JP2002085391A - 放射線撮影装置 - Google Patents
放射線撮影装置Info
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Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
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- Light Receiving Elements (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】各エリアセンサ毎に異なる暗時出力データを適
切に補正することにより、出力画像としてより高品位の
画像が得られる放射線撮影装置を提供する。 【解決手段】複数個のエリアセンサを全数以下の所定の
個数から成るブロックに分割し、ブロック単位でのデー
タ読出しを並行して行うことで、複数個のエリアセンサ
の開放時間の差を狭めることが可能となり、併せて放射
線撮影時出力データと暗時出力データの読出しをブロッ
ク内の各エリアセンサにつき同順序で行うことで、放射
線撮影時出力データに前記暗時出力データによる最適な
補正をかけることが可能となることから、放射線撮影装
置の出力画像に格段の画質向上効果が見込める。
切に補正することにより、出力画像としてより高品位の
画像が得られる放射線撮影装置を提供する。 【解決手段】複数個のエリアセンサを全数以下の所定の
個数から成るブロックに分割し、ブロック単位でのデー
タ読出しを並行して行うことで、複数個のエリアセンサ
の開放時間の差を狭めることが可能となり、併せて放射
線撮影時出力データと暗時出力データの読出しをブロッ
ク内の各エリアセンサにつき同順序で行うことで、放射
線撮影時出力データに前記暗時出力データによる最適な
補正をかけることが可能となることから、放射線撮影装
置の出力画像に格段の画質向上効果が見込める。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、放射線を光に変換
するシンチレータと光を電気信号に変換するエリアセン
サを組合せて画像データを得る放射線撮影装置に関す
る。
するシンチレータと光を電気信号に変換するエリアセン
サを組合せて画像データを得る放射線撮影装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の放射線撮影装置は、被写
体を透過した放射線をシンチレータで光に変換しエリア
センサで光電変換するか、もしくは放射線エネルギーを
直接電荷に変換し、TFT等の読出し素子により電気信
号として取出した後、A/D変換器を介してデジタル画
像データを取得するよう構成されている。
体を透過した放射線をシンチレータで光に変換しエリア
センサで光電変換するか、もしくは放射線エネルギーを
直接電荷に変換し、TFT等の読出し素子により電気信
号として取出した後、A/D変換器を介してデジタル画
像データを取得するよう構成されている。
【0003】
【発明が解決しようとしている課題】近年、FPD(F
lat Panel Detector)と呼ばれ注目
を浴びているこの種の放射線撮影装置においては、本発
明にかかる放射線撮影装置に比べ少数もしくは単一のエ
リアセンサ(上記TFT等の読出し素子を含む)を用い
るため、撮影時の各エリアセンサ毎のセンサ開放時間
(露光開始直前の読出しから露光終了後の読出しまでの
時間)差を積極的に補正する手段を持たなかった。
lat Panel Detector)と呼ばれ注目
を浴びているこの種の放射線撮影装置においては、本発
明にかかる放射線撮影装置に比べ少数もしくは単一のエ
リアセンサ(上記TFT等の読出し素子を含む)を用い
るため、撮影時の各エリアセンサ毎のセンサ開放時間
(露光開始直前の読出しから露光終了後の読出しまでの
時間)差を積極的に補正する手段を持たなかった。
【0004】一般的に上記FPDでは特殊な大面積エリ
アセンサが必要とされるが、他用途への転用が見込まれ
ないことから、生産量の低さを主因としての高コスト化
が避けられず、近年では本発明にかかる放射線撮影装置
のように、高性能化した安価な市販エリアセンサを多数
組合せることで、上記大面積エリアセンサを代替する画
像分割型FPDと呼ばれる技術が発達してきた。
アセンサが必要とされるが、他用途への転用が見込まれ
ないことから、生産量の低さを主因としての高コスト化
が避けられず、近年では本発明にかかる放射線撮影装置
のように、高性能化した安価な市販エリアセンサを多数
組合せることで、上記大面積エリアセンサを代替する画
像分割型FPDと呼ばれる技術が発達してきた。
【0005】しかしながら、ビデオカメラやデジタルカ
メラを主用途とするエリアCCDに代表されるこの種の
安価なエリアセンサは、上記大面積エリアセンサに比べ
センサ面積が小さいため、上記大面積エリアセンサで構
成される装置と同等の画質を得るためには上記市販エリ
アセンサを少なくとも数十個以上使用する必要がある。
メラを主用途とするエリアCCDに代表されるこの種の
安価なエリアセンサは、上記大面積エリアセンサに比べ
センサ面積が小さいため、上記大面積エリアセンサで構
成される装置と同等の画質を得るためには上記市販エリ
アセンサを少なくとも数十個以上使用する必要がある。
【0006】また、前記エリアセンサは入射光の有無に
よらず、前記センサ開放時間内にノイズ要因となる暗電
子を発生し、前記発生する暗電子の総量はセンサ周囲温
度一定条件のもと前記センサ開放時間に比例して増大
し、特に低線量域での画質劣化に大きく影響を及ぼすこ
とが知られている。
よらず、前記センサ開放時間内にノイズ要因となる暗電
子を発生し、前記発生する暗電子の総量はセンサ周囲温
度一定条件のもと前記センサ開放時間に比例して増大
し、特に低線量域での画質劣化に大きく影響を及ぼすこ
とが知られている。
【0007】従って、本発明にかかる放射線撮影装置に
おいて従来の単一もしくは少数のエリアセンサからなる
装置のデータ処理手法を用いた場合には、前記撮影時に
少なくとも数十個以上使用する各エリアセンサ間でのセ
ンサ開放時間の差が開き、前記開放時間に比例する暗電
子の総量の差も開くため、ノイズ要因である暗電子の総
量のバラツキが引起す各エリアセンサ間での画質性能の
不均衡を適切に補正することが不可能であった。
おいて従来の単一もしくは少数のエリアセンサからなる
装置のデータ処理手法を用いた場合には、前記撮影時に
少なくとも数十個以上使用する各エリアセンサ間でのセ
ンサ開放時間の差が開き、前記開放時間に比例する暗電
子の総量の差も開くため、ノイズ要因である暗電子の総
量のバラツキが引起す各エリアセンサ間での画質性能の
不均衡を適切に補正することが不可能であった。
【0008】また、上述の各エリアセンサ間での暗電子
の総量の差、即ちエリアセンサ出力の内入射光量に依存
しないオフセット成分の差は、本発明にかかる画像分割
型の放射線撮影装置に特有の撮影後に実施される画像再
合成処理において、合成後の画像に継ぎ目が現れるとい
う弊害を生じさせる原因ともなる。
の総量の差、即ちエリアセンサ出力の内入射光量に依存
しないオフセット成分の差は、本発明にかかる画像分割
型の放射線撮影装置に特有の撮影後に実施される画像再
合成処理において、合成後の画像に継ぎ目が現れるとい
う弊害を生じさせる原因ともなる。
【0009】さらに、従来の単一もしくは少数のエリア
センサからなるFPDでは、同一センサ内での熱伝導率
が比較的高いため、装置中心部における高温化や、冷却
機構を備えた場合の冷却機構近傍での低温化など、装置
構成上発生する装置内部の温度分布の影響が、センサ面
で比較的均一にならされる傾向にあるが、本発明にかか
る放射線撮影装置では、個々のセンサ間での熱伝導率が
低いため、前述の装置内部の温度分布を複数のセンサか
らなる面で忠実に再現することになる。
センサからなるFPDでは、同一センサ内での熱伝導率
が比較的高いため、装置中心部における高温化や、冷却
機構を備えた場合の冷却機構近傍での低温化など、装置
構成上発生する装置内部の温度分布の影響が、センサ面
で比較的均一にならされる傾向にあるが、本発明にかか
る放射線撮影装置では、個々のセンサ間での熱伝導率が
低いため、前述の装置内部の温度分布を複数のセンサか
らなる面で忠実に再現することになる。
【0010】前述の暗電子の発生は、センサ周辺温度の
上昇により増加する傾向にあることから、前記装置内部
の温度分布の影響は、前記各エリアセンサ毎の画質性能
と読出し時のオフセット成分のバラツキをさらに増長
し、前記装置内部の温度分布を考慮しない従来のデータ
処理手法では、装置出力画像に著しい画質劣化を招くこ
とになる。
上昇により増加する傾向にあることから、前記装置内部
の温度分布の影響は、前記各エリアセンサ毎の画質性能
と読出し時のオフセット成分のバラツキをさらに増長
し、前記装置内部の温度分布を考慮しない従来のデータ
処理手法では、装置出力画像に著しい画質劣化を招くこ
とになる。
【0011】本発明は、これらの課題を考慮してなされ
たものであり、本発明にかかる放射線撮影装置を構成す
る各エリアセンサ毎に異なる暗時出力データを適切に補
正することにより、出力画像としてより高品位の画像が
得られる放射線撮影装置を提供することを目的とする。
たものであり、本発明にかかる放射線撮影装置を構成す
る各エリアセンサ毎に異なる暗時出力データを適切に補
正することにより、出力画像としてより高品位の画像が
得られる放射線撮影装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決し且つ目
的を達成するために、本発明を以下のように構成した。 (1)請求項1記載の発明は、複数個のエリアセンサを
同一平面上に並べ、その受光面側にシンチレータを配置
した放射線撮影装置であって、上記複数個のエリアセン
サを全数以下の所定の個数から成るブロックに分割し、
前記ブロック毎に放射線撮影時出力データと、前記放射
線撮影時以外に取得する暗時出力データを、前記ブロッ
ク内の各エリアセンサにつき同順序で順次読出し、前記
放射線撮影時出力データを前記暗時出力データで補正す
る手段を備えたことを特徴とする放射線撮影装置であ
る。
的を達成するために、本発明を以下のように構成した。 (1)請求項1記載の発明は、複数個のエリアセンサを
同一平面上に並べ、その受光面側にシンチレータを配置
した放射線撮影装置であって、上記複数個のエリアセン
サを全数以下の所定の個数から成るブロックに分割し、
前記ブロック毎に放射線撮影時出力データと、前記放射
線撮影時以外に取得する暗時出力データを、前記ブロッ
ク内の各エリアセンサにつき同順序で順次読出し、前記
放射線撮影時出力データを前記暗時出力データで補正す
る手段を備えたことを特徴とする放射線撮影装置であ
る。
【0013】この請求項1記載の発明によれば、上記複
数個のエリアセンサを全数以下の所定の個数から成るブ
ロックに分割し、ブロック単位でのデータ読出しを並行
して行うことで、上記複数個のエリアセンサの開放時間
の差を狭めることが可能となり、併せて上記放射線撮影
時出力データと暗時出力データの読出しを前記ブロック
内の各エリアセンサにつき同順序で行うことで、前記放
射線撮影時出力データに前記暗時出力データによる最適
な補正をかけることが可能となることから、上記放射線
撮影装置の出力画像に格段の画質向上効果が見込める。
尚、上述の放射線とは、α線、β線、陽電子線、γ線、
X線、陽子線、重陽子線、重イオン線、中性子線、中間
子線等を含むが可視光は含まないものである。
数個のエリアセンサを全数以下の所定の個数から成るブ
ロックに分割し、ブロック単位でのデータ読出しを並行
して行うことで、上記複数個のエリアセンサの開放時間
の差を狭めることが可能となり、併せて上記放射線撮影
時出力データと暗時出力データの読出しを前記ブロック
内の各エリアセンサにつき同順序で行うことで、前記放
射線撮影時出力データに前記暗時出力データによる最適
な補正をかけることが可能となることから、上記放射線
撮影装置の出力画像に格段の画質向上効果が見込める。
尚、上述の放射線とは、α線、β線、陽電子線、γ線、
X線、陽子線、重陽子線、重イオン線、中性子線、中間
子線等を含むが可視光は含まないものである。
【0014】(2)請求項2記載の発明は、前記放射線
撮影時の各エリアセンサにつき露光開始直前のデータ読
出しから露光終了後のデータ読出しまでの所用時間と同
時間で暗時出力データの取得を行い、前記放射線撮影時
出力データを前記暗時出力データで補正する手段を備え
たことを特徴とする請求項1に記載の放射線撮影装置で
ある。
撮影時の各エリアセンサにつき露光開始直前のデータ読
出しから露光終了後のデータ読出しまでの所用時間と同
時間で暗時出力データの取得を行い、前記放射線撮影時
出力データを前記暗時出力データで補正する手段を備え
たことを特徴とする請求項1に記載の放射線撮影装置で
ある。
【0015】この請求項2記載の発明によれば、上記放
射線撮影時の各エリアセンサにつき露光開始直前のデー
タ読出しから露光終了後のデータ読出しまでの所用時間
と同時間で暗時出力データの取得を行うことにより、前
記各エリアセンサの放射線撮影時出力データに含まれる
暗電子数とほぼ等しい暗電子数を含む暗時出力データを
補正処理に使用可能となり、上記放射線撮影装置の出力
