JPH10339627A - 測定器 - Google Patents

測定器

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JPH10339627A
JPH10339627A JP9152104A JP15210497A JPH10339627A JP H10339627 A JPH10339627 A JP H10339627A JP 9152104 A JP9152104 A JP 9152104A JP 15210497 A JP15210497 A JP 15210497A JP H10339627 A JPH10339627 A JP H10339627A
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Mitsutoyo Kiko Co Ltd
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Mitutoyo Corp
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    • G01B3/22Feeler-pin gauges, e.g. dial gauges
    • GPHYSICS
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  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 軽量化が図れるとともに、それに伴う課題
(固定側検出素子と可動側検出素子のギャップが変動す
る点)を解消できる測定器を提供する。 【解決手段】 スピンドルを移動可能に支持した本体ケ
ースに、固定側検出素子31を有する電装基板32を固
定するとともに、合成樹脂製のスケールホルダ34をガ
イド33を介してスピンドルと同期して移動可能に設
け、このスケールホルダ34に可動側検出素子35を有
するスケール36を数箇所で接着固定する。つまり、ス
ケール36の裏面に突起51を接着層を介して固定し、
この突起51をスケールホルダ34に形成された収納孔
46内に収納した状態において、周方向に接着層を介し
て接着する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、スピンドルの移動
変位量から被測定物の長さや厚みなどを測定する測定器
に関する。詳しくは、スピンドルの移動変位量を固定側
検出素子と可動側検出素子とを有する検出手段によって
検出する構造において、可動側検出素子の取付構造に関
する。
【0002】
【背景技術】本体と、この本体に移動可能に設けられた
スピンドルと、前記本体に固定された固定側検出素子お
よびこの固定側検出素子に所定のギャップを隔てて対向
配置され前記スピンドルと同期して同方向へ移動する可
動側検出素子を含み、両検出素子の相対移動変位量を電
気的信号として検出する検出手段とを備えた測定器が知
られている。
【0003】たとえば、本体に移動可能に設けられたス
ピンドルの移動変位量を、本体に設けられた固定側検出
素子(投受光部や電極など)およびこれと所定のギャッ
プを隔てて対向配置され前記スピンドルと同期して同方
向へ移動する可動側検出素子(光学格子や電極など)を
有するスケールとを有する光学式、静電容量式などの検
出手段によって電気的信号として検出し、これをデジタ
ル表示するようにしたデジタル表示式ダイヤルゲージが
知られている。
【0004】従来、この種の測定器では、固定側検出素
子と可動側検出素子とのギャップが変動すると、ミスカ
ウントが発生し安定した高精度な測定が実現できないこ
とから、各部品の加工寸法誤差を吸収しながら組み立て
できる構造が採られている。具体的には、本体に固定側
検出素子を固定するとともに、金属製のスケールホルダ
をスピンドルに一体的に固定、あるいは、金属製のスケ
ールホルダを本体に移動可能に設け、このスケールホル
ダをスプリングなどによってスピンドルの端部に常時当
接するように付勢して、スケールホルダをスピンドルと
同期して同方向へ移動できるようにし、このスケールホ
ルダの略全面に接着層を介して可動側検出素子を有する
スケールを接着固定するようにしていた。これにより、
各部品の加工寸法誤差を接着層によって吸収しながら、
固定側検出素子と可動側検出素子とのギャップが一定に
なるように組み立てていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の構造で
は、スケールホルダが金属製であるため、形状精度が出
しやすく、かつ、剛性が高い利点がある反面、重量が重
く、手で持ちながら測定を行う測定器、たとえば、ダイ
ヤルゲージなどでは携帯性や操作性の点で不利になると
いう欠点があった。
【0006】このような欠点を解消するために、スケー
ルホルダを軽量化すること、たとえば、スケールホルダ
を合成樹脂製にすることが考えられる。しかし、スケー
ルホルダを合成樹脂製にすると、そのスケールホルダの
全面に接着層を介して可動側検出素子を有するスケール
を固定したとき、接着層が硬化するときの収縮によっ
て、スケールホルダに反りが発生し、その結果、スケー
ルにも反りが発生して、固定側検出素子と可動側検出素
子とのギャップが変動し、精度確保が困難になる。
