JPH10332759A - 電気回路装置及び検査方法 - Google Patents

電気回路装置及び検査方法

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JPH10332759A
JPH10332759A JP10136535A JP13653598A JPH10332759A JP H10332759 A JPH10332759 A JP H10332759A JP 10136535 A JP10136535 A JP 10136535A JP 13653598 A JP13653598 A JP 13653598A JP H10332759 A JPH10332759 A JP H10332759A
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switch
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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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    • G01R31/3271—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of high voltage or medium voltage devices
    • G01R31/3275—Fault detection or status indication

Abstract

(57)【要約】 【課題】 エラー状態を一義的に検出して区別すること
ができるようにすること。 【解決手段】 スイッチ及び負荷からなる直列回路の検
査用の電気回路装置であって、第１の回路は、スイッチ
と負荷との間の接続点と接続されていて、接続点と給電
電圧との短絡状態を示す第１の状態を検出するように構
成されており、第１の回路は、第２の回路に並列接続さ
れており、第２の回路は、接続点に接続されており、且
つ、第２の回路は、接続点とアースとの短絡状態を示す
第２の状態又は接続点と給電電圧との遮断状態を示す第
３の状態を検出するように構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、スイッチ及び負荷
からなる直列回路の検査用の電気回路装置であって、第
１の回路を有しており、該第１の回路は、前記スイッチ
と前記負荷との間の接続点と接続されており、且つ、前
記第１の回路は、前記接続点と給電電圧との短絡状態を
示す第１の状態を検出するように構成されている電気回
路装置に関する。更に、本発明は、スイッチ及び負荷か
らなる直列回路の検査方法であって、第１の回路によっ
て、前記スイッチと負荷との接続点と給電電圧との短絡
状態を示す第１の状態を検出する検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】その種の回路装置は一般に公知であり、
例えば、自動車において、負荷、例えば、自動車の制動
灯のスイッチオンオフを検査するのに使われることが屡
々である。その際、回路装置を用いて、負荷をスイッチ
オンオフするスイッチでのエラー乃至負荷自体でのエラ
ーを自動的に検出することが達成される。
【０００３】例えば、負荷が給電電圧に接続され、スイ
ッチがアースに接続されていて、エラーのない状態で、
スイッチが接続点に接続された場合には、低電位が生じ
ていなければならない。これに対して、スイッチが閉じ
られているにも拘わらず、接続点が高電位であるという
ことは、接続点が給電電圧に短絡しているということで
あり、つまり、例えば、負荷が何らかのエラーを有して
いて、短絡しているということである。この第１の状態
は、第１の回路によって一義的に検出される。
【０００４】このスイッチが開かれると、エラーのない
場合には、接続点は高電位にならなければならない。し
かし、例えば、このスイッチが故障していて、アースに
短絡しているか、又は、例えば、負荷と給電電圧との接
続ケーブルが外れて、その結果遮断している場合、この
両者の状態は、スイッチが開かれているのにも拘わら
ず、接続点の電位が低いという状態によって検出され
