JPH1054868A - 集積回路テストシステムのソフトウエア設定方法 - Google Patents

集積回路テストシステムのソフトウエア設定方法

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JPH1054868A
JPH1054868A JP8211328A JP21132896A JPH1054868A JP H1054868 A JPH1054868 A JP H1054868A JP 8211328 A JP8211328 A JP 8211328A JP 21132896 A JP21132896 A JP 21132896A JP H1054868 A JPH1054868 A JP H1054868A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
configuration
test system
integrated circuit
circuit test
software
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP8211328A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiro Tatezawa
一浩 立澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 集積回路テストシステムのコンフィギュレー
ションの構成内容の変更に伴い、テスタコントローラの
ソフトウエアの変更が自動的に行なわれる集積回路テス
トシステムのソフトウエア設定方法を提供する。 【解決手段】 各ユニット12はそれぞれが不揮発性の
構成メモリ13を有し、各構成メモリ13には各ユニッ
ト12の構成情報が所定の形式で記録されている。制御
を行なうテスタコントローラ11は、テストバス14を
経由して全てのユニット12と接続されている。テスト
の対象の集積回路に対応して集積回路テストシステム1
0のユニット12の構成が変更されると、テスタコント
ローラ11はテスタバス14を介してユニット12の構
成情報を構成メモリ13から得て、得られた構成情報に
基づいてテスト用のソフトウエアの変更を自動的に行な
い、新たに設定されたソフトウエアによりテストを開始
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は集積回路テストシス
テムに関し、特に集積回路テストシステムのコンフィギ
ュレーションの構成内容が変更された場合の制御ソフト
ウエア変更の設定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】集積回路テストシステムは、多種類の集
積回路を対象にテストを行なうために、テスト対象に対
応させてコンフィギュレーションの構成内容を変更する
必要があり、その場合ハードウエアのみでなくテストシ
ステムを制御するテスタコントローラのソフトウエアも
変更する必要がある。
【0003】従来は、ハードウエアの変更に伴うテスタ
コントローラのソフトウエアの変更は、所定のフォーマ
ットで記述された構成データから、人手により構成設定
ツールを用いて行なわれていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ハードウエア
の変更に伴い構成設定ツールの操作によって人手によっ
て行なわれるテスタコントローラのソフトウエアの変更
では、作業量が多く、設定ミスも発生することがあり、
作業性と信頼性の面の問題があった。
【0005】本発明の目的は、集積回路テストシステム
のコンフィギュレーションの構成内容の変更に伴い、テ
スタコントローラのソフトウエアの変更が自動的に行な
われる集積回路テストシステムのソフトウエア設定方法
を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の集積回路テスト
システムのソフトウエア設定方法は、多種類の集積回路
を対象にテストを行なう集積回路テストシステムの、テ
スト対象の集積回路に対応させたコンフィギュレーショ
ンの構成内容の変更に伴う制御用のテスタコントローラ
のソフトウエア設定方法であって、集積回路テストシス
テムを構成するハードウエアの各設計単位は、それぞれ
に属する不揮発性のメモリを備え、メモリにはあらかじ
め設計単位の名称、構成データ種および構成データ値か
らなる構成情報が所定の形式で記録され、テスタコント
ローラは、該テスタコントローラと各設計単位とを接続
するテスタバスを経由して、構成内容変更後の全設計単
位のメモリの記録する構成情報を読み込み、読み込んだ
構成情報に基づいて、制御用のソフトウエアの内容を、
集積回路テストシステムのハードウエアの各設計単位の
構成に対応させて、自動的に変更する。
【0007】本発明では、集積回路テストシステムのコ
ンフィギュレーションを構成するハードウエアのそれぞ
れに、あらかじめ構成内容を示す情報が記録された不揮
発性メモリが付属し、テスタコントローラはその情報を
読み取って、構成されるハードウエアに対応させて制御
のソフトウエアを変更するので、テスト対象に対応させ
てハードウエアの構成を変更してもその都度人間がソフ
トウエアを変更する必要がない。従って、設定のための
作業が必要なく設定時間が短縮されるので、作業性が向
上し、人為的な設定ミスもなくなる
【0008】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。図1は本発明の実施の形態
の集積回路テストシステムのテスタコントローラのソフ
トウエア自動設定方法を示すブロック構成図であり、図
中符号10は集積回路テストシステム、11は集積回路
テストシステム10を制御するテスタコントローラ、1
2a、12b、12nは集積回路テストシステム10を
構成する設計単位であるユニット、13a、13b、1
3nは各ユニット12に付属する構成メモリ、14はテ
スタコントローラ11と各ユニット12を接続するテス
タバスである。
【0009】本発明の集積回路テストシステムのソフト
ウエア自動設定方法では、ハードウエアの設計単位であ
る各ユニット12はそれぞれが構成メモリ13を有し、
各構成メモリ13には所属する各ユニット12の設計単
位の名称、構成データ種および構成データ値からなる構
成情報が所定の形式で出荷時に記録されており、かつ構
成メモリ13には本体の電源がOFFとなってもデータ
が消滅しない不揮発性のメモリが使用されている。
【0010】集積回路テストシステムの制御を行なうテ
スタコントローラ11は、テストバス14を経由して全
てのユニット12と接続されている。
【0011】テストの対象の集積回路に対応して集積回
路テストシステム10のコンフィギュレーションを構成
するユニット12が変更されると、テストの開始前にテ
スタコントローラ11はテスタバス14を介してユニッ
ト12の構成情報を構成メモリ13から得て、得られた
構成情報に基づいてテスト用のソフトウエアの変更を自
動的に行ない、新たに設定されたソフトウエアによりテ
