JPH10332370A - 中心座標解析装置 - Google Patents
中心座標解析装置Info
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- JPH10332370A JPH10332370A JP9145295A JP14529597A JPH10332370A JP H10332370 A JPH10332370 A JP H10332370A JP 9145295 A JP9145295 A JP 9145295A JP 14529597 A JP14529597 A JP 14529597A JP H10332370 A JPH10332370 A JP H10332370A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】ターゲット用シールを貼る必要がなく、人が近
づくことが困難な場所にある円形対象物体の座標確定が
可能な中心座標解析装置を提供すること。 【解決手段】円形物体（１）の写真撮影を行ない、その
写真を解析することにより前記円形物体（１）の三次元
座標を解析する写真計測を用いた中心座標解析装置にお
いて、前記円形物体（１）の３箇所以上のエッヂ部にレ
ーザースポット光を照射する照射手段と、前記円形物体
（１）を少なくとも異なる３方向から写真撮影する撮影
手段と、この撮影手段で撮影された写真から前記レーザ
ースポット光の輝点である前記エッヂ部の三次元座標を
求める演算手段（６）と、この演算手段（６）で求めた
３点の三次元座標から、これら３点に外接する外接円の
中心位置を求める手段（７）と、を具備。
づくことが困難な場所にある円形対象物体の座標確定が
可能な中心座標解析装置を提供すること。 【解決手段】円形物体（１）の写真撮影を行ない、その
写真を解析することにより前記円形物体（１）の三次元
座標を解析する写真計測を用いた中心座標解析装置にお
いて、前記円形物体（１）の３箇所以上のエッヂ部にレ
ーザースポット光を照射する照射手段と、前記円形物体
（１）を少なくとも異なる３方向から写真撮影する撮影
手段と、この撮影手段で撮影された写真から前記レーザ
ースポット光の輝点である前記エッヂ部の三次元座標を
求める演算手段（６）と、この演算手段（６）で求めた
３点の三次元座標から、これら３点に外接する外接円の
中心位置を求める手段（７）と、を具備。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、写真計測技術によ
りフランジなど円形部材の中心位置を解析する中心座標
解析装置に関する。
りフランジなど円形部材の中心位置を解析する中心座標
解析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図７は、従来の円形部材の中心座標解析
手順を説明するための図である。図７に示すように、最
初に対象物１の写真撮影を行なう。対象物１と計測原器
２（長さが判っているもの）を少なくとも３方向以上の
異なる位置から撮影する。これにより、写真３ａ，３
ｂ，３ｃを得る。その際、対象物１の円形部外周のエッ
ヂの少なくとも３個所に、それぞれターゲット用のシー
ル４ａ，４ｂ，４ｃを貼り付けている。写真３ａ，３
ｂ，３ｃに写る計測原器２は、実寸法に変換する場合の
基準値として用いられる。
手順を説明するための図である。図７に示すように、最
初に対象物１の写真撮影を行なう。対象物１と計測原器
２（長さが判っているもの）を少なくとも３方向以上の
異なる位置から撮影する。これにより、写真３ａ，３
ｂ，３ｃを得る。その際、対象物１の円形部外周のエッ
ヂの少なくとも３個所に、それぞれターゲット用のシー
ル４ａ，４ｂ，４ｃを貼り付けている。写真３ａ，３
ｂ，３ｃに写る計測原器２は、実寸法に変換する場合の
基準値として用いられる。
【０００３】図８は、従来の中心座標解析装置の構成を
示す図である。この装置では、撮影された写真３ａ，３
ｂ，３ｃから対象物１の中心位置を解析する。この装置
は、撮影された写真３ａ，３ｂ，３ｃを基にしてターゲ
ット用のシール４ａ，４ｂ，４ｃの３点の位置を入力す
るデジタイザー等に代表される計測点位置入力装置５、
その入力された計測点の三次元座標を求める写真解析装
置６と、３点の三次元座標からその３点に外接する外接
円の中心すなわち対象物１の中心位置を求める円中心座
標解析装置７により構成されている。
示す図である。この装置では、撮影された写真３ａ，３
