増感剤としてn−ブチルアミン、ト
リエチルアミン、トリ−n−ブチルホスフィン等を混合
して用いることができる。特に本発明では、オリゴマー
としてウレタンアクリレート、モノマーとしてジペンタ
エリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート等を混合す
るのが好ましい。
Furthermore, in order to make the above-mentioned ionizing radiation-curable resin composition into an ultraviolet-curable resin composition, acetophenones, benzophenones,
Michler benzoyl benzoate, α-amyloxime ester, tetramethylthiuram monosulfide, thioxanthones, n-butylamine, triethylamine, tri-n-butylphosphine and the like as a photosensitizer can be used in combination. In particular, in the present invention, it is preferable to mix urethane acrylate as an oligomer and dipentaerythritol hexa (meth) acrylate as a monomer.

【0013】電離放射線硬化型樹脂100重量部に対し
溶剤乾燥型樹脂を10重量部以上100重量部以下含ま
せてもよい。前記溶剤乾燥型樹脂には、主として熱可塑
性樹脂が用いられる。電離放射線硬化型樹脂に添加する
溶剤乾燥型熱可塑性樹脂の種類は通常用いられるものが
使用されるが、特に、電離放射線硬化型樹脂にポリエス
テルアクリレートとポリウレタンアクリレートの混合物
を使用した場合には、使用する溶剤乾燥型樹脂にはポリ
メタクリル酸メチルアクリレート又はポリメタクリル酸
ブチルアクリレートが塗膜の硬度を高く保つことができ
る。しかも、この場合、主たる電離放射線硬化型樹脂と
の屈折率が近いので塗膜の透明性を損なわず、透明性、
特に、低ヘイズ値、高透過率、更に相溶性の点において
有利である。
The solvent-drying type resin may be contained in an amount of 10 to 100 parts by weight based on 100 parts by weight of the ionizing radiation-curable resin. As the solvent drying type resin, a thermoplastic resin is mainly used. The type of the solvent-dried thermoplastic resin to be added to the ionizing radiation-curable resin is commonly used, but especially when a mixture of polyester acrylate and polyurethane acrylate is used for the ionizing radiation-curable resin. Polymethyl methacrylate or polybutyl methacrylate can keep the hardness of the coating film high as the solvent-drying type resin. Moreover, in this case, since the refractive index of the main ionizing radiation-curable resin is close, the transparency of the coating film is not impaired.
In particular, it is advantageous in terms of low haze value, high transmittance, and further compatibility.

【0014】上記ハードコート層の上には中屈折率層を
形成する。尚、本発明において高、中、低屈折率という
ときは相対的な表現であり、積層されるそれぞれの層の
相互の関係が高、中、低屈折率であることを意味する。
従って中屈折率層と高屈折率層の形成方法は、両者の屈
折率を調整する以外は同様な方法でよい。これらの中及
び高屈折率の形成方法としては、屈折率の異なるバイン
ダー樹脂中に屈折率の異なる微粒子を分散させた塗料を
用いて形成する方法と、中屈折率層を金属酸化物ゲルか
ら形成し、高屈折率層を電磁波シールド効果の高い酸化
インジウム−酸化スズ(ITO)のスパッタ蒸着により
形成する方法とがある。
A medium refractive index layer is formed on the hard coat layer. In the present invention, the terms “high, middle, and low refractive indices” are relative expressions, and mean that the respective layers to be laminated have a high, middle, and low refractive index.
Therefore, the formation method of the middle refractive index layer and the high refractive index layer may be the same method except that the refractive indexes of both layers are adjusted. As a method of forming these medium and high refractive indexes, there are a method of forming using a paint in which fine particles having different refractive indexes are dispersed in a binder resin having a different refractive index, and a method of forming a medium refractive index layer from a metal oxide gel. Then, there is a method of forming the high refractive index layer by sputtering vapor deposition of indium oxide-tin oxide (ITO) having a high electromagnetic wave shielding effect.

【0015】前者の方法で用いるバインダー樹脂として
は、高屈折率のバインダー樹脂としては、芳香環を含む
樹脂、F以外のハロゲン化元素、例えば、Br、I、C
l等を含む樹脂、S、N、P等の原子を含む樹脂等が挙
げられ、これらの少なくとも一つの条件を満足する樹脂
が高屈折率となるため好ましい。前記の樹脂の例には、
ポリスチレン等のスチロール樹脂、ポリエチレンテレフ
タレート、ポリビニルカルバゾール、ビスフェノールA
のポリカーボネート等が挙げられる。前記の樹脂の他の
例としては、ポリ塩化ビニル、ポリテトラブロモビスフ
ェノールAグリシジルエーテル、ポリビスフェノールS
グリシジルエーテル、ポリビニルピリジン等が挙げられ
る。
As the binder resin used in the former method, as the binder resin having a high refractive index, a resin containing an aromatic ring, a halogen element other than F, for example, Br, I, C
Examples include resins containing l and the like, and resins containing atoms such as S, N, and P. A resin satisfying at least one of these conditions is preferable because it has a high refractive index. Examples of the above resins include:
Styrene resin such as polystyrene, polyethylene terephthalate, polyvinyl carbazole, bisphenol A
And the like. Other examples of the above resins include polyvinyl chloride, polytetrabromobisphenol A glycidyl ether, and polybisphenol S
Glycidyl ether, polyvinyl pyridine and the like can be mentioned.

【0016】上記バインダー樹脂中に分散させる高屈折
率微粒子には、例えば、ZnO(屈折率1.90)、T
iO2(屈折率2.3〜2.7)、CeO2(屈折率1.
95)、Sb25(屈折率1.71)、SnO2、IT
O(屈折率1.95)、Y23(屈折率1.87)、L
23(屈折率1.95)、ZrO2(屈折率2.0
5)、Al23(屈折率1.63)等が挙げられる。こ
れらの高屈折率微粒子のうち、望ましくはZrO2、Z
nO、TiO2、CeO2等を用いることにより、本発明
の反射防止フイルムにUV遮蔽効果が更に付与されるの
で好ましい。
The high refractive index fine particles dispersed in the binder resin include, for example, ZnO (refractive index: 1.90), T
iO 2 (refractive index 2.3 to 2.7), CeO 2 (refractive index 1.
95), Sb 2 O 5 (refractive index 1.71), SnO 2 , IT
O (refractive index 1.95), Y 2 O 3 (refractive index 1.87), L
a 2 O 3 (refractive index 1.95), ZrO 2 (refractive index 2.0
5), Al 2 O 3 (refractive index 1.63) and the like. Among these high refractive index fine particles, ZrO 2 , Z
It is preferable to use nO, TiO 2 , CeO 2, etc., because the antireflection film of the present invention is further provided with a UV shielding effect.

【0017】使用するバインダー樹脂の種類及び該バイ
ンダー樹脂中に分散させる上記微粒子の種類及び量を変
化させることによって中屈折率層用の塗工液、及び中屈
折率層用の塗工液を調整することができる。中屈折率層
層用塗工液は、形成される層の屈折率が1.50〜1.
95であるように組成を決定するのが好ましく、一方、
高屈折率層用塗工液は、形成される層の屈折率が、1.
65〜2.50であるように組成を決定するのが好まし
く、それぞれ中及び高屈折率層を塗布方法により形成す
ることができる。このような塗工方法で形成する中屈折
率層の膜厚は約50〜300nmの範囲が好ましく、一
方、高屈折率層の膜厚は約100〜250nmの範囲が
好ましい。
The coating liquid for the medium refractive index layer and the coating liquid for the medium refractive index layer are adjusted by changing the kind of the binder resin used and the kind and amount of the fine particles dispersed in the binder resin. can do. The coating liquid for the medium refractive index layer has a refractive index of the formed layer of 1.50 to 1.
Preferably, the composition is determined to be 95, while
The coating liquid for a high refractive index layer has a refractive index of 1.
The composition is preferably determined so as to be 65 to 2.50, and the middle and high refractive index layers can be respectively formed by a coating method. The thickness of the medium refractive index layer formed by such a coating method is preferably in the range of about 50 to 300 nm, while the thickness of the high refractive index layer is preferably in the range of about 100 to 250 nm.

