JPH11300899A - Optical functional film and its manufacture - Google Patents

Optical functional film and its manufacture

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JPH11300899A
JPH11300899A JP10107817A JP10781798A JPH11300899A JP H11300899 A JPH11300899 A JP H11300899A JP 10107817 A JP10107817 A JP 10107817A JP 10781798 A JP10781798 A JP 10781798A JP H11300899 A JPH11300899 A JP H11300899A
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JP
Japan
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layer
sio
refractive index
group
film
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Application number
JP10107817A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshio Yoshihara
俊夫 吉原
Nobuko Takahashi
伸子 高橋
Yurie Ota
友里恵 太田
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Dai Nippon Printing Co Ltd
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Dai Nippon Printing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a functional film, wherein an adhesion of a SiO2 gel layer to a base film is improved, maintaining high performance and high-quality characteristics and productivity, and suitable for practical use. SOLUTION: An interlayer 2 composed of a perhydropolysilazane represented by a unit structure of -(SiH2 NH)- and a low-refractive index layer 3 are. formed on a surface of a base film 1 directly or with another layer therebetween. The low-refractive index layer 3 is an SiO2 gel layer composed by gelling an SiO2 sol.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、紫外線遮断効果、
熱線反射効果、反射防止効果等に優れた光学機能性膜及
びその製造方法に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to an ultraviolet shielding effect,
The present invention relates to an optically functional film excellent in heat ray reflection effect, antireflection effect and the like, and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、紫外線遮断効果、熱線反射効果、
反射防止効果等を有する光学機能性膜の形成方法は、一
般に気相法と塗布法の2つに大別されている。前者の気
相法による光学機能性膜の製造方法には、真空蒸着法、
スパッタリング法等の物理的方法と、CVD法等の化学
的方法とがある。又、後者の塗布法には、スプレー法、
浸漬法及びスクリーン印刷法等がある。
2. Description of the Related Art Conventionally, an ultraviolet blocking effect, a heat ray reflecting effect,
A method for forming an optically functional film having an antireflection effect or the like is generally roughly classified into a gas phase method and a coating method. The former method for producing an optically functional film by a gas phase method includes a vacuum deposition method,
There are a physical method such as a sputtering method and a chemical method such as a CVD method. Also, the latter coating method includes a spray method,
There are an immersion method and a screen printing method.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】気相法による光学機能
性膜の製造方法は、高機能且つ高品質な薄膜を得ること
が可能であるという利点がある。しかし、高真空系での
精密な雰囲気の制御が必要であるいう問題があった。
又、特殊な加熱又はイオン発生加速装置を必要とし、製
造装置が複雑で大型化するために、必然的に製造コスト
が高くなるという問題があった。又、薄膜の大面積化或
いは複雑な形状の薄膜を製造することは困難であるとい
う問題があった。
The method for producing an optically functional film by a vapor phase method has an advantage that a high-performance and high-quality thin film can be obtained. However, there is a problem that precise atmosphere control in a high vacuum system is required.
Further, a special heating or ion generation accelerating device is required, and there is a problem that the manufacturing cost is inevitably increased because the manufacturing device is complicated and large. Further, there is a problem that it is difficult to increase the area of the thin film or to manufacture a thin film having a complicated shape.

【0004】一方、塗布法による光学機能性膜の製造方
法のうち、スプレー法によるものは、塗布する塗液の利
用効率が悪かったり、成膜条件の制御が困難である等の
問題があった。又、同じく塗布法による光学機能性膜の
製造方法のうち、浸漬法及びスクリーン印刷法等は、ス
プレー法に比較して成膜原料の利用効率が良く、大量生
産や設備コスト面での有利さがある。しかし、これら塗
布法により得られる光学機能性膜は、気相法により得ら
れる膜に比較して、機能及び品質が劣るという問題点が
あった。
On the other hand, among the methods for producing an optical functional film by a coating method, those using a spray method have problems such as poor utilization efficiency of a coating liquid to be applied and difficulty in controlling film forming conditions. . Also, among the methods for producing an optical functional film by the coating method, the dipping method and the screen printing method are more efficient in using the film forming material than the spraying method, and are advantageous in mass production and equipment cost. There is. However, the optical functional film obtained by these coating methods has a problem that the function and quality are inferior to the film obtained by the gas phase method.

【0005】近年、塗布法によって優れた品質の薄膜を
得る方法として、無機又は有機超微粒子を酸性又はアル
カリ水溶液中に分散した分散液を基板上に塗布し、焼成
するという方法が提案されている。この製造方法による
と大量生産や設備コスト面では有利であるという利点が
ある。しかし、製造工程中に高温での焼成過程を必要と
するため、プラスチック基材フィルムには成膜が不可能
であるという難点があった。又、基板と塗布膜との収縮
度の違い等により薄膜の均一性が十分でなく、気相法に
より得られる薄膜に比較した場合に、依然として性能が
劣るという問題点もあった。又、熱処理に長時間、例え
ば、数十分間以上を要し、生産性に劣るという欠点を有
していた。
In recent years, as a method for obtaining a thin film of excellent quality by a coating method, a method has been proposed in which a dispersion of inorganic or organic ultrafine particles dispersed in an acidic or alkaline aqueous solution is coated on a substrate and baked. . According to this manufacturing method, there is an advantage that it is advantageous in terms of mass production and equipment costs. However, since a firing process at a high temperature is required during the manufacturing process, there is a drawback that a film cannot be formed on a plastic substrate film. Further, there is also a problem that the uniformity of the thin film is not sufficient due to a difference in the degree of shrinkage between the substrate and the coating film, and the performance is still inferior when compared with a thin film obtained by a gas phase method. Further, the heat treatment requires a long time, for example, several tens minutes or more, and has a disadvantage that productivity is poor.

【0006】このような問題点に対し、本発明者らは既
に、一般式RmSi(OR’)n(但し、式中のRは炭素
数1〜10のアルキル基、ビニル基、(メタ)アクリロ
イル基、エポキシ基、アミド基、スルホニル基、水酸
基、カルボキシル基又はこれらの基を含有する基等の反
応性基、R’は炭素数1〜10のアルキル基を表わし、
mは0〜3、nは1〜4の整数を表わし、m+nは4の
整数である。)で表される珪素アルコキシドを加水分解
して調製したSiO2ゾルを、基材フィルム上に直接又
は他の層を介して塗布し、形成された塗布層を基材フィ
ルムにダメージを与えない程度の加熱或いは活性エネル
ギー線を照射してSiO2ゲル層とすることで、基材フ
ィルムにダメージを与えずに所望の高品質な機能性薄膜
を効率よく生産する手法を提案した。しかし、通常の手
法で得られるSiO2ゾルは、ゲル膜とした際の基材フ
ィルムへの密着性が弱いため、基材フィルムから簡単に
剥がれてしまうという実用上の問題点がある。
In order to solve such a problem, the present inventors have already reported the general formula R m Si (OR ′) n (where R is an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a vinyl group, A) an acryloyl group, an epoxy group, an amide group, a sulfonyl group, a hydroxyl group, a reactive group such as a carboxyl group or a group containing these groups, and R ′ represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms;
m represents an integer of 0 to 3, n represents an integer of 1 to 4, and m + n represents an integer of 4. The SiO 2 sol prepared by hydrolyzing the silicon alkoxide represented by the formula (1) is applied directly or via another layer on the base film, and the formed coating layer does not damage the base film. A method for efficiently producing a desired high-quality functional thin film without damaging the substrate film by heating or irradiating an active energy ray to form a SiO 2 gel layer was proposed. However, the SiO 2 sol obtained by an ordinary method has a practical problem that it easily peels off from the substrate film because of its poor adhesion to the substrate film when formed into a gel film.