画像に対しさらなる画質向上効果が見込める。
射線撮影時の各エリアセンサにつき露光開始直前のデー
タ読出しから露光終了後のデータ読出しまでの所用時間
と同時間で暗時出力データの取得を行うことにより、前
記各エリアセンサの放射線撮影時出力データに含まれる
暗電子数とほぼ等しい暗電子数を含む暗時出力データを
補正処理に使用可能となり、上記放射線撮影装置の出力
画像に対しさらなる画質向上効果が見込める。
【0016】(3)請求項3記載の発明は、前記暗時出
力データの取得を複数回繰返して行い、前記放射線撮影
時出力データを前記複数回繰返して得た暗時出力データ
の平均値を用いて補正する手段を備えたことを特徴とす
る捕求項1又は請求項2に記載の放射線撮影装置であ
る。
力データの取得を複数回繰返して行い、前記放射線撮影
時出力データを前記複数回繰返して得た暗時出力データ
の平均値を用いて補正する手段を備えたことを特徴とす
る捕求項1又は請求項2に記載の放射線撮影装置であ
る。
【0017】この請求項3記載の発明によれば、上記複
数回繰返して得た暗時出力データの平均値を補正処理に
使用することにより、上記放射線撮影時出力データ読出
し時のオフセットレベル補正のみではなく、各エリアセ
ンサ固有の画素単位の暗時出力のバラツキ(固定パタン
ノイズ)の補正も行うことが可能となり、低線量域での
上記放射線撮影装置の出力画像の画質向上に有効に作用
する。
数回繰返して得た暗時出力データの平均値を補正処理に
使用することにより、上記放射線撮影時出力データ読出
し時のオフセットレベル補正のみではなく、各エリアセ
ンサ固有の画素単位の暗時出力のバラツキ(固定パタン
ノイズ)の補正も行うことが可能となり、低線量域での
上記放射線撮影装置の出力画像の画質向上に有効に作用
する。
【0018】(4)請求項4記載の発明は、前記暗時出
力データの取得が前記放射線撮影時間以外に随時行わ
れ、放射線撮影時間に最も近い時間に取得された暗時出
力データを用いて、放射線撮影時出力データを補正する
手段を備えたことを特徴とする請求項1乃至請求項3の
いずれかに記載の放射線撮影装置である。
力データの取得が前記放射線撮影時間以外に随時行わ
れ、放射線撮影時間に最も近い時間に取得された暗時出
力データを用いて、放射線撮影時出力データを補正する
手段を備えたことを特徴とする請求項1乃至請求項3の
いずれかに記載の放射線撮影装置である。
【0019】この請求項4記載の発明によれば、上記暗
時出力データの取得が放射線撮影時間以外に随時行わ
れ、放射線撮影時間に最も近い時間に取得された暗時出
力データを用いることで、放射線撮影時のデータ処理ル
ーチンが軽減され処理速度の向上が望めることや、前記
放射線撮影時出力データに含まれる暗電子数と相関のと
れた前記暗時出力データによる補正が可能となる。
時出力データの取得が放射線撮影時間以外に随時行わ
れ、放射線撮影時間に最も近い時間に取得された暗時出
力データを用いることで、放射線撮影時のデータ処理ル
ーチンが軽減され処理速度の向上が望めることや、前記
放射線撮影時出力データに含まれる暗電子数と相関のと
れた前記暗時出力データによる補正が可能となる。
【0020】(5)請求項5記載の発明は、前記暗時出
力データの取得が、前記放射線撮影の直前もしくは直後
のいずれかに行われ、前記暗時出力データを用いて放射
線撮影時出力データを補正する手段を備えたことを特徴
とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の放射線
撮影装置である。
力データの取得が、前記放射線撮影の直前もしくは直後
のいずれかに行われ、前記暗時出力データを用いて放射
線撮影時出力データを補正する手段を備えたことを特徴
とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の放射線
撮影装置である。
【0021】この請求項5記載の発明によれば、上記暗
時出力データの取得が前記放射線撮影の直前もしくは直
後のいずれかに行われることにより、前記放射線撮影時
出力データに含まれる暗電子数と最も相関のとれた前記
暗時出力データによる補正が可能となる。
時出力データの取得が前記放射線撮影の直前もしくは直
後のいずれかに行われることにより、前記放射線撮影時
出力データに含まれる暗電子数と最も相関のとれた前記
暗時出力データによる補正が可能となる。
【0022】(6)請求項6記載の発明は、複数個のエ
リアセンサを同一平面上に並べ、その受光面側にシンチ
レータを配置した放射線撮影装置であって、上記複数個
のエリアセンサを全数以下の所定の個数から成るブロッ
クに分割し、予め放射線撮影時間外に前記ブロック内の
全エリアセンサの暗時出力データを放射線撮影時出力デ
ータの取得と同順序で順次読出し保持し、前記放射線撮
影直前もしくは直後のいずれかに取得した前記各ブロッ
ク内の一つ以上のエリアセンサの暗時出力データもしく
は所定の条件のうち少なくとも一つを用いて、前記ブロ
ック内の全エリアセンサの暗時出力データを調整し、前
記放射線撮影時出力データを前記調整済み暗時出力デー
タで補正する手段を備えたことを特徴とする放射線撮影
装置である。
リアセンサを同一平面上に並べ、その受光面側にシンチ
レータを配置した放射線撮影装置であって、上記複数個
のエリアセンサを全数以下の所定の個数から成るブロッ
クに分割し、予め放射線撮影時間外に前記ブロック内の
全エリアセンサの暗時出力データを放射線撮影時出力デ
ータの取得と同順序で順次読出し保持し、前記放射線撮
影直前もしくは直後のいずれかに取得した前記各ブロッ
ク内の一つ以上のエリアセンサの暗時出力データもしく
は所定の条件のうち少なくとも一つを用いて、前記ブロ
ック内の全エリアセンサの暗時出力データを調整し、前
記放射線撮影時出力データを前記調整済み暗時出力デー
タで補正する手段を備えたことを特徴とする放射線撮影
装置である。
【0023】この請求項6記載の発明によれば、上記複
数個のエリアセンサを全数以下の所定の個数から成るブ
ロックに分割し、ブロック単位でのデータ読出しを並行
して行うことで、上記複数個のエリアセンサの開放時間
の差を狭めることが可能となり、併せて上記放射線撮影
時出力データと暗時出力データの読出しを前記ブロック
内の各エリアセンサにつき同順序で行うことで、前記放
射線撮影時出力データに前記暗時出力データによる最適
な補正をかけることが可能となることから、上記放射線
撮影装置の出力画像に格段の画質向上効果が見込める。
さらに上記各ブロック内の一つ以上のエリアセンサの暗
時出力データもしくは所定の条件のうち少なくとも一つ
を用いて前記ブロック内の全エリアセンサの暗時出力デ
ータを調整することにより、前記複数個のエリアセンサ
を全数の読出しによる暗時出力データ作成の手順を省略
可能であり、処理速度の大幅な短縮が見込める。
数個のエリアセンサを全数以下の所定の個数から成るブ
ロックに分割し、ブロック単位でのデータ読出しを並行
して行うことで、上記複数個のエリアセンサの開放時間
の差を狭めることが可能となり、併せて上記放射線撮影
時出力データと暗時出力データの読出しを前記ブロック
内の各エリアセンサにつき同順序で行うことで、前記放
射線撮影時出力データに前記暗時出力データによる最適
な補正をかけることが可能となることから、上記放射線
撮影装置の出力画像に格段の画質向上効果が見込める。
さらに上記各ブロック内の一つ以上のエリアセンサの暗
時出力データもしくは所定の条件のうち少なくとも一つ
を用いて前記ブロック内の全エリアセンサの暗時出力デ
ータを調整することにより、前記複数個のエリアセンサ
を全数の読出しによる暗時出力データ作成の手順を省略
可能であり、処理速度の大幅な短縮が見込める。
【0024】(7)請求項7記載の発明は、前記ブロッ
ク内の全エリアセンサの暗時出力データを予め取得する
際に、前記放射線撮影時の各エリアセンサにつき露光開
始直前のデータ読出しから露光終了後のデータ読出しま
での所用時間と同時間で暗時出力データの取得を行う手
段を備えたことを特徴とする請求項6に記載の放射線撮
影装置である。
ク内の全エリアセンサの暗時出力データを予め取得する
際に、前記放射線撮影時の各エリアセンサにつき露光開
始直前のデータ読出しから露光終了後のデータ読出しま
での所用時間と同時間で暗時出力データの取得を行う手
段を備えたことを特徴とする請求項6に記載の放射線撮
影装置である。
【0025】この請求項7記載の発明によれば、上記放
射線撮影時の各エリアセンサにつき露光開始直前のデー
タ読出しから露光終了後のデータ読出しまでの所用時間
と同時間で予め暗時出力データの取得を行うことによ
り、前記各エリアセンサの放射線撮影時出力データに含
まれる暗電子数と相関のとれた暗電子数を含む暗時出力
デ―タを補正処理に使用可能となり、上記放射線撮影装
置の出力画像に対しさらなる画質向上効果が見込める。
射線撮影時の各エリアセンサにつき露光開始直前のデー
タ読出しから露光終了後のデータ読出しまでの所用時間
と同時間で予め暗時出力データの取得を行うことによ
り、前記各エリアセンサの放射線撮影時出力データに含
まれる暗電子数と相関のとれた暗電子数を含む暗時出力
デ―タを補正処理に使用可能となり、上記放射線撮影装
置の出力画像に対しさらなる画質向上効果が見込める。
【0026】(8)請求項8記載の発明は、前記ブロッ
ク内の全エリアセンサの暗時出力データを予め取得する
際に、前記取得を複数回繰返して行い、前記複数回繰返
して得た暗時出力データの平均値を、前記調整用の暗時
出力データとして用いることを特徴とする請求項6又は
請求項7に記載の放射線撮影装置である。
ク内の全エリアセンサの暗時出力データを予め取得する
際に、前記取得を複数回繰返して行い、前記複数回繰返
して得た暗時出力データの平均値を、前記調整用の暗時
出力データとして用いることを特徴とする請求項6又は
請求項7に記載の放射線撮影装置である。
【0027】この請求項8記載の発明によれぱ、上記複
数回繰返して得た暗時出力データの平均値を補正処理に
使用することにより、上記放射線撮影時出力データ読出
し時のオフセットレべル補正のみではなく、各エリアセ
ンサ固有の画素単位の暗時出力のバラツキ(固定パタン
ノイズ)の補正も行うことが可能となり、低線量域での
上記放射線撮影装置の出力画像の画質向上に有効に作用
する。
数回繰返して得た暗時出力データの平均値を補正処理に
使用することにより、上記放射線撮影時出力データ読出
し時のオフセットレべル補正のみではなく、各エリアセ
ンサ固有の画素単位の暗時出力のバラツキ(固定パタン
ノイズ)の補正も行うことが可能となり、低線量域での
上記放射線撮影装置の出力画像の画質向上に有効に作用
する。
【0028】(9)請求項9記載の発明は、前記所定の
条件として、前記各ブロック内の一つ以上のエリアセン
サの周辺温度、前記エリアセンサの所定の温度域での入
出力特性、前記エリアセンサの露光時間、前記装置起動
からの経過時間、前記装置起動からの撮影回数、前回撮
影からの経過時間のうち少なくとも一つの条件を用い
て、予め取得された前記ブロック内の全エリアセンサの
暗時出力データを調整する手段を備えたことを特徴とす
る請求項6乃至請求項8のいずれかに記載の放射線撮影
装置である。
条件として、前記各ブロック内の一つ以上のエリアセン
サの周辺温度、前記エリアセンサの所定の温度域での入
出力特性、前記エリアセンサの露光時間、前記装置起動
からの経過時間、前記装置起動からの撮影回数、前回撮
影からの経過時間のうち少なくとも一つの条件を用い
て、予め取得された前記ブロック内の全エリアセンサの
暗時出力データを調整する手段を備えたことを特徴とす
る請求項6乃至請求項8のいずれかに記載の放射線撮影
装置である。
【0029】この請求項9記載の発明によれば、上記各
ブロック内の一つ以上のエリアセンサの周辺温度、前記
エリアセンサの所定の温度域での入出力特性、前記エリ
アセンサの露光時間、前記装置起動からの経過時間、前
記装置起動からの撮影回数、前回撮影からの経過時間の
うち少なくとも一つの条件を用いて予め取得された前記
ブロック内の全エリアセンサの暗時出力データを調整す
ることにより、上記予め取得された暗時出力データを上
記放射線撮影時出力データ中に含まれる暗電子数と相関
のとれた暗時出力データに精度良く調整可能となる。
ブロック内の一つ以上のエリアセンサの周辺温度、前記
エリアセンサの所定の温度域での入出力特性、前記エリ
アセンサの露光時間、前記装置起動からの経過時間、前
記装置起動からの撮影回数、前回撮影からの経過時間の
うち少なくとも一つの条件を用いて予め取得された前記
ブロック内の全エリアセンサの暗時出力データを調整す
ることにより、上記予め取得された暗時出力データを上
記放射線撮影時出力データ中に含まれる暗電子数と相関
のとれた暗時出力データに精度良く調整可能となる。
【0030】(10)請求項10記載の発明は、前記放
射線撮影時に、前記ブロック内のエリアセンサ部の温度
分布が所定の範囲内に納まるよう前記ブロックの分割を
行い、前記放射線撮影時出力データを前記調整済み暗時
出力データで補正する手段を備えたことを特徴とする請
求項6乃至請求項9のいずれかに記載の放射線撮影装置
である。
射線撮影時に、前記ブロック内のエリアセンサ部の温度
分布が所定の範囲内に納まるよう前記ブロックの分割を
行い、前記放射線撮影時出力データを前記調整済み暗時
出力データで補正する手段を備えたことを特徴とする請