【0018】上記バインダー樹脂として電離放射線硬化
型樹脂が使用される場合には、その硬化方法は通常の電
離放射線硬化型樹脂の硬化方法、即ち、電子線又は紫外
線の照射によって硬化することができる。例えば、電子
線硬化の場合にはコックロフトワルトン型、バンデグラ
フ型、共振変圧型、絶縁コア変圧器型、直線型、ダイナ
ミトロン型、高周波型等の各種電子線加速器から放出さ
れる50〜1000KeV、好ましくは100〜300
KeVのエネルギーを有する電子線等が使用され、紫外
線硬化の場合には超高圧水銀灯、高圧水銀灯、低圧水銀
灯、カーボンアーク、キセノンアーク、メタルハライド
ランプ等の光線から発する紫外線等が利用できる。
When an ionizing radiation-curable resin is used as the binder resin, the resin can be cured by a usual method of curing an ionizing radiation-curable resin, that is, by irradiation with an electron beam or ultraviolet rays. For example, in the case of electron beam curing, 50 to 1000 KeV emitted from various electron beam accelerators such as Cockloft-Walton type, Bande graph type, Resonant transformation type, Insulating core transformer type, Linear type, Dynamitron type, High frequency type, Preferably 100 to 300
An electron beam or the like having an energy of KeV is used. In the case of ultraviolet curing, ultraviolet rays emitted from light beams such as an ultra-high pressure mercury lamp, a high pressure mercury lamp, a low pressure mercury lamp, a carbon arc, a xenon arc, and a metal halide lamp can be used.

【0019】中屈折率層を金属酸化物ゲルから形成する
方法の1例としては、低級金属アルコキシドを使用する
方法が挙げられる。この方法では、低級金属アルコキシ
ドR mTi(OR´)n(R及びR´はそれぞれ炭素数1
〜10のアルキル基を表し、m+nは4であり、m及び
nはそれぞれ整数である)又はR mTa(OR´)n(R
及びR´はそれぞれ炭素数1〜10のアルキル基を表
し、m+nは5であり、m及びnはそれぞれ整数であ
る)で表される金属アルコキシドを加水分解して調製し
た金属酸化物ゾルを塗工及び成膜して金属酸化物ゲル層
からなる中屈折率層を形成する。このような塗工方法で
形成する中屈折率層の屈折率は前記と同様な範囲であ
り、その膜厚は約50〜300nmの範囲が好ましい。
The medium refractive index layer is formed from a metal oxide gel.
One example of a method uses a lower metal alkoxide.
Method. In this method, the lower metal alkoxy
De R mTi (OR ')n(R and R ′ each have 1 carbon atom
Represents an alkyl group of from 10 to 10, wherein m + n is 4, m and
n is each an integer) or R mTa (OR ')n(R
And R ′ each represent an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms.
And m + n is 5, and m and n are each integers
Prepared by hydrolyzing a metal alkoxide represented by
Metal oxide gel layer by coating and forming a metal oxide sol
Is formed. With such a coating method
The refractive index of the formed medium refractive index layer is in the same range as described above.
The thickness is preferably in the range of about 50 to 300 nm.

【0020】このような低級金属アルコキシドとして
は、具体的には、チタンテトラエトキシド、チタンテト
ラ−i−プロポキシド、チタンテトラ−n−プロポキシ
ド、チタンテトラ−n−ブトキシド、チタンテトラ−s
ec−ブトキシド、チタンテトラ−tert−ブトキシ
ド、タンタルペンタエトキシド、タンタルペンタ−i−
プロポキシド、タンタルペンタ−n−プロポキシド、タ
ンタルペンタ−n−ブトキシド、タンタルペンタ−se
c−ブトキシド、タンタルペンタ−tert−ブトキシ
ド等が挙げられる。
Specific examples of such lower metal alkoxides include titanium tetraethoxide, titanium tetra-i-propoxide, titanium tetra-n-propoxide, titanium tetra-n-butoxide, titanium tetra-s
ec-butoxide, titanium tetra-tert-butoxide, tantalum pentaethoxide, tantalum penta-i-
Propoxide, tantalum penta-n-propoxide, tantalum penta-n-butoxide, tantalum penta-se
c-butoxide, tantalum penta-tert-butoxide and the like.

【0021】上記金属アルコキシドの加水分解は、上記
金属アルコキシドを適当な溶媒中に溶解して行う。使用
する溶媒としては、例えば、メチルエチルケトン、イソ
プロピルアルコール、メタノール、エタノール、メチル
イソブチルケトン、酢酸エチル、酢酸ブチル等のアルコ
ール、ケトン、エステル類、ハロゲン化炭化水素、トル
エン、キシレン等の芳香族炭化水素、或いはこれらの混
合物が挙げられる。上記金属アルコキシドは上記溶媒中
に、該金属アルコキシドが100%加水分解及び縮合し
たとして生じる金属酸化物換算で0.1重量%以上、好
ましくは0.1〜10重量%になるように溶解する。金
属酸化物ゾルの濃度が0.1重量%未満であると形成さ
れる機能膜が所望の特性が充分に発揮できず、一方、1
0重量%を越えると透明均質膜の形成が困難となる。
又、上記範囲内において、金属酸化物ゲル濃度を変化さ
せることによって、ゲル濃度に比例して、得られるゲル
膜の屈折率を調整することができる。又、本発明におい
ては、以上の固形分以内であるならば、有機物や無機物
バインダーを併用することも可能である。
The hydrolysis of the metal alkoxide is performed by dissolving the metal alkoxide in a suitable solvent. As the solvent used, for example, methyl ethyl ketone, isopropyl alcohol, methanol, ethanol, methyl isobutyl ketone, ethyl acetate, alcohols such as ethyl acetate, ketones, esters, halogenated hydrocarbons, toluene, aromatic hydrocarbons such as xylene, Alternatively, a mixture thereof may be mentioned. The metal alkoxide is dissolved in the solvent in an amount of 0.1% by weight or more, preferably 0.1 to 10% by weight in terms of a metal oxide generated when the metal alkoxide is hydrolyzed and condensed by 100%. When the concentration of the metal oxide sol is less than 0.1% by weight, the functional film formed cannot exhibit desired characteristics sufficiently.
If it exceeds 0% by weight, it becomes difficult to form a transparent homogeneous film.
Further, by changing the metal oxide gel concentration within the above range, the refractive index of the obtained gel film can be adjusted in proportion to the gel concentration. In the present invention, if the solid content is within the above range, an organic or inorganic binder can be used in combination.

【0022】上記アルコキシド溶液に加水分解に必要な
量以上の水を加え、15〜35℃、好ましくは22〜2
8℃の温度で、5〜30時間、好ましくは12〜16時
間撹拌を行う。該加水分解においては、触媒を用いるこ
とが好ましく、これらの触媒としては、塩酸、硝酸、硫
酸、ギ酸、酢酸等の酸が好ましく、これらの酸を約0.
1〜20.0N、好ましくは0.5〜7.0N程度の水
溶液として加え、該水溶液中の水分を加水分解用の水分
とすることができる。加水分解に際して上記範囲におい
て触媒の濃度を変化させることによって、触媒の濃度に
比例して、得られるゲル膜の屈折率を調整することがで
きる。以上の如くして得られた金属酸化物ゾルは、無色
透明な液体であり、ポットライフが約1ケ月の安定な溶
液であり、塗布基材に対して濡れ性が良く、塗布適性に
優れている。
Water is added to the alkoxide solution in an amount not less than the amount required for hydrolysis, and is added at 15 to 35 ° C., preferably 22 to 2 ° C.
Stirring is performed at a temperature of 8 ° C. for 5 to 30 hours, preferably 12 to 16 hours. In the hydrolysis, it is preferable to use catalysts, and as such catalysts, acids such as hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid, formic acid, and acetic acid are preferable.
An aqueous solution of about 1 to 20.0 N, preferably about 0.5 to 7.0 N is added, and the water in the aqueous solution can be used as water for hydrolysis. By changing the concentration of the catalyst in the above range during the hydrolysis, the refractive index of the obtained gel film can be adjusted in proportion to the concentration of the catalyst. The metal oxide sol obtained as described above is a colorless and transparent liquid, is a stable solution having a pot life of about one month, has good wettability to a coating substrate, and has excellent coating suitability. I have.