【0007】以上の状況に鑑み、本発明者らは鋭意検討
した結果、基材フィルム上にSiO2ゲル層を形成する
前に、中間層として、単位構造が−(SiH2NH)−
で表わされるペルヒドロポリシラザン層を形成すること
で、基材への密着性に優れ、高機能且つ高品質な特性や
生産性を維持し、且つ実使用に耐え得る光学機能性膜を
開発するに至った。
In view of the above situation, the present inventors have made intensive studies and as a result, before forming the SiO 2 gel layer on the base film, the unit structure of the intermediate layer was — (SiH 2 NH) —
By forming a perhydropolysilazane layer represented by the formula, an optical functional film that has excellent adhesion to a substrate, maintains high-performance and high-quality characteristics and productivity, and can withstand practical use is developed. Reached.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】即ち、本発明は、基材フ
ィルム面に、直接又は他の層を介して単位構造が−(S
iH2NH)−で表わされるペルヒドロポリシラザンか
らなる中間層、及び低屈折率層を形成してなり、該低屈
折率層が、SiO2ゾルをゲル化したSiO2ゲル層であ
ることを特徴とする光学機能性膜及びその製造方法であ
る。
That is, in the present invention, the unit structure is-(S) on the surface of the substrate film directly or via another layer.
An intermediate layer made of perhydropolysilazane represented by (iH 2 NH) — and a low refractive index layer are formed, and the low refractive index layer is a SiO 2 gel layer obtained by gelling an SiO 2 sol. And a method for producing the same.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】次に好ましい実施の形態を挙げて
本発明を更に詳しく説明する。本発明の光学機能性膜
は、基材フィルムに種々の光学機能特性を付与したもの
である。具体的には、例えば、本発明の光学機能膜はワ
ープロ、コンピューター、テレビ等の各種ディスプレ
イ、液晶表示素子に用いる偏光板の表面、サングラスレ
ンズ、度付メガネレンズ、カメラ用ファインダーレンズ
等の光学レンズ、各種計器のカバー、自動車、電車等の
窓ガラス等に必要な機能、例えば、反射防止機能等を付
与する目的に有用である。
Next, the present invention will be described in more detail with reference to preferred embodiments. The optical functional film of the present invention is obtained by imparting various optical functional characteristics to a base film. Specifically, for example, the optical functional film of the present invention is used for various displays such as word processors, computers, and televisions, the surface of polarizing plates used for liquid crystal display elements, sunglass lenses, prescription eyeglass lenses, and optical lenses such as camera finder lenses. This is useful for the purpose of providing a function required for a cover of various instruments, a window glass of a car, a train, and the like, for example, an antireflection function.

【0010】本発明の光学機能性膜の構成を図面を参照
して説明すると、図1は、基材フィルム1の表面に中間
層2を形成し、その上に低屈折率層3を形成した実施形
態の断面を図解的に説明する図であり、図2は上記低屈
折率層3をハードコート層4及び中間層2を介して基材
フイルム1に形成した実施形態の断面を図解的に説明す
る図である。図2においては、低屈折率層3はハードコ
ート層4及び中間層2を介して形成されているが、その
他必要に応じて基材フイルム1と中間層2と低屈折率層
3との間には、例えば、ハードコート層4に加えて、又
は代えて透明導電性層、接着層、プライマー層等の他の
層を介在させることも可能である。
The structure of the optical functional film of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows that an intermediate layer 2 is formed on the surface of a base film 1 and a low refractive index layer 3 is formed thereon. FIG. 2 schematically illustrates a cross section of the embodiment. FIG. 2 schematically illustrates a cross section of an embodiment in which the low refractive index layer 3 is formed on the base film 1 via the hard coat layer 4 and the intermediate layer 2. FIG. In FIG. 2, the low refractive index layer 3 is formed via the hard coat layer 4 and the intermediate layer 2, but may be formed between the base film 1, the intermediate layer 2 and the low refractive index layer 3 if necessary. For example, another layer such as a transparent conductive layer, an adhesive layer, and a primer layer may be interposed in addition to or instead of the hard coat layer 4.

【0011】本発明の光学機能性膜を構成する基材フィ
ルムとして好ましく使用できるフィルムとしては、例え
ば、アセテートブチレートセルロースフィルム、ポリエ
ーテルサルホンフィルム、ポリアクリル系樹脂フィル
ム、ポリウレタン系樹脂フィルム、ポリエステルフィル
ム、ポリカーボネートフィルム、ポリスルホンフィル
ム、ポリエーテルフィルム、トリメチルペンテンフィル
ム、ポリエーテルケトンフィルム、(メタ)アクリロニ
トリルフィルム等の透明樹脂フィルムが挙げられる。中
でも、特に一軸延伸ポリエステルフィルムが透明性に優
れ、光学的に異方性がない点で好適に用いられる。基材
フィルムの厚みは特に限定されないが、通常は8〜1,
000μm程度のものが好適に用いられる。
Examples of the film which can be preferably used as the base film constituting the optical functional film of the present invention include, for example, acetate butyrate cellulose film, polyether sulfone film, polyacrylic resin film, polyurethane resin film, polyester resin Transparent resin films such as films, polycarbonate films, polysulfone films, polyether films, trimethylpentene films, polyetherketone films, and (meth) acrylonitrile films. Among them, particularly, a uniaxially stretched polyester film is preferably used because it is excellent in transparency and has no optical anisotropy. Although the thickness of the base film is not particularly limited, it is usually 8 to 1,
Those having a size of about 000 μm are preferably used.

【0012】本発明では上記基材フイルム上に中間層を
形成する。該中間層を構成するのは、単位構造が−(S
iH2NH)−で表わされるペルヒドロポリシラザン層
である。本発明では該ペルヒドロポリシラザン層を中間
層として使用することで、SiO2ゲル層の基材フィル
ムへの強固な密着が可能となった。該中間層の膜厚は特
に限定されないが、約0.03〜3μmの範囲であるこ
とが好ましい。この中間層の厚みが上記範囲未満である
とSiO2ゲル層の基材フィルムへの密着が不十分とな
り、又、上記中間層の厚みが上記範囲を超えると塗膜の
収縮が激しくなり、塗膜にクラック等が発生する。
In the present invention, an intermediate layer is formed on the above-mentioned base film. The unit structure of the intermediate layer is-(S
iH 2 NH) — is a perhydropolysilazane layer. In the present invention, the use of the perhydropolysilazane layer as an intermediate layer enables a strong adhesion of the SiO 2 gel layer to the base film. The thickness of the intermediate layer is not particularly limited, but is preferably in the range of about 0.03 to 3 μm. When the thickness of the intermediate layer is less than the above range, the adhesion of the SiO 2 gel layer to the base film becomes insufficient, and when the thickness of the intermediate layer exceeds the above range, the coating film shrinks sharply, Cracks and the like occur in the film.