求項6乃至請求項9のいずれかに記載の放射線撮影装置
である。
【0031】この請求項10記載の発明によれば、上記
ブロック内のエリアセンサ部の温度分布が所定の範囲内
に納まるよう前記ブロックの分割を行うことにより、例
えば上記予め取得された前記ブロック内の全エリアセン
サの暗時出力データを調整する際の調整誤差を少なくす
ることが可能になる。
ブロック内のエリアセンサ部の温度分布が所定の範囲内
に納まるよう前記ブロックの分割を行うことにより、例
えば上記予め取得された前記ブロック内の全エリアセン
サの暗時出力データを調整する際の調整誤差を少なくす
ることが可能になる。
【0032】(11)請求項11記載の発明は、前記ブ
ロック内の全エリアセンサの暗時出力データの取得が、
前記放射線撮影時間以外に随時行われ、放射線撮影時間
に最も近い時間に取得された前記暗時出力データを調整
して、前記放射線撮影時出力データを前記調整済み暗時
出力データで補正する手段を備えたことを特徴とする請
求項6乃至請求項10のいずれかに記載の放射線撮影装
置である。
ロック内の全エリアセンサの暗時出力データの取得が、
前記放射線撮影時間以外に随時行われ、放射線撮影時間
に最も近い時間に取得された前記暗時出力データを調整
して、前記放射線撮影時出力データを前記調整済み暗時
出力データで補正する手段を備えたことを特徴とする請
求項6乃至請求項10のいずれかに記載の放射線撮影装
置である。
【0033】この請求項11記載の発明によれば、上記
ブロック内の全エリアセンサの暗時出力データの取得が
前記放射線撮影時間以外に随時行われ、放射線撮影時間
に最も近い時間に取得された前記暗時出力データを調整
して用いることにより、放射線撮影時のデータ処理ルー
チンが軽減され処理速度の向上が望めることや、前記放
射線撮影時出力データに含まれる暗電子数と相関のとれ
た前記暗時出力データによる補正が可能となる。
ブロック内の全エリアセンサの暗時出力データの取得が
前記放射線撮影時間以外に随時行われ、放射線撮影時間
に最も近い時間に取得された前記暗時出力データを調整
して用いることにより、放射線撮影時のデータ処理ルー
チンが軽減され処理速度の向上が望めることや、前記放
射線撮影時出力データに含まれる暗電子数と相関のとれ
た前記暗時出力データによる補正が可能となる。
【0034】(12)請求項12記載の発明は、前記ブ
ロック内の全エリアセンサの暗時出力データの取得が、
前記放射線撮影装置の起動時もしくは起動後の所定の時
間に行われ、前記暗時出力データを調整して前記放射線
撮影時出力データを補正する手段を備えたことを特徴と
する請求項6乃至請求項10のいずれかに記載の放射線
撮影装置である。
ロック内の全エリアセンサの暗時出力データの取得が、
前記放射線撮影装置の起動時もしくは起動後の所定の時
間に行われ、前記暗時出力データを調整して前記放射線
撮影時出力データを補正する手段を備えたことを特徴と
する請求項6乃至請求項10のいずれかに記載の放射線
撮影装置である。
【0035】この請求項12記載の発明によれば、上記
放射線撮影装置の起動時もしくは起動後の所定の時間に
上記ブロック内の全エリアセンサの暗時出力データの取
得が唯一度行われることにより、上記放射線撮影装置起
動中の前記暗時データ取得にかかる消費電力を低減する
ことが可能となり、また上記放射線撮影装置の制御手順
を簡略化することが可能となる。
放射線撮影装置の起動時もしくは起動後の所定の時間に
上記ブロック内の全エリアセンサの暗時出力データの取
得が唯一度行われることにより、上記放射線撮影装置起
動中の前記暗時データ取得にかかる消費電力を低減する
ことが可能となり、また上記放射線撮影装置の制御手順
を簡略化することが可能となる。
【0036】(13)請求項13記載の発明は、前記ブ
ロック内の全エリアセンサの暗時出力データの取得が、
前記放射線撮影装置の出荷時に行われ、前記暗時出力デ
ータを調整して前記放射線撮影時出力データを補正する
手段を備えたことを特徴とする請求項6乃至請求項10
のいずれかに記載の放射線撮影装置である。
ロック内の全エリアセンサの暗時出力データの取得が、
前記放射線撮影装置の出荷時に行われ、前記暗時出力デ
ータを調整して前記放射線撮影時出力データを補正する
手段を備えたことを特徴とする請求項6乃至請求項10
のいずれかに記載の放射線撮影装置である。
【0037】この請求項13記載の発明によれば、上記
放射線撮影装置の出荷時に上記ブロック内の全エリアセ
ンサの暗時出力データの取得が行われることにより、上
記放射線撮影装置起動中に前記暗時データ取得を行うこ
となく上記放射線撮影時の暗時出力データ補正が可能と
なり、上記放射線撮影装置の省電力化と制御手順の簡略
化が可能となる。
放射線撮影装置の出荷時に上記ブロック内の全エリアセ
ンサの暗時出力データの取得が行われることにより、上
記放射線撮影装置起動中に前記暗時データ取得を行うこ
となく上記放射線撮影時の暗時出力データ補正が可能と
なり、上記放射線撮影装置の省電力化と制御手順の簡略
化が可能となる。
【0038】(14)請求項14記載の発明は、前記暗
時出力データを調整後、所定の時間内で前記調整済み暗
時出力データを保持し、前記所定の時間内に放射線撮影
が行われる場合には、前記保持された調整済み暗時出力
データを用いて、前記放射線撮影時出力データを補正す
る手段を備えたことを特徴とする請求項11乃至請求項
13のいずれかに記載の放射線撮影装置である。
時出力データを調整後、所定の時間内で前記調整済み暗
時出力データを保持し、前記所定の時間内に放射線撮影
が行われる場合には、前記保持された調整済み暗時出力
データを用いて、前記放射線撮影時出力データを補正す
る手段を備えたことを特徴とする請求項11乃至請求項
13のいずれかに記載の放射線撮影装置である。
【0039】この請求項14記載の発明によれば、上記
暗時出力データを調整後に所定の時間内で前記調整済み
暗時出力データを保持し、上記放射線撮影時出力データ
の補正に上記保持された調整済み暗時出力データを用い
ることにより、不必要な暗時出力データの更新を省くこ
とが可能となり、上記放射線撮影装置の省電力化と制御
手順の簡略化が可能となる。
暗時出力データを調整後に所定の時間内で前記調整済み
暗時出力データを保持し、上記放射線撮影時出力データ
の補正に上記保持された調整済み暗時出力データを用い
ることにより、不必要な暗時出力データの更新を省くこ
とが可能となり、上記放射線撮影装置の省電力化と制御
手順の簡略化が可能となる。
【0040】(15)請求項15記載の発明は、前記エ
リアセンサのアナログ出力をデジタルデータに変換する
電気系が、ーつ以上の前記ブロックに対し存在し、前記
各エリアセンサの前記放射線撮影時と前記暗時のアナロ
グ出力をデジタルデータに変換する際に、同一の前記電
気系を用いる手段を備えたことを特徴とする請求項1乃
至請求項14のいずれかに記載の放射線撮影装置であ
る。
リアセンサのアナログ出力をデジタルデータに変換する
電気系が、ーつ以上の前記ブロックに対し存在し、前記
各エリアセンサの前記放射線撮影時と前記暗時のアナロ
グ出力をデジタルデータに変換する際に、同一の前記電
気系を用いる手段を備えたことを特徴とする請求項1乃
至請求項14のいずれかに記載の放射線撮影装置であ
る。
【0041】この請求項15記載の発明によれば、上記
一つ以上の前記ブロックに対し、上記エリアセンサのア
ナログ出力をデジタルデータに変換する電気系が唯一つ
存在することで、前記ブロック単位でのエリアセンサの
データ読出しに関しては、周囲温度を含む動作環境によ
り入出力特性が変化する電子部品で構成された電気系の
バラツキの影響をまったく受けず、補正が容易である機
構の実現が可能となる。
一つ以上の前記ブロックに対し、上記エリアセンサのア
ナログ出力をデジタルデータに変換する電気系が唯一つ
存在することで、前記ブロック単位でのエリアセンサの
データ読出しに関しては、周囲温度を含む動作環境によ
り入出力特性が変化する電子部品で構成された電気系の
バラツキの影響をまったく受けず、補正が容易である機
構の実現が可能となる。
【0042】(16)請求項16記載の発明は、前記暗
時出力データが、放射線撮影時のサンプリングピッチと
同じサンプリングピッチで取得もしくは調整され、前記
取得もしくは調整された暗時出力データを用いて、放射
線撮影時出力データを補正する手段を備えたことを特徴
とする請求項1乃至請求項15のいずれかに記載の放射
線撮影装置である。
時出力データが、放射線撮影時のサンプリングピッチと
同じサンプリングピッチで取得もしくは調整され、前記
取得もしくは調整された暗時出力データを用いて、放射
線撮影時出力データを補正する手段を備えたことを特徴
とする請求項1乃至請求項15のいずれかに記載の放射
線撮影装置である。
【0043】この請求項16記載の発明によれば、上記
放射線撮影時のサンプリングピッチと同じサンプリング
ピッチで暗時出力データを取得することにより、前記放
射線撮影時出力データに対し迅速に暗時出力データによ
る補正を行うことが可能となり、上記放射線撮影装置の
画像出力に要するデータ処理の負荷の軽減がはかれる。
放射線撮影時のサンプリングピッチと同じサンプリング
ピッチで暗時出力データを取得することにより、前記放
射線撮影時出力データに対し迅速に暗時出力データによ
る補正を行うことが可能となり、上記放射線撮影装置の
画像出力に要するデータ処理の負荷の軽減がはかれる。
【0044】(17)請求項17記載の発明は、前記放
射線撮影時に指定可能な全てのサンプリングピッチにお
ける前記暗時出力データを予め取得もしくは調整し、前
記放射線撮影時にユーザの指定するサンプリングピッチ
における前記暗時出力データを選択して用いて、前記放
射線撮影時出力データを補正する手段を備えたことを特
徴とする請求項1乃至請求項15のいずれかに記載の放
射線撮影装置である。
射線撮影時に指定可能な全てのサンプリングピッチにお
ける前記暗時出力データを予め取得もしくは調整し、前
記放射線撮影時にユーザの指定するサンプリングピッチ
における前記暗時出力データを選択して用いて、前記放
射線撮影時出力データを補正する手段を備えたことを特
徴とする請求項1乃至請求項15のいずれかに記載の放
射線撮影装置である。
【0045】この請求項17記載の発明によれば、上記
放射線撮影時に指定可能な全てのサンプリングピッチに
おける前記暗時出力データを予め取得もしくは調整し、
前記放射線撮影時にユーザの指定するサンプリングピッ
チにおける前記暗時出力データを選択して用いることに
より、多様なサンプリングピッチで取得される前記放射
線撮影時出力データに対し、迅速に暗時出力データによ
る補正を行うことが可能となり、上記放射線撮影装置の
画像出力に要するデータ処理時間の短縮が可能となる。
放射線撮影時に指定可能な全てのサンプリングピッチに
おける前記暗時出力データを予め取得もしくは調整し、
前記放射線撮影時にユーザの指定するサンプリングピッ
チにおける前記暗時出力データを選択して用いることに
より、多様なサンプリングピッチで取得される前記放射
線撮影時出力データに対し、迅速に暗時出力データによ
る補正を行うことが可能となり、上記放射線撮影装置の
画像出力に要するデータ処理時間の短縮が可能となる。
【0046】(18)請求項18記載の発明は、前記暗
時出力データが、放射線撮影時のサンプリングピッチと
異なるサンブリングピッチで取得もしくは調整され、前
記取得もしくは調整された暗時出力データから放射線撮
影時のサンプリングピッチにおける暗時出力データを作
成し、前記作成された暗時出力データを用いて放射線撮
影時出力データを補正する手段を備えたことを特徴とす
る請求項1乃至請求項15のいずれかに記載の放射線撮
影装置である。
時出力データが、放射線撮影時のサンプリングピッチと
異なるサンブリングピッチで取得もしくは調整され、前
記取得もしくは調整された暗時出力データから放射線撮
影時のサンプリングピッチにおける暗時出力データを作
成し、前記作成された暗時出力データを用いて放射線撮
影時出力データを補正する手段を備えたことを特徴とす
る請求項1乃至請求項15のいずれかに記載の放射線撮
影装置である。
【0047】この請求項18記載の発明によれば、上記
放射線撮影時のサンプリングピッチと異なるサンブリン
グピッチで暗時出力データを取得することにより、多様
なサンプリングピッチで取得される前記放射線撮像時出
力データ全てに対応する多様な暗時出力データを取得も
しくは調整する手順が省略され、且つ保持する際の記憶
容量を縮小可能になる。
放射線撮影時のサンプリングピッチと異なるサンブリン
グピッチで暗時出力データを取得することにより、多様
なサンプリングピッチで取得される前記放射線撮像時出
力データ全てに対応する多様な暗時出力データを取得も
しくは調整する手順が省略され、且つ保持する際の記憶
容量を縮小可能になる。
【0048】(19)請求項19記載の発明は、前記暗
時出力デ―タの取得もしくは調整もしくは作成にあた
り、隣接するエリアセンサの重複する撮影領域の出力デ
ータを省いた暗時出力データを用いて、前記放射線撮影
時出力データを補正する手段を備えたことを特徴とする
請求項1乃至請求項18のいずれかに記載の放射線撮影
装置である。
時出力デ―タの取得もしくは調整もしくは作成にあた
り、隣接するエリアセンサの重複する撮影領域の出力デ
