JPH10510088A - 整合フィルタを用いて、磁気抵抗ヘッドを利用するハードディスクドライブにおけるヘッドポジショナのマイクロジョグを決定するための方法 - Google Patents

整合フィルタを用いて、磁気抵抗ヘッドを利用するハードディスクドライブにおけるヘッドポジショナのマイクロジョグを決定するための方法

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JPH10510088A JP9513539A JP51353997A JPH10510088A JP H10510088 A JPH10510088 A JP H10510088A JP 9513539 A JP9513539 A JP 9513539A JP 51353997 A JP51353997 A JP 51353997A JP H10510088 A JPH10510088 A JP H10510088A
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Abstract

(57)【要約】 磁気抵抗(MR)トランスデューサヘッドアセンブリと部分応答(PRML)検出器とを用いるディスクドライブにおいてマイクロジョグパラメータを決定するステップは、整合フィルタ技術の利用によるオントラック信号強度の測定において改善された確度を含む。整合フィルタは、選択されるトラック上に予め記録される選択されるテストビットパターンにより生ずると期待される部分応答信号をエミュレートするための回路(424)を含む。整合フィルタ処理技術は、テストビットパターン周波数に絞られる極端に狭いデジタルフィルタ(428−430,432)を設けるため、検出される信号の強度を測定する際に改善された確度を与える。マイクロジョグ距離の改善された決定は隣接トラックからの干渉を測定するステップをさらに含み、最もよい誤り率は最大オントラック信号強度と最小オフトラック干渉との中間のマイクロジョグ位置において達成される。隣接トラック干渉を正確に測定するための新規なデジタル検出器も開示される。

Description

【発明の詳細な説明】 整合フィルタを用いて、磁気抵抗ヘッドを利用する ハードディスクドライブにおける ヘッドポジショナのマイクロジョグを決定するための方法 発明の分野 この発明はデジタルデータ記憶装置に関するものであり、より特定的には、P R4ML読取チャネル等の、デジタルでサンプリングされるタイプの読取チャネ ル、または決定フィードバック等化(DFE)読取チャネルと組合せてMRトラ ンスデューサアセンブリを利用するディスクドライブにおいてマイクロジョグパ ラメータを決定するための改良された方法および装置に関するものである。 背景技術の説明 回転する磁気または光媒体ディスクを利用するデータ記憶装置は、デジタルデ ータの大容量および低コスト記憶が知られている。このようなディスクは、典型 的には、有用な情報を各々が記憶することができる複数の同心データトラック位 置を含む。各トラックに記憶される情報は、同心トラック間で動かされるトラン スデューサヘッドアセンブリによってアクセスされる。このようなアクセスプロ セスは典型的には2つの動作に分けられる。第1に、「トラック探索」動作が、 一般には復元されるべきデータを含むトラック上でトランスデューサアセンブリ を位置決めするよう達成され、第2に、「トラック追従」動作が、データがトラ ックが読取られる間トランスデューサをそのトラックと精密な整合状態に保つ。 これら動作の両方は、データがトランスデューサヘッドアセンブリによってディ スク上の特定のトラックに書込まれるときにも行なわれる。 トランスデューサヘッドアセンブリの物理的位置決めは、典型的には、トラン スデューサアセンブリをその一方端で支持する回転アクチュエータアセンブリに よって達成される。アクチュエータアセンブリの他方端にあるのは、アクチュエ ータアセンブリを、中央に置かれる軸の周囲で旋回させそれに従ってトランスデ ューサヘッドアセンブリをディスク上で移動させる、音声コイルモータ等のアク チュエータモータである。制御回路は、ヘッドアセンブリがディスク上の同心ト ラック間で正確に位置決めされるようアクチュエータモータを制御する。典型的 には、アクチュエータモータは、閉ループサーボ回路を用いてディスク上のトラ ックに対するトランスデューサアセンブリの位置を制御する継続的に位置決め可 能なシステム(サーボシステム)の一部を形成する。このサーボシステムは、ト ランスデューサアセンブリによってディスクから読取られるサーボ情報に基づい てアクチュエータアセンブリの位置を継続的に調整する。 米国特許第5,235,478号および第5,073,833号に開示される ような大容量ディスクドライブでは、トランスデューサヘッドアセンブリは、典 型的には、1つはディスクから情報を読取るためのものであり、もう1つはディ スクに情報を書込むためのものである、2つのトランスデューサを含む。読取ト ランスデューサは磁気抵抗ヘッドであり、書込トランスデューサは誘導ヘッドで ある。当該分野において周知であるように、磁気抵抗ヘッドは、誘導ヘッドより も、記録される磁束遷移に対し遙により感度が高い。したがって、磁気抵抗ヘッ ドの使用は、誘導ヘッドをディスクのデータの読取および書込の両方に用いるデ ィスクドライブに関連するトラック密度に比べて、トラック密度を大きく増加さ せることを可能にする。 ヘッドの物理的配置に関しては、これら2つのヘッドは、典型的には、一方が 他方の後ろになり、それらが相対的に少し離れる状態で、スライダの上に線形に 配置される。代替的には、これら2つのヘッドの各々の中心線は互いにから相対 的に短い距離だけ横方向にオフセットされる。このようなオフセットは、下に説 明するように、読取動作から書込動作への、または書込動作から読取動作への切 換時にアクチュエータアセンブリが中心線間でずらされる、つまり「マイクロジ ョグされ」なければならない径方向距離を最小限にするために利用され得る。ヘ ッドが上に取付けられるスライダは、アクチュエータアセンブリの一方端に取付 けられるトランスデューサヘッドアセンブリの一部を形成する。 一般に、上記のヘッド構成は、書込が広く読取が狭いヘッド構成として公知で ある。特定的には、誘導書込ヘッドは公称トラック幅(トラックピッチ)の約4 分の3である。一方、磁気抵抗読取ヘッドは誘導書込ヘッド幅の約80%である 。 回転アクチュエータアセンブリ上に間隔をおいた2つのトランスデューサヘッ ドを有するトランスデューサヘッドアセンブリを用いることの不利な点の1つは 、トランスデューサアセンブリが同心トラックに対して位置決めされるとトラン スデューサヘッド間の歪み角が現れるという点である。特定的には、トランスデ ューサヘッドが、一方が他方の後ろになる状態で、ディスクの外径付近で所与の トラック上において完全に整列された場合、そのトランスデューサヘッドがディ スクの内径方向に移動されるにつれて、トランスデューサヘッドは下のトラック に対し「歪」む、つまり不整合となる。この影響を補償するために、2つのヘッ ドは互いにから横方向にオフセットされる。したがって、2つのヘッドは、典型 的には、記録媒体の内側直径と外側直径との中間の選択された半径においてのみ 整列され、ヘッドアセンブリがその選択された半径から遠ざかっていずれかの方 向に移動すると不整合または歪んだ状態になる。結果として生ずる不整合は、一 揃いの組のヘッドの場合、ディスクの内径で+30%、ディスクの外径で−30 %にもなり得る。 この歪み角をさらに補償するために、特別な回路を用いてトラック探索動作お よびトラック追従動作中に読出機能および書込機能を調整する。探索動作中、読 取ヘッドを用いて、ディスク上の各トラック内に記録される埋込サーボ情報を読 取す。このサーボ情報は1つ以上の「サーボセクタ」に記録される。