JPH08331463A

JPH08331463A - アクティブ画素を用いたｃｃｄ撮像装置のスミア修正

Info

Publication number: JPH08331463A
Application number: JP8137059A
Authority: JP
Inventors: Lucas P Curtis; ルーカス・ピー・カーティス; Mark E Shafer; マーク・イー・シェイファー
Original assignee: Eastman Kodak Co
Current assignee: Eastman Kodak Co
Priority date: 1995-06-05
Filing date: 1996-05-30
Publication date: 1996-12-13
Also published as: DE69622475D1; EP0748113A2; EP0748113A3; DE69622475T2; US5661521A; EP0748113B1

Abstract

(57)【要約】【課題】画像に生じるスミアの修正技術に関して、過
度に遅くない実用的な撮像装置を製造すること。【解決手段】画像感知装置におけるスミア誤差を削減
するためのスミア修正回路であって、デジタル化された
ＣＣＤ画像データを受容するための受容手段１０と、ダ
ーク修正値およびゲイン修正値を決定するための決定手
段と、ダーク修正およびゲイン修正に関するデータを基
にして、スミア推定を行うためのスミアスケーリング係
数１００を決定する決定手段と、スミア推定およびダー
ク修正に応じて、デジタル化された画像データを補正す
る補正手段２０と、前記補正されたデジタルデータをゲ
イン補正手段５０に適用する適用手段とを有して構成さ
れている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、一般的に画像セン
サに係り、特に画像センサにおいて用いられるスミア修
正技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＣＣＤ（電荷結合素子）撮像装置が、デ
ジタル画像をとらえるために一般的に用いられている。
ＣＣＤ撮像装置は、ＣＣＤシフトレジスタに連結された
光センサアレイから構成される固体装置として形成され
ている。光センサにより、入射される光子が電子に変換
され、これにより、所定の期間内における総入射光量に
比例した電荷が光センサ内に発生される。この所定期間
の終了時点では（通常、電子を収集する際に与えられる
このような所定期間を”集積期間”と称する。）、それ
ぞれの光センサからの電荷が、アナログＣＣＤシフトレ
ジスタ内の対応する位置に転送される。そして、電荷の
パケットは、コンデンサへ向けて逐次的にシフトされ、
このコンデンサに発生する電圧が撮像装置の出力部にお
いて測定される。通常、光センサ内で電荷が集積される
期間においては、同時に前段階の集積期間に発生した電
荷が、装置からシフトされて出力される。これにより、
電荷の集積と読み出しとの間には、１回の集積期間に相
当する遅延時間が生じる。

【０００３】通常、ＣＣＤ撮像装置は、線形（直線的）
アレイ撮像装置とエリアアレイ撮像装置との２つのカテ
ゴリーに分類される。線形アレイ撮像装置では、画素
（通常、個々の光センサの位置を”画素”と称する）
が、１つの長い列として配置されている。この種の装置
は、１つの工程において画像の１つのラインを処理する
のに使用される。そして、画像全体を処理するために
は、複数のラインが逐次的に処理される必要があり、こ
の際、撮像対象あるいは撮像装置のいずれか一方が他方
に対して並進移動される。また、幾つかの撮像装置は、
複数ラインの光センサを有して構成されている。さら
に、撮像装置とカラーフィルタとを組み合わせること
で、画像におけるカラー情報の取り込みが可能となる。
３列（Ｒ，Ｇ，Ｂ）の線形撮像装置は、このようにして
構成されている。

【０００４】エリアアレイ撮像装置では、光センサが２
次元パターンとして配置され、これにより、１回の集積
期間において画像全体をとらえることが可能となる。通
常、１つの工程においては、１ラインの画素データを読
み出すことが要求され、エリアアレイ撮像装置において
も、１ラインのシフトレジスタが用いられている。この
ため、以下に記載される技術はエリアアレイ撮像装置に
対しても適用可能であるが、以下の記載においては線形
アレイ撮像装置のみが取り扱われる。また、エリアアレ
イ撮像装置内の光センサに対してカラーフィルタリング
技術を適用することも可能である。

