JPH1090540A - 半導体受光素子、半導体受光装置および半導体装置 - Google Patents
半導体受光素子、半導体受光装置および半導体装置Info
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- JPH1090540A JPH1090540A JP8244464A JP24446496A JPH1090540A JP H1090540 A JPH1090540 A JP H1090540A JP 8244464 A JP8244464 A JP 8244464A JP 24446496 A JP24446496 A JP 24446496A JP H1090540 A JPH1090540 A JP H1090540A
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- Japan
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- thickness
- light receiving
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- core layer
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- Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
- Optical Integrated Circuits (AREA)
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】 他の導波路型光デバイスとの整合性が良く、
容易に光軸調整ができ、かつ低バイアス電圧で高い受光
感度を有する端面入射型の半導体受光素子を提供する。 【解決手段】 屈折率na、厚さWaを有する光吸収層
18が屈折率nb1、厚さWb1の上部第2コア層17
ならびに屈折率nb2、厚さWb2の下部第2コア層1
9に挟まれており、さらに屈折率nc1の上部クラッド
層16と屈折率nc2の下部クラッド層20で挟み、そ
れらの屈折率がnc1、nc2<nb1、nb2<na
の関係を有する端面入射型の導波路型受光素子におい
て、入射光11のスポット半径Wfと光吸収層18の膜
厚Wa、上部第2コア層17の膜厚Wb1、下部第2コ
ア層19の膜厚Wb2との間に0.4≦(Wa+Wb1
+Wb2)/(2×Wf)≦0.7の関係が、または
0.3≦Wa/(Wa+Wb1+Wb2)≦0.5の関
係を有する。
容易に光軸調整ができ、かつ低バイアス電圧で高い受光
感度を有する端面入射型の半導体受光素子を提供する。 【解決手段】 屈折率na、厚さWaを有する光吸収層
18が屈折率nb1、厚さWb1の上部第2コア層17
ならびに屈折率nb2、厚さWb2の下部第2コア層1
9に挟まれており、さらに屈折率nc1の上部クラッド
層16と屈折率nc2の下部クラッド層20で挟み、そ
れらの屈折率がnc1、nc2<nb1、nb2<na
の関係を有する端面入射型の導波路型受光素子におい
て、入射光11のスポット半径Wfと光吸収層18の膜
厚Wa、上部第2コア層17の膜厚Wb1、下部第2コ
ア層19の膜厚Wb2との間に0.4≦(Wa+Wb1
+Wb2)/(2×Wf)≦0.7の関係が、または
0.3≦Wa/(Wa+Wb1+Wb2)≦0.5の関
係を有する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体受光素子等
に関し、特に光通信分野等に用いられる端面入射型の半
導体受光素子、光伝送装置に関する。
に関し、特に光通信分野等に用いられる端面入射型の半
導体受光素子、光伝送装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、情報サービス網の拡充ため、光通
信分野においても低コスト化が望まれている。低価格な
光通信システムを構築するためには、光信号を電気信号
に、電気信号を光信号に変換する光モジュールの低コス
ト化が鍵である。これには、同一基板上に平易な実装方
式で集積化できる光デバイスが必要である。
信分野においても低コスト化が望まれている。低価格な
光通信システムを構築するためには、光信号を電気信号
に、電気信号を光信号に変換する光モジュールの低コス
ト化が鍵である。これには、同一基板上に平易な実装方
式で集積化できる光デバイスが必要である。
【0003】半導体レーザダイオード、光変調器や光ス
イッチ等に代表される光デバイスは一般に導波路構造を
有し、光を基板面内平行方向に入出射するものである。
一方、半導体受光素子は一般に基板面内に垂直な方向か
ら光信号を受光する面受光型である。したがって、面受
光型の半導体受光素子は他の光デバイスと光信号の入出
射方向が異なるため、集積化の観点から整合性が良くな
い。
イッチ等に代表される光デバイスは一般に導波路構造を
有し、光を基板面内平行方向に入出射するものである。
一方、半導体受光素子は一般に基板面内に垂直な方向か
ら光信号を受光する面受光型である。したがって、面受
光型の半導体受光素子は他の光デバイスと光信号の入出
射方向が異なるため、集積化の観点から整合性が良くな