ｂ，３ｃから対象物１の中心位置を解析する。この装置
は、撮影された写真３ａ，３ｂ，３ｃを基にしてターゲ
ット用のシール４ａ，４ｂ，４ｃの３点の位置を入力す
るデジタイザー等に代表される計測点位置入力装置５、
その入力された計測点の三次元座標を求める写真解析装
置６と、３点の三次元座標からその３点に外接する外接
円の中心すなわち対象物１の中心位置を求める円中心座
標解析装置７により構成されている。
【０００４】なお、対象物１の円形部が円形の孔を有し
ておらず円盤状の板である場合は、直接円の中心に計測
ポイント決定のためのターゲット用のシールを貼り、そ
の座標を求めるようにしている。
ておらず円盤状の板である場合は、直接円の中心に計測
ポイント決定のためのターゲット用のシールを貼り、そ
の座標を求めるようにしている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の中心座
標解析装置では、対象物に必ずターゲット用のシールを
貼る必要がある。しかしながら、対象物によっては人が
近づくことが困難なものがあり、シールを貼ることがで
きない場合がある。
標解析装置では、対象物に必ずターゲット用のシールを
貼る必要がある。しかしながら、対象物によっては人が
近づくことが困難なものがあり、シールを貼ることがで
きない場合がある。
【０００６】本発明の目的は、ターゲット用シールを貼
る必要がなく、人が近づくことが困難な場所にある円形
対象物体の座標確定が可能な中心座標解析装置を提供す
ることにある。
る必要がなく、人が近づくことが困難な場所にある円形
対象物体の座標確定が可能な中心座標解析装置を提供す
ることにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決し目的を
達成するために、本発明の中心座標解析装置は以下の如
く構成されている。 （１）本発明の中心座標解析装置は、円形物体の写真撮
影を行ない、その写真を解析することにより前記円形物
体の三次元座標を解析する写真計測を用いた中心座標解
析装置において、前記円形物体の３箇所以上のエッヂ部
にレーザースポット光を照射する照射手段と、前記円形
物体を少なくとも異なる３方向から写真撮影する撮影手
段と、この撮影手段で撮影された写真から前記レーザー
スポット光の輝点である前記エッヂ部の三次元座標を求
める演算手段と、この演算手段で求めた３点の三次元座
標から、これら３点に外接する外接円の中心位置を求め
る手段と、から構成されている。 （２）本発明の中心座標解析装置は上記（１）に記載の
装置であり、かつ前記照射手段は、レーザースリット光
を前記円形物体に照射する。 （３）本発明の中心座標解析装置は、円形物体の写真撮
影を行ない、その写真を解析することにより前記円形物
体の三次元座標を解析する写真計測を用いた中心座標解
析装置において、前記円形物体を少なくとも異なる３方
向から写真撮影する撮影手段と、この撮影手段で前記円
形物体が楕円形状として撮影された写真を解析し、その
楕円の中心位置を求める演算手段と、前記撮影手段で異
なる方向から撮影された同一の前記円形物体の３枚以上
の写真における前記楕円の中心位置から、前記円形物体
の三次元座標位置を解析する解析手段と、から構成され
ている。 （４）本発明の中心座標解析装置は上記（３）に記載の
装置であり、かつ前記演算手段は、前記楕円に接する２
本の平行な接線の前記楕円との接点間の２等分点を求め
ることで前記楕円の中心位置を求める。
達成するために、本発明の中心座標解析装置は以下の如
く構成されている。 （１）本発明の中心座標解析装置は、円形物体の写真撮
影を行ない、その写真を解析することにより前記円形物
体の三次元座標を解析する写真計測を用いた中心座標解
析装置において、前記円形物体の３箇所以上のエッヂ部
にレーザースポット光を照射する照射手段と、前記円形
物体を少なくとも異なる３方向から写真撮影する撮影手
段と、この撮影手段で撮影された写真から前記レーザー
スポット光の輝点である前記エッヂ部の三次元座標を求
める演算手段と、この演算手段で求めた３点の三次元座
標から、これら３点に外接する外接円の中心位置を求め
る手段と、から構成されている。 （２）本発明の中心座標解析装置は上記（１）に記載の
装置であり、かつ前記照射手段は、レーザースリット光
を前記円形物体に照射する。 （３）本発明の中心座標解析装置は、円形物体の写真撮
影を行ない、その写真を解析することにより前記円形物
体の三次元座標を解析する写真計測を用いた中心座標解
