JP2004053584A - 画像補正装置及び方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 238000003702 image correction Methods 0.000 title claims description 16
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 100
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 9
- 238000009499 grossing Methods 0.000 claims description 3
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 2
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 29
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 230000006870 function Effects 0.000 description 12
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 12
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 9
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 description 1
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
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- H04N5/321—Transforming X-rays with video transmission of fluoroscopic images
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- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
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- A61B6/52—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/5258—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/70—Circuitry for compensating brightness variation in the scene
- H04N23/76—Circuitry for compensating brightness variation in the scene by influencing the image signals
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
Abstract
【課題】ゲイン補正によるアーティファクトの発生を抑制すること。
【解決手段】複数の検出素子を含む画像検出器により取得された画像データを補正するための画像補正装置を、前記画像データから前記画像検出器に起因するオフセット成分を除去してオフセット補正画像を得る第1の補正手段と、前記オフセット補正画像の画素値を、前記複数の検出素子のうちの対応する1つのゲインに基づいて補正する第2の補正手段と、前記オフセット補正画像の画素値に基づいて選択された、前記オフセット補正画像の画素の値を、前記選択された画素に対し前記第2の補正手段により得られる値に代わる画素値を生成することにより、補正する第3の補正手段とを備えるように構成する。
【選択図】 図1
【解決手段】複数の検出素子を含む画像検出器により取得された画像データを補正するための画像補正装置を、前記画像データから前記画像検出器に起因するオフセット成分を除去してオフセット補正画像を得る第1の補正手段と、前記オフセット補正画像の画素値を、前記複数の検出素子のうちの対応する1つのゲインに基づいて補正する第2の補正手段と、前記オフセット補正画像の画素値に基づいて選択された、前記オフセット補正画像の画素の値を、前記選択された画素に対し前記第2の補正手段により得られる値に代わる画素値を生成することにより、補正する第3の補正手段とを備えるように構成する。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、画像検出器により取得された画像データの補正に関する。
【0002】
【従来の技術】
物体を透過した、X線を代表とする放射線の分布を観測することにより、物体、特に人体、の内部を観察する場合、近年、フラットパネルX線センサと呼ばれる、固体撮像素子を用いた大判のイメージセンサにより放射線分布を検出することが一般化しつつある。固体撮像素子の利点は、平面上の複数の受像画素により、平面上のエネルギー分布を直接空間的にサンプリングして信号化できることにある。
【0003】
しかし、その欠点として、空間的にサンプリングするための複数の画素要素は基本的に独立した素子であり、それぞれに異なる特性をもつため、取得された画像に対し当該画素要素ごとの特性ばらつきに基づく補正を行わなければならないことが挙げられる。
【0004】
エネルギ変換素子である画素要素の主な特性ばらつきは、変換効率(ゲイン)及びオフセットについてのものであり、固体撮像素子であるフラットパネルX線センサを用いる場合、第一にゲイン及びオフセットの補正を行わなければならない。
【0005】
以下、従来技術を説明する。図4は上述のゲイン補正及びオフセット補正に関する形態をブロック図として模式的に示したものである。同図において記号1はX線発生装置をあらわし、不図示の高電圧発生を伴う制御装置により矢印で示す方向にX線を発する。2は人体で代表される被写体であり、3で示す寝台に横たわっている様子を示す。5で示すブロックが被写体を透過したX線強度分布を電気信号に変換する目的で使用されるX線イメージセンサであり、大判の固体撮像素子を用いて構成され、平面状にマトリックス状に並べられた複数の画素により、2次元平面上でX線強度分布を空間的にサンプリングする。
【0006】
以下、このX線イメージセンサをフラットパネルセンサと呼称する。通常の人体内部構造を撮影する場合、サンプリングピッチは100μm〜200μm程度に設定されている。フラットパネルセンサは不図示のコントローラによって制御され、画素ごとに存在するX線量に比例した電荷値を順次走査して電圧もしくは電流である電気量に変換し、当該電気量を出力する。6で示すブロックはフラットパネルセンサから出力されるアナログの電気量をデジタル値に変換するA/D変換器である。
【0007】