【0013】本発明で使用する上記ペルヒドロポリシラ
ザンは、例えば、特開昭60−145903号公報、D.
SeyferthらのCommunication of Am.Cer.,C-13, January
1983等に開示された重合体、特公平6−18885号
公報、特開平7−223867号公報及び特開平9−2
96048号公報に記載されたもの、或いはその架橋体
であり何れも市場から入手して、或いは自ら合成して本
発明において使用することができる。本発明において使
用するペルヒドロポリシラザンは、その分子量が500
〜2,500(ポリスチレン換算数平均分子量)のもの
であるが、これらのペルヒドロポリシラザンが架橋物で
ある場合には分子量が500〜100,000のもので
もよい。
The perhydropolysilazane used in the present invention is described in, for example, JP-A-60-145903, D.
Communication of Am. Cer., C-13, January by Seyferth et al.
Polymers disclosed in 1983 and the like, JP-B-6-18885, JP-A-7-223867 and JP-A-9-2
No. 96048, or a cross-linked product thereof, which can be obtained from the market or synthesized by itself and used in the present invention. The perhydropolysilazane used in the present invention has a molecular weight of 500
2,500 (number average molecular weight in terms of polystyrene), but when these perhydropolysilazanes are cross-linked products, the molecular weight may be 500-100,000.

【0014】本発明の光学機能性膜の低屈折率層を形成
するSiO2ゲル層は、SiO2ゾルをゲル化したSiO
2ゲルからなる。SiO2ゾルを得る方法は特に限定され
ないが、以下のように珪素アルコキシドを加水分解して
調製することが最も好ましい。
The SiO 2 gel layer forming the low refractive index layer of the optical functional film of the present invention is formed by gelling SiO 2 sol.
Consists of two gels. The method for obtaining the SiO 2 sol is not particularly limited, but is most preferably prepared by hydrolyzing a silicon alkoxide as described below.

【0015】上記SiO2ゾルの原料として好ましく使
用される珪素アルコキシドは、一般式RSi(O
R’)表される。但し、式中のRは炭素数1〜10の
アルキル基、ビニル基、(メタ)アクリロイル基、エポ
キシ基、アミド基、スルホニル基、水酸基、カルボキシ
ル基又はこれらの基を含有する基等の反応性基を表わ
し、R’は炭素数1〜10のアルキル基を表わし、mは
0〜3、nは1〜4の整数を表わし、m+nは4であ
る。
The silicon alkoxide preferably used as a raw material of the SiO 2 sol is represented by the general formula R m Si (O
R ′) n . However, R in the formula represents a reactivity of an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a vinyl group, a (meth) acryloyl group, an epoxy group, an amide group, a sulfonyl group, a hydroxyl group, a carboxyl group or a group containing these groups. R ′ represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, m represents an integer of 0 to 3, n represents an integer of 1 to 4, and m + n is 4.

【0016】これに該当する化合物としては具体的に
は、例えば、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシ
ラン、テトラiso−プロポキシシラン、テトラn−プ
ロポキシシラン、テトラn−ブトキシシラン、テトラs
ec−ブトキシシラン、テトラtert−ブトキシシラ
ン等のテトラアルコキシシラン類;テトラペンタエトキ
シシラン、テトラペンタ−iso−プロポキシシラン、
テトラペンタ−n−プロポキシシラン、テトラペンタ−
n−ブトキシシラン、テトラペンタ−sec−ブトキシ
シラン、テトラペンタ−tert−ブトキシシラン、メ
チルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、
メチルトリプロポキシシラン、メチルトリブトキシシラ
ン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシ
ラン、ヘキシルトリメトキシシラン、ジメチルジプロポ
キシシラン、ジメチルジブトキシシラン、ビニルトリエ
トキシシラン、γ−メタクリロキシプロピルトリメトキ
シシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラ
ン、3−(−2−アミノエチルアミノプロピル)トリメ
トキシシラン等が挙げられる。
Specific examples of the compound corresponding to this include, for example, tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, tetraiso-propoxysilane, tetra-n-propoxysilane, tetra-n-butoxysilane, tetra-s
tetraalkoxysilanes such as ec-butoxysilane and tetratert-butoxysilane; tetrapentaethoxysilane, tetrapenta-iso-propoxysilane,
Tetrapenta-n-propoxysilane, tetrapenta-
n-butoxysilane, tetrapenta-sec-butoxysilane, tetrapenta-tert-butoxysilane, methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane,
Methyltripropoxysilane, methyltributoxysilane, dimethyldimethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, hexyltrimethoxysilane, dimethyldipropoxysilane, dimethyldibutoxysilane, vinyltriethoxysilane, γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane, γ- Glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-(-2-aminoethylaminopropyl) trimethoxysilane and the like can be mentioned.

【0017】上記珪素アルコキシドを加水分解すれば、
SiO2ゾルを得ることができる。加水分解は、上記珪
素アルコキシドを適当な溶媒中に溶解させて行えばよ
い。使用できる溶媒としては、例えば、アセトン、メチ
ルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等のケトン;
メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール等の
アルコール;酢酸エチル、酢酸ブチル等のエステル;四
塩化炭素、クロロホルム、塩化メチレン等のハロゲン化
炭化水素;トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素;或
いはこれらの混合物が挙げられる。
By hydrolyzing the silicon alkoxide,
An SiO 2 sol can be obtained. The hydrolysis may be performed by dissolving the silicon alkoxide in a suitable solvent. Examples of usable solvents include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, and methyl isobutyl ketone;
Alcohols such as methanol, ethanol and isopropyl alcohol; esters such as ethyl acetate and butyl acetate; halogenated hydrocarbons such as carbon tetrachloride, chloroform and methylene chloride; aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; or mixtures thereof. Can be

【0018】前記の珪素アルコキシドは、上記溶媒中
に、該珪素アルコキシドが100%加水分解及び縮合し
たと仮定して生じるSiO2換算で、好ましくは0.1
重量%以上、より好ましくは0.1〜10重量%になる
ように溶解させる。これは、珪素アルコキシドの溶媒中
のSiO2換算濃度があまりもに小さいと、最終的に形
成される光学機能性膜の特性が充分に発揮できない場合
があり、一方、同濃度があまりにも大きいと透明均質な
膜の形成が困難となる場合があるからである。又、前記
の珪素アルコキシドを溶解させた上記溶媒中には、Si
2ゾルを調製するのに障害とならない範囲内であるな
らば、有機物や無機物バインダーを添加することも可能
である。
The silicon alkoxide is preferably 0.1% in terms of SiO 2, which is assumed to be 100% hydrolyzed and condensed in the solvent.
It is dissolved so as to be at least 0.1% by weight, more preferably 0.1 to 10% by weight. This is because if the concentration of silicon alkoxide in the solvent in terms of SiO 2 is too small, the characteristics of the optically functional film finally formed may not be sufficiently exhibited, while if the concentration is too large. This is because it may be difficult to form a transparent and homogeneous film. Further, in the solvent in which the silicon alkoxide is dissolved, Si
An organic or inorganic binder can be added as long as it does not hinder the preparation of the O 2 sol.