析装置において、前記円形物体を少なくとも異なる３方
向から写真撮影する撮影手段と、この撮影手段で前記円
形物体が楕円形状として撮影された写真を解析し、その
楕円の中心位置を求める演算手段と、前記撮影手段で異
なる方向から撮影された同一の前記円形物体の３枚以上
の写真における前記楕円の中心位置から、前記円形物体
の三次元座標位置を解析する解析手段と、から構成され
ている。 （４）本発明の中心座標解析装置は上記（３）に記載の
装置であり、かつ前記演算手段は、前記楕円に接する２
本の平行な接線の前記楕円との接点間の２等分点を求め
ることで前記楕円の中心位置を求める。
【０００８】
（第１の実施の形態）図１と図２は、本発明の第１の実
施の形態に係る中心座標解析装置による中心座標解析の
手順を説明するための図である。
施の形態に係る中心座標解析装置による中心座標解析の
手順を説明するための図である。
【０００９】図１では、円形物体を有する対象物の写真
撮影法にレーザースポット法を用い、レーザースポット
光使用時の写真計測の構成を示している。図１では、従
来のように対象物１にシールを用いる代わりに、レーザ
ー装置８ａ，８ｂ，８ｃから照射されたレーザースポッ
ト光９ａ，９ｂ，９ｃを各々対象物１の円形物体のエッ
ヂ部に照射する。すると、このエッヂ部にレーザー光に
よる輝点１０ａ，１０ｂ，１０ｃができる。この状況
を、少なくとも角度の異なる３方向から、図示しない撮
影装置により撮影し、写真１１ａ，１１ｂ，１１ｃを得
る。このとき、長さが判っている計測原器２も、同時に
前記写真１１ａ，１１ｂ，１１ｃに写し込む。
撮影法にレーザースポット法を用い、レーザースポット
光使用時の写真計測の構成を示している。図１では、従
来のように対象物１にシールを用いる代わりに、レーザ
ー装置８ａ，８ｂ，８ｃから照射されたレーザースポッ
ト光９ａ，９ｂ，９ｃを各々対象物１の円形物体のエッ
ヂ部に照射する。すると、このエッヂ部にレーザー光に
よる輝点１０ａ，１０ｂ，１０ｃができる。この状況
を、少なくとも角度の異なる３方向から、図示しない撮
影装置により撮影し、写真１１ａ，１１ｂ，１１ｃを得
る。このとき、長さが判っている計測原器２も、同時に
前記写真１１ａ，１１ｂ，１１ｃに写し込む。
【００１０】図２では、円形物体を有する対象物の写真
撮影法にレーザーシート法を用いている。図２では、レ
ーザー装置１２ａ，１２ｂから照射されたレーザー光を
図示しない光学系によりシート光１３ａ，１３ｂに変換
し、対象物１の円形物体に照射する。すると、前記円形
物体の表面には、２本の帯状の輝線１４ａ，１４ｂが発
生する。この状況を少なくとも角度の異なる３方向か
ら、図示しない撮影装置により撮影し、写真１５ａ，１
５ｂ，１５ｃを得る。このとき、長さが判っている計測
原器２も、同時に前記写真１５ａ，１５ｂ，１５ｃに写
し込む。
撮影法にレーザーシート法を用いている。図２では、レ
ーザー装置１２ａ，１２ｂから照射されたレーザー光を
図示しない光学系によりシート光１３ａ，１３ｂに変換
し、対象物１の円形物体に照射する。すると、前記円形
物体の表面には、２本の帯状の輝線１４ａ，１４ｂが発
生する。この状況を少なくとも角度の異なる３方向か
ら、図示しない撮影装置により撮影し、写真１５ａ，１
５ｂ，１５ｃを得る。このとき、長さが判っている計測
原器２も、同時に前記写真１５ａ，１５ｂ，１５ｃに写
し込む。
【００１１】図３は、当該中心座標解析装置の構成を示
す図である。前述したようにして得た写真１１ａ，１１
ｂ，１１ｃ及び写真１５ａ，１５ｂ，１５ｃを、図３の
構成にて解析し、対象物１の円形物体の中心座標を求め
る。計測点位置入力装置５はデジタイザー等に代表さ
れ、撮影された写真１１ａ，１１ｂ，１１ｃ及び写真１
５ａ，１５ｂ，１５ｃから、それぞれエッヂ１０ａ，１
０ｂ，１０ｃとエッヂ１６ａ，１６ｂ，１６ｃを選び出
し、それらを各写真の３つの計測点の位置として入力す
る。
す図である。前述したようにして得た写真１１ａ，１１
ｂ，１１ｃ及び写真１５ａ，１５ｂ，１５ｃを、図３の
構成にて解析し、対象物１の円形物体の中心座標を求め
る。計測点位置入力装置５はデジタイザー等に代表さ
れ、撮影された写真１１ａ，１１ｂ，１１ｃ及び写真１
５ａ，１５ｂ，１５ｃから、それぞれエッヂ１０ａ，１
０ｂ，１０ｃとエッヂ１６ａ，１６ｂ，１６ｃを選び出
し、それらを各写真の３つの計測点の位置として入力す
る。
【００１２】写真解析装置６は、計測点位置入力装置５
で入力された各計測点の三次元座標を求め、円中心座標
