CN116520754B - 基于预加载模式的dps模块控制方法、系统 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 230000036316 preload Effects 0.000 claims abstract description 38
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 52
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 49
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 abstract description 14
- 238000012937 correction Methods 0.000 abstract description 4
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 8
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 3
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000002045 lasting effect Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/04—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
- G05B19/042—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers using digital processors
- G05B19/0423—Input/output
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/20—Pc systems
- G05B2219/24—Pc safety
- G05B2219/24215—Scada supervisory control and data acquisition
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
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- Control Of Voltage And Current In General (AREA)
Abstract
本发明提供基于预加载模式的DPS模块控制方法、系统,方法包括:DPS模块上电后,进入预加载模式;所述预加载模式包括:从存储单元加载DPS模块的Board ID至控制单元,以及将第一工作状态参数由控制单元加载至各个供电单元。本发明能够在DPS模块上电后自激励启动预加载模式以完成板块编号和工作状态参数的加载,并具备自动检查和纠错功能,能够提高ATE系统的一致性、稳定性、可靠性和整体效率。
Description
技术领域
本发明涉及ATE系统,具体涉及基于预加载模式的DPS模块控制方法、系统。
背景技术
集成电路自动测试机ATE(Automatic Test Equipment)是半导体制造产业中极其重要的一环。通过ATE对电子元器件进行测试,能够做到择优汰劣,去伪存真,保证半导体元器件工艺流程的效率和可靠性;能够验证集成电路功能的完整性,确保集成电路生产制造的品质和稳定性。
ATE的设计中采用了高频的控制模块和极大数量的晶体管元件,对设备的供电能力提出了极高的要求。因此,ATE需使用专门的集成化数控供电模块DPS(Digital PowerSupply)来支持系统整体的电力需求。ATE启动后,主机读取DPS模块的Board ID(板块编号)以将DPS模块加载入系统;DPS模块设置好供电模块的参数后,为ATE的其他测试单元提供精确而稳定的电力支持,直至设备关闭。
ATE系统由多个模块组合搭建,相互协调,共同工作。因此,ATE系统中的DPS模块需要有唯一的Board ID标识码用以系统内部的模块识别。目前,在现有DPS模块中,Board ID采用的是硬件加载的方式。即,直接在DPS模块控制模块的输入端口连接高电位或低电位来确定该单元的Board ID。这种硬件加载Board ID的方式会大量消耗控制模块的可用端口。