【0019】前記珪素アルコキシドの加水分解は、上記
のように該珪素アルコキシドを溶解させた溶媒に、加水
分解に必要な量又はそれ以上の水を加え、好ましくは1
5〜35℃、より好ましくは22〜28℃の温度で、好
ましくは5〜30時間、より好ましくは12〜16時間
攪拌を行えばよい。上記加水分解においては触媒を用い
ることが好ましい。好ましく使用できる触媒としては、
例えば、塩酸、硝酸、硫酸、リン酸又は酢酸等の酸が挙
げられる。これらの酸は、好ましくは約0.001〜2
0.0N、より好ましくは0.005〜5.0N程度の
水溶液として、上記珪素アルコキシドを溶解させた溶液
に加えればよい。尚、この加えた水溶液中の水分は加水
分解用の水分とすることができる。
In the hydrolysis of the silicon alkoxide, the amount of water required for the hydrolysis or more is added to the solvent in which the silicon alkoxide is dissolved as described above.
The stirring may be performed at a temperature of 5 to 35 ° C, more preferably 22 to 28 ° C, preferably for 5 to 30 hours, more preferably for 12 to 16 hours. In the hydrolysis, it is preferable to use a catalyst. As a catalyst that can be preferably used,
For example, acids such as hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid, phosphoric acid and acetic acid can be mentioned. These acids are preferably from about 0.001-2.
An aqueous solution of 0.0N, more preferably about 0.005 to 5.0N, may be added to the solution in which the silicon alkoxide is dissolved. The water in the added aqueous solution can be used as water for hydrolysis.

【0020】以上の如くして得られたSiO2ゾルは、
無色透明な液体であり、ポットライフが約1ヶ月の安定
な溶液である。従って、基材フィルムに対して漏れ性が
良く、塗布適性に優れているために、本発明の光学機能
性膜のSiO2ゲル層を形成させるのに最も好ましく使
用することができる。
The SiO 2 sol obtained as described above is
It is a colorless and transparent liquid and a stable solution with a pot life of about one month. Therefore, it is most preferably used for forming the SiO 2 gel layer of the optically functional film of the present invention, because it has good leakage property to the base film and excellent application suitability.

【0021】又、上記SiO2ゾルには、各種の添加剤
を添加することができる。最も好ましい添加剤として
は、成膜を促進する硬化剤が挙げられる。このような硬
化剤としては、例えば、酢酸ナトリウム、酢酸リチウム
等の有機酸金属塩の酢酸、ギ酸等の有機酸溶液等が挙げ
られる。該有機酸溶液の濃度は約0.01〜0.1重量
%程度であることが好ましい。又、上記SiO2ゾルに
対する添加量は、ゾル中に存在するSiO2100重量
部に対して上記有機酸塩として約0.1〜1重量部程度
が好ましい。
Various additives can be added to the SiO 2 sol. Most preferred additives include curing agents that promote film formation. Examples of such a curing agent include an organic acid solution such as acetic acid and formic acid of an organic acid metal salt such as sodium acetate and lithium acetate. The concentration of the organic acid solution is preferably about 0.01 to 0.1% by weight. Further, the addition amount relative to the SiO 2 sol is from about 0.1 to 1 parts by weight of the organic acid salt is preferred for SiO 2 100 parts by weight present in the sol.

【0022】更に、最終的に得られる本発明の光学機能
性膜を、例えば、反射防止膜、熱線反射膜、散乱膜等に
使用する場合には、上記SiO2ゲル層で形成される低
屈折率層の屈折率を1.38〜1.46程度に調整する
ことが好ましい。具体的には、層の屈折率を下げるため
にはフッ素系有機珪素化合物等を、層の屈折率を高める
ためには有機珪素化合物等を添加すればよい。添加でき
る化合物としては、例えば、テトラエトキシシラン、テ
トラメトキシシラン、テトラプロポキシシラン、テトラ
ブトキシシラン、アルキルトリアルコキシシラン、コロ
コート40(コルコート社製)、MS51(三菱化学
製)、スノーテックス(日産化学製)等の有機珪素化合
物;ザフロンFC−110、220、250(東亜合成
化学製)、セクラルコートA−402B(セントラル硝
子製)、ヘプタデカフルオロデシルトリメトキシシラ
ン、トリデカフルオロオクチルトリメトキシシラン、ト
リフルオロプロピルトリメトキシシラン等のフッ素系有
機珪素化合物;硼酸トリエチル、硼酸トリメチル、硼酸
トリプロピル、硼酸トリブチル等の硼素系化合物等が挙
げられる。
Further, when the finally obtained optical functional film of the present invention is used for, for example, an antireflection film, a heat ray reflection film, a scattering film, etc., the low refractive index formed by the SiO 2 gel layer is used. It is preferable to adjust the refractive index of the refractive index layer to about 1.38 to 1.46. Specifically, a fluorine-based organic silicon compound or the like may be added to lower the refractive index of the layer, and an organic silicon compound or the like may be added to increase the refractive index of the layer. Compounds that can be added include, for example, tetraethoxysilane, tetramethoxysilane, tetrapropoxysilane, tetrabutoxysilane, alkyltrialkoxysilane, Corocoat 40 (manufactured by Colcoat), MS51 (manufactured by Mitsubishi Chemical), Snowtex (manufactured by Nissan Chemical) Organic silicon compounds such as Zafflon FC-110, 220, 250 (manufactured by Toa Gosei Chemical), sexual coat A-402B (manufactured by Central Glass), heptadecafluorodecyltrimethoxysilane, tridecafluorooctyltrimethoxysilane, trifluoro Fluorinated organic silicon compounds such as propyltrimethoxysilane; and boron-based compounds such as triethyl borate, trimethyl borate, tripropyl borate, and tributyl borate.

【0023】これらの添加剤は、SiO2ゾルの調製時
に加えてもよいし、SiO2ゾルの調製後に加えてもよ
い。これらの添加剤を用いれば、珪素アルコキシドの加
水分解時、又はその後に添加剤がシラノール基と反応し
て更に均一で透明なSiO2ゾル溶液が得られ、且つ形
成されるSiO2ゲル層の屈折率をある程度の範囲に調
整することができる。
[0023] These additives may be added during the preparation of the SiO 2 sol may be added after preparation of the SiO 2 sol. When these additives are used, the additives react with silanol groups during or after hydrolysis of the silicon alkoxide to obtain a more uniform and transparent SiO 2 sol solution, and the refraction of the formed SiO 2 gel layer. The rate can be adjusted to some extent.

【0024】本発明の光学機能性膜の低屈折率層は、前
記基材フィルム上に形成した中間層の表面に前記SiO
2ゾルを塗布法を用いて塗布し、その後、塗布物を加熱
或いは活性エネルギー線照射処理等によりSiO2ゲル
層として形成することが好ましい。前記SiO2ゾルの
基材フィルムへの塗布方法としては、例えば、スピンコ
ート法、デイップ法、スプレー法、ロールコーター法、
メニスカスコーター法、フレキソ印刷法、スクリーン印
刷法、ビードコーター法等の方法が挙げられる。
The low-refractive-index layer of the optical functional film of the present invention is provided on the surface of the intermediate layer formed on the base film by using the SiO 2
2 It is preferable to apply the sol using a coating method, and then form the coated material as a SiO 2 gel layer by heating or irradiation with active energy rays. Examples of the method of applying the SiO 2 sol to the base film include a spin coating method, a dipping method, a spray method, a roll coater method,
Meniscus coater method, flexographic printing method, screen printing method, bead coater method and the like can be mentioned.

【0025】基材フィルムに塗布されたSiO2ゾルの
ゲル化方法としては、例えば、加熱や、活性エネルギー
線照射処理等の方法が挙げられる。加熱によるゲル化
は、基材フィルムに与えるダメージを考慮しなければな
らないため、好ましくは150℃以下、より好ましくは
120℃以下で行う。
Examples of a method for gelling the SiO 2 sol applied to the base film include methods such as heating and irradiation with active energy rays. The gelation by heating is preferably performed at 150 ° C. or lower, more preferably 120 ° C. or lower, since the damage to the base film must be considered.