解析装置７は３つの計測点の三次元座標から、それら３
点に外接する外接円の中心すなわち対象物１の中心位置
（座標）を求める。
で入力された各計測点の三次元座標を求め、円中心座標
解析装置７は３つの計測点の三次元座標から、それら３
点に外接する外接円の中心すなわち対象物１の中心位置
（座標）を求める。
【００１３】本第１の実施の形態による中心座標解析装
置では、シールの代わりに３本のレーザースポット光を
被測定対象物体の３箇所のエッヂに照射し、その状況を
少なくとも角度の異なる３方向以上から写真撮影を行な
いそれを解析するため、３本のスポット位置から円周上
の３点が判るので、それらの点に外接する外接円を求め
ることにより、その円の中心座標（座標）が求められ
る。
置では、シールの代わりに３本のレーザースポット光を
被測定対象物体の３箇所のエッヂに照射し、その状況を
少なくとも角度の異なる３方向以上から写真撮影を行な
いそれを解析するため、３本のスポット位置から円周上
の３点が判るので、それらの点に外接する外接円を求め
ることにより、その円の中心座標（座標）が求められ
る。
【００１４】あるいはシールの代わりに２本のレーザー
スリット光を被測定対象物体に照射し、その状況を少な
くとも角度の異なる３方向以上から写真撮影を行ないそ
れを解析するため、画像処理により被測定対象物のエッ
ヂを３箇所求めることにより、同様に外接円から中心座
標を求められる。
スリット光を被測定対象物体に照射し、その状況を少な
くとも角度の異なる３方向以上から写真撮影を行ないそ
れを解析するため、画像処理により被測定対象物のエッ
ヂを３箇所求めることにより、同様に外接円から中心座
標を求められる。
【００１５】（第２の実施の形態）図４は、本発明の第
２の実施の形態に係る中心座標解析装置による写真撮影
時の構成を示す図である。当該中心座標解析装置では、
最初に対象物１の写真撮影を行なう。対象物１をありの
ままの状態とし、少なくとも３箇所以上の異なる位置か
ら撮影し、写真１６ａ，１６ｂ，１６ｃを得る。なお、
長さが判っている計測原器２も、同時に前記写真１６
ａ，１６ｂ，１６ｃに写し込む。
２の実施の形態に係る中心座標解析装置による写真撮影
時の構成を示す図である。当該中心座標解析装置では、
最初に対象物１の写真撮影を行なう。対象物１をありの
ままの状態とし、少なくとも３箇所以上の異なる位置か
ら撮影し、写真１６ａ，１６ｂ，１６ｃを得る。なお、
長さが判っている計測原器２も、同時に前記写真１６
ａ，１６ｂ，１６ｃに写し込む。
【００１６】図５は、当該中心座標解析装置の構成を示
す図である。この中心座標解析装置において、楕円中心
点算出装置１７は図示しない撮影装置により得た写真１
６ａ，１６ｂ，１６ｃを基にして、各写真に撮影された
対象物１の楕円中心の座標を求める。写真解析装置６
は、３枚の写真１６ａ，１６ｂ，１６ｃの楕円中心の座
標から対象物１の中心の三次元座標を解析する。円中心
座標解析装置７は、前記三次元座標から円中心位置（座
標）を求める。
す図である。この中心座標解析装置において、楕円中心
点算出装置１７は図示しない撮影装置により得た写真１
６ａ，１６ｂ，１６ｃを基にして、各写真に撮影された
対象物１の楕円中心の座標を求める。写真解析装置６
は、３枚の写真１６ａ，１６ｂ，１６ｃの楕円中心の座
標から対象物１の中心の三次元座標を解析する。円中心
座標解析装置７は、前記三次元座標から円中心位置（座
標）を求める。
【００１７】なお、楕円中心点算出装置１７で写真内の
対象物１の楕円中心を求める際に、中心位置の決定精度
を増すために、平行接線を数組引いて中心点を平均処理
することも可能である。
対象物１の楕円中心を求める際に、中心位置の決定精度
を増すために、平行接線を数組引いて中心点を平均処理
することも可能である。
【００１８】本第２の実施の形態による中心座標解析装
置では、上記第１の実施の形態のようにレーザー光を用
いることなく、少なくとも３方向以上の異なる角度から
被測定対象物の写真撮影を行ない、得られた写真の解析
を行なう。円形物体は、正面から撮影すると円形、それ
以外の方向から撮影するとほぼ楕円形状になる。
置では、上記第１の実施の形態のようにレーザー光を用
いることなく、少なくとも３方向以上の異なる角度から
被測定対象物の写真撮影を行ない、得られた写真の解析
を行なう。円形物体は、正面から撮影すると円形、それ
以外の方向から撮影するとほぼ楕円形状になる。
【００１９】そのため、写真上の楕円物体において、楕