い。
【0004】このため他の光デバイスと整合性が良い端
面入射型の半導体受光素子が従来より知られているが、
信号光との高い光結合効率と低電圧動作化の両立が問題
であった。Y.AkatsuらはElectronic
s Letters、31号、2098頁、1995年
で、低電圧動作が可能な中間屈折率層を有する導波路型
受光素子の構造について検討し、結晶成長層が比較的薄
い非対称構造で、フラットエンド分散シフトファイバと
の光結合効率が92%になる計算結果を報告している。
面入射型の半導体受光素子が従来より知られているが、
信号光との高い光結合効率と低電圧動作化の両立が問題
であった。Y.AkatsuらはElectronic
s Letters、31号、2098頁、1995年
で、低電圧動作が可能な中間屈折率層を有する導波路型
受光素子の構造について検討し、結晶成長層が比較的薄
い非対称構造で、フラットエンド分散シフトファイバと
の光結合効率が92%になる計算結果を報告している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、導
波路型受光素子の導波モードと信号光との光結合効率の
みを考慮しているため、必ずしも受光感度が最大になる
とは限らない。また、スポットサイズ半径約4μmのフ
ラットエンド分散シフトファイバからの信号光に対する
光結合効率のみであり、任意のスポット径に対しては有
効ではない。
波路型受光素子の導波モードと信号光との光結合効率の
みを考慮しているため、必ずしも受光感度が最大になる
とは限らない。また、スポットサイズ半径約4μmのフ
ラットエンド分散シフトファイバからの信号光に対する
光結合効率のみであり、任意のスポット径に対しては有
効ではない。
【0006】本発明の目的は、任意のスポット径を有す
る信号光に対して充分に高い受光感度と低電圧動作を同
時に満足でき、かつ他の光デバイスと整合性の良い端面
入射型の半導体受光素子を提供することである。さら
に、これを受信素子として、また半導体レーザ光のモニ
タ素子として用いる低コストの光モジュールあるいは光
伝送装置を提供することである。
る信号光に対して充分に高い受光感度と低電圧動作を同
時に満足でき、かつ他の光デバイスと整合性の良い端面
入射型の半導体受光素子を提供することである。さら
に、これを受信素子として、また半導体レーザ光のモニ
タ素子として用いる低コストの光モジュールあるいは光
伝送装置を提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明では、上記課題を
解決するために、図1に示すような屈折率na、厚さW
aを有する光吸収層18が屈折率nb1、厚さWb1の
上部第2コア層17ならびに屈折率nb2、厚さWb2
の下部第2コア層19に挟まれており、さらに屈折率n
c1の上部クラッド層16と屈折率nc2の下部クラッ
ド層20で挟み、それらの屈折率がnc1、nc2<n
b1、nb2<naの関係を有する端面入射型の導波路
型受光素子において、スポット半径Wfを有する信号光
11に対し、受光感度は図2に示すような関係がある。
入射光のスポット半径をWf、光吸収層18の膜厚をW
a、上部第2コア層17の膜厚をWb1、下部第2コア
層19の膜厚をWb2とすると、(Wa+Wb1+Wb
2)/(2×Wf)=0.55付近で受光感度が最大と
なる。そこで本発明では、スポット半径Wfを有する任
意の信号光11に対して、光吸収層18の膜厚Wa、上
部第2コア層17の膜厚Wb1、下部第2コア層19の
膜厚Wb2の関係を0.4≦(Wa+Wb1+Wb2)
/(2×Wf)≦0.7とすることにより充分に高い受
光感度を得ることができる。
解決するために、図1に示すような屈折率na、厚さW
aを有する光吸収層18が屈折率nb1、厚さWb1の
上部第2コア層17ならびに屈折率nb2、厚さWb2
の下部第2コア層19に挟まれており、さらに屈折率n
c1の上部クラッド層16と屈折率nc2の下部クラッ
ド層20で挟み、それらの屈折率がnc1、nc2<n
b1、nb2<naの関係を有する端面入射型の導波路
型受光素子において、スポット半径Wfを有する信号光
11に対し、受光感度は図2に示すような関係がある。
入射光のスポット半径をWf、光吸収層18の膜厚をW
a、上部第2コア層17の膜厚をWb1、下部第2コア
層19の膜厚をWb2とすると、(Wa+Wb1+Wb
2)/(2×Wf)=0.55付近で受光感度が最大と
なる。そこで本発明では、スポット半径Wfを有する任
意の信号光11に対して、光吸収層18の膜厚Wa、上
部第2コア層17の膜厚Wb1、下部第2コア層19の
膜厚Wb2の関係を0.4≦(Wa+Wb1+Wb2)
/(2×Wf)≦0.7とすることにより充分に高い受
光感度を得ることができる。
【0008】また、光吸収層18の膜厚Wa、上部第2
コア層17の膜厚Wb1、下部第2コア層19の膜厚W
b2と受光感度の関係は図3のようになる。受光感度は
Wa/(Wa+Wb1+Wb2)=0.35付近で最大
となる。したがって本発明では充分に高い受光感度を得
るために、光吸収層18の膜厚Wa、上部第2コア層1
7の膜厚Wb1、下部第2コア層19の膜厚Wb2との
関係を0.3≦Wa/(Wa+Wb1+Wb2)≦0.