【０００５】ＣＣＤ撮像装置を用いた結果として、数種
類の疑似画像が画像内に導入される。これら疑似画像の
なかに、”スミア(smear)”が含まれている。光子によ
り発生された（光電効果による）電子が、光センサのポ
テンシャルの井戸にとらえられず、基板内に分散され、
そしてシフトレジスタのポテンシャルの井戸にとらえら
れた際にスミアが生じる。この結果として、過剰な電荷
による”オフセット”が生じ、このオフセットは、装置
からシフトされて出力されるそれぞれの画素に等しく付
加されるとともに、光センサのアレイ全体に入射する総
光量に比例した値をとる。光センサの電荷が転送される
前にシフトレジスタ内にスミア電荷が進入するので、ス
ミアの一部は集積を実施している期間に発生する。ま
た、スミアの一部は、シフトレジスタの読み出しを実施
している期間にも発生する。そして、電荷の転送は、電
荷の集積に対して１つの期間だけ遅延するので、与えら
れた期間に対するスミアは、その時点における期間と同
様に１つ前の段階の期間における発生要因をも有してい
る。

【０００６】画像における暗領域と明領域がともに単一
のラインにおいてとらえられた際に、スミアは可視化さ
れる。明領域から入射される光線により、本来暗部（ダ
ーク）であるはずのすべての画素に対して付加的なスミ
アが発生する。

【０００７】スミアに対する修正を行うためには、与え
られたラインに対するスミアオフセット値を測定あるい
は算出して、個々の画素の読み出し値からオフセット値
を減じる必要がある。この工程を実施するための通常の
方法としては、”ライトシールド(light shield)”画素
を用いる方法がある。ライトシールド画素は、装置上に
設けられた特別な画素であり、光線を受容しないように
完全にマスクされている。この画素に関しては、光セン
サに光線が入射しないので、画素に集積する電荷は、例
えばスミアのような望ましくない発生源から生じたもの
となる。それゆえ、ライトシールド画素以外のすべて
の”アクティブ(active)”画素からの電荷を測定するの
と同様の方法で、ライトシールド画素からの電荷を測定
し、その後、この測定値がアクティブ画素の測定値から
減じられる。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】この方法の１つの欠点
は、ライトシールド画素の測定値が、大きな誤差を有す
る可能性があることである。このような大きな誤差を生
じるのは、ＣＣＤ撮像装置が、元来ノイズの多い装置で
あることによる。ノイズ源としては、（１）ダークノイ
ズ(Dark Noise)、（２）ショットノイズ(Shot Noise)、
および（３）エレクトロニクスノイズ(Electronics Noi
se)が上げられる。ダークノイズは、光センサおよびシ
フトレジスタ内の自由電子の熱励起の結果として発生す
る電荷によって生じる。ショットノイズ（散弾雑音）
は、ポアソン統計により予見される光子のランダムな到
達における変動によって生じる。エレクトロニクスノイ
ズは、電子工学的処理工程および測定工程において生じ
る任意のノイズとして与えられる。

【０００９】ライン全体に関して、すべてのアクティブ
画素の画素値からスミアによるオフセット値が減じられ
るので、スミアオフセット値の測定誤差が、それぞれの
アクティブ画素に付加される。また、それぞれのライン
が、異なる測定誤差を有する可能性がある。実際に観察
される画像においては、この測定誤差は、除去されたス
ミア疑似画像と同じくらい画質に悪影響を与えることが
ある。

【００１０】測定誤差を低減するために、通常、以下の
２つの方法が用いられている。第１の方法：ライン内の幾つかのライトシールド画素
の画素値が測定されるとともに、平均化される。第２の方法：複数のラインにおけるライトシールド画
素の画素値が測定されるとともに、平均化される。複数の測定値を平均化することで、誤差が減少される。
多くの場合、ノイズ源は互いに相関がないので、平均化
することで、誤差は以下の式のように減少する。

【００１１】

【数１】

【００１２】しかし、第１の方法を用いる場合、測定誤
差を適切なレベルまで低減させるための充分な数のライ
トシールド画素を備えた撮像装置を製造することは実用
的ではない。また、第２の方法を用いる場合、前のライ
ンを平均化することによるフィルタリング効果のため
に、スミア修正の反応が遅くなる。

【００１３】以上の記載から、スミア修正技術に関し
て、過度に遅くない実用的な撮像装置を製造することが
要求されていることが明らかであろう。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記の１つあ
るいは複数の問題を解決するために用いられる。簡単に
概要を説明すると、本発明の１つの特徴によれば、画像
感知装置（ＣＣＤ）におけるスミア誤差を削減するため
のスミア修正回路は、ＣＣＤ画像データを受容するため
の画像受容手段と、；スミアの推定を行うために、与え
られた照度レベル（光量）に対するスミア誤差の比を基
にして、スミアスケーリング係数を決定する決定手段
と、；ラインごとにスミア推定値を決定するスミア推定
手段と、；スミア推定およびダークレベル修正に基づい
て画像データを補正する補正手段と、；ゲイン補正を行
う手段に対して前記補正データを適用する適用手段とを
有して構成されている。

【００１５】多数のライトシールド画素を必要とするこ
となく、スミアオフセット値の誤差を著しく低減させる
新しい方法が、ここに開発されている。この方法は、ス
ミアオフセット値が、対応する集積期間において撮像装
置に入射された総光量に比例するという現象に基づいて
いる。そして、すべてのアクティブ画素位置からの画素
値が累積あるいは平均化され、この計算値に対して所定
のスケーリング係数を乗ずることで、実際のスミアオフ
セット値に対する推定値が算出される。スケーリング係
数は、単純に最悪の場合に生じたスミアに関してもとめ
られ、最大画素値に対する百分率（パーセント）で表さ
れる。通常、このスケーリング係数は、０％から１０％
の間の値をとる。アクティブ画素に関しては、（付加的
なショットノイズ成分のために）ライトシールド画素と
比較すると、平均して個々の画素の測定値に対する誤差
は大きくなるが、通常、アクティブ画素の数は多いの
で、累積値における誤差は非常に小さくなる。

【００１６】例えば、ここで、５１２個のアクティブ画
素と８個のライトシールド画素とを備えた典型的な撮像
装置を考える。典型的には、ダークノイズの累積値およ
びブライトショットノイズの累積値は、それぞれ１単位
および８単位に標準化される。そして、８個のライトシ
ールド画素の平均測定値における誤差は、以下のように
算出される。

【００１７】

【数２】

【００１８】ここで、Ｄｓはダークノイズを示す。これ
に対して、スミアオフセット値を推定する際における最
悪の場合の誤差は、５１２個のアクティブ画素の測定値
の平均化を行った際に、以下のように与えられる。

【００１９】

【数３】

【００２０】ここで、Ｗｓは最悪の場合のスケーリング
係数を示し、Ｎｓはショットノイズを示す。上記の値
は、改善の度合いを示すものである。このように、スケ
ーリング係数が小さいほど、およびアクティブ画素の数
が多いほど、誤差は小さくなる。

【００２１】

【発明の実施の形態】本発明の上記および他の目的は、
以下の記載およびこれに付随する図面を参照すること
で、より明らかになるであろう。付随する図において
は、複数の図において用いられる同一の構成要素に対し
ては、可能である限り、同一の参照番号が付されてい
る。

【００２２】本発明は、多くのライトシールド画素を用
いることなく、スミア誤差を非常に小さなレベルまで低
減できるという利点を有している。

【００２３】図１は、データ処理経路を示すブロック図
である。図２は、典型的な画素応答関数を示すグラフで
ある。図３は、線形的ＣＣＤ撮像装置を示す図である。
図４は、図３の撮像装置を用いた典型的な走査を示す図
である。図５は、図１とは異なるデータ処理経路を示す
ブロック図である。図６は、図１とは異なる別のデータ
処理経路を示すブロック図である。

【００２４】較正段階で決定されたゲイン修正データお
よびダーク修正データを有効的に用いることで、画像セ
ンサ内のスミアが低減可能であることが分かっている。
本発明の好適な実施の形態を示すブロック図である図１
に示されるように、画像データ処理経路には、アクティ
ブ画素によるスミア修正手段が含まれている。スミア修
正がなされた最終画像を得るために、２種類の画像デー
タ修正手段が用いられている。図１に示されるように、
画像データ入力部１０と画像データ出力部７０との間に
おいて、ダーク修正部３０およびゲイン修正部６０は、
画像データに直接的に結合されている。図１に示される
好適な実施の形態は、本発明の意図する結果を得るため
に用いることができる１つの形態である。

