JPH10504166A - 副画像からの画像合成方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 複合画像形成するために複数の副画像をピックアップし、それらを結合する画像ピックアップ装置（１）は複合画像の輝度値を補正する補正ユニット（５）からなる。補正ユニット（５）は副画像から明るい及び暗い部分を選択する選択ユニットからなる。明るい部分から利得補正係数を、暗い部分からオフセット補正項を得る計算ユニット（１０）をまた設ける。補正ユニット（５）はまた利得補正係数と副画像信号の信号レベルとを乗算しそれにオフセット補正項を加えるための乗算ユニット（８）と加算ユニット（９）とをまた含む。画像ピックアップ装置はＸ線画像増倍器（２４）の出射窓（３２）上の光学画像をピックアップし、高解像度複合画像に対する電子的画像信号を供給するＸ線検査装置（２０）で用いられ、それにより詳細な医用Ｘ線画像の画像情報は適切に再現される。

Description

【発明の詳細な説明】 副画像からの画像合成方法及び装置 本発明は対象のＸ線画像を形成するためにＸ線ビームを放射するＸ線源と、Ｘ 線画像から光学画像を得るためのＸ線検出器と、光学画像の副画像から電子副画 像を得る一以上のセンサー及び複合画像用の電子画像信号を形成するために電子 副画像信号を結合する結合ユニットよりなる画像ピックアップ装置とからなるＸ 線検査装置に関する。本発明はまた光学画像の副画像から電子副画像を得る一以 上のセンサーと複合画像用の電子画像信号を形成するために電子副画像信号を結 合する結合ユニットとからなる画像ピックアップ装置に関する。本発明はまた第 一の画像センサーによりピックアップされた第一の副画像と第二の画像センサー によりピックアップされた第二の副画像とからの複合画像を構成する方法に関す る。 画像ピックアップ装置及びこの種の方法は独国特許公開明細書ＤＥ３３１５８ ８２から知られている。 知られているＸ線検査装置はＸ線源と、画像ピックアップ装置が光学的に結合 されるＸ線画像増倍器とからなる。Ｘ線画像は例えばＸ線源により出射されたＸ 線ビームにより対象を照射することによりＸ線源とＸ線画像増倍器との間に配置 された放射線的に検査される患者のような対象から形成される。Ｘ線画像はＸ線 画像増倍器の入射スクリーン上に形成され、Ｘ線画像増倍器の出射窓上で光学画 像に変換される。光学画像は画像ピックアップ装置によりピックアップされ、電 子画像信号に変換される。出射スクリーンから出る光は部分的に透明な鏡からな る画像スプリッタにより２つの副画像に分割され、該副画像はそれぞれの画像セ ンサによりピックアップされる。 知られている画像ピックアップ装置は２つのソリッドステート画 像センサからなり、そのそれぞれは複数の光電要素からなる。画像センサはーの 画像センサによりピックアップされた光学的な画像の画素が他のセンサの光電要 素間の中間の空間に位置するような方法で配置される。各画像センサはそれぞれ の副画像をピックアップし、それぞれの副画像信号を該副画像信号から複合画像 に対する画像信号を形成する結合ユニットに印加する。副画像から画像センサは 副画像での輝度値を表す信号レベルを有する電子的副画像信号を得る。複合画像 はそれぞれのセンサーによりピックアップされた副画像の画像ラインからなり、 即ち一の画像センサからの画像ラインは複合画像の奇数画像ラインを構成し、他 のセンサからの画像ラインは複合画像の偶数画像ラインを構成する。画像ライン の横方向で複合画像はそれぞれのセンサによりピックアップされた副画像と比較 して約二倍の空間解像度を有する。 知られたピックアップ装置は光学画像が均一な輝度を有するときでさえ、異な る画像センサからの画像ラインは複合画像で異なる輝度値を有する。何故ならば 差が出射窓の実質的に同じ位置からの輝度値に関する場合でさえも副画像信号の 信号レベル間で発生するからである。その差は就中それぞれの画像センサは光減 衰の異なる異なった光学路を介して出射窓からの光を受けるためである。異なる 画像センサからの画像ラインの輝度値間の差の他の理由は異なる画像センサの間 の感度の差である。その様な差は複合画像での妨害を引き起こす。複合画像は例 えば光学画像での画像情報に関してでは全くなく、副画像の等しくない濃度によ り、又はそれぞれの画像センサの等しくない感度により引き起こされるストリー クパターンを示す。上記の理由によりそれぞれの画像センサは出射窓上で実質的 に同じ位置での光強度から異なる信号レベルを有する画像信号を得る。２つの差 は該信号レベル間の差に寄与するオフセット差と利得差である。 本発明の目的は利得差の点からと同様にオフセット差の点から副 画像の輝度値の変動の補正を可能にする画像ピックアップ装置からなるＸ線検査 装置を提供することにある。 これを達成するために本発明による画像ピックアップ装置は副画像の輝度値を 補正する補正ユニットからなり、その補正ユニットは該電子副画像信号から利得 補正係数とオフセット補正項を得るために配置され、副画像信号、利得補正係数 、オフセット補正項の信号レベルから補正された輝度値を得る信号処理システム からなることを特徴とする。 信号レベル差はそれに信号レベルが関係する光学画像で実質的に同じ位置の輝 度値に依存する利得差からなり、信号レベル差は該輝度値と独立なオフセット差 からなる。 副画像での輝度値の関数としての電子副画像信号の信号レベルの依存性は画像 センサの感度特性により主に決定され、画像センサ内に副画像をピックアップす るよう貯蔵される。例えば多数の画像センサに対して信号レベルは輝度値の線形 関数である。補正ユニットは感度特性のパラメータ化に対する同じ画像情報又は 実質的に同じ画像情報に関するそれぞれの副画像信号の信号レベルに適合するこ とにより電子副画像信号からのオフセットと利得差に関する推定値を得る。特に 線形特性に対する最小二乗適合はオフセットと利得差を推定するために適切であ る。補正ユニットは推定されたオフセットと利得差からオフセット補正項と利得 補正係数を得る。オフセット補正項は照明されていないセンサの部分により発生 される信号部分から得られる。 補正ユニットはオフセット及び利得差からの推定値から信号処理システムに印 加されたオフセット補正項と利得補正係数を計算する。オフセット補正項と利得 補正係数はオフセットと利得の差に対する補正に適切な値を有する。オフセット 補正項、利得補正係数及び副画像の輝度値から信号処理システムは利得差の点か ら同様なオフセット差に関して補正される補正された輝度値を得る。故に妨害は 補正された輝度値から複合される複合画像で対策される。 補正された輝度値は好ましくは複合画像の信号レベルとして形成される。その 様な信号レベルは複合画像内での輝度値を表す。それぞれの画像の輝度値から得 られ、同じ又は実質的に同じ画像情報に関する補正された輝度値は実質的に同じ である。 補正ユニットは別の画像センサにより実質的に同時にピックアップされた又は 副画像の組合せにより、又は同じ画像センサにより連続的にピックアップされた 副画像の組合せにより形成される複合画像に対する補正された輝度値の形成に適 切である。補正ユニットはまた赤、緑、青の副画像の複合されたカラー画像の補 正された輝度値を形成することにまた適切である。 日本国公開特許ＪＰ６４−１４８０４９から補正係数により専ら副画像の輝度 値により補正された輝度値を計算することが知られている。 本発明によるＸ線検査装置の好ましい実施例は補正ユニットは副画像の暗い部 分から該オフセット補正項を得、副画像の明るい部分から該利得補正係数を得る 選択ユニットからなり、該暗い部分の輝度値は主に天井値より低く、該明るい部 分の輝度値は主に閾値よりも高いことを特徴とする。 副画像の暗い部分に対して信号レベル差は実質的にオフセット差に等しい。副 画像の明るい部分に対して信号レベル差は実質的に利得差に等しい。結果として オフセット差と利得差は副画像の暗い部分と明るい部分の輝度値からそれぞれ正 確に推定される。