【0023】更に最終的に得られる中屈折率層を形成す
るゲル膜の屈折率を調整する必要がある場合、例えば、
屈折率を下げるためにフッ素系有機珪素化合物、有機珪
素化合物、硼素系有機化合物等を添加することができ
る。具体的には、テトラエトキシシラン、テトラメトキ
シシラン、テトラプロポキシシラン、テトラブトキシシ
ラン、アルキルトリアルコキシシラン、コルコート40
(コルコート社製)、MS51(三菱化学製)、スノー
テックス(日産化学製)等の有機珪素化合物、ザフロン
FC−110,220,250(東亜合成化学製)、セ
クラルコートA−402B(セントラル硝子製)、ヘプ
タデカフルオロデシルトリメトキシシラン、トリデカフ
ルオロオクチルトリメトキシシラン、トリフルオロプロ
ピルトリメトキシシラン等のフッ素化合物、硼酸トリエ
チル、硼酸トリメチル、硼酸トリプロピル、硼酸トリブ
チル等の硼素系化合物が挙げられる。これらの添加剤は
金属酸化物ゾルの調製時に加えてもよいし、金属酸化物
ゾルの形成後に加えてもよい。
Further, when it is necessary to adjust the refractive index of the gel film forming the finally obtained intermediate refractive index layer, for example,
To lower the refractive index, a fluorine-based organic silicon compound, an organic silicon compound, a boron-based organic compound, or the like can be added. Specifically, tetraethoxysilane, tetramethoxysilane, tetrapropoxysilane, tetrabutoxysilane, alkyl trialkoxysilane, colcoat 40
Organic silicon compounds such as MS51 (manufactured by Mitsubishi Chemical) and Snowtex (manufactured by Nissan Chemical), Zafflon FC-110, 220, 250 (manufactured by Toa Gosei Chemical), sexual coat A-402B (manufactured by Central Glass) And fluorine compounds such as heptadecafluorodecyltrimethoxysilane, tridecafluorooctyltrimethoxysilane and trifluoropropyltrimethoxysilane, and boron compounds such as triethyl borate, trimethyl borate, tripropyl borate and tributyl borate. These additives may be added at the time of preparing the metal oxide sol, or may be added after the formation of the metal oxide sol.

【0024】屈折率を上げるためには、加える触媒の濃
度、水の量、固形分濃度を変化させる必要があり、これ
らを上げることによって屈折率が高くなる傾向にある。
これらの添加剤を用いることによって、金属アルコキシ
ドの加水分解時、或いはその後にゲルの水酸基と反応し
て更に均一で透明なゾル溶液が得られ、且つ形成される
ゲル膜の屈折率をある程度の範囲で変化させることがで
きる。前記金属酸化物ゾルの塗布方法としては、スピン
コート法、ディップ法、スプレー法、ロールコーター
法、メニスカスコーター法、フレキソ印刷法、スクリー
ン印刷法、ビードコーター法等が挙げられる。
In order to increase the refractive index, it is necessary to change the concentration of the catalyst to be added, the amount of water, and the concentration of the solid content. The refractive index tends to be increased by increasing these.
By using these additives, a metal alkoxide is hydrolyzed, or thereafter, reacts with hydroxyl groups of the gel to obtain a more uniform and transparent sol solution, and the refractive index of the formed gel film is within a certain range. Can be changed. Examples of the method for applying the metal oxide sol include a spin coating method, a dip method, a spray method, a roll coater method, a meniscus coater method, a flexographic printing method, a screen printing method, and a bead coater method.

【0025】その後塗布物を加熱処理及び/又は活性エ
ネルギー線照射処理することにより、金属酸化物ゲル膜
を形成する。上記ゾル溶液を塗布後に行う塗布層の熱処
理は、前記透明基材フイルムの熱変形温度以下の温度で
行う。例えば、透明基材フイルムがポリエチレンテレフ
タレートフイルムである場合には、約80〜150℃の
温度で約1分〜1時間熱処理を行って金属酸化物ゲル膜
を形成することができる。このような熱処理条件は、使
用する透明基材フイルムの種類及び厚みによって異なる
ので、使用する透明基材フイルムの種類に応じて決定す
ればよい。上記熱処理は、空気を酸素で置換しながら、
或いは十分な酸素雰囲気中で行うことが好ましく、酸素
雰囲気中で行うことにより金属酸化物ゲルの生成、重合
・縮合が促進され、より均質且つ高品質のゲル層を形成
することができる。
Thereafter, the coated material is subjected to a heat treatment and / or an active energy ray irradiation treatment to form a metal oxide gel film. The heat treatment of the coating layer performed after the application of the sol solution is performed at a temperature equal to or lower than the thermal deformation temperature of the transparent base film. For example, when the transparent substrate film is a polyethylene terephthalate film, the metal oxide gel film can be formed by performing a heat treatment at a temperature of about 80 to 150 ° C. for about 1 minute to 1 hour. Since such heat treatment conditions vary depending on the type and thickness of the transparent base film to be used, it may be determined according to the type of the transparent base film to be used. The above heat treatment, while replacing the air with oxygen,
Alternatively, the reaction is preferably performed in a sufficient oxygen atmosphere. By performing the reaction in an oxygen atmosphere, generation, polymerization, and condensation of the metal oxide gel are promoted, and a more uniform and high-quality gel layer can be formed.

【0026】上記ゾル溶液を塗布後に用いる活性エネル
ギー線としては、電子線又は紫外線が挙げられ、特に電
子線が好ましい。例えば、電子線硬化の場合にはコック
ロフトワルトン型、バンデグラフ型、共振変圧型、絶縁
コア変圧器型、直線型、ダイナミトロン型、高周波型等
の各種電子線加速機から放出される50〜1,000K
eV、好ましくは100〜300KeVのエネルギーを
有する電子線が使用され、紫外線硬化の場合には超高圧
水銀灯、高圧水銀灯、低圧水銀灯、カーボンアーク、キ
セノンアーク、メタルハライドランプ等の光源から発す
る紫外線等が利用される。活性エネルギー線の総照射量
として、活性エネルギー線が電子線である場合に0.5
Mrad以上、好ましくは0.5〜50Mradの範囲
が好ましい。
The active energy beam used after the application of the sol solution includes an electron beam or an ultraviolet ray, and an electron beam is particularly preferable. For example, in the case of electron beam curing, 50 to 1 emitted from various electron beam accelerators such as Cockloft-Walton type, Bande graph type, Resonant transformation type, Insulating core transformer type, Linear type, Dynamitron type, High frequency type, etc. 2,000K
An electron beam having an energy of eV, preferably 100 to 300 KeV is used. In the case of ultraviolet curing, ultraviolet rays emitted from a light source such as an ultra-high pressure mercury lamp, a high pressure mercury lamp, a low pressure mercury lamp, a carbon arc, a xenon arc, and a metal halide lamp are used. Is done. When the active energy beam is an electron beam, the total irradiation amount of the active energy beam is 0.5.
Mrad or more, preferably in the range of 0.5 to 50 Mrad.