【0026】又、SiO2ゾルのゲル化方法として活性
エネルギー線照射処理を利用する場合、活性エネルギー
線としては、例えば、電子線又は紫外線等が挙げられ、
特に電子線によりゲル化を行うことが好ましい。電子線
によりゲル化を行う場合には、例えば、コックロフトワ
ルトン型、バンデグラフ型、共振変圧型、絶縁コア変圧
器型、直線型、ダイナミトロン型、高周波型等の各種電
子線加速機から放出される、50〜1,000KeV、
好ましくは100〜300KeV程度のエネルギーを有
する電子線を使用する。
When an active energy ray irradiation treatment is used as a method for gelling the SiO 2 sol, the active energy rays include, for example, electron beams or ultraviolet rays.
In particular, it is preferable to perform gelation with an electron beam. In the case of performing gelation with an electron beam, for example, it is released from various electron beam accelerators such as Cockloft-Walton type, Bande graph type, Resonant transformation type, Insulating core transformer type, Linear type, Dynamitron type and High frequency type 50 to 1,000 KeV,
Preferably, an electron beam having an energy of about 100 to 300 KeV is used.

【0027】一方、紫外線によりゲル化を行う場合に
は、例えば、超高圧水銀灯、高圧水銀灯、低圧水銀灯、
カーボンアーク、キセノンアーク、メタルハライドラン
プ等の光源から発する紫外線等を利用することが好まし
い。電子線又は紫外線等の活性エネルギー線の総照射量
は、活性エネルギー線が電子線である場合には好ましく
は2Mrad以上、より好ましくは2〜50Mradの
範囲が適当である。
On the other hand, when gelling is carried out by ultraviolet rays, for example, an ultra-high pressure mercury lamp, a high pressure mercury lamp, a low pressure mercury lamp,
It is preferable to use ultraviolet rays emitted from a light source such as a carbon arc, a xenon arc, and a metal halide lamp. When the active energy ray is an electron beam, the total irradiation amount of the active energy ray such as an electron beam or an ultraviolet ray is preferably 2 Mrad or more, more preferably 2 to 50 Mrad.

【0028】SiO2ゾルに対する電子線照射は、空気
を酸素で置換しながら、又は十分な酸素雰囲気中で行う
ことが好ましく、酸素雰囲気中で行うことによりSiO
2の生成、重合及び縮合等が促進され、より均質且つ高
品質のSiO2ゲル層を形成することができる。このよ
うに形成されるSiO2ゾル層の厚みは0.001〜1
0μmであり、好ましくは0.01〜1μmである。S
iO2ゲル層の厚みが上記範囲未満であると低屈折率層
としての光学特性が発現しにくい等の点で好ましくな
く、又、上記SiO2ゲル層の厚みが上記範囲を超える
と反射が大きくなる等の点で好ましくない。
The electron beam irradiation on the SiO 2 sol is preferably performed while replacing air with oxygen or in a sufficient oxygen atmosphere.
Formation, polymerization and condensation of 2 , etc. are promoted, and a more uniform and high quality SiO 2 gel layer can be formed. The thickness of the SiO 2 sol layer thus formed is 0.001 to 1
0 μm, and preferably 0.01 to 1 μm. S
When the thickness of the iO 2 gel layer is less than the above range, it is not preferable in that the optical characteristics as a low refractive index layer are hardly exhibited, and the reflection is large when the thickness of the SiO 2 gel layer exceeds the above range. It is not preferable in terms of becoming.

【0029】本発明では、前記中間層を他の層を介して
基材フィルム上に形成することもできる。上記他の層と
しては前記のように種々の層が可能であるが、以下図2
に示すように他の層がハードコート層4である場合を代
表例として説明する。尚、本発明において、「ハードコ
ート層」とは、JIS−K5400で示される鉛筆硬度
試験でH以上の硬度を示すものをいう。
In the present invention, the intermediate layer may be formed on the base film via another layer. As the other layers, various layers are possible as described above.
The case where the other layer is the hard coat layer 4 as shown in FIG. In the present invention, the term “hard coat layer” refers to a layer showing a hardness of H or more in a pencil hardness test shown in JIS-K5400.

【0030】ハードコート層は好ましくは反応硬化性樹
脂を使用して形成する。該硬化性樹脂は、基材フイルム
との接着がよく、耐擦傷性、硬度、耐光性、耐湿性があ
り、又、ハードコート層上に形成する低屈折率層との接
着性が良好なものであれば特に制限されない。かかる反
応硬化性樹脂としては、例えば、アルキッド樹脂、多価
アルコール等の多官能化合物の(メタ)アクリレート
(以下本明細書では、アクリレートとメタアクリレート
との両者を(メタ)アクリレートと記載する。)等のオ
リゴマー又はプレポリマー及び反応性の希釈剤を比較的
多量に含むもの等の電離放射線硬化型樹脂(その前駆体
も含む)等が挙げられる。
The hard coat layer is preferably formed using a reaction curable resin. The curable resin has good adhesion to the base film, scratch resistance, hardness, light resistance, moisture resistance, and good adhesion to the low refractive index layer formed on the hard coat layer. If it is, there is no particular limitation. As such a reaction curable resin, for example, a (meth) acrylate of a polyfunctional compound such as an alkyd resin and a polyhydric alcohol (hereinafter, in the present specification, both acrylate and methacrylate are referred to as (meth) acrylate). And ionizing radiation-curable resins (including their precursors) such as those containing relatively large amounts of oligomers or prepolymers and reactive diluents.

【0031】尚、上記反応性希釈剤としては、エチル
(メタ)アクリレート、エチルヘキシル(メタ)アクリ
レート、スチレン、ビニルトルエン、N−ビニルピロリ
ドン等の単官能モノマー、並びに多官能モノマー、例え
ば、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレー
ト、ヘキサンジオール(メタ)アクリレート、トリプロ
ピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジエチレン
グリコールジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリト
ールトリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトー
ルヘキサ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオ
ールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコール
ジ(メタ)アクリレート等が挙げられる。
Examples of the reactive diluent include monofunctional monomers such as ethyl (meth) acrylate, ethylhexyl (meth) acrylate, styrene, vinyltoluene and N-vinylpyrrolidone, and polyfunctional monomers such as trimethylolpropane. Tri (meth) acrylate, hexanediol (meth) acrylate, tripropylene glycol di (meth) acrylate, diethylene glycol di (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, 1,6- Hexanediol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate and the like can be mentioned.

【0032】更に、上記の電離放射線硬化型樹脂を紫外
線硬化型樹脂として使用する場合には、これらの中に光
重合開始剤として、例えば、アセトフェノン類、ベンゾ
フェノン類、ミヒラーベンゾイルベンゾエート、α−ア
ミロキシムエステル、チオキサントン類や、光増感剤と
して、例えば、n−ブチルアミン、トリエチルアミン、
トリ−n−ブチルホスフィン等を混合して使用する。
Further, when the above-mentioned ionizing radiation-curable resin is used as an ultraviolet-curable resin, among these, as a photopolymerization initiator, for example, acetophenones, benzophenones, Michler benzoyl benzoate, α-amilo Xime esters, thioxanthones, and as a photosensitizer, for example, n-butylamine, triethylamine,
A mixture of tri-n-butylphosphine and the like is used.