5とする。
コア層17の膜厚Wb1、下部第2コア層19の膜厚W
b2と受光感度の関係は図3のようになる。受光感度は
Wa/(Wa+Wb1+Wb2)=0.35付近で最大
となる。したがって本発明では充分に高い受光感度を得
るために、光吸収層18の膜厚Wa、上部第2コア層1
7の膜厚Wb1、下部第2コア層19の膜厚Wb2との
関係を0.3≦Wa/(Wa+Wb1+Wb2)≦0.
5とする。
【0009】特に光通信では1.3μmおよび1.55
μmの波長帯が用いられ、このときの光ファイバや石英
系光導波路回路のスポット半径は約4〜5μm程度とな
る。光学レンズを用いずにこれらに対し高い受光感度を
得るために、光吸収層18の膜厚Wa、上部第2コア層
17の膜厚Wb1、下部第2コア層19の膜厚Wb2と
の関係を3μm<Wa+Wb1+Wb2<7μmとし、
かつ光吸収層18の膜厚Waを1.5μm≦Wa≦2.
5μmとする。
μmの波長帯が用いられ、このときの光ファイバや石英
系光導波路回路のスポット半径は約4〜5μm程度とな
る。光学レンズを用いずにこれらに対し高い受光感度を
得るために、光吸収層18の膜厚Wa、上部第2コア層
17の膜厚Wb1、下部第2コア層19の膜厚Wb2と
の関係を3μm<Wa+Wb1+Wb2<7μmとし、
かつ光吸収層18の膜厚Waを1.5μm≦Wa≦2.
5μmとする。
【0010】さらに低コスト化のために、上部第2コア
層17の膜厚Wb1と下部第2コア層19の膜厚Wb2
を等しくする。もしくは上部第2コア層17の膜厚Wb
1または下部第2コア層19の膜厚Wb2を0とする。
層17の膜厚Wb1と下部第2コア層19の膜厚Wb2
を等しくする。もしくは上部第2コア層17の膜厚Wb
1または下部第2コア層19の膜厚Wb2を0とする。
【0011】光モジュール低コスト化のため、図4およ
び図6に示すように光回路35を有する光導波路基板3
6上に受信素子もしくは半導体レーザ41のモニタ素子
として本発明の導波路型受光素子31を光学レンズなし
で集積化する。また、図5および図7に示すような光フ
ァイバ38を固定するためのV溝を有する基板37上に
受信素子もしくは半導体レーザ41のモニタ素子として
本発明の導波路型受光素子31を光学レンズなしで集積
化する。
び図6に示すように光回路35を有する光導波路基板3
6上に受信素子もしくは半導体レーザ41のモニタ素子
として本発明の導波路型受光素子31を光学レンズなし
で集積化する。また、図5および図7に示すような光フ
ァイバ38を固定するためのV溝を有する基板37上に
受信素子もしくは半導体レーザ41のモニタ素子として
本発明の導波路型受光素子31を光学レンズなしで集積
化する。
【0012】また図8に示すように信号光入射用の光フ
ァイバ52の付いたV溝基板54上に受信用の本発明の
導波路型受光素子55をパッシブアライメント法を用い
て集積化し、さらにプリアンプIC56を実装する。こ
れをセラミックあるいは樹脂できたベース53とキャッ
プ51にてパッケージングする。ベース53とキャップ
51の代わりに樹脂にてトランスファモールドを用いて
も同様である。さらにV溝基板54の代わりに光回路を
有する導波路基板を用いても同様である。また、本発明
の導波路型受光素子を半導体レーザのモニタ用として用
いた光送信モジュールあるいは同一基板上に本発明の導
波路型受光素子を受信用、半導体レーザモニタ用として
それぞれ搭載した光送受信モジュールを用いても同様で
ある。
ァイバ52の付いたV溝基板54上に受信用の本発明の
導波路型受光素子55をパッシブアライメント法を用い
て集積化し、さらにプリアンプIC56を実装する。こ
れをセラミックあるいは樹脂できたベース53とキャッ
プ51にてパッケージングする。ベース53とキャップ
51の代わりに樹脂にてトランスファモールドを用いて
も同様である。さらにV溝基板54の代わりに光回路を
有する導波路基板を用いても同様である。また、本発明
の導波路型受光素子を半導体レーザのモニタ用として用
いた光送信モジュールあるいは同一基板上に本発明の導
波路型受光素子を受信用、半導体レーザモニタ用として
それぞれ搭載した光送受信モジュールを用いても同様で
ある。
【0013】さらに図9に示すように本発明の導波路型
受光素子を搭載した光ファイバ63付き光モジュール6
4と受信IC61等の電子回路を同一ボード62上に搭
載し、これを送信あるいは受信あるいは送受信装置とし
て光伝送システムに用いる。
受光素子を搭載した光ファイバ63付き光モジュール6
4と受信IC61等の電子回路を同一ボード62上に搭
載し、これを送信あるいは受信あるいは送受信装置とし
て光伝送システムに用いる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下に本発明を実施例により説明
する。
する。
【0015】実施例1 図1はInGaAlAs系化合物半導体を用いた本発明
の一実施例の断面構造図である。p−InP基板21上
に分子線エピタキシ(MBE)法により、p−InAl
As下部クラッド層20を0.5μm、p−InGaA
lAs下部第2コア層19を1.5μm、アンドープI
nGaAlAs光吸収層18をを1.5μm、n−In