副画像の暗い部分での実質的に同じ画像情報からそれぞれの画 像センサにより得られた画像信号の信号レベル間の差はオフセット差の正確な推 定値をもたらす。副画像の明るい部分での実質的に同じ画像情報からそれぞれの 画像センサにより得られた画像信号の信号レベル間の差は利得差の正確な推定値 をもたらす。 一方でオフセットと利得差の推定値は天井値がより低くとられ、 閾値がより高くとられると、より正確になる。他方で天井値は副画像の最低輝度 値より充分高くなければならず、閾値は副顔像の最大輝度値よりも充分低くなけ ればならない。何故ならばそうでなければ輝度値がそれからのオフセット補正項 と利得補正係数を得るよう利用することはできない、または充分できないからで ある。オフセット及び利得差を形成するよう正確に推定可能な天井及び閾値に対 して適切な値は経験的に又は計算により決定される。 本発明によるＸ線検査装置の更に好ましい実施例は信号処理システムは該オフ セット補正係数を副画像信号の信号レベルに加算する加算ユニットと、副画像の 信号レベルを該利得補正係数に乗算する乗算ユニットとからなることを特徴とす る。 信号レベル差は実質的に同じ画像情報に関する副画像の輝度値の関数として概 略線形に増加する。オフセット補正項は光強度ゼロでの信号レベル差の切片に等 しい。利得補正係数は輝度値の単位当たりの実質的に同じ画像情報に対するそれ ぞれの副画像信号の信号レベルの増加の比に等しい。 補正された輝度値はオフセット補正項を副画像信号の一つの信号レベルに加算 し、副画像信号の一つの信号レベルを利得補正係数に乗算することにより計算さ れる。 本発明によるＸ線検査装置の更に好ましい実施例は補正ユニットは第一と第二 のより低い平均値を第一と第二の副画像の暗い部分から積分された輝度値として 得る積分ユニットと、第一と第二のより高い平均値を第一と第二の副画像の明る い部分から積分された輝度値として得る積分ユニットと、該低い平均値からオフ セット補正項を得、該高い平均値から利得補正項を得る計算ユニットとからなる ことを特徴とする。 補正された輝度値でのノイズの影響は積分された輝度値からオフセット補正項 と利得補正係数を得ることにより減少される。本発明によるＸ線検査装置の更な る好ましい実施例は計算ユニットはオフ セット補正項を第一と第二のより低い平均値の間の差として計算し、利得補正係 数を第一から第二のより高い平均値の比として計算するよう配置されることを特 徴とする。 本発明によるＸ線検査装置の更なる好ましい実施例は計算ユニットは第一と第 二のより低い平均値間の差に対して別の値を副画像の別の暗い部分から得て、第 一と第二のより高い平均値間の差に対して別の値を副画像の別の明るい部分から 得ることを特徴とする。 より低い平均値間の差はオフセット差の正確な推定を与える。オフセット補正 項としてオフセット差を副画像の一つの輝度値に加えることにより補正された輝 度値が得られ、それはオフセット差に関して正確に補正されている。より高い平 均値の比は利得差を表す。これはより高い平均値はそれぞれの画像センサの光強 度の単位当たりの信号レベルの増加の比の正確な推定を与えるからである。副画 像の一つの輝度値に該比を利得補正係数として乗算することにより補正された輝 度値が得られ、それは利得差の点から正確に補正されている。補正された輝度値 は画像情報に関係しない信号レベルの差に対して補正されている。 副画像で別の部分からより高い及びより低い平均値を得ることによりオフセッ ト補正項及び利得補正係数が得られ、それはそれに関係する副画像の部分に依存 する。該オフセット補正項及び利得補正係数は補正された輝度値を計算するため に用いられ、それはオフセットと利得差の点から補正されており、それはそれに 関係する副画像での位置と一致する。結果として補正された輝度値が得られ、そ こで補正が複合オフセット及び利得差に対して達成され、それは例えば副画像で の差をぼかし（ビネット）にすることにより生ずる。 本発明によるＸ線検査装置の更なる好ましい実施例は補正ユニットは該差の空 間的な低周波数成分からオフセット補正項を得る低域通過フィルターと、該比の 空間的な低周波数成分から利得補正係数を得る低域通過フィルターとからなるこ とを特徴とする。 低域通過フィルタの使用の結果としてオフセット補正項と利得補正係数は画像 センサ内の孤立した欠陥画像要素により妨害され、補正された輝度値では副画像 での比較的大きな距離にわたる輝度変動は例えば変動のぼかしにより斯くして回 避される。 本発明の他の目的は副画像の輝度値の変動が複合画像での妨害へ対抗するため に利得差の点と同様にオフセット差の点でも補正可能な方法を提供することにあ る。この目的はオフセット補正項は副画像の暗い部分から得られ、利得補正係数 は副画像の明るい部分から得られ、該暗い部分の輝度値は主に天井値より低く、 該明るい部分の輝度値は主に閾値よりも高く、副画像の輝度値と該オフセット補 正係数は加算され、副画像の輝度値と該オフセット補正係数は相互に乗算される ことを特徴とする本発明による方法により達成される。 妨害は本発明による方法により補正された輝度値から合成された複合画像で対 策される。 本発明による画像ピックアップ装置は（請求項８の特徴を示す部分）を特徴と する。 本発明のこれらの及び他の特徴は以下に記載される実施例を参照して明らかと なる。 図の説明： 図１は本発明によるＸ線検査装置の概略を示す。 図２は本発明による画像ピックアップ装置の信号処理モジュールの第一実施例 の概略を示す。 図３は本発明による画像ピックアップ装置の信号処理モジュールの第二実施例 の概略を示す。 図４は第一及び第二の電子副画像信号の輝度値及び補正された第二の電子副画 像信号の信号レベルの関数として表されたグラフである。 図１は本発明によるＸ線検査装置２０の概略を示す。Ｘ線源２１ はＸ線ビーム２３を出射し、それは例えば放射線的に検査される患者である対象 ２２を照射する。患者内のＸ線吸収の差により、Ｘ線画像はＸ線画像増倍器２４ の入射スクリーン３０上に形成される。入射スクリーン上に入射したＸ線は電子 光学システム３１により出射窓３２に導かれる光電子に変換される。光電子は出 射窓３２上で蛍光層３３上に光学画像を形成し、この光学画像は画像ピックアッ プ装置１によりピックアップされる。出力３４を介して画像ピックアップ装置は 電子画像信号をモニタ３５に印加し、その上にＸ線画像の画像情報が視覚化され 、又は画像信号の更なる処理に対して画像処理ユニット３６に印加される。 出射窓３２上の光学画像はレンズシステム３７とビームスプリッタ３８により ２つの画像センサ２、３上に画像化される。例えばＣＣＤである画像センサは多 数の感光性要素からなり、一つの画像センサの感光性要素上に画像化される光学 画像の画素が他の画像センサの感光性要素の間の中間部分に画像化されるような 方法でビームスプリッタに関して配置される。例えばそれぞれの画像センサは光 学画像の交互のライン又はバンドをピックアップする。各画像センサは副画像の 輝度値を表す信号レベルを電子副画像に供給する。電子副画像信号はその信号レ ベルが複合画像に対して輝度値を表す電子画像信号を形成するように信号処理モ ジュール４０で結合される。画像ピックアップ装置１は詳細な医用Ｘ線画像で画 像情報を適切に再現できるように高解像度複合画像用の電子画像信号を供給する 。 図２は本発明による画像ピックアップ装置の信号処理モジュールの第一実施例 の概略を示す。信号処理モジュール４０は副画像信号から補正された輝度値を表 す信号レベルを得、補正された輝度値で複合画像に対する電子画像信号を複合す る。補正ユニット５と結合ユニット４とからなる。画像センサ２、３の副画像信 号Ｓ₁，Ｓ₂は補正ユニット５に印加される。両方の副画像信号は選択ユニット６ に印加される。 副画像信号Ｓ₁，Ｓ₂は選択ユニット６の第一と第二の比較ユニット１１、１２ に印加される。一の比較ユニット（１１）は副画像信号Ｓ₁，Ｓ₂からの明るい部 分から信号部分を選択し、他方で他の比較ユニット（１２）は２つの副画像の暗 い部分からの信号部分を選択する。