【0033】上記の電離放射線硬化型樹脂には、反応性
有機珪素化合物を併用することもできる。反応性有機珪
素化合物は、電離放射線硬化型樹脂と反応性有機珪素化
合物の合計に対して10〜100重量%の範囲で使用さ
れる。特に電離放射線硬化性有機珪素化合物を使用する
場合には、これだけを樹脂成分としてハードコート層を
形成することが可能である。このような電離放射線硬化
性珪素化合物としては、電離放射線によって反応架橋す
る複数の基、例えば、重合性二重結合基を有する分子量
5,000以下の有機珪素化合物が挙げられる。このよ
うな反応性有機珪素化合物は、片末端ビニル官能性ポリ
シラン、両末端ビニル官能性ポリシラン、片末端ビニル
官能ポリシロキサン、両末端ビニル官能性ポリシロキサ
ン、或いはこれらの化合物を反応させたビニル官能性ポ
リシラン、又はビニル官能性ポリシロキサン等が挙げら
れる。
A reactive organic silicon compound may be used in combination with the ionizing radiation-curable resin. The reactive organic silicon compound is used in a range of 10 to 100% by weight based on the total amount of the ionizing radiation-curable resin and the reactive organic silicon compound. In particular, when an ionizing radiation-curable organic silicon compound is used, it is possible to form a hard coat layer using only this as a resin component. Examples of such an ionizing radiation-curable silicon compound include an organic silicon compound having a molecular weight of 5,000 or less and having a plurality of groups that are reactively crosslinked by ionizing radiation, for example, a polymerizable double bond group. Such a reactive organosilicon compound is a vinyl functional polysilane at one end, a vinyl functional polysilane at both ends, a vinyl functional polysiloxane at one end, a vinyl functional polysiloxane at both ends, or a vinyl functional compound obtained by reacting these compounds. Examples include polysilane or vinyl-functional polysiloxane.

【0034】又、ハードコート層の屈折率を前記低屈折
率層の屈折率よりも高い屈折率とすることによって、本
発明の光学機能性膜の低反射性を更に向上させることが
できる。通常のハードコート層の屈折率は1.48〜
1.52程度であるが、本発明におけるハードコート層
の好ましい屈折率は1.55〜2.50程度である。
Further, by making the refractive index of the hard coat layer higher than that of the low refractive index layer, the low reflectivity of the optical functional film of the present invention can be further improved. The refractive index of a normal hard coat layer is 1.48 to
Although it is about 1.52, the preferable refractive index of the hard coat layer in the present invention is about 1.55 to 2.50.

【0035】ハードコート層を高屈折率とするために、
該層形成樹脂成分中に高屈折率の金属や金属酸化物の超
微粒子を添加することができる。本発明で使用する高屈
折率を有する該超微粒子としては、その粒径が1〜50
nmで、屈折率が1.60〜2.70程度のものが好ま
しく、具体的には、例えば、ZnO(屈折率1.9
0)、TiO2(屈折率2.3〜2.7)、CeO2(屈
折率1.95)、Sb25(屈折率1.71)、SnO
2、ITO(屈折率1.95)、Y23(屈折率1.8
7)、La23(屈折率1.95)、ZrO2(屈折率
2.05)、Al23(屈折率1.63)等の微粉末が
挙げられる。
In order to make the hard coat layer have a high refractive index,
Ultrafine particles of a metal or metal oxide having a high refractive index can be added to the layer-forming resin component. The ultrafine particles having a high refractive index used in the present invention have a particle diameter of 1 to 50.
nm and a refractive index of about 1.60 to 2.70 are preferable, and specifically, for example, ZnO (refractive index 1.9)
0), TiO 2 (refractive index 2.3~2.7), CeO 2 (refractive index 1.95), Sb 2 O 5 (refractive index 1.71), SnO
2 , ITO (refractive index: 1.95), Y 2 O 3 (refractive index: 1.8)
7), fine powders such as La 2 O 3 (refractive index: 1.95), ZrO 2 (refractive index: 2.05), Al 2 O 3 (refractive index: 1.63).

【0036】以上の成分からなる反応硬化性樹脂組成物
を用いてハードコート層を形成するには、以上の成分を
適当な溶剤に溶解又は分散させて塗工液とし、この塗工
液を前記基材フイルム上に直接塗布して硬化させるか、
或いは離型フイルムに塗布して硬化させた後、適当な接
着剤を用いて基材フイルム上に転写させて形成すること
もできる。転写法を用いる場合には、ハードコート層上
に前記の低屈折率層を形成してから転写することもでき
る。このようにして形成されるハードコート層の厚み
は、通常1〜50μm程度であり、好ましくは3〜20
μm程度である。
In order to form a hard coat layer using the reaction-curable resin composition comprising the above components, the above components are dissolved or dispersed in an appropriate solvent to form a coating solution. Apply directly on the substrate film and cure, or
Alternatively, it can also be formed by applying the composition onto a release film and curing it, and then transferring it onto a base film using an appropriate adhesive. When the transfer method is used, the transfer may be performed after the low refractive index layer is formed on the hard coat layer. The thickness of the hard coat layer thus formed is usually about 1 to 50 μm, preferably 3 to 20 μm.
It is about μm.

【0037】上記他の層の形成方法は、上記のように透
明基材フイルム上に、所望の塗工液を直接又は間接的に
塗布して形成してもよく、又、透明基材フイルム上にハ
ードコート層を転写により形成する場合には、予め離型
フイルム上に形成したハードコート層上に他の層(接着
層等)となる塗工液を塗布し、その後、各層が積層され
た離型フイルムと透明基材フイルムとを、離型フイルム
の積層面を内側にしてラミネートし、次いで離型フイル
ムを剥離することにより、透明基材フイルムに上記各層
を転写してもよい。
The other layer may be formed by directly or indirectly applying a desired coating liquid on the transparent substrate film as described above, or on the transparent substrate film. When the hard coat layer is formed by transfer, a coating liquid to be another layer (such as an adhesive layer) is applied on the hard coat layer formed on the release film in advance, and then each layer is laminated. The above-described layers may be transferred to the transparent base film by laminating the release film and the transparent base film with the laminated surface of the release film inside, and then peeling the release film.

【0038】以上のように、本発明の光学機能性膜は、
単層の反射防止膜として、又は多層の反射防止膜として
使用することができる。又、本発明の光学機能性膜の製
造方法においては、用いる塗布材料の選択により所望の
機能を持つその他の光学機能性膜を得ることができる。
As described above, the optical functional film of the present invention
It can be used as a single-layer antireflection film or as a multilayer antireflection film. Further, in the method for producing an optical functional film of the present invention, another optical functional film having a desired function can be obtained by selecting a coating material to be used.

【0039】[0039]

【実施例】以下に、本発明を実施例及び比較例を挙げて
更に具体的に説明する。 実施例1(2層型反射防止膜) 低屈折率層形成用ゾル液の調製 メチルトリエトキシシラン(MTEOS)が理想的にS
iO2又はCH3SiO1.5に加水分解及び縮合したと仮
定したときの固形分濃度が3重量%となるように、MT
EOSを溶媒であるメチルエチルケトンに溶解し、液温
が25℃に安定するまで30分間攪拌した。これをA液
とする。
The present invention will be described below more specifically with reference to examples and comparative examples. Example 1 (Two-layer type antireflection film) Preparation of sol liquid for forming low refractive index layer Methyltriethoxysilane (MTEOS) is ideally S
The MT is adjusted so that the solid content concentration becomes 3% by weight, assuming that it is hydrolyzed and condensed to iO 2 or CH 3 SiO 1.5.
EOS was dissolved in a solvent, methyl ethyl ketone, and stirred for 30 minutes until the liquid temperature was stabilized at 25 ° C. This is designated as solution A.