【００２５】図１に示されるように、好適な実施の形態
においては、画像データ入力部１０において、通常ＣＣ
Ｄ撮像装置から送られてくるデジタル化されたデータが
与えられる。そして、加算部２０では、画像データ入力
部１０から送られてくるデータとダーク修正値およびス
ミア修正値とを結合することで、ダーク修正およびスミ
ア修正が実行される。ダーク修正に使用される数値デー
タは、ダーク修正部３０から送られる。ダーク修正部３
０は、較正段階においてダーク修正値が予めロードされ
る記憶装置として設けられている。また、ライン中の画
素全体に対するスミア修正値は、ラッチ４０により与え
られる。このスミア修正値は、前のラインが処理されて
いる間に算出される。

【００２６】ダークオフセット値およびスミアオフセッ
ト値に関して修正された画像データは、ゲイン修正乗算
器５０およびアクティブ画素アキュムレータ８０へ送ら
れる。アクティブ画素アキュムレータ８０では、すべて
のアクティブ画素からの画素値が累積され、乗算器９０
においてこの累積値とスミアスケーリング係数１００と
が乗じられ、次のラインにおける使用のために、この乗
算値がラッチ４０内に保持される。アクティブ画素の累
積はゲイン修正の前に実施されるので、総光量に対する
それぞれのアクティブ画素の寄与度は、均等に重み付け
されている。

【００２７】また、ゲイン修正部６０から送られるゲイ
ン修正値を用いて、ゲイン修正乗算器５０においてゲイ
ン修正が実施され、後に続く画像処理段階で使用できる
ように、画像データ出力部７０において出力データが与
えられる。

【００２８】次に、図１および図２を参照する。図２に
は、個々の画素に関する典型的な応答関数が示されてい
る。図において、破線により、典型的な応答が示されて
いる。また、実線により、理想的な応答が示されてい
る。理想的でない応答を示す画素に対して、望ましい応
答を得るために、ダーク修正およびゲイン修正が実施さ
れる。既に述べたように、このようなデータ値は、較正
段階において決定される。光線が光センサに全く入射さ
れない場合には、画素から出力信号が発っせられないの
が望ましい。しかし、実際には、光センサは、”ダーク
オフセット”と称される小さな出力信号を発生する。ダ
ークオフセットは、光線が入射しない際に測定され、そ
の後、対象画素に対して得られたすべての画素値から減
じられる。この処理工程が、”ダーク修正”と称されて
いる。すべての画素間におけるダークオフセット値の変
動が充分に小さい場合には、すべての画素に対して単一
のダークオフセット値を用いることも可能である。ま
た、単一のダークオフセット値が設定されない場合に
は、それぞれの画素に対して個別のダークオフセット値
が設定される。

【００２９】また、（照明装置、あるいは光学機構等で
決定される）利用可能な最大限の光線を画素に対して入
射した際には、画素が既知の出力信号を発生することが
望ましい。しかし、実際には、画素応答における変動、
照明の不均一性等の影響から、それぞれの画素において
（”ブライトポイント(bright point)”と称される）異
なる出力信号が発生される。そして、他のすべての照明
レベルにおける画素値出力は、ダークオフセットとブラ
イトポイントとを結ぶ直線上に存在すると推測される。
この直線の傾斜が、対象画素の”ゲイン”として与えら
れる。そして、ブライトポイントが望ましい値になるよ
うに、ゲイン修正係数が算出される。この後、すべての
画素値に対して、ゲイン修正係数が乗じられ、この処理
工程が、”ゲイン修正”と称されている。

【００３０】ダーク修正およびゲイン修正に関しては、
いずれの場合においても、正確な修正値を得るために、
非常に正確な測定が要求される。このような正確な測定
を実施するためには、ノイズによって生じる測定誤差を
低減するために、同一の画素に対する測定が繰り返し行
われ、測定値が平均化される。最大限の照明の下、ある
いは暗室における測定は、不定回数実施され、要求され
る精度が得られるまで測定値が平均化される。