另外,ATE是一个高精密度系统,对DPS模块输出电压的精准度有很高的要求,通常需要达到毫伏级精度的输出电压。因此,DPS模块中的供电单元需要进行增益校准参数,偏置校准参数等工作状态参数的设置才能确保输出电压的精密度和稳定性。目前,在现有DPS模块中,需由电脑通过总线发出指令执行校准步骤才能完成对DPS模块供电单元工作状态参数的设置。而这种控制模式有所冗余,降低了系统的整体效率。
发明内容
本发明旨在至少在一定程度上解决上述技术中的技术问题之一。为此,本发明的一个目的在于提出一种基于预加载模式的DPS模块控制方法、系统,能够在DPS模块上电后自激励启动预加载模式以完成板块编号和工作状态参数的加载,提高ATE系统的一致性、稳定性、可靠性和整体效率。
为达到上述目的,本发明第一方面实施例提出了一种基于预加载模式的DPS模块控制方法,包括:
DPS模块上电后,进入预加载模式;
所述预加载模式包括:从存储单元加载DPS模块的Board ID至控制单元,以及将第一工作状态参数由控制单元加载至各个供电单元。
根据本发明实施例的基于预加载模式的DPS模块控制方法,在DPS模块上电后,将自激励启动预加载模式,通过预加载模式实现板块编号和工作状态参数的自动加载。区别于现有技术需要消耗大量控制单元可用端口的硬件加载板块编号方式而言,能够做到无需对控制单元可用端口进行占用,优化端口资源;区别于现有技术需要通过外设触发指令才能执行工作状态参数设置的方式而言,能够大大提高参数设置的便捷性和效率。由此,本发明能够实现提高ATE系统的一致性、稳定性、可靠性和整体效率。
另外,根据本发明上述实施例提出的基于预加载模式的DPS模块控制方法,还可以具有如下附加的技术特征:
可选地,所述将第一工作状态参数由控制单元加载至各个供电单元,之后,还包括:从所述各个供电单元回读第二工作状态参数,并将其与所述第一工作状态参数进行对比,得出结果。
可选地,所加载的Board ID有多组;所述从存储单元加载DPS模块的Board ID至控制单元,之后,还包括:判断所加载的Board ID是否处于有效的ID范围内以及多组的BoardID是否一致,并分别得出结果。
可选地,所述将第一工作状态参数由控制单元加载至各个供电单元,之前,还包括:从存储单元加载第一工作状态参数至控制单元;以及判断所加载的第一工作状态参数是否符合协议格式,得出结果。
可选地,若结果对应否定,则返回重新执行对应的加载步骤,同时累计加载失败次数;
所述预加载模式还包括:当所述加载失败次数累计达到预设阈值时,退出预加载模式。
可选地,通过I2C总线加载所述Board ID至控制单元和/或通过SPI协议加载所述第一工作状态参数至各个供电单元。
可选地,所述第一工作状态参数包括以下参数中的至少一个:热关断开关控制参数、MEASOUT输出增益参数、驱动放大器使能参数、窗口比较器功能参数、驱动放大器关断参数、LOAD引脚功能参数、电流范围寻址参数、比较器功能选择参数、测量模式选择参数、箝位使能参数、系统驱动和检测线路寻址参数、压摆率控制参数、组合模式参数、补偿寄存器参数、警报设置参数、诊断选择参数、Offset偏置参数、OSD开路检测参数、DGS被测地检测参数、驱动电压增益校准参数、驱动电压偏置校准参数、低位箝位电流增益校准参数、低位箝位电流偏置校准参数、高位箝位电流增益校准参数、高位箝位电流偏置校准参数、低位对比电压增益校准参数、低位对比电压偏置校准参数、高位对比电压增益校准参数、高位对比电压偏置校准参数、低位对比电流增益校准参数、低位对比电流偏置校准参数、高位对比电流增益校准参数以及高位对比电流偏置校准参数。
为达到上述目的,本发明第二方面实施例提出了一种基于预加载模式的DPS模块控制系统,包括:控制单元、预加载单元、存储单元以及多个的供电单元;所述控制单元分别与所述预加载单元、所述存储单元以及各个供电单元连接;
所述存储单元,被配置为存储有DPS模块的Board ID;
所述预加载单元,被配置为DPS模块上电后,进入预加载模式;其中,所述预加载模式包括:从存储单元加载DPS模块的Board ID至控制单元,以及将第一工作状态参数由控制单元加载至各个供电单元。
另外,根据本发明上述实施例提出的一种基于预加载模式的DPS模块控制系统,还可以具有如下附加的技术特征:
可选地,还包括分别与各个供电单元和所述控制单元连接的测量单元;所述测量单元,被配置为从所述各个供电单元回读第二工作状态参数至控制单元;