円のある位置における接線を引き、その接点位置の反対
側の楕円上の位置において先の接線に平行な接線を引く
ことで、平行な接線の接点間距離を２分割する点を求め
る。その点が楕円の中心となる。同様に別角度から撮影
された対象物の写真から楕円の中心を幾何学的に求め、
写真解析から、円形物体の中心位置を解析する。
円のある位置における接線を引き、その接点位置の反対
側の楕円上の位置において先の接線に平行な接線を引く
ことで、平行な接線の接点間距離を２分割する点を求め
る。その点が楕円の中心となる。同様に別角度から撮影
された対象物の写真から楕円の中心を幾何学的に求め、
写真解析から、円形物体の中心位置を解析する。
【００２０】図６は、楕円中心位置の決定を説明するた
めの図である。図６には、写真に写された円形物体穴が
示されている。ここで、楕円の写真上（ｘ−ｙの２次
元）で、長軸方向をｘ、短軸方向をｙ、楕円中心を
（０，０）とした場合、楕円のグラフは図６のようにな
り、楕円を示す式は次式（１）の形で一般化できる。
めの図である。図６には、写真に写された円形物体穴が
示されている。ここで、楕円の写真上（ｘ−ｙの２次
元）で、長軸方向をｘ、短軸方向をｙ、楕円中心を
（０，０）とした場合、楕円のグラフは図６のようにな
り、楕円を示す式は次式（１）の形で一般化できる。
【００２１】ｘ2 ／ａ2 ＋ｙ2 ／ｂ2 ＝１ …（１） ただし、ａは長軸半径，ｂは短軸半径である。楕円上の
点Ｐ1 （ｘ1 ，ｙ1 ）上の接線Ｌ１は、次式（２）に示
すようになる。
点Ｐ1 （ｘ1 ，ｙ1 ）上の接線Ｌ１は、次式（２）に示
すようになる。
【００２２】 ｙ＝−ｂ2 ｘ1 ／ａ2 ｙ1 （ｘ−ｘ1 ）＋ｙ1 …（２） 一方、楕円上で点Ｐ2 （ｘ2 ，ｙ2 ）＝（−ｘ1 ，−ｙ
1 ）上の接線Ｌ２は、次式（３）に示すようになる。
1 ）上の接線Ｌ２は、次式（３）に示すようになる。
【００２３】 ｙ＝−ｂ2 ｘ1 ／ａ2 ｙ1 （ｘ＋ｘ1 ）−ｙ1 …（３） つまり、式（２）、（３）より、楕円には接線の傾きが
同じ直線が１対必ずあることが分かる。その場合の２接
点Ｐ1 （ｘ1 ，ｙ1 ）とＰ2 （−ｘ1 ，−ｙ1）の中間
点は（０，０）となり、楕円の中心が求められる。
同じ直線が１対必ずあることが分かる。その場合の２接
点Ｐ1 （ｘ1 ，ｙ1 ）とＰ2 （−ｘ1 ，−ｙ1）の中間
点は（０，０）となり、楕円の中心が求められる。
【００２４】なお、本発明は上記各実施の形態のみに限
定されず、要旨を変更しない範囲で適時変形して実施で
きる。 （実施の形態のまとめ）実施の形態に示された構成およ
び作用効果をまとめると次の通りである。 ［１］実施の形態に示された中心座標解析装置は、円形
物体（１）の写真撮影を行ない、その写真を解析するこ
とにより前記円形物体（１）の三次元座標を解析する写
真計測を用いた中心座標解析装置において、前記円形物
体（１）の３箇所以上のエッヂ部にレーザースポット光
を照射する照射手段（８ａ，８ｂ，８ｃ）と、前記円形
物体（１）を少なくとも異なる３方向から写真撮影する
撮影手段と、この撮影手段で撮影された写真から前記レ
ーザースポット光の輝点である前記エッヂ部の三次元座
標を求める演算手段（６）と、この演算手段（６）で求
めた３点の三次元座標から、これら３点に外接する外接
円の中心位置を求める手段（７）と、から構成されてい
る。
定されず、要旨を変更しない範囲で適時変形して実施で
きる。 （実施の形態のまとめ）実施の形態に示された構成およ
び作用効果をまとめると次の通りである。 ［１］実施の形態に示された中心座標解析装置は、円形
物体（１）の写真撮影を行ない、その写真を解析するこ
とにより前記円形物体（１）の三次元座標を解析する写
真計測を用いた中心座標解析装置において、前記円形物
体（１）の３箇所以上のエッヂ部にレーザースポット光
を照射する照射手段（８ａ，８ｂ，８ｃ）と、前記円形
物体（１）を少なくとも異なる３方向から写真撮影する
撮影手段と、この撮影手段で撮影された写真から前記レ
ーザースポット光の輝点である前記エッヂ部の三次元座
標を求める演算手段（６）と、この演算手段（６）で求
めた３点の三次元座標から、これら３点に外接する外接
円の中心位置を求める手段（７）と、から構成されてい
る。
【００２５】このように上記中心座標解析装置において
は、３つのスポット位置から円周上の３点が判るので、
それらの点に外接する外接円を求めることにより、その
円の中心座標が求められるので、対象となる円形物体に