【0027】電子線照射は、空気を酸素で置換しなが
ら、或いは十分な酸素雰囲気中で行うことが好ましく、
酸素雰囲気中で行うことにより金属酸化物の生成、重合
・縮合が促進され、より均質且つ高品質のゲル層を形成
することができる。高屈折率層をアンチモンがドープさ
れたSnO或いはITOを用いて形成する場合には、
従来公知のスパッタ蒸着方法等が任意に使用可能であ
る。このように形成する高屈折率層の屈折率は前記と同
様な範囲であり、その膜厚は約100〜250nmの範
囲が好ましい。このように高屈折率層をアンチモンがド
ープされたSnO或いはITOを用いて形成すること
により、得られる反射防止フイルムの電気伝導性が向上
し、帯電防止効果によるホコリの付着防止、或いは本発
明の反射防止フイルムをCRTに用いた場合の電磁波シ
ールド効果が得られるので好ましい。
The electron beam irradiation is preferably performed while replacing air with oxygen or in a sufficient oxygen atmosphere.
By performing the reaction in an oxygen atmosphere, generation, polymerization and condensation of the metal oxide are promoted, and a more uniform and high quality gel layer can be formed. When the high refractive index layer is formed using antimony-doped SnO 2 or ITO,
A conventionally known sputter deposition method or the like can be arbitrarily used. The refractive index of the high refractive index layer thus formed is in the same range as described above, and its thickness is preferably in the range of about 100 to 250 nm. By forming the high refractive index layer using antimony-doped SnO 2 or ITO as described above, the electrical conductivity of the obtained anti-reflection film is improved, and the anti-reflection film is used to prevent dust from adhering. It is preferable because an electromagnetic wave shielding effect can be obtained when the antireflection film is used for a CRT.

【0028】本発明では、上記高屈折率層面に低屈折率
層を形成する。この低屈折率層は所謂ゾル−ゲル法によ
って形成されるSiO2ゲル層である。該SiO2ゲル層
の形成に使用する低級珪素アルコキシドは、RmSi
(OR´)nで表される化合物であり、ここでR及びR
´はそれぞれ炭素数1〜10のアルキル基を表し、m+
nは4である。更に具体的には、テトラメトキシシラ
ン、テトラエトキシシラン、テトラ−iso−プロポキ
シシラン、テトラ−n−プロポキシシラン、テトラ−n
−ブトキシシラン、テトラ−sec−ブトキシシラン、
テトラ−tert−ブトキシシラン、テトラペンタエト
キシシラン、テトラペンタ−iso−プロポキシシラ
ン、テトラペンタ−n−プロポキシシラン、テトラペン
タ−n−ブトキシシラン、テトラペンタ−sec−ブト
キシシラン、テトラペンタ−tert−ブトキシシラ
ン、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシ
ラン、メチルトリプロポキシシラン、メチルトリブトキ
シシラン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエト
キシシラン、ジメチルエトキシシラン、ジメチルメトキ
シシラン、ジメチルプロポキシシラン、ジメチルブトキ
シシラン、メチルジメトキシシラン、メチルジエトキシ
シラン、ヘキシルトリメトキシシラン等が挙げられる。
In the present invention, a low refractive index layer is formed on the high refractive index layer. This low refractive index layer is a SiO 2 gel layer formed by a so-called sol-gel method. The lower silicon alkoxide used for forming the SiO 2 gel layer is R m Si
(OR ′) n is a compound represented by n
'Represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, and m +
n is 4. More specifically, tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, tetra-iso-propoxysilane, tetra-n-propoxysilane, tetra-n
-Butoxysilane, tetra-sec-butoxysilane,
Tetra-tert-butoxysilane, tetrapentaethoxysilane, tetrapenta-iso-propoxysilane, tetrapenta-n-propoxysilane, tetrapenta-n-butoxysilane, tetrapenta-sec-butoxysilane, tetrapenta-tert-butoxysilane, methyltrimethoxy Silane, methyltriethoxysilane, methyltripropoxysilane, methyltributoxysilane, dimethyldimethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, dimethylethoxysilane, dimethylmethoxysilane, dimethylpropoxysilane, dimethylbutoxysilane, methyldimethoxysilane, methyldiethoxysilane And hexyltrimethoxysilane.

【0029】上記珪素アルコキシドの加水分解は、上記
珪素アルコキシドを適当な溶媒中に溶解して行う。使用
する溶媒としては、例えば、メチルエチルケトン、イソ
プロピルアルコール、メタノール、エタノール、メチル
イソブチルケトン、酢酸エチル、酢酸ブチル等のアルコ
ール、ケトン、エステル類、ハロゲン化炭化水素、トル
エン、キシレン等の芳香族炭化水素、或いはこれらの混
合物が挙げられる。上記アルコキシドは上記溶媒中に、
該アルコキシドが100%加水分解及び縮合したとして
生じるSiO2換算で0.1重量%以上、好ましくは
0.1〜10重量%になるように溶解する。SiO2
ルの濃度が0.1重量%未満であると形成される機能膜
が所望の特性が充分に発揮できず、一方、10重量%を
越えると透明均質膜の形成が困難となる。又、本発明に
おいては、以上の固形分以内であるならば、有機物や無
機物バインダーを併用することも可能である。
The hydrolysis of the silicon alkoxide is performed by dissolving the silicon alkoxide in a suitable solvent. As the solvent used, for example, methyl ethyl ketone, isopropyl alcohol, methanol, ethanol, methyl isobutyl ketone, ethyl acetate, alcohols such as ethyl acetate, ketones, esters, halogenated hydrocarbons, toluene, aromatic hydrocarbons such as xylene, Alternatively, a mixture thereof may be mentioned. The alkoxide in the solvent,
The alkoxide is dissolved in an amount of 0.1% by weight or more, preferably 0.1 to 10% by weight in terms of SiO 2, which is generated as a result of 100% hydrolysis and condensation. If the concentration of the SiO 2 sol is less than 0.1% by weight, the functional film formed cannot exhibit desired properties sufficiently, while if it exceeds 10% by weight, it becomes difficult to form a transparent homogeneous film. In the present invention, if the solid content is within the above range, an organic or inorganic binder can be used in combination.

【0030】この溶液に加水分解に必要な量以上の水を
加え、15〜35℃、好ましくは22〜28℃の温度
で、5〜30時間、好ましくは12〜16時間撹拌を行
う。上記加水分解においては、触媒を用いることが好ま
しく、これらの触媒としては、塩酸、硝酸、硫酸又は酢
酸等の酸が好ましく、これらの酸を約0.001〜2
0.0N、好ましくは0.005〜5.0N程度の水溶
液として加え、該水溶液中の水分を加水分解用の水分と
することができる。
Water is added to the solution in an amount not less than the amount required for hydrolysis, and the mixture is stirred at a temperature of 15 to 35 ° C., preferably 22 to 28 ° C., for 5 to 30 hours, preferably 12 to 16 hours. In the above-mentioned hydrolysis, it is preferable to use a catalyst, and as such a catalyst, an acid such as hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid or acetic acid is preferable.
It is added as an aqueous solution of 0.0N, preferably about 0.005 to 5.0N, and the water in the aqueous solution can be used as the water for hydrolysis.