GaAlAs上部第2コア層17を1.5μm、n−I
nAlAs上部クラッド層16を1.0μm、n−In
GaAsコンタクト層15を0.2μm、順次積層し
た。ここで上部第2コア層17および下部第2コア層1
9のバンドギャップ波長は1.1μmであり、光吸収層
18のバンドギャップ波長は1.4μmである。この半
導体多層構造を化学エッチングによりメサ構造を形成
し、その後SiN絶縁膜14により結晶表面をパッシベ
ーションした。受光部の導波路幅は30μm、長さは1
00μmである。次にTi/Pt/Auよりなるn型電
極13およびp型電極22を形成した。劈開により入射
端面を形成し、反射防止膜12を施した。
の一実施例の断面構造図である。p−InP基板21上
に分子線エピタキシ(MBE)法により、p−InAl
As下部クラッド層20を0.5μm、p−InGaA
lAs下部第2コア層19を1.5μm、アンドープI
nGaAlAs光吸収層18をを1.5μm、n−In
GaAlAs上部第2コア層17を1.5μm、n−I
nAlAs上部クラッド層16を1.0μm、n−In
GaAsコンタクト層15を0.2μm、順次積層し
た。ここで上部第2コア層17および下部第2コア層1
9のバンドギャップ波長は1.1μmであり、光吸収層
18のバンドギャップ波長は1.4μmである。この半
導体多層構造を化学エッチングによりメサ構造を形成
し、その後SiN絶縁膜14により結晶表面をパッシベ
ーションした。受光部の導波路幅は30μm、長さは1
00μmである。次にTi/Pt/Auよりなるn型電
極13およびp型電極22を形成した。劈開により入射
端面を形成し、反射防止膜12を施した。
【0016】作製した端面入射型の半導体受光素子をス
ポット半径Wfが約4μmのフラットエンド分散シフト
ファイバからの波長1.3μmの信号光11と光結合さ
せたところ、バイアス電圧2Vで受光感度0.98A/
Wと高い値が得られた。また、信号光11の位置ずれト
レランスも0.5dB劣化時で垂直方向が±2.0μ
m、水平方向が±12.0μmとパッシブアライメント
法を用いた表面実装時の位置ずれ量を充分にカバーでき
る値となった。バイアス電圧2Vにおける最大遮断周波
数は10GHzであった。
ポット半径Wfが約4μmのフラットエンド分散シフト
ファイバからの波長1.3μmの信号光11と光結合さ
せたところ、バイアス電圧2Vで受光感度0.98A/
Wと高い値が得られた。また、信号光11の位置ずれト
レランスも0.5dB劣化時で垂直方向が±2.0μ
m、水平方向が±12.0μmとパッシブアライメント
法を用いた表面実装時の位置ずれ量を充分にカバーでき
る値となった。バイアス電圧2Vにおける最大遮断周波
数は10GHzであった。
【0017】また、上記の構造をInGaAsP系の半
導体層で構成しても同様の効果が得られる。本実施例で
は光吸収層18に波長1.55μmの信号光に受光感度
が無く、波長1.3μmの信号光に対して受光感度を有
する半導体層を用いたが、波長1.55μmの信号光に
受光感度を有する半導体層を用いても同様の効果が得ら
れる。
導体層で構成しても同様の効果が得られる。本実施例で
は光吸収層18に波長1.55μmの信号光に受光感度
が無く、波長1.3μmの信号光に対して受光感度を有
する半導体層を用いたが、波長1.55μmの信号光に
受光感度を有する半導体層を用いても同様の効果が得ら
れる。
【0018】実施例2 図4は本発明の導波路型受光素子を用いた光モジュール
の一実施例の斜視構造図である。石英系光回路35、絶
縁膜34、電気配線32、33を有する光導波路基板3
6上に本発明の導波路型受光素子31をパッシブアライ
メント法用いてフリップチップ実装した。ここで導波路
型受光素子には片面にn型、p型電極を有するものを用
い、導波路型受光素子31と電気配線32、33の接続
にはAuSn半田を使用した。
の一実施例の斜視構造図である。石英系光回路35、絶
縁膜34、電気配線32、33を有する光導波路基板3
6上に本発明の導波路型受光素子31をパッシブアライ
メント法用いてフリップチップ実装した。ここで導波路
型受光素子には片面にn型、p型電極を有するものを用
い、導波路型受光素子31と電気配線32、33の接続
にはAuSn半田を使用した。
【0019】素子搭載時の位置ずれは±1μm以内に抑
えられ、1.3μm光に対する受光感度は0.9A/W
と高い値が得られた。最大遮断周波数も9GHzとな
り、浮遊容量による帯域劣化は認められなかった。
えられ、1.3μm光に対する受光感度は0.9A/W
と高い値が得られた。最大遮断周波数も9GHzとな
り、浮遊容量による帯域劣化は認められなかった。
【0020】実施例3 図5は本発明の導波路型受光素子を用いた光モジュール
の一実施例の斜視構造図である。絶縁膜34、電気配線
32、33を有するV溝光導波路基板37上に本発明の
導波路型受光素子31をパッシブアライメント法用いて
フリップチップ実装した。ここで導波路型受光素子には
片面にn型、p型電極を有するものを用い、導波路型受
光素子31と電気配線32、33の接続にはAuSn半
田を使用した。その後フラットエンドの光ファイバ38
をV溝に固定した。
の一実施例の斜視構造図である。絶縁膜34、電気配線