ターゲット用シールを貼る必要がなく、人が近づくこと
が困難な場所にある円形対象物体の座標確定が可能にな
る。 ［２］実施の形態に示された中心座標解析装置は上記
［１］に記載の装置であり、かつ照射手段（１３ａ，１
３ｂ）は、レーザースリット光を前記円形物体（１）に
照射する。
は、３つのスポット位置から円周上の３点が判るので、
それらの点に外接する外接円を求めることにより、その
円の中心座標が求められるので、対象となる円形物体に
ターゲット用シールを貼る必要がなく、人が近づくこと
が困難な場所にある円形対象物体の座標確定が可能にな
る。 ［２］実施の形態に示された中心座標解析装置は上記
［１］に記載の装置であり、かつ照射手段（１３ａ，１
３ｂ）は、レーザースリット光を前記円形物体（１）に
照射する。
【００２６】このように上記中心座標解析装置において
は、レーザースリット光を対象となる円形物体に照射
し、その状況を少なくとも角度の異なる３方向から写真
撮影を行ない解析するため、画像処理により被測定対象
物である前記円形物体のエッヂを３箇所求めることによ
り、外接円から中心座標を求められるので、前記円形物
体にターゲット用シールを貼る必要がなく、人が近づく
ことが困難な場所にある円形対象物体の座標確定が可能
になる。 ［３］実施の形態に示された中心座標解析装置は、円形
物体（１）の写真撮影を行ない、その写真を解析するこ
とにより前記円形物体（１）の三次元座標を解析する写
真計測を用いた中心座標解析装置において、前記円形物
体（１）を少なくとも異なる３方向から写真撮影する撮
影手段と、この撮影手段で前記円形物体（１）が楕円形
状として撮影された写真を解析し、その楕円の中心位置
を求める演算手段（１７）と、前記撮影手段で異なる方
向から撮影された同一の前記円形物体の３枚以上の写真
における前記楕円の中心位置から、前記円形物体の三次
元座標位置を解析する解析手段（６）と、から構成され
ている。
は、レーザースリット光を対象となる円形物体に照射
し、その状況を少なくとも角度の異なる３方向から写真
撮影を行ない解析するため、画像処理により被測定対象
物である前記円形物体のエッヂを３箇所求めることによ
り、外接円から中心座標を求められるので、前記円形物
体にターゲット用シールを貼る必要がなく、人が近づく
ことが困難な場所にある円形対象物体の座標確定が可能
になる。 ［３］実施の形態に示された中心座標解析装置は、円形
物体（１）の写真撮影を行ない、その写真を解析するこ
とにより前記円形物体（１）の三次元座標を解析する写
真計測を用いた中心座標解析装置において、前記円形物
体（１）を少なくとも異なる３方向から写真撮影する撮
影手段と、この撮影手段で前記円形物体（１）が楕円形
状として撮影された写真を解析し、その楕円の中心位置
を求める演算手段（１７）と、前記撮影手段で異なる方
向から撮影された同一の前記円形物体の３枚以上の写真
における前記楕円の中心位置から、前記円形物体の三次
元座標位置を解析する解析手段（６）と、から構成され
ている。
【００２７】このように上記中心座標解析装置において
は、少なくとも３方向以上の異なる角度から被測定対象
物の写真撮影を行ない、得られた写真の解析を行ない、
前記写真における楕円の中心位置から、前記円形物体の
三次元座標位置を解析するので、前記円形物体にターゲ
ット用シールを貼る必要がなく、人が近づくことが困難
な場所にある円形対象物体の座標確定が可能になる。 ［４］実施の形態に示された中心座標解析装置は上記
［３］に記載の装置であり、かつ前記演算手段（１７）
は、前記楕円に接する２本の平行な接線の前記楕円との
接点間の２等分点を求めることで前記楕円の中心位置を
求める。
は、少なくとも３方向以上の異なる角度から被測定対象
物の写真撮影を行ない、得られた写真の解析を行ない、
前記写真における楕円の中心位置から、前記円形物体の
三次元座標位置を解析するので、前記円形物体にターゲ
ット用シールを貼る必要がなく、人が近づくことが困難
な場所にある円形対象物体の座標確定が可能になる。 ［４］実施の形態に示された中心座標解析装置は上記
［３］に記載の装置であり、かつ前記演算手段（１７）
は、前記楕円に接する２本の平行な接線の前記楕円との
接点間の２等分点を求めることで前記楕円の中心位置を
求める。
【００２８】このように上記中心座標解析装置において
は、前記楕円に接する２本の平行な接線の前記楕円との
接点間の２等分点を求めることで前記楕円の中心位置を
求めるので、前記円形物体にターゲット用シールを貼る