【0031】以上の如くして得られたSiO2ゾルは、
無色透明な液体であり、ポットライフが約1ケ月の安定
な溶液であり、透明基材フイルムに対して濡れ性が良
く、塗布適性に優れている。上記SiO2ゾル溶液に
は、各種の添加剤を添加することができる。最も重要な
添加剤としては、成膜を促進する硬化剤が挙げられ、こ
れらの硬化剤としては、酢酸ナトリウム、酢酸リチウム
等の有機酸金属塩の酢酸、ギ酸等の有機酸溶液が挙げら
れる。該有機溶剤溶液の濃度は約0.01〜0.1重量
%程度であり、ゾル溶液に対する添加量は、ゾル溶液中
に存在するSiO2100重量部に対して上記有機酸塩
として約0.1〜1重量部程度の範囲が好ましい。
The SiO 2 sol obtained as described above is
It is a colorless and transparent liquid, is a stable solution with a pot life of about one month, has good wettability to the transparent substrate film, and is excellent in application suitability. Various additives can be added to the SiO 2 sol solution. The most important additives include curing agents that promote film formation, and examples of these curing agents include organic acid solutions of organic acid metal salts such as sodium acetate and lithium acetate, such as acetic acid and formic acid. The concentration of the organic solvent solution is about 0.01 to 0.1% by weight, and the amount of the organic acid salt is about 0.1 to 100 parts by weight of SiO 2 present in the sol solution. The range is preferably about 1 to 1 part by weight.

【0032】更に最終的に得られるSiO2ゲル膜は反
射防止フィルムの低屈折率層となるが、その屈折率を調
整する必要がある場合もある。例えば、屈折率を下げる
ためにフッ素系有機珪素化合物、屈折率を高めるために
有機珪素化合物、屈折率を更に高めるために硼素系有機
化合物等を添加することができる。具体的には、テトラ
エトキシシラン、テトラメトキシシラン、テトラプロポ
キシシラン、テトラブトキシシラン、アルキルトリアル
コキシシラン、コルコート40(コルコート社製)、M
S51(三菱化学製)、スノーテックス(日産化学製)
等の有機珪素化合物、ザフロンFC−110,220,
250(東亜合成化学製)、セクラルコートA−402
B(セントラル硝子製)、ヘプタデカフルオロデシルト
リメトキシシラン、トリデカフルオロオクチルトリメト
キシシラン、トリフルオロプロピルトリメトキシシラン
等のフッ素化合物、硼酸トリエチル、硼酸トリメチル、
硼酸トリプロピル、硼酸トリブチル等の硼素系化合物が
挙げられる。これらの添加剤はSiO2ゾルの調製時に
加えてもよいし、SiO2ゾルの形成後に加えてもよ
い。これらの添加剤を用いることによって、珪素アルコ
キシドの加水分解時、或いはその後にシラノール基と反
応して更に均一で透明なゾル溶液が得られ、且つ形成さ
れるゲル膜の屈折率をある程度の範囲で変化させること
ができる。
Furthermore, the finally obtained SiO 2 gel film becomes a low refractive index layer of the antireflection film, but it may be necessary to adjust the refractive index in some cases. For example, a fluorine-based organic silicon compound can be added to lower the refractive index, an organic silicon compound can be added to increase the refractive index, and a boron-based organic compound can be added to further increase the refractive index. Specifically, tetraethoxysilane, tetramethoxysilane, tetrapropoxysilane, tetrabutoxysilane, alkyl trialkoxysilane, Colcoat 40 (manufactured by Colcoat), M
S51 (Mitsubishi Chemical), Snowtex (Nissan Chemical)
Organic silicon compounds such as Zafflon FC-110, 220,
250 (manufactured by Toa Gosei Chemical), sexual coat A-402
B (manufactured by Central Glass), a fluorine compound such as heptadecafluorodecyltrimethoxysilane, tridecafluorooctyltrimethoxysilane, trifluoropropyltrimethoxysilane, triethyl borate, trimethyl borate,
And boron-based compounds such as tripropyl borate and tributyl borate. These additives may be added during the preparation of the SiO 2 sol may be added after the formation of the SiO 2 sol. By using these additives, a more uniform and transparent sol solution is obtained by reacting with the silanol group during or after the hydrolysis of the silicon alkoxide, and the refractive index of the formed gel film is within a certain range. Can be changed.

【0033】前記SiO2ゾルを、前記高屈折率層の表
面に対し、塗布法を用いて塗布する。SiO2ゾルの高
屈折率層への塗布方法及び硬化方法は、前記金属酸化物
ゾルの場合と同様である。
The SiO 2 sol is applied to the surface of the high refractive index layer by using a coating method. The method for applying the SiO 2 sol to the high refractive index layer and the method for curing the same are the same as those for the metal oxide sol.

【0034】[0034]

【実施例】次に実施例及び比較例を挙げて本発明を更に
具体的に説明する。実施例1 メチルトリエトキシシラン(MTEOS)が理想的にS
iO2又はMeSiO1.5に加水分解及び縮合したと仮定
した時の固形分濃度が3重量%となるように、MTEO
Sを溶媒であるメチルエチルケトンに溶解し、液温が2
5℃に安定する迄30分間攪拌した(A液)。A液中
に、触媒である濃度0.005Nの塩酸をMTEOSの
アルコキシド基と等モル量加え、25℃で3時間加水分
解を行った(B液)。このB液に硬化剤として酢酸ナト
リウムと酢酸とを混合したものを加え、25℃で1時間
攪拌し、SiO2ゾル溶液を得た。
Next, the present invention will be described more specifically with reference to examples and comparative examples. Example 1 Methyltriethoxysilane (MTEOS) is ideally S
The MTEO is adjusted so that the solid content concentration becomes 3% by weight when it is assumed that the solid content is hydrolyzed and condensed to iO 2 or MeSiO 1.5.
S was dissolved in methyl ethyl ketone, a solvent, and the solution temperature was 2
The mixture was stirred for 30 minutes until it was stabilized at 5 ° C (Solution A). Hydrochloride having a concentration of 0.005 N as a catalyst was added to Solution A in an equimolar amount to the alkoxide group of MTEOS, and hydrolysis was performed at 25 ° C. for 3 hours (solution B). A mixture of sodium acetate and acetic acid as a curing agent was added to the solution B, and the mixture was stirred at 25 ° C. for 1 hour to obtain a SiO 2 sol solution.

【0035】表面が平滑なPETフイルム(ルミラーT
−60:商品名、ダイヤホイル株式会社製、厚さ50μ
m)上にZrO2超微粒子(No.926:商品名、住
友大阪セメント製、屈折率1.9)の分散液を7μm/
dryになるようにスライドコートにより塗工し、電子
線を加速電圧175KeVで5Mrad照射して塗膜を
硬化して中屈折率層を形成した。得られたPETフイル
ムの中屈折率層上にハードコート樹脂(X−12−24
00:商品名、信越化学工業製)を7μm/dryにな
るようにグラビアリバースコートにより塗工し、電子線
を加速電圧175KeVで5Mrad照射して塗膜を硬
化してハードコート層を形成した。
PET film having a smooth surface (Lumirror T
-60: trade name, manufactured by Diafoil Co., Ltd., thickness 50μ
m), a dispersion of ultra-fine particles of ZrO 2 (No. 926: trade name, manufactured by Sumitomo Osaka Cement, refractive index: 1.9) was placed at 7 μm /
A dry coating was applied by slide coating, and an electron beam was irradiated at an acceleration voltage of 175 KeV at 5 Mrad to cure the coating and form a medium refractive index layer. A hard coat resin (X-12-24) was formed on the middle refractive index layer of the obtained PET film.
00: trade name, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) was applied by gravure reverse coating so as to be 7 μm / dry, and an electron beam was irradiated at an acceleration voltage of 175 KeV for 5 Mrad to cure the coating film to form a hard coat layer.