7はA/D変換されたデジタル値を画像情報として一旦記憶するメモリ手段を表す。8で示す構造は、7のメモリからデータを読み出し、2つのメモリ9及び10のいずれかに記憶させる手段を表す。9のメモリはX線を曝射せずにフラットパネルセンサから出力される画像信号をオフセット固定パタン画像として記憶するメモリであり、10は実際にX線を曝射して得られた画像を記憶するメモリである。
【0008】
実際の撮影にあたっては、被写体を透過したX線量をモニタする不図示のX線量測定装置(フォトタイマーとも呼ばれる)をX線曝射制御用に用い、曝射されたX線量の積算値が所定値になった瞬間にX線曝射を停止するように構成するのが一般的である。本装置のコントローラは、X線曝射が停止すると同時にフラットパネルセンサを走査し、被写体の画像情報を、7のメモリ及び8の分岐手段を介して、10のメモリに記憶する。その直後に、X線曝射を行わずにフラットパネルセンサを駆動して被写体撮影時間と同じ時間だけ電荷を蓄積することにより得られるオフセット固定パタンがメモリ7に記憶される。
【0009】
このときの分岐手段8はB側に設定され、オフセット固定パタンはメモリ9に記憶される。11で示すブロックは差分を行うブロック(差分器)であり、実質的にメモリ10の値から、対応する位置のメモリ9の値を順次差し引き、その結果を12で示すメモリブロックへ記憶させる。
【0010】
13で示すブロックは、除算を遂行するために用いる対数値変換のための参照テーブル(Look Up Table,LUT)である。被写体の放射線画像は通常この13のLUT及び分岐手段19のC側を介してメモリ15へ格納される。
【0011】
メモリ16は本装置でキャリブレーションと呼称される操作を行ったときに得られる画像を記憶するメモリであり、上述と同様の操作で画像を取得し、分岐手段19のD側を介して画像を格納する。但し、このキャリブレーションでは、画素要素のゲインばらつきを得るため、被写体2が無い状態でX線量分布そのもののみが撮影される。通常このキャリブレーション操作は一日一回程度、例えば始業時に、行われるものであり、この操作によってフラットパネルセンサがもつ、画素要素のゲインばらつきに相当するデータ(ゲイン画像ともいう)がメモリ16に得られる。
【0012】
次に、17の差分機能(差分器)で該ゲイン画像を被写体画像から引き去ることで、ゲインぱらつきの補正された画像が完成し、18で示すメモリへ格納される。その後、補正された画像が後段の診断画像処理、ファイリング、伝送、表示等に供される。
【0013】
通常の放射線撮影装置では、補正された画像に対し階調処理、ダイナミックレンジ変更処理、空間周波数処理などの、診断用画像へ変換する処理が行われ、当該処置後の画像がファイリング装置やハードコピー装置で代表される外部機器へ転送される。
【0014】
尚、一般的な補正方式としてのオフセット補正及びゲイン補正は、例えば特許文献1に開示されている。
【0015】
【特許文献1】
特開平7−72256号公報
【0016】
【発明が解決しようとする課題】
取得されるべきX線画像の特徴は、ダイナミックレンジが非常に広いことである。たとえば、医療用放射線画像の場合、人体中に埋め込まれた金属物質により、X線がほとんど遮断されたような低レベル信号しか得られない領域もある。
【0017】
このような画像の低レベル信号領域は、情報としてはまったく意味を持たないため、無視してよい。しかしながら、この低レベル信号領域に対しゲイン補正をおこなうと、ほとんど入射エネルギがない領域すなわち信号レベル変動がない領域であるにもかかわらず、画素間のゲイン変動パタン(ゲイン画像)が逆に被写体画像上に重畳されることになり、ゲイン補正によるノイズが発生してしまう。
【0018】
図5を用いて、この現象を説明する。図5において、(i)〜(iii)は通常のX線量分布の画像を1次元で示したものであり、簡便のため、画像取得時に発生するランダムノイズを省略して示している。101は前述のキャリブレーションで取得されたゲインばらつきであり、102がX線のない状態で得られたオフセットをあらわしている。また、103が実際の対象物の画像信号であるが、ここでは一様な放射線透過率分布を有する対象物を仮定している。(ii)は103から102のオフセットが除去されたオフセット補正後の画像104を示している。ついで(iii)は、オフセット補正後の画像104を101のゲインばらつき(ゲイン画像)で除算することによって得られるゲイン補正後の画像105を示している。当該画像105は一様な画素値を有する画像となる。
【0019】
次に、(iv)〜(vi)は、センサ感度がほとんどない、非常に低レベルの一様な放射線画像を撮影した場合の画像データの例である。106が当該放射線画像の信号であるが、(v)においてオフセット102が画像106から除去された段階で、ほとんど一定値の安定した画像107が得られている。しかし、(vi)の段階で、ゲイン補正を行ってしまうと、108で示したようにゲインばらつき又はX線のシェーディングを示すパタンが画像上に現れてしまい、かえって画像上にノイズ(アーティファクト)が発生してしまっている。
【0020】
この値(ノイズレベル)は非常に小さいものであり、図5では強調して示している。しかし、図4で説明したように対数LUTをもちいているため、非常に小さな値であっても、出力画像では大きな変動になることがある。一般的な補正方式としてのオフセット補正及びゲイン補正は、例えば、上述の特許文献1に開示されているが、ゲイン補正によるノイズ発生の問題は指摘されていない。
【0021】
そこで、本発明は上述のような問題を解消することを1つの目的とする。
【0022】
【課題を解決するための手段】
上述の目的を達成するための第1の発明は、複数の検出素子を含む画像検出器により取得された画像データを補正するための画像補正装置であって、前記画像データから前記画像検出器に起因するオフセット成分を除去してオフセット補正画像を得る第1の補正手段と、前記オフセット補正画像の画素値を、前記複数の検出素子のうちの対応する1つのゲインに基づいて補正する第2の補正手段と、前記オフセット補正画像の画素値に基づいて選択された、前記オフセット補正画像の画素の値を、前記選択された画素に対し前記第2の補正手段により得られる値に代わる画素値を生成することにより、補正する第3の補正手段とを備えたことを特徴とする画像補正装置である。
【0023】
また、第2の発明は、複数の検出素子を含む画像検出器により取得された画像データを補正するための画像補正方法であって、前記画像データから前記画像検出器に起因するオフセット成分を除去してオフセット補正画像を得る第1の補正工程と、前記オフセット補正画像の画素値を、前記複数の検出素子のうちの対応する1つのゲインに基づいて補正する第2の補正工程と、前記オフセット補正画像の画素値に基づいて選択された、前記オフセット補正画像の画素の値を、前記選択された画素に対し前記第2の補正手段により得られる値に代わる画素値を生成することにより、補正する第3の補正工程とを含むことを特徴とする画像補正方法である。
【0024】