【0040】A液中に、触媒として濃度0.005Nの
塩酸を、MTEOSのアルコキシ基と等モル量加え、2
5℃で3時間加水分解を行なった。これをB液とする。
このB液に、硬化剤として酢酸ナトリウム/酢酸(重量
比9/1)混合物を塩酸濃度に対して100モル倍添加
して、25℃で1時間攪拌しSiO2ゾルを得た。この
SiO2ゾルがCH3SiO1.5に加水分解及び縮合した
と仮定したときの固形分濃度が1.5重量%となるよう
に、MTEOSをメチルエチルケトンに溶解し、SiO
2ゾルを得た。
To solution A, hydrochloric acid having a concentration of 0.005 N as a catalyst was added in an equimolar amount with the alkoxy group of MTEOS, and
Hydrolysis was performed at 5 ° C. for 3 hours. This is designated as solution B.
To this solution B, a mixture of sodium acetate / acetic acid (weight ratio 9/1) as a curing agent was added at 100 mol times the concentration of hydrochloric acid, followed by stirring at 25 ° C. for 1 hour to obtain a SiO 2 sol. MTEOS was dissolved in methyl ethyl ketone so that the solid concentration would be 1.5% by weight assuming that this SiO 2 sol was hydrolyzed and condensed to CH 3 SiO 1.5 ,
Two sols were obtained.

【0041】 ペルヒドロポリシラザンの合成 200mlのフラスコに、乾燥した85%シアン酸ナト
リウム34.4g、アセトニトリル−ベンゼン混合溶媒
100mlを入れ、20℃に保持した。これに、トリク
ロロシラン20.3gをアセトニトリル−ベンゼン混合
溶媒20mlに溶解させた溶液を、30分間かけて滴下
した。滴下終了後、反応混合物を35℃で3時間攪拌し
た。この反応混合物に、基準物質としてデカン約7gを
添加後、固体分をろ別した。その後溶媒を減圧下で除去
し、トリイソシアナトシランを得た。
Synthesis of Perhydropolysilazane 34.4 g of dried 85% sodium cyanate and 100 ml of a mixed solvent of acetonitrile and benzene were placed in a 200 ml flask and kept at 20 ° C. A solution obtained by dissolving 20.3 g of trichlorosilane in a mixed solvent of 20 ml of acetonitrile-benzene was added dropwise over 30 minutes. After the addition was completed, the reaction mixture was stirred at 35 ° C. for 3 hours. After adding about 7 g of decane as a reference substance to this reaction mixture, the solid content was filtered off. Thereafter, the solvent was removed under reduced pressure to obtain triisocyanatosilane.

【0042】得られたトリイソシアナトシランをエーテ
ルに溶解させ、−60℃で気体アンモニアを導入しなが
ら、1.5時間攪拌した。副生したNH4NCOをろ別
し、ろ液から室温で溶媒を留去した。その後開始剤(ト
リメチルアミン)を添加し、150℃で24時間反応さ
せて数平均分子量2,000のペルヒドロポリシラザン
を得た。
The obtained triisocyanatosilane was dissolved in ether, and stirred at -60 ° C. for 1.5 hours while introducing gaseous ammonia. By-product NH 4 NCO was filtered off, and the solvent was distilled off from the filtrate at room temperature. Thereafter, an initiator (trimethylamine) was added and reacted at 150 ° C. for 24 hours to obtain a perhydropolysilazane having a number average molecular weight of 2,000.

【0043】 高屈折率ハードコート層の形成 基材フィルムとして、厚さ100μmのPETフィルム
(A−4350:商品名、東洋紡製)を用意した。一
方、屈折率1.9のZrO2超微粒子(No.1275
A:商品名、住友大阪セメント製)と電離放射線硬化型
樹脂(X−12−2400−6:商品名、信越化学工業
製)を重量比で2:1に混合した。得られた樹脂組成物
をPETフィルム上に、膜厚7μm/dryとなるよう
にグラビアリバースコートにより塗布し、溶媒を乾燥除
去した。その後、電子線を175kvで5Mrad照射
して塗膜を硬化し、高屈折率ハードコート層(屈折率
1.75)を形成した。
Formation of High Refractive Index Hard Coat Layer A PET film (A-4350: trade name, manufactured by Toyobo) having a thickness of 100 μm was prepared as a base film. On the other hand, ZrO 2 ultrafine particles having a refractive index of 1.9 (No. 1275)
A: Trade name, manufactured by Sumitomo Osaka Cement) and ionizing radiation-curable resin (X-12-2400-6: trade name, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) were mixed at a weight ratio of 2: 1. The obtained resin composition was applied on a PET film by gravure reverse coating so as to have a thickness of 7 μm / dry, and the solvent was removed by drying. Thereafter, the coating film was cured by irradiating an electron beam with 5 Mrad at 175 kv to form a high refractive index hard coat layer (refractive index: 1.75).

【0044】 低屈折率層の作製 で得られた高屈折率ハードコート層上に、まず、で
合成したペルヒドロポリシラザンの2重量%キシレン溶
液を使用して、ペルヒドロポリシラザンの厚みが乾燥時
0.1μmとなるように塗布した。その後、で合成し
たSiO2ゾル溶液を、SiO2ゲル層の厚みが0.1μ
mとなるように塗布した。硬化の条件は以下の2通りの
手法を用いた。即ち、(1)120℃で1時間の熱処理
を行った場合と、(2)電子線照射装置を用いて180
kv、20mAで1回の照射量を20Mradとして2
0回照射を行った場合の両者で反射防止フィルムを得
た。尚、形成された低屈折率層の屈折率は、(1)1.
42、(2)1.42であった。
On the high refractive index hard coat layer obtained in the preparation of the low refractive index layer, first, a 2% by weight xylene solution of perhydropolysilazane synthesized by .1 μm. Then, in the synthesized SiO 2 sol solution, the thickness of the SiO 2 gel layer 0.1μ
m. The curing conditions used were the following two methods. That is, (1) heat treatment at 120 ° C. for 1 hour, and (2) 180 ° C. using an electron beam irradiation apparatus.
kv, 20 mAd, one irradiation dose at 20 mA, 2
An antireflection film was obtained in both cases where irradiation was performed 0 times. The refractive index of the formed low refractive index layer is (1) 1.
42, (2) 1.42.

【0045】実施例2〜5 メチルトリエトキシシランに代えて、テトラメトキシシ
ラン(実施例2)、テトラエトキシシラン(実施例
3)、メチルトリメトキシシラン(実施例4)、ジメチ
ルジエトキシシラン(実施例5)を使用した以外は実施
例1と同様の操作を行い、2種類の反射防止フィルム計
8枚を得た。
Examples 2 to 5 Instead of methyltriethoxysilane, tetramethoxysilane (Example 2), tetraethoxysilane (Example 3), methyltrimethoxysilane (Example 4), dimethyldiethoxysilane (Example Except that Example 5) was used, the same operation as in Example 1 was performed to obtain a total of eight kinds of two types of antireflection films.