所述控制单元,还被配置为将第二工作状态参数与所述第一工作状态参数进行对比,得出结果;以及被配置为
判断所加载的Board ID是否处于有效的ID范围内以及多组的Board ID是否一致,并分别得出结果,以及被配置为若结果对应否定,则返回重新执行对应的加载步骤,同时累计加载失败次数;以及被配置为
当所述加载失败次数累计达到预设阈值时,退出预加载模式。
可选地,所述DPS模块控制系统还包括I2C通信单元和SPI通信单元;所述控制单元经由所述I2C通信单元与所述存储单元连接;所述控制单元经由所述SPI通信单元分别与各个供电单元连接;
所述I2C通信单元,被配置为所述预加载单元经由所述I2C通信单元从存储单元加载Board ID至控制单元;
所述SPI通信单元,被配置为所述预加载单元经由所述SPI通信单元从控制单元加载第一工作状态参数至各个供电单元。
附图说明
图1为本发明实施例提出的一种基于预加载模式的DPS模块控制方法中预加载模式的流程示意图一;
图2为本发明实施例提出的一种基于预加载模式的DPS模块控制方法的预加载模式的流程示意图二;
图3是本发明实施例提出的基于预加载模式的DPS模块控制系统的组成与连接示意图;
图4为本发明实施例提出的一种基于预加载模式的DPS模块控制方法中预加载模式的流程示意图三。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。
区别于现有技术的DPS模块控制方式需要消耗大量控制单元可用端口,同时效率不高。本发明在DPS模块上电后能自激励启动预加载模式,通过预加载模式实现板块编号和工作状态参数的自动加载、检查和纠错。不仅优化端口资源,而且大大提高参数设置的便捷性和效率,进而实现提高ATE系统的一致性、稳定性、可靠性和整体效率。
为了更好的理解上述技术方案,下面将参照附图更详细地描述本发明的示例性实施例。虽然附图中显示了本发明的示例性实施例,然而应当理解,可以以各种形式实现本发明而不应被这里阐述的实施例所限制。相反,提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本发明,并且能够将本发明的范围完整的传达给本领域的技术人员。
为了更好的理解上述技术方案,下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
图1为本发明实施例提出的一种基于预加载模式的DPS模块控制方法中预加载模式的流程示意图一。如图1所示,本发明实施例提供一种基于预加载模式的DPS模块控制方法,包括:
在检测到DPS模块上电后,自动进入预加载模式;其中,所述预加载模式包括以下步骤S10和S20。
在步骤S10,从存储单元加载DPS模块的Board ID至控制单元。
其中,Board ID被加载至控制单元后,控制单元将用于将其设置成所述DPS模块的Board ID标识码。可选地,该步骤加载的Board ID通常包含多组Board ID。
在步骤S20,将第一工作状态参数由控制单元加载至各个供电单元。
可选地,所述第一工作状态参数预先存储在存储单元,可以在步骤S20中先由存储单元加载至控制单元,再由控制单元加载至各个供电单元;也可以在步骤S10中与所述Board ID一同作为预加载参数一并加载至控制单元内。
在本实施例中,当DPS模块上电后,将自激励启动预加载模式,以自动完成BoardID和工作状态参数的加载。相较于现有技术需要占用端口进行Board ID加载,需要由电脑发送指令执行工作状态参数设置的低效率,本实施例能够实现上电后自动完成Board ID和工作状态参数的预加载,即不需要占用端口资源,又更具高效性。
可选地,可以通过I2C总线将所述Board ID加载至控制单元。
可选地,可以通过SPI协议将所述第一工作状态参数加载至各个供电单元。
在本实施例中,选用通用且更适合短距离通信的上述协议来实现控制单元与存储单元和供电单元之间的通信,具有高效、稳定等特点。
由于不同的供电单元根据具体工作任务的不同存在不同的参数设置。在本实施例中,可选地,所述第一工作状态参数包括但不限于下述参数:热关断开关控制参数、MEASOUT输出增益参数、驱动放大器使能参数、窗口比较器功能参数、驱动放大器关断参数、LOAD引脚功能参数、电流范围寻址参数、比较器功能选择参数、测量模式选择参数、箝位使能参数、系统驱动和检测线路寻址参数、压摆率控制参数、组合模式参数、补偿寄存器参数、警报设置参数、诊断选择参数、Offset偏置参数、OSD开路检测参数、DGS被测地检测参数以及校准参数。