これらの信号部分はバッファ１３に印加され る。バス１５を介してバッファ１３と通信可能な制御ユニット１４の制御下で第 一と第二のより低い及びより高い平均値が積分ユニット９によりそれぞれの信号 部分から決定される。第一と第二のより高い平均値は第一の副画像と第二の副画 像の明るい部分で平均輝度値をそれぞれ構成する。同じようにより低い平均値は 第一の副画像と第二の副画像の暗い部分で平均輝度値をそれぞれ構成する。これ らのより低い及びより高い平均値のそれぞれはメモリユニット１６に記憶される 。制御ユニット１４はまた第一と第二のより高い平均値を第一に対する第二のよ り高い平均値の比を計算する計算ユニット１５の除算ユニット１７に印加するた めにバス１５を介してメモリユニット１６と通信する。制御ユニットの制御の下 でメモリユニット１６は第一と第二のより低い平均値を計算ユニット１０の引き 算ユニット１８に印加し、それは第一と第二のより低い平均値の間の差を計算す る。低い平均値間の差はまた実質的に同じ画像情報に関する輝度値の副画像の暗 い部分に対する差をまず決定し、次にそれらの差の平均値を決定することにより 計算されることは当業者には明らかである。バス１５を介して制御ユニット１４ により制御される低域通過フィルタは計算ユニット１０の出力に結合される。計 算ユニット１０の出力上で信号レベルとして利用可能な比率と差から低域通過フ ィルタはオフセット補正項δと利得補正係数ΔＧ（＝Ｇ₁／Ｇ₂）を得る。制御ユ ニット１４の制御の下で利得補正係数は低域通過フィルタ１９により乗算ユニッ ト８に印加される。オフセット補正項は制御ユニット１４の制御の下で低域通過 フィルタ１９により加算ユニット７に印加される。オフセット補正項は副画像信 号 Ｓ₂に加算され、加算器７及びそれに印加される信号レベルにより利得補正係数 を乗算される乗算ユニット８に印加される。それから乗算ユニット８の出力は補 正された信号レベルに処理された副画像信号Ｓ₂’＝ΔＧ（Ｓ₂＋δ）を供給し、 その処理された副画像信号は副画像信号Ｓ₁と比較して利得とオフセット差につ いて補正される。第一の副画像の副画像信号及び加算ユニット７の出力信号の信 号レベルは複合画像の補正された輝度値を表す。複合画像に対する電子画像信号 を形成するために副画像信号Ｓ₁及び処理された副画像信号Ｓ₂は例えばインター ライン／マルチプレックス回路である結合ユニット４に印加される。インターラ イン／マルチプレックス回路はそれぞれの副画像の画像ラインが交替する複合画 像用の電子画像信号を形成する。それから結合ユニットは複合画像に対する電子 画像信号ＭＵＸを形成し、そこでは利得とオフセット画像は正確に補正されてお り、それにより複合画像は妨害なしに実質的に再生される。 オフセット補正項と利得補正係数はまたメモリユニット４１に記憶される。補 正ユニットが例えば該明るい又は暗い部分が存在しない故に電子副画像信号から 利得補正係数及び／又はオフセット補正項を得ることはできない場合には利得補 正係数及びオフセット補正項の記憶された値が用いられる。記憶された値は例え ば以前にピックアップされた画像に関し、該前にピックアップされた画像がその 時の画像から過剰に変動していない場合には満足すべき補正が得られる。「デフ ォルト」値はまたメモリユニット４１に記憶される。メモリユニット４１はこの 目的のためにバス１５を介してメモリユニット４１と通信する制御ユニット１４ の制御の下に読み出される。 図４は第一と第二の電子副画像信号Ｓ₁，Ｓ₂及び補正された第二の電子副画像 信号Ｓ₂’の信号レベルの輝度値Ｉの関数として表現された定量的なグラフを示 す。両方の電子副画像信号は実質的に同じ画像情報に関する。第一の副画像信号 の信号レベルは第一の副 画像での輝度値に線形に依存し、それ故 Ｓ₁＝δ₁＋Ｇ₁ Ｉ 同様にして第二の風雅増信号の信号レベルに対しては Ｓ₂＝δ₂＋Ｇ₂ Ｉ 斯くしてオフセット差はδ＝δ₂−δ₁であり、利得差は（Ｇ₂−Ｇ₁）Ｉである。 