ータを省いた暗時出力データを用いて、前記放射線撮影
時出力データを補正する手段を備えたことを特徴とする
請求項1乃至請求項18のいずれかに記載の放射線撮影
装置である。
【0049】この請求項19記載の発明によれば、上記
隣接するエリアセンサの重複する撮像領域の出力データ
を省いた状態で暗時出力データを取得もしくは調整もし
くは作成することにより、前記暗時出力データを保持す
る際の記憶容量の節約や、上記放射線撮影時出力データ
に対する補正処理の高速化が可能となる。
隣接するエリアセンサの重複する撮像領域の出力データ
を省いた状態で暗時出力データを取得もしくは調整もし
くは作成することにより、前記暗時出力データを保持す
る際の記憶容量の節約や、上記放射線撮影時出力データ
に対する補正処理の高速化が可能となる。
【0050】(20)請求項20記載の発明は、前記暗
時出力データの取得もしくは調整もしくは作成にあた
り、隣接するエリアセンサの重複する撮像領域の出力デ
ータを省き、且つ前記エリアセンサ上での像の歪みを補
正した暗時出力データを用いて、前記放射線撮影時出力
データを補正する手段を備えたことを特徴とする捕求項
1乃至請求項18のいずれかに記載の放射線撮影装置で
ある。
時出力データの取得もしくは調整もしくは作成にあた
り、隣接するエリアセンサの重複する撮像領域の出力デ
ータを省き、且つ前記エリアセンサ上での像の歪みを補
正した暗時出力データを用いて、前記放射線撮影時出力
データを補正する手段を備えたことを特徴とする捕求項
1乃至請求項18のいずれかに記載の放射線撮影装置で
ある。
【0051】この請求項20記載の発明によれば、上記
隣接するエリアセンサの重複する撮像領域の出力データ
を省き、且つ前記エリアセンサ上での像の歪みを補正し
た状態で暗時出力データを取得もしくは調整もしくは作
成することにより、前記暗時出力データを保持する際の
記憶容量の節約や、上記放射線撮影時出力データに対す
る補正処理のさらなる高速化が可能となる。
隣接するエリアセンサの重複する撮像領域の出力データ
を省き、且つ前記エリアセンサ上での像の歪みを補正し
た状態で暗時出力データを取得もしくは調整もしくは作
成することにより、前記暗時出力データを保持する際の
記憶容量の節約や、上記放射線撮影時出力データに対す
る補正処理のさらなる高速化が可能となる。
【0052】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態例につ
いて図を用いて詳細に説明する。まず本実施の形態例の
放射線撮影装置の構成について説明し、その後に放射線
撮影装置の動作説明の中で暗時出力データによる放射線
撮影時出力データの補正処理の詳細説明を行う。
いて図を用いて詳細に説明する。まず本実施の形態例の
放射線撮影装置の構成について説明し、その後に放射線
撮影装置の動作説明の中で暗時出力データによる放射線
撮影時出力データの補正処理の詳細説明を行う。
【0053】<放射線撮影装置の構成>図1は、放射線
撮影装置とその周辺装置の全体構成を示すシステム構成
図である。本実施形態の放射線撮影装置1000に備え
る制御部1001は、この実施の形態内の全ての装置、
回路などを制御している。ユーザが操作卓2100を操
作する等によりホストコンピュータ2000を介して制
御部1001が撮影開始命令を受けると、制御部100
1はエリアCCD制御回路1002を介してエリアCC
D1〜エリアCCD48の露光および信号読出しの制御
と、X線I/F回路1006を介してX線源8000に
よるX線照射を制御し、被写体7000を透過したX線
を画像データとして取得する動作を開始する。
撮影装置とその周辺装置の全体構成を示すシステム構成
図である。本実施形態の放射線撮影装置1000に備え
る制御部1001は、この実施の形態内の全ての装置、
回路などを制御している。ユーザが操作卓2100を操
作する等によりホストコンピュータ2000を介して制
御部1001が撮影開始命令を受けると、制御部100
1はエリアCCD制御回路1002を介してエリアCC
D1〜エリアCCD48の露光および信号読出しの制御
と、X線I/F回路1006を介してX線源8000に
よるX線照射を制御し、被写体7000を透過したX線
を画像データとして取得する動作を開始する。
【0054】図2は、図1のシステム構成図の内、シン
チレータ1007からメモリ1301に至る被写体70
00を透過したX線に含まれる画像情報の流れを詳細に
示したものであるが、被写体7000を透過したX線は
まずシンチレータ1007により光に変換され、この内
ブロックAに入射した光は、レンズユニット1〜レンズ
ユニット4を介してエリアCCD1〜エリアCCD4に
入射し、光電変換後に読出回路1101を経てA/D変
換回路1201で量子化され、メモリ1301に格納さ
れる。その他のブロックに入射した光についても同様の
手順で量子化されそれぞれメモリ1312までに格納さ
れる。
チレータ1007からメモリ1301に至る被写体70
00を透過したX線に含まれる画像情報の流れを詳細に
示したものであるが、被写体7000を透過したX線は
まずシンチレータ1007により光に変換され、この内
ブロックAに入射した光は、レンズユニット1〜レンズ
ユニット4を介してエリアCCD1〜エリアCCD4に
入射し、光電変換後に読出回路1101を経てA/D変
換回路1201で量子化され、メモリ1301に格納さ
れる。その他のブロックに入射した光についても同様の
手順で量子化されそれぞれメモリ1312までに格納さ
れる。
【0055】補正する手段である信号処理部1003で
は、メモリ1301〜1312から読出した各エリアC
CD出力データに対し、X線照射を行わずに上記手順で
取得した暗時出力データを用いてX線照射時の出力デー
タ中に含まれるオフセット成分と固定パタンノイズをキ
ャンセルするオフセット補正、各CCD毎に異なる感度
特性を補正する感度補正処理、集光系により画像周辺部
に生じる光量落ちを補正するシェーディング補正、光強
度リニア情報を光学濃度リニア情報に略対数変換するた
めの強度−濃度変換処理を行う。
は、メモリ1301〜1312から読出した各エリアC
CD出力データに対し、X線照射を行わずに上記手順で
取得した暗時出力データを用いてX線照射時の出力デー
タ中に含まれるオフセット成分と固定パタンノイズをキ
ャンセルするオフセット補正、各CCD毎に異なる感度
特性を補正する感度補正処理、集光系により画像周辺部
に生じる光量落ちを補正するシェーディング補正、光強
度リニア情報を光学濃度リニア情報に略対数変換するた
めの強度−濃度変換処理を行う。
【0056】また、本実施の形態例ではエリアセンサと
してエリアCCDを複数個使用しているため、被写体7
000を透過したX線に含まれる被写体情報は、各ブロ
ックに属するエリアCCDの個数分に分割された画像デ
ータとしてメモリ1301〜1312に格納される。信
号処理部1003ではこれら分割された各エリアCCD
の画像データに対し上述の処理を実施した後、これら個
々の分割画像データをつなぎあわせる画像再合成処理を
実施することにより、一枚の被写体7000のX線画像
デ―タを得ることが可能となる。
してエリアCCDを複数個使用しているため、被写体7
000を透過したX線に含まれる被写体情報は、各ブロ
ックに属するエリアCCDの個数分に分割された画像デ
ータとしてメモリ1301〜1312に格納される。信
号処理部1003ではこれら分割された各エリアCCD
の画像データに対し上述の処理を実施した後、これら個
々の分割画像データをつなぎあわせる画像再合成処理を
実施することにより、一枚の被写体7000のX線画像
デ―タを得ることが可能となる。
【0057】その後、上記X線画像データはメモリ10
04に再び格納され、I/F回路1005を介してホス
トコンピュータ2000に送られることになるが、上述
の各種補正処理および画像再合成処理の一部もしくは全
てについては、上記ホストコンピュータ2000にデー
タ転送後にホストコンピュータ上で実施することも可能
である。
04に再び格納され、I/F回路1005を介してホス
トコンピュータ2000に送られることになるが、上述
の各種補正処理および画像再合成処理の一部もしくは全
てについては、上記ホストコンピュータ2000にデー
タ転送後にホストコンピュータ上で実施することも可能
である。
【0058】ホストコンピュータ2000ではこの画像
データを、表示装置3000に表示したり、必要に応じ
て記憶装置4000へ格納したり、プリンタ等の出力装
置5000からの出力やネットワーク6000への転送
を行うことになる。
データを、表示装置3000に表示したり、必要に応じ
て記憶装置4000へ格納したり、プリンタ等の出力装
置5000からの出力やネットワーク6000への転送
を行うことになる。
【0059】<画像読取装置の動作>次に、上述の放射
線撮影装置の動作について、制御部1001が統括する
暗時出力データの取得手順と、信号処理部1003で実
施されるデータ処理内容を中心に詳細な説明を行う。
線撮影装置の動作について、制御部1001が統括する
暗時出力データの取得手順と、信号処理部1003で実
施されるデータ処理内容を中心に詳細な説明を行う。
【0060】本実施例でエリアセンサとして使用するエ
リアCCDでは、一般的にデータ読出しから次のデータ
読出しまでの時間で定義されるセンサ開放時間内に、セ
ンサ入射光量の大小および有無に関らずノイズ要因であ
る暗電子の発生が見られる。
リアCCDでは、一般的にデータ読出しから次のデータ
読出しまでの時間で定義されるセンサ開放時間内に、セ
ンサ入射光量の大小および有無に関らずノイズ要因であ
る暗電子の発生が見られる。
【0061】本説明の中ではエリアCCDを遮光した状
態での上記暗電子を含むエリアCCDの出力を指して暗
時出力もしくは暗時出力データと呼ぶが、上述の説明に
あるように撮影対象物を透過したX線がシンチレータに
より光に変換され、この光がエリアCCDに入射した状
態におけるエリアCCD出力(本説明の中では放射線撮
影時出力もしくは放射線撮影時出力データ)にも当然の
ことながら暗時出力相当分の信号が含まれる(図3参
照)。
態での上記暗電子を含むエリアCCDの出力を指して暗
時出力もしくは暗時出力データと呼ぶが、上述の説明に
あるように撮影対象物を透過したX線がシンチレータに
より光に変換され、この光がエリアCCDに入射した状
態におけるエリアCCD出力(本説明の中では放射線撮
影時出力もしくは放射線撮影時出力データ)にも当然の
ことながら暗時出力相当分の信号が含まれる(図3参
照)。
【0062】この暗時出力データおよび放射線撮影時出
力データに含まれる暗時出力相当分の信号値は、上記エ
リアCCDおよびA/D変換に至る電気系の周囲温度等
の環境条件一定のもと、センサ開放時間に比例して増大
することが一般的に知られている(図4参照)。
力データに含まれる暗時出力相当分の信号値は、上記エ
リアCCDおよびA/D変換に至る電気系の周囲温度等
の環境条件一定のもと、センサ開放時間に比例して増大
することが一般的に知られている(図4参照)。
【0063】上記暗時出力の増大がもたらす影響は、図
5に示すように上記エリアCCDの特定画素の出力に着
目した場合に、エリアCCD周囲温度が一定の条件のも
と、所定のセンサ開放時間で暗時出力測定を繰り返した
ときの出力値がある平均値を中心にバラツキを持ち、セ
ンサ開放時間が大になるにつれこの平均値も上昇しバラ
ツキも大となることにより、ある瞬間に取得されたこれ
ら画素値の並びとしてのエリアCCD出力の空間的なノ
イズ量も、センサ開放時間が大になるにつれ増大する現
象として現れる。
5に示すように上記エリアCCDの特定画素の出力に着
目した場合に、エリアCCD周囲温度が一定の条件のも
と、所定のセンサ開放時間で暗時出力測定を繰り返した
ときの出力値がある平均値を中心にバラツキを持ち、セ
ンサ開放時間が大になるにつれこの平均値も上昇しバラ
ツキも大となることにより、ある瞬間に取得されたこれ
ら画素値の並びとしてのエリアCCD出力の空間的なノ
イズ量も、センサ開放時間が大になるにつれ増大する現
象として現れる。
【0064】さらに、センサ開放時間が大即ち暗時出力
の大きいエリアCCDでは、図6に示すように、そのダ
イナミックレンジの光量リニアな領域に対応する部分で
の有効利用が不可能となり、A/D変換時の分解能の低
下が生じる(濃度変換後にはさらに低下する)。
の大きいエリアCCDでは、図6に示すように、そのダ
イナミックレンジの光量リニアな領域に対応する部分で
の有効利用が不可能となり、A/D変換時の分解能の低
下が生じる(濃度変換後にはさらに低下する)。
【0065】従って、本発明にかかる放射線撮影装置の
ようにエリアセンサとして数十個以上におよぶエリアC
CDを使用する場合に、データ読出しに関して何ら工夫
することなくエリアCCD全数を順次読出したときに生
じる各エリアCCD間でのセンサ開放時間の差は、特に
上記暗電子によるノイズ量が支配的となる低線量(即ち
低光量)の画像領域において、前述の画像再合成処理後
の画像に部分的な画質の不均衡をもたらし、本発明にか
かる放射線撮影装置の主用途である医療分野において
は、その出力画像による診断作業に重大な問題を生じる
ことになる。
ようにエリアセンサとして数十個以上におよぶエリアC
CDを使用する場合に、データ読出しに関して何ら工夫