其中,所述校准系数参数具体包括:驱动电压增益校准参数、驱动电压偏置校准参数,用于校准供电单元主驱动电压的电压值;
还包括:Offset偏置参数、OSD开路检测参数以及DGS被测地检测参数,用于校准供电单元的偏移系数,OSD开路检测电路的警报阈值和DUTGND开路检测电路的警报阈值;
还包括:低位箝位电流增益校准参数、低位箝位电流偏置校准参数,用于校准限制供电单元反向输出最大值的箝位电流值;
还包括:高位箝位电流增益校准参数、高位箝位电流偏置校准参数,用于校准限制供电单元正向输出最大值的箝位电流值;
还包括:低位对比电压增益校准参数、低位对比电压偏置校准参数,用于校准供电模块电压窗口模式输出的下限阈值电压值;
还包括:高位对比电压增益校准参数、高位对比电压偏置校准参数,用于校准供电模块电压窗口模式输出的上限阈值电压值;
还包括:低位对比电流增益校准参数、低位对比电流偏置校准参数,用于校准供电模块电流窗口模式输出的下限阈值电流值;
还包括:高位对比电流增益校准参数以及高位对比电流偏置校准参数,用于校准供电模块电流窗口模式输出的上限阈值电流值。
在本实施例中,通过在预加载模式中完成校准系数参数的预加载,能够实现同步更新供电单元与存储单元中的校准系数参数,从而实现对供电单元校准系数的动态管理与维护。
特别地,校准系数参数的预加载即步骤S20,也可以在DPS模块日常工作过程中触发执行,以实现对预加载参数的动态管理与维护。
图2为本发明实施例提出的一种基于预加载模式的DPS模块控制方法中预加载模式的流程的流程示意图二。本实施例在图1实施例的基础做进一步扩展,还能实现在预加载模式中自动完成加载数据的检查和纠错,以确保预加载数据的准确性,预加载模式的有效性。
如图2所示,本实施例所提供的DPS模块控制方法,在图1实施例的预加载模式中,具体在步骤S10之后,还包括下述步骤S11,以对所加载的Board ID进行检查;在步骤S20之前,还包括步骤S21,且在步骤S20之后,还包括步骤S22,以对所加载的工作状态参数进行检查。
在步骤S11,分别判断所加载的Board ID是否处于有效的ID范围内以及多组的Board ID是否一致,并分别得出结果。
其中,所述判断所加载的Board ID是否处于有效的ID范围内指的是检查ID区间范围是否处于有效的ID范围之内。
其中,所述判断加载至控制单元的多组Board ID是否一致。以具体包括三组BoardID为例进行说明。预加载模式的步骤S10中,将分别从存储单元的板编号地址一、板编号地址二和板编号地址三地址区间内获得DPS模块的三组Board ID,并将其加载至控制单元内置的SRAM中;在步骤S11,将分别读取加载至控制模块中的三组Board ID,将三组Board ID进行对比,判断三组Board ID是否完全一致,以此确定是否正确地将多组的Board ID预加载至控制单元。
在步骤S21,从存储单元加载第一工作状态参数至控制单元,并判断所加载的第一工作状态参数是否符合协议格式,得出结果。
其中,所述判断加载至控制单元的第一工作状态参数是否符合协议格式。可选地,包括读取预加载至控制单元中的第一工作状态参数,将其与控制单元内置的参数格式进行比对,检查所预加载的第一工作状态参数是否符合DPS模块的参数协议格式,具体包括但不限于检查数据长度和参数区间范围。
在步骤S22,从所述各个供电单元回读第二工作状态参数,并将其与所述第一工作状态参数进行对比,得出结果。
其中,所述第二工作状态参数指的是各供电单元对外输出的至少包括电压值的工作状态参数,用于监控供电单元的运行状态以及进行参数加载校准。
其中,所述结果对应的是第一工作状态参数与第二工作状态参数的数值是否一致的判断结果。
可选地,可以通过配置测量单元来实现从所述各个供电单元回读第二工作状态参数,并将其发送至控制单元进行校准和监控。
在本实施例中,还可以依据所述结果进行自动纠错。即依据结果判断是否重新加载对应的参数。相应地,所述预加载模式还包括:
S30:若结果对应否定,则返回重新执行对应的加载步骤,同时累计加载失败次数。
在本实施例中,对应“否定”的结果可以包括但不限于“不一致/不相同/不等同/不符合/不处于”等的输出;对应“肯定”的结果可以包括但不限于“一致/相同/等同/符合/处于”等的输出。