【0036】得られたハードコート層上に2液硬化型接
着剤(LX660、KW75:商品名、大日本インキ
製)をグラビアリバースコートにより塗工して接着剤層
を形成し、次いでこの接着剤層を介してPETフイルム
(A−4300:商品名、東洋紡製、厚さ100μm)
をラミネートし、40℃で4日間エージングした後、上
記PETフイルム(T−60)を剥離して、ハードコー
ト層及び中屈折率層をPETフイルム(A−4300)
上に転写させた。得られたPETフイルム(A−430
0)の中屈折率層上に、高屈折率層として、透明導電性
を有し電磁波シールド効果の高い酸化インジウム−酸化
スズ(ITO)層を膜厚が145nmになるようにスパ
ッタ蒸着により形成した。
A two-component curable adhesive (LX660, KW75: trade name, manufactured by Dainippon Ink) is applied on the obtained hard coat layer by gravure reverse coating to form an adhesive layer, and then the adhesive is formed. PET film (A-4300: trade name, manufactured by Toyobo, thickness 100 μm) through the layer
After aging at 40 ° C. for 4 days, the PET film (T-60) was peeled off to form a hard coat layer and a medium refractive index layer on the PET film (A-4300).
Transferred to the top. The obtained PET film (A-430)
0) On the middle refractive index layer, as a high refractive index layer, an indium oxide-tin oxide (ITO) layer having transparency and high electromagnetic wave shielding effect was formed by sputter deposition so as to have a film thickness of 145 nm. .

【0037】得られたPETフイルム(A−4300)
の高屈折率層(ITO層)上に、更に上記SiO2ゾル
溶液を膜厚0.1μm/dryとなるように塗工し、1
20℃で1時間の熱処理を行い、本発明の反射防止フイ
ルムを得た。得られた本発明の反射防止フイルムの全光
線透過率は94.0%、ヘイズ値は0.5、可視光線の
波長領域での最低反射率は0.2であり、反射防止性に
優れていた。また、その表面鉛筆硬度が3Hであり、ハ
ードコート性にも優れていた。
The PET film obtained (A-4300)
Of on the high refractive index layer (ITO layer) was coated so as to further comprising the SiO 2 sol solution and film thickness 0.1 [mu] m / dry, 1
Heat treatment was performed at 20 ° C. for 1 hour to obtain an antireflection film of the present invention. The obtained antireflection film of the present invention has a total light transmittance of 94.0%, a haze value of 0.5, and a minimum reflectance in the visible light wavelength region of 0.2, and is excellent in antireflection properties. Was. The surface pencil hardness was 3H, and the hard coat property was excellent.

【0038】実施例2 テトラブトキシチタン(Ti(OC49)が理想的
にTiOに加水分解及び縮合したと仮定したときの固
形分濃度が3重量%となるように、Ti(OC49
を溶媒であるエチルセロソルブに溶解し、液温が25℃
に安定する迄30分間撹拌した(C液)。C液中に、触
媒である3Nの塩酸を(Ti(OC49)のアルコ
キシド基に対して2.5倍モル量加え、25℃で3時
間、加水分解を行いTiOゾル溶液を得た。
Example 2 Assuming that tetrabutoxytitanium (Ti (OC 4 H 9 ) 4 ) is ideally hydrolyzed and condensed to TiO 2 , Ti ( OC 4 H 9 ) 4
Was dissolved in a solvent, ethyl cellosolve, and the solution temperature was 25 ° C.
The mixture was stirred for 30 minutes until it became stable (liquid C). To the solution C, 3N hydrochloric acid as a catalyst was added in a 2.5-fold molar amount with respect to the alkoxide group of (Ti (OC 4 H 9 ) 4 ), and the mixture was hydrolyzed at 25 ° C. for 3 hours to perform TiO 2 sol I got

【0039】透明基材フイルムとして厚さ50μmのP
ETフイルム(ルミラーT−60)を用意した。一方、
上記TiOゾル溶液を、上記PETフイルム上に乾燥
後の膜厚が0.1μm/dryになるようにグラビアリ
バースコートにより塗工し、120℃で1時間熱処理を
行い、中屈折率層(屈折率1.9)を形成した。この中
屈折率層上にハードコート樹脂(PPZ−N−200
0:商品名、大阪共栄化学社製)を7μm/dryにな
るようにグラビアリバースコートにより塗工し、電子線
を加速電圧175KeVで5Mrad照射して塗膜を硬
化させ、ハードコート層を形成した。
As a transparent substrate film, a 50 μm thick P
An ET film (Lumilar T-60) was prepared. on the other hand,
The TiO 2 sol solution is coated on the PET film by gravure reverse coating so that the film thickness after drying becomes 0.1 μm / dry, and heat-treated at 120 ° C. for 1 hour to form a medium refractive index layer (refractive layer). Rate 1.9). A hard coat resin (PPZ-N-200) is formed on the middle refractive index layer.
0: trade name, manufactured by Osaka Kyoei Chemical Co., Ltd.) was applied by gravure reverse coating so as to be 7 μm / dry, and the coating was cured by irradiating an electron beam with 5 Mrad at an acceleration voltage of 175 KeV to form a hard coat layer. .

【0040】このハードコート層上に2液硬化型接着剤
(LX660、KW75(硬化剤):商品名、大日本イ
ンキ化学工業製)をグラビアリバースコートにより塗工
して接着剤層を形成した。次いで、この接着剤層を介し
てPETフイルム(A−4300)をラミネートし、4
0℃で4日間エージングした後、上記PETフイルム
(T−60)を剥離して、ハードコート層及び中屈折率
層をPETフイルム(A−4300)上に転写させた。
得られたPETフイルム(A−4300)上の中屈折率
層上に、高屈折率層として、透明導電性を有し電磁波シ
ールド効果の高い酸化インジウム−酸化スズ(ITO)
層を膜厚が145nmになるようにスパッタ蒸着により
形成した。
A two-component curable adhesive (LX660, KW75 (curing agent), trade name, manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.) was applied on the hard coat layer by gravure reverse coating to form an adhesive layer. Next, a PET film (A-4300) was laminated through this adhesive layer,
After aging at 0 ° C. for 4 days, the PET film (T-60) was peeled off, and the hard coat layer and the middle refractive index layer were transferred onto the PET film (A-4300).
Indium oxide-tin oxide (ITO) having a transparent conductivity and a high electromagnetic wave shielding effect as a high refractive index layer on the medium refractive index layer on the obtained PET film (A-4300).
The layer was formed by sputter deposition to a thickness of 145 nm.

【0041】得られたPETフイルム(A−4300)
の高屈折率層(ITO層)上に、更にSiOゾル溶液
(C液)を膜厚0.1μm/dryとなるように塗工
し、120℃で1時間の熱処理を行い、本発明の反射防
止フイルムを得た。得られた本発明の反射防止フイルム
の全光線透過率は94.0%、ヘイズ値は0.7、可視
光線の波長領域での最低反射率は0.3であり、反射防
止性に優れていた。
Obtained PET film (A-4300)
Of on the high refractive index layer (ITO layer), further SiO 2 sol solution (C solution) was coated to a thickness of 0.1 [mu] m / dry, heat treatment is performed for 1 hour at 120 ° C., the present invention An anti-reflection film was obtained. The obtained antireflection film of the present invention has a total light transmittance of 94.0%, a haze value of 0.7, and a minimum reflectance in the visible light wavelength region of 0.3, and is excellent in antireflection properties. Was.

【0042】比較例1 前記実施例1の反射防止フイルムにおいて、真空蒸着法
により形成したSiOX膜を低屈折率層とした場合に
は、得られた反射防止フイルムの全光線透過率は94.
0%、ヘイズ値は0.6であり、反射防止性が前記各実
施例と同等であるが、その表面鉛筆硬度が2Hであり、
同様に前記各実施例に比較して低下している。
[0042] In the antireflection film of Comparative Example 1 Example 1, in the case where the SiO X film formed between the low refractive index layer by a vacuum deposition method, the total light transmittance of the obtained anti-reflection film 94.
0%, the haze value was 0.6, and the antireflection property was the same as that of each of the above Examples, but the surface pencil hardness was 2H,
Similarly, the values are lower than those of the above embodiments.