また、第3の発明は、複数の検出素子を含む画像検出器により取得された画像データを補正するための画像補正方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記画像補正方法は、前記画像データから前記画像検出器に起因するオフセット成分を除去してオフセット補正画像を得る第1の補正工程と、前記オフセット補正画像の画素値を、前記複数の検出素子のうちの対応する1つのゲインに基づいて補正する第2の補正工程と、前記オフセット補正画像の画素値に基づいて選択された、前記オフセット補正画像の画素の値を、前記選択された画素に対し前記第2の補正手段により得られる値に代わる画素値を生成することにより、補正する第3の補正工程とを含むことを特徴とするプログラムである。
【0025】
【発明の実施の形態】
(第1の実施形態)
図1が本発明を適用したX線撮影装置(放射線撮影装置)のブロック図である。図4で説明したブロックと同様のブロックには図4のものと同一の符号を付し、その説明を省略する。図4のブロック図と異なる点は、21〜23のブロックが追加されていることにある。21はオフセット補正され、かつ対数LUTにより対数変換された後の画素値を評価して、ゲイン補正を行うかどうかを決定する信号を出力するデコーダであり、当該信号により切替スイッチ23のE側もしくはF側が選択される。23はゲイン補正のための減算器による減算結果F、もしくは減算結果Fを棄却して値Eを選択するためのスイッチである。変換器22は、メモリ15からの画像データに基づき、例えば当該画像データを変換する形で、規定値(減算結果Fに代わる画素値)を出力する。
【0026】
変換器22は入力データを棄却して、新たな固定値を出力する構成も取れるし、入力データに基づきある程度変動する値を出力するようにも設定可能である。
【0027】
上記規定値の決定方法を図6を用いて説明する。図6において、LUTと示したカーブは対数変換LUTの特性をあらわし、入力の幅であるΔW0は実際にゲインばらつきを補正するデータの変動範囲(ゲイン画像の画素値範囲)をあらわす。また、入力のD0という値は、この値以下では、センサの線形性が保証されず、ゲイン補正の必要性がない部分を表す。このD0の入力に対応する出力がD1であり、図1の21のデコーダはこの値以下であれば、E側を選択するような出力をする。
【0028】
このときの規定値は、ΔW0に対応する出力範囲がΔW1であるから、ゲイン補正としての差分の出力範囲がB1〜A1である可能性が高いため、規定値として差分結果の絶対値の最小値(差分結果は負値になる)であるB1に相当する値を設定することが妥当だと考えられる。この場合、変換機22は入力画像データに関係なくB1を出力する。
【0029】
また、別の考え方では、入力画像データに依存して妥当な出力を推定する方法も考えられ、たとえば、変換器22を図7のようなLUTで構成し、出力を入力に依存してある程度可変するLUTを用いることも可能である。尚、本実施形態では、デコーダ21が対数LUT13を通過した後のデータを評価したが、このLUTは入出力が1対1に対応するものであるので、対数LUT13通過前のデータを評価するように構成することも当然可能である。
【0030】
たとえば、デコーダ21は入力(対数変換前の値)が10以下であるとE側を指示する出力を行なう。規定値には適当な低レベルの値を設定しておく。
【0031】
尚、本実施形態における処理、判断などは当然、コンピュータとソフトウエアとを用いて実現可能であり、図1で示した画像処理構成はすべて計算機プログラミングにより実現可能であるのは明白である。
【0032】
また、本実施形態では2次元画像センサ(X線イメージセンサ5)を用いたが、1次元ラインセンサを用いた場合にも同様に適用できることはいうまでもない。
【0033】
(第2の実施形態)
図2は本発明の第2の実施形態を示すブロック図である。同図において、図4に対し31〜34のブロックが新たに設けられている。31のブロックは図1の21と同様の動作を行う値判別用デコーダであり、判別結果に従って切替スイッチ34をG側もしくはH側に設定するための出力を行なう。32のブロックは空間フィルタリングを行うブロックであり、通常100×100以上の核をもつ平滑化フィルタ(単純移動平均)の機能によって、ゲイン補正用データ(ゲイン画像)をぼかし、メモリ33に格納する。
【0034】
よって、画素値が非常に低く、線形性がない画素値領域に属する画素に対しては、デコーダ31及びスイッチ34の機能により、メモリ16に格納されているゲイン補正用データを空間フィルタリングによりぼかした、メモリ33に記憶されている補正用データによってゲイン補正がなされ、結果的に正確なゲイン補正は行われない。
【0035】
しかし、線形性のない画素値領域にはゲインのばらつきは実質的に存在しないとみなせるため、必ずしもゲイン補正の必要性はなく、上述のようなぼけた(平滑化された)補正データを用いたほうが良好なゲイン補正が行われる。この実施形態の特徴は、あらかじめ規定値を設定する必要がないことから、より自然な補正ノイズ(補正に起因したノイズ)の除去が行える点にある。
【0036】
上述の説明では、補正用データ(ゲイン画像)の補正に空間フィルタリング(移動平均)を用いたが、補正用データの一部又は全体の平均処理を用いることも可能であり、この場合はメモリの節約にもなる。
【0037】
尚、本実施形態では、デコーダ21が対数LUT13を通過した後のデータを評価したが、このLUTは入出力が1対1に対応するものであるので、対数LUT13通過前のデータを評価するように構成することも当然可能である。
【0038】
(第3の実施形態)
実施形態1では、低画素値(低線量)領域の画素値に対し、ゲイン補正値を利用せずに規定値におきかえる処理を行った。本実施形態では、ゲイン補正を行った後に、イメージセンサの入出力特性に線形性がないことに起因してゲイン補正による余計な補正ノイズが発生していると思われる画素に対して、規定値に置き換えるのでなく、ゲイン補正後画像のフィルタリングによって補正ノイズを除去する。しかし、あくまで、線形性があるかどうかの判断はゲイン補正前の画素値を評価して行う。
【0039】
図3が本実施形態を説明するブロック図であり、図4に比し実質的に新たに追加されたブロックは第1の制御装置41、第2の制御装置42、および画像メモリ43である。各制御装置の動作を図8に示す。図8の(i)は本実施形態における画素値のビット構成を示したものであり、画素値自体は14ビット幅のデータで示される(0ビット目〜13ビット目)。
【0040】
本実施形態では、16ビット(2バイト)でメモリ要素が構成されているとして、14ビット目の不使用であるビットに対してFLGというフラグが設定してある。このフラグは、0であると通常の画素値であることを示し、1であれば、線形性のない領域の画素値であることを示す。すなわち、フラグ1は、ゲイン補正を行った結果補正ノイズが発生することを意味する。尚、ゲイン補正を行った結果では、画素値が変動している(到達線量の指標とはならない)ため、当該画素値のみでは、線形性のある範囲内の線量であるかかどうかの判断は困難である。
【0041】