【0046】反射防止膜の特性評価 上記〜の工程を経て、加熱及び電子線照射により得
られた実施例1の2種類の反射防止フィルムの光学特性
はどちらも全光線透過率が94.0%、ヘイズ値0.
5、可視光線の波長領域での最低反射率は1.2であ
り、反射防止性能は優れていた。又、基材フィルム上の
ペルヒドロポリシラザン層に対するSiO2ゲル層のテ
ープ剥離試験による密着性評価は、どちらも100%で
あり、基材への密着性も良好であった。又、実施例2〜
5で得られた計8枚の反射防止フィルムも、実施例1の
反射防止フィルムとほぼ同等の評価値が得られた。
Evaluation of Characteristics of Antireflection Film The optical characteristics of the two types of antireflection films of Example 1 obtained by heating and electron beam irradiation through the above steps (1) to (4) were both such that the total light transmittance was 94.0%. , A haze value of 0.
5. The minimum reflectance in the visible light wavelength region was 1.2, and the antireflection performance was excellent. Further, the evaluation of the adhesion of the SiO 2 gel layer to the perhydropolysilazane layer on the substrate film by a tape peeling test was 100% in both cases, and the adhesion to the substrate was also good. Also, Example 2
The eight anti-reflection films obtained in Example 5 also obtained almost the same evaluation values as the anti-reflection film of Example 1.

【0047】比較例 実施例1のと同一の条件でSiO2ゾルを得た。この
SiO2ゾルを実施例ので作製した高屈折率ハードコ
ート層上に0.1μmの厚みになるように塗布し、12
0℃で1時間の熱処理を行い、比較用の光学機能性膜を
得た。尚、形成された低屈折率層の屈折率は1.42で
あった。この比較用の光学機能性膜の光学特性は全光線
透過率94.0%、ヘイズ値0.5、可視光線の波長領
域での最低反射率は1.2であり、本発明の光学機能性
膜と同等の反射防止性能を示した。しかし、基材フィル
ムに対するSiO2ゲル層のテープ剥離試験による密着
性評価では塗膜の一部剥離が認められた。
Comparative Example An SiO 2 sol was obtained under the same conditions as in Example 1. This SiO 2 sol was applied to a thickness of 0.1 μm on the high refractive index hard coat layer prepared in Example, and
Heat treatment was performed at 0 ° C. for 1 hour to obtain an optical functional film for comparison. In addition, the refractive index of the formed low refractive index layer was 1.42. The optical properties of this optical functional film for comparison were 94.0% in total light transmittance, 0.5 haze, and the minimum reflectance in the visible light wavelength region was 1.2. The antireflection performance equivalent to that of the film was exhibited. However, in the evaluation of the adhesion of the SiO 2 gel layer to the substrate film by a tape peeling test, partial peeling of the coating film was observed.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上、本発明によれば、基材フィルムに
SiO2ゾルを塗布してSiO2ゲル層からなる低屈折率
層を形成する際に、単位構造が−(SiH2NH)−で
表わされるペルヒドロポリシラザン層を中間層として使
用したことで、光学特性を保持したまま、基材への密着
性が向上したSiO2ゲル層が得られる。このようなS
iO2ゾルは、基材フィルムにダメージを与えない程度
の温度で十分に硬化し、又、活性エネルギー線の照射に
よっても同等の特性のSiO2ゲル膜が得られる。これ
らのゲル膜を用いた光学機能性膜は優れた反射防止効果
等の光学特性を有する。
As described above, according to the present invention, when the SiO 2 sol is applied to the base film to form the low refractive index layer composed of the SiO 2 gel layer, the unit structure is-(SiH 2 NH)- By using the perhydropolysilazane layer represented by the formula (1) as an intermediate layer, an SiO 2 gel layer having improved adhesion to a substrate can be obtained while maintaining optical characteristics. Such S
The iO 2 sol is sufficiently cured at a temperature that does not damage the base film, and an SiO 2 gel film having the same characteristics can be obtained by irradiation with active energy rays. Optical functional films using these gel films have excellent optical characteristics such as an antireflection effect.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の光学機能性膜の断面を図解的に説明
する図。
FIG. 1 is a diagram schematically illustrating a cross section of an optical functional film of the present invention.

【図2】 本発明の光学機能性膜の断面を図解的に説明
する図。
FIG. 2 is a diagram schematically illustrating a cross section of the optical functional film of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:基材フィルム 2:中間層 3:低屈折率層 4:ハードコート層 1: base film 2: intermediate layer 3: low refractive index layer 4: hard coat layer

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基材フィルム面に、直接又は他の層を介
して単位構造が−(SiH2NH)−で表わされるペル
ヒドロポリシラザンからなる中間層、及び低屈折率層を
形成してなり、該低屈折率層が、SiO2ゾルをゲル化
したSiO2ゲル層であることを特徴とする光学機能性
膜。
1. An intermediate layer comprising a perhydropolysilazane whose unit structure is represented by-(SiH 2 NH)-and a low refractive index layer formed directly or via another layer on the surface of a substrate film. An optically functional film, wherein the low refractive index layer is an SiO 2 gel layer obtained by gelling an SiO 2 sol.
【請求項2】 SiO2ゾルが、一般式RmSi(O
R’)n(但し、式中のRは炭素数1〜10のアルキル
基、ビニル基、(メタ)アクリロイル基、エポキシ基、
アミド基、スルホニル基、水酸基、カルボキシル基又は
これらの基を含有する基等の反応性基を表わし、R’は
炭素数1〜10のアルキル基を表わし、mは0〜3の数
を表わし、nは1〜4の数を表わし、m+nは4であ
る。)で表わされる珪素アルコキシドを加水分解して調
製したSiO2ゾルである請求項1に記載の光学機能性
膜。
2. The method according to claim 1, wherein the SiO 2 sol has the general formula R m Si (O
R ′) n (where R represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a vinyl group, a (meth) acryloyl group, an epoxy group,
An amide group, a sulfonyl group, a hydroxyl group, a carboxyl group or a reactive group such as a group containing these groups; R ′ represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms; m represents a number of 0 to 3; n represents the number of 1-4, and m + n is 4. The optical functional film according to claim 1, which is a SiO 2 sol prepared by hydrolyzing a silicon alkoxide represented by the formula (1).
【請求項3】 中間層の膜厚が0.03〜3μmである
請求項1に記載の光学機能性膜。
3. The optical functional film according to claim 1, wherein the thickness of the intermediate layer is 0.03 to 3 μm.
【請求項4】 低屈折率層の屈折率が1.38〜1.4
6である請求項1に記載の光学機能性膜。
4. The low refractive index layer has a refractive index of 1.38 to 1.4.
The optically functional film according to claim 1, which is 6.
【請求項5】 基材フィルムが、一軸延伸ポリエステル
フィルムである請求項1に記載の光学機能性膜。
5. The optical functional film according to claim 1, wherein the base film is a uniaxially stretched polyester film.
【請求項6】 他の層が、ハードコート層である請求項
1〜5の何れか1項に記載の光学機能性膜。
6. The optical functional film according to claim 1, wherein the other layer is a hard coat layer.
【請求項7】 SiO2ゾルを、基材フィルム上に形成
した単位構造が−(SiH2NH)−で表わされるペル
ヒドロポリシラザンからなる中間層の表面に塗布し、そ
の後、加熱又は活性エネルギー線照射処理してSiO2
ゲル層を形成することを特徴とする請求項1〜6の何れ
か1項に記載の光学機能性膜の製造方法。
7. An SiO 2 sol is applied to the surface of an intermediate layer composed of perhydropolysilazane having a unit structure represented by — (SiH 2 NH) — formed on a base film, and then heated or activated by an active energy ray. Irradiation treatment and SiO 2
The method for producing an optically functional film according to any one of claims 1 to 6, wherein a gel layer is formed.
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