【0043】比較例2 前記実施例2の反射防止フイルムにおいて、真空蒸着法
により形成したSiO膜を低屈折率層とした場合に
は、得られた反射防止フイルムの全光線透過率は93.
5%、ヘイズ値は0.8であり、反射防止性が前記実施
例と比較して劣っている。又、その表面鉛筆硬度が2H
であり、同様に前記各実施例に比較して低下している。
Comparative Example 2 In the antireflection film of Example 2, when the SiO X film formed by the vacuum evaporation method was used as the low refractive index layer, the total light transmittance of the obtained antireflection film was 93.
The haze value was 5%, and the antireflection property was inferior to those of the above examples. The surface pencil hardness is 2H
Similarly, it is lower than that of each of the above embodiments.

【0044】[0044]

【発明の効果】以上の如く、本発明によれば、低級珪素
アルコキシドを加水分解して、数ナノメートルの微粒子
をゾル−ゲル法によって調製し、この超微粒子が分散し
ているゾル溶液を、透明基材フイルムの面にハードコー
ト層及び中屈折率層を介して形成した高屈折率層に塗布
後、透明基材フイルムの熱変形温度以下の温度で熱処理
するか或いは電離放射線を照射してSiO2ゲル層を形
成することにより、プラスチック基材等の如く熱変形温
度が低温である基材にも反射防止フイルムの形成が可能
であり、又、気相法により得られる薄膜の性能とほぼ同
様な性能を有する薄膜が得られる。
As described above, according to the present invention, the lower silicon alkoxide is hydrolyzed to prepare fine particles of several nanometers by the sol-gel method, and the sol solution in which the ultrafine particles are dispersed is obtained. After applying to the high refractive index layer formed through the hard coat layer and the medium refractive index layer on the surface of the transparent substrate film, heat-treat at a temperature not higher than the thermal deformation temperature of the transparent substrate film or irradiate with ionizing radiation. By forming a SiO 2 gel layer, it is possible to form an anti-reflection film even on a substrate having a low heat deformation temperature, such as a plastic substrate, and has almost the same performance as a thin film obtained by a gas phase method. A thin film having similar performance is obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の反射防止性光学的機能膜の断面を説
明する図。
FIG. 1 is a diagram illustrating a cross section of an antireflection optical functional film of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:透明基材フイルム 2:ハードコート層 3:高屈折率層 4:低屈折率層であるSiO2ゲル層 5:中屈折率層1: transparent base film 2: hard coat layer 3: high refractive index layer 4: SiO 2 gel layer as a low refractive index layer 5: medium refractive index layer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 B32B 27/36 B32B 27/36 C23C 14/08 C23C 14/08 N G02B 1/11 G02B 1/10 A ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Agency reference number FI Technical display location B32B 27/36 B32B 27/36 C23C 14/08 C23C 14/08 N G02B 1/11 G02B 1/10 A

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 透明基材フイルムの面に、直接又は他の
層を介してハードコート層、中屈折率層、高屈折率層及
び低屈折率層をこの記載の順序で積層してなる反射防止
フイルムにおいて、上記低屈折率層が、R mSi(OR
´)n(R及びR´はそれぞれ炭素数1〜10のアルキ
ル基を表し、m+nは4であり、m及びnはそれぞれ整
数である)で表される珪素アルコキシドを加水分解して
調製したSiO2ゾルからなるSiO2ゲル層であること
を特徴とする反射防止フイルム。
1. The method according to claim 1, wherein the surface of the transparent substrate film is directly or other
Hard coat layer, middle refractive index layer, high refractive index layer and
Anti-reflection by laminating low refractive index layers in this order
In the film, the low refractive index layer has mSi (OR
´)n(R and R ′ each represent an alkyl having 1 to 10 carbon atoms.
M + n is 4, and m and n are each an integer
Hydrolyze the silicon alkoxide represented by
Prepared SiOTwoSiO consisting of solTwoBe a gel layer
An anti-reflection film characterized by the following.
【請求項2】 低屈折率層の屈折率が1.38〜1.4
6である請求項1に記載の反射防止フイルム。
2. The low refractive index layer has a refractive index of 1.38 to 1.4.
6. The anti-reflection film according to claim 1, wherein
【請求項3】 中屈折率層が、低級金属アルコキシドR
mTi(OR´)n(R及びR´はそれぞれ炭素数1〜1
0のアルキル基を表し、m+nは4であり、m及びnは
それぞれ整数である)又はR mTa(OR´)n(R及び
R´は炭素数1〜10のアルキル基を表し、m+nは5
であり、m及びnはそれぞれ整数である)で表される金
属アルコキシドを加水分解して調製した金属酸化物ゾル
からなる金属酸化物ゲル層である請求項1に記載の反射
防止フイルム。
3. The method according to claim 1, wherein the middle refractive index layer comprises a lower metal alkoxide R
mTi (OR ')n(R and R ′ each have 1 to 1 carbon atoms.
Represents an alkyl group of 0, m + n is 4, and m and n are
Each is an integer) or R mTa (OR ')n(R and
R ′ represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, and m + n is 5
And m and n are each an integer)
Oxide sol prepared by hydrolyzing genus alkoxide
The reflection according to claim 1, wherein the reflection layer is a metal oxide gel layer composed of:
Prevention film.
【請求項4】 中屈折率層の屈折率が1.50〜1.9
5である請求項3に記載の反射防止フイルム。
4. A medium refractive index layer having a refractive index of 1.50 to 1.9.
The antireflection film according to claim 3, wherein
【請求項5】 高屈折率層が透明導電性を有し、電磁波
シールド効果の高い酸化インジウム−酸化スズ(IT
O)のスパッタ蒸着により形成された請求項1に記載の
反射防止フイルム。
5. The indium oxide-tin oxide (IT) in which the high refractive index layer has a transparent conductivity and has a high electromagnetic wave shielding effect.
2. The antireflection film according to claim 1, which is formed by O) sputter deposition.
【請求項6】 高屈折率層の屈折率が、1.65〜2.
50である請求項1に記載の反射防止フイルム。
6. The high refractive index layer has a refractive index of 1.65 to 2.
2. The anti-reflection film according to claim 1, wherein the number is 50.
【請求項7】 透明基材フイルムの面に、直接又は他の
層を介してハードコート層、中屈折率層、高屈折率層及
び低屈折率層をこの記載の順序で積層することからなる
反射防止フイルムの製造方法において、上記低屈折率層
を、R mSi(OR´)n(R及びR´はそれぞれ炭素数
1〜10のアルキル基を表し、m+nは4であり、m及
びnはそれぞれ整数である)で表される珪素アルコキシ
ドを加水分解して調製したSiO2ゾルからSiO2ゲル
層として形成することを特徴とする反射防止フイルムの
製造方法。
7. The method according to claim 7, wherein the transparent substrate film is directly or other
Hard coat layer, middle refractive index layer, high refractive index layer and
And a low-refractive-index layer in the order described.
In the method for producing an antireflection film, the low refractive index layer
And R mSi (OR ')n(R and R 'are each carbon atoms
Represents an alkyl group of 1 to 10, wherein m + n is 4,
And n are each an integer)
SiO prepared by hydrolysis ofTwoSol to SiOTwogel
Of an anti-reflection film characterized by being formed as a layer
Production method.
【請求項8】 低屈折率層の屈折率が1.38〜1.4
6である請求項7に記載の反射防止フイルムの製造方
法。
8. The low refractive index layer has a refractive index of 1.38 to 1.4.
The method for producing an antireflection film according to claim 7, wherein:
【請求項9】 中屈折率層を、低級金属アルコキシドR
mTi(OR´)n(R及びR´はそれぞれ炭素数1〜1
0のアルキル基を表し、m+nは4であり、m及びnは
それぞれ整数である)又はR mTa(OR´)n(R及び
R´はそれぞれ炭素数1〜10のアルキル基を表し、m
+nは5であり、m及びnはそれぞれ整数である)で表
される金属アルコキシドを加水分解して調製した金属酸
化物ゾルを塗布し、熱処理及び/又は活性エネルギー線
照射処理してTiO2又はTa25ゲル層として形成す
る請求項7に記載の反射防止フイルムの製造方法。
9. The method according to claim 9, wherein the lower refractive index layer comprises a lower metal alkoxide R
mTi (OR ')n(R and R ′ each have 1 to 1 carbon atoms.
Represents an alkyl group of 0, m + n is 4, and m and n are
Each is an integer) or R mTa (OR ')n(R and
R ′ represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms;
+ N is 5, m and n are each an integer)
Acid prepared by hydrolysis of the metal alkoxide to be prepared
Sol, heat treatment and / or active energy ray
Irradiation treatment and TiOTwoOr TaTwoOFiveForm as a gel layer
A method for producing an antireflection film according to claim 7.
【請求項10】 中屈折率層の屈折率が1.50〜1.
95である請求項9に記載の反射防止フイルムの製造方
法。
10. A medium refractive index layer having a refractive index of 1.50-1.
The method for producing an anti-reflection film according to claim 9, wherein the ratio is 95.
JP17751096A 1996-06-17 1996-06-17 Antireflection film and method for producing the same Expired - Fee Related JP3776980B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17751096A JP3776980B2 (en) 1996-06-17 1996-06-17 Antireflection film and method for producing the same
US08/876,907 US5925438A (en) 1996-06-17 1997-06-16 Antireflection film