このサーボ 情報は、アクチュエータ制御エレクトロニクス装置に、トランスデューサヘッド アセンブリが現在上を通過している特定のトラック番号と、その特定のデータト ラックに対するヘッドの相対的整合とを知らせる。 所望のトラックが見つかると、読取ヘッドによって読取られたサーボ情報を、 アクチュエータ音声コイルモータを制御する閉ループサーボ内で用いて、位置誤 り信号(PES)を最小にするようアクチュエータ構造を移動させ、それによっ て読取ヘッドをその選択されたデータトラックの中央と整列状態に正確に維持す る。PESは必ずしも0に落ち着く必要はない。むしろ、サーボは、ヘッドを、 適当なマイクロジョグ距離だけ調整される所望のトラック位置に移動させる。こ の後、読取ヘッドは、データ読取動作において、各サーボセクタに続く1つ以上 のデータセグメントにあるデータを読取り得る。 上に注記されるように、回転アクチュエータはヘッド構造と同心データトラッ クとの間に歪み角を本質的に出現させるものであり、なぜならそれは、ヘッドが 、真直ぐな径方向線に沿ってではなく、弧に沿って位置決めされるからである。 加えて、データトランスデューサヘッド構造内で別々の書込素子と読取素子とが 縦に一列に並んで配される状態では、書込素子と読取素子との間のさらなる歪み 角またはオフセットが任意の特定の径方向トラック位置に存在するかもしれない 。ディスクへのデータ書込動作が、トラック内で読取素子によって追従されてい る最中のデータセグメントにおいて実行される場合、書込ギャップはヘッド歪み に関連する量だけトラック中心線からオフセットされることになり、アクチュエ ータアセンブリは、書込ヘッドをトラック中心線と整列状態にするために、「マ イクロジョグ距離」として公知の距離だけ動かされなければならない。 この態様において、書込動作の始めでサーボセクタに遭遇すると、読取素子は サーボセクタ内からヘッド位置情報を取出し、サーボ制御ループがマイクロジョ グ距離を決定する。次いで、書込動作が実行される前に、トランスデューサヘッ ドアセンブリがマイクロジョグされて書込素子をトラック中心線と整列させる。 このマイクロジョグ距離は、製造中に決定されてディスクドライブに記憶される 。マイクロジョグ距離は、そのディスク(または複数のディスク)上のトラック ごとに決定されてもよく、または少なくとも選択されるトラックに対し、さまざ まな径方向位置において決定されてもよい。 カイ(Chi)への米国特許第4,802,033号は、ディスクドライブシス テムのための共通の支持体上に作られる誘導記録ヘッドと磁気抵抗読取ヘッドと の間の「トラック方向差」またはマイクロジョグを測定し記録するための方法お よび装置を開示している。この引例に従うと、いくつかの特定されない「テスト 信号」がまず基準トラック上に記録される。読取ヘッドがその基準トラック上に 名目上位置決めされる状態で始まって、マイクロプロセッサコントローラを用い て最大再生信号強度を試行錯誤アルゴリズムで決定する。特定的には、ヘッド位 置サーボはヘッド位置を1/4トラックの分解能で増分させる。各新しい位置に おいて、マイクロプロセッサは検出される信号強度をその前に記録された信号強 度と比較して、改善があるか否かを判断する。ヘッドは改善された信号強度の方 向にさらなる増分だけ動かされ、検出される信号強度が減少した場合には逆の方 向に戻される。この態様で、最大の検出される信号強度位置が1/4トラック分 解能内で検出され、この情報はヘッド位置決めを制御する際のバイアスまたはオ フセットとして後に用いるために記憶される。 ’033引例は再生エレクトロニクス装置におけるノイズの影響を考慮しては おらず、特定的には、記載される「差を自己較正するルーチン」を実行している 間の、隣接トラック上に記録されるデータの影響を考慮していない。信号強度検 出器の性質は、それが包絡線検波器であってもよいということ以外には説明され ていない。このマイクロジョグ問題に対処する別の方策がメイヤー(Meyer)へ のより最近の米国特許第5,257,149号に示唆されている。メイヤーは、 デュアルギャップヘッドの構造の或る詳細を示しており、ヘッドオフセットおよ び歪み問題を認識している。メイヤーにより提案される解決法は、媒体上におい て各データフィールドに対し2つのアドレスフィールドを設けることである。第 1のアドレスフィールドは、データトラック上において読取フィールドと整列さ れ、読取動作中に用いられる。第2のアドレスフィールドは、このデータトラッ クからはオフセットされ、書込動作中に用いられる。ディスク面にデータを書込 む前に、ディスクコントローラは「書込アドレスフィールドを読取れ」というコ マンドを発行する。これにより、磁気ヘッドは、書込アドレスフィールドが読ま れるようオフセットされる。このアドレスフィールドはデータトラックからは既 にオフセットされているので、書込動作は磁気ヘッドがさらにジョグすることな く進み得る。この方策は磁気ヘッドの再位置決めに関連する遅延を低減するかも しれない一方で、重複アドレスフィールドに対する要件のため非常に大きな媒体 領域を無駄にする。 読取チャネル自動利得制御ループの利得を横方向位置の関数として測定するこ とによってMR素子の読取ヘッドと書込ヘッドとの間のマイクロジョグ距離を決 定することも公知である。最小利得の位置は検出される最大の信号強度におそら く対応する。しかしながら、この方法においても確度は制限され、というのも、 信号強度は、どのように測定されようとも、ノイズの影響 −特に隣接するトラ ックの情報− および後で説明される読取ヘッドの応答における非線形性のため 、読取/書込ヘッドのオフセットに直接は対応しないからである。さらに、検出 さ れる信号の振幅を評価する際に用いられるフィルタの帯域幅は過度に広く、マイ クロジョグパラメータの評価にノイズを入らせる。このノイズは評価の質を落と す。しかしながら、利得ループの幅広い周波数域は、読取動作中における恣意的 なビットパターンに対する増幅器の高速な適合を可能にするのに必要である。 したがって、オフセットまたはマイクロジョグ距離を決定する際のよりよい確 度に対する要求が依然としてある。 発明の概要 上記の背景に鑑み、この発明の目的は、ディスクドライブにおいてマイクロジ ョグ距離を決定する際の確度を改善することである。 さらなる目的は、マイクロジョグ距離を決定することに関連して、隣接トラッ ク情報の影響を最小限にすることである。 この発明の別の目的は、ディスクドライブにおける現行構成要素を増強するマ イクロジョグ距離を決定する方法を提供することである。 別の目的は、ディスクドライブのコストを最小限にしながら、改善されたマイ クロジョグ確度を伴う改良されたディスクドライブを提供することである。 この発明のさらなる目的は、読取チャネル速度を妥協することなく隣接トラッ ク情報の影響を最小限にするようにマイクロジョグ距離を決定するためのノイズ フィルタ処理を改善することである。 この発明の1つの局面は、ディスクドライブ記録媒体上の選択されるトラック に対しマイクロジョグ距離を決定する方法である。この新しい方法は、オントラ ック読取信号エネルギが最大になる、選択されるトラックの公称中心線からの第 1のオフセット距離を決定するステップと;次に、隣接トラック読出信号干渉エ ネルギが最小になる、選択されるトラックの公称中心線からの第2のオフセット 距離を決定するステップと;次いで、第1のオフセット距離と第2のオフセット 距離との中間の第3のオフセット距離を、選択されるトラックに対するマイクロ ジョグ距離として選択するステップとを要する。好ましくは、最もよい誤り率は 、最大オントラック信号のオフトラック干渉に対する比が最大となるオフセット 位置にある。 この発明の別の局面は、信号振幅を正確に判断するために、選択されるトラッ クに予め記録されるテスト信号に対する検出された信号の整合フィルタ処理を含 む、ディスクドライブにおいてマイクロジョグを決定する方法である。 