図3のブロック41の動作は、ゲイン補正前に画素値を評価し、上記フラグを設定することである。この動作を図8(ii)にフローチャートで示す。同フローチャートにおいて、画素値を判断し(ステップs821)、10以下であれば、線形性が失われている(線形成がない領域の画素値)として、フラグFLGを1にする(ステップs822)。それ以外ではフラグFLGを0に設定する(ステップs823)。
【0042】
第1の制御装置41でこの処理が行われた後、差分を含むゲイン補正がなされるが、このとき補正後の画像は、D14のFLGが保持されたまま次段に転送され、メモリ18に格納される。ブロック42(第2の制御装置)は、保持されたD14(FLG)を評価し、補正ノイズを除去する処理を行う。具体的には、処理対象画素を含むその周囲画素の平均値を出力する空間フィルタリングを用いて補正ノイズを除去する。図8(iii)はその動作のフローチャートである。
【0043】
まず、D14を評価し(ステップs831)、D14=1すなわち線形性の欠如に起因してゲイン補正による補正ノイズが発生していると判断すると、当該画素の周囲画素、例えば10*10画素分、の平均値を次段のメモリ43に書き込み(ステップs832)、通常(D14=0)の場合、そのままの画素値をメモリ43に書き込む(ステップs833)。このようにしてメモリ43に記憶された画像が最終出力となる。
【0044】
また、本実施形態では、ゲイン補正前のデータに関しての評価結果をその後の処理系でも保持しているため、第2の制御装置42において、平均値(移動平均値)でなく実施形態1と同様の規定値を出力するような構成にすれば、実施形態1と同様の効果を得ることも可能である。
【0045】
以上のように、オフセット補正を行った直後の画素データ又は線量の指標となるデータを評価して、イメージセンサの線形性がないような低レベルの画素値に対し、ゲイン補正を行わない、ゲイン補正用データ(ゲイン画像)を補正して用いる、又はゲイン補正後の画像を補正することにより、ゲイン補正に起因するノイズ等のアーティファクトの発生を防ぐことができる。ここで、ゲイン補正部に対する入力データ等の放射線線量の指標となるデータに従って、ゲイン補正方法を切り替えることが肝要である。
【0046】
ゲイン補正を行わなかった画素データを、画像データの最小値などの特定値に固定することも有効である。通常、低レベル画素値等をクリッピングする場合、ゲイン補正後の画像に対し行なうことが多いが、ゲイン補正後の画像では、画素値のばらつきが増えるため、画素値がイメージセンサの線形性のないレベル(レンジ)のものかどうかの判断がつきにくい。よって、ゲイン補正前の画素値等、放射線線量の指標となるデータに基づいて当該判断を行なえば、そのような問題は解消される。
【0047】
(他の実施形態)
尚、本発明の目的は、実施形態1〜3のいずれかの装置又はシステムの機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記憶した記憶媒体を、装置又はシステムに供給し、その装置又はシステムのコンピュータ(CPU又はMPU等)が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出して実行することによっても、達成されることは言うまでもない。
【0048】
この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が実施形態1〜3のいずれかの機能を実現することとなり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体及び当該プログラムコードは本発明を構成することとなる。
【0049】
プログラムコードを供給するための記憶媒体としては、ROM、フロッピー(登録商標)ディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、CD−ROM、CD−R、磁気テープ、不揮発性のメモリカード等を用いることができる。
【0050】
また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、実施形態1〜3のいずれかの機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているOS等を利用して実際の処理の一部又は全部が行われ、その処理によって実施形態1〜3のいずれかの機能が実現される場合も本発明の実施の態様に含まれることは言うまでもない。
【0051】
さらに、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれた後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるCPUなどが実際の処理の一部又は全部を行い、その処理によって実施形態1〜3のいずれかの機能が実現される場合も本発明の実施の態様に含まれることは言うまでもない。
【0052】
このようなプログラム又は当該プログラムを格納した記憶媒体に本発明が適用される場合、当該プログラムは、例えば、上述の図8に示されるフローチャートに対応したプログラムコードから構成される。
【0053】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、ゲイン補正によるアーティファクトの発生を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態のブロック図である。
【図2】本発明の第2の実施形態のブロック図である。
【図3】本発明の第3の実施形態のブロック図である。
【図4】従来技術を説明するための図である。
【図5】本発明の課題を説明するための図である。
【図6】第1実施形態における規定値を説明するための図である。
【図7】第1実施形態におけるLUTの例を示す図である。
【図8】第3実施形態を説明するための図である。
【符号の説明】
11 差分器
13 参照テーブル
17 差分器
21 デコーダ
22 変換器
23 切替スイッチ
【発明の属する技術分野】
本発明は、画像検出器により取得された画像データの補正に関する。
【0002】
【従来の技術】
物体を透過した、X線を代表とする放射線の分布を観測することにより、物体、特に人体、の内部を観察する場合、近年、フラットパネルX線センサと呼ばれる、固体撮像素子を用いた大判のイメージセンサにより放射線分布を検出することが一般化しつつある。固体撮像素子の利点は、平面上の複数の受像画素により、平面上のエネルギー分布を直接空間的にサンプリングして信号化できることにある。
【0003】
しかし、その欠点として、空間的にサンプリングするための複数の画素要素は基本的に独立した素子であり、それぞれに異なる特性をもつため、取得された画像に対し当該画素要素ごとの特性ばらつきに基づく補正を行わなければならないことが挙げられる。
【0004】
エネルギ変換素子である画素要素の主な特性ばらつきは、変換効率(ゲイン)及びオフセットについてのものであり、固体撮像素子であるフラットパネルX線センサを用いる場合、第一にゲイン及びオフセットの補正を行わなければならない。