32、33を有するV溝光導波路基板37上に本発明の
導波路型受光素子31をパッシブアライメント法用いて
フリップチップ実装した。ここで導波路型受光素子には
片面にn型、p型電極を有するものを用い、導波路型受
光素子31と電気配線32、33の接続にはAuSn半
田を使用した。その後フラットエンドの光ファイバ38
をV溝に固定した。
【0021】素子搭載時及び光ファイバ固定時の位置ず
れは±1μm以内に抑えられ、1.3μm光に対する受
光感度は0.85A/Wと高い値が得られた。最大遮断
周波数も9GHzとなり、浮遊容量による帯域劣化は認
められなかった。
れは±1μm以内に抑えられ、1.3μm光に対する受
光感度は0.85A/Wと高い値が得られた。最大遮断
周波数も9GHzとなり、浮遊容量による帯域劣化は認
められなかった。
【0022】実施例4 図6は本発明の導波路型受光素子を用いた光モジュール
の一実施例の斜視構造図である。石英系光回路35、絶
縁膜34、モニタ受光素子用電気配線32、33、半導
体レーザ用電気配線42、43を有する光導波路基板3
6上に半導体レーザ41と本発明の導波路型受光素子3
1をパッシブアライメント法用いてフリップチップ実装
した。ここで導波路型受光素子には片面にn型、p型電
極を有するものを用い、導波路型受光素子31とモニタ
受光素子電気配線32、33および半導体レーザ41と
半導体レーザ用電気配線42、43の接続にはAuSn
半田を使用した。
の一実施例の斜視構造図である。石英系光回路35、絶
縁膜34、モニタ受光素子用電気配線32、33、半導
体レーザ用電気配線42、43を有する光導波路基板3
6上に半導体レーザ41と本発明の導波路型受光素子3
1をパッシブアライメント法用いてフリップチップ実装
した。ここで導波路型受光素子には片面にn型、p型電
極を有するものを用い、導波路型受光素子31とモニタ
受光素子電気配線32、33および半導体レーザ41と
半導体レーザ用電気配線42、43の接続にはAuSn
半田を使用した。
【0023】各素子の搭載時の位置ずれは±1μm以内
に抑えられ、半導体レーザ41とモニタ用導波路型受光
素子31間の光結合損失は2〜3dBであった。また外
部出力1mW時のモニタ電流は500μAと良好な値が
得られた。
に抑えられ、半導体レーザ41とモニタ用導波路型受光
素子31間の光結合損失は2〜3dBであった。また外
部出力1mW時のモニタ電流は500μAと良好な値が
得られた。
【0024】実施例5 図7は本発明の導波路型受光素子を用いた光モジュール
の一実施例の斜視構造図である。絶縁膜34、モニタ受
光素子用電気配線32、33、半導体レーザ用電気配線
42、43を有するV溝光導波路基板37上に半導体レ
ーザ41と本発明の導波路型受光素子31をパッシブア
ライメント法用いてフリップチップ実装した。ここで導
波路型受光素子には片面にn型、p型電極を有するもの
を用い、導波路型受光素子31とモニタ受光素子電気配
線32、33および半導体レーザ41と半導体レーザ用
電気配線42、43の接続にはAuSn半田を使用し
た。その後フラットエンドの光ファイバ38をV溝に固
定した。
の一実施例の斜視構造図である。絶縁膜34、モニタ受
光素子用電気配線32、33、半導体レーザ用電気配線
42、43を有するV溝光導波路基板37上に半導体レ
ーザ41と本発明の導波路型受光素子31をパッシブア
ライメント法用いてフリップチップ実装した。ここで導
波路型受光素子には片面にn型、p型電極を有するもの
を用い、導波路型受光素子31とモニタ受光素子電気配
線32、33および半導体レーザ41と半導体レーザ用
電気配線42、43の接続にはAuSn半田を使用し
た。その後フラットエンドの光ファイバ38をV溝に固
定した。
【0025】各素子の搭載時及び光ファイバ固定時の位
置ずれは±1μm以内に抑えられ、半導体レーザ41と
モニタ用導波路型受光素子31間の光結合損失は2〜3
dBであった。また外部出力1mW時のモニタ電流は4
00μAと良好な値が得られた。
置ずれは±1μm以内に抑えられ、半導体レーザ41と
モニタ用導波路型受光素子31間の光結合損失は2〜3
dBであった。また外部出力1mW時のモニタ電流は4
00μAと良好な値が得られた。
【0026】実施例6 図8は本発明の導波路型受光素子を用い、パッケージン
グされた光受信モジュールの一実施例の斜視構造図であ
る。V溝基板54上に受信用の本発明の導波路型受光素
子55をパッシブアライメント法を用いて実装した。さ
らに高感度化のために受信用プリアンプIC56もV溝
基板54上に実装した。その後、信号光入射用の光ファ
イバ52を付け、セラミック製のベース53に固定し、
キャップ51にて蓋をした。
グされた光受信モジュールの一実施例の斜視構造図であ
る。V溝基板54上に受信用の本発明の導波路型受光素
子55をパッシブアライメント法を用いて実装した。さ
らに高感度化のために受信用プリアンプIC56もV溝
基板54上に実装した。その後、信号光入射用の光ファ
イバ52を付け、セラミック製のベース53に固定し、
キャップ51にて蓋をした。
【0027】作製した光モジュールを伝送評価した。信
号光波長1.3μm、伝送速度50Mb/sのバースト
伝送において、10の−8乗の誤り率における最小受光