【００３１】図１に示されるように、画像入力部１０に
入力される画像データは、デジタル化されてＣＣＤ撮像
装置から送られる。そして、加算部２０において、ダー
ク修正およびスミア修正が実施される。ダーク修正部３
０には、較正段階において、既にダーク修正値がロード
されている。また、ライン全体に対するスミア修正は、
後に記載される式から得られる数値を用いて前のライン
に対して算出されラッチ４０に保持されたスミア修正値
を用いて実施される。そして、ダークオフセットおよび
スミアオフセットに対して修正された画像データが、ゲ
イン修正乗算器５０およびアクティブ画素アキュムレー
タ８０へ送られる。アクティブ画素アキュムレータ８０
では、すべてのアクティブ画素からの画素値が累積さ
れ、乗算器９０において、この累積値に対してスミアス
ケーリング係数１００が乗じられ、次のラインにおける
使用のために乗算値がラッチ４０に保持される。アクテ
ィブ画素の累積はゲイン修正の前に実施されるので、総
光量に対するそれぞれのアクティブ画素の寄与度は、均
等に重み付けされる。

【００３２】ゲイン修正部６０から送られるゲイン修正
値を用いて、ゲイン修正乗算器５０においてゲイン修正
が実施され、画像出力部７０から、後に続く処理段階へ
出力画像データが与えられる。

【００３３】ダーク修正値およびゲイン修正値を得るた
めに用いられたのと同じデータが、非常に正確なスミア
スケーリング係数を得るために、同様に用いられる。ス
ミアスケーリング係数を得るためには、アクティブ画素
およびライトシールド画素の両方から画素値をもとめる
必要がある。これらのデータは、スミアの百分率（パー
セント）によるスミア割合を決定するために用いられ
る。この際、まず、最大照明におけるライトシールド画
素の画素値の平均値から、最小照明（すなわち、ダー
ク）におけるライトシールド画素の画素値の平均値を減
じる。そして、ライトシールド画素における最大値と最
小値との差異の平均値を、アクティブ画素に関する同様
の差異の平均値により除する。このような関係が、方程
式（１）により表現される。

【００３４】

【数４】

【００３５】後に示されるとともに図３および図４を参
照することで最もよく理解される算術的表現を用いて得
られる平均値により、百分率によるスミア割合が決定さ
れる。式（１）の分子は、較正段階においてすべてのラ
イトシールド画素に対する画素値の平均値を得ることで
導かれる。

【００３６】図３には、フォトダイオード１１２とシフ
トレジスタ１１４とを有して構成されているＮ個の画像
感知要素を備えた線形型ＣＣＤ画像センサ１１０の機能
的形態が示されている。フォトダイオード１１２には、
光子が入射され、この光子により、フォトダイオード１
１２内に電子・正孔ペア（対）が発生される。そして、
この電子・正孔ペアがＣＣＤシフトレジスタ１１４へ転
送される。画像センサ１１０内の最初の８画素および最
後の８画素は、ライトシールド画素１１６であり、左右
のライトシールド画素１１６に挟まれて、アクティブ画
素１１８が配置されている。

【００３７】図３および図４に示されるように、画像セ
ンサ１１０内において”ｘ”で示される画素位置に対す
る画素値をｐ（ｘ、ｙ）で表現し、画像センサ１１０に
より走査される複数のラインに関して、”ｙ”で示され
る任意のラインにおける画素位置ｘの画素値がライン方
向にそれぞれ平均化される。走査されるすべてのライ
ン”ｙ”にわたっての画素位置ｘに対する画素値の平均
値をＬ（ｘ）で示すとすると、式（２）により、ライン
ｙが（Ｍ＋１）回走査された後の画素位置ｘに対する画
素値の平均値Ｌ（ｘ）が導かれる。上記のような関係
は、図４を参照して式（２）により明らかになるであろ
う。

【００３８】

【数５】

【００３９】さらに、図４に示されるように、走査され
る（Ｍ＋１）ラインに含まれるライトシールド画素の画
素値の平均値を表すためにＬＳを用いると、平均ライト
シールド画素値ＬＳは、式（３）により与えられる。

【００４０】

【数６】

【００４１】また、（Ｍ＋１）ライン内のアクティブ画
素ｘに対する画素値平均値の累積値を表すためにＡＰを
用いると、このＡＰは、式（４）により与えられる。

【００４２】

【数７】

【００４３】ライトシールド画素から測定されるスミア
最大量をＭＳとする。そして、最大照明の際のライトシ
ールド画素の画素値平均値をＬＳ_{max illum}で示すとと
もに、既に述べたダーク較正段階のライトシールド画素
の画素値平均値をＬＳ_darkで示すと、ＭＳは、式（５）
により与えられる。