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17751096A JP3776980B2 (en) 1996-06-17 1996-06-17 Antireflection film and method for producing the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10728A true JPH10728A (en) 1998-01-06
JP3776980B2 JP3776980B2 (en) 2006-05-24

Family

ID=16032172

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17751096A Expired - Fee Related JP3776980B2 (en) 1996-06-17 1996-06-17 Antireflection film and method for producing the same

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3776980B2 (en)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4650636A (en) * 1983-08-12 1987-03-17 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of estimating water leakage position
JP2000160098A (en) * 1998-11-25 2000-06-13 Dainippon Printing Co Ltd Coating solution, optical functional film, and antireflfction film
JP2004009420A (en) * 2002-06-05 2004-01-15 Nakajima Kogyo Kk Low reflective transferring foil, process of manufacturing molding, and molding
WO2005100013A1 (en) * 2004-04-06 2005-10-27 Teijin Dupont Films Japan Limited Antireflective film
JP2005324435A (en) * 2004-05-14 2005-11-24 Teijin Dupont Films Japan Ltd Transparent conductive laminated film and optical action electrode for photochemical cell
JP2006523383A (en) * 2003-03-04 2006-10-12 ピクセリジェント・テクノロジーズ・エルエルシー Application of nano-sized semiconductor particles for photolithography
JP2008074112A (en) * 2007-11-06 2008-04-03 Toppan Printing Co Ltd Hard coat film or sheet with functional inorganic membrane
US7695781B2 (en) 2004-02-16 2010-04-13 Fujifilm Corporation Antireflective film, polarizing plate including the same, image display unit including the same and method for producing antireflective film
JP2010184477A (en) * 2009-02-13 2010-08-26 Toppan Printing Co Ltd Laminated film and method for manufacturing the same
JP2012051172A (en) * 2010-08-31 2012-03-15 Fujifilm Corp Functional film and method of manufacturing the same
JP2014065169A (en) * 2012-09-25 2014-04-17 Nippon Electric Glass Co Ltd Glass film laminate for display object cover
CN106094236A (en) * 2016-08-21 2016-11-09 浙江蓝特光学股份有限公司 A kind of polarization beam apparatus with optical thin film
JP2019191330A (en) * 2018-04-24 2019-10-31 東洋紡株式会社 Foldable display surface protective film

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4650636A (en) * 1983-08-12 1987-03-17 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of estimating water leakage position
JP2000160098A (en) * 1998-11-25 2000-06-13 Dainippon Printing Co Ltd Coating solution, optical functional film, and antireflfction film
JP2004009420A (en) * 2002-06-05 2004-01-15 Nakajima Kogyo Kk Low reflective transferring foil, process of manufacturing molding, and molding
JP2006523383A (en) * 2003-03-04 2006-10-12 ピクセリジェント・テクノロジーズ・エルエルシー Application of nano-sized semiconductor particles for photolithography
US7695781B2 (en) 2004-02-16 2010-04-13 Fujifilm Corporation Antireflective film, polarizing plate including the same, image display unit including the same and method for producing antireflective film
WO2005100013A1 (en) * 2004-04-06 2005-10-27 Teijin Dupont Films Japan Limited Antireflective film
JP2005324435A (en) * 2004-05-14 2005-11-24 Teijin Dupont Films Japan Ltd Transparent conductive laminated film and optical action electrode for photochemical cell
JP4595992B2 (en) * 2007-11-06 2010-12-08 凸版印刷株式会社 Hard coat film or sheet with functional inorganic thin film
JP2008074112A (en) * 2007-11-06 2008-04-03 Toppan Printing Co Ltd Hard coat film or sheet with functional inorganic membrane
JP2010184477A (en) * 2009-02-13 2010-08-26 Toppan Printing Co Ltd Laminated film and method for manufacturing the same
JP2012051172A (en) * 2010-08-31 2012-03-15 Fujifilm Corp Functional film and method of manufacturing the same
US9394416B2 (en) 2010-08-31 2016-07-19 Fujifilm Corporation Functional film and method of manufacturing functional film
JP2014065169A (en) * 2012-09-25 2014-04-17 Nippon Electric Glass Co Ltd Glass film laminate for display object cover
CN106094236A (en) * 2016-08-21 2016-11-09 浙江蓝特光学股份有限公司 A kind of polarization beam apparatus with optical thin film
JP2019191330A (en) * 2018-04-24 2019-10-31 東洋紡株式会社 Foldable display surface protective film
JP2022153403A (en) * 2018-04-24 2022-10-12 東洋紡株式会社 Foldable display surface protective film

Also Published As

Publication number Publication date
JP3776980B2 (en) 2006-05-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5925438A (en) Antireflection film
EP0667541B1 (en) Optical functional materials and process for producing the same
JPH07333404A (en) Optical functional membrane, optical functional film, antidazzle antireflection film, its production, polarizing plate and liquid crystal display device
JPH10206603A (en) Reflection preventive film and manufacture thereof
JP3776980B2 (en) Antireflection film and method for producing the same
JP2004341541A (en) Optical functional membrane, optical functional film, antiglare- antireflection film, manufacturing method therefor, polarizing plate, and liquid crystal display device
JPH09222504A (en) Antireflection film
JPH09220791A (en) Reflection preventing film
JPH11326602A (en) Low reflection band antistatic hard coating film
JP3776978B2 (en) Antireflection film and method for producing the same
JP4297296B2 (en) Method for producing optical functional film
JP2000198964A (en) Optically functional film and preparation thereof
JP2006330742A (en) Antireflection film
JP4889135B2 (en) Antireflection film
JPH0924575A (en) Manufacture of optically functional film
JP3776979B2 (en) Antireflection film and method for producing the same
JPH09254324A (en) Reflection preventive film
JP2000000910A (en) Optically functional film and its manufacture
JPH11209717A (en) Coating material for coating on film, anti-reflection film using the same, polarized film, and coating on film
JPH11286078A (en) Transparent conductive laminate and its manufacture
JPH09226062A (en) Reflection preventing film
JP2007190926A (en) Anti-reflective film
JPH0925350A (en) Production of optically functional film
JPH11300899A (en) Optical functional film and its manufacture
JP3650164B2 (en) Method for producing optical functional film

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040607

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040615

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040816

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050517

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050719

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060221

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060224

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100303

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100303

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110303

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110303

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120303

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130303

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130303

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140303

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees