JPH10504663A - 光・電子装置/マイクロ波回路用の基体システム - Google Patents
光・電子装置/マイクロ波回路用の基体システムInfo
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Abstract
(57)【要約】
低損失基体システム(20)は光・電子装置/マイクロ波回路(22)を支持し相互接続するために設けられている。システムは例えば比抵抗>1×103オームセンチメートルのシリコン等の高比抵抗基体を含んでいる。例えば二酸化シリコン等の誘電体層(50)は好ましくは基体の少なくとも一部を覆って付着されている。低損失マイクロ波伝送部材(54,55)と受動マイクロ波成分、例えばキャパシタとスパイラルインダクタは薄膜技術により直接誘電体層上に形成されることができる。光・電子装置およびマイクロ波集積回路(24、26)は好ましくははんだバンプ(70)と結合パッド(76)により基体システム上に取付けられる。基体の他の部分は光ファイバ(42、43)を受けるための溝(48、49)を限定することができる。光整列を強化するため、溝と結合パッドは好ましくはフォトリソグラフ技術により位置付けされる。基体システムは特にハイブリッド集積構造で実現されることができる光・電子装置/マイクロ波回路に適している。
Description
【発明の詳細な説明】
光・電子装置/マイクロ波回路用の基体システム
[発明の技術的背景]
1.技術分野
本発明は集積された光・電子装置および、集積されたマイクロ波装置の回路、
特にこのような回路の基体に関する。
2.関連技術の説明
光・電子装置は電子プロセスと光学プロセスとの相互作用に関する。この相互
作用は典型的に電気信号と光信号間のエネルギ変換に関連される。例えばレーザ
、光検出器、光変調器、光スイッチ等の光・電子装置はこの相互作用が生じる装
置である。光・電子装置はマイクロ波装置(約1ギガヘルツから数百ギガヘルツ
の信号範囲で動作する装置)と結合され、例えば送信機、受信機、スイッチング
ネットワーク等の光・電子装置/マイクロ波回路を形成し、これは光ファイバ通
信リンクおよび信号分配ネットワークなどの種々の応用で有効に使用されること
ができる。
光・電子装置/マイクロ波モジュールの集積は典型的に2つの方法、即ちモノ
リシックとハイブリッドに従う。モノリシック集積は全ての能動および受動部品
を同一基体上に位置づける。回路全体の寸法を減少することに加えて、このプロ
セスは回路の相互接続構造の長さを短くするので、寄生インダクタンスとキャパ
シタンスを減少する。モノリシック回路は典型的に化合物半導体ファミリ、例え
ば砒化ガリウムアルミニウム(GaAlAs)および燐化インジウム(InP)
で形成され、これは電気相互接続におけるマイクロ波損失とクロストークを減少
する高比抵抗基体(例えば1×108オーム−センチメートル)の実現を本質的
に容易にする。
1例のモノリシック構造では、ヘテロ結合のバイポーラトランジスタ(HBT
)技術と分子ビームエピタキシ(MBE)はモノリシック集積されたpinフォ
トダイオードとトランスインピーダンス増幅器を燐化インジウム半導体ファミリ
で実現するために結合される(Walden,R.H.氏、“Broadband Optoelectronic I
nt
egrated Receiver Front Ends”、Optical Fiber Communication 1994 Technica
l Digest,Paper TuH4、33頁)。
別の例のモノリシック集積は1〜4GHz周波数範囲の広帯域通信用の光・電
子装置/マイクロ波送信機に関する(Yap,Daniel 氏、“Wideband Impedance-M
atched Integrated Optoelectronic Transmitter”、Integrated Optoelectroni
cs for Communication and Processing、SPIE、1582巻、215〜222頁)。この送
信機はGaAs/GaAlAs単一量子ウェル(SQW)リッジ導波体レーザを
GaAsのMESFET増幅器−駆動装置と組合わせたものである。回路は半絶
縁体GaAs基体上に製造された。能動装置がエッチングプロセスにより分離さ
れた後、例えば金属−絶縁体−金属(MIM)キャパシタ、スパイラルインダク
タ、バイアスT等の受動マイクロ波部品が直接基体上に製造された。
モノリシック集積と対照的に、ハイブリッド集積はディスクリートな装置を電
気的な相互接続によって接続する。この方法はモノリシック回路に関して通常大
きな寸法の回路と高い寄生をもたらすが、半導体材料と製造プロセスは各装置の
性能を強化するように独立して選択されることができる。さらに、ハイブリッド
集積回路はモノリシック集積回路よりも高速度で廉価に開発されることができる
。
モノリシックおよびハイブリッド集積の両者において、光伝送部材、例えば光
ファおよび光導波体は光・電子装置の光学ポートと正確に整列されなければなら
ない。特にレーザの場合、典型的に〜1ミクロンの整列誤差は伝送損失ペナルテ
ィを1dBよりも低く制限することを必要とされる。
光整列の1方法(Schlafer,John氏の“Microwave Packaging of Optoelectro
nic Components”、IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques、
38巻、No.5、1990年5月、518〜522頁)では、例えばフォトダイオードおよびレ
ーザ等の光・電子装置のディスクリートなチップはダイヤモンド、セラミック、
金属・重合体等の高比抵抗基体上に取付けられる。基体はハウジングにより支持
され、光ファイバは調節可能な取付けブロックによりハウジングに固定される。
光・電子装置の出力信号を監視しながら光学的整列はファイバ位置を手動で調節
することにより実現される。この構造は適切な光整列を実現することができるが
、これは装置の需要が高く、手間がかかるために製造に適していない。
より製造の容易な整列構造はフリップチップ、はんだバンプ技術とV型基体溝
を使用する(Wale,Michael,J.氏の“Self-Aligned Flip-Chip Assembly of P
hotonic Devices wit hElectrical and Optical Cormections”、IEEE Transact
ions on Microwave Theory and Techniques、38巻、No.5、1990年5月、518〜52
2頁)。濡れが可能な相互接続パッドのアレイはフォトリソグラフ技術によって
基体キャリア上と光・電子装置上に正確に位置される。溝は異方性エッチングに
より基体に形成される。これらは相互接続パッドに関する予め定められた空間的
位置で光ファイバを受け、位置づけるように構成され整列される。光・電子装置
は裏返しにされ装置の金属相互接続パッドと基体との間にはんだバンプが位置さ
れる。それに続いてはんだバンプは加熱されて再流動させ、その表面張力は対向
する相互接続パッドを整列させる。この整列構造の変形では、光ファイバは基体
キャリア中に製造される光導波体により置換される(Jackson,K.P.氏の“A Hi
gh-Density,Four Charmel,OEIC Transceiver Module”、Journal of Lightwav
e Technology、12巻、No.7、1994年7月、1185〜1190頁)。
これらの後者の整列構造では、基体キャリアは基本的に光・電子装置と光伝送
部材との整列用の光ベンチとして機能する。受動マイクロ波部品は独立した基体
上で即ちチップとして達成されなければならず、電気相互接続は例えば結合ワイ
ヤ、リボン等の損失の大きい構造に限定される。モノリシック装置は許容可能で
あるが、このようなキャリアは廉価のハイブリッド集積回路とコンパクトな薄膜
受動マイクロ波部品を光・電子装置/マイクロ波回路に結合するには適していな
い。
[発明の要約]
本発明は光・電子装置と光ファイバの光整列を容易にし、光・電子装置/マイ
クロ波回路を形成するため光・電子装置およびマイクロ波装置と結合されること
ができる低損失のマイクロ波伝送部材および受動マイクロ波部材の製造も容易に
する基体システムに関する。
この目的は低損失基体を提供し、少なくとも基体の一部分上に誘電体層を付着
することにより実現される。マイクロ波伝送部材および受動マイクロ波部材(例
えばキャパシタおよびインダクタ)は(例えば薄膜技術により)直接誘電体層上
に製造される。
マイクロ波伝送部材は、集積された光・電子装置上で整合結合パッドと整列す
るように位置された複数の第1の結合パッドと、集積されたマイクロ波装置上で
整合結合パッドと整列するように位置された複数の第2の結合パッドとを含むこ
とができる。結合パッドは集積回路と誘電体層との間のはんだバンプ接続を容易
にするために構成される。はんだバンプはそれぞれの結合パッド間の整列を強化
するために再流動されることができる。
溝は好ましくは基体の一部に形成され、光ファイバを受けるように構成される
。第1の結合パッドと溝は光学的に光ファイバを光・電子装置の光学ポートと整
列するように位置づけられる。
本発明は誘電体層上に直接、受動マイクロ波部品を製造することを容易にする
。これらの部品はチップ取付け(即ち独立した基体を有する)部品よりも低い損
失とより大きな帯域幅を有し、使用する面積が少なく、大量生産と両立性がある
。
本発明はまた例えば同一平面の伝送ライン等のマイクロ波伝送部材を直接誘電
体層上に製造することを容易にする。これらの構造はワイヤ結合およびリボンな
どの相互接続構造よりも少ない損失と広い帯域幅を有する。
1実施形態では、低損失基体は高比抵抗(例えば>1×103オームセンチメ
ートル)のシリコンであり、誘電体層は二酸化シリコンである。他の実施形態で
は、基体は例えばアルミナまたは水晶等のセラミックである。誘電体層はさらに
マイクロ波損失の減少をもたらすが、高比抵抗基体は本発明の他の実施形態で独
立して使用されることができる。
本発明の基体システムは光・電子装置およびマイクロ波装置の使用を容易にし
、これは半導体材料と製造プロセスが各装置の性能を強化するように独立に選択
されるハイブリッド集積技術で達成される。
本発明の顕著な特徴は特に特許請求の範囲に記載されている。本発明は添付図
面を伴った後述の説明から最良に理解されるであろう。
[図面の簡単な説明]
図1は光・電子装置/マイクロ波受信機の他の素子と関連して示されている本
発明による基体システムを部分的に分解した斜視図である。
図2は図1の受信機の結合パッドの拡大断面図である。
図3は同一平面構造で実現された部材を具備している図1の基体システムのマ
イクロ波伝送部材の拡大図である。
図4は図1の基体システムのマイクロ波キャパシタの拡大断面図である。
図5は図1の基体システムで使用するのに適した別のマイクロ波キャパシタの
実施形態の拡大平面図である。
図6は光・電子装置/マイクロ波送信機の他の素子と関連して示されている本
発明による別の基体システムの部分的に分解した斜視図である。
[好ましい実施例の詳細な説明]
図1は本発明による基体システム20の斜視図である。説明の目的で、基体シス
テム20は種々の光・電子装置およびマイクロ波素子と関連して示されており、こ
の種々の光・電子装置およびマイクロ波素子は基体20と共に、二重チャンネル受
信機22の形態で1例の光・電子装置/マイクロ波回路を構成する。
特に、二重チャンネル、光・電子装置光検出器24および二重チャンネル、マイ
クロ波前置増幅器26はそれぞれ破線の設置ライン28、30により示されているよう
に基体システム20上に支持される。光検出器24と前置増幅器26はまた二重チャン
ネル、光入力ポート38、二重チャンネル、マイクロ波出力ポート40を限定するた
めに基体システム20により相互接続される。入力ポート38は破線の設置ライン45
により示されているように1対の光ファイバ42、43を受けるように構成されてい
る。
動作において、光信号は光ファイバ42、43を通して入力ポート38へ誘導され、
光検出器24によりマイクロ波信号へ変換される。マイクロ波信号は基体システム
20の一部分を通して前置増幅器26へ結合される。前置増幅器26による増幅後、増
幅されたマイクロ波信号は基体システム20の他の部分を通して出力ポート40へ結
合される。
まず、以下の基体システム20の詳細な構造の説明によって、受信機22の動作の
説明が容易になる。システム20はシリコン基体41、1対のV型溝48、49、誘電体
層50を含んでいる。溝48、49は基体42の上部表面52に形成され、誘電体層50は上
部表面52の少なくとも一部を覆って位置される。
基体20はまた、光検出器24と前置増幅器26との間でマイクロ波信号を通信する
ように整列されたマイクロ波伝送部材54、55と、前置増幅器26と出力ポート40と
の間で増幅されたマイクロ波信号を通信するように整列されたマイクロ波伝送部
材56と57とを含んでいる。受信機22では入力ポート38は溝48、49により限定され
、出力ポート40はマイクロ波伝送部材56と57の端部58、59により形成される。
基体システム20はさらにdc供給電圧を光検出器24に結合するように配置され
た電圧接続ライン60、61と、dc供給電圧を前置増幅器26へ結合するように配置
された電圧相互接続ライン62を含んでいる。接続ライン60は直列のインダクタ64
を形成するように構成され、シャントキャパシタ65を形成するように誘電体と共
に配置される。直列のインダクタ64とシャントキャパシタ65は供給されたdc電
圧と前置増幅器26との間にローパスフィルタを与える。接続ライン60はdc電圧
の提供のために外部結合パッド66を形成するように一端部で広くされている。接
続ライン61、62は構造的にはライン60と類似している。
光検出器24と前置増幅器26ははんだバンプ70により基体システム20上に位置さ
れ接続されている。典型的なはんだバンプ接続の詳細は、マイクロ波伝送部材54
(これらの素子は図1でも参照されている)と関連したはんだバンプ70Aを示し
ている図2の拡大断面図に示されている。部材54はチタニウムなどの金属膜72で
形成され、これは良好に誘電体層50に接着する。金属膜72は好ましくは金等の保
護および導電用金属の膜74で被覆される。
結合パッド76は例えばチタニウム、ニッケル、金等の“濡らすことのできる”
(即ち溶融はんだとの結合を形成することができる)金属シーケンスを膜74上に
形成することによって形成される。結合パッド76の位置および形態は例えばポリ
イミドまたはシリコン窒化物等の濡れない誘電体80を膜74上に付着し、(典型的
にはパターン化されたフォトレジストによって)誘電体80の位置ウィンドウ82を
形成することによって限定される。位置ウィンドウ82は金属シーケンスの位置を
限定する。図2は光検出器24が対応する結合パッド86を有することを示している
。結合パッド86は典型的に結合パッド76と類似の方法で形成される。
通常のはんだ組成物、例えば鉛/錫、または金/錫のはんだバンプ70Aはその
後、結合パッド76と86との間に位置される。例えばはんだバンプ70Aの材料は最
初に結合パッド76上に電気メッキされることができる。はんだバンプ70Aがその
再流動温度を越えて再加熱されるとき、その表面張力は結合パッド76、86を相互
に整列させるように作用する。
ウィンドウ82のような位置ウィンドウは例えばフォトリソグラフ方法により正
確に位置付けられるので、はんだバンプ70とその関連する結合パッドは光検出器
24と前置増幅器26を基体システム20上で正確に位置付ける。はんだバンプの表面
張力を高めるため、位置ウィンドウ82は円形であることが好ましい。これらは予
め定められたはんだバンプ直径(典型的には20〜50ミクロンの範囲)を生成
するような寸法にされる。
図2はマイクロ波伝送部材55と関連するはんだバンプおよび結合パッド構造を
特に示している。この構造は光検出器24の位置付けを行うだけでなく、光検出器
24と伝送部材55との間のマイクロ波信号通路を完成する。しかしながら同じ構造
は光検出器24と基体システム20との間、例えばはんだバンプと、電圧接続ライン
60の1端部に位置する結合パッド84との間に非マイクロ波信号を接続することが
でき、または単に例えば光検出器24と基体41との間のはんだバンプ86の位置付け
目的に使用されることもできる。
V型溝48、49を形成する例示的なプロセスはシリコン基体50への化学エッチン
グ剤の供給を含んでいる。図2の結合パッド76の位置付けのように、溝はフォト
リソグラフ技術により位置されることが好ましい。例えばシリコン窒化物等の化
学エッチング剤に耐える材料の被覆は基体41上を覆って位置され、その被覆に位
置ウィンドウが設けられる。エッチング剤は位置ウィンドウを通って供給され、
溝48、49と、各溝の内部終端部に勾配面を生成することを可能にする。これらの
面はその後、光ファイバ42と43と、光検出器24の光ポート92と93との間の光通路
を完成するために使用されることができるミラー90を形成するため例えばチタニ
ウムおよび金の反射被覆で被覆される。
例示的な組立て処理では、基体システム20の結合パッド(図2の76)ははんだ
バンプ(図2の70A)で電気メッキされる。集積回路の光検出器24と集積回路の
前置増幅器26(これらはそれぞれ典型的に独立した基体上に形成されている)は
基体システム20から離れてその基体と面するように裏返され(この処理は一般的
に“フリップチップ”方向付けと呼ばれている結果をもたらす)通常の“ピクア
ンドプレイス”器具により基体20上に位置される。この位置付けの正確性は光検
出器24と前置増幅器26の結合パッドとを対応するはんだバンプ70と接触して位置
するのに十分である。基体システム20はその後はんだバンプ70を再流動するよう
に加熱され、その表面張力がそれぞれの結合パッドの整列を高めることを許容す
る。
光ファイバ42と43はそれぞれの溝48、49中に挿入され、適切なエポキシにより
位置を固定される。代りにファイバ42、43の端部と、溝48、49の側面は金属メッ
キされ、ファイバは結合パッドに関連される再流動動作と同時に行われるはんだ
再流動動作により位置を固定される。
受信機22の動作において、光信号は光ファイバ42、43を通って導かれ、ミラー
90から光検出器24の光ポート92、93へ反射される。光信号に応答して、マイクロ
波信号が光検出器24により発生され、このマイクロ波信号はマイクロ波伝送部材
54、55によって前置増幅器へ導かれる。応答して、前置増幅器はマイクロ波伝送
部材56、57によって出力ポート40へ導かれる増幅されたマイクロ波信号を発生す
る。
ファイバ42、43と光検出器の光ポート92、93との間の光路の整列は基体システ
ム20の構造により強化され、これは溝48、49と結合パッド76を位置するためのフ
ォトリソグラフ処理の使用を容易にする。これらの処理によって、光路中のエラ
ーは非常に小さい値、例えば1〜2ミクロン程度へ減少されることができる。
本発明の特性では、基体システム20は受信機22の素子間の低損失マイクロ波伝
送を容易にするように構成される。特に、例えば>1×103オームセンチメー
トルの高比抵抗シリコンが基体41に対して選択される。低損失マイクロ波伝送は
この高比抵抗シリコン基体上を導かれることができるが、マイクロ波伝送損失は
さらに誘電体層50の付加によって減少される。誘電体が二酸化シリコンであると
き、数千オングストロームの厚さは通常、この減少を得るのに十分である。
図1を明瞭にするため、例えば基体システム20の伝送部材54〜57のマイクロ波
伝送構造は含まれていない。これらの伝送構造は例えばスロットラインおよびマ
イクロストリップの種々の一般的なマイクロ波伝送ライン装置で達成することが
できるが、基体システム20は特に同一平面の伝送ライン構造の使用に適している
。
図3の例示的な伝送ライン100で示されているように、同一平面構造は1対の
設置平面104、105によりマイクロ波信号ライン102を包囲している。この装置は
信号ラインおよび接地平面の平面でマイクロ波フィールドラインを集中する。こ
れは基体41へ延在するフィールドラインを限定するので、基体システム20の低損
失伝送はさらに強化される。〜0.7db/cmと〜1.2db/cmの伝送損
失は高比抵抗シリコン基体と二酸化シリコン誘電体層上に製造された同一平面の
伝送ラインでそれぞれ4GHzと20GHzで測定される。二酸化シリコン層の
使用は〜0.04乃至〜0.008の高比抵抗シリコン基体の実効的な損失タン
ジェントを五倍の改良で減少した。
基体41と誘電体層50の低損失マイクロ波特性はまた基体システム20への直接的
な種々の受動マイクロ波部品の形成(即ち独立した基体の必要なく)を容易にす
る。これらの受動マイクロ波部品は(例えばインピーダンスを整合しフィルタ処
理を行うことによって)受信機24と前置増幅器26との間の通信を強化する。例え
ば、図4は基体41と誘電体層50上に位置される例示的なマイクロ波キャパシタ11
0の構造を示している。キャパシタ110は例えばシリコン窒化物等の誘電体層112
を含んでおり、これは図2の金属膜72と74に類似した金属膜72Aと74Aの伝送信
号ライン上に付着される。金属膜72Bと74Bの第2の伝送ラインは誘電体112の
上部に延在する。したがって伝送信号ラインはキャパシタの間隔を隔てられたプ
レートを形成する。
小さいキャパシタンスを有するキャパシタは図5のキャパシタ114で示されて
いるようなインダーデジタル構造でフォトリソグラフにより形成されることがで
き、図5では2つのマイクロ波信号ライン 115と116は複数のインターデジタル
フィンガ117を具備している。
図1のスパイラルインダクタ64は本発明の低損失基体システムに含まれること
ができるマイクロ波インダクタの1例を示している。(マイクロ波信号ラインの
一部が他の信号ライン部分上で交差している)交差点は一般的にエアブリッジま
たは信号ライン部分間に例えばシリコン窒化物等の誘電体を挿入することにより
実現される。
本発明の技術は集積回路部分間でマイクロ波信号を誘導するために低損失マイ
クロ波伝送部材と受動マイクロ波部品を基体システム20上に位置付けることを容
易にする。例えば、マイクロ波伝送部材118と、直列接続されたキャパシタ119は
図1で破線で示されている。これらのマイクロ波素子は例えばインピーダンス整
合回路としてはんだバンプ70B等のはんだバンプ手段により前置増幅器26部分間
に配置されることができる(この例では、類似のマイクロ波素子は前置増幅器26
の他のチャンネル部分に接続するように配置される)。
基体システム20は高比抵抗基体41または誘電体層50を有する高比抵抗基体41を
含むものとして示されているが、本発明の技術は他の低損失基体システムで実施
されてもよい。例えばシリコン基体41は種々のセラミックから形成される基体に
より置換され、これは本質的に抵抗>1×103オームセンチメートルを有する
。セラミックの優秀な低損失マイクロ波特性のために、誘電体層50は好ましくは
本発明のこれらの実施形態では除去される。例えばアルミナ等の幾つかのセラミ
ックは図1の位置溝48、49が機械加工されることを必要とするが、溝は化学的に
例えば水晶等の他のセラミックにエッチングされることができる。
金属膜72、74と、結合パッド76の金属シーケンスは例えば蒸着、スパッタリン
グ、電気メッキなどの一般的な薄膜プロセスにより付着されることができる。特
に、ニッケルと金の十分な厚さは電気メッキでより容易に得られる。他の一般的
な金属シーケンスも例えばチタニウムとプラチナの蒸着シーケンスなどの結合パ
ッド76を得るために使用されることができる。
本発明の基体システム上に直接製造される受動マイクロ波成分の使用はさらに
図6で示されており、これは別の基体システム122を示している。基体システム1
22は送信機122の形態で光・電子装置/マイクロ波回路の一部を具備している。
基体システム120は機械加工可能なセラミック基体124を含んでおり、これは1
対の溝125、126と、溝を横切って直交して位置されているチャンネル128とを形
成するように機械加工されている。二重チャンネルレーザ130と1対の増幅器駆
動装置132、134は破線の設置ライン135、136により示されているように基体124
上に搭載されている。これらは位置付けられ、例えばはんだバンプ137、138と相
互接続されており、これは図1の回路20で前述した説明と類似している。
電圧接続ライン140、142はdc電圧をレーザ130および駆動装置132、134へ結
合する。ライン142は図1の接続ライン60の構造と類似した構造の直列のインダ
クタ144とシャントキャパシタ146を含んでいる。ライン142ははんだバンプ137を
通ってdc電圧をレーザ130へ供給する。ライン142はまた駆動装置134の下まで
延在し、はんだバンプ138を通ってdc電圧を駆動装置へ供給する。フィルタキ
ャパシタ148ははんだバンプ136と138間で接地点へライン142を分路する。接続ラ
イン140はライン142と類似して構成される。
1対のマイクロ波インピーダンス整合回路150、152は基体124の1端部に位置
されている。回路152はマイクロ波伝送部材154と、直列インダクタ156と、シャ
ントキャパシタ158と、別のマイクロ波伝送部材160とを含んでいる。回路150は
駆動装置134と、部材160の端部162に接続されているマイクロ波ソースとの間に
インピーダンス整合を設けるように構成される。インピーダンス整合回路150は
回路152と類似しており、駆動装置130の入力のインピーダンス整合を行っている
。
基体システム120は駆動装置132と134をレーザ130に接続する1対のマイクロ波
伝送部材164、166を含んでいる。システム120はまた送信機122の二重チャンネル
間の分離を行う接地ストリップ168を含んでいる。
レーザ130のチャンネルは出力ポート170と171を有する。光ファイバ172と173
は溝125、126に受けられ、図1の回路20で説明されている方法と類似の方法で固
定される。エッチングまたは機械加工動作では、溝125、126の厳密に限定された
端部を得ることは困難である。チャンネル128 はファイバ172、173が破線の設置
ライン175により示されているようにレーザ130の光出力ポート170、171と接触す
るように内方へ押されることができることを確実にする。
送信機122の動作において、マイクロ波入力信号はインピーダンス整合回路150
、152を通って駆動装置132、134へ導かれる。これらの信号は駆動装置で増幅さ
れ、増幅されたマイクロ波信号は伝送部材164、166によりレーザ130へ導かれる
。増幅されたマイクロ波信号に応答して、光信号はレーザ130により発生され、
光信号は出力ポート170、171から光ファイバ172、173へ結合される。
図1の受信機20では、溝125、126と、レーザ130と駆動装置132と134とを
位置付ける結合パッドを位置するため、ファイバ172と173と出力ポート170、171
との光学的整列はフォトリソグラフプロセスの使用により強化される。
低損失特性のために、マイクロ波伝送部材と受動マイクロ波部品は本発明の基
体システム上に直接製造されることができる。これは半導体材料と製造プロセス
が各装置の性能を強化するために独立して選択されるハイブリッド集積装置の使
用を容易にする。(独立した基体上に形成される)かさばった受動マイクロ波チ
ップの必要性は除去される。回路と外部光ファイバとの間の光路の整列のために
これらの基体システムがフォトリソグラフ技術と結合されるときコンパクトな光
・電子装置/マイクロ波回路が実現される。
本発明の幾つかの図示の実施形態を示し説明したが、種々の変形および別の実
施形態が当業者により行われるであろう。このような変形、別の実施形態が考慮
され、請求の範囲で限定されているように本発明の技術的範囲を逸脱することな
く行われることができる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)光・電子装置/マイクロ波回路を支持し複数のはんだバンプにより相互接 続する基体システムであって、前記光・電子装置/マイクロ波回路は光ファイバ と、光ポートおよび複数の結合パッドを有する光学系集積回路と、複数の結合パ ッドを有するマイクロ波集積回路とを含んでおり、前記マイクロ波集積回路は第 1のマイクロ波信号によって前記光・電子装置と通信するように構成され、第2 のマイクロ波信号によって前記光・電子装置/マイクロ波回路から外部に通信す るように適合されている前記基体システムにおいて、 基体(41)と、 前記基体に形成されている溝(42)と、 少なくとも前記基体の一部分を覆って位置されている誘電体層(50)と、 前記誘電体層上に支持され、マイクロ波信号を伝播するように構成されている 