処理された電子副画像信号の信号レベルは Ｓ₂’＝δ₁（Ｇ₁／Ｇ₂）＋Ｇ₁ Ｉ で与えられる。電子副画像信号Ｓ₁，Ｓ₂の信号レベルは実質的に等しく、それぞ れの画像センサのオフセット及び利得での差による妨害を実質的に被らない複合 画像の補正された輝度値を表し、それによりそれぞれの副画像はピックアップさ れる。 図３は本発明による画像ピックアップ装置の信号処理モジュールの第二の実施 例の概略を示す。副画像信号Ｓ₁，Ｓ₂は２つの副画像の画像ラインの信号レベル が交替する電子画像信号ＭＵＸ’を形成するインターライン／マルチプレックス 回路に印加される。妨害なしに複合画像の再生を可能にするために補正ユニット ５により信号ＭＵＸでの信号レベルでオフセットと利得を補正することが必要で ある。結合ユニットは信号ＭＵＸ’でのそれぞれの副画像の信号部分の連続につ いて制御ユニットに情報を送るためにバス１５を介して制御ユニット１４に結合 される。分配ユニット５０を介して、それぞれの信号部分は制御ユニット１４の 制御の下で選択ユニット６に印加される。分配ユニット５０はバス１５を介して 制御ユニット５０により制御される。比較ユニット１１、１２からなる選択ユニ ット６は信号ＭＵＸ’からのそれぞれの副画像で暗い及び明るい部分に関する信 号部分を得る。これらの信号部分は制御ユニット１４により制御される入力ポー ト５１を介して積分ユニット９に連続的に印加される。それぞれの信号部部から 積分ユニットはメモリユニット１６に記憶される第一と第二のより低い及びより 高い平均値を得る。制御ユニット１４の制御の下で第一と第二のより高い及び より低い平均値は低域通過フィルタ１９と協働してそれからオフセット補正項と 利得補正係数を得る計算ユニット１０に印加されるようメモリユニット１６から 連続的に読み出される。 分配ユニット５は第二の副画像に関して該信号部分の信号レベルに対するオフ セット補正項を加算する加算ユニット７に信号ＭＵＸ’の信号部分Ｍ（Ｓ₂）を 印加する。乗算ユニット８の出力は加算ユニット７に結合される。乗算ユニット ８はまた加算ユニットから利得補正係数を受け、それにより加算回路７の出力に 信号レベルＭ（Ｓ₂）＋δを乗算するために入力を介して低域通過フィルタ１９ の出力に結合される。乗算ユニット８の出力はまた信号処理モジュール４０の出 力を構成する。加算ユニット７の出力はそれにオフセット補正項が加算され利得 補正係数により乗算される信号レベルを第二の副画像に関連づける信号部分Ｍ（ Ｓ₂’）＝ΔＧ（Ｍ（Ｓ₂）＋δ）を供給する。分配ユニット５０は第一の副画像 に関する信号部分Ｍ（Ｓ₁）を更なる処理なしに制御ユニット１４の制御の下で 信号処理モジュール４０の出力に印加する。それで信号処理モジュール４０の出 力は電子画像信号ＭＵＸを搬送し、ここで信号部分Ｍ（Ｓ₁），Ｍ（Ｓ₂’）は複 合画像に対して交替する。信号ＭＵＸは利得とオフセット差に対して補正され、 それにより高い診断品質の複合画像が実質的な妨害なしに該信号により再生可能 となる。 上記実施例は２つの副画像からの画像複合に基づき説明されたが、当業者には 本発明はまた例えば本発明を副画像の別の対に繰り返して適用することにより画 像が２以上の副画像から複合されるときにもまた用いられ得ることは明らかであ る。副画像の位置の関数として利得とオフセット差のドリフトを考慮に入れるた めに所望ならば補正ユニットは副画像内の異なる領域に対する利得補正係数とオ フセット補正項を得るよう配置されうる。副画像でのそれぞれの領域からの信号 部分は制御ユニット１４の制御の下で領域の利得補正係 数とオフセット補正項により補正される。