る。しかし、両者の状態は、第１の回路によっては、一
義的に区別することはできない。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、冒頭
に挙げた形式の回路装置及び方法を用いて、前述のエラ
ー状態を一義的に検出して区別することができるように
することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この課題は、本発明によ
ると、第１の回路は、第２の回路に並列接続されてお
り、第２の回路は、接続点に接続されており、且つ、第
２の回路は、接続点とアースとの短絡状態を示す第２の
状態又は接続点と給電電圧との遮断状態を示す第３の状
態を検出するように構成されていることによって解決さ
れる。更に、この課題は、本発明によると、第２の回路
によって、接続点とアースとの短絡状態を示す第２の状
態又は接続点と給電電圧との遮断状態を示す第３の状態
を検出することによって解決される。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明によると、第２の回路が設
けられており、この第２の回路は、第１の回路によって
一義的に区別することができない２つの状態を区別する
ために設けられている。従って、前述のエラー状態を一
義的に検出することができる。その際、第２の回路は、
第１の回路に並列接続されている。そうすることによっ
て、第１の回路の状態と第２の回路の状態とを同時に検
出することができる。このようにして、エラー検出を著
しく早く行うことができるようになる。
【０００８】本発明の有利な実施例では、先ず、第２又
は第３の状態がそもそも生じることがあり得るかどうか
検査され、第２又は第３の状態に関する検査ステップ
は、この第２又は第３の状態が生じることがあり得る場
合に限って実施される。つまり、第２の回路によって実
行される検査ステップは、前述の検査によって、第２又
は第３の状態が概して生じることがあるということが分
かった場合に限って評価される。第２の回路によって実
行される、第２又は第３の状態に関する検出ステップ
が、例えば、時間が極めてインテンシブである場合に
は、前述の高速検出によって、全エラー検出を更に一層
速くすることができる。第２又は第３の状態が概して生
じることがある場合に限って、これに関して時間インテ
ンシブな検出ステップが終わるのを待つ必要があり、さ
もないと、検出ステップが終わる前にエラー検出が直ぐ
に閉じられてしまうことがある。
【０００９】特に有利には、検査は、第１の回路によっ
て実行される。これは、検査のために、付加的な構成部
品等を必要としないという利点がある。更に、高速作動
する、相応の第１の回路の場合、全エラー検出は、一層
速くなる。
【００１０】本発明の有利な実施例では、第１の回路
は、デジタル回路を有しており、このデジタル回路は、
接続点の高電位と低電位とを相互に区別するように構成
されている。第１の回路によって、高電位が検出される
と、閉じられたスイッチのもとで、既述のように、第１
の状態、つまり、負荷を介して給電電圧に短絡した状態
が生じる。これに対して、第１の回路によって、低電位
が検出された場合、開かれたスイッチのもとで、同様に
既述のように、アースとの短絡状態又は負荷乃至給電電
圧に対する遮断状態が生じている。この最後の結果は、
第２又は第３の状態のどちらかを示し、この第２の状態
と第３の状態とは、第１の回路を以てしては一義的に区
別することはできない。しかし、この結果は、第２又は
第３の状態がそもそも生じることができるかどうかの検
査として用いることができる。従って、総じて、本発明
のデジタル回路を用いて、一方では、第１の状態を一義
的に検出することができ、他方では、第２又は第３の状
態がそもそも生じることができるかどうか、従って、第
２の回路の結果をそもそも使用する必要があるかどうか
判定することができる。
【００１１】本発明の別の有利な実施例では、第２の回
路は、アナログ回路を有しており、このアナログ回路
は、接続点の平均電位と低電位とを相互に区別するよう
に構成されている。既述のように、開かれたスイッチの
もとで、エラーのない場合には、接続点に、高電位が生
じている。第２の回路によって、開かれたスイッチのも
とで、低電位が検出された場合、例えば、スイッチの損
傷により、接続点とアースとが短絡している。これは、
第２の状態である。しかし、第２の回路によって、開か
れたスイッチのもとで、平均電位が検出された場合、例
えば、負荷と給電電圧とのケーブル接続部が遮断するこ
とによって、接続点は、給電電圧に対して遮断してい
る。これは、第３の状態である。本発明のアナログ回路
を用いると、第２及び第３の状態を一義的に検出するこ
とができる。
【００１２】特に有利には、第１の回路と第２の回路の
出力側がマイクロプロセッサと接続されており、スイッ
チは、マイクロプロセッサによってスイッチオンオフさ
れる。このようにして、マイクロプロセッサに、第１又
は第２又は第３の状態を検出するために必要な全ての情
報が入力される。同様に、マイクロプロセッサによって
実行されるエラー検出の結果は、デジタル形式で示さ
れ、そうすることによって、別のコストなしに、他のデ
ジタル制御部又は調整部に伝送することができる。更
に、マイクロプロセッサを用いることによって、全エラ
ー検出が一層速くなる。
【００１３】前述の回路装置では、スイッチはアースに
接続されている。しかし、同様に、スイッチを給電電圧
に接続することもできる。この場合には、既述の状態
は、相応に変えられる必要がある。
【００１４】本発明の、その他の特徴要件、用途の可能
性及び利点について、本発明の図示の実施例を用いて、
以下説明する。その際、記述又は図示の特徴要件は全
て、本発明の請求の範囲又はその関連事項に拘わらず、
並びに、明細書の発明の詳細な説明の欄での本発明の定
式化乃至図面での図示に拘わらず、それ自体又は任意に
組み合わせて、本発明の対象を構成する。
【００１５】
【実施例】以下、本発明について、図示の実施例を用い
て説明する。
【００１６】図は、回路２と負荷３とからなる直列回路
の検査用の電気回路装置１のブロック回路略図である。
【００１７】図示の回路装置１で、スイッチ２は、アー
ス４に接続され、負荷３は、給電電圧５に接続されてい
る。スイッチ２は、例えば、電子的な構成部品、例え
ば、トランジスタである。負荷３は、例えば、自動車の
何らかの負荷である。スイッチ２と負荷３との間の接続
点は、参照番号６で示されている。
【００１８】接続点６は、抵抗７を介してアース４と接
続され、抵抗８を介して給電電圧５と接続されている。
抵抗７及び８は、分圧器を構成している。更に、接続点
６は、抵抗９を介してマルチプレックス回路１０の入力
側に接続されている。
【００１９】このマルチプレックス回路１０は、別の入
力側を有しており、この入力側では、スイッチと負荷か
らなる別の直列回路を相応の抵抗と接続することができ
る。図には、２つの、その種の別の直列回路が例として
設けられている。この別の直列回路は、既述の直列回路
と一致しているので、これ以上詳細に説明しない。
【００２０】マルチプレックス回路１０の出力側は、第
１のデジタル回路１１及び第２のアナログ回路１２と接
続されている。第１及び第２の回路１１，１２は、相互
に並列接続されている。第１の回路１１は、接続点６の
高電位と低電位とを相互に区別するように構成されてい
る。第２の回路１２は、接続点６の高電位、平均電位及
び低電位を相互に区別するように構成されている。
【００２１】第１のデジタル回路１１は、１ビット幅の
線路１３を介してマイクロプロセッサ１４に接続されて
いる。第２のアナログ回路１２は、線路１５を介して同
様にマイクロプロセッサ１４に接続されている。マイク
ロプロセッサ１４からは、制御線路１６，１７が単数乃
至複数のスイッチ２及びマルチプレックス回路１０に接
続されている。
【００２２】エラーのない状態で、スイッチ２がマイク
ロプロセッサ１４によって接続された場合、つまり、例
えば、トランジスタが導通状態にスイッチングされた場
合、接続点６には、低電位が印加する。この低電位は、
第１のデジタル回路１１によって検出され、例えば、デ
ジタル値”０”によってマイクロプロセッサ１４に伝送
される。このマイクロプロセッサ１４は、スイッチ２の
スイッチング状態及び低電位に関する受信情報に基づい
て、エラーが生じていないことを検出する。
【００２３】しかし、例えば、スイッチ２が閉じられて
いる場合に、負荷３に障害があって、給電電圧５に対し
て短絡しているならば、第１のデジタル回路１１は、接
続点６の高電位を検出する。このことは、例えば、デジ
タル値”１”を用いてマイクロプロセッサ１４に伝送さ
れ、それから、このマイクロプロセッサは、スイッチ２
のスイッチング状態及び高電位に関する受信情報に基づ
いてエラーを推定する。このエラーは、回路装置１の第
１の状態を示し、つまり、接続点６が給電電圧５に短絡
していることを示す。
【００２４】前述の第１の状態の検出の際、第２の回路
１２は関与していない。
【００２５】エラーのない状態で、スイッチ２がマイク
ロプロセッサ１４によって開かれた場合、つまり、例え
ば、トランジスタが遮断状態にスイッチングされた場
合、接続点６には、高電位が印加される。この高電位
は、第１のデジタル回路１１によって検出され、例え
ば、デジタル値”１”によってマイクロプロセッサ１４
に伝送される。このマイクロプロセッサは、スイッチ２
のスイッチング状態及び高電位に関する受信情報に基づ
いて、エラーが生じていないことを検出する。
【００２６】エラーの場合には、第１のデジタル回路１
１は、スイッチ２が開かれている際に、接続点６の低電
位を検出する。このことは、例えば、デジタル値”０”
を用いてマイクロプロセッサ１４に伝送され、このマイ
クロプロセッサは、スイッチ２のスイッチング状態と低
電位に関する受信情報に基づいてエラーを推定する。こ
のエラーは、回路装置１の、第２の又は第３の状態に起
因することがあり、即ち、第２の状態では、接続点６が
アース４に短絡するか、又は、第３の状態では、接続点
６と給電電圧５とが遮断している。
【００２７】マイクロプロセッサ１４は、第１のデジタ
ル回路１１によって受信された情報に基づいて、両状態
のうちのどちらの状態が実際に生じているかどうか判定
することはできない。しかし、受信情報から、マイクロ
プロセッサ１４は、少なくとも、両状態のうちの１つの
状態の形式でのエラーが生じているに違いないというこ
とを推定することができる。その限りで、第１のデジタ
ル回路１１によって受信された情報は、マイクロプロセ
ッサ１４によって、少なくとも、第２又は第３の状態
が、そもそも生じることがあるかどうかの検査と見なす
ことができる。
【００２８】つまり、第１のデジタル回路１１の情報に
基づいて、エラーが第２の状態又は第３の状態の形式で
生じている場合には、マイクロプロセッサ１４は、今度
は、第２のアナログ回路１２によって受信された、別の
エラー検出用の情報が使われる。
【００２９】第２のアナログ回路１２によって、開かれ
たスイッチ２の元で低電位が検出された場合、例えば、
スイッチ２の損傷に基づいて、接続点６は、アース４に
短絡している。この場合、回路装置１は、第２の状態で
ある。
【００３０】しかし、第２のアナログ回路１２によつ
て、平均電位が検出された場合、例えば、負荷３と給電
電圧５との接続ケーブルが外れることによって、接続点
６と給電電圧５とは遮断状態である。この場合には、回
路装置１は、第３の状態である。
【００３１】第１のデジタル回路１１は、通常のよう
に、第２のアナログ回路１２よりも高速に作動する。第
１のデジタル回路１１の情報に基づいて、回路装置１の
実際の状態を一義的に検出することができない場合に限
って、マイクロプロセッサ１４は、第２のアナログ回路
１２の、後で使用する情報を待つ。多くの場合、回路装
置１の状態は、第１のデジタル回路１１を用いてだけ、
従って、非常に高速に検出することができる。それ以外
の僅かな場合に限ってのみ、マイクロプロセッサ１４
は、回路装置１の状態を最終的且つ一義的に検出するこ
とができるようにするために、第２のアナログ回路１２
の情報を待ちさえすればよい。
【００３２】マルチプレックス回路１０を用いて、マイ
クロプロセッサ１４は、図示の別の直列回路で、順次連
続して相応のようにしてエラーを検出し、その都度その
状態を検出する。
【００３３】
【効果】本発明によると、エラー状態を一義的に検出し
て区別することができる。エラー検出を著しく早く行う
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】回路２と負荷３とからなる直列回路の検査用の
電気回路装置１のブロック回路略図
【符号の説明】
１ 電気回路装置 ２ スイッチ ３ 負荷 ４ アース ５ 給電電圧 ６ 接続点 ７，８，９ 抵抗 １０ マルチプレックス回路 １１ 第１の回路（デジタル回路） １２ 第２の回路（アナログ回路） １４ マイクロプロセッサ １５ 線路 １６，１７ 制御線路
フロントページの続き (72)発明者 クラウス シュナイダー ドイツ連邦共和国 ラインフェルデン−エ ヒターディンゲン グリムシュトラーセ 10

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 スイッチ（２）及び負荷（３）からなる
    直列回路の検査用の電気回路装置（１）であって、第１
    の回路（１１）を有しており、該第１の回路は、前記ス
    イッチ（２）と前記負荷（３）との間の接続点（６）と
    接続されており、且つ、前記第１の回路は、前記接続点
    （６）と給電電圧（５）との短絡状態を示す第１の状態
    を検出するように構成されている電気回路装置におい
    て、第１の回路（１１）は、第２の回路（１２）に並列
    接続されており、前記第２の回路（１２）は、接続点
    （６）に接続されており、且つ、前記第２の回路（１
    ２）は、前記接続点（６）とアース（４）との短絡状態
    を示す第２の状態又は前記接続点（６）と給電電圧
    （５）との遮断状態を示す第３の状態を検出するように
    構成されていることを特徴とする電気回路装置。
  2. 【請求項２】 第１の回路（１１）は、デジタル回路を
    有しており、該デジタル回路は、接続点（６）の高電位
    と低電位とを相互に区別するように構成されている請求
    項１記載の電気回路装置。
  3. 【請求項３】 デジタル回路は、１ビット幅の出力側を
    有している請求項２記載の電気回路装置。
  4. 【請求項４】 第２の回路（１２）は、アナログ回路を
    有しており、該アナログ回路は、接続点（６）の平均電
    位と低電位とを相互に区別するように構成されている請
    求項１〜３までのいずれか１記載の電気回路装置。
  5. 【請求項５】 アナログ回路は、分圧器を有している請
    求項４記載の回路装置。
  6. 【請求項６】 第１の回路（１１）及び第２の回路（１
    ２）は、出力側がマイクロプロセッサ（１４）と接続さ
    れている請求項１〜５までの何れか１記載の電気回路装
    置。
  7. 【請求項７】 スイッチ（２）は、マイクロプロセッサ
    （１４）によってスイッチオンオフされる請求項１〜６
    までのいずれか１記載の電気回路装置。
  8. 【請求項８】 スイッチ（２）と負荷（３）とからなる
    複数の直列回路が設けられており、該直列回路は、マル
    チプレックス回路（１０）を介して第１及び第２の回路
    （１１，１２）と接続されている請求項１〜７までのい
    ずれか１記載の電気回路装置。
  9. 【請求項９】 マルチプレックス回路（１０）は、入力
    側がマイクロプロセッサ（１４）と接続されている請求
    項８記載の電気回路装置。
  10. 【請求項１０】 スイッチ（２）は、アース（４）又は
    給電電圧（５）に接続される請求項１〜９までのいずれ
    か１記載の電気回路装置。
  11. 【請求項１１】 スイッチ（２）及び負荷（３）からな
    る直列回路の検査方法であって、第１の回路（１１）に
    よって、前記スイッチ（２）と負荷（３）との接続点
    （６）と給電電圧（５）との短絡状態を示す第１の状態
    を検出する検査方法において、第２の回路（１２）によ
    って、前記接続点（６）とアース（４）との短絡状態を
    示す第２の状態又は接続点（６）と給電電圧（５）との
    遮断状態を示す第３の状態を検出することを特徴とする
    検査方法。
  12. 【請求項１２】 先ず、第２又は第３の状態がそもそも
    生じることがあるかどうか検査され、前記第２又は第３
    の状態に関する検出ステップを、前記第２又は第３の状
    態が生じた場合に限って実行する請求項１１記載の方
    法。
  13. 【請求項１３】 第１の回路（１１）によって検査する
    請求項１２記載の方法。
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