複数のマイクロ波伝送部材(54〜57)と、 前記誘電体層上に形成されている複数の第1の結合パッド(70)と、 前記誘電体層上に形成されている複数の第2の結合パッドとを具備しており、 ここで、 前記溝は前記光ファイバを受けるように構成され、 前記第1の結合パッドは前記光・電子装置集積回路の前記結合パッドと整列す るように位置され、複数の前記はんだバンプにより前記光・電子装置集積回路の 前記結合パッドに接続されるように構成され、 前記第2の結合パッドは前記マイクロ波集積回路の前記結合パッドと整列する ように位置され、複数の前記はんだバンプにより前記マイクロ波集積回路の前記 結合パッドと接続されるように構成され、 前記溝および前記第1の結合パッドは前記光ファイバと前記光ポートを光学的 に整列するように配置され、 前記マイクロ波伝送部材のうちの1つが前記光・電子装置集積回路と前記マイ クロ波集積回路との間に前記第1のマイクロ波信号を結合するように配置されて いる基体システム。 (2)前記マイクロ波伝送部材のうちの1つが前記第2のマイクロ波信号を前記 マイクロ波集積回路から離して結合するように配置されている請求項1記載の基 体システム。 (3)前記基体がシリコンで構成されている請求項1記載の基体システム。 (4)前記基体が1×103オームセンチメートルよりも大きい比抵抗を有する 請求項3記載の基体システム。 (5)前記誘電体層が二酸化シリコンで構成されている請求項1記載の基体シス テム。 (6)複数のはんだバンプにより光・電子装置/マイクロ波回路を支持し相互接 続する基体システムであって、前記光・電子装置/マイクロ波回路は光ファイバ と、光ポートおよび複数の結合パッドを有する光・電子装置集積回路と、複数の 結合パッドを有するマイクロ波集積回路とを含んでおり、前記マイクロ波集積回 路は第1のマイクロ波信号によって前記光・電子装置と通信するように構成され 、第2のマイクロ波信号によって前記光・電子装置/マイクロ波回路から外部に 通信するように構成されている前記基体システムにおいて、 1×103オームセンチメートルよりも大きいインピーダンスを有する基体(4 1)と、 前記基体に形成されている溝(42)と、 前記基体上に支持され、マイクロ波信号を伝播するように構成されている複数 のマイクロ波伝送部材(54〜57)と、 前記基体上に形成されている複数の第1の結合パッド(70)と、 前記基体上に形成されている複数の第2の結合パッドとを具備しており、ここ で、 前記溝は前記ファイバを受けるように構成され、 前記第1の結合パッドは前記光・電子装置集積回路の前記結合パッドと整列す るように位置され、複数の前記はんだバンプにより前記光・電子装置集積回路の 前記結合パッドに接続されるように構成され、 前記第2の結合パッドは前記マイクロ波集積回路の前記結合パッドと整列する ように位置され、複数の前記はんだバンプにより前記マイクロ波集積回路の前記 結合パッドと接続されるように構成され、 前記溝および前記第1の結合パッドは前記光ファイバと前記光ポートを光学的 に整列するように配置され、 前記マイクロ波伝送部材のうちの1つが前記光・電子装置集積回路と前記マイ クロ波集積回路との間に前記第1のマイクロ波信号を結合するように配置されて いる基体システム。 (7)前記基体と前記マイクロ波伝送部材との間に位置されている誘電体層(50 )をさらに含んでいる請求項6記載の基体システム。 (8)前記マイクロ波伝送部材のうちの1つが前記通信を強化するためスパイラ ルインダクタ(64)を形成している請求項6記載の基体システム。 (9)前記マイクロ波伝送部材の第1、第2の部材が間隔を隔てられており、前 記通信を強化するようにキャパシタ(110)を形成するために前記第1、第2の マイクロ波伝送部材間に位置されている誘電体部材(112)をさらに含んでいる 請求項6記載の基体システム。 (10)第1、第2の前記マイクロ波伝送部材(115、116)が前記通信を強化す るためにキャパシタを形成するインターデジタルフィンガ(117)を有している 請求項6記載の基体システム。
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