必要がなく、人が近づくことが困難な場所にある円形対
象物体の座標確定が可能になる。
は、前記楕円に接する２本の平行な接線の前記楕円との
接点間の２等分点を求めることで前記楕円の中心位置を
求めるので、前記円形物体にターゲット用シールを貼る
必要がなく、人が近づくことが困難な場所にある円形対
象物体の座標確定が可能になる。
【００２９】
【発明の効果】本発明の中心座標解析装置によれば、３
つのスポット位置から円周上の３点が判るので、それら
の点に外接する外接円を求めることにより、その円の中
心座標が求められるので、対象となる円形物体にターゲ
ット用シールを貼る必要がなく、人が近づくことが困難
な場所にある円形対象物体の座標確定が可能になる。
つのスポット位置から円周上の３点が判るので、それら
の点に外接する外接円を求めることにより、その円の中
心座標が求められるので、対象となる円形物体にターゲ
ット用シールを貼る必要がなく、人が近づくことが困難
な場所にある円形対象物体の座標確定が可能になる。
【００３０】本発明の中心座標解析装置によれば、レー
ザースリット光を対象となる円形物体に照射し、その状
況を少なくとも角度の異なる３方向から写真撮影を行な
い解析するため、画像処理により被測定対象物である前
記円形物体のエッヂを３箇所求めることにより、外接円
から中心座標を求められるので、前記円形物体にターゲ
ット用シールを貼る必要がなく、人が近づくことが困難
な場所にある円形対象物体の座標確定が可能になる。
ザースリット光を対象となる円形物体に照射し、その状
況を少なくとも角度の異なる３方向から写真撮影を行な
い解析するため、画像処理により被測定対象物である前
記円形物体のエッヂを３箇所求めることにより、外接円
から中心座標を求められるので、前記円形物体にターゲ
ット用シールを貼る必要がなく、人が近づくことが困難
な場所にある円形対象物体の座標確定が可能になる。
【００３１】本発明の中心座標解析装置によれば、少な
くとも３方向以上の異なる角度から被測定対象物の写真
撮影を行ない、得られた写真の解析を行ない、前記写真
における楕円の中心位置から、前記円形物体の三次元座
標位置を解析するので、前記円形物体にターゲット用シ
ールを貼る必要がなく、人が近づくことが困難な場所に
ある円形対象物体の座標確定が可能になる。
くとも３方向以上の異なる角度から被測定対象物の写真
撮影を行ない、得られた写真の解析を行ない、前記写真
における楕円の中心位置から、前記円形物体の三次元座
標位置を解析するので、前記円形物体にターゲット用シ
ールを貼る必要がなく、人が近づくことが困難な場所に
ある円形対象物体の座標確定が可能になる。
【００３２】本発明の中心座標解析装置によれば、前記
楕円に接する２本の平行な接線の前記楕円との接点間の
２等分点を求めることで前記楕円の中心位置を求めるの
で、前記円形物体にターゲット用シールを貼る必要がな
く、人が近づくことが困難な場所にある円形対象物体の
座標確定が可能になる。
楕円に接する２本の平行な接線の前記楕円との接点間の
２等分点を求めることで前記楕円の中心位置を求めるの
で、前記円形物体にターゲット用シールを貼る必要がな
く、人が近づくことが困難な場所にある円形対象物体の
座標確定が可能になる。
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る中心座標解析
装置による中心座標解析の手順を説明するための図。
装置による中心座標解析の手順を説明するための図。
【図２】本発明の第１の実施の形態に係る中心座標解析
装置による中心座標解析の手順を説明するための図。
装置による中心座標解析の手順を説明するための図。
【図３】本発明の第１の実施の形態に係る中心座標解析
装置の構成を示す図。
装置の構成を示す図。
【図４】本発明の第２の実施の形態に係る中心座標解析
装置による写真撮影時の構成を示す図。
装置による写真撮影時の構成を示す図。
【図５】本発明の第２の実施の形態に係る中心座標解析
装置の構成を示す図。
装置の構成を示す図。
【図６】本発明の第２の実施の形態に係る楕円中心位置
の決定を説明するための図。
の決定を説明するための図。
【図７】従来例に係る円形部材の中心座標解析手順を説
明するための図。
明するための図。
【図８】従来例に係る中心座標解析装置の構成を示す
図。
図。
１…対象物 ２…計測原器 ４…ターゲット用のシール ５…計測点位置入力装置 ６…写真解析装置 ７…円中心座標解析装置
Claims (4)