することなくエリアCCD全数を順次読出したときに生
じる各エリアCCD間でのセンサ開放時間の差は、特に
上記暗電子によるノイズ量が支配的となる低線量(即ち
低光量)の画像領域において、前述の画像再合成処理後
の画像に部分的な画質の不均衡をもたらし、本発明にか
かる放射線撮影装置の主用途である医療分野において
は、その出力画像による診断作業に重大な問題を生じる
ことになる。
【0066】このため本実施例の放射線撮影装置では、
図2に示すように、縦:8個、横:6個の計48個のエ
リアCCDを縦:2個、横2個からなるブロックにより
12ブロックに分割し、これらブロック単位でのデータ
読出しを並行して行い、上述のセンサ開放時間差をブロ
ック内の4エリアCCD間でのセンサ開放時間差に納
め、上記暗時出力データを用いて放射線撮影時出力デー
タ中の暗時出力相当分の信号を精度良くキャンセルする
ことにより、再合成後の画像の部分的な画質の不均衡を
大幅に改善している。
図2に示すように、縦:8個、横:6個の計48個のエ
リアCCDを縦:2個、横2個からなるブロックにより
12ブロックに分割し、これらブロック単位でのデータ
読出しを並行して行い、上述のセンサ開放時間差をブロ
ック内の4エリアCCD間でのセンサ開放時間差に納
め、上記暗時出力データを用いて放射線撮影時出力デー
タ中の暗時出力相当分の信号を精度良くキャンセルする
ことにより、再合成後の画像の部分的な画質の不均衡を
大幅に改善している。
【0067】また、各ブロック内のエリアCCDの読出
しの順については、例えば図2のブロックAに対応する
エリアCCD部の番号1〜4で示すように、放射線撮影
時出力データと暗時出力データの読出しを上記番号順に
同順序で行うことにより、ブロック内の個々のエリアC
CDについて上述の放射線撮影時出力データ中に含まれ
る暗時出力相当分と相関の高い暗時出力データを取得
し、これを用いた精度の高い補正が可能となる。
しの順については、例えば図2のブロックAに対応する
エリアCCD部の番号1〜4で示すように、放射線撮影
時出力データと暗時出力データの読出しを上記番号順に
同順序で行うことにより、ブロック内の個々のエリアC
CDについて上述の放射線撮影時出力データ中に含まれ
る暗時出力相当分と相関の高い暗時出力データを取得
し、これを用いた精度の高い補正が可能となる。
【0068】さらに、上述の同順序の読出しについて
は、上記番号1〜4の各エリアCCDにおいて、放射線
撮影時出力データの読出しと暗時出力データの読出し
を、センサ開放時間が等しくなるように行うことによ
り、当然のことながら放射線撮影時出力データ中に含ま
れる暗時出力相当分とより相関の高い暗時出力データを
取得することが可能となり、より精度の高い補正による
画質向上効果が期待できる。
は、上記番号1〜4の各エリアCCDにおいて、放射線
撮影時出力データの読出しと暗時出力データの読出し
を、センサ開放時間が等しくなるように行うことによ
り、当然のことながら放射線撮影時出力データ中に含ま
れる暗時出力相当分とより相関の高い暗時出力データを
取得することが可能となり、より精度の高い補正による
画質向上効果が期待できる。
【0069】なお、全てのエリアCCDの暗時出力デー
タを取得するには、放射線撮影時出力データの取得と同
等の時間を要し、放射線撮影時の処理数を増大させるこ
とから、放射線撮影時に併せて暗時出力データを取得す
ることは、装置の使用状況によっては必ずしも最適な手
順とはいえない。
タを取得するには、放射線撮影時出力データの取得と同
等の時間を要し、放射線撮影時の処理数を増大させるこ
とから、放射線撮影時に併せて暗時出力データを取得す
ることは、装置の使用状況によっては必ずしも最適な手
順とはいえない。
【0070】そこで、上述の暗時出力データの取得を放
射線撮影時以外の時間に行い、後に放射線撮影時の所定
の条件に従い、予め取得しておいた暗時出力データを調
整して放射線撮影時出力データの補正に用いる手段も、
装置の操作性の向上や放射線撮影時のデータ処理の負荷
を軽減するうえで有効である。
射線撮影時以外の時間に行い、後に放射線撮影時の所定
の条件に従い、予め取得しておいた暗時出力データを調
整して放射線撮影時出力データの補正に用いる手段も、
装置の操作性の向上や放射線撮影時のデータ処理の負荷
を軽減するうえで有効である。
【0071】ただし、この場合においてもブロック分割
によるデータの並行読出しや、ブロック内の各エリアC
CDのデータ読出しを放射線撮影時出力データと暗時出
力データで同順序に行うことや、この時さらに各エリア
CCDのセンサ開放時間が等しくなるように制御するこ
とは、前述の理由において同じく出力画像の画質向上に
大きく貢献する。
によるデータの並行読出しや、ブロック内の各エリアC
CDのデータ読出しを放射線撮影時出力データと暗時出
力データで同順序に行うことや、この時さらに各エリア
CCDのセンサ開放時間が等しくなるように制御するこ
とは、前述の理由において同じく出力画像の画質向上に
大きく貢献する。
【0072】上述の予め取得した暗時出力データを調整
する手法については様々な方法が考えられるが、例えば
放射線撮影の直前もしくは直後にブロック内の特定のエ
リアCCDの暗時出力データを取得し、予め取得してお
いたブロック内の全エリアCCDの暗時出力データの
内、前述の特定のエリアCCDの予め取得しておいた暗
時出力データとの差分を求め、この差分を基にその他の
ブロック内全てのエリアCCDの予め取得しておいた暗
時出力データを、放射線撮影時出力データと相関のとれ
た暗時出力データに調整するという手段が考えられる。
する手法については様々な方法が考えられるが、例えば
放射線撮影の直前もしくは直後にブロック内の特定のエ
リアCCDの暗時出力データを取得し、予め取得してお
いたブロック内の全エリアCCDの暗時出力データの
内、前述の特定のエリアCCDの予め取得しておいた暗
時出力データとの差分を求め、この差分を基にその他の
ブロック内全てのエリアCCDの予め取得しておいた暗
時出力データを、放射線撮影時出力データと相関のとれ
た暗時出力データに調整するという手段が考えられる。
【0073】また、前述の図4に示すように、センサ周
囲温度一定の条件ではセンサ開放時間に比例して暗時出
力は増大し、センサ開放時間一定の条件ではセンサ周囲
温度に比例して暗時出力が増大することから、後者の特
性を用いてセンサ開放時間一定の条件のもとで、エリア
CCD出力からセンサ周囲温度を推定することが可能と
なる。
囲温度一定の条件ではセンサ開放時間に比例して暗時出
力は増大し、センサ開放時間一定の条件ではセンサ周囲
温度に比例して暗時出力が増大することから、後者の特
性を用いてセンサ開放時間一定の条件のもとで、エリア
CCD出力からセンサ周囲温度を推定することが可能と
なる。
【0074】従って、上述の予め取得した暗時出力デー
タを調整する別の手段として、放射線撮影の直前もしく
は直後にブロック内の特定のエリアCCDの暗時出力デ
ータを取得し、上記手順により当該エリアCCDの周辺
温度を推定し、この温度域における既知である同ブロッ
ク内の全てのエリアCCDの入出力特性から、上記推定
温度での各CCDの出力レベルを推定し、予め取得して
おいた暗時出力データを、放射線撮影時出力データと相
関のとれた暗時出力データに調整するという手段も考え
られる(図7参照)。
タを調整する別の手段として、放射線撮影の直前もしく
は直後にブロック内の特定のエリアCCDの暗時出力デ
ータを取得し、上記手順により当該エリアCCDの周辺
温度を推定し、この温度域における既知である同ブロッ
ク内の全てのエリアCCDの入出力特性から、上記推定
温度での各CCDの出力レベルを推定し、予め取得して
おいた暗時出力データを、放射線撮影時出力データと相
関のとれた暗時出力データに調整するという手段も考え
られる(図7参照)。
【0075】さらには、例えば放射線撮影の直前もしく
は直後の上述のブロック内の特定の位置における温度を
温度センサにより直接求め、上記同様の手順で既知であ
る同ブロック内の全てのエリアCCDの温度特性から、
上記測定した温度域での各CCDの出力レベルを推定
し、予め取得しておいた暗時出力データを、放射線撮影
時出力データと相関のとれた暗時出力データに調整する
という手段も考えられる。
は直後の上述のブロック内の特定の位置における温度を
温度センサにより直接求め、上記同様の手順で既知であ
る同ブロック内の全てのエリアCCDの温度特性から、
上記測定した温度域での各CCDの出力レベルを推定
し、予め取得しておいた暗時出力データを、放射線撮影
時出力データと相関のとれた暗時出力データに調整する
という手段も考えられる。
【0076】また、前述のブロック内の温度推定に当た
っては、装置起動からの経過時間や、装置起動からの撮
影回数、前回撮影からの経過時間等の条件も使用可能で
ある。
っては、装置起動からの経過時間や、装置起動からの撮
影回数、前回撮影からの経過時間等の条件も使用可能で
ある。
【0077】しかしながら、上述の予め取得した暗時出
力データを調整する上で、各ブロック内の温度分布が所
定の幅を越えた場合には、ブロック内のある一点におけ
る温度推定もしくは測定からのブロック内全域の温度推
定に誤差が生じる可能性が大となる。
力データを調整する上で、各ブロック内の温度分布が所
定の幅を越えた場合には、ブロック内のある一点におけ
る温度推定もしくは測定からのブロック内全域の温度推
定に誤差が生じる可能性が大となる。
【0078】この問題を回避するには、前述のブロック
内の温度推定もしくは測定に当たり、ブロック内の複数
個のエリアCCDの暗時出力を用いたり、ブロック内に
複数個の温度センサを設置する手段が有効である。
内の温度推定もしくは測定に当たり、ブロック内の複数
個のエリアCCDの暗時出力を用いたり、ブロック内に
複数個の温度センサを設置する手段が有効である。
【0079】また、図8に示すようにブロックの分割に
当たっては、予め各ブロック内の温度分布がある所定の
幅以下に納まるよう分割を行うことも有効であり、前記
回避手段と併せて上述の予め取得した暗時出力データの
調整精度の向上が期待出来る。
当たっては、予め各ブロック内の温度分布がある所定の
幅以下に納まるよう分割を行うことも有効であり、前記
回避手段と併せて上述の予め取得した暗時出力データの
調整精度の向上が期待出来る。
【0080】これまでの説明で、暗電子の引起す問題と
して、その総量の増加による画素毎の出力値のバラツキ
の拡大により画質劣化をもたらすこと、またこの出力値
の上昇によりセンサのダイナミックレンジを圧迫するこ
とについて言及してきたが、これ以外の問題としては、
上記画素毎の出力値のバラツキの平均値を求めた場合
に、この平均値が画素ごとに異なる値を示す、いわゆる
固定パタンノイズの問題が存在する(図9参照)。
して、その総量の増加による画素毎の出力値のバラツキ
の拡大により画質劣化をもたらすこと、またこの出力値
の上昇によりセンサのダイナミックレンジを圧迫するこ
とについて言及してきたが、これ以外の問題としては、
上記画素毎の出力値のバラツキの平均値を求めた場合
に、この平均値が画素ごとに異なる値を示す、いわゆる
固定パタンノイズの問題が存在する(図9参照)。
【0081】上記固定パタンノイズは、エリアCCDの
暗時出力データにおける上記画素毎の出力値の平均値で
定まることから、上記放射線撮影時出力データや暗時出
力データに含まれる形で存在し、センサ開放時間もしく
はセンサ周囲温度等の条件が変化することにより、当然
ながらそのノイズパタンに変化が生じる。
暗時出力データにおける上記画素毎の出力値の平均値で
定まることから、上記放射線撮影時出力データや暗時出
力データに含まれる形で存在し、センサ開放時間もしく
はセンサ周囲温度等の条件が変化することにより、当然
ながらそのノイズパタンに変化が生じる。
【0082】また、上記固定パタンノイズは特に低光量
入射時のセンサ出力に対し支配的に作用することから、
センサ開放時間やセンサ周囲温度等の条件を考慮した上
で、この固定パタンノイズを精度良く補正することは、
当該放射線撮影装置の出力画像の画質向上の上で欠かせ
ない技術である。
入射時のセンサ出力に対し支配的に作用することから、
センサ開放時間やセンサ周囲温度等の条件を考慮した上
で、この固定パタンノイズを精度良く補正することは、
当該放射線撮影装置の出力画像の画質向上の上で欠かせ
ない技術である。
【0083】本発明の実施例においては、上記暗時出力
データの取得を複数回繰返して行い、それら暗時出力デ
ータから画素毎の平均値(即ち固定パタンノイズ)を求
め、この画素毎の平均値もしくは平均値を適切に調整し
たデータを使用して、放射線撮影時出力データ中に含ま
れる固定パタンノイズを精度良くキャンセルすることに
より、当該放射線撮影装置の出力画像の画質を格段に向
上させている。
データの取得を複数回繰返して行い、それら暗時出力デ
ータから画素毎の平均値(即ち固定パタンノイズ)を求
め、この画素毎の平均値もしくは平均値を適切に調整し
たデータを使用して、放射線撮影時出力データ中に含ま
れる固定パタンノイズを精度良くキャンセルすることに
より、当該放射線撮影装置の出力画像の画質を格段に向
上させている。
【0084】本説明ではこれまでに、暗時出力データの
取得および調整方法について述べてきたが、以降は暗時
出力データを用いた放射線撮影時出力データの補正にお