【0007】また、固定側検出素子と可動側検出素子と
のギャップが一定になるように組み立てることができた
としても、接着層の接着剤は、温度サイクルや湿度変化
を履歴するたびに、膨張、収縮を繰り返して、その結
果、残留する内部応力によって、接着された可動側検出
素子の表面状態を変化させ、製品精度の劣化を生じさせ
る。
【0008】本発明の目的は、このような従来の欠点を
解消し、軽量化を達成できるとともに、それに伴う課題
を解消できる測定器を提供することにある。つまり、部
品の加工寸法誤差を吸収しながら、固定側検出素子と可
動側検出素子とのギャップを一定に確保でき、かつ、接
着層の収縮による影響を受けることが少ない測定器を提
供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の測定器は、本体
と、この本体に移動可能に設けられたスピンドルと、前
記本体に固定された固定側検出素子およびこの固定側検
出素子に所定のギャップを隔てて対向配置され前記スピ
ンドルと同期して同方向へ移動する可動側検出素子を含
み、両検出素子の相対移動変位量を電気的信号として検
出する検出手段とを備えた測定器において、前記スピン
ドルの移動に同期して移動する合成樹脂からなるホルダ
が設けられ、このホルダに前記可動側検出素子が数箇所
で接着固定されていることを特徴とする。
【0010】上記構成によれば、ホルダが合成樹脂によ
って構成されているので、金属製のホルダに比べ重量を
軽量化できる。よって、携帯性や操作性の向上が期待で
きる。また、そのホルダに可動側検出素子が数箇所で接
着固定されているから、全面が接着層を介して接着され
たものに比べ、可動側検出素子が接着層の収縮、膨張に
よる影響を受けることが少なくなるから、部品の加工寸
法誤差を吸収しながら、固定側検出素子と可動側検出素
子とのギャップを一定に確保でき、かつ、そのギャップ
を長期間安定して維持することができる。
【0011】ここで、ホルダに可動側検出素子を数箇所
で接着固定するにあたっては、たとえば、可動側検出素
子の固定側検出素子と対向する面とは反対側面に複数の
突起を設けるとともに、ホルダの各突起と対応する位置
にその突起が収納される収納孔を設け、この各収納孔内
に各突起が挿入された状態で周方向に接着層を介して接
着するのがよい。
【0012】このようにすれば、ホルダに設けられた収
納孔に可動側検出素子の突起が収納され、その突起の周
方向に接着層を介して接着されているから、可動側検出
素子を突起の突出方向へ変位させながら、固定側検出素
子と可動側検出素子とのギャップを調整することができ
るから、接着層の厚みを厚くしなくても調整範囲を大き
くとることができる。つまり、部品の加工寸法誤差が比
較的大きくなってもそれを吸収できる。また、突起の周
方向に接着層を介して接着されているから、接着層の収
縮、膨張による影響を少なくできる。
【0013】また、上記構成において、各突起は、可動
側検出素子の固定側検出素子と対向する面とは反対側面
に一体的に突設してもよいが、別体として構成し、これ
を接着層を介して接着するようにしてもよい。このよう
にすれば、可動側検出素子を簡単に構成することができ
るとともに、可動側検出素子と突起との間の接着層によ
っても、各部品の加工寸法誤差を吸収することができ
る。
【0014】また、上記構成において、ホルダは、スピ
ンドルと一体的に設けてもよいが、スピンドルとは別体
として構成し、本体に設けられた合成樹脂からなるガイ
ドを介して移動可能に保持するようにしてもよい。この
場合、これらのホルダおよびガイドは、同材質の合成樹
脂によって成形してもよく、あるいは、異質の合成樹脂
によって成形してもよい。
【0015】たとえば、ホルダおよびガイドを同材質の
合成樹脂とする場合には、ガラス含有ナイロン系ポリア
ミド樹脂が好ましい。ガラス含有ナイロン系ポリアミド
樹脂とすれば、硬度および強度が高いため、ガイドに対
するホルダの摺動性を長期間に渡り維持することができ
る。また、ホルダおよびガイドを異質の合成樹脂とする
場合には、ホルダはナイロン系ポリアミド樹脂、ガイド
はポリアセタール樹脂が好ましい。このようにすれば、
ガラス含有ナイロン系ポリアミド樹脂でホルダおよびガ
イドを成形した場合に比べ、硬度、強度的に略同じであ
りながら、成形がしやすい、反り返りが少ないなどのメ
リットがあり、製造コストを低減できる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
に基づいて説明する。図1は本実施形態に係るダイヤル
ゲージの斜視図を、図2はその断面図をそれぞれ示して
いる。これらの図に示すように、本実施形態のダイヤル
ゲージは、本体としての縦長箱状の本体ケース11と、
この本体ケース11の下部壁にステム12を介して軸方
向へ移動可能に設けられたスピンドル13と、このスピ
ンドル13の移動変位量を検出する検出手段14と、こ
の検出手段14で検出されたスピンドル13の移動変位
量(つまり、測定値)をデジタル表示するデジタル表示
器15とから構成されている。
【0017】前記スピンドル13は、下端に被測定物に
当接する測定子21を有し、上端に回り止めピン22を
備えている。回り止めピン22は、前記本体ケース11
内にスピンドル13の軸方向に沿って形成されたガイド
