JPH1048272A

JPH1048272A - 高調波計測装置

Info

Publication number: JPH1048272A
Application number: JP21916396A
Authority: JP
Inventors: Yoshihiro Kajiwara; 義廣梶原; Yoshiaki Tanaka; 義昭田中; Takeshi Aijima; 武相島
Original assignee: Togami Electric Mfg Co Ltd
Current assignee: Togami Electric Mfg Co Ltd
Priority date: 1996-07-31
Filing date: 1996-07-31
Publication date: 1998-02-20

Abstract

(57)【要約】【課題】本発明は交流電圧又は電流信号に重畳された
高調波を計測する高調波計測装置に関し、本発明は前記
課題を解消するためになされたもので、実質的に障害を
発生することとなる高調波を識別できると共に、高調波
解析をより詳細且つリアルタイムに計測することができ
る高調波計測装置の提供を目的とする。【解決手段】標本化部１で交流電圧又は電流信号をサ
ンプリングしてディジタル信号を生成し、ＦＦＴ演算部
３でディジタル信号からベクトル信号を演算し、高調波
演算部４がベクトル信号から高調波のデータを演算し、
この高調波のデータを記憶部５に所定の個数だけ格納
し、この所定個数の高調波のデータを移動平均演算部６
が移動平均を演算することから、時々刻々急峻に変化す
る高調波を記憶部５に格納する高調波のデータの所定個
数に応じた平均化ができることとなり、実質的に障害を
発生することとなる高調波を識別でき、高調波解析をよ
り詳細且つリアルタイムに計測できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は交流電圧又は電流信
号に重畳された高調波を計測する高調波計測装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の高調波計測装置として図
４及び図５に示すものがあった。この図４は従来の高調
波計測装置のブロック回路構成図、図５は図４に記載の
従来装置の動作フローチャートを示す。

【０００３】同図において従来の高調波計測装置は、高
圧電線路１００に印加される電圧を所定の標本化周波数
（Sampling Frequency）でサンプリングしてディジタル
信号を生成する標本化部１と、この生成されたディジタ
ル信号を高速フーリェ変換（Fast Fourier Transform）
の演算を実行してベクトル信号を生成するＦＦＴ演算部
３と、このベクトル信号に基づいて前記高圧電線路１０
０に印加される電圧に重畳された高調波に関する高調波
データを演算する高調波演算部４と、この高調波データ
を格納する記憶部５０と、この格納された高調波データ
を表示形態に対応した信号に変換して表示部８へ出力し
て表示を制御する表示制御部７とを備える構成である。

【０００４】前記標本化部１と高圧電線路１００との間
には限流ヒューズ１０１及び計器用変圧器１０２が直列
に接続され、この限流ヒューズ１０１及び計器用変圧器
１０２は高圧電線路１００の電圧を電圧信号として標本
化部１へ出力する構成である。前記高調波演算部４は、
前記ＦＦＴ演算部３で演算されたベクトル信号に基づい
て高圧電線路１００に印加される電圧に重畳された高調
波の電圧又は電流を演算する電力演算回路４１と、前記
ベクトル信号に基づいて前記高調波の電圧及び電流の各
位相差を演算する位相演算回路４２と、前記演算された
高調波の電圧又は電流に基づいて予め設定された各次数
の高調波の比率を高調波含有率又は予め設定された全次
数の高調波の総合歪み率を各々演算する高調波率演算回
路とを備える構成である。

【０００５】次に、前記構成に基づく従来の高調波計測
装置における高調波の計測動作について図６（Ａ）を参
照して説明する。まず、高圧電線路１００に送電される
交流電圧が限流ヒューズ１０１及び計器用変圧器１０２
を介して分岐して標本化部１に入力され、この入力され
た交流電圧の入力波形（アナログ信号）が予め設定され
た標本化周波数によりサンプリングされて量子化された
ディジタル信号を生成する（ステップ１０１）。この標
本化部１においてディジタル信号に生成される交流電圧
の交流周期のうちのゼロクロス点以外の点を始点として
サンプリングが行なわれる場合に、サンプリングデータ
であるディジタル信号について時間窓関数の処理を実行
する（ステップ１０２）。