この発明の別の局面は、選択されるテストビットパターンを選択されるトラッ ク上に記録して、マイクロジョグデータサンプルとして働くようにするステップ を含む。この方法はさらに、記憶されるビットパターンに応答する第1の一連の 信号を受取るために、デジタルでサンプリングされる検出器をディスクドライブ 再生要素に結合するステップと;第1の一連の信号を等化するステップと;MR ヘッドのマイクロジョグを示す整合フィルタ出力信号を形成するために、等化さ れた信号をフィルタ処理するステップとを含む。一実施例において、再生信号は 一続きのPR4部分応答サンプルを形成する。別の実施例では、この再生信号は 一連のEPR4(拡張されたPR4)部分応答サンプルを形成する。この発明は DFE読取チャネルとともにも用いられ得る。 この発明の上記および他の目的、特徴および利点は、図面を参照して進められ る好ましい実施例の以下の詳細な説明からより容易に明らかとなる。 図面の簡単な説明 図1は、ディスクドライブヘッドおよびディスクアセンブリ(HDA)の上面 平面図と、この発明を実行する際に用いられる読取/書込チャネルを含むディス クドライブエレクトロニクス装置の単純化されたブロック図とを示す。 図2は、書込が広い誘導薄膜ヘッドと読取が狭い磁気抵抗(MR)読取素子と を含むトランスデューサアセンブリを含む図1のHDAのヘッド−ジンバルアセ ンブリの単純化された概略図である。 図3は、ヘッドトランスデューサアセンブリの単純化された拡大図である。 図4は、ディスクからヘッド方向に見た磁気抵抗記録ヘッドを示す図である。 図5は、MR記録ヘッドの単純化された側面図である。 図6は、記録ディスク面の上面図における2つの異なる径方向位置でのトラン スデューサヘッドアセンブリを示す。 図7は、いくつかの隣接トラックにわたるMR読取センサと誘導書込ギャップ との相対的位置および向きを示す図である。 図8は、デュアルトランスデューサヘッドアセンブリの場合における、横方向 位置に対するヘッド感度を示すグラフである。 図9は、この発明に従って整合フィルタ処理を用いてマイクロジョグ距離を決 定するための回路の簡略化されたブロック図である。 図10は、隣接トラック干渉を測定するのに有用な、ディスクドライブ記録媒 体上における磁化パターンの簡略化された図である。 図11は、ディスクドライブにおける隣接トラック干渉を測定するための回路 を示すブロック図である。 図12は、横方向または交差トラック位置の関数として、オントラック信号振 幅と、隣接トラック干渉と、誤り率とを説明するプロットである。 理解を容易にするため、可能な場合には、複数の図において共通である同一の 要素を示すために同様の参照番号が用いられている。 好ましい実施例の詳細な説明 最初のいくつかの図面は典型的なディスクドライブ装置を示しており、この発 明の流れを伝えるため、および現行のディスクドライブの、この発明を理解し用 いることに関連する局面を説明するために比較的簡単に説明される。図示される ように、この発明は、現行のディスクドライブ装置に組込まれそれと共働し得る 回路を含む。MRディスクドライブの概観 図1は、ディスクヘッドおよびディスクアセンブリ(HDA)100の上面平 面図と、回路板101とを示す。当座の目的のため、これらの各々の原理的局面 のみを記載する。ディスクドライブHDA100は、回転可能な磁気記憶ディス ク102と、ディスクを回転させるためのスピンドルモータ(図示せず)と、ハ ブ104と、回転音声コイルアクチュエータアセンブリ106とを含む。読取/ 書込回路、前置増幅器等は回路107に含まれ、これは、HDA100がケーブ ル126を介してディスクドライブエレクトロニクス回路板101に接続される ことを可能にする可撓性回路126によって回転アクチュエータに接続される。 単純化のため、本議論はディスクドライブにおいて単一の記憶ディスクにのみ言 及しているが、当業者ならば、この発明が、複数のディスクが共通のスピンドル に取付けられるディスクドライブにおいて用いられ得ることを認識するであろう 。典型的には、記憶ディスク102は、データを、デジタル飽和記録技術によっ て書込まれる長手バイポーラ磁化パターンの形式で、たとえばトラック126で ある各同心データトラック内に記憶する磁気材料で被覆される。 アクチュエータアセンブリ106は、従来的に、各データ面に対するトランス デューサヘッドアセンブリ110と、キャリッジアセンブリ112と、回転音声 コイルアクチュエータモータ114とを含む。回転型アクチュエータアセンブリ 106において、トランスデューサヘッドジンバルアセンブリ110はキャリッ ジ112の外側端116に取付けられ、一方アクチュエータモータ音声コイル1 14はキャリッジのハブ端118に取付けられる。アクチュエータ音声コイルモ ータの選択的活性化により、アクチュエータアセンブリ106は、記憶ディスク 102の表面上でトランスデューサアセンブリ110を位置決めするための旋回 軸の周囲を回転する。これにより、後により詳細に記載されるように、データは トランスデューサアセンブリ110に配置されるトランスデューサによって各デ ータ記憶面ディスク102に書込まれ、およびそこから読取られる。 ディスクドライブエレクトロニクス装置101は一般に以下の主な構成要素を 含む。読取/書込チャネルエレクトロニクス装置107については後でより詳細 に論ずる。モータ制御ASIC105、ディスクドライブエレクトロニクスAS IC109、DRAMバッファ111およびマイクロプロセッサ103は、差し 当たって当業者ならば十分に精通している機能を与える。マイクロジョグ距離を 決定することに関連するこの発明の方法および装置は、好ましくは、読取/書込 チャネル107およびマイクロプロセッサ103に関連して、説明されるように 実施される。磁気抵抗トランスデューサ 図2は、図1のHDAのヘッド−ジンバルアセンブリをより詳細に示す。典型 的には、ヘッド−ジンバルアセンブリ110は、薄膜誘導書込ヘッド200と、 シールドされる磁気抵抗薄膜読取ヘッド202とを含むデュアルヘッドトランス デューサアセンブリ122を含む。注記されるように、書込素子の有効幅は、「 書込が広く読取が狭い」構成として当該分野において公知であるものにおいては 、MR読取素子の有効幅よりも広い。図3を参照して、この図は、読取素子20 2が書込素子200からどのように長手方向にオフセットしているかを示し、上 で説明したように回転アクチュエータにより課される径方向歪みのため、書込素 子および読取素子の有効中心線もオフセットしている。図3において、読取ヘッ ド公称中心線と書込ヘッド公称中心線との間のオフセットが206によって示さ れる。このオフセットは横方向または交差トラック方向におけるものである。ヘ ッド間のインラインまたはイントラックオフセットは204で示される。これら の不整合はデュアルヘッドトランスデューサアセンブリの実際の構造を参照する とよりよく理解される。 図4は、ディスクからヘッド方向に見たトランスデューサアセンブリを示す。 ここで、磁気抵抗センサ202はMRシールド300に沿って延びる。共有され る極/シールド302は、MRセンサに沿って、MRシールド300と対向する 側において延びる。誘導書込ギャップ200は、共有される極302と誘導極3 04との間のギャップによって定義される。図5は、同じMR記録ヘッドを断面 で示す。ここで、上記の要素に加えて、断面で示される、たとえば306である 誘導子巻線が見える。 図6は、使用中の、ディスク102に対するトランスデューサアセンブリの位 置決めを示す。回転アクチュエータアセンブリが公称トラック中心線230を有 する第1のトラック上でトランスデューサアセンブリを位置決めすると、読取素 子および書込素子の両方がそのトラック中心線上で少なくとも物理的にはおおよ そ中心に置かれるのが認められるだろう。