溝23内に摺動自在に挿入されている。これにより、ス
ピンドル13は、回転することなく、軸方向へのみ移動
できるようになっている。
【0018】前記検出手段14は、図2および図3に示
すように、前記本体ケース11内に前記スピンドル13
の軸方向に沿って固定されかつ固定側検出素子31を有
する電装基板32と、この電装基板32に数本の止めね
じを介して固定されたガイド33と、前記電装基板32
とガイド33との間の空間内に前記スピンドル13の移
動方向と同方向へ移動可能に設けられたスケールホルダ
34と、このスケールホルダ34に前記固定側検出素子
31に対して所定のギャップGを隔てて対向配置された
可動側検出素子35を有するスケール36とから構成さ
れている。ここで、固定側検出素子31としては投受光
部IC、可動側検出素子35としては光学格子で、両検
出素子31、35の相対移動変位量を光学的に検出する
光学式検出手段14を構成している。
【0019】前記ガイド33は、前記電装基板32の固
定側検出素子31を挟んだ両側に固定された一対の第1
ガイド片37と、この一対の第1ガイド片37間に掛け
渡された平板状の第2ガイドプレート38とから構成さ
れている。これらは、合成樹脂、ここでは、ガラスを3
0%含有したガラス含有ナイロン系ポリアミド樹脂によ
って成形されている。各第1ガイド片37の内端面には
前記スケールホルダ34の両側をガイドする上下一対の
突部39が、第2ガイドプレート38の内端面には前記
スケールホルダ34の背面に当接する上下一対の突部4
0が、それぞれ設けられている。
【0020】前記スケールホルダ34は、前記ガイド3
3と同じ材料の合成樹脂によって成形され、かつ、下端
面に前記スピンドル13の上端に当接する当接子41
を、裏面に係止ピン42をそれぞれ備えている。係止ピ
ン42には、前記当接子41がスピンドル13の上端に
常時当接する方向へスケールホルダ34を付勢するスプ
リング43(図2参照)が係止されている。また、スケ
ールホルダ34の正面、つまり、固定側検出素子31と
対向する面には、スケール36を収納するための凹部4
4が形成されているとともに、その両側に前記電装基板
32の両側に当接する上下一対の突部45が設けられて
いる。凹部44内の上下部には収納孔46が貫通形成さ
れている。
【0021】前記スケール36は、図4にも示すよう
に、裏面(固定側検出素子31と対向する面とは反対側
面)の前記収納孔46と対応する位置に一対の突起51
を備えている。各突起51は、前記スケール36の裏面
に接着層52を介して接着され、かつ、前記スケールホ
ルダ34の収納孔46内に挿入された状態において、周
方向に接着層53を介して接着されている。つまり、ス
ケール36は、スケールホルダ34に2箇所(突起51
の2箇所)で接着固定されている。このとき、図4に示
すように、治具61を用いて、突部45の先端からスケ
ール36の表面までの距離、つまり、固定側検出素子3
1と可動側検出素子35との距離が所定のギャップGに
なるように調整される。
【0022】従って、本実施形態によれば、スケールホ
ルダ34を合成樹脂によって成形したので、金属製の場
合に比べ、ダイヤルゲージ全体の重量を軽量化できる。
よって、携帯性や操作性を向上させることができる。
【0023】また、スケールホルダ34の2箇所でスケ
ール36を接着固定したので全面が接着層を介して接着
されたものに比べ、可動側検出素子35が接着層の収
縮、膨張による影響を受けることが少なくなるから、部
品の加工寸法誤差を吸収しながら、固定側検出素子31
と可動側検出素子35とのギャップGを一定に確保で
き、かつ、そのギャップGを長期間安定して維持するこ
とができる。
【0024】また、スケールホルダ34に可動側検出素
子35を有するスケール36を接着固定するにあたって
は、スケール36の裏面に一対の突起51を設け、この
各突起51をスケールホルダ34に形成した収納孔46
内に挿入し、その状態において、周方向に接着層53を
介して接着したので、スケール36を突起51の突出方
向へ変位させながら、固定側検出素子31と可動側検出
素子35とのギャップGを調整することができるから、
接着層53の厚みを厚くしなくても調整範囲を大きくと
ることができる。つまり、部品の加工寸法誤差が比較的
大きくなってもそれを吸収できる。また、突起51の周
方向に接着層53を介して接着されているから、接着層
53の収縮、膨張による影響を少なくできる。
【0025】また、各突起51は、スケール36の裏面
に接着層52を介して接着されているから、スケール3
6の製作を簡単にできるとともに、スケール36と突起
51との間の接着層52によっても、各部品の加工寸法
誤差を吸収することができる。
【0026】また、電装基板32にガイド33を固定
し、この電装基板32とガイド33との空間にスケール
ホルダ34を移動自在に収納した構成において、これら
のスケールホルダ34およびガイド33を、ガラス含有
ナイロン系ポリアミド樹脂によって成形したので、ガイ
ド33に対するスケールホルダ34の摺動性を長期間に
渡り維持することができる。つまり、ガラス含有ナイロ
ン系ポリアミド樹脂は、硬度および強度が高いため、ガ
イド33に対するスケールホルダ34の摺動性を長期間
に渡り維持することができる。