【0005】
以下、従来技術を説明する。図4は上述のゲイン補正及びオフセット補正に関する形態をブロック図として模式的に示したものである。同図において記号1はX線発生装置をあらわし、不図示の高電圧発生を伴う制御装置により矢印で示す方向にX線を発する。2は人体で代表される被写体であり、3で示す寝台に横たわっている様子を示す。5で示すブロックが被写体を透過したX線強度分布を電気信号に変換する目的で使用されるX線イメージセンサであり、大判の固体撮像素子を用いて構成され、平面状にマトリックス状に並べられた複数の画素により、2次元平面上でX線強度分布を空間的にサンプリングする。
【0006】
以下、このX線イメージセンサをフラットパネルセンサと呼称する。通常の人体内部構造を撮影する場合、サンプリングピッチは100μm〜200μm程度に設定されている。フラットパネルセンサは不図示のコントローラによって制御され、画素ごとに存在するX線量に比例した電荷値を順次走査して電圧もしくは電流である電気量に変換し、当該電気量を出力する。6で示すブロックはフラットパネルセンサから出力されるアナログの電気量をデジタル値に変換するA/D変換器である。
【0007】
7はA/D変換されたデジタル値を画像情報として一旦記憶するメモリ手段を表す。8で示す構造は、7のメモリからデータを読み出し、2つのメモリ9及び10のいずれかに記憶させる手段を表す。9のメモリはX線を曝射せずにフラットパネルセンサから出力される画像信号をオフセット固定パタン画像として記憶するメモリであり、10は実際にX線を曝射して得られた画像を記憶するメモリである。
【0008】
実際の撮影にあたっては、被写体を透過したX線量をモニタする不図示のX線量測定装置(フォトタイマーとも呼ばれる)をX線曝射制御用に用い、曝射されたX線量の積算値が所定値になった瞬間にX線曝射を停止するように構成するのが一般的である。本装置のコントローラは、X線曝射が停止すると同時にフラットパネルセンサを走査し、被写体の画像情報を、7のメモリ及び8の分岐手段を介して、10のメモリに記憶する。その直後に、X線曝射を行わずにフラットパネルセンサを駆動して被写体撮影時間と同じ時間だけ電荷を蓄積することにより得られるオフセット固定パタンがメモリ7に記憶される。
【0009】
このときの分岐手段8はB側に設定され、オフセット固定パタンはメモリ9に記憶される。11で示すブロックは差分を行うブロック(差分器)であり、実質的にメモリ10の値から、対応する位置のメモリ9の値を順次差し引き、その結果を12で示すメモリブロックへ記憶させる。
【0010】
13で示すブロックは、除算を遂行するために用いる対数値変換のための参照テーブル(Look Up Table,LUT)である。被写体の放射線画像は通常この13のLUT及び分岐手段19のC側を介してメモリ15へ格納される。
【0011】
メモリ16は本装置でキャリブレーションと呼称される操作を行ったときに得られる画像を記憶するメモリであり、上述と同様の操作で画像を取得し、分岐手段19のD側を介して画像を格納する。但し、このキャリブレーションでは、画素要素のゲインばらつきを得るため、被写体2が無い状態でX線量分布そのもののみが撮影される。通常このキャリブレーション操作は一日一回程度、例えば始業時に、行われるものであり、この操作によってフラットパネルセンサがもつ、画素要素のゲインばらつきに相当するデータ(ゲイン画像ともいう)がメモリ16に得られる。
【0012】
次に、17の差分機能(差分器)で該ゲイン画像を被写体画像から引き去ることで、ゲインぱらつきの補正された画像が完成し、18で示すメモリへ格納される。その後、補正された画像が後段の診断画像処理、ファイリング、伝送、表示等に供される。
【0013】
通常の放射線撮影装置では、補正された画像に対し階調処理、ダイナミックレンジ変更処理、空間周波数処理などの、診断用画像へ変換する処理が行われ、当該処置後の画像がファイリング装置やハードコピー装置で代表される外部機器へ転送される。
【0014】
尚、一般的な補正方式としてのオフセット補正及びゲイン補正は、例えば特許文献1に開示されている。
【0015】
【特許文献1】
特開平7−72256号公報
【0016】
【発明が解決しようとする課題】
取得されるべきX線画像の特徴は、ダイナミックレンジが非常に広いことである。たとえば、医療用放射線画像の場合、人体中に埋め込まれた金属物質により、X線がほとんど遮断されたような低レベル信号しか得られない領域もある。
【0017】
このような画像の低レベル信号領域は、情報としてはまったく意味を持たないため、無視してよい。しかしながら、この低レベル信号領域に対しゲイン補正をおこなうと、ほとんど入射エネルギがない領域すなわち信号レベル変動がない領域であるにもかかわらず、画素間のゲイン変動パタン(ゲイン画像)が逆に被写体画像上に重畳されることになり、ゲイン補正によるノイズが発生してしまう。
【0018】
図5を用いて、この現象を説明する。図5において、(i)〜(iii)は通常のX線量分布の画像を1次元で示したものであり、簡便のため、画像取得時に発生するランダムノイズを省略して示している。101は前述のキャリブレーションで取得されたゲインばらつきであり、102がX線のない状態で得られたオフセットをあらわしている。また、103が実際の対象物の画像信号であるが、ここでは一様な放射線透過率分布を有する対象物を仮定している。(ii)は103から102のオフセットが除去されたオフセット補正後の画像104を示している。ついで(iii)は、オフセット補正後の画像104を101のゲインばらつき(ゲイン画像)で除算することによって得られるゲイン補正後の画像105を示している。当該画像105は一様な画素値を有する画像となる。
【0019】
次に、(iv)〜(vi)は、センサ感度がほとんどない、非常に低レベルの一様な放射線画像を撮影した場合の画像データの例である。106が当該放射線画像の信号であるが、(v)においてオフセット102が画像106から除去された段階で、ほとんど一定値の安定した画像107が得られている。しかし、(vi)の段階で、ゲイン補正を行ってしまうと、108で示したようにゲインばらつき又はX線のシェーディングを示すパタンが画像上に現れてしまい、かえって画像上にノイズ(アーティファクト)が発生してしまっている。
【0020】
この値(ノイズレベル)は非常に小さいものであり、図5では強調して示している。しかし、図4で説明したように対数LUTをもちいているため、非常に小さな値であっても、出力画像では大きな変動になることがある。一般的な補正方式としてのオフセット補正及びゲイン補正は、例えば、上述の特許文献1に開示されているが、ゲイン補正によるノイズ発生の問題は指摘されていない。
【0021】
そこで、本発明は上述のような問題を解消することを1つの目的とする。
【0022】
【課題を解決するための手段】