具体而言,当依据步骤S11的结果判定Board ID预加载出错时,在此,不管是不处于有效的ID范围内还是多组Board ID不完全一致,均认为Board ID预加载出错,则返回重新执行步骤S10,即重新执行Board ID的加载。当依据步骤S21的结果判定工作状态参数在由存储单元加载至控制单元时出错,则返回重新执行步骤S21,即重新执行将第一工作状态参数由存储单元加载至控制单元;相应地,当依据步骤S22的结果判定回读对比不一致时,认为工作状态参数由控制单元加载至供电单元时出错,则返回重新执行步骤S20,即重新执行将第一工作状态参数由控制单元加载至各个供电单元。其中,重新加载的参数将直接替换掉原加载的参数。
在本实施例中,还可以通过监控预加载出错/失败的次数,以规避重复地无效加载。具体而言,当本实施例的步骤S11或步骤S21或步骤S22的结果对应否定时,均将累计加载失败次数;其中,一次结果对应否定,便累计加载失败次数增加一。与此同时,本实施例的预加载模式还包括步骤S40。
在步骤S40,当所述加载失败次数累计达到预设阈值时,退出预加载模式。
可选地,在退出预加载模式之前,还包括:发出预加载失败警报,以提醒用户预加载失败。
通过设置预加载出错/失败的次数阈值,在达到阈值后将自动退出预加载模式,以此避免陷入无意义的预加载循环,并做到及时地提示用户进行处理。
请参阅图3,图3是本发明实施例提出的基于预加载模式的DPS模块控制系统的组成与连接示意图。如图3所示,本实施例提供的基于预加载模式的DPS模块控制系统包括:
控制单元1、预加载单元2、存储单元3以及多个的供电单元(如图3所示的供电单元4A、供电单元4B、供电单元4C和供电单元4D);所述控制单元1分别与所述预加载单元2、所述存储单元3以及各个供电单元连接;
所述存储单元3,被配置为存储有DPS模块的Board ID;可选地,被配置为存储有包括Board ID以及第一工作状态参数的预加载参数。
所述预加载单元2,被配置为DPS模块上电后,进入预加载模式;其中,所述预加载模式包括:从存储单元加载DPS模块的Board ID至控制单元,以及将第一工作状态参数由控制单元加载至各个供电单元。
所述供电单元,被配置为在控制单元的控制下为ATE系统的其他模块提供高稳定性,毫伏级精度电压输出。可选地,如图3所示,所述供电单元的数量为4,分别为供电单元4A、供电单元4B、供电单元4C和供电单元4D。
可选地,所述DPS模块控制系统还包括I2C通信单元5和SPI通信单元6;所述控制单元经由所述I2C通信单元与所述存储单元连接;所述控制单元经由所述SPI通信单元分别与各个供电单元连接;
所述I2C通信单元5,被配置为所述预加载单元经由其从存储单元加载Board ID至控制单元;即负责预加载单元与存储单元之间的通信连接;
所述SPI通信单元6,被配置为所述预加载单元经由所述SPI通信单元从控制单元加载第一工作状态参数至各个供电单元,即负责控制单元与存储单元之间的通信连接。
可选地,所述DPS模块控制系统还包括分别与各个供电单元连接以及经由所述SPI通信单元与所述控制单元连接的测量单元7;所述测量单元7,被配置为从所述各个供电单元回读第二工作状态参数至控制单元;
所述控制单元1,还被配置为将第二工作状态参数与所述第一工作状态参数进行对比,以及判断所加载的第一工作状态参数是否符合协议格式,并分别得出结果;以及被配置为判断所载入的Board ID是否处于有效的ID范围内以及多组的Board ID是否一致,并分别得出结果,以及被配置为若结果对应否定,则返回重新执行对应的加载步骤,同时累计加载失败次数;以及被配置为当所述加载失败次数累计达到预设阈值时,退出预加载模式。
可选地,所述DPS模块控制系统还包括温度监控单元8,所述温度监控单元8经由所述I2C通信单元5与所述控制单元1连接,被配置为监控DPS模块的温度情况,当温度超过阈值时发出温度报警。
可选地,所述存储单元3,被配置为DPS模块下电后记录并存储DPS模块的状态参数、DPS模块的Board ID信息,以及存储预加载模式中的预加载参数。其中,预加载参数包括的多组的Board ID以及第一工作状态参数,储存在存储单元的不同地址。优选地,所述存储单元经由所述2C通信单元与控制单元通信连接。
请参阅图4,图4为本发明实施例提出的一种基于预加载模式的DPS模块控制方法中预加载模式的流程示意图三,如图4所示,所述基于预加载模式的DPS模块控制方法,包括:
DPS模块上电后,预加载单元检测到工作电压,进入预加载预备状态;