【0027】なお、上記実施形態では、スケールホルダ
34をスピンドル13とは別体として構成したが、スケ
ールホルダ34をスピンドル13に直接一体的に固定す
るよにしてもよい。このようにした場合には、ガイド3
3を不要にできる。また、上記実施形態では、スケール
36の裏面に突起51を接着層52を介して接着した
が、予めスケール36の裏面に突起51を一体的に成形
するよにしてもよい。このよにすれば、スケール36の
裏面に突起51を接着層52を介して接着する作業を不
要にできる。
【0028】また、上記実施形態では、スケールホルダ
34およびガイド33をガラス含有ナイロン系ポリアミ
ド樹脂によって成形したが、これに限らず、他の合成樹
脂でもよい。たとえば、ポリアセタール、ポリブチレン
テレフタレートなどでもよい。また、スケールホルダ3
4およびガイド33を異質な合成樹脂で成形するように
してもよい。この場合には、スケールホルダ34をナイ
ロン系ポリアミド樹脂、ガイド33をポリアセタール樹
脂とするのがよい。このようにすれば、ガラス含有ナイ
ロン系ポリアミド樹脂でスケールホルダ34およびガイ
ド33を成形した場合に比べ、硬度、強度的に略同じで
ありながら、成形がしやすい、反り返りが少ないなどの
メリットがあり、製造コストを低減できる。
【0029】また、上記実施形態では、光学式の検出手
段14を用いたが、これに限らず、たとえば、静電容量
式の検出手段であってもよい。また、上記実施形態で
は、ダイヤルゲージに適用した例について説明したが、
これに限らず、スピンドルの移動変位量を固定側検出素
子と可動側検出素子とで検出するタイプの測定器全般に
適用することができる。
【0030】
【発明の効果】本発明の測定器によれば、軽量化を達成
できるとともに、それに伴う課題を解決できる。つま
り、部品の加工寸法誤差を吸収しながら、固定側検出素
子と可動側検出素子とのギャップを一定に確保でき、か
つ、接着層の収縮による影響を受けることが少ないなど
の効果が期待できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる測定器の一実施形態を示す斜視
図である。
【図2】同上実施形態の断面図である。
【図3】同上実施形態の検出手段を示す分解斜視図であ
る。
【図4】同上実施形態のスケールホルダとスケールとの
接着状態を示す断面図である。
【符号の説明】
11 本体ケース(本体) 13 スピンドル 14 検出手段 31 固定側検出素子 33 ガイド 34 スケールホルダ(ホルダ) 35 可動側検出素子 46 収納孔 51 突起 52 接着層 53 接着層

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 本体と、この本体に移動可能に設けられ
    たスピンドルと、前記本体に固定された固定側検出素子
    およびこの固定側検出素子に所定のギャップを隔てて対
    向配置され前記スピンドルと同期して同方向へ移動する
    可動側検出素子を含み、両検出素子の相対移動変位量を
    電気的信号として検出する検出手段とを備えた測定器に
    おいて、 前記スピンドルの移動に同期して移動する合成樹脂から
    なるホルダが設けられ、 このホルダに前記可動側検出素子が数箇所で接着固定さ
    れていることを特徴とする測定器。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の測定器において、前記
    可動側検出素子の前記固定側検出素子と対向する面とは
    反対側面には複数の突起が設けられているとともに、前
    記ホルダの前記各突起と対応する位置にはその突起が収
    納される収納孔が設けられ、この各収納孔内に各突起が
    挿入されかつ周方向に接着層を介して接着されているこ
    とを特徴とする測定器。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の測定器において、前記
    各突起は、前記可動側検出素子の前記固定側検出素子と
    対向する面とは反対側面に接着層を介して接着されてい
    ることを特徴とする測定器。
  4. 【請求項4】 請求項1〜請求項3のいずれかに記載の
    測定器において、前記ホルダは、前記本体に設けられた
    合成樹脂からなるガイドを介して移動可能に保持されて
    いることを特徴とする測定器。
  5. 【請求項5】 請求項4に記載の測定器において、前記
    ホルダおよびガイドは、ガラス含有ナイロン系ポリアミ
    ド樹脂によって成形されていることを特徴とする測定
    器。
  6. 【請求項6】 請求項4に記載の測定器において、前記
    ホルダはナイロン系ポリアミド樹脂によって成形され、
    前記ガイドはポリアセタール樹脂によって成形されてい
    ることを特徴とする測定器。
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DE69818349T DE69818349T2 (de) 1997-06-10 1998-06-03 Messinstrument