上述の目的を達成するための第1の発明は、複数の検出素子を含む画像検出器により取得された画像データを補正するための画像補正装置であって、前記画像データから前記画像検出器に起因するオフセット成分を除去してオフセット補正画像を得る第1の補正手段と、前記オフセット補正画像の画素値を、前記複数の検出素子のうちの対応する1つのゲインに基づいて補正する第2の補正手段と、前記オフセット補正画像の画素値に基づいて選択された、前記オフセット補正画像の画素の値を、前記選択された画素に対し前記第2の補正手段により得られる値に代わる画素値を生成することにより、補正する第3の補正手段とを備えたことを特徴とする画像補正装置である。
【0023】
また、第2の発明は、複数の検出素子を含む画像検出器により取得された画像データを補正するための画像補正方法であって、前記画像データから前記画像検出器に起因するオフセット成分を除去してオフセット補正画像を得る第1の補正工程と、前記オフセット補正画像の画素値を、前記複数の検出素子のうちの対応する1つのゲインに基づいて補正する第2の補正工程と、前記オフセット補正画像の画素値に基づいて選択された、前記オフセット補正画像の画素の値を、前記選択された画素に対し前記第2の補正手段により得られる値に代わる画素値を生成することにより、補正する第3の補正工程とを含むことを特徴とする画像補正方法である。
【0024】
また、第3の発明は、複数の検出素子を含む画像検出器により取得された画像データを補正するための画像補正方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記画像補正方法は、前記画像データから前記画像検出器に起因するオフセット成分を除去してオフセット補正画像を得る第1の補正工程と、前記オフセット補正画像の画素値を、前記複数の検出素子のうちの対応する1つのゲインに基づいて補正する第2の補正工程と、前記オフセット補正画像の画素値に基づいて選択された、前記オフセット補正画像の画素の値を、前記選択された画素に対し前記第2の補正手段により得られる値に代わる画素値を生成することにより、補正する第3の補正工程とを含むことを特徴とするプログラムである。
【0025】
【発明の実施の形態】
(第1の実施形態)
図1が本発明を適用したX線撮影装置(放射線撮影装置)のブロック図である。図4で説明したブロックと同様のブロックには図4のものと同一の符号を付し、その説明を省略する。図4のブロック図と異なる点は、21〜23のブロックが追加されていることにある。21はオフセット補正され、かつ対数LUTにより対数変換された後の画素値を評価して、ゲイン補正を行うかどうかを決定する信号を出力するデコーダであり、当該信号により切替スイッチ23のE側もしくはF側が選択される。23はゲイン補正のための減算器による減算結果F、もしくは減算結果Fを棄却して値Eを選択するためのスイッチである。変換器22は、メモリ15からの画像データに基づき、例えば当該画像データを変換する形で、規定値(減算結果Fに代わる画素値)を出力する。
【0026】
変換器22は入力データを棄却して、新たな固定値を出力する構成も取れるし、入力データに基づきある程度変動する値を出力するようにも設定可能である。
【0027】
上記規定値の決定方法を図6を用いて説明する。図6において、LUTと示したカーブは対数変換LUTの特性をあらわし、入力の幅であるΔW0は実際にゲインばらつきを補正するデータの変動範囲(ゲイン画像の画素値範囲)をあらわす。また、入力のD0という値は、この値以下では、センサの線形性が保証されず、ゲイン補正の必要性がない部分を表す。このD0の入力に対応する出力がD1であり、図1の21のデコーダはこの値以下であれば、E側を選択するような出力をする。
【0028】
このときの規定値は、ΔW0に対応する出力範囲がΔW1であるから、ゲイン補正としての差分の出力範囲がB1〜A1である可能性が高いため、規定値として差分結果の絶対値の最小値(差分結果は負値になる)であるB1に相当する値を設定することが妥当だと考えられる。この場合、変換機22は入力画像データに関係なくB1を出力する。
【0029】
また、別の考え方では、入力画像データに依存して妥当な出力を推定する方法も考えられ、たとえば、変換器22を図7のようなLUTで構成し、出力を入力に依存してある程度可変するLUTを用いることも可能である。尚、本実施形態では、デコーダ21が対数LUT13を通過した後のデータを評価したが、このLUTは入出力が1対1に対応するものであるので、対数LUT13通過前のデータを評価するように構成することも当然可能である。
【0030】
たとえば、デコーダ21は入力(対数変換前の値)が10以下であるとE側を指示する出力を行なう。規定値には適当な低レベルの値を設定しておく。
【0031】
尚、本実施形態における処理、判断などは当然、コンピュータとソフトウエアとを用いて実現可能であり、図1で示した画像処理構成はすべて計算機プログラミングにより実現可能であるのは明白である。
【0032】
また、本実施形態では2次元画像センサ(X線イメージセンサ5)を用いたが、1次元ラインセンサを用いた場合にも同様に適用できることはいうまでもない。
【0033】
(第2の実施形態)
図2は本発明の第2の実施形態を示すブロック図である。同図において、図4に対し31〜34のブロックが新たに設けられている。31のブロックは図1の21と同様の動作を行う値判別用デコーダであり、判別結果に従って切替スイッチ34をG側もしくはH側に設定するための出力を行なう。32のブロックは空間フィルタリングを行うブロックであり、通常100×100以上の核をもつ平滑化フィルタ(単純移動平均)の機能によって、ゲイン補正用データ(ゲイン画像)をぼかし、メモリ33に格納する。
【0034】
よって、画素値が非常に低く、線形性がない画素値領域に属する画素に対しては、デコーダ31及びスイッチ34の機能により、メモリ16に格納されているゲイン補正用データを空間フィルタリングによりぼかした、メモリ33に記憶されている補正用データによってゲイン補正がなされ、結果的に正確なゲイン補正は行われない。
【0035】
しかし、線形性のない画素値領域にはゲインのばらつきは実質的に存在しないとみなせるため、必ずしもゲイン補正の必要性はなく、上述のようなぼけた(平滑化された)補正データを用いたほうが良好なゲイン補正が行われる。この実施形態の特徴は、あらかじめ規定値を設定する必要がないことから、より自然な補正ノイズ(補正に起因したノイズ)の除去が行える点にある。
【0036】
上述の説明では、補正用データ(ゲイン画像)の補正に空間フィルタリング(移動平均)を用いたが、補正用データの一部又は全体の平均処理を用いることも可能であり、この場合はメモリの節約にもなる。
【0037】
尚、本実施形態では、デコーダ21が対数LUT13を通過した後のデータを評価したが、このLUTは入出力が1対1に対応するものであるので、対数LUT13通過前のデータを評価するように構成することも当然可能である。
【0038】
(第3の実施形態)