本発明による画像ピックアップ装置又 はその様な画像ピックアップ装置からなる最近のＸ線検査装置では信号処理モジ ュール４０の機能はこの目的のために適切にプログラムされたコンピュータまた は特定の応用電子的プロセッサによりすぐに実施可能である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １． − 対象（２２）のＸ線画像を形成するためにＸ線ビーム（２３）を放射するＸ 線源（２１）と、 − Ｘ線画像から光学画像を得るためのＸ線検出器（２４）と、 − 光学画像の副画像から電子副画像を得る一又はそれ以上のセンサー（２、 ３）及び − 複合画像用の電子画像信号を形成するために電子副画像信号を結合する結 合ユニット（４）よりなる画像ピックアップ装置（１）と からなるＸ線検査装置（２０）であって、 画像ピックアップ装置は、 − 副画像の輝度値を補正する補正ユニット（５）からなり、その補正ユニット は − 該電子副画像信号から利得補正係数とオフセット補正項を得るように配置 され、 − 副画像信号、利得補正係数、オフセット補正項の信号レベルから補正された 輝度値を得る信号処理システム（７、８）からなる ことを特徴とするＸ線検査装置。 ２． − 補正ユニット（５）は − 副画像の暗い部分から該オフセット補正項を得、 − 副画像の明るい部分から該利得補正係数を得る選択ユニット（６）からなり 、 − 該暗い部分の輝度値は主に天井値より低く、 − 該明るい部分の輝度値は主に閾値よりも高い ことを特徴とする請求項１記載のＸ線検査装置。 ３．信号処理システム（７、８）は − 該オフセット補正係数を副画像信号の信号レベルに加算する加算ユニット（ ７）と、 − 副画像の信号レベルを該利得補正係数に乗算する乗算ユニット（８）と からなることを特徴とする請求項２記載のＸ線検査装置。 ４． − 補正ユニット（５）は、 − 第一と第二のより低い平均値を第一と第二の副画像の暗い部分から積分され た輝度値として得る積分ユニット（９）と、 − 第一と第二のより高い平均値を第一と第二の副画像の明るい部分から積分さ れた輝度値として得る積分ユニット（９）と、 − 該低い平均値からオフセット補正項を得、 − 該高い平均値から利得補正項を得る − 計算ユニット（１０）と からなることを特徴とする請求項１乃至３のうちのいずれか１項記載のＸ線検査 装置。 ５． − 計算ユニット（１０）は、 − オフセット補正項を第一と第二のより低い平均値の間の差として計算し、 − 利得補正係数を第一から第二のより高い平均値の比として計算するよう配置 される ことを特徴とする請求項４記載のＸ線検査装置。 ６． − 計算ユニットは、 − 第一と第二のより低い平均値間の差に対して別の値を副画像の別の暗い部分 から得て、 − 第一と第二のより高い平均値間の差に対して別の値を副画像の別の明るい部 分から得る ことを特徴とする請求項５記載のＸ線検査装置。 ７．補正ユニット（５）は該差の空間的な低周波数成分からオフセット補正項を 得る低域通過フィルター（１９）と、該比の空間的な低周波数成分から利得補正 係数を得る低域通過フィルター（１９）とからなることを特徴とする請求項５又 は６記載のＸ線検査装置。８． − 光学画像の副画像から電子副画像を得る一以上のセンサー（２、３）と − 複合画像用の電子画像信号を形成するために電子副画像信号を結合する結合 ユニット（４）と からなる画像ピックアップ装置（１）であって、 − 副画像の輝度値を補正する補正ユニット（５）からなり、その補正ユニット は − 該電子副画像信号から利得補正係数とオフセット補正項を得るために配置 され、 − 副画像信号、利得補正係数、オフセット補正項の信号レベルから補正された 輝度値を得る信号処理システム（７、８）からなることを特徴とする画像ピック アップ装置。 ９． − オフセット補正項は副画像の暗い部分から得られ、 − 利得補正係数は副画像の明るい部分から得られ、 − 該暗い部分の輝度値は主に天井値より低く、 − 該明るい部分の輝度値は主に閾値よりも高く、 − 副画像の輝度値と該オフセット補正係数は加算され、 − 副画像の輝度値と該オフセット補正係数は相互に乗算されることを特徴とす る第一の画像センサー（２）によりピックアップされた第一の副画像と第二の画 像センサー（３）によりピックアップされた第二の副画像とからの複合画像を構 成する方法。