预加载单元监测到持续一个预加载周期(如300毫秒)的工作电压后,激励DPS模块的控制单元启动并进入预加载模式;
在预加载模式的第一个预加载周期,I2C通信单元启动控制单元与存储单元之间的I2C通信,将存储单元内储存的预加载数据,即多组Board ID和工作状态参数载入控制单元内置的SRAM;
可选地,第一个预加载周期内,通过I2C通信单元在存储单元内寻址,在状态参数存储地址区间内获得DPS模块状态参数、DPS模块的Board ID信息和预加载模式中需预加载的工作状态参数。其中,在板编号地址一、板编号地址二和板编号地址三地址区间内获得DPS模块的Board ID信息后再通过I2C通信单元将数据载入控制单元内置的SRAM。
预加载模式的第一个预加载周期结束后,进入第二个预加载周期;
在预加载模式的第二个预加载周期,控制单元检查载入的数据是否符合协议格式,载入的多组Board ID与存储单元内存储的是否一致;
可选地,第二个预加载周期内,先对载入的多组Board ID进行对比,检查多组的Board ID是否一致;再读取载入的DPS状态参数和预加载模式预加载参数,即工作状态参数,与控制单元内置的参数格式进行比对,检查上述参数是否符合DPS模块的参数协议格式。
若检查通过,在第二个预加载周期结束后进入第三个预加载周期,否则返回重新执行第一个预加载周期,并使预加载失败计数增加一;
在预加载模式的第三个预加载周期,控制模块将载入的Board ID数据设置成该DPS模块的Board ID标识码;同时,SPI通信单元启动控制单元与供电单元之间的SPI通信,将控制单元内置SRAM中保存的工作状态参数预加载入每一个供电单元(如供电单元A、供电单元B、供电单元C和供电单元D)对应的寄存器内,完成供电单元的工作参数设置和校准系数参数设置;
可选地,第三个预加载周期内,通过SPI通信单元在控制单元内寻址,获得第一个预加载周期中载入的供电单元工作状态参数,再通过SPI通信单元将供电单元的工作状态参数并行载入每个供电单元(即供电单元A、供电单元B、供电单元C和供电单元D)对应的寄存器内,完成供电单元的工作参数设置和校准系数参数设置。
预加载模式的第三个预加载周期结束后,进入第四个预加载周期。
在预加载模式的第四个预加载周期,SPI通信单元启动控制单元与存储单元之间的SPI通信,控制单元回读写入每一个供电单元的工作状态参数。
可选地,第四个预加载周期内,通过SPI通信单元轮流在每一个供电单元内寻址,从对应寄存器内回读供电单元工作状态参数,再将上述工作状态参数载入控制单元的临时寄存器内。
预加载模式的第四个预加载周期结束后,进入第五个预加载周期;
在预加载模式的第五个预加载周期,控制单元对比回读的工作状态参数,检查写入每一个供电单元的数据是否正确;
可选地,第五个预加载周期内,控制单元读出内置SRAM上状态参数暂存地址第一区间内存储的工作状态参数,与第四个预加载周期内从供电单元A回读的工作状态参数进行比对;读出内置SRAM上状态参数暂存地址第二区间内存储的工作状态参数,与第四个预加载周期内从供电单元B回读的工作状态参数进行比对;读出内置SRAM上状态参数暂存地址第三区间内存储的工作状态参数,与第四个预加载周期内从供电单元C回读的工作状态参数进行比对;读出内置SRAM上状态参数暂存地址第四区间内存储的工作状态参数,与第四个预加载周期内从供电单元D回读的工作状态参数进行比对。依次将两边读出的对应参数一一对比,若存在至少一组数据不匹配,则视为检查不通过;
若检查通过,则预加载流程结束,退出预加载模式,否则返回重新执行第三个预加载周期,并使预加载失败计数增加一;
当预加载失败计数增加至阈值(如10次),发出预加载错误警报,并退出预加载模式。其中,预加载失败计数用于记录一次DPS模块启动过程中重复执行预加载参数的次数,当次数达到预设阈值,则认定预加载模式失效,发出预加载失败警报,将预加载失败标识符拉高并退出预加载模式。
本发明的实施例还提供一种基于预加载模式的DPS模块控制系统,包括主控的控制单元和负责启动和控制DPS模块进入预加载流程的预加载单元。
其中,控制单元通过一组16bits地址总线和一组16bits数据总线与ATE主控模块通信,通过SPI协议与供电单元和测量单元通信,通过I2C协议与存储单元与温度监控单元通信。
其中,预加载单元在DPS模块上电后直接在控制单元上启动预加载模式。
可选地,所述系统还包括74组工作状态参数,以及为ATE其他模块提供毫伏级精准稳定电压的四个供电单元:供电单元A、供电单元B、供电单元C和供电单元D。