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008537690A (ja) * 2005-03-16 2008-09-25 エイドスメド エルエルシー 外科用深さ測定器

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1111346A3 (en) 1999-11-30 2003-10-22 RENISHAW plc Device for holding a measurement scale
DE10059308A1 (de) * 2000-11-29 2002-06-13 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Verfahren zur Montage eines Längenmessgerät und entsprechendes Längenmessgerät
US6711828B2 (en) * 2001-12-05 2004-03-30 First Data Corporation Warpage measurement system and methods
US6834439B2 (en) * 2002-05-21 2004-12-28 Mitutoyo Corporation Measuring tool, encoder and producing method of encoder
JP4477442B2 (ja) * 2004-07-20 2010-06-09 株式会社ミツトヨ リニアスケール固定装置及び固定方法
US8448346B2 (en) * 2010-10-06 2013-05-28 United Fastener & Supply LLC Trigger assembly for parts checking jigs and the like
CN102455159A (zh) * 2010-10-20 2012-05-16 苏州红呈木业有限公司 木地板测厚装置
CN103217085B (zh) * 2013-03-06 2016-06-01 李丽娟 一种具有基准面的卡尺尺框及卡尺尺框基准面的形成方法
CN105737780A (zh) * 2016-04-29 2016-07-06 重庆长安汽车股份有限公司 车身主拼夹具到位检测结构及检测方法
US9726962B1 (en) 2016-04-29 2017-08-08 Microsoft Technology Licensing, Llc Enhanced camera module mount
CN106989712B (zh) * 2017-06-06 2018-03-27 长春晟博光学技术开发有限公司 一种高精度自复位探针式位移测量装置及测量方法
IT201800004218A1 (it) * 2018-04-05 2019-10-05 Micrometro elettronico a lettura ottica

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US35263A (en) * 1862-05-13 Office
IT1088539B (it) * 1976-12-24 1985-06-10 Rolls Royce Sonda per l'uso in apparecchi di misura
JPS58148604U (ja) * 1982-03-31 1983-10-05 株式会社ミツトヨ デジタル表示型マイクロメ−タヘツド
JPS59170701A (ja) * 1983-03-16 1984-09-27 Mitsutoyo Mfg Co Ltd デジタル表示式寸法測定器
JPS6332315A (ja) * 1986-07-25 1988-02-12 Mitsutoyo Corp デジタル表示型測定器
JPH087054B2 (ja) * 1990-10-22 1996-01-29 株式会社ミツトヨ 変位検出器
US5125165A (en) * 1990-11-28 1992-06-30 Mitutoyo Corporation Precision linear measuring device having an improved spindle mounting device
US5172485A (en) * 1991-10-17 1992-12-22 Mitutoyo Corporation Precision linear measuring suspension system having sliding contact between the scale and the pick-off
US5570551A (en) * 1995-08-24 1996-11-05 Koc, Sr.; Matthew S. Modular masonry kit
US5658086A (en) * 1995-11-24 1997-08-19 Brokaw; Paul E. Furniture connector

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008537690A (ja) * 2005-03-16 2008-09-25 エイドスメド エルエルシー 外科用深さ測定器

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