【００４４】

【数８】

【００４５】そして、アクテイブ画素に対する画素値平
均値の最大累積値をＭＡとする。ここで、最大照明の際
のアクティブ画素の画素値平均値の累積値をＡＰ
_{max illum}で示すとともに、ダーク較正段階のアクティ
ブ画素の画素値平均値の累積値をＡＰ_darkで示すと、Ｍ
Ａは、式（６）により与えられる。

【００４６】

【数９】

【００４７】スミアスケーリング係数はＳＳＦで示さ
れ、式（７）に示されるように、アクティブ画素に関す
る可能な範囲における累積値の最大値に対するスミア誤
差の可能な最大値の比として定義される。

【００４８】

【数１０】

【００４９】式（７）から導かれたＳＳＦは、較正段階
の後に、図１に示されるように、スケーリング係数１０
０を保持するレジスタ内に記憶される。

【００５０】スミアに関する推定は、走査期間中に実施
され、スミア推定値は式（８）に示されるように算出さ
れる。ここで、ＡＰ_actualは、走査されるラインに関し
てのアクティブ画素の画素値の累積値を示している。

【００５１】

【数１１】

【００５２】次に、図５には、図１に示されたデータ処
理経路と類似のデータ処理経路が示されている。図５に
示されたデータ処理経路における根本的な差異は、加算
部２０からのライン全体に対するデータが、ラインメモ
リ１３０により保持されることである。また、ラインに
対するデータは、スミア推定値を生成するために、同時
に並行処理される。しかし、図１に示されるように、次
のラインに関するスミア修正に対して用いられる代わり
に、図５におけるスミア推定値は、同じラインに関する
スミア修正に対して用いられている。この際、ラッチ４
０により、加算部１４０に対してスミア推定値が適用さ
れ、これにより、ラインメモリ１３０内に保持されたデ
ータに対してスミア修正が実施される。

【００５３】次に、図６には、スミア修正がなされたデ
ータをアキュムレータ８０に与えるための付加的な加算
部１５０が設けられた別のデータ処理経路が示されてい
る。この場合、画像データに対するスミア修正は、図１
のデータ処理経路と比較すると、１ライン遅れることに
なる。しかし、図６のデータ処理経路は、図５のデータ
処理経路よりも精度が高くなっている。

【００５４】本発明の概念を例示するために、線形型Ｃ
ＣＤ装置が用いられたが、フレーム伝送装置と同様に、
漸進的走査あるいは飛び越し走査に用いられるインター
ライン(interline)型装置においても、本発明の概念を
具現化することが可能である。

【００５５】さらに、好適な実施の形態においては、多
数の機能を実現する種々の回路が設けられていたが、例
示された回路に対して同等の機能を有するアルゴリズム
を実行するデジタルコンピュータを用いて、上記の種々
の機能を実現することも可能である。

【００５６】以上のように、好適な実施の形態を参照し
て、本発明が説明されたが、当業者であれば、本発明か
ら離れることなく、種々の変形あるいは修正が可能であ
ることを解するであろう。

【図面の簡単な説明】

【図１】データ処理経路を示すブロック図である。

【図２】典型的な画素応答関数を示すグラフである。

【図３】線形的ＣＣＤ撮像装置を示す図である。

【図４】図３の撮像装置を用いた典型的な走査を示す図
である。

【図５】図１とは異なるデータ処理経路を示すブロック
図である。

【図６】図１とは異なる別のデータ処理経路を示すブロ
ック図である。

【符号の説明】

１０画像データ入力部（受容手段）２０加算器（補正手段）３０ダーク修正部４０ラッチ（一時的記憶手段）５０ゲイン乗算器（ゲイン補正手段）６０ゲイン修正部７０画像データ出力部８０アキュムレータ９０スケーリング乗算器（乗算手段）１００スケーリング係数

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】画像内のスミアを除去する方法であっ
て、デジタル形態で画像を受容する工程と、較正期間においてダーク修正値およびゲイン修正値を決
定する工程と、スミア推定のために、ダーク修正およびゲイン修正に関
するデータを基にして、スミアスケーリング係数を算出
する工程と、前記スミア推定に応じて、画素値を補正する工程と、スミアを除去するために、前記補正された画素値を画像
処理に適用する工程とを有するスミア除去方法。