ける、暗時出力データの効果的な取得タイミングについ
て説明する。
取得および調整方法について述べてきたが、以降は暗時
出力データを用いた放射線撮影時出力データの補正にお
ける、暗時出力データの効果的な取得タイミングについ
て説明する。
【0085】これまでの説明で分かるように、放射線撮
影時出力データの暗時出力データによる補正で最も重要
なことは、いかにして放射線撮影時出力データ中に含ま
れる暗時出力相当分と等価な暗時出力データを得るかと
いうことである。
影時出力データの暗時出力データによる補正で最も重要
なことは、いかにして放射線撮影時出力データ中に含ま
れる暗時出力相当分と等価な暗時出力データを得るかと
いうことである。
【0086】この目的を達成するための一つの手段とし
ては、前記放射線撮影の直前もしくは直後に暗時出力デ
ータを取得し、放射線撮影時の補正に用いる方法が考え
られ、放射線撮影時とほば同時間に取得された暗時出力
データを用いることにより、装置周辺や装置内部の温度
変化の影響による放射線撮影時出力データ取得時と暗時
出力データ取得時のエリアCCDやその他電気系の入出
力特性の変化の影響を受けずに、放射線撮影時出力デー
タ中の暗時出力相当分とほぼ等価な暗時出力データによ
る補正が可能となる。
ては、前記放射線撮影の直前もしくは直後に暗時出力デ
ータを取得し、放射線撮影時の補正に用いる方法が考え
られ、放射線撮影時とほば同時間に取得された暗時出力
データを用いることにより、装置周辺や装置内部の温度
変化の影響による放射線撮影時出力データ取得時と暗時
出力データ取得時のエリアCCDやその他電気系の入出
力特性の変化の影響を受けずに、放射線撮影時出力デー
タ中の暗時出力相当分とほぼ等価な暗時出力データによ
る補正が可能となる。
【0087】それとは別に、放射線撮影時のデータ処理
の負荷を軽減する方法として、放射線撮影時間以外に随
時暗時出力データを取得、更新し続け、放射線撮影時に
最も近い時間に取得された暗時出力データを用いて補正
を実施する方法が考えられる。
の負荷を軽減する方法として、放射線撮影時間以外に随
時暗時出力データを取得、更新し続け、放射線撮影時に
最も近い時間に取得された暗時出力データを用いて補正
を実施する方法が考えられる。
【0088】この方法の利点は、放射線撮影時のデータ
処理の負荷を減らしながらも、随時行う暗時データの取
得間隔の設定によっては放射線撮影時とほぽ同時間に取
得された暗時出力データを用いての補正が可能となり、
上述と同様の理由でエリアCCDやその他の電気系の入
出力特性の変化の影響を比較的受けない高精度の補正が
可能となる。
処理の負荷を減らしながらも、随時行う暗時データの取
得間隔の設定によっては放射線撮影時とほぽ同時間に取
得された暗時出力データを用いての補正が可能となり、
上述と同様の理由でエリアCCDやその他の電気系の入
出力特性の変化の影響を比較的受けない高精度の補正が
可能となる。
【0089】また、この方法は前述の予め得た暗時出力
データを放射線撮影時に調整する方法における暗時出力
データを予め取得する際にも有効で、放射線撮影時出力
データ中の暗時出力相当分と比較的相関のとれた暗時出
力データを調整し放射線撮影時出力データの補正に用い
ることにより、同じく補正精度の向上が期待できる。
データを放射線撮影時に調整する方法における暗時出力
データを予め取得する際にも有効で、放射線撮影時出力
データ中の暗時出力相当分と比較的相関のとれた暗時出
力データを調整し放射線撮影時出力データの補正に用い
ることにより、同じく補正精度の向上が期待できる。
【0090】さらに、上述の予め取得した暗時出力デー
タを調整する方法においては、例えば装置起動時もしく
は起動後の所定の時間、さらには装置出荷時に暗時出力
データを取得しておく方法が考えられるが、上述の暗時
出力データの取得および調整方法で述べてきたように、
予め取得した暗時出力データの調整に当たり所定の条件
を用い精度良くこれを実施することで、装置起動中の省
電力化や、装置制御上ルーチンの簡略化、放射線撮影時
のデータ処理の負荷の軽減等に効果が期待出来る。
タを調整する方法においては、例えば装置起動時もしく
は起動後の所定の時間、さらには装置出荷時に暗時出力
データを取得しておく方法が考えられるが、上述の暗時
出力データの取得および調整方法で述べてきたように、
予め取得した暗時出力データの調整に当たり所定の条件
を用い精度良くこれを実施することで、装置起動中の省
電力化や、装置制御上ルーチンの簡略化、放射線撮影時
のデータ処理の負荷の軽減等に効果が期待出来る。
【0091】なお、上述の取得および調整済みの暗時出
力データを所定の時間内で保持し、この所定の時間内に
放射線撮影が行われる場合には、この保持された取得お
よび調整済みの暗時出力データを用いて放射線撮影時出
力データの補正を行うことにより、例えば装置起動後の
一定時間経過後にセンサ周辺部の温度が平衡状態にあ
り、前記暗時出力データの取得および調整時と放射線撮
影時でエリアCCDやその他電気系の入出力特性に変化
がないような場合には、処理の負荷となる暗時出力デー
タの取得および調整処理を省くことで装置の省電力化に
有効となる手段も考えられる。
力データを所定の時間内で保持し、この所定の時間内に
放射線撮影が行われる場合には、この保持された取得お
よび調整済みの暗時出力データを用いて放射線撮影時出
力データの補正を行うことにより、例えば装置起動後の
一定時間経過後にセンサ周辺部の温度が平衡状態にあ
り、前記暗時出力データの取得および調整時と放射線撮
影時でエリアCCDやその他電気系の入出力特性に変化
がないような場合には、処理の負荷となる暗時出力デー
タの取得および調整処理を省くことで装置の省電力化に
有効となる手段も考えられる。
【0092】これまでに述べてきた、放射線撮影時出力
データ中に含まれる暗時出力相当の信号と相関のとれた
暗時出力データを取得もしくは調整する方法として、装
置構成上の工夫によっても有効な手段を講じることが可
能である。
データ中に含まれる暗時出力相当の信号と相関のとれた
暗時出力データを取得もしくは調整する方法として、装
置構成上の工夫によっても有効な手段を講じることが可
能である。
【0093】例えば、図2に示すように、エリアCCD
の出力をメモリに格納するまでの電気系が、各ブロック
につき唯一つ存在するよう装置を構成することで、電気
系の入出力特性のバラツキによる上述の補正の誤差を軽
減することが可能となる。
の出力をメモリに格納するまでの電気系が、各ブロック
につき唯一つ存在するよう装置を構成することで、電気
系の入出力特性のバラツキによる上述の補正の誤差を軽
減することが可能となる。
【0094】以降は、放射線撮影時出力データの補正に
対し、暗時出力データを取得もしは調整する際の最適な
画素サイズ、即ちサンプリングピッチについて詳細に述
べる。
対し、暗時出力データを取得もしは調整する際の最適な
画素サイズ、即ちサンプリングピッチについて詳細に述
べる。
【0095】本実施形態の放射線撮影装置の出力画像
は、ユーザのニーズによりサンプリングピッチを選択可
能であるが、ユーザの指定する放射線撮影時出力データ
のサンプリングピッチと同じサンプリングピッチで取得
もしくは調整された暗時出力データを補正に用いること
で、画素単位での演算として行われる放射線撮影時の暗
時出力データによる補正処理の負荷を軽減し、画像出力
にかかる処理時間を短縮することが可能となる。
は、ユーザのニーズによりサンプリングピッチを選択可
能であるが、ユーザの指定する放射線撮影時出力データ
のサンプリングピッチと同じサンプリングピッチで取得
もしくは調整された暗時出力データを補正に用いること
で、画素単位での演算として行われる放射線撮影時の暗
時出力データによる補正処理の負荷を軽減し、画像出力
にかかる処理時間を短縮することが可能となる。
【0096】しかしながら、上記手法はユーザが定常的
に同一サンプリングピッチでの撮影を行う上で有効であ
るが、放射線撮影毎にユーザが指定するサンプリングピ
ッチが頻繁に変更される場合には、ユーザ指定と同一サ
ンプリングピッチの暗時出力データを改めて取得および
調整する手順が生じるため、当該装置で選択可能な全て
のサンプリングピッチに応じた暗時出力データを予め取
得もしくは調整して保持しておき、放射線撮影時にユー
ザの指定するサンプリングピッチにおける暗時出力デー
タを即時に選択し補正に使用し、上記暗時出力データを
改めて取得および調整する手順を省くことにより、上記
装置使用環境下において当該装置の処理速度を最も向上
させることが可能となる。
に同一サンプリングピッチでの撮影を行う上で有効であ
るが、放射線撮影毎にユーザが指定するサンプリングピ
ッチが頻繁に変更される場合には、ユーザ指定と同一サ
ンプリングピッチの暗時出力データを改めて取得および
調整する手順が生じるため、当該装置で選択可能な全て
のサンプリングピッチに応じた暗時出力データを予め取
得もしくは調整して保持しておき、放射線撮影時にユー
ザの指定するサンプリングピッチにおける暗時出力デー
タを即時に選択し補正に使用し、上記暗時出力データを
改めて取得および調整する手順を省くことにより、上記
装置使用環境下において当該装置の処理速度を最も向上
させることが可能となる。
【0097】ただし、上記手法は予め暗時出力データを
取得もしくは調整する際に、当該装置で選択可能な全て
のサンプリングピッチに対しこれを実施するため、例え
ば前述の放射線撮影時以外の時間に随時暗時出力データ
を取得もしくは調整し更新する場含の処理時間を増大さ
せ上記暗時出力データの更新周期を長くするため、装置
内部および周辺温度等の装置環境が過渡的に変化する状
況においては、放射線撮影時出力データの暗時出力デー
タを用いた精度の高い補正を行う上で必ずしも適切な手
法とは言えない。
取得もしくは調整する際に、当該装置で選択可能な全て
のサンプリングピッチに対しこれを実施するため、例え
ば前述の放射線撮影時以外の時間に随時暗時出力データ
を取得もしくは調整し更新する場含の処理時間を増大さ
せ上記暗時出力データの更新周期を長くするため、装置
内部および周辺温度等の装置環境が過渡的に変化する状
況においては、放射線撮影時出力データの暗時出力デー
タを用いた精度の高い補正を行う上で必ずしも適切な手
法とは言えない。
【0098】この問題を回避するためには、ユーザ指定
のサンプリングピッチが未知の状態においても、放射線
撮影時に予め取得もしくは調整された暗時出力データを
ユーザ指定のサンプリングピッチに変換し、放射線撮影
時出力データを補正する手段が有効である。
のサンプリングピッチが未知の状態においても、放射線
撮影時に予め取得もしくは調整された暗時出力データを
ユーザ指定のサンプリングピッチに変換し、放射線撮影
時出力データを補正する手段が有効である。
【0099】例えば、ユーザ指定のサンプリングピッチ
に関らず当該装置のもつ最小サンプリングピッチで暗時
出力データを取得もしくは調整し、後に放射線撮影時に
ユーザの指定するサンブリングピッチに変換する手段が
考えられ、この場合には予め取得もしくは調整された最
小サンプリングピッチの暗時出力データを、当該装置の
持つ全てのサンプリングピッチへ変換することが比較的
容易であることから、上述の放射線撮影時にあらためて
ユーザ指定のサンプリングピッチで暗時出力データを取
得および調整する手法や、当該装置で選択可能な全ての
サンプリングピッチに応じた暗時出力データを予め取得
および調整する手法に対し、放射線撮影時のデータ処理
時間の大幅な短縮や、予め取得した暗時出力データを保
持するメモリ容量の削減が可能となる。
に関らず当該装置のもつ最小サンプリングピッチで暗時
出力データを取得もしくは調整し、後に放射線撮影時に
ユーザの指定するサンブリングピッチに変換する手段が
考えられ、この場合には予め取得もしくは調整された最
小サンプリングピッチの暗時出力データを、当該装置の
持つ全てのサンプリングピッチへ変換することが比較的
容易であることから、上述の放射線撮影時にあらためて
ユーザ指定のサンプリングピッチで暗時出力データを取
得および調整する手法や、当該装置で選択可能な全ての
サンプリングピッチに応じた暗時出力データを予め取得
および調整する手法に対し、放射線撮影時のデータ処理
時間の大幅な短縮や、予め取得した暗時出力データを保
持するメモリ容量の削減が可能となる。
【0100】ここで、当該装置において放射線撮影時に
ユーザが指定するサンプリングピッチでの画像を出力す
る具体的な方法としては、暗時出力データの取得も含め
て、エリアCCDの画素面積で定まるセンサ固有のサン
プリングピッチでデータを取得した後にデジタル的に画
素加算を行いサンプリングピッチを変換する方法(外部
加算)や、主にノイズ低減効果を目的としてエリアCC
D内部でアナログ的に画素加算を行いサンプリングピッ
チを変換する方法(内部加算)が考えられるが、図10
に示すように、エリアCCDの光電変換部での発生電子
とは無関係に存在するオフセット成分(例えばエリアC
CD内部の電荷転送路におけるオフセット成分や、A/
D変換器自身がもつオフセット成分等)が、外部加算時
には加算画素数倍されるのに対し、内部画素加算時には
加算画素数によらず上記オフセット成分が共通となるた
め、例えば上述の予め取得する最小サンプリングピッチ
の暗時出力データが上記センサ固有のサンプリングピッ
チによるものであり、放射線撮影時出力データの取得が