感度は−38dBmと良好であった。
号光波長1.3μm、伝送速度50Mb/sのバースト
伝送において、10の−8乗の誤り率における最小受光
感度は−38dBmと良好であった。
【0028】セラミック製のベース53およびキャップ
51の代わりに樹脂製のもの、あるいは樹脂のトランス
ファモールドを用いても同様である。さらにV溝基板5
4の代わりに光回路を有する光導波路基板等を用いても
同様である。また、本発明の導波路型受光素子を用いた
送信および送受信光モジュールをパッケージングしても
同様である。
51の代わりに樹脂製のもの、あるいは樹脂のトランス
ファモールドを用いても同様である。さらにV溝基板5
4の代わりに光回路を有する光導波路基板等を用いても
同様である。また、本発明の導波路型受光素子を用いた
送信および送受信光モジュールをパッケージングしても
同様である。
【0029】実施例7 図9は本発明の導波路型受光素子を用いた光伝送装置の
一実施例の鳥瞰図である。本発明の導波路型受光素子が
搭載され、信号光入射用の光ファイバ63が付いた光受
信モジュール64と受信IC61およびその他の電子部
品をボード62上に搭載した。
一実施例の鳥瞰図である。本発明の導波路型受光素子が
搭載され、信号光入射用の光ファイバ63が付いた光受
信モジュール64と受信IC61およびその他の電子部
品をボード62上に搭載した。
【0030】作製した光伝送装置の伝送評価を行った。
信号光波長1.3μm、伝送速度50Mb/sのバース
ト伝送において、10の−8乗の誤り率における最小受
光感度は−38dBmと良好であった。
信号光波長1.3μm、伝送速度50Mb/sのバース
ト伝送において、10の−8乗の誤り率における最小受
光感度は−38dBmと良好であった。
【0031】光受信モジュールの代わりに本発明の導波
路型受光素子が集積化された光送信モジュールおよび光
送受信モジュールを搭載しても同様である。
路型受光素子が集積化された光送信モジュールおよび光
送受信モジュールを搭載しても同様である。
【0032】本発明の実施例に係る導波路型半導体受光
素子を用いれば、低動作電圧で高い受光感度を得ること
ができ、かつ信号光に対する位置ずれトレランス幅を広
げることができる。これにより実装マージンを大きくと
れ、光学レンズなし容易に高光結合をとることができ
る。したがって、煩雑な実装工程をとらずに低コストな
光モジュールおよび光伝送装置を作製することが可能と
なる。
素子を用いれば、低動作電圧で高い受光感度を得ること
ができ、かつ信号光に対する位置ずれトレランス幅を広
げることができる。これにより実装マージンを大きくと
れ、光学レンズなし容易に高光結合をとることができ
る。したがって、煩雑な実装工程をとらずに低コストな
光モジュールおよび光伝送装置を作製することが可能と
なる。
【0033】
【発明の効果】本発明によれば、光モジュール等の低コ
スト化が可能である。
スト化が可能である。
【図1】本発明実施例1の導波路型受光素子の典型的な
断面構造図を示す。
断面構造図を示す。
【図2】信号光11のスポット半径Wf、光吸収層18
の膜厚Wa、上部第2コア層17の膜厚Wb1、下部第
2コア層19の膜厚Wb2と受光感度の関係を示す。
の膜厚Wa、上部第2コア層17の膜厚Wb1、下部第
2コア層19の膜厚Wb2と受光感度の関係を示す。
【図3】光吸収層18の膜厚Wa、上部第2コア層17
の膜厚Wb1、下部第2コア層19の膜厚Wb2と受光
感度の関係を示す。
の膜厚Wb1、下部第2コア層19の膜厚Wb2と受光
感度の関係を示す。
【図4】本発明実施例2の全体構造斜視図である。
【図5】本発明実施例3の全体構造斜視図である。
【図6】本発明実施例4の全体構造斜視図である。
【図7】本発明実施例5の全体構造斜視図である。
【図8】本発明実施例6の全体構造斜視図である。
【図9】本発明実施例7の全体構造鳥瞰図である。
11・・・信号光 12・・・反射防止膜 13・・・n型電極 14・・・SiN絶縁膜 15・・・コンタクト層 16・・・上部クラッド層 17・・・上部第2コア層 18・・・光吸収層 19・・・下部第2コア層 20・・・下部クラッド層 21・・・p−InP基板 22・・・p型電極 31・・・本発明の導波路型受光素子 32、33・・・電気配線 34・・・絶縁膜 35・・・光回路 36・・・光導波路基板 37・・・V溝基板 38・・・光ファイバ 41・・・半導体レーザ 42、43・・・電気配線 51・・・キャップ 52・・・光ファイバ 53・・・ベース 54・・・V溝基板 55・・・本発明の導波路型受光素子 56・・・プリアンプIC 61・・・受信IC 62・・・ボード 63・・・光ファイバ 64・・・光受信モジュール。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田中 滋久 東京都国分寺市東恋ケ窪一丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 松岡 康信 東京都国分寺市東恋ケ窪一丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 辻 伸二 東京都国分寺市東恋ケ窪一丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 小野 綱男 東京都国分寺市東恋ケ窪一丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 赤津 祐史 神奈川県厚木市森の里若宮3−1 日本電 信電話株式会社NTT光エレクトロニクス 研究所内 (72)発明者 加藤 和利 神奈川県厚木市森の里若宮3−1 日本電 信電話株式会社NTT光エレクトロニクス 研究所内