しかしながら、第2の位置の隣接トラ ック210では、公称トラック中心線210に対するヘッドの位置決めは歪み角 の変動のため変化されることが認められるだろう。 図7は、トラック126と、そのいずれかの側に隣接するトラックとに対する 、誘導書込ギャップ200とMRセンサ202との位置決めの例をより詳細に示 す。図7において、書込ギャップの中心線はトラック126内の中心に置かれる 。イ ンライン分離と、歪み角と、横方向不整合とのため、MR読取素子は公称トラッ ク位置からオフセットされる。 この読取素子不整合は、しばしば、その感度における非線形性のゆえにさらに 悪化される。図8は、磁気抵抗ヘッドの場合の、位置に対するヘッド感度を示す グラフである。ここで、曲線320はヘッド感度特性曲線の一例を示し、破線3 22は異なるヘッドの場合のヘッド感度特性曲線を示す。この図によって示唆さ れるように、感度は、ヘッド製造プロセスを制御する際の制限のため、1つのヘ ッドと別のヘッドとでは変動する。この感度は1つのヘッドと別のヘッドとの間 で変動するのみならず、時に非線形になる。いずれの場合にせよ、磁気的中心、 つまりヘッド感度の中心はその物理的中心と同じであると仮定することはできな い。これらすべての理由から、マイクロジョグ距離は、各ディスクドライブに対 し、およびそのドライブの各MRヘッドに対し、個々に決定されなければならな い。加えて、歪み角における変動のため、マイクロジョグ距離はディスクの異な る径方向ゾーンに対して決定されなければならない。理想的には、マイクロジョ グそのものが各トラックに対し決定されてもよい。実際には、典型的なディスク は、大まかに一定の面積密度を維持するために、たとえば16の径方向ゾーンに 論理上区分される。マイクロジョグは、好ましくは、中間ゾーンに対して用いら れる補間を伴って径方向ゾーンのたとえば4つごとに決定される。この発明は、 マイクロジョグ距離を正確に決定するための方法および装置に向けられるもので ある。 図9は、現在好ましい実施例におけるこの発明の一局面を示すディスクドライ ブの選択された部分のブロック図である。ディスクドライブヘッドおよびディス クアセンブリHDA100は、従来のように記録用ディスク102の一定の回転 速度を与えるようスピンモータ制御105によって制御されるモータ103を含 む。ヘッド位置サーボループ107は、トランスデューサヘッドアセンブリ12 2を適当なように制御可能に位置決めするようキャリッジ112を回転させるた めの回転音声コイルアクチュエータモータ114を制御する。トランスデューサ ヘッドアセンブリはヘッド選択/読取チャネル前置増幅器402に結合される。 ヘッド選択/読取チャネル前置増幅器は、ノイズの拾い上げを低減するために、 好ましくは、HDA100内においてMRヘッドに近接する状態で含まれる。従 来的に、前置増幅器402は、薄い、可撓性のプラスチックプリント回路基板に よって接続される。読取チャネル 読取チャネルの動作を、それがこの発明に関連するように理解するためには、 データが一般的にどのようにディスクに書込まれるかをまず簡単に見てみること が有益である。入力データ経路(図示せず)は、入力デジタルバイトストリーム をたとえば(0,4/4)変調コードなどの所定のデータコード化フォーマット に従ってコード化されるデータシーケンスに変換するエンコーダ/デコーダ回路 を含む。このコード化された直列データストリームは、次いで、そのデータをた とえば部分応答クラス4(PR4)プリコード化アルゴリズムに従ってプリコー ドするプリコーダ(図示せず)に送られる。結果として生じたデータは、次いで 、書込前置補償回路、書込ドライバ回路を通過し、最終的にはその選択されたデ ータトランスデューサヘッドに送られる。誘導ヘッド200は、そのデータを、 選択されたデータトラック内において、交番磁束遷移のパターンとして書込む。 図9に戻って、再生中、トランスデューサヘッドが選択されたデータトラック 上を浮動するとトランスデューサヘッドによって感知される磁束遷移は読取前置 増幅器回路402によって前置増幅される。この前置増幅されたアナログ信号ま たは「読取信号」は、経路404上を、1つ以上のアナログ増幅器(図示せず) を介して、プログラマブルアナログフィルタ/イコライザ406に伝送される。 アナログフィルタ/イコライザ406は、ヘッドが現在データを読取っている径 方向ゾーンのデータ転送速度に対し最適化されるようにプログラムされる。次い で、等化されたアナログ読取信号は、1つ以上の固定利得および/または可変利 得増幅器を含んでもよい増幅器408を通して送られる。これらの構成要素およ びそれらの動作は、ここに引用により援用される、共通の譲受人に譲渡された米 国特許第5,345,342号により詳細に記載されている。 等化されたアナログ読取信号は、次いで、ユーザデータに同期されると原始デ ータサンプルを発生させる高速フラッシュアナログ−デジタル(A/D)変換器 410においてサンプリングされ量子化される。この原始データサンプルは次い で、通常読取動作の場合所望の(たとえばPR4)チャネル応答特性に従って原 始データサンプルをフィルタ処理し条件付けるための適応型フィルタ係数を用い るFIRフィルタ412に入力される。ノード426でFIRフィルタを出た、 バンドパスフィルタ処理され条件付けされたデータサンプルは、ビタビ「最大尤 度検出器」アルゴリズムに基づいてデータストリームを検出するビタビ検出器4 14に入力される。結果として生ずるデコードされたデータは、元のコード化規 則をそのデコードされたデータに復元するためのさらなる処理のための所定のコ ード化規則に従って経路416上に与えられる。この復元された、コード化され たデータストリームは(0,4/4)コードからデコードされ非直列化されるな どして、出力のためにシーケンサ(図示せず)に送られる。記憶されたデータを 読取るための読取チャネルの動作のさらなる詳細は前述の’342特許に記載さ れる。 上の議論では、ディスクドライブが実際に使用されているときにユーザデータ を回復するための読取動作中のPRML読取チャネルの動作をまとめた。次に、 読取チャネルエレクトロニクス装置の選択された部分を利用する、マイクロジョ グ距離を決定するための方法および装置について記載する。マイクロジョグ距離 は、一般には、ディスクドライブが組立てられた後、それが工場を出る前に、評 価されてディスクドライブに記録される。これは、たとえばディスクの各ゾーン に対し読取チャネルFIRフィルタ係数を選択し記憶することを含む、初期化お よび最適化手順の一環として行なわれる。マイクロジョグ距離を決定するとき、 読取チャネルエレクトロニクス装置は、適所にあり、機能中である。整合フィルタ処理を用いてマイクロジョグパラメータを評価する 背景において注記したように、検出器チャネルの利得ループを用いることによ って、読取素子と書込素子との間のオフセットを評価することは公知である。換 言すれば、読取信号振幅は読取チャネルの調整可能利得ループにおける利得レベ ルに反比例する、と仮定される。読取信号の振幅をオフセット位置の関数として 測定することにより、最大再生信号およびしたがって現在のトラックのマイクロ ジョグを生じさせるオフセットを決定することができる。この先行技術の方策の 1つの欠点は、信号の振幅を評価する際に用いられるフィルタの帯域幅が過度に 広く、マイクロジョグパラメータの評価にノイズを注入し、したがってその評価 の質を下げるということである、と我々は判断した。 この発明の1つの局面に従うと、「テストビットパターン」と呼ばれる選択さ れたビットパターンがまずディスクに書込まれる。読取動作中にテストビットパ ターンから生ずる読取信号は、自動利得ループが不能化される状態で(つまり固 定された公称値に設定される状態で)、およびFIRフィルタが静的モードにあ る状態で、部分応答検出器を用いて検出される。