上記内部加算方法を用いる場合には、上述の暗時出力デ
ータを放射線撮影時にユーザが指定するサンプリングピ
ッチに変換する際に、前記オフセット成分の適切な調整
を行うことにより、精度の高いサンプリングピッチ変換
とこれを用いた精度の高い暗時出力データによる補正処
理が可能となる。
ユーザが指定するサンプリングピッチでの画像を出力す
る具体的な方法としては、暗時出力データの取得も含め
て、エリアCCDの画素面積で定まるセンサ固有のサン
プリングピッチでデータを取得した後にデジタル的に画
素加算を行いサンプリングピッチを変換する方法(外部
加算)や、主にノイズ低減効果を目的としてエリアCC
D内部でアナログ的に画素加算を行いサンプリングピッ
チを変換する方法(内部加算)が考えられるが、図10
に示すように、エリアCCDの光電変換部での発生電子
とは無関係に存在するオフセット成分(例えばエリアC
CD内部の電荷転送路におけるオフセット成分や、A/
D変換器自身がもつオフセット成分等)が、外部加算時
には加算画素数倍されるのに対し、内部画素加算時には
加算画素数によらず上記オフセット成分が共通となるた
め、例えば上述の予め取得する最小サンプリングピッチ
の暗時出力データが上記センサ固有のサンプリングピッ
チによるものであり、放射線撮影時出力データの取得が
上記内部加算方法を用いる場合には、上述の暗時出力デ
ータを放射線撮影時にユーザが指定するサンプリングピ
ッチに変換する際に、前記オフセット成分の適切な調整
を行うことにより、精度の高いサンプリングピッチ変換
とこれを用いた精度の高い暗時出力データによる補正処
理が可能となる。
【0101】また、前述までの暗時出力データのサンプ
リングピッチ変換手順と、その前段で述べた予め取得し
た暗時出力データの調整手順との関係としては、当然の
ことながら予め取得した暗時出力データに対し適切なサ
ンプリングピッチ変換を行った後に、適切なタイミング
で上記調整を実施することも可能であり、また場合によ
ってはこれら2つの手順を同時に行うことによる装置処
理速度の向上も期待出来る。
リングピッチ変換手順と、その前段で述べた予め取得し
た暗時出力データの調整手順との関係としては、当然の
ことながら予め取得した暗時出力データに対し適切なサ
ンプリングピッチ変換を行った後に、適切なタイミング
で上記調整を実施することも可能であり、また場合によ
ってはこれら2つの手順を同時に行うことによる装置処
理速度の向上も期待出来る。
【0102】最後に、これまでの説明で述べたように本
実施例の画像分割型の放射線撮影装置においては、撮影
後の各エリアCCDの画像を再合成する手順が必要とな
るが、当該装置においてはこの画像再合成を可能とする
ため、図11に示すように隣接する各CCDの撮像領域
が所定の範囲に渡り重複するよう構成されており、前述
の暗時出力データの取得もしくは調整もしくは作成に当
たりこの重複する撮像領域の出力データを省いた状態で
保持し、放射線撮影時出力データの暗時出力データによ
る補正に用いることにより、メモリ容量の削減や、放射
線撮影時の処理の負荷を軽減することがが可能となる。
実施例の画像分割型の放射線撮影装置においては、撮影
後の各エリアCCDの画像を再合成する手順が必要とな
るが、当該装置においてはこの画像再合成を可能とする
ため、図11に示すように隣接する各CCDの撮像領域
が所定の範囲に渡り重複するよう構成されており、前述
の暗時出力データの取得もしくは調整もしくは作成に当
たりこの重複する撮像領域の出力データを省いた状態で
保持し、放射線撮影時出力データの暗時出力データによ
る補正に用いることにより、メモリ容量の削減や、放射
線撮影時の処理の負荷を軽減することがが可能となる。
【0103】さらには、上記画像分割型の放射線撮影装
置においては、図2に示すように各エリアCCDに対し
個別に集光系(レンズユニット)が存在し、図11に示
すように各エリアCCD毎にその出力画像に前記集光系
による像の歪みが生じるため、画像を再合成する際には
この歪みを補正する手順が必要となるが、上記重複領域
の削除に併せて像の歪みの補正処理を実施した上で上記
暗時出力データを保持し、放射線撮影時出力データの暗
時出力データによる補正に用いることにより、放射線撮
影時の処理の負荷のさらなる軽減が可能となる。
置においては、図2に示すように各エリアCCDに対し
個別に集光系(レンズユニット)が存在し、図11に示
すように各エリアCCD毎にその出力画像に前記集光系
による像の歪みが生じるため、画像を再合成する際には
この歪みを補正する手順が必要となるが、上記重複領域
の削除に併せて像の歪みの補正処理を実施した上で上記
暗時出力データを保持し、放射線撮影時出力データの暗
時出力データによる補正に用いることにより、放射線撮
影時の処理の負荷のさらなる軽減が可能となる。
【0104】<その他の実施の形態例>医療分野の放射
線撮影装置としてはCR(Computed Radi
ography)が良く知られているが、近年では同様
の放射線撮影装置としてFPD(Flat Panel
Detector)が注目を集めている。
線撮影装置としてはCR(Computed Radi
ography)が良く知られているが、近年では同様
の放射線撮影装置としてFPD(Flat Panel
Detector)が注目を集めている。
【0105】上記FPDには、X線エネルギーを直接電
荷に変換し、この電荷をTFT等の読出し素子により電
気信号として取出す直接方式FPDと、X線エネルギー
をシンチレータ等で光に変換し、変換された光をエリア
センサで電荷に変換し、この電荷をTFT等の読出し素
子により電気信号として読出す間接方式FPDがある。
荷に変換し、この電荷をTFT等の読出し素子により電
気信号として取出す直接方式FPDと、X線エネルギー
をシンチレータ等で光に変換し、変換された光をエリア
センサで電荷に変換し、この電荷をTFT等の読出し素
子により電気信号として読出す間接方式FPDがある。
【0106】また、上述の直接および間接方式のFPD
に対し製造コスト面で優位性のあるCCDセンサやCM
OSセンサ等のエリアセンサを複数個並べて使用する画
像分割型FPDも存在し、上記2方式に比較して低価格
での販売が可能なことから、今後工業分野等での非破壊
検査装置としての普及も期待出来る。
に対し製造コスト面で優位性のあるCCDセンサやCM
OSセンサ等のエリアセンサを複数個並べて使用する画
像分割型FPDも存在し、上記2方式に比較して低価格
での販売が可能なことから、今後工業分野等での非破壊
検査装置としての普及も期待出来る。
【0107】上述の画像分割型FPDに代表される複数
のエリアセンサを使用した放射線撮影装置に関しては、
いずれの場合についても複数のセンサ間でのセンサ解放
時間の差を縮小し、精度の高い暗時出力データの補正が
行える点で、本発明は有効であるといえる。
のエリアセンサを使用した放射線撮影装置に関しては、
いずれの場合についても複数のセンサ間でのセンサ解放
時間の差を縮小し、精度の高い暗時出力データの補正が
行える点で、本発明は有効であるといえる。
【0108】また、放射線撮影に限らず、例えば反射も
しくは透過原稿を通常光で読取る画像読取装置において
複数センサを使用する場合にも、高精度の暗時出力デー
タの補正が行える本発明は、その出力画像の画質向上に
大きな効果をもたらすと言える。
しくは透過原稿を通常光で読取る画像読取装置において
複数センサを使用する場合にも、高精度の暗時出力デー
タの補正が行える本発明は、その出力画像の画質向上に
大きな効果をもたらすと言える。
【0109】さらに、本発明の本質が、複数のセンサ間
のセンサ解放時間差を縮小し精度の高い暗時出力データ
の補正を行うことにあることから、センサ開放時間内に
暗電子を発生するようなセンサを多数使用する装置につ
いては、使用するセンサの構造、形状、動作原理にかか
わらず本発明は有効に作用し、当該装置の画質向上に大
きく貢献することは明らかである。
のセンサ解放時間差を縮小し精度の高い暗時出力データ
の補正を行うことにあることから、センサ開放時間内に
暗電子を発生するようなセンサを多数使用する装置につ
いては、使用するセンサの構造、形状、動作原理にかか
わらず本発明は有効に作用し、当該装置の画質向上に大
きく貢献することは明らかである。
【0110】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明にか
かる放射線撮影装置を構成する数十個以上のエリアセン
サからの暗時出力データ読出しで生じる各エリアセンサ
間でのセンサ開放時間差を縮小し、放射線撮影時出力デ
ータ中に含まれる暗時出力分と相関の高い暗時出力デー
タを取得もしくは調整することにより、上記放射線撮影
時出力データに対する精度の高い暗時出力データによる
補正が可能になり、本発明にかかる放射線撮影装置の主
用途である医療現場において、その出力画像を用いた病
変部の発見等における診断能を格段に向上することが可
能になる。
かる放射線撮影装置を構成する数十個以上のエリアセン
サからの暗時出力データ読出しで生じる各エリアセンサ
間でのセンサ開放時間差を縮小し、放射線撮影時出力デ
ータ中に含まれる暗時出力分と相関の高い暗時出力デー
タを取得もしくは調整することにより、上記放射線撮影
時出力データに対する精度の高い暗時出力データによる
補正が可能になり、本発明にかかる放射線撮影装置の主
用途である医療現場において、その出力画像を用いた病
変部の発見等における診断能を格段に向上することが可
能になる。
【図1】本実施の形態例の放射線撮影装置の概略構成を
示す構成図である。
示す構成図である。
【図2】本実施の形態例の放射線撮影装置の光電変換部
の詳細を示す構成図である。
の詳細を示す構成図である。
【図3】入射光量とCCD出力を示す説明図である。
【図4】センサ開放時間と暗時出力を示す説明図であ
る。
る。
【図5】センサ開放時間と暗時出力の平均値およおびバ
ラツキを示す説明図である。
ラツキを示す説明図である。
【図6】暗時出力とダイナミックレンジを示す説明図で
ある。
ある。
【図7】特定センサ出力値から周辺センサ出力値を推定
する方法を示す説明図である。
する方法を示す説明図である。
【図8】装置内温度分布と適切なブロック分割方法を示
す説明図である。
す説明図である。
【図9】固定パタンノイズとその変化を示す説明図であ
る。
る。
【図10】外部加算と内部加算におけるオフセット成分
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図11】画像分割型撮影装置の画像再合成処理を示す
説明図である。
説明図である。
1000 放射線撮影装置 1001 制御部 1002 エリアCCD制御回路 1003 信号処理部 1004 メモリ 1005 I/F回路 1006 X線I/F回路 1007 シンチレータ 1101〜1112 読出回路 1201〜1212 A/D変換回路 1301〜1312 メモリ 1400 レンズユニット部 1500 エリアCCD部 2000 ホストコンピュータ 2100 操作卓 3000 表示装置 4000 記憶装置 5000 出力装置 6000 ネットワーク 7000 被写体 8000 X線源
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 27/14 H04N 5/225 Z 5F088 31/09 5/232 Z H04N 5/225 5/32 5/232 H01L 27/14 K 5/32 31/00 A Fターム(参考) 2G088 FF02 FF04 FF05 FF06 FF07 FF09 GG19 JJ05 LL17 4C093 AA02 CA05 CA12 CA13 EB12 FA33 FC17 4M118 AA02 AA05 AB01 BA10 BA14 CB11 FA06 GA10 GB09 5C022 AA01 AA15 AB31 AB51 AC01 AC42 AC69 5C024 AX12 AX16 CX32 CX51 DX04 EX42 GY01 GZ41 HX23 HX58 HX60 5F088 BB03 EA04 JA17 KA08 KA10 LA07
Claims (20)
- 【請求項1】 複数個のエリアセンサを同一平面上に並
べ、その受光面側にシンチレータを配置した放射線撮影
装置であって、上記複数個のエリアセンサを全数以下の
所定の個数から成るブロックに分割し、前記ブロック毎
に放射線撮影時出力データと、前記放射線撮影時以外に
取得する暗時出力データを、前記ブロック内の各エリア
センサにつき同順序で順次読出し、前記放射線撮影時出
力データを前記暗時出力データで補正する手段を備えた
ことを特徴とする放射線撮影装置。 - 【請求項2】 前記放射線撮影時の各エリアセンサにつ
き露光開始直前のデータ読出しから露光終了後のデータ
読出しまでの所用時間と同時間で暗時出力データの取得
を行い、前記放射線撮影時出力データを前記暗時出力デ
ータで補正する手段を備えたことを特徴とする請求項1
に記載の放射線撮影装置。 - 【請求項3】 前記暗時出力データの取得を複数回繰返
して行い、前記放射線撮影時出力データを前記複数回繰
返して得た暗時出力データの平均値を用いて補正する手
段を備えたことを特徴とする請求項1又は請求項2に記
載の放射線撮影装置。 - 【請求項4】 前記暗時出力データの取得が、前記放射