実施形態1では、低画素値(低線量)領域の画素値に対し、ゲイン補正値を利用せずに規定値におきかえる処理を行った。本実施形態では、ゲイン補正を行った後に、イメージセンサの入出力特性に線形性がないことに起因してゲイン補正による余計な補正ノイズが発生していると思われる画素に対して、規定値に置き換えるのでなく、ゲイン補正後画像のフィルタリングによって補正ノイズを除去する。しかし、あくまで、線形性があるかどうかの判断はゲイン補正前の画素値を評価して行う。
【0039】
図3が本実施形態を説明するブロック図であり、図4に比し実質的に新たに追加されたブロックは第1の制御装置41、第2の制御装置42、および画像メモリ43である。各制御装置の動作を図8に示す。図8の(i)は本実施形態における画素値のビット構成を示したものであり、画素値自体は14ビット幅のデータで示される(0ビット目〜13ビット目)。
【0040】
本実施形態では、16ビット(2バイト)でメモリ要素が構成されているとして、14ビット目の不使用であるビットに対してFLGというフラグが設定してある。このフラグは、0であると通常の画素値であることを示し、1であれば、線形性のない領域の画素値であることを示す。すなわち、フラグ1は、ゲイン補正を行った結果補正ノイズが発生することを意味する。尚、ゲイン補正を行った結果では、画素値が変動している(到達線量の指標とはならない)ため、当該画素値のみでは、線形性のある範囲内の線量であるかかどうかの判断は困難である。
【0041】
図3のブロック41の動作は、ゲイン補正前に画素値を評価し、上記フラグを設定することである。この動作を図8(ii)にフローチャートで示す。同フローチャートにおいて、画素値を判断し(ステップs821)、10以下であれば、線形性が失われている(線形成がない領域の画素値)として、フラグFLGを1にする(ステップs822)。それ以外ではフラグFLGを0に設定する(ステップs823)。
【0042】
第1の制御装置41でこの処理が行われた後、差分を含むゲイン補正がなされるが、このとき補正後の画像は、D14のFLGが保持されたまま次段に転送され、メモリ18に格納される。ブロック42(第2の制御装置)は、保持されたD14(FLG)を評価し、補正ノイズを除去する処理を行う。具体的には、処理対象画素を含むその周囲画素の平均値を出力する空間フィルタリングを用いて補正ノイズを除去する。図8(iii)はその動作のフローチャートである。
【0043】
まず、D14を評価し(ステップs831)、D14=1すなわち線形性の欠如に起因してゲイン補正による補正ノイズが発生していると判断すると、当該画素の周囲画素、例えば10*10画素分、の平均値を次段のメモリ43に書き込み(ステップs832)、通常(D14=0)の場合、そのままの画素値をメモリ43に書き込む(ステップs833)。このようにしてメモリ43に記憶された画像が最終出力となる。
【0044】
また、本実施形態では、ゲイン補正前のデータに関しての評価結果をその後の処理系でも保持しているため、第2の制御装置42において、平均値(移動平均値)でなく実施形態1と同様の規定値を出力するような構成にすれば、実施形態1と同様の効果を得ることも可能である。
【0045】
以上のように、オフセット補正を行った直後の画素データ又は線量の指標となるデータを評価して、イメージセンサの線形性がないような低レベルの画素値に対し、ゲイン補正を行わない、ゲイン補正用データ(ゲイン画像)を補正して用いる、又はゲイン補正後の画像を補正することにより、ゲイン補正に起因するノイズ等のアーティファクトの発生を防ぐことができる。ここで、ゲイン補正部に対する入力データ等の放射線線量の指標となるデータに従って、ゲイン補正方法を切り替えることが肝要である。
【0046】
ゲイン補正を行わなかった画素データを、画像データの最小値などの特定値に固定することも有効である。通常、低レベル画素値等をクリッピングする場合、ゲイン補正後の画像に対し行なうことが多いが、ゲイン補正後の画像では、画素値のばらつきが増えるため、画素値がイメージセンサの線形性のないレベル(レンジ)のものかどうかの判断がつきにくい。よって、ゲイン補正前の画素値等、放射線線量の指標となるデータに基づいて当該判断を行なえば、そのような問題は解消される。
【0047】
(他の実施形態)
尚、本発明の目的は、実施形態1〜3のいずれかの装置又はシステムの機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記憶した記憶媒体を、装置又はシステムに供給し、その装置又はシステムのコンピュータ(CPU又はMPU等)が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出して実行することによっても、達成されることは言うまでもない。
【0048】
この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が実施形態1〜3のいずれかの機能を実現することとなり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体及び当該プログラムコードは本発明を構成することとなる。
【0049】
プログラムコードを供給するための記憶媒体としては、ROM、フロッピー(登録商標)ディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、CD−ROM、CD−R、磁気テープ、不揮発性のメモリカード等を用いることができる。
【0050】
また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、実施形態1〜3のいずれかの機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているOS等を利用して実際の処理の一部又は全部が行われ、その処理によって実施形態1〜3のいずれかの機能が実現される場合も本発明の実施の態様に含まれることは言うまでもない。
【0051】
さらに、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれた後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるCPUなどが実際の処理の一部又は全部を行い、その処理によって実施形態1〜3のいずれかの機能が実現される場合も本発明の実施の態様に含まれることは言うまでもない。
【0052】
このようなプログラム又は当該プログラムを格納した記憶媒体に本発明が適用される場合、当該プログラムは、例えば、上述の図8に示されるフローチャートに対応したプログラムコードから構成される。
【0053】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、ゲイン補正によるアーティファクトの発生を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態のブロック図である。
【図2】本発明の第2の実施形態のブロック図である。
【図3】本発明の第3の実施形態のブロック図である。
【図4】従来技術を説明するための図である。
【図5】本発明の課題を説明するための図である。