等化されたサンプルは、次いで 、各サンプルに対して予期される公称値で各サンプルを乗算してその結果を下に より詳細に記載されるように累算することによって整合フィルタ処理される。マ イクロジョグを評価することに関連してテストビットシーケンスを検出するため に用いられる回路は、図9の普通の読取チャネルFIRフィルタ412とは別で あり、それと混同してはならない。このテストビットシーケンスを与えるために さまざまなビットパターンが予め記録され得る。 現在の好ましい実施例において、テストビットパターンは方形波、つまり11 001100ビットシーケンスである。この方形波パターンはPRフィルタから の最大エネルギに対して選択された。これはすべての適用例において用いるのに 必ずしも最適なパターンではない。 再び図9を参照して、「無ノイズビットパターンジェネレータ」422はテス トビットパターンを繰返すビットストリームを与える。このビットパターンジェ ネレータは、この開示に鑑み、当業者にとって明らかなさまざまな態様で実施さ れ得る。たとえば、方形波ジェネレータはデジタルICにおいてフリップフロッ プ回路のループとして便宜上実現され得、または選択されたテストビットパター ンはROM等に記憶され得る。どのように実施されるにしても、この同じ無ノイ ズビットパターンジェネレータを用いて、テストビットパターンをディスクに記 録するために入力データストリームを与えることは便利であろう。 マイクロジョグを評価するこの新規な方法の以下の説明では、選択されたテス トビットパターンはディスクに予め記憶されており、ディスクドライブはそのテ ストビットパターンがあるトラックおよびセクタの読取動作において現在動作中 であると仮定される。したがって、テストビットパターンに応答する読取信号は 上述される読取チャネル402、404、406、408、410、412を横 断し、FIRフィルタ412をノード426で出るバンドパスフィルタ処理され 条件付けされたデータサンプルのストリームを生じさせる。これらは「ノイズの あるサンプル」である。同時に、およびそのデータストリームと同期して、ビッ トパターンジェネレータ422は部分応答チャネルエミュレータ回路424にテ ストビットパターンを継続して与える。この部分応答(PR)エミュレータは、 入力ビットパターンを受取り、ディテクタがエミュレートすることが意図される 実際のPRチャネル −つまり調べられている最中であるディスクドライブにお けるPRチャネル− から期待されるであろう無ノイズサンプルを決定するよう 設計される。たとえば、部分応答クラス4システムにおいて、エミュレータ42 4は、現在のビットbKを、時間において2ビット間隔前のビットbK-2から減算 する。好ましくは、エミュレータは相対的に小さいFIRフィルタを含み、なぜ ならそれは、PR4エミュレータの場合2つのメモリユニットしか必要とせず、 または拡張PR4エミュレータの場合4つのメモリユニットしか必要とされない からである。FIRフィルタを実施する詳細は公知である。代替的実施例では、 ビットパターンジェネレータ422および部分応答チャネルエミュレータ424 の機能は、組合され、記録されるテストビットパターンに関連付けられる期待さ れる無ノイズサンプルを単に記憶することによって置換され得る。 いずれの例においても、読取信号の整合フィルタ処理は好ましくは以下のよう に実施される。ノイズのあるサンプルは経路426上でデマルチプレクサ回路4 28に与えられる。無ノイズサンプル(+/−1)は経路427上で制御デマル チプレクサ428に入力される。無ノイズサンプル値が+1である場合、デマル チプレクサはそのノイズのあるサンプルを第1の累算器429に向ける。逆に、 無ノイズサンプル値が−1である場合には、デマルチプレクサはそのノイズのあ るサンプルを第2の累算器430に向ける。各累算器はそれに与えられたそれぞ れの値を合計してその結果を減算器回路432に与える。回路432は−1の項 の合計を+1の項の合計から減算してノード440で整合フィルタ出力を形成す るよう構成される。代替的実施例(図示せず)では、乗算器を用いて各無ノイズ サンプルを対応するノイズのあるサンプルで乗算することができ、結果として生 じた積はテストビットパターン上に累算される。しかしながら、上記の好ましい 実施例の方が実施するのにより単純である。いずれにせよ、整合フィルタ出力の 大きさは、テストビットパターンの長さにわたり、検出されるテスト信号の平均 振幅を示す。異なるオフセット位置に対し信号振幅を繰返し測定することによっ て、最も大きい信号エネルギおよびしたがって当該トラックのマイクロジョグに 対応するオフセットを突き止めることができる。この同じプロセスが、ディスク 面上ですべてのまたは選択されたトラックに対して繰返され得る。 マイクロジョグを評価するための前述の回路および方法は先行技術に対し以下 の利点を有する。第1に、整合フィルタの方策を取った結果、変動が低減されて 、適応型ループの方策で可能なよりもより正確なマイクロジョグの評価がもたら される。第2に、この開示される回路は実施するのが比較的容易である。第3に 、この整合フィルタ技術はデジタルでサンプリングされる任意の検出器システム に適用され得る。第4に、この方法および装置は恣意的なテストビットパターン に適用され得る。これは有利なこととなり得、というのも、ある例におけるヘッ ドのマイクロジョグは記録されるビットパターンに影響されるからである。乗算 器428は、ノイズのあるサンプルを+2、−2、+1、−1および0で乗算す るだけでよいため、PR4またはEPR4部分応答システムの場合には実施が容 易である。これら動作の実施は、周知のように、ビットシフト、2の補数算術等 を用いるデジタル方式では容易である。交差トラック干渉を最小限にする この発明の別の局面は、所与のトラック上において隣接トラックからの干渉を 最小にする横方向位置を決定することによってマイクロジョグパラメータを評価 するための方法および装置を用いる。これは、オントラック信号強度が最大にな る他の方法とは区別される。上に記載されるように、MR再生素子は、一般には 非線形であり、隣接トラック情報に対し感度を有することがしばしばである。さ らに、MRヘッドの場合、最大オントラック信号応答を伴う横方向または交差ト ラック位置は、隣接トラックの最小干渉を伴う交差トラック位置とは必ずしも一 致しない。交差トラック干渉を横方向ヘッド位置の関数として測定することによ り、最小の干渉を伴う位置を決定し得る。この情報をオントラック信号強度につ いての情報と組合せると、オントラック信号強度のオフトラック干渉に対する最 大比を伴う交差トラック位置を決定し得る。我々は、後で説明するように、この 位置が最もよいビット誤り率性能を一般に与えることを発見した。 問題は、過度の費用または複雑さを伴うことなく交差トラック干渉を測定する 正確な方法を提供することである。このような測定はオントラックデータ「干渉 」を相対的に免れなければならない。換言すれば、オフトラック干渉を隔離する ことが、それを正確に測定するのには重要である。この発明に従うと、交差トラ ック干渉測定手順は、慎重に選択されたデータをディスク上の2つの「干渉トラ ック」上に、つまり選択された公称トラック中心の各側にオフセットされる横方 向位置上に書込むことによって始められる。これらのオフセット位置は、それら がその選択された公称トラック中心から1トラックピッチオフセットされて置か れるのではないという意味で、文字通りには「トラック」ではない。むしろ、そ れは、たとえばトラックピッチの何分の1かのような、より短い横方向距離だけ オフセットされる。我々はこの選択されるデータを「干渉ビットパターン」と呼 ぶ。次いで、より高周波数のテストビットパターンが公称トラック中心に書込ま れてオントラックデータを形成する。 