其中,供电单元A、供电单元B、供电单元C和供电单元D拥有各自的工作状态参数设置和校准系数参数设置,可以为ATE系统的其他模块提供毫伏级精度的电压输出。所述供电单元通过SPI协议与控制单元通信。
可选地,所述系统还包括用于回读供电单元对外输出电压值,以及监控供电单元运行状态并加以校准的测量单元。
其中,测量单元会根据系统设置次数回读供电单元对外输出电压值后对多次读取结果取平均值,得到标准单位时间内供电单元的稳定输出电压值和输出电压值的一致性。所述测量单元通过SPI协议与控制单元通信。
可选地,所述系统还包括用于监控DPS模块温度情况,当温度超过阈值,如130°C时发出温度报警的温度监控单元。所述温度监控单元通过I2C协议与控制单元通信。
可选地,所述系统还包括用于下电后记录并存储DPS模块状态参数、DPS模块BoardID信息以及存储预加载模式中预加载参数的存储单元。
其中,DPS模块的Board ID包含三组,分别储存在存储单元的板编号地址一、板编号地址二和板编号地址三。所述存储单元通过I2C协议与控制单元进行通信。
可选地,所述系统还包括两个模块内通信单元:SPI通信单元和I2C通信单元。
其中,SPI通信单元负责维护控制单元与供电单元,测量单元之间的通信;I2C通信单元负责维护控制单元与温度监控单元,存储单元之间的通信。
本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序在被处理器执行时能够实现上述各个实施例所述的基于预加载模式的DPS模块控制方法。具体的方法步骤在此不进行复述,详情请参阅上述各个实施例的记载。
本发明提供的基于预加载模式的DPS模块控制方法、系统,适用于电路自动测试机ATE系统,能够做到自动预加载DPS模块参数,并具备自动检查和纠错功能,能够提高ATE系统的一致性、稳定性、可靠性和整体效率。
本领域内的技术人员应明白,本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
应当注意的是,在权利要求中,不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的部件或步骤。位于部件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的部件。本发明可以借助于包括有若干不同部件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中,这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。
尽管已描述了本发明的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征 “上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、 “示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不应理解为必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本发明的限制,本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (5)
1.基于预加载模式的DPS模块控制方法,其特征在于,包括:
DPS模块上电后,进入预加载模式;
所述预加载模式包括:从存储单元加载DPS模块的Board ID至控制单元,以及将第一工作状态参数由控制单元加载至各个供电单元;
所述将第一工作状态参数由控制单元加载至各个供电单元,之后,还包括:从所述各个供电单元回读第二工作状态参数,并将其与所述第一工作状态参数进行对比,得出结果;
所加载的Board ID有多组;所述从存储单元加载DPS模块的Board ID至控制单元,之后,还包括:判断所加载的Board ID是否处于有效的ID范围内以及多组的Board ID是否一致,并分别得出结果;
所述将第一工作状态参数由控制单元加载至各个供电单元,之前,还包括:从存储单元加载第一工作状态参数至控制单元;以及判断所加载的第一工作状态参数是否符合协议格式,得出结果;
若结果对应否定,则返回重新执行对应的加载步骤,同时累计加载失败次数;
所述预加载模式还包括:当所述加载失败次数累计达到预设阈值时,退出预加载模式。