【０００６】この生成されたディジタル信号（又は、時
間窓関数処理されたディジタル信号）がＦＦＴ演算部３
へ入力され、このＦＦＴ演算部３は前記ディジタル信号
をＦＦＴ演算して高調波における各次数毎の実数部と虚
数部との各ベクトル信号を生成する（ステップ３）。こ
の各次数の高調波毎に生成された各ベクトル信号が高調
波演算部４へ入力されて高調波に関する各種のデータを
演算する（ステップ１０４〜ステップ１０５）。

【０００７】この高調波演算部４において前記各ベクト
ル信号が電力演算回路４１及び位相演算回路４２へ各々
入力され、この電力演算回路４１は前記各ベクトル信号
に基づいて各次数の高調波毎に電圧及び電流の各値を演
算する（ステップ１０４）。前記位相演算回路４２は、
前記各ベクトル信号に基づいて各次数の高調波毎にこの
高調波の電圧と電流との各位相差を演算する（ステップ
１０６）。即ちこの位相差の演算は各指定次数の電圧及
び電流における各実数部、虚数部の各データにより求め
られる。

【０００８】前記ステップ１０４で演算された各次数の
高調波毎に演算された電圧及び電流の各値が高調波率演
算回路４３に入力され、この高調波率演算回路４３は各
次数の高調波の比率を高調波含有率として演算すると共
に、全次数の高調波全体の総合歪み率を演算する（ステ
ップ１０５）。

【０００９】前記ステップ１０４、１０５、１０６によ
り各々演算された各次数の高調波毎の電圧及び電流と、
この電圧及び電流の位相差と、高調波含有率及び総合歪
み率とが各々記憶部５０の第１、第２、第３の各メモリ
５１、５２、５３に格納される（ステップ１０７）。こ
の記憶部５に格納された高調波の各データが表示制御部
７に入力され、この表示制御部７は前記高調波の各デー
タに基づいて高調波に関連する各種の状態を表示部８へ
表示する（ステップ１０８）。

【００１０】なお、前記ステップ１０１における標本化
部１のサンプリング動作と、ステップ１０３から１０６
におけるＦＦＴ演算部３及び高調波演算部４とを図６
（Ａ）に示すように１周期として演算を行なう。この１
周期の演算を順次繰り返すこととなる。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】従来の高調波計測装置
は以上のように構成されていたことから、より詳細な高
調波解析を行なおうとするとより多くの演算結果を必要
とし、この多くの演算結果で表示部８に高調波を表示さ
せようとすると高調波の変化が極めて頻繁に発生するこ
ととなり、計測者がその変化に追従できすに実際に障害
となる高調波の識別ができないという課題を有する。ま
た、この高調波の状態を表示する表示部８以外にプリン
トアウト等の出力形態であっても、膨大な演算結果によ
り実質的に障害を発生することとなる高調波を判別する
ことができない。

【００１２】また、前記計測者が高調波の識別を容易に
するために一定時間の総ての演算結果を格納してこの一
定時間の経過後に単純平均により高調波の状態を表示す
るように構成することも考えられる。このように構成し
た場合には、一定時間の総ての演算結果を格納するため
に、一定時間後でなければ計測できず、また大容量の記
憶部５０が必要となるという課題を有する。特に、この
ように単純平均により得られる高調波の演算結果は、高
調波の本来の変化を正確に表現しているものではないた
め、障害を発生する高調波の識別ができないこととな
る。

【００１３】さらに、前記従来装置において計測者が識
別できる程度の演算結果のデータ量に減少させると、高
調波の解析精度を悪化させて障害となる高調波の識別を
十分にできないという課題を生じる。