図10は、選択されるトラック500についての記載されたデータを記録する ことから生ずる磁化パターンを示す簡略図である。低周波干渉ビットパターンは 第1のオフセット位置510上に記録される。この第1のオフセット位置におい て、たとえば512、516である影のついた矩形は、たとえば514である白 い矩形から対向する方向に磁化された媒体を表わす。この低周波干渉ビットパタ ーンは第2のオフセット位置520(これも影のついた矩形522、526であ り、たとえば524である白い矩形から対向する方向に磁化された媒体を表わす )上にも書込まれる。この2つの干渉ビットパターンは、たとえば1/4または 1/8トラックピッチ等、トラックピッチの何分の1かに記録され、公称トラッ ク500の中心線からはオフセットされている。次いで、好ましくは方形波パタ ーンであるオントラックデータが公称トラック中心線のところで書込まれる。 現在好ましい実施例において、オントラックデータおよび干渉ビットパターン は各々方形波からなる。各方形波の周期はビット周期の整数倍に等しくあるべき である。たとえば、単一のエンコードされたビットの持続期間をTとする場合、 低周波干渉ビットパターンの周期は8Tである。オントラック高周波の方形波デ ータは4Tの周期を有する。位相コヒーレンスを伴う(つまり遷移が整列した状 態で)3つの位置を書込む必要はなく、それを試みる必要もない。記載されるよ うにテストビットパターンを媒体に書込むことについての詳細は当業者には明ら かである。 次に、横方向ヘッド位置の関数としてのオフトラック干渉データの影響を判断 するために、この特別に記録されるデータの読取について考える。図11は、交 差トラック干渉を測定するためのデジタル検出器および回路の簡略化されたブロ ック図である。従来の読取チャネルエレクトロニクス装置は、簡略化された形式 において、上述のアナログフィルタ426と、増幅器408と、A/D変換器4 10と、FIRフィルタ412と、ビタビ検出器414とを含む。 動作において、交差トラック干渉を決定するために、MR読取ヘッドはさまざ まな交差トラック位置から上述のデータ(図10の500、510、520)を 繰返し読取り、オントラック信号および交差トラック干渉の量を測定する。トラ ック上における各通過の間、デジタル検出器は公称トラック上のデータに同期し て、結果として生じた信号をその利得ループが不能化される状態で読む。結果と して生じたデジタルサンプルは、その読取られた波形を同相および直角位相デジ タル低周波方形波と相関させるために、下に記載される2つの相関回路に送られ る。これらの方形波相関器は、干渉トラック上に記録される信号の奇数調波で通 過帯域を有する狭帯域フィルタを形成する。この公称または中心トラックは干渉 データとは異なる周波数で書込まれるため、その応答は(ヘッド非線形性により 導入される偶数調波歪みを除き)オフセット(干渉)トラックのそれに直交し、 したがって干渉測定にほとんど影響しない。 図11を参照して、読取信号404はアナログフィルタ406を通過し、その 結果生じた信号は固定利得増幅器408に入力される。この結果生じた信号はA /D変換器410において同期してサンプリングされる。この離散的サンプルは FIRフィルタ412に入力される。この記載される読取回路はその読取信号を 等化して、ノード426で部分応答サンプルを形成する。マイクロジョグ計算中 はFIRフィルタは適応モードを作動させないことが重要である。この等化され たサンプルは、次いで、上述されるように、公称トラックの両側に書込まれる干 渉ビットパターンの周波数に等しい周波数を伴う2つのデジタル方形波と相関さ れる(図10参照)。 この相関は次のように測定され得る。デジタル方形波の各周期は、一連の+1 に同じ数の−1が続いたものからなる。第1のデジタル方形波ジェネレータ53 0は経路532でそのような一連のビットを与える。第2のデジタル方形波ジェ ネレータ550は、同様ではあるが、第1のデジタル方形波ジェネレータ530 から位相が90°ずれている一連のビットを、経路552で与える。したがって 、Nを整数とし、Tをビットの周期として、各方形波の周期を4NTとすると、 一方の方形波は2N+1/Sで始まり、他方の方形波はN+1/Sで始まる。ノ ード426における等化された読取信号サンプルは、第1のデジタル方形波(ノ ード532)および第1の乗算器回路534によって同期して乗算される。その 積は、ノード540での積の合計を累算するためのフィードバック経路538を 含む加算器536に入力される。積の累算合計は第1の二乗回路570において 二乗され、その結果は第3の加算器回路574に入力される。 同様に、ノード426からの等化された読取サンプルは、第2の乗算器554 において第2のデジタル方形波で同期して乗算される。第2の加算器556は乗 算器554からの積を受取ってそれらをフィードバック経路558を介して累算 し、その積の合計はノード560で出力される。(代替的に、この相関は、図9 を参照して上述されるようにデマルチプレクサおよび累算器回路を用いて、各干 渉トラックに対し測定され得る)。これらの積の合計は第2の二乗回路572で 二乗され、その結果は加算器574に入力されて、累算された合計の二乗の合計 は出力ノード576に現れる。ノード576に現れる数は、ヘッドの現在のオフ セット位置から生じた低周波累乗の量を示す。累算された合計を加算する前に二 乗することは数学的に正確である一方で、単にそれらの絶対値を加算前に取るこ とにより、わずかに劣りはするもののより単純化された、干渉ビットパターンか らの干渉の評価が得られる。 オントラック信号振幅は、横方向ヘッド位置に対し、その干渉が測定されてい る最中と同時に測定され得る。たとえば、オントラック信号は、上述される整合 フィルタ回路および技術を用いて測定され得る。そうするためには、図9の整合 フィルタ処理回路は図11の交差トラック干渉測定回路とともに実施される。両 方の回路はノード426で読取トラックFIRフィルタからのサンプルデータを 受取る。現在の好ましい実施例においては、記載される回路のすべては、オンチ ップで、現行のドライブエレクトロニクス装置で実施される。代替的に、図11 の相関回路の1つを、異なる時間でのオントラック測定のために用いてもよい。 我々は、最適マイクロジョグは、オントラック信号エネルギのオフトラック干渉 に対する比の最大値付近でヘッド位置を選択することによって決定されることを 発見した。干渉測定回路の性能は中央トラック周波数が低周波干渉トラックデー タの偶数倍になるよう選択される場合に最もよく、というのも、両側のトラック のすべての調波は中央トラックの直交調波だからである。440での整合フィル タ出力からのオントラック測定データと、ノード576で与えられる干渉とは、 好適なソフトウェア制御下で図1のマイクロプロセッサ103を用いて処理して 横方向位置に対する比較を行なうために、メモリにおいて便宜上バッファ処理さ れ得る。 この発明のこの局面はいくつかの望ましい利点を有する。第1に、干渉検出器 を実施するための記載される回路は、入来信号を(PR4の場合)+1または− 1で乗算することに依存し、したがってどのような浮動点精度も必要としないた め、実施が容易である。干渉検出器は隣接トラックの同相成分および直角成分の 両方を測定するので、これらトラックと復元されたクロックとの間の精密な位相 コヒーレンスは必要不可欠なものではない。 ここに記載される回路は、相対的に適度な変形およびわずかなコストを伴って 、数多くの現行のディスクドライブ設計に便宜上実施され得る。ディスクドライ ブ製造プロセス中にマイクロジョグパラメータを決定するために配される別のテ スト装置においてこの方法および装置を用いることも可能である。別のテスト装 置は、たとえば、極端に小型化されたディスクドライブ設計がオンチップ回路に おけるさらなる増分増加に対する障害を呈する場合に有利であろう。