2.如权利要求1所述的DPS模块控制方法,其特征在于,通过I2C总线加载所述Board ID至控制单元和/或通过SPI协议加载所述第一工作状态参数至各个供电单元。
3.如权利要求1所述的DPS模块控制方法,其特征在于,所述第一工作状态参数包括以下参数中的至少一个:热关断开关控制参数、MEASOUT输出增益参数、驱动放大器使能参数、窗口比较器功能参数、驱动放大器关断参数、LOAD引脚功能参数、电流范围寻址参数、比较器功能选择参数、测量模式选择参数、箝位使能参数、系统驱动和检测线路寻址参数、压摆率控制参数、组合模式参数、补偿寄存器参数、警报设置参数、诊断选择参数、Offset偏置参数、OSD开路检测参数、DGS被测地检测参数、驱动电压增益校准参数、驱动电压偏置校准参数、低位箝位电流增益校准参数、低位箝位电流偏置校准参数、高位箝位电流增益校准参数、高位箝位电流偏置校准参数、低位对比电压增益校准参数、低位对比电压偏置校准参数、高位对比电压增益校准参数、高位对比电压偏置校准参数、低位对比电流增益校准参数、低位对比电流偏置校准参数、高位对比电流增益校准参数以及高位对比电流偏置校准参数。
4.基于预加载模式的DPS模块控制系统,其特征在于,包括:控制单元、预加载单元、存储单元以及多个的供电单元;所述控制单元分别与所述预加载单元、所述存储单元以及各个供电单元连接;
所述存储单元,被配置为存储有DPS模块的Board ID;
所述预加载单元,被配置为DPS模块上电后,进入预加载模式;其中,所述预加载模式包括:从存储单元加载DPS模块的Board ID至控制单元,以及将第一工作状态参数由控制单元加载至各个供电单元;还包括分别与各个供电单元和所述控制单元连接的测量单元;所述测量单元,被配置为从所述各个供电单元回读第二工作状态参数至控制单元;
所述控制单元,还被配置为将第二工作状态参数与所述第一工作状态参数进行对比,得出结果;以及被配置为
判断所加载的Board ID是否处于有效的ID范围内以及多组的Board ID是否一致,并分别得出结果,以及被配置为
若结果对应否定,则返回重新执行对应的加载步骤,同时累计加载失败次数;以及被配置为
当所述加载失败次数累计达到预设阈值时,退出预加载模式。
5.如权利要求4所述的基于预加载模式的DPS模块控制系统,其特征在于,所述DPS模块控制系统还包括I2C通信单元和SPI通信单元;所述控制单元经由所述I2C通信单元与所述存储单元连接;所述控制单元经由所述SPI通信单元分别与各个供电单元连接;
所述I2C通信单元,被配置为所述预加载单元经由所述I2C通信单元从存储单元加载Board ID至控制单元;
所述SPI通信单元,被配置为所述预加载单元经由所述SPI通信单元从控制单元加载第一工作状态参数至各个供电单元。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202310760259.5A CN116520754B (zh) | 2023-06-27 | 2023-06-27 | 基于预加载模式的dps模块控制方法、系统 |
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CN202310760259.5A CN116520754B (zh) | 2023-06-27 | 2023-06-27 | 基于预加载模式的dps模块控制方法、系统 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN116520754A CN116520754A (zh) | 2023-08-01 |
CN116520754B true CN116520754B (zh) | 2023-09-22 |
Family
ID=87396165
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202310760259.5A Active CN116520754B (zh) | 2023-06-27 | 2023-06-27 | 基于预加载模式的dps模块控制方法、系统 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN116520754B (zh) |
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