Claims (13)
- 【請求項1】屈折率na、厚さWaを有する光吸収層が
屈折率nb1、厚さWb1の上部第2コア層ならびに屈
折率nb2、厚さWb2の下部第2コア層に挟まれてお
り、さらに上記半導体層を屈折率nc1の上部クラッド
層と屈折率nc2の下部クラッド層で挟み、それらの屈
折率がnc1、nc2<nb1、nb2<naの関係を
有する端面入射型の導波路型受光素子において、入射光
のスポット半径Wfと光吸収層の膜厚Wa、上部第2コ
ア層の膜厚Wb1、下部第2コア層の膜厚Wb2との間
に0.4≦(Wa+Wb1+Wb2)/(2×Wf)≦
0.7の関係があることを特徴とする導波路型半導体受
光素子。 - 【請求項2】屈折率na、厚さWaを有する光吸収層が
屈折率nb1、厚さWb1の上部第2コア層ならびに屈
折率nb2、厚さWb2の下部第2コア層に挟まれてお
り、さらに上記半導体層を屈折率nc1の上部クラッド
層と屈折率nc2の下部クラッド層で挟み、それらの屈
折率がnc1、nc2<nb1、nb2<naの関係を
有する端面入射型の導波路型受光素子において、光吸収
層の膜厚Waと上部第2コア層の膜厚Wb1、下部第2
コア層の膜厚Wb2との間に0.3≦Wa/(Wa+W
b1+Wb2)≦0.5の関係があることを特徴とする
導波路型半導体受光素子。 - 【請求項3】屈折率na、厚さWaを有する光吸収層が
屈折率nb1、厚さWb1の上部第2コア層ならびに屈
折率nb2、厚さWb2の下部第2コア層に挟まれてお
り、さらに上記半導体層を屈折率nc1の上部クラッド
層と屈折率nc2の下部クラッド層で挟み、それらの屈
折率がnc1、nc2<nb1、nb2<naの関係を
有する端面入射型の導波路型受光素子において、入射光
のスポット半径Wfと光吸収層の膜厚Wa、上部第2コ
ア層の膜厚Wb1、下部第2コア層の膜厚Wb2との間
に0.4≦(Wa+Wb1+Wb2)/(2×Wf)≦
0.7の関係が有り、かつ0.3≦Wa/(Wa+Wb
1+Wb2)≦0.5の関係があることを特徴とする導
波路型半導体受光素子。 - 【請求項4】請求項1ないし3のいずれか一つに記載の
導波路型半導体受光素子において、上部第2コア層の膜
厚Wb1と下部第2コア層の膜厚Wb2が等しいことを
特徴とする導波路型半導体受光素子。 - 【請求項5】請求項1ないし3のいずれか一つに記載の
導波路型半導体受光素子において、上部第2コア層の膜
厚Wb1もしくは下部第2コア層の膜厚Wb2が0であ
ることを特徴とする導波路型半導体受光素子。 - 【請求項6】請求項1ないし5のいずれか一つに記載の
導波路型半導体受光素子において、光吸収層の膜厚Wa
と上部第2コア層の膜厚Wb1、下部第2コア層の膜厚
Wb2との間に3μm<Wa+Wb1+Wb2<7μm
の関係が成り立ち、かつ光吸収層の膜厚Waが1.5μ
m≦Wa≦2.5μmであることを特徴とする導波路型
半導体受光素子。 - 【請求項7】請求項1ないし6のいずれか一つに記載の
導波路型半導体受光素子を光導波路基板上に集積化する
ことを特徴とする半導体受光装置。 - 【請求項8】請求項1ないし6のいずれか一つに記載の
導波路型半導体受光素子と光ファイバとを同一基板上に
集積化することを特徴とする半導体受光装置。 - 【請求項9】請求項1ないし6のいずれか一つに記載の
導波路型半導体受光素子と半導体レーザを光導波路基板
上に集積化することを特徴とする半導体装置。 - 【請求項10】請求項1ないし6のいずれか一つに記載
の導波路型半導体受光素子と半導体レーザ、光ファイバ
を同一基板上に集積化することを特徴とする半導体装
置。 - 【請求項11】請求項7ないし10のいずれか一つに記
載の半導体装置をセラミックあるいは樹脂にてパッケー
ジングすることを特徴とする光モジュール。 - 【請求項12】請求項7ないし10のいずれか一つに記
載の半導体装置の基板上にプリアンプIC等の電子回路
を搭載し、セラミックあるいは樹脂にてパッケージング
することを特徴とする光モジュール。 - 【請求項13】請求項11又は12記載の光モジュール
と送信ICや受信IC等の電子回路を同一ボード上に搭
載し、これを送信あるいは受信あるいは送受信装置とし
て用いることを特徴とする光伝送装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8244464A JPH1090540A (ja) | 1996-09-17 | 1996-09-17 | 半導体受光素子、半導体受光装置および半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8244464A JPH1090540A (ja) | 1996-09-17 | 1996-09-17 | 半導体受光素子、半導体受光装置および半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1090540A true JPH1090540A (ja) | 1998-04-10 |