【００１４】本発明は前記課題を解消するためになされ
たもので、実質的に障害を発生することとなる高調波を
識別きると共に、高調波解析をより詳細且つリアルタイ
ムに計測することができる高調波計測装置の提供を目的
とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】本発明に係る高調波計測
装置は、交流電圧又は電流信号を所定の標本化周波数に
よりサンプリングしてディジタル信号を生成する標本化
部と、前記サンプリングにより生成したディジタル信号
を高速フーリェ変換の演算によりベクトル信号を生成す
るＦＦＴ演算部と、前記演算されたベクトル信号に基づ
いて前記交流電圧又は電流信号に重畳された高調波のデ
ータを演算する高調波演算部と、前記演算された高調波
のデータを予め設定された所定個数を格納する記憶部
と、前記格納された高調波のデータについて当該高調波
データの所定個数に相当する数以下の数で移動平均を演
算する移動平均演算部とを備え、前記移動平均された高
調波のデータに基づいて前記交流電圧又は電流信号に重
畳された高調波を計測するものである。このように本発
明においては、標本化部で交流電圧又は電流信号をサン
プリングしてディジタル信号を生成し、ＦＦＴ演算部で
ディジタル信号からベクトル信号を演算し、高調波演算
部がベクトル信号から高調波のデータを演算し、この高
調波のデータを記憶部に所定の個数だけ格納し、この所
定個数の高調波のデータを移動平均演算部が移動平均を
演算することから、時々刻々急峻に変化する高調波を記
憶部に格納する高調波のデータの所定個数に応じた平均
化ができることとなり、実質的に障害を発生することと
なる高調波を識別でき、高調波解析をより詳細且つリア
ルタイムに計測できる。

【００１６】また、本発明に係る高調波計測装置は必要
に応じて、ＦＦＴ演算部と高調波演算部と移動平均演算
部との各演算に要する総和時間に相当する時間内に、前
記標本化部で生成されるディジタル信号を格納する標本
化記憶部とを備え、前記標本化記憶部に格納されたディ
ジタル信号を前記ＦＦＴ演算部へ出力するものである。
このように本発明においては、標本化部で生成されたデ
ィジタル信号を標本化記憶部に格納し、この格納したデ
ィジタル信号をＦＦＴ演算部へ出力するようにしている
ので、標本化部によるサンプリングとＦＦＴ演算部以降
の各種演算とを同時に並行して実行できることとなり、
高調波の識別をよりリアルタイムで計測できる。

【００１７】また、本発明に係る高調波計測装置は必要
に応じて、高調波演算部が予め設定された各次数の高調
波における電圧若しくは電流の各値、当該電圧及び電流
の各位相差又は高調波含有率若しくは総合歪み率につい
て演算するものである。このように本発明においては、
高調波の電圧・電流、位相差、高調波含有率又は総合歪
み率を適宜選択して演算するようにしているので、この
演算結果に基づいて高調波の状態をより詳細且つ選択的
に計測できる。

【００１８】また、本発明に係る高調波計測装置は必要
に応じて、移動平均された高調波のデータに基づいて高
調波の状態を表示する表示部を備えるものである。この
ように本発明においては、移動平均された高調波のデー
タを表示部に表示するようにしているので、計測者が目
視により高調波の発生状態を容易に確認できると共に、
正確に識別できる。

【００１９】

【発明の実施の形態】

（本発明の第１の実施形態）以下、本発明の第１の実施
形態に係る高調波計測装置を図１に基づいて説明する。
この図１は第１の実施形態に係る高調波計測装置のブロ
ック回路構成図である。