線撮影時間以外に随時行われ、放射線撮影時間に最も近
い時間に取得された暗時出力データを用いて、放射線撮
影時出力データを補正する手段を備えたことを特徴とす
る請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の放射線撮影
装置。 - 【請求項5】 前記暗時出力データの取得が、前記放射
線撮影の直前もしくは直後のいずれかに行われ、前記暗
時出力データを用いて放射線撮影時出力データを補正す
る手段を備えたことを特徴とする請求項1乃至請求項3
のいずれかに記載の放射線撮影装置。 - 【請求項6】 複数個のエリアセンサを同一平面上に並
べ、その受光面側にシンチレータを配置した放射線撮影
装置であって、上記複数個のエリアセンサを全数以下の
所定の個数から成るブロックに分割し、予め放射線撮影
時間外に前記ブロック内の全エリアセンサの暗時出力デ
ータを放射線撮影時出力データの取得と同順序で順次読
出し保持し、前記放射線撮影直前もしくは直後のいずれ
かに取得した前記各ブロック内の一つ以上のエリアセン
サの暗時出力データもしくは所定の条件のうち少なくと
も一つを用いて、前記ブロック内の全エリアセンサの暗
時出力データを調整し、前記放射線撮影時出力データを
前記調整済み暗時出力データで補正する手段を備えたこ
とを特徴とする放射線撮影装置。 - 【請求項7】 前記ブロック内の全エリアセンサの暗時
出力データを予め取得する際に、前記放射線撮影時の各
エリアセンサにつき露光開始直前のデータ読出しから露
光終了後のデータ読出しまでの所用時間と同時間で暗時
出力データの取得を行う手段を備えたことを特徴とする
請求項6に記載の放射線撮影装置。 - 【請求項8】 前記ブロック内の全エリアセンサの暗時
出力データを予め取得する際に、前記取得を複数回繰返
して行い、前記複数回繰返して得た暗時出力データの平
均値を、前記調整用の暗時出力データとして用いること
を特徴とする請求項6又は請求項7に記載の放射線撮影
装置。 - 【請求項9】 前記所定の条件として、前記各ブロック
内の一つ以上のエリアセンサの周辺温度、前記エリアセ
ンサの所定の温度域での入出力特性、前記エリアセンサ
の露光時間、前記装置起動からの経過時間、前記装置起
動からの撮影回数、前回撮影からの経過時間のうち少な
くとも一つの条件を用いて、予め取得された前記ブロッ
ク内の全エリアセンサの暗時出力データを調整する手段
を備えたことを特徴とする請求項6乃至請求項8のいず
れかに記載の放射線撮影装置。 - 【請求項10】 前記放射線撮影時に、前記ブロック内
のエリアセンサ部の温度分布が所定の範囲内に納まるよ
う前記ブロックの分割を行い、前記放射線撮影時出力デ
ータを前記調整済み暗時出力データで補正する手段を備
えたことを特徴とする請求項6乃至請求項9のいずれか
に記載の放射線撮影装置。 - 【請求項11】 前記ブロック内の全エリアセンサの暗
時出力データの取得が、前記放射線撮影時間以外に随時
行われ、放射線撮影時間に最も近い時間に取得された前
記暗時出力データを調整して、前記放射線撮影時出力デ
ータを前記調整済み暗時出力データで補正する手段を備
えたことを特徴とする請求項6乃至請求項10のいずれ
かに記載の放射線撮影装置。 - 【請求項12】 前記ブロック内の全エリアセンサの暗
時出力データの取得が、前記放射線撮影装置の起動時も
しくは起動後の所定の時間に行われ、前記暗時出力デー
タを調整して前記放射線撮影時出力データを補正する手
段を備えたことを特徴とする請求項6乃至請求項10の
いずれかに記載の放射線撮影装置. - 【請求項13】 前記ブロック内の全エリアセンサの暗
時出力データの取得が、前記放射線撮影装置の出荷時に
行われ、前記暗時出力データを調整して前記放射線撮影
時出力データを補正する手段を備えたことを特徴とする
請求項6乃至請求項10のいずれかに記載の放射線撮影
装置。 - 【請求項14】 前記暗時出力データを調整後、所定の
時間内で前記調整済み暗時出力データを保持し、前記所
定の時間内に放射線撮影が行われる場合には、前記保持
された調整済み暗時出力データを用いて、前記放射線撮
影時出力データを補正する手段を備えたことを特徴とす
る請求項11乃至請求項13のいずれかに記載の放射線
撮影装置。 - 【請求項15】 前記エリアセンサのアナログ出力をデ
ジタルデータに変換する電気系が、一つ以上の前記ブロ
ックに対し存在し、前記各エリアセンサの前記放射線撮
影時と前記暗時のアナログ出力をデジタルデータに変換
する際に、同一の前記電気系を用いる手段を備えたこと
を特徴とする請求項1乃至請求項14のいずれかに記載
の放射線撮影装置。 - 【請求項16】 前記暗時出力データが、放射線撮影時
のサンプリングピッチと同じサンプリングピッチで取得
もしくは調整され、前記取得もしくは調整された暗時出
力データを用いて、放射線撮影時出力データを補正する
手段を備えたことを特徴とする請求項1乃至請求項15
のいずれかに記載の放射線撮影装置。 - 【請求項17】 前記放射線撮影時に指定可能な全ての
サンプリングピッチにおける前記暗時出力データを予め
取得もしくは調整し、前記放射線撮影時にユーザの指定
するサンプリングピッチにおける前記暗時出力データを
選択して用いて、前記放射線撮影時出力データを補正す
る手段を備えたことを特徴とする請求項1乃至請求項1
5のいずれかに記載の放射線撮影装置。 - 【請求項18】 前記暗時出力データが、放射線撮影時
のサンプリングピッチと異なるサンプリングピッチで取
得もしくは調整され、前記取得もしくは調整された暗時
出力データから放射線撮影時のサンプリングピッチにお
ける暗時出力データを作成し、前記作成された暗時出力
データを用いて放射線撮影時出力データを補正する手段
を備えたことを特徴とする請求項1乃至請求項15のい
ずれかに記載の放射線撮影装置。 - 【請求項19】 前記暗時出力データの取得もしくは調
整もしくは作成にあたり、隣接するエリアセンサの重複
する撮像領域の出力データを省いた暗時出力データを用
いて、前記放射線撮影時出力データを補正する手段を備
えたことを特徴とする請求項1乃至請求項18のいずれ
かに記載の放射線撮影装置。 - 【請求項20】 前記暗時出力データの取得もしくは調
整もしくは作成にあたり、隣接するエリアセンサの重複
する撮像領域の出力データを省き、且つ前記エリアセン
サ上での像の歪みを補正した暗時出力データを用いて、
前記放射線撮影時出力データを補正する手段を備えたこ
とを特徴とする請求項1乃至請求項18のいずれかに記
載の放射線撮影装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000286693A JP2002085391A (ja) | 2000-09-21 | 2000-09-21 | 放射線撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000286693A JP2002085391A (ja) | 2000-09-21 | 2000-09-21 | 放射線撮影装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002085391A true JP2002085391A (ja) | 2002-03-26 |
Family
ID=18770576
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000286693A Pending JP2002085391A (ja) | 2000-09-21 | 2000-09-21 | 放射線撮影装置 |
Country Status (1)
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---|---|
JP (1) | JP2002085391A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003325494A (ja) * | 2002-05-14 | 2003-11-18 | Canon Inc | 画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法、記憶媒体、及びプログラム |
JP2006267093A (ja) * | 2005-02-24 | 2006-10-05 | Canon Inc | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及びその制御方法 |
JP2007000632A (ja) * | 2005-06-25 | 2007-01-11 | General Electric Co <Ge> | X線画像のオフセット補正のシステム、方法及び装置 |
JP2010017209A (ja) * | 2008-07-08 | 2010-01-28 | Fujifilm Corp | 放射線画像処理装置および方法 |
WO2010125609A1 (ja) * | 2009-04-30 | 2010-11-04 | 株式会社島津製作所 | 光または放射線撮像装置 |
JP2012120200A (ja) * | 2012-01-10 | 2012-06-21 | Canon Inc | 撮影装置、画像処理装置、撮影システム、放射線撮影装置および画像処理方法 |
WO2014119557A1 (ja) * | 2013-01-29 | 2014-08-07 | 株式会社東芝 | 医用画像処理装置およびx線ct装置 |
CN104936523A (zh) * | 2013-01-29 | 2015-09-23 | 株式会社东芝 | 医用图像处理装置以及x射线ct装置 |
JP2022500652A (ja) * | 2018-09-18 | 2022-01-04 | ホロジック, インコーポレイテッドHologic, Inc. | 撮像アーチファクトを軽減するためのシステムおよび方法 |
-
2000
- 2000-09-21 JP JP2000286693A patent/JP2002085391A/ja active Pending
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003325494A (ja) * | 2002-05-14 | 2003-11-18 | Canon Inc | 画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法、記憶媒体、及びプログラム |
JP2006267093A (ja) * | 2005-02-24 | 2006-10-05 | Canon Inc | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及びその制御方法 |
JP2007000632A (ja) * | 2005-06-25 | 2007-01-11 | General Electric Co <Ge> | X線画像のオフセット補正のシステム、方法及び装置 |
JP2010017209A (ja) * | 2008-07-08 | 2010-01-28 | Fujifilm Corp | 放射線画像処理装置および方法 |
WO2010125609A1 (ja) * | 2009-04-30 | 2010-11-04 | 株式会社島津製作所 | 光または放射線撮像装置 |
JP2012120200A (ja) * | 2012-01-10 | 2012-06-21 | Canon Inc | 撮影装置、画像処理装置、撮影システム、放射線撮影装置および画像処理方法 |
WO2014119557A1 (ja) * | 2013-01-29 | 2014-08-07 | 株式会社東芝 | 医用画像処理装置およびx線ct装置 |
JP2014166348A (ja) * | 2013-01-29 | 2014-09-11 | Toshiba Corp | 医用画像処理装置およびx線ct装置 |
CN104936523A (zh) * | 2013-01-29 | 2015-09-23 | 株式会社东芝 | 医用图像处理装置以及x射线ct装置 |
US9918689B2 (en) | 2013-01-29 | 2018-03-20 | Toshiba Medical Systems Corporation | Medical image processing apparatus and X-ray CT apparatus |
JP2022500652A (ja) * | 2018-09-18 | 2022-01-04 | ホロジック, インコーポレイテッドHologic, Inc. | 撮像アーチファクトを軽減するためのシステムおよび方法 |
US11950948B2 (en) | 2018-09-18 | 2024-04-09 | Hologic, Inc. | Systems and methods for mitigating imaging artifacts |
JP7486477B2 (ja) | 2018-09-18 | 2024-05-17 | ホロジック, インコーポレイテッド | 撮像アーチファクトを軽減するためのシステムおよび方法 |
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