- 【請求項１】円形物体の写真撮影を行ない、その写真を
解析することにより前記円形物体の三次元座標を解析す
る写真計測を用いた中心座標解析装置において、 前記円形物体の３箇所以上のエッヂ部にレーザースポッ
ト光を照射する照射手段と、 前記円形物体を少なくとも異なる３方向から写真撮影す
る撮影手段と、 この撮影手段で撮影された写真から前記レーザースポッ
ト光の輝点である前記エッヂ部の三次元座標を求める演
算手段と、 この演算手段で求めた３点の三次元座標から、これら３
点に外接する外接円の中心位置を求める手段と、 を具備したことを特徴とする中心座標解析装置。 - 【請求項２】前記照射手段は、レーザースリット光を前
記円形物体に照射することを特徴とする請求項１に記載
の中心座標解析装置。 - 【請求項３】円形物体の写真撮影を行ない、その写真を
解析することにより前記円形物体の三次元座標を解析す
る写真計測を用いた中心座標解析装置において、 前記円形物体を少なくとも異なる３方向から写真撮影す
る撮影手段と、 この撮影手段で前記円形物体が楕円形状として撮影され
た写真を解析し、その楕円の中心位置を求める演算手段
と、 前記撮影手段で異なる方向から撮影された同一の前記円
形物体の３枚以上の写真における前記楕円の中心位置か
ら、前記円形物体の三次元座標位置を解析する解析手段
と、 を具備したことを特徴とする中心座標解析装置。 - 【請求項４】前記演算手段は、前記楕円に接する２本の
平行な接線の前記楕円との接点間の２等分点を求めるこ
とで前記楕円の中心位置を求めることを特徴とする請求
項３に記載の中心座標解析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9145295A JPH10332370A (ja) | 1997-06-03 | 1997-06-03 | 中心座標解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9145295A JPH10332370A (ja) | 1997-06-03 | 1997-06-03 | 中心座標解析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10332370A true JPH10332370A (ja) | 1998-12-18 |
Family
ID=15381849
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9145295A Withdrawn JPH10332370A (ja) | 1997-06-03 | 1997-06-03 | 中心座標解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10332370A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100903855B1 (ko) | 2007-12-24 | 2009-06-24 | 한국항공우주연구원 | 레이저 장치를 이용한 기체 밸런스 시스템 및 방법 |
| CN103673883A (zh) * | 2013-12-20 | 2014-03-26 | 沪东中华造船(集团)有限公司 | 用于船舶管系法兰中心位置的测量工装及测量方法 |
| CN112461130A (zh) * | 2020-11-16 | 2021-03-09 | 北京平恒智能科技有限公司 | 一种胶粘制品视觉检测工具框定位方法 |
-
1997
- 1997-06-03 JP JP9145295A patent/JPH10332370A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100903855B1 (ko) | 2007-12-24 | 2009-06-24 | 한국항공우주연구원 | 레이저 장치를 이용한 기체 밸런스 시스템 및 방법 |
| CN103673883A (zh) * | 2013-12-20 | 2014-03-26 | 沪东中华造船(集团)有限公司 | 用于船舶管系法兰中心位置的测量工装及测量方法 |
| CN112461130A (zh) * | 2020-11-16 | 2021-03-09 | 北京平恒智能科技有限公司 | 一种胶粘制品视觉检测工具框定位方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040803 |