ストを開始する。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、集積回路
テストシステムのコンフィギュレーションを構成するハ
ードウエアのそれぞれに、あらかじめ構成内容を示す情
報が記録された不揮発性メモリが付属しており、テスタ
コントローラはその情報を読み取って、構成されるハー
ドウエアに対応させて制御のソフトウエアを変更するの
で、テスト対象に対応させてハードウエアの構成を変更
してもその都度人間がソフトウエアを変更する必要がな
いので、設定のための作業が必要なく、設定時間が短縮
されるので作業性が向上し、人為的な設定ミスもなくな
るので信頼性も向上するという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の集積回路テストシステム
のテスタコントローラのソフトウエア自動設定方法を示
すブロック構成図である。
【符号の説明】
10 集積回路テストシステム 11 テスタコントローラ 12a、12b、12n ユニット 13a、13b、13n 構成メモリ 14 テスタバス
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成8年9月3日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項1
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0002
【補正方法】変更
【補正内容】
【0002】
【従来の技術】集積回路テストシステムは、多種類の
計単位からから成り、各設計単位に付随するパラメータ
はシステム毎に異なるためにコンフィギュレーションの
構成内容をシステム毎に個別に設定する必要があり、そ
の場合ハードウエアのみでなくテストシステムを制御す
るテスタコントローラのソフトウエアもシステム毎に個
別に設定する必要がある。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0006
【補正方法】変更
【補正内容】
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の集積回路テスト
システムのソフトウエア設定方法は、コンフィギュレー
ションの構成内容の変更に伴う制御用のテスタコントロ
ーラのソフトウエア設定方法であって、集積回路テスト
システムを構成するハードウエアの各設計単位は、それ
ぞれに属する不揮発性のメモリを備え、メモリにはあら
かじめ設計単位の名称、構成データ種および構成データ
値からなる構成情報が所定の形式で記録され、テスタコ
ントローラは、該テスタコントローラと各設計単位とを
接続するテスタバスを経由して、構成内容変更後の全設
計単位のメモリの記録する構成情報を読み込み、読み込
んだ構成情報に基づいて、制御用のソフトウエアの内容
を、集積回路テストシステムのハードウエアの各設計単
位の構成に対応させて、自動的に変更する。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0007
【補正方法】変更
【補正内容】
【0007】本発明では、集積回路テストシステムのコ
ンフィギュレーションを構成するハードウエアのそれぞ
れに、あらかじめ構成内容を示す情報が記録された不揮
発性メモリが付属し、テスタコントローラはその情報を
読み取って、構成されるハードウエアに対応させて制御
のソフトウエアを変更するので、ハードウエアの構成を
変更してもその都度人間がソフトウエアを変更する必要
がない。従って、設定のための作業が必要なく設定時間
が短縮されるので、作業性が向上し、人為的な設定ミス
もなくなる。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0012
【補正方法】変更
【補正内容】
【0012】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、集積回路
テストシステムのコンフィギュレーションを構成するハ
ードウエアのそれぞれに、あらかじめ構成内容を示す情
報が記録された不揮発性メモリが付属しており、テスタ
コントローラはその情報を読み取って、構成されるハー
ドウエアに対応させて制御のソフトウエアを変更するの
で、ハードウエアの構成を変更してもその都度人間がソ
フトウエアを変更する必要がないので、設定のための作
業が必要なく、設定時間が短縮されるので作業性が向上
し、人為的な設定ミスもなくなるので信頼性も向上する
という効果がある。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 多種類の集積回路を対象にテストを行な
    う集積回路テストシステムの、テスト対象の前記集積回
    路に対応させたコンフィギュレーションの構成内容の変
    更に伴う制御用のテスタコントローラのソフトウエア設
    定方法であって、 前記集積回路テストシステムを構成するハードウエアの
    各設計単位は、それぞれに属する不揮発性のメモリを備
    え、前記メモリにはあらかじめ前記設計単位の名称、構
    成データ種および構成データ値からなる構成情報が所定
    の形式で記録され、前記テスタコントローラは、該テス
    タコントローラと各前記設計単位とを接続するテスタバ
    スを経由して、構成内容変更後の全前記設計単位の前記
    メモリの記録する前記構成情報を読み込み、読み込んだ
    前記構成情報に基づいて、制御用の前記ソフトウエアの
    内容を、前記集積回路テストシステムのハードウエアの
    各設計単位の構成に対応させて、自動的に変更すること
    を特徴とする、集積回路テストシステムのソフトウエア
    設定方法。
JP8211328A 1996-08-09 1996-08-09 集積回路テストシステムのソフトウエア設定方法 Withdrawn JPH1054868A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100755021B1 (ko) * 2002-03-22 2007-09-06 인피니언 테크놀로지스 아게 메모리 모듈의 전자적 테스트 방법
CN104007752A (zh) * 2013-02-22 2014-08-27 帝斯贝思数字信号处理和控制工程有限公司 用于对控制仪-测试系统实施配置的方法和测试系统
US9633144B2 (en) 2013-02-21 2017-04-25 Dspace Digital Signal Processing And Control Engineering Gmbh Method for performing an inventory of the hardware components connected to a control unit test system

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Effective date: 20031104