【図6】第1実施形態における規定値を説明するための図である。
【図7】第1実施形態におけるLUTの例を示す図である。
【図8】第3実施形態を説明するための図である。
【符号の説明】
11 差分器
13 参照テーブル
17 差分器
21 デコーダ
22 変換器
23 切替スイッチ
Claims (14)
- 複数の検出素子を含む画像検出器により取得された画像データを補正するための画像補正装置であって、
前記画像データから前記画像検出器に起因するオフセット成分を除去してオフセット補正画像を得る第1の補正手段と、
前記オフセット補正画像の画素値を、前記複数の検出素子のうちの対応する1つのゲインに基づいて補正する第2の補正手段と、
前記オフセット補正画像の画素値に基づいて選択された、前記オフセット補正画像の画素の値を、前記選択された画素に対し前記第2の補正手段により得られる値に代わる画素値を生成することにより、補正する第3の補正手段と
を備えたことを特徴とする画像補正装置。 - 前記オフセット補正画像における所定値以下の画素値を有する画素を、前記選択された画素として、選択する選択手段をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の画像補正装置。
- 前記第3の補正手段は、前記選択された画素の値を所定の定数に変換することを特徴とする請求項1に記載の画像補正装置。
- 前記第3の補正手段は、前記選択された画素の値を所定の参照テーブルにより変換することを特徴とする請求項1に記載の画像補正装置。
- 前記第3の補正手段は、前記選択された画素の値を、前記複数の検出素子のゲインからなるゲイン画像を変換して得られる変換ゲイン画像のうちの対応する1つのゲインに基づいて補正することを特徴とする請求項1に記載の画像補正装置。
- 前記変換は平滑化であることを特徴とする請求項5に記載の画像補正装置。
- 前記変換は平均化であることを特徴とする請求項5に記載の画像補正装置。
- 前記第3の補正手段は、前記選択された画素の値を、前記第2の補正手段により得られたゲイン補正画像を変換して得ることを特徴とする請求項1に記載の画像補正装置。
- 前記変換は平滑化であることを特徴とする請求項8に記載の画像補正装置。
- 前記画像検出器をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の画像補正装置。
- 前記画像検出器は放射線画像を検出可能に構成されていることを特徴とする請求項10に記載の画像補正装置。
- 複数の検出素子を含む画像検出器により取得された画像データを補正するための画像補正方法であって、
前記画像データから前記画像検出器に起因するオフセット成分を除去してオフセット補正画像を得る第1の補正工程と、
前記オフセット補正画像の画素値を、前記複数の検出素子のうちの対応する1つのゲインに基づいて補正する第2の補正工程と、
前記オフセット補正画像の画素値に基づいて選択された、前記オフセット補正画像の画素の値を、前記選択された画素に対し前記第2の補正手段により得られる値に代わる画素値を生成することにより、補正する第3の補正工程と
を含むことを特徴とする画像補正方法。 - 複数の検出素子を含む画像検出器により取得された画像データを補正するための画像補正方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記画像補正方法は、
前記画像データから前記画像検出器に起因するオフセット成分を除去してオフセット補正画像を得る第1の補正工程と、
前記オフセット補正画像の画素値を、前記複数の検出素子のうちの対応する1つのゲインに基づいて補正する第2の補正工程と、
前記オフセット補正画像の画素値に基づいて選択された、前記オフセット補正画像の画素の値を、前記選択された画素に対し前記第2の補正手段により得られる値に代わる画素値を生成することにより、補正する第3の補正工程と
を含むことを特徴とするプログラム。 - 請求項13に記載のプログラムを記憶していることを特徴とするコンピュータ可読記憶媒体。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003127989A JP2004053584A (ja) | 2002-05-30 | 2003-05-06 | 画像補正装置及び方法 |
US10/441,049 US8041092B2 (en) | 2002-05-30 | 2003-05-20 | Apparatus and method adapted to correct image data acquired by image detector |
EP20030011910 EP1370076B1 (en) | 2002-05-30 | 2003-05-27 | Apparatus and method adapted to correct image data acquired by image detector |
CNB031383769A CN1292385C (zh) | 2002-05-30 | 2003-05-28 | 校正由图像检测器所取得的图像数据的装置及方法 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002157551 | 2002-05-30 | ||
JP2003127989A JP2004053584A (ja) | 2002-05-30 | 2003-05-06 | 画像補正装置及び方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004053584A true JP2004053584A (ja) | 2004-02-19 |
Family
ID=29552373
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003127989A Withdrawn JP2004053584A (ja) | 2002-05-30 | 2003-05-06 | 画像補正装置及び方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8041092B2 (ja) |
EP (1) | EP1370076B1 (ja) |
JP (1) | JP2004053584A (ja) |
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US20030223629A1 (en) | 2003-12-04 |
CN1469312A (zh) | 2004-01-21 |
EP1370076B1 (en) | 2013-05-08 |
US8041092B2 (en) | 2011-10-18 |
CN1292385C (zh) | 2006-12-27 |
EP1370076A2 (en) | 2003-12-10 |
EP1370076A3 (en) | 2005-03-02 |
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