【００２０】同図において本実施形態に係る高調波計測
装置は、高圧電線路１００に印加される交流電圧を分圧
手段を用いた電圧センサ（図略）を接続し、その出力を
取り込み所定の標本化周波数によりサンプリングしてデ
ィジタル信号を生成する標本化部１と、このサンプリン
グにより生成したディジタル信号を高速フーリェ変換の
演算によりベクトル信号を生成するＦＦＴ演算部３と、
この演算されたベクトル信号に基づいて前記交流電圧に
重畳された高調波のデータを演算する高調波演算部４
と、この演算された高調波のデータを予め設定された所
定個数を格納する記憶部５と、この高調波のデータにつ
いてこの高調波データの格納された所定個数に相当する
数以下の数で移動平均を演算する移動平均演算部６とを
備え、この移動平均された高調波のデータに基づいて前
記交流電圧に重畳された高調波を計測する構成である。

【００２１】次に、前記構成に基づく本実施形態に係る
高調波計測装置の計測動作について説明する。前記従来
装置と同様に標本化部１が交流電圧の入力波形をアナロ
グ−ディジタル変換して量子化し、このディジタル信号
をＦＦＴ演算部３がベクトル信号に換算し、このベクト
ル信号に基づいて高調波演算部４が高調波に関する各種
のデータを演算して記憶部５に格納する。

【００２２】この記憶部５に格納された高調波に関する
各種のデータが所定の個数だけ格納されると、この格納
された所定個数の高調波に関するデータが移動平均演算
部６に読出されて移動平均の演算処理が実行されて出力
される。また、この移動平均演算部６に読出される毎
に、記憶部５はＦＩＦＯ（First In First Out）方式に
より高調波演算部４から順次出力される高調波に関する
データが格納されて出力される。このデータの格納は、
記憶部５に格納される所定個数の高調波に関するデータ
のうち最先に格納（書込）されたデータに最新のデータ
を順次書換るように格納することもできる。

【００２３】このようにして移動平均演算部６で演算処
理された移動平均後の高調波のデータに基づいて計測者
は、高圧電線路１００に印加される交流電圧に重畳され
る高調波のうち障害を発生させ、又は悪影響を及ぼす高
調波を識別できる。即ち、この移動平均後の高調波のデ
ータを用いることにより、簡単なフィルタ効果と同様な
データ処理を行なうこととなり、不必要な周波数成分が
除去され、障害の発生又は悪影響を与える高調波の変化
をより正確且つ容易に認識できることとなる。

【００２４】（本発明の第２の実施形態）図２及び図３
に基づいて本発明の第２の実施形態に係る高調波計測装
置について説明する。この図２は本実施形態に係る高調
波計測装置のブロック回路構成図、図３は図２に記載の
高調波計測装置の計測動作フローチャートである。

【００２５】前記各図において本実施形態に係る高調波
計測装置は、前記図４に記載の従来装置と同様に標本化
部１、ＦＦＴ演算部３、高調波演算部４、記憶部５（図
４中においては５０に相当）、表示制御部７及び表示部
８を共通して備え、この構成に加え、前記記憶部５と表
示制御部７との間に移動平均演算部６が接続されると共
に、標本化部１とＦＦＴ演算部３との間に標本化記憶部
２が接続される構成である。

【００２６】また、前記記憶部５は、図４中の記憶部５
０とはその記憶容量を異にし、この記憶容量が少なくと
も前記移動平均演算部６の移動平均に用いるデータの数
に対応する記憶領域を有するものであれば足りる。前記
標本化記憶部２は、ＦＦＴ演算部３及び高調波演算部４
の各演算に要する総和時間（Ｔ₁₂、Ｔ₂₂・・・）に相当
する時間（Ｔ₁₁、Ｔ₂₁、Ｔ₃₁・・・）内に標本化部１が
サンプリングする全ディジタル信号を格納できる容量の
記憶領域を備える構成である。