テスト/エミュレーション結果 図12は、上述の方法および回路のシミュレーションを示すトラックプロファ イルプロットである。図12において、プロットAは、好ましいデジタル検出器 をエミュレートするために、上述されるようにディスク上に書込まれ、中央周波 数が記録される信号の第1の調波と等しい状態でアナログバンドパスフィルタを 用いて測定される2つの低周波干渉トラックの交差トラック干渉を示す。水平方 向の目盛は、(ミクロンでの)公称の書込まれたトラック位置からオフセットし ている状態で表わされる横方向位置を示す。干渉トラックテストビットパターン はたとえば8MHzの大きさの周波数を有してもよい。 プロットBは隔離されたトラックに対するオントラック信号振幅を表わし、プ ロットCは2つの古いデータトラックが+/−2.0μmで書込まれる状態での オントラック信号振幅を表わす。各プロットに対し、異なる垂直方向目盛が用い られることに注意されたい。最後に、曲線Dはビット誤り率のプロットである。 最もよいビット誤り率はオントラック信号最大値および干渉トラック信号最小値 の2つの極値間で生じ、この図では約+0.2ミクロンで生じることに注目され たい。これらのテスト結果により、オントラック信号が最大である場合に最も大 きい信号対ノイズ比が現れると仮定する従来の考えは誤りであることが確認され る。この発明は最小のコストで実施されながら、ディスクドライブ性能において 実質的な改善を達成し得る。 我々の発明の原理をその好ましい実施例において説明し記載したが、この発明 は構成および詳細においてそのような原理から逸脱することなく修正され得るこ とが当業者には容易に明らかとなるはずである。我々は、添付の請求の範囲の精 神および範囲内に入るすべての修正物に対し特許を請求するものである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.磁気抵抗読取・誘導書込トランスデューサ(MR)ヘッドアセンブリと、サ ンプリングされるデジタル検出器読取チャネルとを有するディスクドライブにお いて、ディスクドライブ記録媒体上の選択されたトラックに対しマイクロジョグ 距離を評価する方法であって、前記選択されたトラックは公称中心線位置を有し 、前記方法は、 オントラック読取信号エネルギが最大になる、前記選択されたトラック公称中 心線からの第1のオフセット距離を決定するステップと、 オフトラック読取信号干渉エネルギが最小になる、前記選択されたトラック公 称中心線からの第2のオフセット距離を決定するステップと、 前記第1のオフセット距離と前記第2のオフセット距離との中間の第3のオフ セット距離を、前記選択されたトラックに対するマイクロジョグ距離として選択 するステップとを含む、ディスクドライブ記録媒体上の選択されたトラックに対 しマイクロジョグ距離を評価する方法。 2.オフトラック読取信号干渉エネルギが最小になる、前記選択されたトラック 公称中心線からの第2のオフセット距離を決定する前記ステップは、 第1の周波数を有する干渉ビットパターンを選択するステップと、 前記記録媒体上の2つの選択される干渉位置の各々に前記干渉ビットパターン を記録するステップとを含み、前記干渉位置の各々は、前記公称トラック中心線 のそれぞれの側に、トラックピッチ未満の選択される距離だけ横方向にオフセッ トされ、前記ステップはさらに、 前記選択されたトラックを、前記公称中心線位置からの複数のさまざまなオフ セット距離で読取るステップと、 干渉ビットパターンに応答する読取信号エネルギを前記さまざまなオフセット 位置の各々で測定するステップと、 前記干渉ビットパターンに応答する検出された読取信号エネルギが最小である ところに前記ヘッドアセンブリを位置決めするために、前記さまざまなオフセッ ト距離の1つを前記選択されたトラックに対する前記第2のオフセット距離とし て選択するステップとを含む、請求項1に記載の方法。 3.前記干渉ビットパターンに応答する読取信号エネルギを測定する前記ステッ プは、 前記第1の周波数よりも高い周波数を有するテストビットパターンを選択する ステップと、 前記テストビットパターンを前記公称トラック中心線位置に記録するステップ と、 前記記録ステップ中に、前記干渉ビットパターンからのエネルギの指示を形成 するために、前記干渉ビットパターンに応答する読取信号成分をデジタルで検出 するステップとを含む、請求項2に記載の方法。 4.前記テストビットパターンを選択する前記ステップは、前記テストビットパ ターンが前記干渉ビットパターンに実質的に直交する読取チャネル応答を生じさ せるよう前記テストビットパターンを選択するステップを含む、請求項3に記載 の方法。 5.前記テストビットパターンおよび前記干渉ビットパターンは各々それぞれの 方形波パターンからなる、請求項4に記載の方法。 6.各テストビットパターンの周期は前記干渉ビットパターンの周期の整数倍に 等しい、請求項4に記載の方法。 7.前記オフセット位置に記録される前記干渉ビットパターンの調波が前記選択 されたトラックの調波に直交するよう、前記テストビットパターンは前記干渉ビ ットパターンの周波の偶数倍に等しい周波数を有する、請求項4に記載の方法。 8.前記検出ステップは、 前記テストビットパターン周波数に等しい周波数を有し、前記記録されるテス トビットパターンに関連付けられる一連の無ノイズデジタルサンプルを生じさせ るよう構成される第1のデジタル周期信号を発生させるステップと、 前記選択されたトラックを読取りながら、前記部分応答読取チャネルに形成さ れるノイズのあるデジタルサンプルに前記第1のデジタル周期信号を同期的に相 関させ、それによって前記デジタルサンプルを前記テストビットパターンに相関 させるステップとを含む、請求項3に記載の方法。 9.前記第1のデジタル周期信号に対して位相が90°ずれた直角位相信号を発 生させるステップと、 前記選択されたトラックを読取りながら、前記直角位相信号を、前記読取チャ ネルに形成される前記デジタルサンプルに同期的に相関させるステップをさらに 含む、請求項8に記載の方法。 10.前記第1のデジタル周期信号および前記直角位相デジタル周期信号は、各 々、ビット周期のそれぞれの整数倍に等しいそれぞれの周期を有するそれぞれの 方形波パターンからなり、前記相関ステップは、 第1の一連の積を形成するために、前記読取チャネルデジタルサンプルを前記 第1のデジタル周期信号で乗算するステップと、 前記第1の一連の積の合計を累算するステップと、 第2の一連の積を形成するために、前記読取チャネルデジタルサンプルを前記 直角位相デジタル周期信号で乗算するステップと、 前記第2の一連の積の合計を累算するステップと、 前記第1および第2の一連の積の合計を組合せるステップとを含む、請求項9 に記載の方法。 11.前記組合せるステップは、 第1および第2の二乗される項を形成するために、前記第1および第2の一連 の積の各々の累算された合計をそれぞれ二乗するステップと、 前記第1および第2の二乗された項を合計し、それによって、媒体上の前記第 1および第2の干渉トラック上に記録される前記第2のテストビットパターンに 帰するデジタルサンプルにおける累乗の量を示す数を生じさせるステップとを含 む、請求項10に記載の方法。 12.