Family
ID=17119043
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8244464A Pending JPH1090540A (ja) | 1996-09-17 | 1996-09-17 | 半導体受光素子、半導体受光装置および半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1090540A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0966046A2 (en) * | 1998-06-15 | 1999-12-22 | NEC Corporation | Semiconductor photodetector with an increased photo receiving area and exhibiting high speed performances |
EP1107318A2 (en) * | 1999-12-10 | 2001-06-13 | Nec Corporation | Semiconductor photodetector |
JP2001223369A (ja) * | 2000-02-09 | 2001-08-17 | Opnext Japan Inc | 端面入射導波路型半導体受光素子およびそれを用いた光受信モジュール |
US7021840B2 (en) | 2002-06-25 | 2006-04-04 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical receiver and method of manufacturing the same |
-
1996
- 1996-09-17 JP JP8244464A patent/JPH1090540A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0966046A2 (en) * | 1998-06-15 | 1999-12-22 | NEC Corporation | Semiconductor photodetector with an increased photo receiving area and exhibiting high speed performances |
EP0966046A3 (en) * | 1998-06-15 | 2000-02-02 | NEC Corporation | Semiconductor photodetector with an increased photo receiving area and exhibiting high speed performances |
US6271546B1 (en) | 1998-06-15 | 2001-08-07 | Nec Corporation | Semiconductor photodetector with an increased photo receiving area and exhibiting high speed performances |
EP1107318A2 (en) * | 1999-12-10 | 2001-06-13 | Nec Corporation | Semiconductor photodetector |
EP1107318A3 (en) * | 1999-12-10 | 2003-08-06 | NEC Compound Semiconductor Devices, Ltd. | Semiconductor photodetector |
US6718108B2 (en) | 1999-12-10 | 2004-04-06 | Nec Compound Semiconductor Devices | Semiconductor photodetector |
JP2001223369A (ja) * | 2000-02-09 | 2001-08-17 | Opnext Japan Inc | 端面入射導波路型半導体受光素子およびそれを用いた光受信モジュール |
US7021840B2 (en) | 2002-06-25 | 2006-04-04 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical receiver and method of manufacturing the same |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041026 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041216 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050118 |