【００２７】前記移動平均演算部６は、高調波演算部４
の電力演算回路４１で演算された高調波の電圧又は電流
が第１のメモリ５１を介して入力され、この高調波の電
圧又は電流に対して移動平均を演算する第１の移動平均
部６１と、高調波演算部４の位相演算回路４２で演算さ
れた高調波の電圧及び電流の位相差が第２のメモリ５２
を介して入力され、この位相差に対して移動平均を演算
する第２の移動平均部６２、と高調波演算部４の高調波
率演算回路４３で演算された高調波含有率（又は、総合
歪み率）が第３のメモリ５３を介して入力され、この高
調波含有率（又は、総合歪み率）に対して移動平均を演
算する第３の移動平均部６３とを備える構成である。

【００２８】次に、前記構成に基づく本実施形態に係る
高調波計測装置における高調波の計測動作について図６
（Ｂ）を参照して説明する。まず、高圧電線路１００に
送電される交流電圧が限流ヒューズ１０１及び計器用変
圧器１０２を介して分岐して標本化部１に入力され、こ
の入力された交流電圧の入力波形（アナログ信号）が予
め設定された標本化周波数によりサンプリングされて量
子化されたディジタル信号を生成する（ステップ１）。
この標本化部１においてディジタル信号に生成される交
流電圧の交流周期のうちのゼロクロス点以外の点を始点
としてサンプリングが行なわれる場合に、サンプリング
データであるディジタル信号について時間窓関数の処理
を実行する（ステップ２）。

【００２９】この生成されたディジタル信号（又は、時
間窓関数処理されたディジタル信号）はサンプリング時
間Ｔ₁₁（又はＴ₂₁、Ｔ₃₁・・・）の間に順次標本化記憶
部２に格納される（ステップ３）。この格納されたディ
ジタル信号（又は、時間窓関数処理されたディジタル信
号）がＦＦＴ演算部３へ入力されこのＦＦＴ演算部３は
前記ディジタル信号をＦＦＴ演算して高調波における各
次数毎の実数部と虚数部との各ベクトル信号を生成する
（ステップ４）。この各次数の高調波毎に生成された各
ベクトル信号が高調波演算部４へ入力されて高調波に関
する各種のデータを演算する（ステップ５、ステップ７
及びステップ９）。

【００３０】この周波数演算部４において前記各ベクト
ル信号が電力演算回路４１及び位相演算回路４２へ各々
入力され、この電力演算回路４１は前記各ベクトル信号
に基づいて各次数の高調波毎に電圧及び電流の各値を演
算する（ステップ５）。この演算された各次数毎の高調
波における電圧及び電流の各値が第１のメモリ５１に格
納され、この第１のメモリ５１は後段の第１の移動平均
部６１で予め設定された移動平均のデータ数に対応する
数の高調波における電圧及び電流の各値を順次格納する
（ステップ６）。この格納された電圧及び電流の各値が
第１の移動平均部６１により読出され、この第１の移動
平均部６１は高調波における電圧及び電流について移動
平均の演算処理を実行する（ステップ７）。

【００３１】前記ステップ５ないしステップ７と並行し
て処理され、前記位相演算回路４２は、前記ベクトル信
号に基づいて各次数の高調波毎に各指定次数の電圧及び
電流における各実数部、虚数部の各データにより、この
高調波の電圧と電流との各位相差を演算する（ステップ
８）。この演算された各次数毎の高調波における電圧と
電流の各位相差が第２のメモリ５２に格納され、この第
２のメモリ５２は後段の第２の移動平均部６２で予め設
定された移動平均のデータ数に対応する数の高調波にお
ける電圧と電流との位相差を順次格納する（ステップ
９）。この格納された電圧と電流との各位相差が第２の
移動平均部６２により読出され、この第２の移動平均部
６２は高調波における電圧と電流との位相差について移
動平均の演算処理を実行する（ステップ１０）。

【００３２】前記ステップ５で演算された各次数の高調
波毎に演算された電圧及び電流の各値が高調波率演算回
路４３に入力され、この高調波率演算回路４３は各次数
の高調波の比率を高調波含有率をして演算すると共に、
全次数の高調波全体の総合歪み率を演算する（ステップ
１１）。この演算された高調波含有率及び総合歪み率が
第３のメモリ５３に格納され、この第３のメモリ５３は
後段の第３の移動平均部６３で予め設定された移動平均
のデータ数に対応する数の高調波における高調波含有率
及び総合歪み率の各値を順次格納する（ステップ１
２）。この格納された高調波含有率及び総合歪み率の各
値が第３の移動平均部６３により読出され、この第３の
移動平均部６３は高調波における高調波含有率及び総合
歪み率について移動平均の演算処理を実行する（ステッ
プ１３）。

【００３３】前記ステップ７、１０、１３により各々演
算された移動平均処理後の各次数の高調波毎の電圧及び
電流と、この電圧及び電流の位相差と、高調波含有率及
び総合歪み率とが表示制御部７に入力され、この表示制
御部７は前記移動平均処理された高調波の各データに基
づいて高調波に関連する各種の状態を表示部８へ表示す
る（ステップ１４）。

【００３４】前記図６（Ｂ）に示すように標本化部１の
サンプリング演算処理は所定のサンプリング時間Ｔ₁₁、
Ｔ₂₁、Ｔ₃₁・・・に区切って連続的に実行され、このサ
ンプリング時間Ｔ₁₁（又は、Ｔ₂₁、Ｔ₃₁・・・）により
生成されるディジタル信号が次のサンプリング時間Ｔ₂₁
（又は、Ｔ₃₁、Ｔ₄₁・・・）に対応する演算時間Ｔ
₁₂（又は、Ｔ₂₂、Ｔ₃₂・・・）においてＦＦＴ演算部３
及び高調波演算部４の各演算が実行される。このように
標本化部１のサンプリング処理と、ＦＦＴ演算部３及び
高調波演算部４の各演算とが並行して処理されることと
なる。

【００３５】即ち、標本化部１のサンプリング処理Ｎ
Ｏ．１、ＮＯ．２、ＮＯ．３・・・とＦＦＴ演算部３及
び高調波演算部４の演算とが各々１対となって演算１周
期を形成し、この演算１周期が周期時間Ｔ₁、Ｔ₂・・・
とすると、この周期時間Ｔ₁・Ｔ₂、周期時間Ｔ₂・Ｔ₃・
・・とが各々重複した状態で処理される。このようにサ
ンプリング処理と高調波データの演算とを並行して実行
しているので、高圧電線路１００に印加される交流電圧
に重畳される高調波の状態をリアルタイムで確実且つ容
易に確認することができる。

【００３６】なお、前記実施形態においては高調波毎の
電圧及び電流、この位相差、高調波含有率及び総合歪み
率に基づいて高調波の各種状態を計測する構成とした
が、いづれか１つ又は複数を任意に選択して演算し、こ
の選択された高調波のデータに基づいて高調波の特定の
状態を分析して高調波を計測することができる。

【００３７】また、前記各実施形態においては高調波の
各データに基づいて高調波の状態を表示部８に表示する
構成としたが、印字等によるプリントアウトの形成で高
調波の各種状態を出力することもできる。

【００３８】また、前記各実施形態においては交流電圧
に重畳される高調波を計測する構成としたが、電流に重
畳される高調波で計測する構成とすることもできる。こ
の場合には高圧電線路１００から計器用変流器あるい
は、電流センサを介して電流を取り込みこの電流につい
て前記実施形態と同様に実行できる。

【００３９】

【発明の効果】以上のように本発明においては、標本化
部で交流電圧又は電流信号をサンプリングしてディジタ
ル信号を生成し、ＦＦＴ演算部でディジタル信号からベ
クトル信号を演算し、高調波演算部がベクトル信号から
高調波のデータを演算し、この高調波のデータを記憶部
に所定の個数だけ格納し、この所定個数の高調波のデー
タを移動平均演算部が移動平均を演算することから、時
々刻々急峻に変化する高調波を記憶部に格納する高調波
のデータの所定個数に応じた平均化ができることとな
り、実質的に障害を発生することとなる高調波を識別で
き、高調波解析をより詳細且つリアルタイムに計測でき
るという効果を奏する。また、本発明においては、標本
化部で生成されたディジタル信号を標本化記憶部に格納
し、この格納したディジタル信号をＦＦＴ演算部へ出力
するようにしているので、標本化部によるサンプリング
とＦＦＴ演算部以降の各種演算とを同時に並行して実行
できることとなり、高調波の識別をよりリアルタイムで
計測できるという効果を有する。また、本発明において
は、高調波の電圧・電流、位相差、高調波含有率又は総
合歪み率を適宜選択して演算するようにしているので、
この演算結果に基づいて高調波の状態をより詳細且つ選
択的に計測できるという効果を有する。また、本発明に
おいては、移動平均された高調波のデータを表示部に表
示するようにしているので、計測者が目視により高調波
の発生状態を容易に確認できると共に、正確に識別でき
るという効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施形態に係る高調波計測装置
のブロック回路構成図である。

【図２】本発明の第２の実施形態に係る高調波計測装置
のブロック回路構成図である。

【図３】図２に記載の高調波計測装置の計測フローチャ
ートである。

【図４】従来の高調波計測装置のブロック回路構成図で
ある。

【図５】図４に記載の従来装置の動作フローチャートで
ある。

【図６】（Ａ）従来の高調波計測装置のサンプリング動
作と高調波演算動作とのタイミングチャートである。（Ｂ）図２に記載の高調波計測装置のサンプリング動作
と高調波演算動作とのタイミングチャートである。

【符号の説明】

１標本化部２標本化記憶部３ＦＦＴ演算部４高調波演算部５、５０記憶部６移動平均演算部７表示制御部８表示部４１電力演算回路４２位相演算回路４３高調波率演算回路５１第１のメモリ５２第２のメモリ５３第３のメモリ６１第１の移動平均部６２第２の移動平均部６３第３の移動平均部１００高圧電線路１０１限流ヒューズ１０２計器用変圧器

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】交流電圧又は電流信号を所定の標本化周
波数によりサンプリングしてディジタル信号を生成する
標本化部と、前記サンプリングにより生成したディジタル信号を高速
フーリェ変換の演算によりベクトル信号を生成するＦＦ
Ｔ演算部と、前記演算されたベクトル信号に基づいて前記交流電圧又
は電流信号に重畳された高調波のデータを演算する高調
波演算部と、前記演算された高調波のデータを予め設定された所定個
数を格納する記憶部と、前記格納された高調波のデータについて当該高調波デー
タの所定個数に相当する数以下の数で移動平均を演算す
る移動平均演算部とを備え、前記移動平均された高調波のデータに基づいて前記交流
電圧又は電流信号に重畳された高調波を計測することを
特徴とする高調波計測装置。
【請求項２】前記請求項１に記載の高調波計測装置に
おいて、前記ＦＦＴ演算部と高調波演算部と移動平均演算部との
各演算に要する総和時間に相当する時間内に、前記標本
化部で生成されるディジタル信号を格納する標本化記憶
部を備え、前記標本化記憶部に格納されたディジタル信号を前記Ｆ
ＦＴ演算部へ出力することを特徴とする高調波計測装
置。
【請求項３】前記請求項１又は２に記載の高調波計測
装置において、前記高調波演算部が予め設定された各次数の高調波にお
ける電圧若しくは電流の各値、当該電圧及び電流の各位
相差又は高調波含有率若しくは総合歪み率について演算
することを特徴とする高調波計測装置。
【請求項４】前記請求項１ないし３のいづれかに記載
の高調波計測装置において、前記移動平均された高調波のデータに基づいて高調波の
状態を表示する表示部を備えることを特徴とする高調波
計測装置。