回転可能な磁気データ記憶ディスクと、 回転アクチュエータによって、前記ディスクに隣接する同心位置において制御 可能に位置決め可能な少なくとも1つのデータトランスデューサアセンブリとを 含み、前記データトランスデューサは磁気抵抗読取・誘導書込トランスデューサ ヘッドアセンブリを含み、さらに、 前記トランスデューサアセンブリに結合され、ディスクドライブデータ読取動 作中に読取信号に応答するデジタルサンプルを発生させるためのフィルタを有す る部分応答検出器を含む読取チャネルエレクトロニクス装置と、 前記データ記憶ディスク上の選択されたトラックのそれぞれの側に径方向にオ フセットされる第1および第2の干渉位置の各々に所定の干渉ビットパターンを 記録するための手段と、 前記ディスクの前記選択されたトラックに所定のテストビットパターンを記録 するための手段とを含み、前記テストビットパターンは、前記干渉ビットパター ンの周波数よりも高い、選択される周波数を有し、さらに、 前記選択されたトラックを読取りながら、前記読取チャネルの利得ループを所 定の固定利得動作モードに設定するための制御手段と、 前記テストビットパターンの周波数に等しい周波数を有する第1のデジタルテ スト信号を発生させるための手段と、 前記選択されたトラックを読取りながら、前記第1のデジタルテスト信号を、 前記部分応答検出器により発生されるデジタルサンプルに相関させるための第1 の相関回路と、 前記第1のデジタルテスト信号に対し位相が90°ずれている第2のデジタル テスト信号を発生させるための手段と、 前記選択されたトラックを読取りながら、前記第2のデジタルテスト信号を、 前記部分応答検出器により発生される前記デジタルサンプルに相関させるための 第2の相関回路と、 前記ヘッドアセンブリの選択される横方向位置での記録された干渉ビットパタ ーンから生じる干渉エネルギが最小になるところに前記ヘッドアセンブリの横方 向位置を決めるのに用いるための、前記干渉エネルギの量の指示を形成するよう 前記第1および第2の相関回路の出力を組合せるための手段とを含む、ディスク ドライブ。 13.前記第1および第2の相関回路の各々は、対応するデジタル信号の各ビッ トを対応する読取チャネルデジタルサンプルビットで乗算してそれぞれの一連の 積を生じさせるために構成される乗算器と、前記対応する一連の積の合計を累算 するために構成される加算器とを含む、請求項12に記載のディスクドライブ。 14.前記組合せ手段は、前記それぞれの加算器により与えられる積の前記累算 される合計の各々を二乗するための手段と、前記第1および第2の干渉トラック からの総干渉を示す出力値を形成するために、前記積の二乗された累算合計を合 計するための手段とを含む、請求項13に記載のディスクドライブ。 15.自動利得ループとFIRフィルタとを有する部分応答検出器を含む読取チ ャネルに結合される磁気抵抗読取・誘導書込トランスデューサヘッドアセンブリ を有するディスクドライブにおいて、ディスクドライブ記録媒体上の選択された トラックに対しマイクロジョグ距離を評価する方法であって、前記選択されたト ラックは公称中心線位置とトラックピッチとを有し、前記方法は、 前記選択されたトラック上に第1のテストビットパターンを記録するステップ と、 前記選択されたトラック上で前記トランスデューサヘッドアセンブリを横方向 に位置決めするステップと、 前記部分応答検出器の前記利得ループが所定の固定利得値を有するよう、前記 利得ループを不能化するステップと、 静的モードで動作するようFIRフィルタを設定するステップと、 前記選択されたトラックを読取り、それによって、記録された第1のテストビ ットパターンに応答するFIRフィルタの出力で一連の等化されたサンプルを形 成するステップと、 前記第1のテストビットパターンの長さにわたる検出される信号の平均エネル ギの指示を形成するために、前記等化されたサンプルを整合フィルタ処理するス テップと、 前記ヘッドアセンブリを再位置決めするステップと、 前記検出される信号の強度が最大になる、前記ヘッドアセンブリの横方向位置 を決定するために、前記読取ステップと、前記整合フィルタ処理ステップと、前 記再位置決めステップとを繰返すステップと、 読取動作中に前記検出されるオントラック信号の強度が最大となる前記位置に 前記ヘッドアセンブリを位置決めする距離を、前記マイクロジョグ距離として選 択するステップとを含む、前記ディスクドライブ記録媒体上の前記選択されたト ラックに対しマイクロジョグ距離を評価する方法。 16.前記整合フィルタ処理ステップは、 前記第1のテストビットパターンを表わす読取信号に応答する前記部分応答検 出器によって発生されることが期待される理想的な信号をエミュレートする無ノ イズデジタル信号を与えるステップと、 一連の積を形成するために前記無ノイズデジタル信号と前記等化されたサンプ ルとをともに乗算するステップとを含み、前記一連のうちの各1つは前記テスト ビットパターンのそれぞれのビットに対応し、前記整合フィルタ処理ステップは さらに、 前記第1のテストビットパターンの長さにわたる前記検出される信号の平均振 幅の指示を形成するために、前記一連の積の合計を累算するステップとを含む、 請求項15に記載の方法。 17.前記無ノイズデジタル信号を与える前記ステップは、 前記ビットシーケンスの各ビットに対し、前記読取チャネルの前記部分応答検 出器をエミュレートする部分応答ビットを発生させるステップを含む、請求項1 6に記載の方法。 18.回転可能な磁気データ記憶ディスクと、 回転アクチュエータによって、前記ディスク上の同心トラック位置で制御可能 に位置決め可能な少なくとも1つの磁気抵抗読取・誘導書込トランスデューサヘ ッドアセンブリと、 前記トランスデューサヘッドアセンブリに結合され、ディスクドライブデータ 読取動作中に読取信号に応答するデジタルサンプルを発生させるための部分応答 検出器を含む読取チャネルエレクトロニクス装置と、 前記ディスクの選択されたトラックを読みながら、前記読取チャネルの利得ル ープを所定の固定利得動作モードに設定するための制御手段と、 前記選択されたトラックの中心線から横方向にオフセットして前記ディスク上 に予め記録される干渉ビットパターンのパターン周波数に等しいパターン周波数 を有する第1の無ノイズデジタルテスト信号を発生させるための手段と、 前記読取チャネルと前記第1のデジタルテスト信号発生手段とに結合され、前 記選択されたトラックを読取りながら、前記部分応答検出器により発生されるデ ジタルサンプルを前記第1のデジタルテスト信号に相関させるための第1の相関 回路と、 前記干渉ビットパターンの前記パターン周波数に等しいパターン周波数を有す る第2の無ノイズデジタルテスト信号を発生させるための手段とを含み、前記第 2のデジタルテスト信号は前記第1のデジタルテスト信号に対し位相が90°ず れており、さらに、 前記読取チャネルと前記第2のデジタルテスト信号発生手段とに結合され、前 記選択されたトラックを読取りながら、前記部分応答検出器により発生される前 記デジタルサンプルを前記第2のデジタルテスト信号に相関させるための第2の 相関回路と、 前記予め記録される干渉ビットパターンから生じる干渉エネルギが最小になる 、前記トランスデューサヘッドアセンブリの横方向位置を見つけ出す際に用いる ための、前記干渉エネルギの量の指示を示すために前記第1および第2の相関回 路からの出力信号を組合せるための手段と、 前記干渉ビットパターンからの干渉を最小にする一方で、前記選択されたトラ ック上に予め記録されるオントラックビットパターンから生じるオントラック読 取信号エネルギを測定するための手段とを含む、ディスクドライブ。 19.前記整合フィルタは、前記選択されたトラック上に予め記録される前記オ ントラックビットパターンに応答して前記読取チャネルの部分応答検出器により 与えられる期待される一連のデジタルサンプルに等しい一連の無ノイズサンプル を発生させるための手段と、前記選択されたトラックを読取りながら、前記無ノ イズサンプルを、前記部分応答検出器により発生される実際のデジタルサンプル に相関させるための手段とを含む、請求項18に記載のディスクドライブ。 20.前記整合フィルタ相関手段は前記第1および第2の相関回路のうちの選択 される1つを含み、それによって回路の重複を低減する、請求項19に記載のデ ィスクドライブ。
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